TW201736829A - 用於檢查偏光板之方法及裝置 - Google Patents

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Abstract

本發明提供用於檢查偏光板之方法及裝置。用於檢查偏光板之該方法包括(a)提供包括定位於測試偏光器下方之各向異性離型薄膜之測試偏光板，(b)將包括定位於檢查器側偏光器上方之延遲補償薄膜之檢查器側偏光板定位於該測試偏光板下方，(c)在光穿過該測試偏光板及該檢查器側偏光板時使用正交尼寇方法(crossed Nicols method)量測該光之亮度，同時在Y軸方向上移動該延遲補償薄膜，其中Z軸係該光之傳播方向，X軸係該測試偏光板在垂直於該Z軸之平面上之移動方向，且該Y軸存在於垂直於該Z軸之平面上且垂直於該X軸，(d)儲存與該Y軸上該延遲補償薄膜之位置對應之亮度值，(e)將該延遲補償薄膜移動至該Y軸上與在步驟(d)中儲存之該等亮度值之最小亮度值之5%內之亮度值對應的位置，及(f)使用正交尼寇方法檢查該測試偏光板。

Description

用於檢查偏光板之方法及裝置
本發明係關於用於檢查偏光板之方法及裝置，其容許即使在偏光板包括具有高定向角之各向異性離型薄膜時亦可檢查偏光板。
偏光板可用作包括於液晶顯示器(LCD)中之光學零件中之一者。由於LCD被廣泛使用並且更精確地形成，故LCD之缺陷係由偏光板之缺陷引起，且因此進一步需要藉由檢查偏光板之缺陷來減少偏光板之缺陷。 作為用於檢查偏光板之習用方法之實例，實施如下方法：其中以正交尼寇狀態(亦即以其偏光軸之方向彼此垂直之狀態)將測試偏光板放置於用於檢查之偏光板上方，自光源發射光，並藉由目視檢查或照相機觀察所傳輸光之顯示。 大多使用各向異性薄膜作為用在測試偏光板下方之離型薄膜。在此情形中，由於發生延遲，光學軸有所扭曲，正交尼寇之黑暗狀態受到影響，且因此無法進行正交尼寇檢查，存在檢查必須限於在不影響正交檢驗之軸角範圍內之各向異性離型薄膜(例如，具有8°或更小之軸角之各向異性離型薄膜)之問題。 在相對於離型薄膜之寬度方向之軸角之情形下，各向異性在中心部分處較低且朝向側表面增加。亦即，各向異性薄膜在規格內之量非常有限，各向異性膜相對昂貴，且因此其係增加偏光板之生產成本之因素。另外，由於離型薄膜係最終剝離並丟棄之薄膜，故關於各向異性之規格之論述係非常浪費的。 韓國特許公開專利申請案第2008-0099542號係關於偏光板及偏光板檢查系統且揭示包括定位於測試偏光板與檢查偏光板之間之延遲校正部件之偏光板檢查系統，然而，應用至自動化檢查之實際情形有所受限。 因此，需要研發能夠檢查偏光板之缺點且無論離型薄膜之各向異性之值如何均可應用至自動化檢查之系統。 [相關技術之文件] [專利文件] (專利文件1)韓國特許公開專利申請案第2008-0099542號(在2008年11月13日公開)
技術問題 本發明係關於用於檢查偏光板之方法及裝置，其容許即使在偏光板包括具有高定向角之各向異性離型薄膜時亦可檢查偏光板。問題之解決 本發明之一個態樣提供用於檢查偏光板之方法，其包括(a)提供包括定位於測試偏光器下方之各向異性離型薄膜之測試偏光板，(b)將包括定位於檢查器側偏光器上方之延遲補償薄膜之檢查器側偏光板定位於測試偏光板下方，(c)在光穿過測試偏光板及檢查器側偏光板時使用正交尼寇方法量測光之亮度，同時在Y軸方向上移動延遲補償薄膜，其中Z軸係光之傳播方向，X軸係測試偏光板在垂直於該Z軸之平面上之移動方向，且Y軸存在於垂直於Z軸之平面上且垂直於X軸，(d)儲存與Y軸上延遲補償薄膜之位置對應之亮度值，(e)將延遲補償薄膜移動至Y軸上與在步驟(d)中儲存之該等亮度值之最小亮度值之5%內之亮度值對應的位置，及(f)使用正交尼寇方法檢查測試偏光板。 本發明之另一態樣提供用於檢查偏光板之方法，其包括(a’)接收關於各向異性離型薄膜之定向角之資訊，(b’)提供包括定位於測試偏光器下方之各向異性離型薄膜之測試偏光板，(c’)定位包括定位於檢查器側偏光器上端之延遲補償薄膜之檢查器側偏光板，(d’)根據所接收之關於定向角之資訊將延遲補償薄膜移動至Y軸上之位置，及(e’)藉由在光穿過測試偏光板及檢查器側偏光板時使用正交尼寇方法量測該光之亮度來檢查測試偏光板。 本發明之再一態樣提供用於檢查偏光板之裝置，該裝置係用於檢查包括定位於測試偏光器之一個表面上之各向異性離型薄膜之測試偏光板之裝置，該裝置包括光源；檢查器側偏光板，其包括定位於檢查器側偏光器上方之延遲補償薄膜；光接收單元，其經構形以接收自光源發射且穿過測試偏光板及檢查器側偏光板之光；影像解譯器，其經構形以解譯自檢查器側偏光板之光接收單元獲得之影像並儲存影像之亮度值及Y軸上與該亮度值對應之延遲補償薄膜位置坐標，其中Z軸係光之傳播方向，X軸係測試偏光板在垂直於該Z軸之平面上之移動方向，且Y軸存在於垂直於該Z軸之平面上且垂直於X軸；及控制器，其經構形以在Y軸之方向上移動延遲補償薄膜，其中當儲存於影像解譯器中之亮度值最小時該控制器將延遲補償薄膜移動至Y軸上之延遲補償薄膜之位置，其中該測試偏光板經定位以與檢查器側偏光板一起實施正交尼寇方法，且光源及光接收單元分別定位於測試偏光板上方及檢查器側偏光板下方，或分別定位於檢查器側偏光板下方及測試偏光板上方。 本發明之又一態樣提供用於檢查偏光板之裝置，該裝置係用於檢查包括離型薄膜之測試偏光板之裝置，在該離型薄膜上顯示關於離型薄膜之定向角之資訊，該離型薄膜定位於測試偏光器之一個表面上，該裝置包括光源；檢查器側偏光板，其包括定位於檢查器側偏光器上方之延遲補償薄膜；光接收單元，其經構形以接收自光源發射且穿過測試偏光板及檢查器側偏光板之光；記錄媒體讀取器，其經構形以讀取定位於測試偏光板上之離型薄膜之定向角之資訊，或數據儲存單元，其經構形以接收包括關於定位於測試偏光板上之各向異性離型薄膜之定向角之分佈資訊之數據；編碼器，其經構形以藉由接收自記錄媒體讀取器讀取之資訊或來自數據儲存單元之資訊量測自記錄媒體讀取器至測試偏光板之距離；及控制器，其經構形以根據藉由編碼器量測之距離將延遲補償薄膜移動至Y軸上之延遲補償薄膜之位置，其中Z軸係光之傳播方向，X軸係測試偏光板在垂直於Z軸之平面上之移動方向，且Y軸存在於垂直於Z軸之平面上且垂直於X軸，其中測試偏光板經定位以與檢查器側偏光板一起實施正交尼寇方法，且光源及光接收單元分別定位於測試偏光板上方及檢查器側偏光板下方，或分別定位於檢查器側偏光板下方及測試偏光板上方。
在下文中，將更詳細的闡述本發明。 在本發明中，當部件提及為定位於另一部件「上」時，其包括其中部件與其他部件接觸之情形及其中另一部件存在於兩個部件之間之情形。 在本發明中，當某一零件「包括」某一組件時，除非另有所述，否則其意味著可進一步包括不排除另一組件之另一組件。 本發明之態樣係關於用於檢查偏光板之方法，其包括(a)提供包括定位於測試偏光器30下方之各向異性離型薄膜10之測試偏光板100，(b)將包括定位於檢查器側偏光器40上方之延遲補償薄膜20之檢查器側偏光板200定位於測試偏光板100下方，(c)在光穿過測試偏光板100及檢查器側偏光板200時使用正交尼寇方法量測光之亮度，同時在Y軸方向上移動延遲補償薄膜20，其中Z軸係光之傳播方向，X軸係測試偏光板100在垂直於該Z軸之平面上之移動方向，且Y軸存在於垂直於該Z軸之平面上且垂直於該X軸，(d)儲存與Y軸上延遲補償薄膜20之位置對應之亮度值，(e)將延遲補償薄膜20移動至Y軸上與在步驟(d)中儲存之亮度值之最小亮度值之5%內之亮度對應的位置，及(f)使用正交尼寇方法檢查測試偏光板100。 步驟(a)係提供包括定位於測試偏光器30下方之各向異性離型薄膜10之測試偏光板100之步驟。 作為測試偏光器30及檢查器側偏光器40，可無限制地使用業內之任一偏光器，且可應用相同偏光器或不同偏光器作為測試偏光器30及檢查器側偏光器40。本文所使用之「相同」意指厚度、材料或其大小可相同。舉例而言，偏光器可包括諸如聚乙烯醇及諸如此類等基於乙烯醇之樹脂薄膜，且特定而言，可包括其中兩種色彩顏料經吸附且定向至單向拉伸之基於聚乙烯醇之樹脂薄膜上之薄膜或其中多烯係藉由聚氯乙烯(PVC)薄膜之去鹽酸反應形成之薄膜，但本發明並非限於此。 各向異性離型薄膜10可具有8°或更特定而言在8°至50°範圍內之定向角，且其材料並非受限，乃因業內可照慣例使用具有各向異性之任一離型薄膜。舉例而言，可使用雙向拉伸之薄膜作為各向異性離型薄膜10，且例如，可使用由至少一種選自由以下組成之群之類型形成之雙向拉伸薄膜作為各向異性離型薄膜10：基於聚酯之樹脂、基於聚烯烴之樹脂(例如聚乙烯、聚丙烯及諸如此類)、基於聚苯乙烯之樹脂、基於聚二氯亞乙烯之樹脂、基於乙烯乙烯醇之樹脂、基於聚氯乙烯之樹脂、基於聚碳酸酯之樹脂、基於聚醯胺之樹脂、基於聚醯亞胺之樹脂、基於丙烯醯基之樹脂、基於乙酸酯之樹脂及基於聚醚碸之樹脂可。較佳地，使用雙向拉伸之透明聚酯薄膜。此外，可實施已知之表面處理，例如電暈放電處理或諸如此類。 通常將各向異性離型薄膜10黏著至在偏光板上形成之黏著層33，且在使用偏光板將各向異性離型薄膜10施加至影像顯示器裝置及諸如此類時將其脫層並丟棄。 通常，大多使用各向異性薄膜作為在測試偏光板下方使用之離型薄膜。各向異性介質之光學軸相對於偏光板之光學軸扭轉了軸角，且因此可發生可引起不完全正交檢驗之問題。因此，習用方法限於在不影響正交檢驗之定向角之範圍內之各向異性離型薄膜，例如，限於具有8°或更小之定向角之各向異性離型薄膜。 然而，在用於本發明檢查偏光板之方法中，可檢查由於施加具有8°或更大之定向角之各向異性離型薄膜10之偏光板，相對於施加具有小於8°之定向角之各向異性離型薄膜10之現有偏光板可獲得原料成本節約效應。 測試偏光器30及各向異性離型薄膜10可呈彼此黏著之狀態，或各向異性離型薄膜10可呈僅僅定位於測試偏光器30下方之狀態。當各向異性離型薄膜10黏著至測試偏光器30時，各向異性離型薄膜10及測試偏光器30可呈藉由與黏著層33不同之黏著層彼此黏著之狀態，但本發明並非限於此，且黏著層並非受限，只要其可使用透明且各向同性之黏著劑形成即可。 簡言之，測試偏光板100可指其中測試偏光器30及各向異性離型薄膜10彼此黏著之狀態，或其中各向異性離型薄膜10僅僅定位於測試偏光器30下方之狀態。 當各向異性離型薄膜10僅僅定位於測試偏光器30之下端時，可固定測試偏光器30之位置。 亦即，藉助用於檢查偏光板之本發明方法，可僅在各向異性離型薄膜10上實施之黏著之前實施材料檢查，且亦可在將各向異性離型薄膜10黏著至偏光器之後實施之黏著之後實施產品檢查。 用於檢查偏光板之方法包括如下步驟(b)：在步驟(a)中提供測試偏光板100之後，將包括定位於檢查器側偏光器40上方之延遲補償薄膜20之檢查器側偏光板200定位於測試偏光板100下方。 延遲補償薄膜20可具有X軸及Y軸折射率與各向異性離型薄膜10之彼等相同之各向異性材料，且可放置在自各向異性離型薄膜10圍繞Y軸旋轉180°之位置。 延遲補償薄膜20可定位於測試偏光板100與檢查器側偏光器40之間，且可用以抵消及校正由於各向異性離型薄膜10之各向異性而發生之延遲。 並非限於一種類型之延遲補償薄膜20，只要薄膜之X軸及Y軸折射率與各向異性離型薄膜10之彼等相同即可，且較佳使用與各向異性離型薄膜10相同之薄膜。 用於檢查偏光板之方法可包括如下步驟(c)：在提供測試偏光板100之後，在光穿過測試偏光板100及檢查器側偏光板200時使用正交尼寇方法量測光之亮度，同時在Y軸方向上移動延遲補償薄膜20，並將檢查器側偏光板200定位於測試偏光板100下方。在此情形中，Z軸係光之傳播方向，X軸係存在於垂直於該Z軸之平面上之軸，且Y軸存在於垂直於該Z軸之平面上且垂直於該X軸。 延遲補償薄膜20可定位於檢查器側偏光器40上方，且延遲補償薄膜20之下端可不與檢查器側偏光器40之上端接觸。特定而言，在延遲補償薄膜20下端與檢查器側偏光器40上端之間之距離可在1 mm至50 mm之範圍內。 本文所使用之「距離」可指在延遲補償薄膜20下端之點與平行於包括該點之平面且包括檢查器側偏光器40上端之點之平面間之直線的最小長度。 由於延遲補償薄膜20不與檢查器側偏光器40接觸，故可僅移動延遲補償薄膜20而不移動檢查器側偏光器40。 亦即，可在光穿過測試偏光板100及檢查器側偏光板200時使用正交尼寇方法量測光之亮度，同時在測試偏光板100與檢查器側偏光器40之間在Y軸方向上移動延遲補償薄膜20。 在此說明書中，X軸及Y軸係指存在於垂直於Z軸之XY平面上之X軸及Y軸，且Z軸係指光之傳播方向。 或者，在此說明書中，「X軸之方向」可指各向異性離型薄膜10之縱向方向或延遲補償薄膜20之縱向方向，且「Y軸之方向」可指各向異性離型薄膜10之寬度方向或延遲補償薄膜20之寬度方向。 簡言之，「縱向方向」可指X軸之方向，且「寬度方向」可指Y軸之方向。 步驟(d)可為根據Y軸上之位置儲存延遲補償薄膜20之亮度值之步驟。亦即，用於檢查偏光板之方法包括，在光穿過測試偏光板100及檢查器側偏光板200時使用正交尼寇方法量測光之亮度，同時在Y軸方向上移動延遲補償薄膜20並儲存Y軸上延遲補償薄膜20之位置坐標之後，藉助步驟(e)將延遲補償薄膜20移動至在Y軸上在步驟(d)中儲存之位置，及然後，使用正交尼寇方法檢查測試偏光板100之步驟(f)。 在本發明之實施例中，步驟(d)可為根據Y軸上之位置儲存延遲補償薄膜20之亮度值之步驟。 在步驟(e)中儲存之位置坐標可為與根據在步驟(d)中儲存之位置坐標之亮度值之最小亮度值之5%內之亮度值對應的位置。 在本發明之另一實施例中，步驟(e)可為將延遲補償薄膜20移動至Y軸上與在步驟(d)中儲存之亮度值之最小亮度值對應之位置之點的步驟。特定而言，在用於檢查偏光板之方法中，在儲存與所儲存位置坐標之最小亮度值對應之位置之後，可將延遲補償薄膜20移動至與最小亮度值對應之位置，亦即最黑暗位置，且然後可使用正交尼寇方法進行檢查。 在本發明中，表述「最小亮度」或「黑暗」可指如下情形：所傳輸光之經量測亮度值因抵消一定量的由各向異性離型薄膜10及延遲補償薄膜20引起之延遲變化而小於50戈雷(gray)且較佳小於30戈雷。亦即，在本發明中，表述「具有最小亮度之位置」或「最黑暗位置」可照慣例指所量測位置具有如下情形中之位置之最小戈雷值：所傳輸光之經量測亮度值因抵消一定量的由各向異性離型薄膜10及延遲補償薄膜20引起之延遲變化而小於50戈雷且較佳小於30戈雷。 此外，在本發明中，「亮度」可指所傳輸光之因抵消一定量之由各向異性離型薄膜10及延遲補償薄膜20引起之延遲變化而得之經量測亮度值。 在本發明之再一實施例中，延遲補償薄膜20可包括第一補償薄膜21及第二補償薄膜22，其中第一補償薄膜21及第二補償薄膜22可存在於同一XY平面上，第一補償薄膜21可具有在Y軸方向上增加或減小之定向角，且第二補償薄膜22可具有在Y軸方向上增加或減小之定向角。 可使用相同薄膜作為相對於X軸對稱之第一補償薄膜21及第二補償薄膜22，或可使用不同薄膜，然而，第一補償薄膜21或第二補償薄膜22必須加以分佈，使得在各向異性離型薄膜10之X軸方向與其Y軸正方向之間之延遲值具有在第一補償薄膜21或第二補償薄膜22之X軸方向與其Y軸負方向之間之延遲值。 亦即，具有與各向異性離型薄膜10之延遲分佈相同之分佈之薄膜係放置於相對於Y軸反向對稱之第一補償薄膜21上，其中在各向異性離型薄膜10圍繞X軸旋轉180度並反轉之情形下，第二補償薄膜22必須具有在X軸之方向上與第一補償薄膜21反向對稱之分佈。 特定而言，第一補償薄膜21及第二補償薄膜22可定位於同一XY平面上，第一補償薄膜21可具有(例如)具有正值之定向角，且第二補償薄膜22可具有(例如)具有負值之定向角。或者，當第一補償薄膜21具有具有負值之定向角時，第二補償薄膜22可具有具有正值之定向角。 參考圖4，定向角可根據薄膜之長度有所增加或減小。亦即，由於本發明之延遲補償薄膜20包括在Y軸方向上之定向角有所增加或減小之第一補償薄膜21及在Y軸方向上之定向角有所增加或減小之第二補償薄膜22二者，故可藉助自動化過程易於檢查偏光板。 此外，儘管在圖4中圖解說明定向角之分佈為在薄膜之寬度方向上不斷增加或減少，但該分佈可顯示在一些間隔中部分相反之趨勢。 具有相對於Y軸與各向異性離型薄膜10反向對稱之逆轉分佈之第一補償薄膜21及第二補償薄膜22意味著每一位置處各向異性離型薄膜10之此一特徵逆第一補償薄膜21或第二補償薄膜22之定向角之分佈特徵抵消。然而，其意味著包括第一補償薄膜21及第二補償薄膜22之特徵彼此對稱之情形。 在本發明之又一實施例中，用於檢查偏光板之方法可進一步包括在步驟(c)之前選擇第一補償薄膜21及第二補償薄膜22中之一者以實施正交尼寇方法，同時在X軸之方向上移動第一補償薄膜21及第二補償薄膜22，其中選擇第一補償薄膜21及第二補償薄膜22中之一者以實施正交尼寇方法可為如下步驟：選擇第一補償薄膜21及第二補償薄膜22中之一者使得所傳輸光之經量測亮度值因抵消一定量的由各向異性離型薄膜10及延遲補償薄膜20引起之延遲變化而小於50戈雷且較佳小於30戈雷。 當延遲補償薄膜20包括第一補償薄膜21及第二補償薄膜22時，第一補償薄膜21及第二補償薄膜22存在於同一XY平面上，第一補償薄膜21具有在Y軸方向上增加或減小之定向角，且第二補償薄膜22具有在Y軸方向上增加或減小之定向角，由於可易於藉由根據各向異性離型薄膜10之定向角分佈特性選擇第一補償薄膜21及第二補償薄膜22中之一者來檢查偏光板，故可較佳地將該方法應用至自動化生產設施。 亦即，延遲補償薄膜20可包括第一補償薄膜21及第二補償薄膜22，且可在步驟(c)之前在使用正交尼寇方法選擇各向異性離型薄膜10及可檢查補償薄膜同時在X軸之方向上移動第一補償薄膜21及第二補償薄膜22之後，可在Y軸方向上移動所選擇延遲補償薄膜20的同時儲存Y軸上延遲補償薄膜20之位置坐標。 在本發明之一些實施例中，延遲補償薄膜20在寬度方向上可具有與各向異性離型薄膜10在寬度方向上之定向角分佈特性對稱之定向角分佈特性。 在本發明之又一實施例中，延遲補償薄膜20在寬度方向上可具有與各向異性離型薄膜10在寬度方向上之延遲值分佈特性對稱之延遲值分佈特性。 參考圖3C，當各向異性離型薄膜10具有定向角自+8°增加至+10°之特性時，延遲補償薄膜20可具有定向角自-8°減少至-10°之特性。 在本發明之又一實施例中，第一補償薄膜21在寬度方向上之定向角分佈特性可與各向異性離型薄膜10在寬度方向上之定向角分佈特性相同，且第二補償薄膜22在寬度方向上之定向角分佈特性可與第一補償薄膜21在寬度方向上之定向角分佈特性對稱地分佈，或第二補償薄膜22在寬度方向上之定向角分佈特性可與各向異性離型薄膜10在寬度方向上之定向角分佈特性相同，且第一補償薄膜21在寬度方向上之定向角分佈特性可與第二補償薄膜22在寬度方向上之定向角分佈特性對稱地分佈。 參考圖5，當第一補償薄膜21之定向角在0 mm之位置處(例如，在第一補償薄膜之開始位置處)為約-9°且在2,000 mm之位置處為約-8°，且第一補償薄膜21具有如圖5A中所圖解說明定向角在薄膜之寬度之方向上增加之特性時，第二補償薄膜22之定向角在0 mm之位置處(例如，在第二補償薄膜之開始位置處)可為約-8°且在2,000 mm之位置處可為約-9°，且第二補償薄膜22可具有如圖5B中所圖解說明定向角在薄膜之寬度之方向上減少之特性。 在用於檢查偏光板之本發明方法中，由於第一補償薄膜21及第二補償薄膜22中之一者在寬度方向上具有與各向異性離型薄膜10相同之定向角分佈特性，且其另一者在寬度方向上具有與各向異性離型薄膜10在寬度方向上之定向角分佈特性對稱地分佈之定向角分佈特性，故可實施自動化檢查。 在本發明之又一實施例中，用於檢查偏光板之方法可進一步包括初始化檢查器側偏光板200之位置。檢查器側偏光板200之位置之初始化可在步驟(a)或步驟(b)之後實施，但本發明並非限於此。然而，檢查器側偏光板200之位置之初始化在量測時間方面較佳可在步驟(b)之後實施。舉例而言，當檢查器側偏光板200定位於中心點時，由於在一個方向上量測之後其必須再次穿過已量測之位置以便移動至未量測之部分，故可引起不必要移動。 本發明之另一態樣係關於用於檢查偏光板之方法，該方法包括(a’)接收關於各向異性離型薄膜10之定向角之資訊，(b’)提供包括定位於測試偏光器30下方之各向異性離型薄膜10之測試偏光板100，(c’)定位包括定位於檢查器側偏光器40上端之延遲補償薄膜20之檢查器側偏光板200，(d’)根據所接收之關於定向角之資訊將延遲補償薄膜20移動至Y軸上之位置，及(e’)藉由在光穿過測試偏光板100及檢查器側偏光板200時使用正交尼寇方法量測光之亮度來檢查測試偏光板100，其中Z軸係光之傳播方向，X軸係測試偏光板100在垂直於該Z軸之平面上之移動方向，且Y軸存在於垂直於該Z軸之平面上且垂直於該X軸。 關於各向異性離型薄膜10之內容(例如，各向異性離型薄膜10之定向角、材料、使用目的及諸如此類)與上文所闡述相同。 在用於檢查偏光板之本發明方法中，由於可檢查施加具有8°或更大之定向角之各向異性離型薄膜10之偏光板，故與施加具有小於8°之定向角之各向異性離型薄膜10之現有偏光板相比可獲得原料成本節約效應。 在步驟(a’)中接收關於各向異性離型薄膜10之定向角之資訊可包括藉由實時量測資訊來接收關於各向異性離型薄膜10之定向角之資訊，或在該製程之先前步驟中接收已由各向異性離型薄膜10顯示之關於定向角之資訊。 在本發明之一個實施例中，步驟(a’)中之定向角可為在各向異性離型薄膜10之一端或另一端在X軸之方向上量測之定向角。 上述內容可應用至與X軸、Y軸及Z軸相關之內容。 「一端」及「另一端」中之每一者可指自具有構成薄膜(例如各向異性離型薄膜10)之2維平面之邊緣之最小長度之邊緣起相對於在平行於邊緣之方向上之2維平面之全部長度5%或更小之區域。 或者，「另一端」可指與「一端」相對之部分。 定向角可為在與「一端」或「另一端」對應之區域之任何一個點處量測之角。 定向角可藉助業內通常已知之方法來量測，但本發明並非限於此。舉例而言，可藉由使用偏光顯微鏡藉助白光光源量測拉伸薄膜之延遲時間及直徑來計算雙折射指數，且可使用Prince Measuring Instruments Co., Ltd之KOBRA設備來量測定向角。 在本發明之一些實施例中，用於檢查偏光板之方法可進一步包括在步驟(a’)之前顯示關於各向異性離型薄膜10之定向角之資訊，但本發明並非限於此。 在本發明之一些實施例中，顯示關於各向異性離型薄膜10之定向角之資訊可包括在記錄媒體50中記錄關於定向角之資訊之後在各向異性離型薄膜10上附接或印刷記錄媒體50。記錄媒體50 (為方便起見例如條碼型記錄媒體50)並不受限，只要其可記錄關於定向角之資訊即可，但本發明並非限於此。 在本發明之再一實施例中，在步驟(a’)中接收關於各向異性離型薄膜10之定向角之資訊可包括讀取在各向異性離型薄膜10上附接或印刷之關於各向異性離型薄膜10之定向角之資訊。 步驟(b’)可為提供包括定位於測試偏光器30下方之各向異性離型薄膜10之測試偏光板100之步驟。 上述內容可應用至與測試偏光器30及檢查器側偏光器40相關之內容，特定而言材料、其他組件之相對位置、黏著狀態及諸如此類。 步驟(c’)係定位包括定位於檢查器側偏光器40上端之延遲補償薄膜20之檢查器側偏光板200之步驟。 上述內容可應用至與延遲補償薄膜20相關之內容。 在本發明之又一實施例中，延遲補償薄膜20可包括第一補償薄膜21及第二補償薄膜22，其中第一補償薄膜21及第二補償薄膜22可存在於同一XY平面上，第一補償薄膜21可具有在Y軸方向上增加或減小之定向角，且第二補償薄膜22可具有在Y軸方向上增加或減小之定向角。上述內容可應用至與其相關之詳細內容。 在本發明之一些實施例中，延遲補償薄膜20在寬度方向上可具有與各向異性離型薄膜10在寬度方向上之定向角分佈特性對稱之定向角分佈特性。 在本發明之又一實施例中，延遲補償薄膜20在寬度方向上可具有與各向異性離型薄膜10在寬度方向上之延遲值分佈特性對稱之延遲值分佈特性。 參考圖3C，當各向異性離型薄膜10具有其中定向角自+8°增加至+10°之特性時，延遲補償薄膜20可具有其中定向角自-8°減少至-10°之特性。 在本發明之又一實施例中，第一補償薄膜21在寬度方向上之定向角分佈特性可與各向異性離型薄膜10在寬度方向上之定向角分佈特性相同，且第二補償薄膜22在寬度方向上之定向角分佈特性可與第一補償薄膜21在寬度方向上之定向角分佈特性對稱地分佈，或第二補償薄膜22在寬度方向上之定向角分佈特性可與各向異性離型薄膜10在寬度方向上之定向角分佈特性相同，且第一補償薄膜21在寬度方向上之定向角分佈特性可與第二補償薄膜22在寬度方向上之定向角分佈特性對稱地分佈。 參考圖5，當第一補償薄膜21之定向角在0 mm之位置處(例如，在第一補償薄膜之開始位置處)為約-9°，在2,000 mm之位置處為約-8°，且第一補償薄膜21具有如圖5A中所圖解說明之其中定向角在薄膜之寬度之方向上增加之特性時，第二補償薄膜22之定向角在0 mm之位置處(例如，在第二補償薄膜之開始位置處)可為約-8°，在2,000 mm之位置處可為約‑9°，且第二補償薄膜22可具有如圖5B中所圖解說明之其中定向角在薄膜之寬度之方向上減少之特性。 在用於檢查偏光板之本發明方法中，由於第一補償薄膜21及第二補償薄膜22中之一者在寬度方向上具有與各向異性離型薄膜10相同之定向角分佈特性，且其另一者在寬度方向上具有與各向異性離型薄膜10在寬度方向上之定向角分佈特性對稱地分佈之定向角分佈特性，故可實施自動化檢查。 在本發明之一些實施例中，用於檢查偏光板之方法可進一步包括在步驟(d’)前藉由根據所接收之定向角選擇第一補償薄膜21及第二補償薄膜22中之一者而在X軸方向上移動延遲補償薄膜20，以實施正交尼寇方法。 特定而言，在所接收定向角之梯度之方向上選擇第一補償薄膜21或第二補償薄膜22。「梯度之方向」為相對概念，其在定向角存在於右側時在其中各向異性離型薄膜10之定向角係基於(例如)各向異性離型薄膜10之寬度方向之任一軸之情形下可指正方向(+)，且在相反情形下指負方向(‑)，但本發明並非限於此，且梯度之方向可具有與業內照慣例理解者相同之含義。 當所接收定向角之梯度之方向為正(+)時，可選擇具有用於實施正交尼寇方法之第一補償薄膜21及第二補償薄膜22之負值之定向角之補償薄膜，且當所接收定向角之梯度之方向為負(-)時，可選擇具有用於實施正交尼寇方法之第一補償薄膜21及第二補償薄膜22之補償薄膜之正值之定向角。然後，將所選補償薄膜調整至X軸上之位置以實施正交尼寇方法。 可預先量測關於延遲補償薄膜20之定向角之資訊(亦即量測第一補償薄膜21及第二補償薄膜22之每一位置中之定向角之資訊)，且亦可預先將關於與定向角對應之輥型馬達5之位置之資訊儲存在記憶體裝置(例如個人電腦(PC)及諸如此類)中。 步驟(d’)係根據所接收之關於定向角之資訊將延遲補償薄膜20移動至Y軸上之位置之步驟。在將延遲補償薄膜20移動至Y軸上之位置之後，使用正交尼寇方法實施步驟(e’)中之檢查測試偏光板100，且因此可檢查偏光板。 特定而言，步驟(e’)係藉由在光穿過測試偏光板100及檢查器側偏光板200時使用正交尼寇方法量測光之亮度來檢查測試偏光板100之步驟。 在此情形中，Z軸係光之傳播方向，X軸係測試偏光板100在垂直於該Z軸之平面上之移動方向，且Y軸存在於垂直於該Z軸之平面上且垂直於該X軸。 在本發明之一些實施例中，步驟(d’)中根據定向角之Y軸上位置可為所傳輸光之經量測亮度值因抵消一定量之由各向異性離型薄膜10及延遲補償薄膜20引起之延遲變化而小於50戈雷且較佳小於30戈雷之位置。 可預先量測關於延遲補償薄膜20之定向角之資訊(亦即量測第一補償薄膜21或第二補償薄膜22之每一位置中之定向角之資訊)，且亦可將關於與定向角對應之輥型馬達5之位置之資訊預先儲存在記憶體裝置(例如PC及諸如此類)中。亦即，在用於檢查偏光板之本發明方法中，可預先量測第一補償薄膜21或第二補償薄膜22之每一位置中之定向角之資訊，當供應各向異性離型薄膜10時，可接收關於各向異性離型薄膜10之定向角之資訊且可將各向異性離型薄膜10移動至預先儲存之位置，且由此可檢查偏光板。在此情形中，該位置為所傳輸光之經量測亮度值因抵消一定量之由各向異性離型薄膜10及延遲補償薄膜20引起之延遲變化而小於50戈雷且較佳小於30戈雷之位置。 本發明之再一態樣係關於用於檢查偏光板之裝置，該裝置係用於檢查包括定位於測試偏光器之一個表面上之各向異性離型薄膜10之測試偏光板100之裝置，該裝置包括光源1；檢查器側偏光板200，其包括定位於檢查器側偏光器40上方之延遲補償薄膜20；光接收單元2，其經構形以接收自光源1發射且穿過測試偏光板100及檢查器側偏光板200之光；影像解譯器3，其經構形以解譯自檢查器側偏光板200之光接收單元2獲得之影像並儲存影像之亮度值及Y軸上與該亮度值對應之延遲補償薄膜20之位置，其中Z軸係光之傳播方向，X軸係測試偏光板100在垂直於該Z軸之平面上之移動方向，且Y軸存在於垂直於該Z軸之平面上且垂直於該X軸；及控制器4，其經構形以在Y軸之方向上移動延遲補償薄膜20，其中當儲存在影像解譯器3中之亮度值為最小時，控制器4將延遲補償薄膜20在Y軸方向上移動至延遲補償薄膜20之位置。測試偏光板100經定位以與檢查器側偏光板200一起實施正交尼寇方法，光源1及光接收單元2分別定位於測試偏光板100上方及檢查器側偏光板200下方，或分別定位於檢查器側偏光板200下方及測試偏光板100上方。 圖1係圖解說明根據本發明之一些實施例用於檢查偏光板之裝置之實例之視圖。參考圖1，測試偏光板100包括測試偏光器30及定位於測試偏光器30下方之離型薄膜10，基礎薄膜32係在測試偏光器30與各向異性離型薄膜10之間提供，且基礎薄膜32及保護性薄膜31係在測試偏光器30上方提供，但本發明並非限於此，且檢查器側偏光板200係定位於測試偏光板100之下端以實施正交尼寇方法。在此情形中，檢查器側偏光板200包括延遲補償薄膜20及定位於延遲補償薄膜20之下端之檢查器側偏光器40，但延遲補償薄膜20並非限於此，且第一補償薄膜21及第二補償薄膜22係平行地提供於XY平面上。各向異性離型薄膜10可在各向異性離型薄膜之移動方向8上移動，延遲補償薄膜20可藉由在第一補償薄膜21及第二補償薄膜22中之每一者之兩端提供輥型馬達5藉由控制器4在Y軸方向上移動，且延遲補償薄膜20亦可在X軸方向上移動。光源1及光接收單元2可分別定位於測試偏光板100上方及下方及檢查器側偏光板200上方及下方，且光源1及光接收單元2可由熟習此項技術者適當地移動至位置使得易於檢查偏光板。該等情形圖解說明於圖3中。自光源1發射之光到達光接收單元2，自光接收單元2獲得之影像係由影像解譯器3解譯，且控制器4根據資訊移動延遲補償薄膜20之位置。 上述內容可應用至與測試偏光器30、檢查器側偏光器40、各向異性離型薄膜10、測試偏光板100及檢查器側偏光板200相關之內容。 光源1係用於發射光以便檢驗測試偏光板100之缺陷之光源，但光源1並非受限，只要其為業內通常可使用之一類照明即可，且光源1可為(例如)用於發射具有在400 nm至650 nm範圍內之波長之光的光源。可使用與將使用偏光板之液晶顯示器(LCD)之光源相同或類似之光源作為光源1，可使用白光光源或諸如此類，且更佳地，可使用具有在510 nm至550 nm範圍內之波長之綠光光源。 自光源1發射之光穿過測試偏光板100及檢查器側偏光板200且傳輸至光接收單元2。 光接收單元2可為光接收裝置(例如電荷耦合裝置(CCD)照相機及諸如此類)，但本發明並非限於此，且光接收單元2可為業內通常使用之影像接收裝置。 自檢查器側偏光板200之光接收單元2獲得之影像係由影像解譯器3解譯，且該影像之亮度值及Y軸上與該亮度值對應之延遲補償薄膜20之位置儲存在影像解譯器3中。 然後，延遲補償薄膜20在Y軸之方向上由控制器4移動。特定而言，當儲存在影像解譯器3中之亮度值為最小時，控制器4將延遲補償薄膜20移動至Y軸上延遲補償薄膜20之位置。 在此情形中，測試偏光板100可經定位以與檢查器側偏光板200一起實施正交尼寇方法，且光源1及光接收單元2可分別定位於測試偏光板100及檢查器側偏光板200之上方及下方或反之亦然。舉例而言，當光源1定位於測試偏光板100上方時，光接收單元2可定位於檢查器側偏光板200下方，且當光源1定位於檢查器側偏光板200下方時，光接收單元2可定位於測試偏光板100上方。 在本發明之又一實施例中，延遲補償薄膜20可包括第一補償薄膜21及第二補償薄膜22，其中第一補償薄膜21及第二補償薄膜22可存在於同一XY平面上，第一補償薄膜21可具有在Y軸方向上增加或減小之定向角，且第二補償薄膜22可具有在Y軸方向上增加或減小之定向角。 可使用相同薄膜作為相對於X軸對稱之第一補償薄膜21及第二補償薄膜22，或可使用不同薄膜，然而，第一補償薄膜21及第二補償薄膜22必須加以分佈使得在各向異性離型薄膜10之X軸方向與其Y軸正方向之間之延遲值具有在第一補償薄膜21或第二補償薄膜22之X軸方向與其Y軸負方向之間之延遲值。 簡言之，在延遲補償薄膜20中，具有與各向異性離型薄膜10之延遲分佈相同之分佈之薄膜係放置於相對於Y軸反向對稱之第一補償薄膜21上，其中在各向異性離型薄膜10圍繞X軸旋轉180度且反轉之情形下，第二補償薄膜22必需具有在X軸之方向上與第一補償薄膜21反向對稱之分佈。 具有相對於Y軸與各向異性離型薄膜10反向對稱之逆轉分佈之第一補償薄膜21及第二補償薄膜22意味著每一位置處各向異性離型薄膜10之此一特徵逆第一補償薄膜21或第二補償薄膜22之定向角之分佈特徵抵消。然而，其意味著包括第一補償薄膜21及第二補償薄膜22之特徵彼此對稱之情形。 當延遲補償薄膜20包括第一補償薄膜21及第二補償薄膜22時，延遲補償薄膜20之定向角分佈特性根據各向異性離型薄膜10之定向角分佈特性有所逆轉，選擇第一補償薄膜21及第二補償薄膜22之適於各向異性離型薄膜10之補償薄膜，簡言之，無需對稱設置之過程，且因此可實施自動化過程。 在本發明之又一實施例中，延遲補償薄膜20在寬度方向上之定向角分佈特性可與各向異性離型薄膜10在寬度方向上之定向角分佈特性對稱。第一補償薄膜21在寬度方向上之定向角分佈特性可與各向異性離型薄膜10在寬度方向上之定向角分佈特性相同，且第二補償薄膜22在寬度方向上之定向角分佈特性可與第一補償薄膜21在寬度方向上之定向角分佈特性對稱地分佈，或第二補償薄膜22在寬度方向上之定向角分佈特性可與各向異性離型薄膜10在寬度方向上之定向角分佈特性相同，且第一補償薄膜21在寬度方向上之定向角分佈特性可與第二補償薄膜22在寬度方向上之定向角分佈特性對稱地分佈。 在用於檢查偏光板之本發明裝置中，由於第一補償薄膜21及第二補償薄膜22中之一者在寬度方向上具有與各向異性離型薄膜10相同之定向角分佈特性，且其另一者在寬度方向上具有與各向異性離型薄膜10在寬度方向上之定向角分佈特性對稱地分佈之定向角分佈特性，故可實施自動化檢查。 在本發明之又一實施例中，影像解譯器3可解譯自檢查器側偏光板200之光接收單元2獲得之影像且可儲存影像之亮度值及X軸上與該亮度值對應之延遲補償薄膜20之位置。控制器4可在X軸之方向上移動延遲補償薄膜20。 延遲補償薄膜20可藉由控制器4在X軸方向上移動，且影像解譯器3可儲存X軸上延遲補償薄膜20之位置坐標。可將延遲補償薄膜20移動至X軸坐標中延遲補償薄膜20之位置，可儲存該位置，且因此無論各向異性離型薄膜10之類型如何，均可易於檢查偏光板。 在本發明之又一實施例中，用於檢查偏光板之裝置可進一步包括輸送帶，該輸送帶經構形以在Y軸之方向上移動延遲補償薄膜20。特定而言，延遲補償薄膜20可以輸送帶之形式提供，該輸送帶在連接至控制器4之兩個輥型馬達5在Y軸之方向上彼此分開適當距離之後在馬達5之間連接。可根據延遲補償薄膜20之長度調節輸送帶之長度。 保護性薄膜31、基礎薄膜32、黏著層33及諸如此類可在測試偏光板100之至少一個表面處提供，保護性薄膜31及基礎薄膜32並非受限，只要其在業內通常使用即可，且黏著層33可使用業內通常使用之方法形成，但本發明亦不限於此。然而，各向異性離型薄膜10及延遲補償薄膜20可較佳地提供以彼此面對。基礎薄膜32可用作保護性薄膜。 圖3係圖解說明根據本發明之一些實施例用於檢查偏光板之裝置之光學構形之視圖。舉例而言，如圖3A中所圖解說明，可提供包括定位於檢查器側偏光器40下方之延遲補償薄膜20之檢查器側偏光板200，可提供包括在檢查器側偏光板200下方依序提供之各向異性離型薄膜10、黏著層33、基礎薄膜32、測試偏光器30、基礎薄膜32及保護性薄膜31之測試偏光板100，且可分別在測試偏光板100及檢查器側偏光板200之外側提供光源1及光接收單元2。在此情形中，各向異性離型薄膜10及延遲補償薄膜20經提供以彼此面對。 在圖3A之情形中，第一偏光係由測試偏光器30引起，且第二偏光係由檢查器側偏光器40引起。 圖3B係圖解說明其中光源1及光接收單元2分別在檢查器側偏光板200及測試偏光板100之外側提供之實例之視圖。在此情形中，第一偏光係在檢查器側偏光器40處引起，且第二偏光係在測試偏光器30處引起。 圖3C係圖1之側視圖，其係更簡略地圖解說明圖3B之視圖。在圖3C中，可提供光源1、包括檢查器側偏光器40及延遲補償薄膜20之檢查器側偏光板200、包括定位於檢查器側偏光板200上之各向異性離型薄膜10之測試偏光板100、其他薄膜層(例如，保護性薄膜31、基礎薄膜32、黏著層33及諸如此類)及測試偏光器30及光接收單元2，且第一偏光可由檢查器側偏光器40引起，且第二偏光可由測試偏光器30引起，如圖3B中所圖解說明。如圖3C中所圖解說明，延遲補償薄膜20可經選擇使得其定向角之方向與各向異性離型薄膜10之定向角之方向相反。 參考圖6，當用於各向異性離型薄膜10中之薄膜在寬度方向上拉伸時，各向異性離型薄膜10之定向角自其材料之中心部分朝向其兩端可逐漸增加。照慣例，僅切割並使用薄膜之全部材料中定向角為8°或更小之薄膜部分。然而，在用於檢查偏光板之本發明方法中，由於可使用包括具有8°或更大之定向角之部分之各向異性離型薄膜10 (例如，圖6中與在0 mm至1,300 mm範圍內之部分及在2,700 mm至4,000 mm範圍內之部分對應之各向異性離型薄膜10)，故可獲得原料成本節約效應。然而，在此情形中，定向角可根據拉伸之量變化，且較佳可使用以與各向異性離型薄膜10相同之方式拉伸之產品或其中用於各向異性離型薄膜10中之薄膜有所拉伸之各向異性離型薄膜10之全部材料作為延遲補償薄膜20。 本發明之又一態樣係關於用於檢查偏光板之裝置，該裝置係用於檢查包括各向異性離型薄膜10之測試偏光板100之裝置，在該離型薄膜上顯示關於各向異性離型薄膜10之定向角之資訊，該離型薄膜定位於測試偏光器30之一個表面上，該裝置包括光源1；檢查器側偏光板200，其包括定位於檢查器側偏光器40上方之延遲補償薄膜20；光接收單元2，其經構形以接收自光源1發射且穿過測試偏光板100及檢查器側偏光板200之光；記錄媒體讀取器6，其經構形以讀取定向角之資訊；編碼器7，其經構形以藉由接收自記錄媒體讀取器讀取之資訊量測自記錄媒體讀取器6至測試偏光板100之距離；及控制器4，其經構形以根據藉由編碼器7量測之距離將延遲補償薄膜20移動至Y軸上延遲補償薄膜20之位置，其中Z軸係光之傳播方向，X軸係測試偏光板100在垂直於該Z軸之平面上之移動方向，且Y軸存在於垂直於該Z軸之平面上且垂直於該X軸。測試偏光板100經定位以與檢查器側偏光板200一起實施正交尼寇方法，且光源1及光接收單元2分別定位於測試偏光板100上方及檢查器側偏光板200下方，或分別定位於檢查器側偏光板200下方及測試偏光板100上方。 本發明之又一態樣係關於用於檢查偏光板之裝置，該裝置係用於檢查包括位於測試偏光器30之一個表面上之各向異性離型薄膜之測試偏光板100之裝置，該裝置包括光源1；檢查器側偏光板200，其包括定位於檢查器側偏光器40上方之延遲補償薄膜20；光接收單元2，其經構形以接收自光源1發射且穿過測試偏光板100及檢查器側偏光板200之光；數據儲存單元，其經構形以接收包括位於測試偏光板100上之各向異性離型薄膜10之定向角之分佈資訊之數據；編碼器7，其經構形以藉由接收來自數據儲存單元之資訊並計算測試偏光板100之檢查位置；及控制器4，其經構形以根據藉由編碼器7計算之距離將延遲補償薄膜20移動至Y軸上延遲補償薄膜20之位置，其中Z軸係光之傳播方向，X軸係測試偏光板100在垂直於該Z軸之平面上之移動方向，且Y軸存在於垂直於該Z軸之平面上且垂直於該X軸。測試偏光板100經定位以與檢查器側偏光板200一起實施正交尼寇方法，且光源1及光接收單元2分別定位於測試偏光板100上方及檢查器側偏光板200下方，或分別定位於檢查器側偏光板200下方及測試偏光板100上方。 特定而言，編碼器7可用於量測距離以便確定檢查時間點，亦即具有不同定向角之產品到達測試偏光板100之下部之時間點。編碼器7之位置並不特別受限於此。儘管未圖解說明，但編碼器7通常可經定位以與移動各向異性離型薄膜10之驅動輥或改變薄膜之行進路徑之引導輥接觸。 舉例而言，當在檢查具有20度之定向角之各向異性離型薄膜10之同時供應具有10度之定向角之各向異性離型薄膜10時，記錄媒體讀取器6讀取記錄媒體50之資訊，編碼器7藉由量測薄膜之行進距離來確定具有10度之定向角之各向異性離型薄膜10到達測試偏光板100之下部之時間點且自動調節延遲補償薄膜20之位置，且因此可實施偏光板之檢查。 或者，儘管未圖解說明，但數據儲存單元接收包括關於定位於測試偏光板100上之各向異性離型薄膜10之定向角之分佈資訊之數據，編碼器7接收來自數據儲存單元之資訊，計算測試偏光板100之檢查位置，且自動調節延遲補償薄膜20之位置，且因此可實施偏光板之檢查。 圖2係圖解說明根據本發明之一些實施例用於檢查偏光板之裝置之實例之視圖。參考圖2，在各向異性離型薄膜10之下部印刷記錄有定向角之資訊之條碼，測試偏光板100包括測試偏光器30及定位於測試偏光器30下方之各向異性離型薄膜10，基礎薄膜32係在測試偏光器30與各向異性離型薄膜10之間提供，基礎薄膜32及保護性薄膜31係提供於測試偏光器30上方，但本發明並非限於此。 圖2之條碼係印刷於各向異性離型薄膜10之下部上，但本發明並非限於此，且條碼可附接或印刷於各向異性離型薄膜10之頂部上。在此情形中，各向異性離型薄膜10之下部可指各向異性離型薄膜10不與基礎薄膜32接觸之表面。檢查器側偏光板200定位於測試偏光板100之下端以實施正交尼寇方法。在此情形中，檢查器側偏光板200包括延遲補償薄膜20及定位於延遲補償薄膜20之下端之檢查器側偏光器40，延遲補償薄膜20並非限於此，且第一補償薄膜21及第二補償薄膜22平行地提供於XY平面上。各向異性離型薄膜10可在各向異性離型薄膜之移動方向8上移動，輥型馬達5可在第一補償薄膜21及第二補償薄膜22中之每一者之兩端提供，延遲補償薄膜20可藉由控制器4在Y軸方向上移動，且因此延遲補償薄膜20亦可在X軸方向上移動。光源1及光接收單元2可分別定位於測試偏光板100之上方及下方及檢查器側偏光板200之上方及下方，且光源1及光接收單元2可由熟習此項技術者移動至適當位置使得易於檢查偏光板。該等組件圖解說明於圖3A及圖3B中，但本發明並非限於此。記錄媒體讀取器6讀取條碼之資訊且將關於各向異性離型薄膜10之定向角之資訊傳輸至編碼器7。編碼器7接收資訊且然後量測至測試偏光板100之距離，且控制器4將延遲補償薄膜20移動至適當位置。然後，自光源1發射之光穿過測試偏光板100及檢查器側偏光板200且在光接收單元2中被接收，且因此完成檢查。 用於檢查偏光板之本發明裝置讀取定向角之資訊，延遲補償薄膜20之位置經自動調節使得所傳輸光之經量測亮度值因抵消一定量之由各向異性離型薄膜10及延遲補償薄膜20引起之延遲變化而變得小於30戈雷，以根據讀取資訊實施正交尼寇方法，且因此可實施自動檢查。 當所傳輸光之經量測亮度值因抵消一定量之由各向異性離型薄膜10及延遲補償薄膜20引起之延遲變化而為50戈雷或更大時，用於檢查偏光板之本發明裝置藉由精細調節延遲補償薄膜20之位置而在Y軸之方向上移動延遲補償薄膜20，且因此可再實施偏光板之檢查。 上述內容可應用至與測試偏光器30、檢查器側偏光器40、各向異性離型薄膜10、測試偏光板100及檢查器側偏光板200相關之內容。 在本發明之又一實施例中，延遲補償薄膜20可包括第一補償薄膜21及第二補償薄膜22，第一補償薄膜21及第二補償薄膜22可存在於同一XY平面上，第一補償薄膜21可具有在Y軸方向上增加或減小之定向角，且第二補償薄膜22可具有在Y軸方向上增加或減小之定向角。 上述內容可應用至與第一補償薄膜21及第二補償薄膜22相關之內容。 在本發明之又一實施例中，延遲補償薄膜20在寬度方向上可具有與各向異性離型薄膜10在寬度方向上之定向角分佈特性對稱之定向角分佈特性。 在本發明之一些實施例中，延遲補償薄膜20在寬度方向上可具有與各向異性離型薄膜10在寬度方向上之延遲值分佈特性對稱之延遲值分佈特性。上述內容可應用至與其相關之詳細內容。 在用於檢查偏光板之本發明裝置中，由於第一補償薄膜21及第二補償薄膜22中之一者在寬度方向上具有與各向異性離型薄膜10相同之定向角分佈特性，且其另一者在寬度方向上具有與各向異性離型薄膜10在寬度方向上之定向角分佈特性對稱地分佈之定向角分佈特性，故可實施自動化檢查。 上述內容可應用至與光源1及光接收單元2相關之內容。 上述內容可應用至測試偏光板100、檢查器側偏光板200、光源1及光接收單元2之位置。 在本發明之又一實施例中，用於檢查偏光板之裝置可進一步包括輸送帶，該輸送帶經構形以在Y軸之方向上移動延遲補償薄膜20。上述內容可應用至與其相關之詳細內容。 可在測試偏光板100之至少一個表面處提供保護性薄膜31、基礎薄膜32、黏著層33及諸如此類，且上述內容可應用至與其相關之詳細內容。 圖3係圖解說明根據本發明之一些實施例用於檢查偏光板之裝置之光學構形之視圖。舉例而言，如圖3A中所圖解說明，可提供包括定位於檢查器側偏光器40下方之延遲補償薄膜20之檢查器側偏光板200，可提供包括在檢查器側偏光板200下方依序提供之各向異性離型薄膜10、黏著層33、基礎薄膜32、測試偏光器30、基礎薄膜32及保護性薄膜31之測試偏光板100，且可分別在測試偏光板100及檢查器側偏光板200之外側提供光源1及光接收單元2。在此情形中，各向異性離型薄膜10及延遲補償薄膜20經提供以彼此面對。 在圖3A之情形中，第一偏光係由測試偏光器30引起，且第二偏光係由檢查器側偏光器40引起。 圖3B係圖解說明其中光源1及光接收單元2分別提供於檢查器側偏光板200及測試偏光板100之外側之實例之視圖。在此情形中，第一偏光係在檢查器側偏光器40處引起，且第二偏光係在測試偏光器30處引起。 圖3C係圖2之側視圖，其係更簡略地圖解說明圖3B之視圖。在圖3C中，可提供光源1、包括檢查器側偏光器40及延遲補償薄膜20之檢查器側偏光板200、包括定位於檢查器側偏光板200上之各向異性離型薄膜10之測試偏光板100、其他薄膜層(例如，保護性薄膜31、基礎薄膜32、黏著層33及諸如此類)及測試偏光器30及光接收單元2，且第一偏光係在檢查器側偏光器40處引起且第二偏光係在測試偏光器30處引起，如圖3B中所圖解說明。如圖3C中所圖解說明，延遲補償薄膜20可經選擇使得其定向角之方向與各向異性離型薄膜10之定向角之方向相反。 參考圖6，當用於各向異性離型薄膜10中之薄膜在寬度方向上拉伸時，各向異性離型薄膜10之定向角自其材料之中心部分朝向其兩端可逐漸增加，且上述內容可應用至與其相關之內容。 在下文中，將詳細闡述用於闡述此說明書之實施例。然而，本發明之實施例可以若干不同形式進行修改，且本發明之範圍並非限於下文欲闡述之實施例。提供本發明之實施例以為熟習此項技術者充分解釋本發明。 [實施例1至4] 使用正交尼寇方法藉由用於檢查偏光板之本發明裝置檢查具有+11°之定向角之各向異性離型薄膜(由Mitsubishi Chemical Holdings Corporation生產)獲得之影像及亮度值(戈雷)顯示於下表1中。在此情形中，參考圖6，藉由自具有4,000 mm之全寬之薄膜之兩端(在0 mm至1,300 mm範圍內之部分及在2,700 mm至4,000 mm範圍內之部分)切割掉約1,300 mm使用各向異性離型薄膜，且使用Prince Measuring Instruments Co., Ltd之KOBRA設備量測定向角之角。在此情形中，藉由切割各向異性離型薄膜之相同產品(由Mitsubishi Chemical Holdings Corporation生產)使用用於檢查偏光板之裝置之延遲補償薄膜。 [實施例5至8] 在使用Prince Measuring Instruments Co., Ltd.之KOBRA設備量測各向異性離型薄膜(由Mitsubishi Chemical Holdings Corporation生產)之兩端之定向角之角之後，將其記錄在條碼中，且然後將其附接至各向異性離型薄膜。在此情形中，參考圖6，藉由自具有4,000 mm之全寬之薄膜之兩端(在0 mm至1,300 mm範圍內之部分及在2,700 mm至4,000 mm範圍內之部分)切割掉約1,300 mm使用各向異性離型薄膜。 然後，藉由使用正交尼寇方法藉由用於檢查偏光板之本發明裝置檢查具有+11°之定向角之各向異性離型薄膜(由Mitsubishi Chemical Holdings Corporation生產)獲得之影像及亮度值(戈雷)顯示於下表2中。在此情形中，藉由切割各向異性離型薄膜之相同產品(由Mitsubishi Chemical Holdings Corporation生產)使用用於檢查偏光板之裝置之延遲補償薄膜。 [比較實例1] 使用正交尼寇方法藉由用於檢查偏光板之本發明裝置檢查具有+11°之定向角之各向異性離型薄膜，在用於檢查偏光板之裝置中不包括延遲補償薄膜之情況下檢查之影像及亮度值(戈雷)顯示於下表1中。 [比較實例2] 在量測各向異性離型薄膜之兩端定向角之角之後，將其記錄在條碼中，且然後將其附接至各向異性離型薄膜。然後，使用正交尼寇方法藉由用於檢查偏光板之本發明裝置檢查各向異性離型薄膜，在用於檢查偏光板之裝置中不包括延遲補償薄膜下檢查之影像及亮度值(戈雷)顯示於下表2中。 [表1] 參考表1，當使用用於檢查偏光板之本發明裝置時，即使在使用具有高定向角之各向異性離型薄膜時，亮度值亦為約30戈雷，且可穩定地執行正交尼寇方法，但可看出，當不使用用於檢查偏光板之本發明裝置時，平均亮度為230戈雷或更大，且無法藉助正交尼寇方法檢查偏光板。 [表2] 此外，參考表2，當使用用於檢查偏光板之本發明裝置時，即使在使用具有高定向角之各向異性離型薄膜時，亮度值亦為約30戈雷，且可穩定地執行正交尼寇方法，但可看出，當不使用用於檢查偏光板之本發明裝置時，平均亮度值為230戈雷或更大，且無法藉助正交尼寇方法檢查偏光板。 在用於檢查偏光板之本發明方法中，有利於檢查包括具有8°或更大之高定向角之各向異性離型薄膜之偏光板。 此外，用於檢查偏光板之本發明裝置可易於藉助自動檢查檢查包括具有高定向角之各向異性離型薄膜之偏光板。
1‧‧‧光源
2‧‧‧光接收單元
3‧‧‧影像解譯器
4‧‧‧控制器
5‧‧‧輥型馬達
6‧‧‧記錄媒體讀取器
7‧‧‧編碼器
8‧‧‧移動方向
10‧‧‧各向異性離型薄膜
20‧‧‧延遲補償薄膜
21‧‧‧第一補償薄膜
22‧‧‧第二補償薄膜
30‧‧‧測試偏光器
31‧‧‧保護性薄膜
32‧‧‧基礎薄膜
33‧‧‧黏著層
40‧‧‧檢查器側偏光器
50‧‧‧條碼型記錄媒體/記錄媒體
100‧‧‧測試偏光板
200‧‧‧檢查器側偏光板
圖1係圖解說明根據本發明之一些實施例用於檢查偏光板之裝置之實例之視圖。 圖2係圖解說明根據本發明之一些實施例用於檢查偏光板之裝置之實例之視圖。 圖3係圖解說明根據本發明之一些實施例用於檢查偏光板之裝置之光學構形之實例之視圖。 圖4顯示圖解說明薄膜之定向角根據寬度方向變化之圖形。 圖5顯示圖形圖解說明延遲薄膜之定向角根據寬度方向變化之視圖。 圖6係圖解說明各向異性離型薄膜之全部材料之定向角根據寬度方向變化之實例之圖形。
1‧‧‧光源
2‧‧‧光接收單元
3‧‧‧影像解譯器
4‧‧‧控制器
5‧‧‧輥型馬達
8‧‧‧移動方向
10‧‧‧各向異性離型薄膜
20‧‧‧延遲補償薄膜
21‧‧‧第一補償薄膜
22‧‧‧第二補償薄膜
30‧‧‧測試偏光器
31‧‧‧保護性薄膜
32‧‧‧基礎薄膜
40‧‧‧檢查器側偏光器
100‧‧‧測試偏光板
200‧‧‧檢查器側偏光板

Claims (19)

  1. 一種檢查偏光板之方法，該方法包含： (a)提供包括定位於測試偏光器下方之各向異性離型薄膜之測試偏光板； (b)將包括定位於檢查器側偏光器上方之延遲補償薄膜之檢查器側偏光板定位於該測試偏光板下方； (c)在光穿過該測試偏光板及該檢查器側偏光板時使用正交尼寇方法(crossed Nicols method)量測該光之亮度，同時在Y軸方向上移動該延遲補償薄膜，其中Z軸係該光之傳播方向，X軸係該測試偏光板在垂直於該Z軸之平面上之移動方向，且該Y軸存在於垂直於該Z軸之平面上且垂直於該X軸； (d)儲存與該Y軸上該延遲補償薄膜之位置對應之亮度值； (e)將該延遲補償薄膜移動至該Y軸上與在步驟(d)中儲存之該等亮度值之最小亮度值之5%內之亮度值對應的位置；及 (f)使用正交尼寇方法檢查該測試偏光板。
  2. 如請求項1之方法，其中步驟(e)包括將該延遲補償薄膜移動至該Y軸上與在步驟(d)中儲存之該等亮度值之該最小亮度值對應之位置處之點。
  3. 一種檢查偏光板之方法，該方法包含： (a’)接收關於各向異性離型薄膜之定向角之資訊； (b’)提供包括定位於測試偏光器下方之各向異性離型薄膜之測試偏光板； (c’)定位包括定位於檢查器側偏光器上端之延遲補償薄膜之檢查器側偏光板； (d’)根據該所接收之關於該定向角之資訊將該延遲補償薄膜移動至Y軸上之位置；及 (e’)藉由在光穿過該測試偏光板及該檢查器側偏光板時使用正交尼寇方法量測該光之亮度來檢查該測試偏光板， 其中Z軸係該光之傳播方向，X軸係該測試偏光板在垂直於該Z軸之平面上之移動方向，且該Y軸存在於垂直於該Z軸之平面上且垂直於該X軸。
  4. 如請求項3之方法，其進一步包含在步驟(a’)之前顯示關於該各向異性離型薄膜之該定向角之該資訊， 其中步驟(a’)中之該定向角係在該X軸之方向上在該各向異性離型薄膜之一端及另一端量測。
  5. 如請求項1或3之方法，其中： 該延遲補償薄膜包括第一補償薄膜及第二補償薄膜，其中該第一補償薄膜及該第二補償薄膜係存在於同一XY平面上； 該第一補償薄膜具有在Y軸方向上增加或減小之定向角；且 該第二補償薄膜具有在Y軸方向上增加或減小之定向角。
  6. 如請求項1或3之方法，其中： 該延遲補償薄膜在寬度方向上具有與該各向異性離型薄膜在寬度方向上之定向角分佈特性對稱之定向角分佈特性；或 該延遲補償薄膜在寬度方向上具有與該各向異性離型薄膜在寬度方向上之延遲值分佈特性對稱之延遲值分佈特性。
  7. 如請求項5之方法，其中： 該第一補償薄膜在寬度方向上之定向角分佈特性與該各向異性離型薄膜在寬度方向上之定向角分佈特性相同，且該第二補償薄膜在寬度方向上之定向角分佈特性與該第一補償薄膜在寬度方向上之定向角分佈特性對稱地分佈；或 該第二補償薄膜在寬度方向上之定向角分佈特性與該各向異性離型薄膜在寬度方向上之定向角分佈特性相同，且該第一補償薄膜在寬度方向上之定向角分佈特性與該第二補償薄膜在寬度方向上之定向角分佈特性對稱地分佈。
  8. 如請求項5之方法，其進一步包含在步驟(c)之前選擇該第一補償薄膜及該第二補償薄膜中之一者以實施正交尼寇方法，同時在該X軸之方向上移動該第一補償薄膜及該第二補償薄膜。
  9. 如請求項4之方法，其中： 該顯示關於該各向異性離型薄膜之該定向角之該資訊包括在記錄媒體中記錄關於該定向角之該資訊，及然後將該記錄媒體附接或印刷於該各向異性離型薄膜上；且 接收關於該各向異性離型薄膜之該定向角之該資訊之步驟(a’)包括讀取附接或印刷於該各向異性離型薄膜上之關於該各向異性離型薄膜之該定向角之該資訊。
  10. 如請求項5之方法，其進一步包含在步驟(d’)之前根據該所接收之定向角選擇該第一補償薄膜及該第二補償薄膜中之一者以實施正交尼寇方法，並在該X軸方向上移動該延遲補償薄膜。
  11. 如請求項3之方法，其中在步驟(d’)中在該Y軸上根據該定向角之位置係所傳輸光之經量測亮度值因抵消一定量的由該各向異性離型薄膜及該延遲補償薄膜引起之延遲變化而小於50戈雷(gray)之位置。
  12. 一種用於檢查偏光板之裝置，其係用於檢查包括定位於測試偏光器之一個表面上之各向異性離型薄膜之測試偏光板之裝置，該裝置包含： 光源； 檢查器側偏光板，其包括定位於檢查器側偏光器上方之延遲補償薄膜； 光接收單元，其經構形以接收自該光源發射且穿過該測試偏光板及該檢查器側偏光板之光； 影像解譯器，其經構形以解譯自該檢查器側偏光板之該光接收單元獲得之影像並儲存該影像之亮度值及Y軸上與該亮度值對應之該延遲補償薄膜之位置坐標，其中Z軸係該光之傳播方向，X軸係該測試偏光板在垂直於該Z軸之平面上之移動方向，且該Y軸存在於垂直於該Z軸之平面上且垂直於該X軸；及 控制器，其經構形以在該Y軸之方向上移動該延遲補償薄膜，其中當儲存於該影像解譯器中之亮度值最小時，該控制器將該延遲補償薄膜移動至該Y軸上之該延遲補償薄膜之位置， 其中： 該測試偏光板經定位以與該檢查器側偏光板一起實施正交尼寇方法；且 該光源及該光接收單元分別定位於該測試偏光板上方及該檢查器側偏光板下方，或分別定位於該檢查器側偏光板下方及該測試偏光板上方。
  13. 一種用於檢查偏光板之裝置，其係用於檢查包括離型薄膜之測試偏光板之裝置，在該離型薄膜上顯示關於該離型薄膜之定向角之資訊，該離型薄膜定位於測試偏光器之一個表面上，該裝置包含： 光源； 檢查器側偏光板，其包括定位於檢查器側偏光器上方之延遲補償薄膜； 光接收單元，其經構形以接收自該光源發射且穿過該測試偏光板及該檢查器側偏光板之光； 記錄媒體讀取器，其經構形以讀取關於定位於該測試偏光板上之該離型薄膜之該定向角之該資訊； 編碼器，其經構形以藉由接收自該記錄媒體讀取器讀取之該資訊來量測自該記錄媒體讀取器至該測試偏光板之距離；及 控制器，其經構形以根據藉由該編碼器量測之該距離將該延遲補償薄膜移動至該Y軸上該延遲補償薄膜之位置，其中Z軸係該光之傳播方向，X軸係該測試偏光板在垂直於該Z軸之平面上之移動方向，且該Y軸存在於垂直於該Z軸之平面上且垂直於該X軸， 其中： 該測試偏光板經定位以與該檢查器側偏光板一起實施正交尼寇方法；且 該光源及該光接收單元分別定位於該測試偏光板上方及該檢查器側偏光板下方，或分別定位於該檢查器側偏光板下方及該測試偏光板上方。
  14. 一種用於檢查偏光板之裝置，其係用於檢查包括定位於測試偏光器之一個表面上之各向異性離型薄膜之測試偏光板之裝置，該裝置包含： 光源； 檢查器側偏光板，其包括定位於檢查器側偏光器上方之延遲補償薄膜； 光接收單元，其經構形以接收自該光源發射且穿過該測試偏光板及該檢查器側偏光板之光； 數據儲存單元，其經構形以接收包括關於定位於該測試偏光板上之該各向異性離型薄膜之定向角之分佈資訊之數據； 編碼器，其經構形以接收來自該數據儲存單元之該資訊並計算該測試偏光板之檢查位置；及 控制器，其經構形以根據藉由該編碼器計算之距離將該延遲補償薄膜移動至該Y軸上該延遲補償薄膜之位置，其中Z軸係該光之傳播方向，X軸係該測試偏光板在垂直於該Z軸之平面上之移動方向，且該Y軸存在於垂直於該Z軸之平面上且垂直於該X軸， 其中： 該測試偏光板經定位以與該檢查器側偏光板一起實施正交尼寇方法；且 該光源及該光接收單元分別定位於該測試偏光板上方及該檢查器側偏光板下方，或分別定位於該檢查器側偏光板下方及該測試偏光板上方。
  15. 如請求項12至14中任一項之裝置，其中： 該延遲補償薄膜包括第一補償薄膜及第二補償薄膜，其中該第一補償薄膜及該第二補償薄膜係存在於同一XY平面上； 該第一補償薄膜具有在Y軸方向上增加或減小之定向角；且 該第二補償薄膜具有在Y軸方向上增加或減小之定向角。
  16. 如請求項12至14中任一項之裝置，其中： 該延遲補償薄膜在寬度方向上具有與該各向異性離型薄膜根據寬度方向之定向角分佈特性對稱之定向角分佈特性；或 該延遲補償薄膜在寬度方向上具有與該各向異性離型薄膜在寬度方向上之延遲值分佈特性對稱之延遲值分佈特性。
  17. 如請求項15之裝置，其中： 該第一補償薄膜之定向角分佈特性與該各向異性離型薄膜在寬度方向上之定向角分佈特性相同，且該第二補償薄膜在寬度方向上之定向角分佈特性與該第一補償薄膜在寬度方向上之定向角分佈特性對稱地分佈；或 該第二補償薄膜在寬度方向上之定向角分佈特性與該各向異性離型薄膜在寬度方向上之定向角分佈特性相同，且該第一補償薄膜在寬度方向上之定向角分佈特性與該第二補償薄膜在寬度方向上之定向角分佈特性對稱地分佈。
  18. 如請求項12之裝置，其中： 該影像解譯器解譯自該檢查器側偏光板之該光接收單元獲得之該影像，且儲存該影像之亮度值及該X軸上與該亮度值對應之該延遲補償薄膜之位置坐標；且 該控制器在該X軸之方向上移動該延遲補償薄膜。
  19. 如請求項12至14中任一項之裝置，其進一步包含輸送帶，該輸送帶經構形以在該Y軸之方向上移動該延遲補償薄膜。
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