CN108120732B - 样品解析系统 - Google Patents

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Abstract

提供样品解析系统，即便在参照物一致度较低时也能容易作出与分析对象样品有关的判断。样品解析系统根据多个分析装置(40、50)的样品测量结果对样品进行解析，具备：参照物数据库(11)，包括与各参照物的信息有关的每个分析装置得到的该参照物的测量结果及成分分类信息；参照物指定部(13)；测量结果比对部(14)，对指定参照物按照各分析装置求出成分共通性、各成分物理量之差及测量结果一致度；整合一致度计算部(17)，求出整合一致度；判定部(18)，判断含有成分量的差是否在容许范围，基于成分分类信息对该成分分类；结果输出部(19)，以整合一致度从高到低的顺序对规定数量的参照物输出整合一致度及与判定和分类结果对应的附加信息。

Description

样品解析系统
技术领域
本发明涉及样品解析系统，所述样品解析系统将使用多种分析装置而取得的对象样品的测量数据与参照物的测量数据进行比对，由此对对象样品进行解析，所述多种分析装置包括：适合于无机物分析的荧光X射线分析装置、原子吸收光度计以及电感耦合等离子体发光分析装置之中的至少一种与适合于有机物分析的红外分光光度计以及拉曼分光光度计之中的至少一种。
背景技术
若食品等产品以混入了塑料片或金属片等异物的状态进入市场，则对该产品的信赖性会显著降低，因此会在工厂等中进行产品的异物检查。若在产品的异物检查中发现异物，则对该异物进行分析而确定所含物质、所含元素、它们的含量等，通过参照物数据库而确定异物并弄清楚来源或混入路径。
适合对由塑料片等有机物构成的异物进行分析的分析装置有傅里叶转换红外分光光度计(FTIR)。在FTIR中，将由包括固定镜以及移动镜的迈克耳孙干涉仪生成的干涉波照射在异物上，将透射光或反射光作为干涉图进行测量。然后，通过对其进行傅里叶转换，得到横轴为波数、纵轴为强度(吸光度或透过率等)的吸收光谱。在吸收光谱中，在与异物所包含的各种物质的振动能或旋转能相对应的波数(波长)中出现与该物质的含量相对应的大小的峰。因此，由异物的吸收光谱求出吸收峰的位置(波数)与大小(吸收率)作为测量结果，并与参照物数据库中预先保存的各种参照物的测量结果进行比较，由此能够求出异物与参照物所包含的有机物的一致度(例如专利文献1)。
另一方面，适合对包括金属片等无机物的异物进行分析的分析装置有能量色散型荧光X射线分析装置(EDX)。在EDX中，将X射线照射至异物从而取得荧光X射线的光谱。在荧光X射线光谱中，在各元素的固有能量位置出现荧光X射线的峰。因此，通过调查荧光X射线光谱的峰位置而确定异物所包含的元素。在确定元素的定量法中存在FP法(基本参数法)与标准曲线法2种。在FP法中，在假定了主要成分的组分的基础上，使用公式再现荧光X射线的实测强度，由此求出各元素的定量值作为测量结果(例如专利文献2、3)。在标准曲线法中，需要对组分相同且含量已知的标准样品进行多次测量而制作标准曲线，另一方面，在FP法中无需这样的操作，因此具有能够简便地执行分析这样的优点。另外，为了与标准曲线法求出的严密的定量值进行区别，由FP法求出的定量值也被称为半定量值。将由FP法求出的异物的各元素的半定量值(测量结果)与参照物数据库预先保存的各种参照物所含各元素的半定量值(测量结果)进行比较，由此能够求出异物与参照物所包含的无机物的一致度。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2001-74650号公报
专利文献2：日本特开平6-337252号公报
专利文献3：日本特开2010-223908号公报
发明内容
发明要解决的技术问题
以往，对于包含无机物与有机物两者的异物，将使用FTIR取得的测量结果(吸收光谱或该吸收光谱中的峰位置与吸收率)与参照物数据库所保存的测量结果进行比较，由此能够求出一致度，或者将使用EDX取得的测量结果(半定量结果)与参照物数据库所保存的测量结果进行比较，由此也能求出一致度。因为在FTIR中主要求出与有机物参照物的一致度，在EDX中主要求出与无机物参照物的一致度，所以存在由FTIR的测量结果得到的结果与由EDX的测量结果得到的结果不一致的情况。在这样的情况下，无法从测量结果的一致度确定异物，使用者需要分别对两个装置中的测量结果进行确认而确定异物，因为该判断依赖于使用者的经验，所以存在因使用者的熟练度而将相同的异物确定为不同的物质(例如，即便是对无机物有着充分的见解的使用者而言，如果对有机物的见解不充分，也会错误地判断FTIR的确定结果)的情况这样的问题。
用于解决上述技术问题的方案
本案申请人为了解决这样的问题，在在先申请(日本专利申请2016-084964)中提出了如下的样品解析系统的方案：将使用FTIR取得的分析对象样品的测量结果(吸收光谱或该吸收光谱中的峰位置与吸收率)以及使用EDX取得的荧光光谱求出的测量结果(半定量结果)分别与参照物的测量结果进行比较，由此求出其一致度，根据参照物求出对这些一致度进行整合的整合一致度，以该整合一致度从高到低的顺序输出规定数量的参照物的列表。该样品解析系统(以下称为“在先申请的样品解析系统”)除了能够确定以往技术说明的异物以外，还能够用于产品的检查等各种各样的分析对象样品的解析，无论使用者的熟练度如何，都能够容易地确定最接近于分析对象样品的参照物。
但是，在分析对象样品中含有较多杂质等情况下，根据样品不同，有时输出的列表中可能仅能列举整合一致度较低的参照物。在该情况下，仅由提示的整合一致度的值不能进行判断，使用者还必须对分析对象样品的测量结果与参照物的测量结果进行详细的调查，对于熟练度较低的使用者而言成为一种负担。本发明对上述技术问题进行解决，并且在这一点上对在先申请的样品解析系统进行了改良。
此处，虽然列举了FTIR与EDX的组合作为具体的分析装置，但是作为适合于无机物的分析的装置，也能够使用原子吸收光度计或电感耦合等离子体发光分析装置。此外，作为适合于有机物的分析的装置也能够使用拉曼分光光度计。进而，也存在并用3个以上的装置而对异物等进行分析的情况。这些之中的任一种情况都存在上述同样的问题。
考虑上述事项而完成的本发明是一种样品解析系统，用于根据由多个分析装置分别测量而得到的、与分析对象样品所包含的成分及其含量相对应的物理量的测量结果而对该分析对象样品进行解析，所述多个分析装置包括：荧光X射线分析装置、原子吸收光度计以及电感耦合等离子体发光分析装置之中的至少一种与红外分光光度计以及拉曼分光光度计之中的至少一种，其特征在于，具备：
a)参照物数据库，是对多个参照物的信息进行集存的数据库，各参照物的信息包括由所述多个分析装置分别测量得到的该参照物所包含的多个成分与所述物理量的测量结果、以及表示该多个成分是否分别表征该参照物的成分分类信息；
b)参照指定部，供使用者从所述多个参照物之中指定与所述分析对象样品比对的1个或者多个参照物；
c)测量结果比对部，分别对所述1个或者多个参照物，按照每个所述分析装置将该参照物的测量结果与所述分析对象样品的测量结果进行比对，求出示出是否存在共通成分的成分共通性、各成分的所述物理量的差以及所述测量结果的一致度；
d)整合一致度计算部，分别对所述1个或者多个参照物，求出将每个所述分析装置求出的所述一致度进行整合的整合一致度；
e)判定部，分别对所述1个或者多个参照物判断该参照物所包含的成分的所述物理量的差是否在预先决定的容许范围内，基于所述成分分类信息对该物理量的差为所述容许范围外的成分进行分类；
f)结果输出部，以所述整合一致度从高到低的顺序对规定数量的参照物输出所述整合一致度与附加信息，所述附加信息与所述判定部的判定以及所述分类的结果相对应。
作为所述分析对象样品所包含的成分以及与其含量相对应的物理量的测量结果，能够使用例如由EDX的测量结果得到的半定量值(所含元素以及含有比的组合)或由FTIR的测量结果得到的吸收光谱的吸收峰的位置(波数)以及大小(吸收率)的组合等。
在本发明的样品解析系统中，使用者指定与分析对象样品进行比对的1个或者多个参照物，与在先申请的样品解析系统同样地，由荧光X射线分析装置、原子吸收光度计以及电感耦合等离子体发光分析装置之中的至少一种与红外分光光度计以及拉曼分光光度计之中的至少一种而分别得到的对象样品的测量结果与参照物的测量结果进行比较，根据分析装置求出各参照物的一致度。
此外，在本发明的样品解析系统中，求出与分析对象样品的成分的共通性以及各成分物理量的差，判定该差是否在容许范围内，并且基于成分分类信息对物理量的差为所述容许范围外的成分进行分类。并且，一同地输出与这些结果相对应的附加信息与整合一致度。
因为在先申请的样品解析系统中仅显示整合一致度，所以在整合一致度较低的情况下，使用者必须对分析对象样品的测量结果与参照物的测量结果进行详细地调查，对于熟练度较低的使用者而言成为一种负担。但是，在本发明的样品解析系统中，除了整合一致度以外，还对附加信息进行输出，因此即便在整合一致度较低的情况下，熟练度较低的使用者也能够基于附加信息，作出例如“为较多地含有杂质的参照物A”等的判断。
本发明的样品解析系统除了如以往技术所说明那样的用于异物的分析以外，也能够优选地用于在工厂中制造产品时的原材料的检查等。为了确保产品的质量，优选是始终使用恒定质量的材料。但是，近年来因原材料的获取较为困难或成本降低，存在供应商事先没有通知就改变了原材料的一部分的所谓的“无声地改变”的问题。在这样的状况下使用本发明的样品解析系统时，只要知道对象样品(例如采取了原材料的一部分的样品)与原材料的标准品的一致度(更具体而言是作为原材料是否适当)即可，在该情况下，使用者可以仅指定1个参照物。由此，所述测量数据比对部能够减少与测量结果进行比对的参照物的数量，因此能够减轻计算负担而更有效地得到结果。此外，因为仅输出使用者指定的参照物的比对结果，所以即便存在比应进行比较的参照物整合一致度高的参照物的情况下，也无需担心使用者误认了应进行比较的参照物。当然，即便在异物的解析中可能会事先对该对象进行限定，使用者也能够指定少数的参照物。
此外，如上述那样地用于原材料的检查的情况下，优选是如下的构成：将对参照物进行表征的成分(例如原材料所需的成分)以外的成分，进一步分为含量多少不影响产品的质量等成分(母材、基材等)与因含量多少存在对产品的质量等产生问题的可能性的成分(杂质等)，根据这些输出不同的附加信息。进而，也能够是如下的构成：将被分类为杂质的成分分为有害成分等禁止杂质与除此以外的物质(一般杂质)，根据这些输出不同的附加信息。由此，能够更详细地知道作为原材料是否适当等。
发明效果
若使用本发明的样品解析系统，则即便在仅提示整合一致度较低的参考物的情况下，熟练度较低的使用者通过参照附加信息也能够容易地作出与分析对象样品有关的判断。
附图说明
图1是本发明的样品解析系统的一实施例的要部构成图。
图2是在本实施例的样品解析系统中使用的EDX定量分析数据的例子。
图3是在本实施例的样品解析系统中使用的FTIR定量分析数据的例子。
图4是使用了本实施例的样品解析系统的解析的流程图。
图5是在本实施例的样品解析系统中显示的初始画面的例子。
图6是在本实施例的样品解析系统中使用的程序库的例子。
图7是在本实施例的样品解析系统中显示的参照物指定画面的例子。
图8是在本实施例的样品解析系统中显示的解析画面的例子。
图9是本实施例中的定量分析数据的比对结果的例子。
图10是在本实施例的样品解析系统中显示的解析结果画面的例子。
图11是在本实施例的样品解析系统中对报告输出布局进行编辑的画面的例子。
图12是在本实施例的样品解析系统中显示的解析结果画面的另一例。
具体实施方式
以下，参照附图对本发明的样品解析系统的一实施例进行说明。如前所述，本发明是对在先申请的样品解析系统进行了改良的系统。
图1示出本实施例的样品解析系统的要部构成。
本实施例的样品解析系统1具有：数据处理部10、连接于数据处理部10的输入部20以及显示部30。数据处理部10除了存储部11以外，作为功能模块来说还具备：参照物数据登记部12、参照物指定部13、测量数据比对部14、散射线强度比计算部15、系数决定部16、整合一致度计算部17、判定部18以及比对结果输出部19。数据处理部10的实体为一般的个人电脑，利用CPU执行样品解析程序而具体实现上述各功能模块。
在存储部11中保存有能量色散型荧光X射线分析数据库(EDX-DB)111、傅里叶转换红外分光数据库(FTIR-DB)112以及参照物数据库(参照物DB)113。此外，在存储部111还保存有与后述的容许范围有关的信息以及附加信息。进而，数据处理部10被连接于荧光X射线分析装置(EDX)40以及傅里叶转换红外分光光度计(FTIR)50，能够将使用了这些装置进行样品的测量而取得的数据保存在存储部11。
在EDX-DB111中，保存有利用EDX40(或者其他的EDX)对多个参照物进行测量而得到的测量数据。在与EDX有关的测量数据中，包括对参照物进行确定的ID编号、参照物的名称、通过该装置所搭载的照相机对X射线照射部位进行拍摄的图像、测量条件、曲线(EDX光谱数据)以及由该曲线求出的定量分析数据。此外，还包括测量者等制作的与参照物有关的评论(例如参照物的测量部位)。
在图2中示出EDX的定量分析数据的一例。
在EDX的定量分析数据中，除了由利用EDX40(或者其他的EDX)得到的测量数据求出的各成分(元素)的半定量值即含量(重量百分比)以外，还包括参照物所包含的各成分(元素)的成分分类信息。成分分类信息是该参照物的测量者或熟知参照物的特性的人提供的信息，是将参照物所包含的各成分(元素)分类为参照物所需的成分(对参照物进行表征的成分)、含量多少不会给特性(质量等)带来影响的成分以及除这些以外的成分(杂质)的信息。在图2所示的例子中，在参照物所需的成分与含量多少均没有影响的成分中设置检验框，将它们均没有检验出的成分分类为杂质。
在FTIR-DB112中，保存有通过利用FTIR50(或者其他的FTIR)对多个参照物进行测量而得到的测量数据。在与FTIR有关的测量数据中，包括对参照物进行确定的ID编号、参照物的名称、测量条件、光谱数据以及由该光谱数据求出的定量分析数据。此外，还包括测量者等制作的与参照物有关的评论。
在图3中示出FTIR的定量分析数据的一例。
在FTIR的定量分析数据中，除了由FTIR50(或者其他的FTIR)得到的测量数据求出的吸收峰的位置(波数单位)以及在该位置处的吸收率以外，还包括与该位置相对应的波数的成分分类信息。虽然在图3中没有记载成分的具体名称，但是因为吸收光谱中的吸收峰位置是成分所固有的，所以能够将其位置(波数)看作与1个成分相对应的信息。成分分类信息是该参照物的测量者或熟知参照物的特性的人提供的信息，是将参照物所包含的各成分(元素)分类为参照物所需的成分(对参照物进行表征的成分)、含量多少不会给特性(质量等)带来影响的成分以及除这些以外的成分(杂质)的信息。在图3所示的例子中，也在参照物所需的成分与含量的多少均没有影响的成分中设置检验框，将它们均没有检验出的成分分类为杂质。另外，在FTIR的定量分析数据中，使用吸收率代替EDX的定量分析数据中的定量值。吸收率值的最大值被标准化为1.0。
在参照物DB113中，保存有与多个参照物本身有关的数据。具体而言，包括与对参照物进行确定的ID编号、参照物的名称、参照物所包含的元素或化合物与其含量(或者含有比)、参照物的照片(照相机图像)、参照物的获取日期或场所等有关的评论。
接着，对使用了本实施例的样品解析系统1的具体的解析的顺序进行说明。此处，以将在工厂等由供应商提供的材料即底板B(分析对象样品)与该材料(底板B)的标准品进行比较，由此对质量进行评价的情况为例，一边参照图4的流程图等一边进行说明。
如图5所示，若使用者使本实施例的样品解析系统所保存的样品解析程序工作，则在显示部30显示有“登记”、“解析”以及“取消”3个选项。若使用者通过输入部20选择“登记”，则参照物数据登记部12在显示部30中显示参照物数据的程序库(图6)。若在该画面中点击新登记按钮72，则移动到使用者对即将要新登记的参照物的EDX以及FTIR的测量数据和与该参照物本身有关的数据进行输入(指定文件等)的画面。若使用者输入这些数据，则参照物数据登记部12将输入的参照物数据登记在EDX-DB111、FTIR-DB112以及参照物DB113(步骤S1)，并返回至图5。另外，一旦登记了参照物的标准品的数据，之后就无需登记相同参照物的数据(无需进行步骤S1)。关于程序库画面中的其他功能的说明将在后述进行。
结束了参照物数据的登记并返回到图5的画面，若使用者通过输入部20选择“解析”，则参照物指定部13在显示部30中对如图7所示那样的参照物指定画面进行显示。在该画面中，若使用者对参照物进行选择而点击“查阅”按钮，则从EDX-DB111以及FTIR-DB112读取选择的参照物的测量数据并显示在画面上。此外，若点击“详细”按钮，则从参照物DB113读取所选择的参照物的信息并显示在画面上。选择参照物并点击“解析”按钮，进行分析对象样品的解析。在本实施例中，虽然仅选择了“底板B”，但是也可以选择多个参照物。
若使用者在图7的画面选择“解析”，则参照物指定部13对图8所示的“EDX”、“FTIR”、“整合”以及“取消”的4个选项进行选择，并在显示部30中显示。若选择“EDX”则仅基于色散型荧光X射线分析数据(EDX数据)开始对分析对象样品进行解析，若选择“FTIR”则仅基于傅里叶转换红外分光数据(FTIR数据)开始对分析对象样品进行解析。若选择“整合”，则基于EDX数据与FTIR数据两者开始对分析对象样品进行解析。若选择“取消”，则返回至图5的画面。
以下，对使用者选择了“整合”的情况进行说明。
若使用者选择“整合”，则测量数据比对部14将使用者分别指定的分析对象样品的EDX以及FTIR的测量数据画面在显示部30进行显示。若使用者分别指定存储部11所保存的EDX的测量数据以及FTIR的测量数据，则从EDX的测量数据读取分析对象样品的定量分析数据(各元素的定量值)，从FTIR的测量数据读取定量分析数据(波数以及吸收率)(步骤S3)。虽然在本实施例中读取预先保存的测量对象样品的定量分析数据，但是在步骤S3中进行分析对象样品的EDX测量以及FTIR测量，所以也可以分别从中取得定量分析数据。
接着，测量数据比对部14分别对EDX的定量分析数据与FTIR的定量分析数据，求出分析对象样品与参照物的成分是否共通(成分共通性)以及各成分的含量的差(步骤S4)。图9a是关于EDX的定量分析数据的一例，图9b是关于FTIR的定量分析数据的一例。
此外，测量数据比对部14求出EDX的定量分析数据与FTIR的定量分析数据的一致度。例如能够对各元素求出分析对象样品所包含的各元素的定量值与参照物所包含的各元素的定量值的差的绝对值的和(差异度)，将规定值减去该值而得到的值作为EDX的定量分析数据的一致度。在较多的情况下，在分析对象样品或参照物的定量值中使用通过FP法求出的各元素的定量值(半定量值)，所述FP法假定分析对象样品(或者参照物)的主要成分的组分，使用公式对荧光X射线的实测强度进行再现。当然，也可以使用通过标准曲线法求出的定量值。此外，例如能够在进行了将分析对象样品与参照物的最大吸收率分别设为1.0的标准化之后，求出各波数中吸收率的差的绝对值之和(差异度)，将规定值减去该值而得到的值作为FTIR的定量分析数据的一致度。
若分别对于EDX以及FTIR的定量分析数据，在结束了分析对象样品与参照物的比对后，散射线强度比计算部15从EDX数据文件读取测量条件以及曲线(测量时得到的光谱)。然后，基于测量时的照射X射线的能量由光谱求出康普顿散射线(与照射X射线不同的能量位置的峰)与瑞利散射线(与照射X射线相同的能量位置的峰)的强度，求出它们的比(康普顿散射线/瑞利散射线的强度)(步骤S5)。
接着，系数决定部16基于该比(康普顿散射线/瑞利散射线的强度)决定相对于EDX数据与FTIR数据的权重系数(EDX系数与FTIR系数)(步骤S6)。具体而言，若上述比为1.00以下，则判定分析对象样品为无机物，并决定EDX系数与FTIR系数分别为0.8与0.2。此外，若该比大于1.00且为2.00以下，则判定分析对象样品为有机物与无机物的混合物，并决定EDX系数与FTIR系数均为0.5。进而，若该比大于2.00，则判定分析对象样品为有机物，并决定EDX系数与FTIR系数分别为0.2与0.8。在本实施例中，虽然EDX系数与FTIR系数的组合为上述3种，但是也可以分得更细，或者也可以使用以上述的比为变量的公式而决定EDX系数与FTIR系数。
若由系数决定部16求出EDX系数与FTIR系数，则整合一致度计算部17，将EDX系数乘以对参照物求出的EDX的定量分析数据的一致度，将FTIR系数乘以FTIR的定量分析数据的一致度，并求出它们的和，由此计算整合一致度(步骤S7)。
若求出整合一致度，则判定部18分别对EDX的定量分析数据与FTIR的定量分析数据，判断各成分(元素)的含量的差是否在存储部11所保存的预先决定的容许范围内。此外，基于参照图2以及图3说明的成分分类信息，将其差为容许范围外的成分(元素)分类为必要成分、无影响的成分、杂质的任一种(步骤S8)。在本实施例中，将有关EDX定量分析数据的上述容许范围设为参照物含量的±20％，将有关FTIR定量分析数据的上述容许范围设为吸收率之差的±0.10。根据分析对象样品的特性适当地决定这些值。此外，也可以对每个成分(元素)设定不同的范围。
在图9a的EDX定量分析数据中，仅Ca在上述容许范围外，此外该元素Ca被分类为必要成分。此外，在图9b的FTIR定量分析数据中仅波数872cm-1的吸收率在上述容许范围外，其被分类为杂质。
最后，比对结果输出部19将分析对象样品的解析结果显示在显示部30(步骤S9)。在图10中示出其一例。比对结果输出部19除了整合一致度以外，还从存储部11读取附加信息并在显示部30中显示，所述附加信息与由判定部18判定的在上述容许范围外的成分相对应。具体而言，在上述容许范围外的元素Ca在EDX定量分析数据中被分类为必要成分(元素)的基础上，显示“必要成分(Ca)不足”这样的附加信息作为附加信息，在上述容许范围外的成分(波数872cm-1)在FTIR定量分析中被分类为杂质的基础上，显示“包含较多杂质(波数872cm-1)”这样的附加信息作为附加信息。此外，在上述容许范围外的成分为无影响的成分的情况下，显示“虽然包括无影响的成分(成分名称)但是没有质量问题”这样的附加信息。
此处，虽然仅对整合解析进行了说明，但是在仅使用EDX的解析以及仅使用FTIR的解析中也能够以上述相同的顺序(但是除去从S5到S7的步骤)进行解析。
在本实施例的样品解析系统中，与在先申请的样品解析系统同样地，基于康普顿散射线的强度与瑞利散射线的强度比，判定分析对象样品为无机物、有机物、它们的混合物的任一种，在分析对象样品为无机物的情况下，使用适合于无机物的分析的EDX的测量数据的权重系数，在分析对象样品为有机物的情况下，使用适合于有机物的分析的FTIR的测量数据的权重系数，计算整合一致度，因此根据分析对象的特性能够适当地求出整合一致度。
此外，在本实施例的样品解析系统中，因为不仅显示分析对象样品与参照物的整合一致度，而且显示附加信息，因此即便在整合一致度较低的情况下，熟练度较低的使用者也能够容易地作出有关分析对象样品的质量或是否适当的判断。进而，因为仅输出使用者指定的参照物的比对结果，所以即便存在比应进行比较的参照物整合一致度高的参照物的情况下，也无需担心使用者误认了应进行比较的参照物。
以下，对本实施例的样品解析系统具备的附加构成进行说明。
在本实施例的样品解析系统中，能够将上述那样地得到的分析对象样品的解析结果作为报告进行印刷。在图11中示出用于设定印刷报告的项目或布局的画面例。在画面左侧的显示项目栏61中，能够列举可显示在报告中的项目。可显示在报告中的项目包括参照物名称、分析对象样品与参照物的一致度、与参照物有关的评论(参照物的取得日期、测量日期等信息)、照相机图像、EDX图像、EDX测量条件、EDX的定量分析数据、EDX曲线、FTIR测量条件以及FTIR光谱。此外，在步骤S2中，在使用者选择了多个参照物的情况下，也显示一致度的位次。
若使用者通过拖动使这些项目的1个移动至画面右侧的布局编辑区域62，则在布局栏示出显示该项目的区域。通过适当地调整布局栏所显示的区域的位置与大小，能够确定报告的输出布局。此时，若对EDX曲线或者FTIR的光谱进行选择，则参照物EDX曲线或者FTIR光谱以与分析对象样品不同的颜色重叠地显示，使用者能够在报告上确认分析对象样品与参照物的测量数据在何种程度上是一致的。
接着，对图6的程序库有关的功能进行说明。
在图6的画面所显示的程序库71中，不仅如上述那样地追加登记参照物的测量数据，而且能够确认在存储部11保存了与参照物有关的何种信息或测量数据。对于各项目，在保存有参照物的测量数据等情况下，显示核对标记，在未保存的情况下，显示“未登记”。此外，在登记有多个照相机画面的情况下，一并地显示核对标记与其张数。
若使用者在程序库71中选择未登记的项目，则显示指定的测量数据等文件的画面，若使用者指定文件，则该文件被登记在数据库。此外，若选择带有核对标记的项目，则能够对数据库以及登记的内容进行确认，或对评论进行编辑。此外，若选择新登记按钮72，则移动至将新的参照物的测量数据等追加登记至数据库的画面。此外，通过画面下部分所显示的框与检索按钮73能够对数据库所登记的参照物进行检索。
在本实施例的样品解析系统中，用于分析对象样品的解析中的EDX数据或FTIR数据以外的测量数据(例如电子显微镜像等)或过去输出的报告信息等也保存在存储部11，经由参照物ID也能够与EDX数据或FTIR数据等相对应地进行管理。由此，利用本实施例的样品解析系统能够对以各种各样的目的取得的参照物的测量数据等集中地进行管理。
上述实施例为一例，也能够根据本发明的主旨适当地进行变更。在上述实施例中，虽然以在工厂等中检查原材料的情况为例进行了说明，但是也能够用于异物的确定等的用途。在这种情况下，因为不知道异物是何种物质，所以将程序库所保存的全部的参照物作为对象进行上述各步骤(即在步骤S2中指定所有的参照物)。在该情况下，为了减轻样品解析系统1的处理负担，能够构成为提取规定数量的一致度较高的参照物作为1次候补参照物，仅对该1次候补参照物求出整合一致度等，或者能够构成为提取规定数量的整合一致度较高的参照物作为2次候补参照物，仅对该2次候补参照物作为判定部18的处理对象。在图12中示出在该情况下得到的解析结果显示画面的一例。在图12中，以整合一致度从高到低的顺序显示有5个参照物，并且简单地显示与它们分别有关的追加信息。向上的箭头示出异物所含该成分(元素)的含量较多地超出所述容许范围，向下的箭头示出异物所含该成分(元素)的含量较少地超出所述容许范围。对于杂质仅显示成分(元素)的名称。此外，通过选择参照物名称的栏，能够使各参照物显示在与图10相同的画面。
在上述实施例中，虽然将各成分分类为必要成分、无影响的成分与杂质这3种，但是能够将杂质进一步分类为有害成分等的禁止杂质与除此以外的一般杂质。在该情况下，优选是构成为：将禁止成分的容许范围设为0，在含有禁止成分的情况下必定输出附加信息。由此，能够更详细地了解作为原材料是否适当等。
虽然在上述实施例中，构成为在数据处理部10的存储部11内具备数据库，但是也可以将各数据库设置在连接于数据处理部10的其他装置内，或者作为数据处理部10经由网络能够连接的线上数据库。
在上述实施例中，虽然样品解析系统1连接有EDX40以及FTIR50，但是未必需要连接这些分析装置。此外，在适合于无机物的解析的分析装置中，除了EDX以外，还存在原子吸收光度计或电感耦合等离子体发光分析装置等，也能够使用这些装置而取得的分析对象样品的测量数据代替EDX数据，或者追加使用这些测量数据。进而，作为适合于有机物的解析的分析装置，也能够使用拉曼分光光度计而与上述实施例相同地构成。
附图标记说明
1 样品解析系统
10 数据处理部
11 存储部
111 EDX-DB
112 FT I R-DB
113 参照物DB
12 参照物数据登记部
13 参照物指定部
14 测量数据比对部
15 散射线强度比计算部
16 系数决定部
17 整合一致度计算部
18 判定部
19 比对结果输出部
20 输入部
30 显示部
40 EDX
50 FT I R
61 显示项目栏
62 布局编辑区域
71 程序库一览
72 新登记按钮
73 检索按钮

Claims (3)

1.一种样品解析系统，用于根据由多个分析装置分别测量而得到的、与分析对象样品所包含的成分及其含量相对应的物理量的测量结果而对该分析对象样品进行解析，所述多个分析装置包括：荧光X射线分析装置、原子吸收光度计以及电感耦合等离子体发光分析装置之中的至少一种与红外分光光度计以及拉曼分光光度计之中的至少一种，其特征在于，所述样品解析系统具备：
a)参照物数据库，是对多个参照物的信息进行集存的数据库，各参照物的信息包括由所述多个分析装置分别测量得到的该参照物所包含的多个成分与所述物理量的测量结果、以及表示该多个成分是否分别表征该参照物的成分分类信息；
b)参照物指定部，供使用者从所述多个参照物之中指定与所述分析对象样品比对的1个或者多个参照物；
c)测量结果比对部，分别对所述1个或者多个参照物，按照每个所述分析装置将该参照物的测量结果与所述分析对象样品的测量结果进行比对，求出示出是否存在共通成分的成分共通性、各成分的所述物理量的差以及所述测量结果的一致度；
d)整合一致度计算部，分别对所述1个或者多个参照物，求出将每个所述分析装置求出的所述一致度进行整合的整合一致度；
e)判定部，分别对所述1个或者多个参照物判断该参照物所包含的成分的所述物理量的差是否在预先决定的容许范围内，基于所述成分分类信息对该物理量的差为所述容许范围外的成分进行分类；
f)结果输出部，以所述整合一致度从高到低的顺序对规定数量的参照物输出所述整合一致度与附加信息，所述附加信息与所述判定部的判定以及所述分类的结果相对应；
g)散射线强度比计算部，根据使用了所述荧光X射线分析装置的所述对象样品的测量数据，求出康普顿散射线与瑞利散射线的强度比；
h)系数决定部，基于所述强度比，决定对与所述荧光X射线分析装置以及所述红外分光光度计或者所述拉曼分光光度计有关的一致度赋予权重的系数，
所述整合一致度计算部使所述系数反映到与所述荧光X射线分析装置以及所述红外分光光度计或者所述拉曼分光光度计有关的一致度，计算所述整合一致度。
2.如权利要求1所述的样品解析系统，其特征在于，所述成分分类信息是将所述多个成分分类为表征参照物的成分、不会因含量多少而产生问题的成分以及杂质成分的信息。
3.如权利要求2所述的样品解析系统，其特征在于，所述杂质成分进一步被分类为一般杂质与禁止杂质。
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