CN107784967B - 面板显示装置的检测装置及其检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种面板显示装置的检测装置及其检测方法，面板显示装置包括：显示面板、设置在所述显示面板上的端子、以及连接在显示面板上且与端子电性连接的驱动芯片，所述端子包括多个引脚，所述检测装置包括一保护装置，选择存在最大电压差的相邻两个引脚，所述保护装置连接在所述相邻两个引脚之间。本发明通过对面板显示装置的外接一保护装置，有效的将对引脚的电蚀转移到外接的保护装置上，确保了引脚的完整性，保护显示面板与柔性电路板绑定的引脚不被电蚀而产生缺陷，保护柔性电路板的引脚不被电刻而产生缺陷，提高了产品的可靠性。
Description
技术领域
本发明属于液晶显示技术领域，尤其涉及一种面板显示装置的检测装置及其检测方法。
背景技术
随着液晶显示面板产品朝着轻、薄、窄型化快速发展，COG(chip on glass)液晶面板(即IC搭载在玻璃面板上)成为主流产品。
如图1所示，COG(Chip On Glass)液晶面板100包括显示区AA和除显示区外的非显示区，在非显示区周边设有栅极驱动电路110、给栅极驱动电路110提供驱动信号的驱动芯片120、以及与驱动芯片120连接的端子130。端子130具有引脚PIN Pn(n>1),端子130PIN为ITO材质。
ITO是一种N型氧化物半导体-氧化铟锡，ITO薄膜即铟锡氧化物半导体透明导电膜，通常有两个性能指标：电阻率和透光率，ITO的化学式为In2O3-SnO2。
驱动芯片120通过液晶面板的端子130接收输入信号。
液晶面板的生产需要经过“前段阵列制程、中段成盒制程、后段模组组装”三个复杂的过程。在液晶面板完成中段成盒制程之后，需要使用点灯治具对液晶面板进行点灯检测，以确定液晶面板是否存在缺陷，确保液晶面板的每一个画素都能正常被点亮，才能进行后段模组组装。
现有的点灯检测方法是，检测治具的引脚做成探针与端子130的PIN一一接触，并提供电压和信号进行点灯测试，以点亮液晶面板的每一个画素。由于液晶面板点灯需要手动拿取及移动存放时间较长，容易在端子130的PIN上沾有异物，如果PIN(即ITO)表面上有异物、水汽(H20)等，点灯时会作为反应介质对ITO造成电蚀。
如图2所示，电蚀原理：使电流通过反应介质，而在阴阳两极形成氧化还原反应过程。若在PIN的Pn和Pn-1之间有一异物200，当信号通过检测治具的探针输入给端子时，Pn、Pn-1、异物200以及电源就构成一回路，由于PIN由氧化铟(In2O3)形成。材料形成，故Pn阴极发生还原反应即：In2O3+3H++6e→2In+3OH-；Pn-1阳极发生氧化反应即：2OH→O2+2H++4e-；得到平衡反应式：2In2O3-→4In+3O2；即氧化铟(In2O3)中的In3+就会被还原成In单体，由于In单体的生成，ITO表面原本完整的晶格结构即受到破坏，使得ITO电极形成腐蚀。
引脚PIN的ITO被短时间电蚀产生微小裂缝或缺口，在与柔性印刷电路板FPC(Flexible Printed Circuit Board)进行绑定组装成模组之后会存在容易被继续腐蚀和可靠性的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种保护引脚不被发生电蚀的面板显示装置的检测装置及其检测方法。
本发明提供一种面板显示装置的检测装置，面板显示装置包括：显示面板、设置在所述显示面板上的端子、以及连接在显示面板上且与端子电性连接的驱动芯片，所述端子包括多个引脚，所述检测装置包括一保护装置，选择存在最大电压差的相邻两个引脚，所述保护装置连接在所述相邻两个引脚之间。
优选地，设定所述相邻两个引脚的其中一个引脚为第一引脚，其中另一个引脚为第二引脚，所述第一引脚的电压小于第二引脚的电压；所述保护装置包括一开关、以及与该开关串联连接的一电阻，其中，所述开关包括与所述第一引脚连接的源极、与所述第二引脚连接的栅极、以及与所述电阻连接的漏极；所述电阻的另一端输入一电压信号。
优选地，所述开关为N型MOS管。
优选地，所述电阻为比In2O3更容易被还原的金属氧化物。
优选地，所述金属氧化物的金属为铜。
优选地，当所述第一引脚和第二引脚之间存在异物时，在电阻处产生还原反应且电阻形成所述金属，第一引脚、异物、第二引脚和开关之间形成的回路被保护。
优选地，所述引脚的材质为ITO。
优选地，述面板显示装置还包括形成在液晶面板周边区域的栅极驱动电路。
本发明还提供一种面板显示装置的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
第一步：在显示面板上的端子的多个引脚中，选择存在最大电压差的相邻两个引脚，其中一个引脚为第一引脚，另一个引脚为第二引脚；
第二步：在所述相邻两个引脚之间接入保护电路；
第三步：对面板显示装置进行通电测试时，当所述第一引脚和第二引脚之间存在异物时，在电阻处产生还原反应且电阻形成所述金属，第一引脚、异物、第二引脚和开关之间形成的回路被保护。
本发明通过对面板显示装置的外接一保护装置，有效的将对引脚的电蚀转移到外接的保护装置上，确保了引脚的完整性，保护显示面板与柔性电路板绑定的引脚不被电蚀而产生缺陷，保护柔性电路板的引脚不被电刻而产生缺陷，提高了产品的可靠性。
附图说明
图1为现有技术的液晶面板的示意图；
图2为现有技术的电蚀原理；
图3为本发明的电蚀保护电路示意图；
图4为本发明的电蚀原理图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本发明，应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围，在阅读了本发明后，本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定。
为了解决现有技术中引脚PIN容易占有异物，导致对液晶面板进行点灯检测时，会作为反应介质对端子的PIN造成电蚀。
本发明提供一种面板显示装置的检测装置，面板显示装置包括：显示面板、连接在显示面板上的驱动芯片、以及与驱动芯片电性连接的柔性电路板。
柔性线路板上设有与所述驱动芯片电性连接的多个引脚，引脚PIN为ITO材质。
显示面板为COG(Chip On Glass)液晶面板，其包括显示区AA和位于显示区外的非显示区，在非显示区周边设有栅极驱动电路、驱动芯片、以及与驱动芯片连接的端子。
端子包括多个引脚PIN,端子的PIN为ITO材质。
为了确保显示面板的品质，在显示面板完成中段成盒制程之后，需要使用点灯治具对显示面板进行点灯检测，以确定显示面板是否存在缺陷，确保显示面板的每一个画素都能正常被点亮，才能进行后段模组组装。
如图3和图4所示，当使用点灯治具对显示面板进行点灯检测时。由于端子的每个引脚所输入的电压为已知的，选择存在最大电压差的相邻两个引脚，设定其中一个引脚为第一引脚Pn，另一个引脚为第二引脚Pn-1，第一引脚的电压小于第二引脚的电压。
本发明检测装置为一个保护装置300，该保护装置连接在所述第一引脚Pn和第二引脚Pn-1之间。
由于电压差越大，腐蚀越严重，电压差比较小时，腐蚀的效果也会很小，故在电压差最大的相邻两个引脚上外接一个保护装置300，其他引脚不需要接保护装置。
如图3所示，保护装置包括一开关301和与该开关串联的一电阻302，其中，开关301为N型MOS管，开关包括与第一引脚Pn连接的源极S、与第二引脚Pn-1连接的栅极G、以及与电阻302连接的漏极D，电阻302的另一端接入电压信号，该电压信号的电位比第一引脚Pn的电位低。其中，电阻302为比In2O3更容易被还原的不被二次氧化的金属氧化物，如CuO。
因电压差越大，腐蚀越严重，故当第一引脚Pn和第二引脚Pn-1之间存在压差时，开关301开启，保护装置300工作，对第一引脚Pn起到保护的作用。当第一引脚Pn和第二引脚Pn-1之间压差为0时，开关301关闭。
当在第一引脚Pn和第二引脚Pn-1之间存在异物时，设定第一引脚Pn接收的信号电位为-12V(即源极S的电位为-12V)，电阻302的另一端提供一-24V的电压信号作为电源，第二引脚Pn-1接收的信号电位为+12V(即栅极G的电位为+12V)时，开关301开启，这时，第一引脚Pn和第二引脚Pn-1、异物、保护装置以及电源就构成一回路。
如图4所示，第一引脚Pn的阴极发生还原反应即：3CuO+3H++6e-→3Cu+3OH-；第二引脚Pn-1的阳极发生氧化反应即：2OH-→O2+2H++4e-；得到平衡反应式：2CuO-→2Cu+O2；即氧化铜(CuO)中的Cu2+被还原成Cu单体，即被腐蚀的部分会发生在保护装置的电阻的Cu上，没有发生在引脚上，故由ITO形成的引脚不被电蚀产生裂缝和缺口，确保引脚的表面的晶格结构是完整。
当第二引脚Pn-1接收的信号电位为-12V(即栅极G的电位为-12V)时，开关301关闭，这时因第一引脚Pn和第二引脚Pn-1之间不存在压差，不会对引脚腐蚀，故开关301关闭，保护装置不工作。
本发明还揭示一种面板显示装置的检测方法，包括如下步骤：
第一步：在显示面板上的端子的多个引脚中，选择存在最大电压差的相邻两个引脚，其中一个引脚为第一引脚Pn，另一个引脚为第二引脚Pn-1；
第二步：在所述相邻两个引脚之间接入保护电路；
第三步：对面板显示装置进行通电测试时，当所述第一引脚和第二引脚之间存在异物时，在电阻处产生还原反应且电阻形成所述金属，第一引脚、异物、第二引脚和开关之间形成的回路被保护。
本发明通过对面板显示装置的外接一保护装置，有效的将对引脚的电蚀转移到外接的保护装置上，确保了引脚的完整性，保护显示面板与柔性电路板绑定的引脚不被电蚀而产生缺陷，保护柔性电路板的引脚不被电刻而产生缺陷，提高了产品的可靠性。
Claims (6)
1.一种面板显示装置的检测装置，面板显示装置包括：显示面板、设置在所述显示面板上的端子、以及连接在显示面板上且与端子电性连接的驱动芯片，所述端子包括多个引脚，其特征在于：所述检测装置包括一保护装置，选择存在最大电压差的相邻两个引脚，所述保护装置连接在所述相邻两个引脚之间；设定所述相邻两个引脚的其中一个引脚为第一引脚，其中另一个引脚为第二引脚，所述第一引脚的电压小于第二引脚的电压；所述保护装置包括一开关、以及与该开关串联连接的一电阻，其中，所述开关包括与所述第一引脚连接的源极、与所述第二引脚连接的栅极、以及与所述电阻连接的漏极；所述电阻的另一端输入一电压信号；所述引脚的材质为ITO，所述电阻为比In2O3更容易被还原的金属氧化物。
2.根据权利要求1所述的面板显示装置的检测装置，其特征在于：所述开关为N型MOS管。
3.根据权利要求2所述的面板显示装置的检测装置，其特征在于：所述金属氧化物的金属为铜。
4.根据权利要求3所述的面板显示装置的检测装置，其特征在于：当所述第一引脚和第二引脚之间存在异物时，在电阻处产生还原反应且电阻形成所述金属，第一引脚、异物、第二引脚和开关之间形成的回路被保护。
5.根据权利要求1所述的面板显示装置的检测装置，其特征在于：所述面板显示装置还包括形成在液晶面板周边区域的栅极驱动电路。
6.一种检测方法，采用权利要求1-5任一所述的面板显示装置的检测装置，其特征在于，包括如下步骤：
第一步：在显示面板上的端子的多个引脚中，选择存在最大电压差的相邻两个引脚，其中一个引脚为第一引脚，另一个引脚为第二引脚；
第二步：在所述相邻两个引脚之间接入保护电路；
第三步：对面板显示装置进行通电测试时，当所述第一引脚和第二引脚之间存在异物时，在电阻处产生还原反应且电阻形成所述金属，第一引脚、异物、第二引脚和开关之间形成的回路被保护。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201711051916.XA CN107784967B (zh) | 2017-10-30 | 2017-10-30 | 面板显示装置的检测装置及其检测方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN201711051916.XA CN107784967B (zh) | 2017-10-30 | 2017-10-30 | 面板显示装置的检测装置及其检测方法 |
Publications (2)
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| CN107784967A CN107784967A (zh) | 2018-03-09 |
| CN107784967B true CN107784967B (zh) | 2020-11-06 |
Family
ID=61431868
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| CN201711051916.XA Active CN107784967B (zh) | 2017-10-30 | 2017-10-30 | 面板显示装置的检测装置及其检测方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN107784967B (zh) |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10315080A1 (de) * | 2003-04-02 | 2004-11-04 | Infineon Technologies Ag | Sensor-Anordnung und Sensor-Array |
| CN200986638Y (zh) * | 2006-12-19 | 2007-12-05 | 比亚迪股份有限公司 | 一种液晶显示器 |
| CN202256972U (zh) * | 2011-09-14 | 2012-05-30 | 比亚迪股份有限公司 | 一种液晶显示器 |
| CN203760049U (zh) * | 2013-12-30 | 2014-08-06 | 昆山国显光电有限公司 | 一种背板布线结构 |
| CN205643107U (zh) * | 2016-03-28 | 2016-10-12 | 国网四川省电力公司电力科学研究院 | 接地极杂散电流对埋地金属腐蚀的模拟装置 |
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2017
- 2017-10-30 CN CN201711051916.XA patent/CN107784967B/zh active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN107784967A (zh) | 2018-03-09 |
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