CN106940494B - 显示母板及其静电释放方法、基台 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种显示母板及其静电释放方法、基台，属于静电防护技术领域，其可至少部分解决现有的显示母板在摩擦取向等工艺中容易因为静电放电而产生不良的问题。本发明的显示母板包括至少一个显示基板，所述显示母板还包括用于在测试时引入测试电压的测试线，所述测试线与显示基板中的信号线相连；所述显示母板还包括：放电端子，其通过开关单元与测试线电连接，并用于与接地的探针相连；其中，当测试线与放电端子间电压差的绝对值大于或等于预设值时开关单元导通，否则开关单元关断，且所述预设值大于测试电压的绝对值的最大值。

Description

显示母板及其静电释放方法、基台

技术领域

本发明属于静电防护技术领域，具体涉及一种显示母板及其静电释放方法、基台。

背景技术

在液晶显示母板的制备过程中需要进行摩擦取向，即用摩擦辊对液晶显示母板的配向材料层进行摩擦，使其产生特定的取向。

在摩擦取向过程中，摩擦辊与液晶显示母板间会产生剧烈摩擦，故液晶显示母板中会积累大量静电；而当静电积累到一定程度时会发生放电，这可能导致其中的绝缘层、薄膜晶体管等损坏，引起不同线路间的短路、薄膜晶体管失效等，造成显示不良。为避免放电，可在摩擦取向时用X射线进行照射，使空气电离以中和液晶显示母板中的静电；或者，也可控制摩擦辊的湿度，以减少静电的产生。

但是，现有方法对静电的消除作用有限，液晶显示母板仍然容易因为静电放电(ESD)而产生不良。

发明内容

本发明至少部分解决现有的液晶显示基板在摩擦取向等工艺中容易因为静电放电而产生不良的问题，提供一种可避免静电放电的显示母板及其静电释放方法、基台。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示母板，包括至少一个显示基板，所述显示母板还包括用于在测试时引入测试电压的测试线，所述测试线与显示基板中的信号线相连；所述显示母板还包括：

放电端子，其通过开关单元与测试线电连接，并用于与接地的探针相连；其中，当测试线与放电端子间电压差的绝对值大于或等于预设值时开关单元导通，否则开关单元关断，且所述预设值大于测试电压的绝对值的最大值。

优选的是，所述开关单元包括类型相同的第一晶体管和第二晶体管，其中，所述第一晶体管的栅极和第一极连接测试线，第二极连接放电端子；所述第二晶体管的栅极和第一极连接放电端子，第二极连接测试线；所述第一晶体管和第二晶体管的开启电压的绝对值均等于所述预设值。

优选的是，所述放电端子有多个，并通过环形的连接线电连接在一起；所述测试线有多条，各测试线分别通过开关单元与所述连接线的不同位置连接。

优选的是，所述显示母板包括中部和位于中部外围的边缘部，所述放电端子设于边缘部中。

优选的是，所述显示母板还包括所述显示基板之外的周边区，所述测试线设于周边区中；所述放电端子设于周边区中；所述开关单元设于周边区中。

优选的是，所述显示母板为液晶显示母板，至少在其显示基板中设有配向材料层。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种基台，其包括：

用于承载上述显示母板的承载台；

接地的探针，其用于与所述显示母板的放电端子连接。

优选的是，所述承载台设有凹陷，所述凹陷中设有升降单元，所述探针连接在升降单元上，能在升降单元的驱动下在位于凹陷内和伸出凹陷外的位置间运动。

进一步优选的是，所述基台为摩擦取向基台，其承载台用于上述液晶显示母板；所述摩擦取向基台还包括：探测单元，用于探测摩擦辊相对于承载台的位置；控制单元，用于在所述摩擦辊靠近探针时控制升降单元将探针运动至凹陷内，并在所述摩擦辊远离探针时控制升降单元将探针运动伸出凹陷外。

解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示母板的静电释放方法，其包括：

将上述显示母板设于上述基台的承载台上，使所述基台中的至少一个探针与显示母板中的放电端子接触；

当所述显示母板的信号线和测试线中积累静电而导致测试线与放电端子间电压差的绝对值大于或等于预设值时，所述开关单元导通，所述信号线和测试线中积累的静电通过开关单元释放至探针。

本发明的显示母板在摩擦取向等工艺(也可为涂布、溅射等其它过程)中，放电端子可接地，故静电仅在信号线、测试线中积累，而随着静电积累，信号线(测试线)与放电端子间的电压差增大，当该电压差的绝对值达到以上预设值时开关单元导通，信号线(测试线)中积累的静电可通过放电端子释放，由此保证积累的静电不会过量，以彻底避免静电放电及其引起的不良；而由于预设值高于测试电压的绝对值的最大值，故在测试过程开关单元不会导通，测试过程不受影响。

附图说明

图1为本发明的实施例的一种显示母板的结构示意图；

图2为本发明的实施例的一种显示母板中开关单元的电路图；

图3为本发明的实施例的一种基台的结构示意图；

图4为图3中沿AA’的局部剖面结构示意图；

其中，附图标记为：1、显示母板；11、显示基板；12、周边区；2、测试线；3、信号线；4、开关单元；51、放电端子；52、连接线；M1、第一晶体管；M2、第二晶体管；7、升降单元；8、探针；9、承载台；91、凹陷。

具体实施方式

为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。

实施例1：

如图1至图4所示，本实施例提供一种显示母板1，其包括至少一个显示基板11，显示母板11还包括用于在测试时引入测试电压的测试线2，测试线2与显示基板11中的信号线3相连；显示母板1还包括：

放电端子51，其通过开关单元4与测试线2电连接，并用于与接地的探针8相连；其中，当测试线2与放电端子51间电压差的绝对值大于或等于预设值时开关单元4导通，否则开关单元4关断，且预设值大于测试电压的绝对值的最大值。

如图1所示，每个显示母板1中包括一个或多个设有显示结构的显示基板11，显示母板1可被制成为多个显示基板11产品(如阵列基板、彩膜基板等)，显示基板11产品再组成显示面板。

显示母板1中还设有一条或多条测试线2，该测试线2与显示基板11内的信号线3(如栅极线、数据线、公共电极线等)相连，用于在不设置驱动芯片的情况下向信号线3通入测试电压，以检测显示母板1是否存在问题。当然，为引入测试电压，测试线2还应与测试端子相连，而测试端子用于连接测试信号输入探针等。

当然，在图1中，只是示意性的画出了部分测试线2和信号线3，而并非对测试线2、信号线3具体结构的限定，例如，还可有横向分布的信号线3以及纵向分布的测试线2等。

与现有技术不同，测试线2还要与放电端子51(Pad)电连接，且二者之间设有开关单元4，只有当测试线2与放电端子51间电压差的绝对值(因为静电种类不定，故该电压差正负不定)大于或等于一个预设值时该开关单元4可导通。同时，以上预设值(如250V)必须大于测试线2在测试时所可能加载的测试电压的绝对值的最大值(如50V)。

优选的，以上显示母板1为液晶显示母板，至少在其显示基板11中设有配向材料层。

也就是说，显示母板1优选为用于形成液晶显示基板的液晶显示母板，其显示基板11中覆盖有配向材料层，从而在后续的摩擦取向工艺中该配向材料层可形成特定的取向。

当然，以上显示母板1也可为有机发光二极管显示母板等其它的类型。同时，显示母板1的静电释放也不限于在摩擦取向工艺中，在涂布、溅射等其它过程中，或在存储时产生的静电也可按照本发明的方式释放。

在本实施例的显示母板1进行摩擦取向等工艺(也可为涂布、溅射等其它过程)时，放电端子51通过探针8接地，故静电仅在信号线3、测试线2中积累，而随着静电积累，信号线3(测试线2)与放电端子51间的电压差增大，当该电压差的绝对值达到以上预设值时，开关单元4导通，信号线3(测试线2)中积累的静电可通过放电端子51释放掉，由此，在显示母板1的显示基板11中积累的静电不会过量，不会发生静电放电而造成不良；而由于该预设值高于测试电压的绝对值的最大值，故在测试过程中电压差的绝对值不会达到以上预设值，开关单元4不会导通，测试过程不受影响。

优选的，开关单元4包括类型相同的第一晶体管M1和第二晶体管M2，其中，第一晶体管M1的栅极和第一极连接测试线2，第二极连接放电端子51；第二晶体管M2的栅极和第一极连接放电端子51，第二极连接测试线2；第一晶体管M1和第二晶体管M2的开启电压的绝对值均等于预设值。

一种优选的开关单元4的具体结构可如图2所示，由两个晶体管组成，其中，通过调整两个晶体管的有源区材料、沟道宽长比(W/L)等，可使其开启电压等于以上预设值。具体的，以晶体管均为N型为例，当信号线3(测试线2)中积累正电时，第一晶体管M1的栅极电压升高，第二极接地，故当二者的电压差达到以上预设值时第一晶体管M1导通将积累的正电荷释放；而当信号线3(测试线2)中积累负电时，第二晶体管M2的第二极电压降低，栅极接地，相当于栅极电压升高，当二者电压差的绝对值达到以上预设值时第而晶体管M2导通将积累的负电荷释放。由此可见，以上开关单元4可通过简单的结构实现所需功能。

优选的，显示母板1包括中部和位于中部外围的边缘部，放电端子51设于显示母板1的边缘部。

显然，放电端子51要与探针8(Pin)相连才能释放静电，而从位置上看，显示母板1可分为中部和边缘部，如图3、图4所示，放电端子51优选设于显示母板1的边缘部分中，这样放电端子51与显示母板1的边的距离较近，探针8可方便的从显示母板1的侧面外连接至放电端子51。

当然，以上边缘部的具体宽度可根据显示母板1的尺寸决定，例如其可宽5厘米。

优选的，放电端子51有多个，并通过环形的连接线52电连接在一起；测试线2有多条，各测试线2分别通过开关单元4与连接线52的不同位置连接。

也就是说，可将多个放电端子51通过一条环形的连接线52电连接在一起，而不同的测试线2连接至连接线52的不同位置处。这样，每条测试线2中的静电都可通过多个不同的放电端子51释放，从而保证当有部分放电端子51无法放电(如接触不良或断线)时静电也能良好的释放。

当然，连接线52也可为多条，也可不是环形的，或者每条测试线2也可分别通过开关单元4与一个单独的放电端子51连接。

优选的，显示母板1还包括显示基板11外的周边区12，测试线2于周边区12中；放电端子51设于周边区12中；开关单元4设于周边区12中。

通常而言，显示母板1中除各显示基板11外，还设有周边区12(或称冗余区)，这些周边区12在后续工艺中会被切割除去。而以上测试线2、放电端子51、开关单元4仅在显示母板1的制备工艺中起作用，而在切割出的显示基板11产品中实际无作用，因此优选将它们设于周边区12中，以保证其在后续工艺中会被切掉，而不会出现在显示基板11产品中，避免对显示造成影响。

当然，在具有周边区12时，从方便制备的角度考虑，周边区12中也可设有配向材料层。

其中，以上的开关单元4、放电端子51、连接线52等可与显示母板1中原有的结构同步形成，以简化其制备工艺。例如，开关单元4中的晶体管可与显示母板1的显示基板11中的晶体管同步形成，而放电端子51、连接线52、开关单元4中的引线等则可与测试线2等同步形成，在此不再详细描述。

实施例2：

如图1至图4所示，本实施例提供一种基台，其包括：

用于承载上述显示母板1的承载台9；

接地的探针8，其用于与显示母板1的放电端子51连接。

本实施例的基台用于承载以上显示母板1，且包括探针8，当显示母板1放在承载台9上时，探针8可与显示母板1中的放电端子51连接，从而使放电端子51接地，以释放显示母板1中积累的静电。

具体的，探针8的结构应能使其连接到放电端子51，例如，若如前所述放电端子51设于显示母板1的边缘部，而探针8设于承载台9中，则探针8可如图4所示具有弯曲的部分，从而可从侧面连接到放电端子51。当然，如果探针8设在位于显示母板1上方的支架等之上，其也可为直线结构。

优选的是，承载台9设有凹陷91，凹陷91中设有升降单元7，探针8连接在升降单元7上，能在升降单元7的驱动下在位于凹陷91内和伸出凹陷91外的位置间运动。

如图3、4所示，承载台9用于承载显示母板1的一侧设有多个凹陷91，这些凹陷91位于显示母板1的外围，而探针8设于凹陷91内，且可在升降单元7的作用下升降。其中，升降单元7的具体形式是多样的，例如其可为气缸，而探针8则连接在气缸的活塞杆上。这样，如图4所示，当探针8伸出凹陷91时，其可从侧方与放电端子51连接，而当探针8缩进凹陷91内时，则其不伸出承载台9的表面，不易被损伤等。

进一步优选的，基台为摩擦取向基台，其承载台9用于承载上述的液晶显示母板，则基台还包括：探测单元(图中未示出)，用于探测摩擦辊相对于承载台9的位置；控制单元(图中未示出)，用于在摩擦辊靠近探针8时控制升降单元7将探针8运动至凹陷91内，并在摩擦辊远离探针8时控制升降单元7将探针8运动伸出凹陷91外。

也就是说，基台优选为用于在摩擦取向过程中承载液晶显示母板的摩擦取向基台；而在摩擦取向过程中，摩擦辊会逐渐扫过液晶显示母板的不同位置。为此，可设置探测单元以获取摩擦辊的位置，并且在摩擦辊运动到某探针8附近时用控制单元控制该探针8缩进凹陷91中，以免探针8或摩擦辊损伤，而当摩擦辊远离探针8后，控制单元再控制探针8伸出凹陷91外与放电端子51连接，以尽量提高静电释放的效果。

其中，摩擦辊与承载台9发生相对运动的方式也是多样的，可以是摩擦辊在原地旋转，而承载台9在摩擦辊下方移动；或者，也可以是承载台9不动，而摩擦辊在其上方边旋转边移动，在此不再详细描述。

其中，也可通过设置摩擦辊的长度、运动区域范围等，使全部或部分探针8所在位置不会被摩擦辊扫过(如摩擦辊可从图3中最左侧一列探针8的右方开始，这样该列探针8的位置即不会被摩擦辊扫过)，应当理解，这些不会被摩擦辊扫过的探针8不必设在凹陷中，也不必连接升降单元等。

本实施例的基台中设有与上述显示母板1中的放电端子51对应的探针8，故可保证积累的静电不会过量，以避免静电放电及其引起的不良。

实施例3：

如图1至图4所示，本实施例提供一种静电释放方法，其包括：

将上述的显示母板1设于上述的基台的承载台9上，使基台中的至少一个探针8与显示母板1中的放电端子51接触；

当显示母板1的信号线3和测试线2中积累静电而导致测试线2与放电端子51间电压差的绝对值大于或等于预设值时，开关单元4导通，信号线3和测试线2中积累的静电通过开关单元4释放至探针。

本实施例的显示母板的静电释放方法采用以上的显示母板1和基台进行，故可保证积累的静电不会过量，以避免静电放电及其引起的不良。

当然，优选的，以上静电释放方法可用于液晶显示母板的摩擦取向过程中，在此不再详细描述。

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (8)

1.一种基台，其特征在于，包括用于承载显示母板的承载台和接地的探针；

其中，

所述承载台设有凹陷，所述凹陷中设有升降单元，所述探针连接在升降单元上，能在升降单元的驱动下在位于凹陷内和伸出凹陷外的位置间运动；

所述探针用于与所述显示母板的放电端子连接；

其中，

用于被所述基台的承载台承载的所述显示母板包括：至少一个显示基板，所述显示母板还包括用于在测试时引入测试电压的测试线，所述测试线与显示基板中的信号线相连；放电端子，其通过开关单元与测试线电连接，并用于与接地的探针相连；其中，当测试线与放电端子间电压差的绝对值大于或等于预设值时开关单元导通，否则开关单元关断，且所述预设值大于测试电压的绝对值的最大值。

2.根据权利要求1所述的基台，其特征在于，所述开关单元包括类型相同的第一晶体管和第二晶体管，其中，

所述第一晶体管的栅极和第一极连接测试线，第二极连接放电端子；

所述第二晶体管的栅极和第一极连接放电端子，第二极连接测试线；

所述第一晶体管和第二晶体管的开启电压的绝对值均等于所述预设值。

3.根据权利要求1所述的基台，其特征在于，

所述放电端子有多个，并通过环形的连接线电连接在一起；

所述测试线有多条，各测试线分别通过开关单元与所述连接线的不同位置连接。

4.根据权利要求1所述的基台，其特征在于，

所述显示母板包括中部和位于中部外围的边缘部，所述放电端子设于边缘部中。

5.根据权利要求1所述的基台，其特征在于，所述显示母板还包括所述显示基板之外的周边区，

所述测试线设于周边区中；

所述放电端子设于周边区中；

所述开关单元设于周边区中。

6.根据权利要求1所述的基台，其特征在于，

所述显示母板为液晶显示母板，至少在其显示基板中设有配向材料层。

7.根据权利要求6所述的基台，其特征在于，

所述基台为摩擦取向基台；所述摩擦取向基台还包括：

探测单元，用于探测摩擦辊相对于承载台的位置；

控制单元，用于在所述摩擦辊靠近探针时控制升降单元将探针运动至凹陷内，并在所述摩擦辊远离探针时控制升降单元将探针运动伸出凹陷外。

8.一种显示母板的静电释放方法，其采用将权利要求1至7中任意一项所述的基台进行，其特征在于，所述静电释放方法包括：

将显示母板设于基台的承载台上，使所述基台中的至少一个探针与显示母板中的放电端子接触；

当所述显示母板的信号线和测试线中积累静电而导致测试线与放电端子间电压差的绝对值大于或等于预设值时，所述开关单元导通，所述信号线和测试线中积累的静电通过开关单元释放至探针。

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