CN108231798A - 一种待检测的显示面板、显示面板及显示装置 - Google Patents

一种待检测的显示面板、显示面板及显示装置 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种待检测的显示面板、显示面板及显示装置，涉及显示技术领域，可改善因ESD烧毁过孔导致数据检测信号无法正常传输的问题。所述待检测的显示面板，包括设置在非显示区的多条连接线和与所述连接线异层设置的多个引线组，同一个所述引线组中的多条数据线引线分别通过导电图案与同一条所述连接线电连接；还包括连接固定电压端的辅助线以及与所述辅助线和所述导电图案均电连接的半导体层；其中，所述固定电压端用于为所述辅助线提供大小不变的电压信号。

Description

一种待检测的显示面板、显示面板及显示装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种待检测的显示面板、显示面板及显示装置。
背景技术
现有制备显示面板时，在为显示面板贴附驱动芯片以及输入显示信号用的柔性电路板之前，通常会进行面板功能测试(英文全称：Cell Test，英文简称：CT)，以检测显示面板制作过程中出现的不良。该测试过程先是对显示面板输入检测信号，使其子像素显示纯色画面，并通过该显示画面判断显示面板的各信号线是否发生断路或者短路，或者各子像素间是否会发生漏光等。
传统显示面板的像素排列方式如图1所示，每行子像素的颜色分布相同，每列子像素的颜色相同。进行点灯测试时，所有栅线连接在一起形成扫描检测信号输入端Gate，相同颜色的子像素的数据线连接通过连接线10在一起形成数据检测信号输入端Date_R、Date_G、Date_B。面板功能测试过程具体的包括：向扫描检测信号输入端Gate持续输入检测信号，向数据检测信号输入端Date_R输入检测信号，点出红色画面；向数据检测信号输入端Date_G输入检测信号，点出绿色画面；向数据检测信号输入端Date_B输入检测信号，点出蓝色画面。从而验证显示面板的信号线之间是否断路，以及显示面板是否漏光等问题。
具体的信号传输过程，如图2和图3所示(图2中没有示意出绝缘层)，通过数据检测信号输入端Date_R、Date_G、Date_B向位于非显示区的连接线10输入信号，再通过过孔20的桥接作用，使导电图案30将连接线10上的信号传递到数据线引线40上，以向显示面板输入检测信号。但在实际生产过程中，由于线路上的电压差异或是其他生产工艺影响，会造成检测区产生静电电荷(ESD)并积累，从而出现ESD烧毁过孔20的现象，导致信号无法正常传输，产生不良。
发明内容
本发明的实施例提供一种待检测的显示面板、显示面板及显示装置，可改善因ESD烧毁过孔导致数据检测信号无法正常传输的问题。
为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：
第一方面，提供一种待检测的显示面板，包括设置在非显示区的多条连接线和与所述连接线异层设置的多个引线组，同一个所述引线组中的多条数据线引线分别通过导电图案与同一条所述连接线电连接；还包括连接固定电压端的辅助线以及与所述辅助线和所述导电图案均电连接的半导体层；其中，所述固定电压端用于为所述辅助线提供大小不变的电压信号。
可选的，所述辅助线与所述连接线平行且同层设置。
可选的，所述辅助线设置在所述连接线靠近所述待检测的显示面板的边缘一侧。
可选的，所述待检测的显示面板还包括多个亚像素单元；同一个所述引线组中的多条所述数据线引线与用于驱动发同种颜色光的所述亚像素单元的数据线电连接。
可选的，所述半导体层的材料为非晶硅，所述待检测的显示面板还包括设置在所述半导体层与所述导电图案之间的欧姆接触层。
可选的，所述待检测的显示面板还包括薄膜晶体管；所述半导体层与所述薄膜晶体管的有源层同层设置，所述辅助线与所述薄膜晶体管的栅极同层设置。
可选的，所述薄膜晶体管为底栅型薄膜晶体管，所述底栅型薄膜晶体管还包括栅绝缘层和钝化层；所述导电图案通过所述钝化层上的第一过孔与所述数据线引线连接、通过所述栅绝缘层上的第一过孔和所述钝化层上的第二过孔与所述连接线连接、通过所述钝化层上的第三过孔与所述半导体层连接；所述半导体层通过所述栅绝缘层上的第二过孔与所述辅助线连接。
基于上述，可选的，所述待检测的显示面板还包括公共电极线，所述公共电极线连接所述固定电压端。
第二方面，提供一种显示面板，所述显示面板是由第一方面所述的待检测的显示面板中位于同一引线组的多条数据线引线彼此断开后形成的。
第三方面，提供一种显示装置，包括第二方面所述的显示面板。
本发明的实施例提供一种待检测的显示面板、显示面板及显示装置，通过增加一条辅助线，并使导电图案与半导体层和辅助线均连接，当导电图案处不存在ESD时，半导体层相对绝缘，导电图案与辅助线之间没有连通。而当导电图案处存在ESD时，半导体层变为导体，导电图案与辅助线之间通过半导体层电连接，导电图案处的ESD通过半导体层释放到辅助线上去，从而释放导电图案处的静电，改善了因ESD烧毁过孔导致数据检测信号无法正常传输的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有技术提供的一种待检测的显示面板的结构示意图；
图2为现有技术提供的一种待检测的显示面板中连接线与数据线引线的连接关系示意图；
图3为图2中沿A-A向的截面图；
图4为本发明实施例提供的一种待检测的显示面板中连接线、数据线引线、辅助线的位置关系示意图一；
图5为本发明实施例提供的一种待检测的显示面板中连接线、数据线引线、辅助线的位置关系示意图二；
图6为图4中沿B-B向的截面图；
图7为本发明实施例提供的一种待检测的显示面板中导电图案、半导体层、辅助线之间的连接方式示意图。
附图标记
10-连接线；20-过孔；30-导电图案；40-数据线引线；50-辅助线；60-半导体层；70-栅绝缘层；71-栅绝缘层上的第一过孔；72-栅绝缘层上的第二过孔；80-钝化层；81-钝化层上的第一过孔；82-钝化层上的第二过孔；83-钝化层上的第三过孔。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明的实施例提供一种待检测的显示面板，如图4-6所示，包括设置在非显示区的多条连接线10和与连接线10异层设置的多个引线组，同一个引线组中的多条数据线引线40分别通过导电图案30与同一条连接线10电连接；还包括连接固定电压端(图中未示意)的辅助线50以及与辅助线50和导电图案30均电连接的半导体层60；其中，固定电压端用于为辅助线50提供大小不变的电压信号。
需要说明的是，第一，不对连接线10的条数进行限定，至少两条即可。连接线10可以如图4和图5所示为三条，也可以是两条，也可以是四条，当然还可以是其他，根据检测需求合理设置即可。
其中，每一个引线组中的数据线引线40与同一条连接线10连接，因此，引线组的个数应小于等于连接线10的条数。
图4中示意了一种方案：包括三条连接线10、三个引线组、每组引线包括三条数据线引线40，每一个引线组中的数据线引线40连接同一条连接线10。
图5中示意了一种方案：包括三条连接线10、三个引线组、每个引线组包括两条数据线引线40，每一个引线组中的数据线引线40连接同一条连接线10。
如果包括两条连接线10，例如可以将奇数条数据线引线40划分为一个引线组，将偶数条数据线引线40划分为一个引线组，或者其他。
第二，不对辅助线50的设置位置和延伸方向进行限定，可以如图4所示与连接线10平行，也可以如图5所示与数据线引线40平行，当然还可以是其他。
第三，固定电压端用于为辅助线50提供大小不变的电压信号是指，在面板检测的过程中，固定电压端提供一个固定数值的电压信号，例如0V、5V等，在整个检测的过程中，固定电压端输入的信号不发生变化。
第四，半导体层60与辅助线50和导电图案30可以通过图6所示的方式电连接，也可以通过图7所示的方式电连接，当然还可以是其他方式。
其中，不对半导体层的材料进行限定，现有技术中的非晶硅、多晶硅、金属氧化物等材料均可。
此处，本领域技术人员应该明白，半导体材料的特点为在一定条件下为绝缘体，在一定条件下为导体。本发明正是利用半导体材料的上述特性，改善了现有技术中因ESD烧毁过孔导致数据检测信号无法正常传输的问题。具体原理为：辅助线50上的电压为固定电压端提供的大小不变的电压信号，正常情况下，检测时输入的数据检测信号电压较小(例如低于30V)，导电图案30与辅助线50之间的压差较小，半导体层60处于一个相对绝缘的状态。当有ESD发生时(静电高于1000V)，此时导电图案30与辅助线50之间的压差较大，半导体层60成为导体，ESD通过半导体层60释放到辅助线50上去，从而释放导电图案30处的静电。
第五，本领域技术人员应该明白，在检测过程中，一个待检测显示面板上的位于同一引线组中的多条数据线引线50由于与同一条连接线10连接，因此多条数据线引线50处于连通状态，也就是说与同一引线组中的数据线引线50连接的多条数据线处于连通状态。而当待检测显示面板检测完毕后，正常显示过程中每一条数据线应独立传输信号，因此在检测完毕后，用于具体产品前，还应对检测完毕的显示面板进行处理。
其中，有一种情况是通过在连接线10上设置开关晶体管来控制同一引线组中的多条数据线引线50是否连通，检测时开关晶体管开启，多条数据线引线50连通；产品正常显示时，开关晶体管关闭，多条数据线引线50断开。此时，连接线10包括多条通过开关晶体管连接起来的子连接线，与现有技术中的结构相同。
有一种情况是通过激光切断连接线10或者直接使数据线引线50与连接线10断开，使多条数据线引线50断开，此时，连接线10可以为一条线。直接使数据线引线50与连接线10断开的方式例如可以为：通过激光切断数据线引线50、关断数据线引线50与数据线之间的开关晶体管、直接将设置有连接线10的部分切除等等。
第六，不对导电图案30的材料进行限定，例如可以是ITO(Indium Tin Oxide，铟锡氧化物)，或者其他具有导电功能的金属。
其中，待检测的显示面板中的多块导电图案30的形状可以相同，也可以不同。
本发明实施例提供的待检测的显示面板，通过增加一条辅助线50，并使导电图案30与半导体层60和辅助线50均连接，当导电图案30处不存在ESD时，半导体层60相对绝缘，导电图案30与辅助线50之间没有连通。而当导电图案30处存在ESD时，半导体层60变为导体，导电图案30与辅助线50之间通过半导体层60电连接，导电图案30处的ESD通过半导体层60释放到辅助线50上去，从而释放导电图案30处的静电，改善了因ESD烧毁过孔导致数据检测信号无法正常传输的问题。
为了简化制备工艺，并使待检测的显示面板轻薄化，优选的，如图4和图6所示，辅助线50与连接线10平行且同层设置。
为了便于导电图案30的合理布局，进一步优选的，如图4所示，辅助线50设置在连接线10靠近待检测的显示面板的边缘一侧。
优选的，待检测的显示面板还包括多个亚像素单元；同一个引线组中的多条数据线引线40与用于驱动发同种颜色光的亚像素单元的数据线电连接。
即，引线组的个数与亚像素单元发光颜色的种类相同，例如，亚像素单元发红、绿、蓝光，引线组为三个，亚像素单元发红、绿、蓝、白光，引线组为四个。
示例的，与第一个引线组中的数据线引线40连接的多条数据线用于驱动发红光的亚像素单元，与第二个引线组中的数据线引线40连接的多条数据线用于驱动发绿光的亚像素单元，与第三个引线组中的数据线引线40连接的多条数据线用于驱动发蓝光的亚像素单元。也就是说，待检测的显示面板中用于驱动发红光的亚像素单元的数据线与第一条连接线10电连接，待检测的显示面板中用于驱动发绿光的亚像素单元的数据线与第二条连接线10电连接，待检测的显示面板中用于驱动发蓝光的亚像素单元的数据线与第三条连接线10电连接。
本发明实施例通过使同一个引线组中的多条数据线引线40与用于驱动发同种颜色光的亚像素单元的数据线电连接，而同一个引线组中的多条数据线引线40又与同一条连接线10电连接，因此，当向一条连接线10输入数据检测信号，与该条连接线10连接的亚像素单元同时驱动，从而可以检测上述亚像素单元显示是否正常。这种分颜色检测的方式不仅可以检测到亚像素单元是否能正常显示，还可以检测亚像素单元显示过程中的颜色是否正常。
可选的，半导体层60的材料为非晶硅，待检测的显示面板还包括设置在半导体层60与导电图案30之间的欧姆接触层。
例如半导体层60的材料为a-si，欧姆接触层的材料为n+a-si。
为了简化制备工艺，并使待检测的显示面板轻薄化，可选的，待检测的显示面板还包括薄膜晶体管；半导体层60与薄膜晶体管的有源层同层设置，辅助线50与薄膜晶体管的栅极同层设置。
进一步可选的，薄膜晶体管为底栅型薄膜晶体管，所述底栅型薄膜晶体管还包括栅绝缘层70和钝化层80；导电图案30通过钝化层80上的第一过孔81与数据线引线40连接、通过栅绝缘层70上的第一过孔71和钝化层80上的第二过孔82与连接线10连接、通过钝化层80上的第三过孔83与半导体层60连接；半导体层60通过栅绝缘层70上的第二过孔72与辅助线50连接。
其中，导电图案30可以通过钝化层80上的第二过孔82和栅绝缘层70上的第一过孔71与连接线10连接，则栅绝缘层70上的第一过孔71与钝化层80上的第二过孔82必然连通。
优选的，如图6所示，钝化层80上的第二过孔82设置在钝化层80上的第一过孔81靠近待检测的显示面板的边缘一侧。
其中，图6中设置有辅助线50的一侧为靠近待检测的显示面板的边缘一侧。
为了简化待检测显示面板的结构，基于上述，优选的，待检测的显示面板还包括公共电极线，公共电极线连接固定电压端。
即，本发明中的固定电压端可以和本领域技术人员惯常所称的公共电压端是两个独立的电压端，本发明优选的，本发明中的固定电压端即为公共电压端。
本发明实施例还提供一种显示面板，所述显示面板是由上述待检测的显示面板中位于同一引线组的多条数据线引线彼此断开后形成的。
即，在检测过程中，位于同一引线组的多条数据线引线50彼此连通，在检测完成后用于显示时，位于同一引线组的多条数据线引线50彼此断开。前文介绍了几种断开方式，此处不再赘述。
本发明实施例提供的显示面板的有益效果与上述待检测的显示面板相同，此处不再赘述。
本发明实施例还提供一种显示装置，包括上述显示面板。
上述显示装置具体可以是OLED显示器、液晶显示器、液晶电视、数码相框、手机、平板电脑、导航仪等具有任何显示功能的产品或者部件。
本发明实施例提供的显示装置的有益效果与上述显示面板的有益效果相同，此处不再赘述。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种待检测的显示面板，包括设置在非显示区的多条连接线和与所述连接线异层设置的多个引线组，同一个所述引线组中的多条数据线引线分别通过导电图案与同一条所述连接线电连接；其特征在于，还包括连接固定电压端的辅助线以及与所述辅助线和所述导电图案均电连接的半导体层；
其中，所述固定电压端用于为所述辅助线提供大小不变的电压信号。
2.根据权利要求1所述的待检测的显示面板，其特征在于，所述辅助线与所述连接线平行且同层设置。
3.根据权利要求2所述的待检测的显示面板，其特征在于，所述辅助线设置在所述连接线靠近所述待检测的显示面板的边缘一侧。
4.根据权利要求1所述的待检测的显示面板，其特征在于，所述待检测的显示面板还包括多个亚像素单元；
同一个所述引线组中的多条所述数据线引线与用于驱动发同种颜色光的所述亚像素单元的数据线电连接。
5.根据权利要求1所述的待检测的显示面板，其特征在于，所述半导体层的材料为非晶硅，所述待检测的显示面板还包括设置在所述半导体层与所述导电图案之间的欧姆接触层。
6.根据权利要求1所述的待检测的显示面板，其特征在于，所述待检测的显示面板还包括薄膜晶体管；
所述半导体层与所述薄膜晶体管的有源层同层设置，所述辅助线与所述薄膜晶体管的栅极同层设置。
7.根据权利要求6所述的待检测的显示面板，其特征在于，所述薄膜晶体管为底栅型薄膜晶体管，所述底栅型薄膜晶体管还包括栅绝缘层和钝化层；
所述导电图案通过所述钝化层上的第一过孔与所述数据线引线连接、通过所述栅绝缘层上的第一过孔和所述钝化层上的第二过孔与所述连接线连接、通过所述钝化层上的第三过孔与所述半导体层连接；
所述半导体层通过所述栅绝缘层上的第二过孔与所述辅助线连接。
8.根据权利要求1-7任一项所述的待检测的显示面板，其特征在于，所述待检测的显示面板还包括公共电极线，所述公共电极线连接所述固定电压端。
9.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板是由权利要求1-8任一项所述的待检测的显示面板中位于同一引线组的多条数据线引线彼此断开后形成的。
10.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求9所述的显示面板。
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