CN106441169A - 一种超薄浮法玻璃微观波纹度检测方法 - Google Patents

一种超薄浮法玻璃微观波纹度检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106441169A
CN106441169A CN201610812590.7A CN201610812590A CN106441169A CN 106441169 A CN106441169 A CN 106441169A CN 201610812590 A CN201610812590 A CN 201610812590A CN 106441169 A CN106441169 A CN 106441169A
Authority
CN
China
Prior art keywords
glass
waviness
micro
glass specimen
specimen
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201610812590.7A
Other languages
English (en)
Inventor
董伊春
王晓东
吴婷婷
朱乐乐
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BENGBU CTIEC INFORMATION DISPLAY MATERIALS Co Ltd
Original Assignee
BENGBU CTIEC INFORMATION DISPLAY MATERIALS Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BENGBU CTIEC INFORMATION DISPLAY MATERIALS Co Ltd filed Critical BENGBU CTIEC INFORMATION DISPLAY MATERIALS Co Ltd
Priority to CN201610812590.7A priority Critical patent/CN106441169A/zh
Publication of CN106441169A publication Critical patent/CN106441169A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

本发明公开一种超薄浮法玻璃微观波纹度检测方法,包括以下步骤:a) 将玻璃原片裁切为规定尺寸的玻璃试样,并将玻璃试样水平放置于旋转光检台上;b)在旋转光检台的一侧设置竖直的反光挡板,在旋转光检台的另一侧用平行光源照射玻璃试样,使反光挡板上形成反映玻璃试样条纹的投影线条;c) 在0°~90°的旋转角度内调节旋转光检台,对照反光挡板上各个角度所形成的投影线条,使用记号笔在玻璃试样上标记出相应的试样条纹位置;d)以标记出的试样条纹位置为中心,用表面形貌仪进行对应位置检测,得到玻璃试样微观波纹度;通过在反光挡板上形成投影的宽窄或明暗来辅助判定微观波纹度的质量状况。

Description

一种超薄浮法玻璃微观波纹度检测方法
技术领域
本发明涉及玻璃检测技术领域,具体是一种超薄浮法玻璃微观波纹度检测方法。
背景技术
微观波纹度检验是超薄浮法玻璃生产中非常重要的一个环节。微观波纹度在超薄浮法玻璃基板导电膜行业应用中,是一项首要的功能性指标。用户根据原片基板微观波纹度实测值的大小,定位使用方向及进行加工成品的高、中、低端档次区分,从而有针对性的提升自己的产品使用性能和利润空间。严重的微观波纹度会造成下游加工成品出现“排骨彩虹”缺陷报废等情况。
超薄浮法玻璃生产过程中,微观波纹度的检测就是尽可能发现浮法玻璃表面微观不平整的最大值。条纹波筋、成形过程中锡液对流影响等玻璃制程的工艺波动都会对微观波纹度有影响。
条纹玻筋的出现会造成玻璃的不平整、透明度降低并伴有光学畸变等,严重时影响玻璃的使用,该缺陷是指玻璃成品中出现的性质与玻璃很相近的玻璃态条状物,其形状不规则也没有清晰的分界,可以理解为熔体通过化学、物理及结构方面的互相渗透达到完全均匀之前的过渡阶段。超薄浮法玻璃一般采用表面形貌仪对微观波纹度进行检测,在检测中,每一个微观波纹度实测值只是直径以微米为单位的探针轨迹测量值,对玻璃板面实际出现的高、低值波动一般不容易检测到,而且,探针的成本非常高,按此检测方法磨损严重,使用寿命低。
发明内容
本发明的目的在于提供一种超薄浮法玻璃微观波纹度检测方法,该检测方法能够有效地对超薄浮法玻璃微观波纹度是否超标做出检测,降低了检测难度,提高检测的准确性,延长检测设备的使用寿命。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
一种超薄浮法玻璃微观波纹度检测方法,包括以下步骤:
a) 将玻璃原片裁切为规定尺寸的玻璃试样,并将玻璃试样水平放置于旋转光检台上;
b)在旋转光检台的一侧设置竖直的反光挡板,在旋转光检台的另一侧用平行光源照射玻璃试样,使反光挡板上形成反映玻璃试样条纹的投影线条;
c) 在0°~90°的旋转角度内调节旋转光检台,对照反光挡板上各个角度所形成的投影线条,使用记号笔在玻璃试样上标记出相应的试样条纹位置;所述投影线条选择最暗与最宽或者最亮与最宽的投影线条;
d) 以标记出的试样条纹位置为中心,用表面形貌仪进行玻璃试样对应位置检测;检测时,玻璃试样锡面朝上,沿垂直拉引方向扫描,截止波长设置为0.8mm~8.0mm,扫描长度不小于150mm;最终得到玻璃试样微观波纹度。
进一步的,所述检测方法还包括用表面形貌仪对玻璃试样的未标记区域进行随机抽检,得到未标记区域的微观波纹度,将未标记区域的微观波纹度与标记区域的微观波纹度进行比较,最大值做为最终的玻璃试样微观波纹度。
本发明的有益效果是,采用灯光条纹检查,发现最暗与最宽或者最亮与最宽的投影线条,该投影线条反应出微观波纹度的明显变化,从而通过投影线条的宽窄或明暗来判定微观波纹度的质量状况,标记出来进行检测;通过对未标记位置的随机抽检,进一步保障微观波纹度检测准确性;本方法可以有效的检测出微观波纹度的超标值,为稳定和提高薄浮法玻璃的质量奠定了基础,并且降低了表面形貌仪的探针使用率,延长检测设备的使用寿命。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明:
图1是本发明的示意图。
具体实施方式
如图1所示,本发明提供一种超薄浮法玻璃微观波纹度检测方法,包括以下步骤:
a) 将玻璃原片裁切为规定尺寸的玻璃试样1,并将玻璃试样1水平放置于旋转光检台2上;
b)在旋转光检台2的一侧设置竖直的反光挡板3,在旋转光检台2的另一侧用平行光源4照射玻璃试样,使反光挡板3上形成反映玻璃试样条纹的投影线条;
c) 在0°~90°的旋转角度内调节旋转光检台2,使玻璃试样1在90°的范围内翻转,对照反光挡板3上在各个角度所形成的投影线条,使用记号笔在玻璃试样1上标记出相应的试样条纹位置;所述投影线条选择最暗与最宽或者最亮与最宽的投影线条,这些投影线条反映出玻璃试样上微观波纹度的明显变化;
d)以标记出的试样条纹位置为中心,用表面形貌仪进行玻璃试样对应位置检测;检测时,玻璃试样锡面朝上,沿垂直拉引方向扫描,截止波长设置为0.8mm~8.0mm,扫描长度不小于150mm,得到玻璃试样微观波纹度。
在上述检测的基础上,还可以对玻璃试样未标记的区域进行随机抽检,将未标记区域的微观波纹度与标记区域的微观波纹度进行比较,最大值做为最终的玻璃试样微观波纹度,从而保障微观波纹度检测的准确性。
以上所述,仅是本发明的较佳实施例而已,并非对本发明作任何形式上的限制;任何熟悉本领域的技术人员,在不脱离本发明技术方案范围情况下,都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出许多可能的变动和修饰,或修改为等同变化的等效实施例。因此,凡是未脱离本发明技术方案的内容,依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同替换、等效变化及修饰,均仍属于本发明技术方案保护的范围内。

Claims (2)

1.一种超薄浮法玻璃微观波纹度检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
a) 将玻璃原片裁切为规定尺寸的玻璃试样,并将玻璃试样水平放置于旋转光检台上;
b)在旋转光检台的一侧设置竖直的反光挡板,在旋转光检台的另一侧用平行光源照射玻璃试样,使反光挡板上形成反映玻璃试样条纹的投影线条;
c) 在0°~90°的旋转角度内调节旋转光检台,对照反光挡板上各个角度所形成的投影线条,使用记号笔在玻璃试样上标记出相应的试样条纹位置;
d) 以标记出的试样条纹位置为中心,用表面形貌仪进行玻璃试样对应位置检测;检测时,玻璃试样锡面朝上,沿垂直拉引方向扫描,截止波长设置为0.8mm~8.0mm,扫描长度不小于150mm,得到玻璃试样微观波纹度。
2.根据权利要求1所述的一种超薄浮法玻璃微观波纹度检测方法,其特征在于,所述检测方法还包括用表面形貌仪对玻璃试样的未标记区域进行随机抽检,得到未标记区域的微观波纹度,将未标记区域的微观波纹度与标记区域的微观波纹度进行比较,最大值做为最终的玻璃试样微观波纹度。
CN201610812590.7A 2016-09-09 2016-09-09 一种超薄浮法玻璃微观波纹度检测方法 Pending CN106441169A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610812590.7A CN106441169A (zh) 2016-09-09 2016-09-09 一种超薄浮法玻璃微观波纹度检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610812590.7A CN106441169A (zh) 2016-09-09 2016-09-09 一种超薄浮法玻璃微观波纹度检测方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN106441169A true CN106441169A (zh) 2017-02-22

Family

ID=58167494

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610812590.7A Pending CN106441169A (zh) 2016-09-09 2016-09-09 一种超薄浮法玻璃微观波纹度检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106441169A (zh)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108061736A (zh) * 2017-11-14 2018-05-22 东旭科技集团有限公司 使用反射电子探针对玻璃缺陷进行分析的方法
CN109085184A (zh) * 2018-10-18 2018-12-25 安徽皓视光电科技有限公司 一种浮法玻璃波纹度在线检测的装置和方法
CN109580660A (zh) * 2018-12-29 2019-04-05 重庆荣成玻璃制品有限公司 玻璃生产用侧面光检测装置
CN110006915A (zh) * 2018-08-30 2019-07-12 永康市缘匠贸易有限公司 玻璃块条纹检测机构
CN110455828A (zh) * 2019-09-02 2019-11-15 蚌埠中光电科技有限公司 一种大尺寸tft基板玻璃无损微波纹度检测方法
CN112326692A (zh) * 2020-12-09 2021-02-05 蚌埠中光电科技有限公司 一种高世代玻璃基板微波纹度的在线测量方法
CN113880407A (zh) * 2021-11-09 2022-01-04 中国洛阳浮法玻璃集团有限责任公司 一种调整Na-Ca-Si系浮法玻璃微观波纹度的方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01212338A (ja) * 1987-08-14 1989-08-25 Asahi Glass Co Ltd ガラス板の表面性状測定装置
CN103528546A (zh) * 2013-09-23 2014-01-22 芜湖长信科技股份有限公司 一种检测浮法玻璃波纹度的装置和方法
CN204359276U (zh) * 2014-10-29 2015-05-27 陕西彩虹电子玻璃有限公司 一种玻璃基板翘曲影像自动在线检测装置
CN205090952U (zh) * 2015-11-09 2016-03-16 日本电气硝子株式会社 玻璃板的波纹度测定装置
CN105865364A (zh) * 2016-05-13 2016-08-17 信义电子玻璃(芜湖)有限公司 浮法玻璃的检测装置及检测方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01212338A (ja) * 1987-08-14 1989-08-25 Asahi Glass Co Ltd ガラス板の表面性状測定装置
CN103528546A (zh) * 2013-09-23 2014-01-22 芜湖长信科技股份有限公司 一种检测浮法玻璃波纹度的装置和方法
CN204359276U (zh) * 2014-10-29 2015-05-27 陕西彩虹电子玻璃有限公司 一种玻璃基板翘曲影像自动在线检测装置
CN205090952U (zh) * 2015-11-09 2016-03-16 日本电气硝子株式会社 玻璃板的波纹度测定装置
CN105865364A (zh) * 2016-05-13 2016-08-17 信义电子玻璃(芜湖)有限公司 浮法玻璃的检测装置及检测方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108061736A (zh) * 2017-11-14 2018-05-22 东旭科技集团有限公司 使用反射电子探针对玻璃缺陷进行分析的方法
CN110006915A (zh) * 2018-08-30 2019-07-12 永康市缘匠贸易有限公司 玻璃块条纹检测机构
CN109085184A (zh) * 2018-10-18 2018-12-25 安徽皓视光电科技有限公司 一种浮法玻璃波纹度在线检测的装置和方法
CN109580660A (zh) * 2018-12-29 2019-04-05 重庆荣成玻璃制品有限公司 玻璃生产用侧面光检测装置
CN110455828A (zh) * 2019-09-02 2019-11-15 蚌埠中光电科技有限公司 一种大尺寸tft基板玻璃无损微波纹度检测方法
CN112326692A (zh) * 2020-12-09 2021-02-05 蚌埠中光电科技有限公司 一种高世代玻璃基板微波纹度的在线测量方法
CN113880407A (zh) * 2021-11-09 2022-01-04 中国洛阳浮法玻璃集团有限责任公司 一种调整Na-Ca-Si系浮法玻璃微观波纹度的方法
CN113880407B (zh) * 2021-11-09 2023-09-08 中国洛阳浮法玻璃集团有限责任公司 一种调整Na-Ca-Si系浮法玻璃微观波纹度的方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106441169A (zh) 一种超薄浮法玻璃微观波纹度检测方法
CN106949848B (zh) 一种高精度激光3d轮廓手机结构件检测方法
TWI442048B (zh) 在透明基板中計量缺陷之方法
CN103713467B (zh) 一种掩膜板组及应用掩膜板组检测套刻精度的方法
Liu et al. An improved online dimensional measurement method of large hot cylindrical forging
EP1816466A1 (en) Method and device for inspecting defect of transparent plate body
CN204556500U (zh) 一种基于激光照射的透明液体折射率测量装置
US20160363791A1 (en) Substrate inspection device and method
CN107167088A (zh) 玻璃变形量的测量方法及装置
CN109506629B (zh) 一种水下核燃料组件检测装置旋转中心标定的方法
CN106017383A (zh) 接触式台阶仪探针检测图形样块
JP2013092469A (ja) ワーク検査システム
Guo et al. Experimental investigation of a modified Beckmann–Kirchhoff scattering theory for the in-process optical measurement of surface quality
CN110455828A (zh) 一种大尺寸tft基板玻璃无损微波纹度检测方法
Akers et al. Formation of hydrated layers in PMMA thin films in aqueous solution
CN204043628U (zh) 验证沟槽滤棒特征参数机器视觉检测结果准确度的标准板
CN109085184A (zh) 一种浮法玻璃波纹度在线检测的装置和方法
CN108180850A (zh) 一种牛顿环条纹半径测量装置及测量方法
CN209764755U (zh) 一种浮法玻璃波纹度在线检测的装置
CN106441032A (zh) 一种超薄浮法玻璃量化弯曲度值的检测方法
Fang et al. A Slope‐Adapted Sample‐Tilting Method for Profile Measurement of Microstructures with Steep Surfaces
CN205879150U (zh) 接触式台阶仪探针检测图形样块
CN206301316U (zh) 触控基板及触控装置
Sylvester‐Hvid et al. Non‐destructive lateral mapping of the thickness of the photoactive layer in polymer‐based solar cells
CN107144219A (zh) 一种共聚焦激光测量方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information
CB02 Change of applicant information

Address after: 233010 Anhui province Bengbu Longzihu Long Jin Lu No. 123

Applicant after: BENGBU CTIEC INFORMATION DISPLAY MATERIALS CO., LTD.

Address before: Tu Shan Lu Yuhui District 233010 Anhui city of Bengbu Province, No. 1047

Applicant before: BENGBU CTIEC INFORMATION DISPLAY MATERIALS CO., LTD.

WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20170222