CN106441032A - 一种超薄浮法玻璃量化弯曲度值的检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种超薄浮法玻璃量化弯曲度值的检测方法,包括以下步骤:a)将玻璃原片裁切为规定尺寸的玻璃试样;b)将玻璃试样的一面静置于水平的操作台面上;c)采用符合JB/T8788标准的塞尺测量玻璃试样与操作台面之间所有弓形间隙的拱高;采用符合GB/T9056标准的直尺测量每处弓形间隙对应的弦长;d)通过公式计算得到一组弓形间隙的弯曲度值,公式中c为弯曲度值,h为拱高,l为弦长;e)使玻璃试样另一面静置于水平的操作台面上,重复步骤c与步骤d,得到另一组弯曲度值;f)计算出的最大弯曲度值即为玻璃试样的弯曲度值;通过测量与公式计算得出玻璃试样的具体弯曲度数值,从而能够控制和提高超薄浮法玻璃原片的弯曲度生产水平,提高超薄浮法玻璃的整体性能。
Description
技术领域
本发明涉及玻璃检测领域,具体是一种超薄浮法玻璃量化弯曲度值的检测方法。
背景技术
在超薄浮法玻璃基板导电膜行业中,弯曲度是一项考量玻璃质量重要的功能性指标。目前,对玻璃原片弯曲度的检测一般采用黑箱点阵法,这种方法只能粗略估算出弯曲度的区间范围,而区间范围并不能对玻璃生产工艺的调整做出直接、真实、有效的反映,所以更加精确的弯曲度量化值就变得尤为重要。
发明内容
本发明的目的在于提供一种超薄浮法玻璃量化弯曲度值的检测方法,通过该检测方法能够得到具体量化的玻璃弯曲度数值,应用该弯曲度能够对超薄浮法玻璃生产工艺做出适应性调整,提高产品整体性能。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
一种超薄浮法玻璃量化弯曲度值的检测方法,包括以下步骤:
a)将玻璃原片裁切为规定尺寸的玻璃试样;
b)将玻璃试样的一面静置于水平的操作台面上;
c)采用符合JB/T8788标准的塞尺测量玻璃试样与操作台面之间所有弓形间隙的拱高;采用符合GB/T9056标准的直尺测量每处弓形间隙对应的弦长;
d)通过公式计算得到一组弓形间隙的弯曲度值,公式中c为弯曲度值,h为拱高,l为弦长;
e)将玻璃试样的另一面静置于水平的操作台面上,重复步骤c与步骤d,得到另一组弯曲度值;
f)计算出的最大弯曲度值即为玻璃试样的弯曲度值。
本发明的有益效果是,通过测量与公式计算能够得出玻璃试样的具体弯曲度数值,更加清晰、直观,可以利用该数值对超薄浮法玻璃原片的生产工艺做出适应性调整,控制和提高超薄浮法玻璃原片的弯曲度生产水平,为稳定和提高超薄浮法玻璃的整体性能提供了基础。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明:
图1是本发明的示意图。
具体实施方式
如图1所示,本发明提供一种超薄浮法玻璃量化弯曲度值的检测方法,包括以下步骤:
a)将玻璃原片裁切为规定尺寸的玻璃试样1,例如406mm×356mm尺寸;
b)将玻璃试样1的一面静置于水平的操作台面2上;
c)采用符合JB/T8788标准的塞尺测量玻璃试样与操作台面之间所有弓形间隙的拱高;采用符合GB/T9056标准的直尺测量每处弓形间隙对应的弦长;
d)通过公式计算得到一组弓形间隙的弯曲度值,公式中c为弯曲度值,h为拱高,l为弦长;
e)翻转玻璃试样1,使其另一面静置于操作台面2上,重复步骤c与步骤d,得到另一组弯曲度值;
f)步骤d与e中计算出的最大弯曲度值即为玻璃试样的弯曲度值。
以上所述,仅是本发明的较佳实施例而已,并非对本发明作任何形式上的限制;任何熟悉本领域的技术人员,在不脱离本发明技术方案范围情况下,都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出许多可能的变动和修饰,或修改为等同变化的等效实施例。因此,凡是未脱离本发明技术方案的内容,依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同替换、等效变化及修饰,均仍属于本发明技术方案保护的范围内。
Claims (1)
1.一种超薄浮法玻璃量化弯曲度值的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
a)将玻璃原片裁切为规定尺寸的玻璃试样;
b)将玻璃试样的一面静置于水平的操作台面上;
c)采用符合JB/T8788标准的塞尺测量玻璃试样与操作台面之间所有弓形间隙的拱高;采用符合GB/T9056标准的直尺测量每处弓形间隙对应的弦长;
d)通过公式计算得到一组弓形间隙的弯曲度值,公式中c为弯曲度值,h为拱高,l为弦长;
e)翻转玻璃试样,使其另一面静置于水平的操作台面上,重复步骤c与步骤d,得到另一组弯曲度值;
f)计算出的最大弯曲度值即为玻璃试样的弯曲度值。
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