CN106297615B - 显示装置的检测电路及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种显示装置的检测电路及方法,属于显示技术领域。该检测电路包括:源极驱动电路和栅极驱动电路;该源极驱动电路用于为该显示装置中的各个像素单元提供数据信号,该栅极驱动电路用于为该显示装置中的各个像素单元提供栅极驱动信号,该栅极驱动电路能够对该显示装置中奇数行的像素单元进行逐行驱动,或者对该显示装置中偶数行的像素单元进行逐行驱动。因此在对某个颜色的像素单元进行检测的过程中,可以对奇数行和偶数行的像素单元分别进行检测,使得源极驱动电路无需输出方波信号,避免了方波信号波形延迟对画面显示的影响,提高了检测的稳定性。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别涉及一种显示装置的检测电路及方法。
背景技术
在显示装置出厂前,需要对该显示装置进行面板测试(英文:Cell Test;简称:CT)以提高产品良率。
相关技术中,对于芯片固定于玻璃基板(英文:chip on Glass;简称:COG)类型的显示装置,参考图1,该COG显示装置通常采用Z反转型(Z-Inversion)的驱动方式,也即是,显示装置中各行像素单元中的薄膜晶体管(英文:Thin Film Transistor;简称:TFT)呈Z字形排布,该显示装置中每条数据线通过该TFT交替连接该条数据线两侧的像素电极,例如图1中,数据线01分别与左侧的处于奇数行的红色像素单元中的像素电极,以及右侧的处于偶数行的绿色像素单元中的像素电极连接。
对该类型的显示装置进行检测时,可以将该显示装置分别与栅极驱动电路和源极驱动电路连接,其中源极驱动电路可以包括三个数据信号端:DC、DY和DM,该三个数据信号端分别与三条相邻的数据线一一对应连接,从而可以为不同颜色的像素单元提供数据信号。例如,在图1所示的电路图中,数据信号端DM能够通过数据线为奇数行的蓝色像素单元和偶数行的红色像素单元提供数据信号,数据信号端DY能够通过数据线为奇数行的红色像素单元和偶数行的绿色像素单元提供数据信号。因此在对显示装置中红色像素单元进行检测时,可以使栅极驱动电路对该显示装置中的各行像素单元进行逐行驱动,同时使该源极驱动电路中的数据信号端DY和DM交替输出方波信号,数据信号端DC则输出低电平信号,并且当该栅极驱动电路扫描到奇数行的像素单元时,数据信号端DY输出的方波信号处于高电平,DM输出的方波信号处于低电平,当该栅极驱动电路扫描到偶数行的像素单元时,数据信号端DY输出的方波信号处于低电平,DM输出的方波信号处于高电平,由此可以使得该显示装置中仅有红色像素单元被点亮,以便对该红色像素单元的显示性能进行检测。
但是,采用上述方法进行检测时,需要保证数据信号端输出的方波信号的周期与该栅极驱动电路对每行像素单元的驱动周期精准同步,当数据信号端输出的方波信号存在延迟时,可能导致显示装置中待检测的像素单元无法点亮,该检测方法的稳定性较差。
发明内容
为了解决相关技术中的检测方法稳定性较差的问题,本发明提供了一种显示装置的检测电路及方法。所述技术方案如下:
一方面,提供了一种显示装置的检测电路,所述显示装置包括多条数据线和多条栅线,所述多条数据线与所述多条栅线交叉围成多个阵列排布的像素单元,所述检测电路包括:源极驱动电路和栅极驱动电路;
所述源极驱动电路与所述多条数据线连接,用于为所述显示装置中的各个像素单元提供数据信号,所述栅极驱动电路与所述多条栅线连接,用于为所述显示装置中的各个像素单元提供栅极驱动信号;
其中,所述栅极驱动电路包括多个级联的移位寄存器单元,每个移位寄存器单元用于驱动一行像素单元,且所述多个级联的移位寄存器单元中,第1个移位寄存器单元和第2个移位寄存器单元的输入端分别与帧开启信号端连接,第n个移位寄存器单元的输出端与第n+2个移位寄存器单元的输入端连接,第n+2个移位寄存器单元的输出端与第n个移位寄存器单元的复位信号端连接,n为大于或等于1的整数;
所述栅极驱动电路能够对所述显示装置中奇数行的像素单元进行逐行驱动,或者对所述显示装置中偶数行的像素单元进行逐行驱动。
可选的,所述显示装置中的每个像素单元包括一个薄膜晶体管TFT和一个像素电极,各行所述像素单元中的TFT呈Z字形排列,所述多条数据线中的每条数据线通过TTF分别与两侧的像素电极连接;
所述源极驱动电路包括开关模块,所述开关模块分别与开关信号端、N个数据信号端以及所述多条数据线连接,其中N为所述显示装置中每个像素所包括的不同颜色的像素单元的个数;
所述开关模块用于将所述N个数据信号端与所述多条数据线对应相连,使得每个数据信号端能够分别为处于奇数行的第一颜色的像素单元,以及处于偶数行的第二颜色的像素单元提供数据信号。
可选的,所述栅极驱动电路中,第4n-3个移位寄存器单元中的输出模块与第一时钟信号端连接,第4n-2个移位寄存器单元中的输出模块与第二时钟信号端连接;第4n-1个移位寄存器单元中的输出模块与第三时钟信号端连接;第4n个移位寄存器单元中的输出模块与第四时钟信号端连接。
可选的,所述帧开启信号端包括第一信号端和第二信号端;
所述栅极驱动电路中的第1个移位寄存器单元的输入端与所述第一信号端连接;
所述栅极驱动电路中的第2个移位寄存器单元的输入端与所述第二信号端连接。
可选的,所述第2个移位寄存器单元包括:上拉保持模块;
所述上拉保持模块分别与所述帧开启信号端、第一电源信号端以及所述第2个移位寄存器单元中的上拉节点连接,用于在所述栅极驱动电路对所述显示装置的奇数行像素单元进行逐行驱动的过程中,使所述第2个移位寄存器单元的上拉节点保持第一电位。
可选的,所述第2个移位寄存器单元还包括:降噪模块;
所述降噪模块分别与复位信号端、第二电源信号端、所述上拉保持模块以及所述第2个移位寄存器单元中的下拉节点连接,用于在所述第2个移位寄存器单元完成对所述显示装置中第二行像素单元的驱动后,对所述上拉保持模块以及所述上拉节点进行降噪。
可选的,所述上拉保持模块包括:第一晶体管、第二晶体管和电容器;
所述第一晶体管的栅极与所述帧开启信号端连接,所述第一晶体管的第一极与所述第一电源信号端连接,所述第一晶体管的第二极分别与所述第二晶体管的栅极以及所述电容器的一端连接;
所述第二晶体管的第一极与所述第一电源信号端连接,所述第二晶体管的第二极与所述上拉节点连接;
所述电容器的另一端与所述上拉节点连接。
可选的,所述降噪模块包括:第三晶体管和第四晶体管;
所述第三晶体管的栅极与所述复位信号端连接,所述第三晶体管的第一极与所述第二电源信号端连接,所述第三晶体管的第二极与所述上拉保持模块连接;
所述第四晶体管的栅极与所述第2个移位寄存器单元中的下拉节点连接,所述第四晶体管的第一极与所述第二电源信号端连接,所述第四晶体管的第二极与所述上拉保持模块连接。
可选的,所述开关模块包括M个晶体管,M为所述显示装置中数据线的个数;
所述M个晶体管中第i个晶体管的栅极与所述开关信号端连接,所述第i个晶体管的第一极与所述N个数据信号端中的一个数据信号端连接,所述第i个晶体管的第二极与所述多条数据线中的一条数据线连接,所述i为小于等于M的正整数。
第二方面,提供了一种显示装置的检测方法,该方法可以应用于显示装置的检测电路中,所述检测电路包括:源极驱动电路和栅极驱动电路,所述方法包括:第一测试阶段和第二测试阶段;
所述第一测试阶段中,所述栅极驱动电路对显示装置中奇数行的像素单元进行逐行驱动,源极驱动电路为所述显示装置中预设颜色的像素单元提供数据信号,使得处于奇数行的所述预设颜色的像素单元被点亮;
所述第二测试阶段中,所述栅极驱动电路对显示装置中偶数行的像素单元进行逐行驱动,源极驱动电路为所述显示装置中预设颜色的像素单元提供数据信号,使得处于偶数行的所述预设颜色的像素单元被点亮。
可选的,所述显示装置中的每个像素单元包括一个薄膜晶体管TFT和一个像素电极,各个所述像素单元中的TFT呈Z字形排列,所述多条数据线中每条数据线通过TTF交替连接所述每条数据线不同侧的像素电极;
所述源极驱动电路包括开关模块,所述开关模块分别与开关信号端、N个数据信号端以及所述多条数据线连接,其中N为所述显示装置中每个像素所包括的像素单元的个数;所述开关模块用于将所述N个数据信号端与所述多条数据线对应相连;
所述第一测试阶段中,所述N个数据信号端中的第一数据信号端输出处于第一电位的信号,除所述第一数据信号端之外的其他数据信号端输出处于第二电位的信号,所述第一数据信号端用于为所述显示装置中处于奇数行的所述预设颜色的像素单元提供数据信号;
所述第二测试阶段中,所述N个数据信号端中的第二数据信号端输出处于第一电位的信号,除所述第二数据信号端之外的其他数据信号端输出处于第二电位的信号,所述第二数据信号端用于为所述显示装置中处于偶数行的所述预设颜色的像素单元提供数据信号。
可选的,第4n-3个移位寄存器单元中的输出模块与第一时钟信号端连接,第4n-2个移位寄存器单元中的输出模块与第二时钟信号端连接;第4n-1个移位寄存器单元中的输出模块与第三时钟信号端连接;第4n个移位寄存器单元中的输出模块与第四时钟信号端连接;
所述第一测试阶段中,所述第一时钟信号端和所述第三时钟信号端输出时钟信号,所述第二时钟信号端和所述第四时钟信号端输出处于第二电位的信号,使得所述栅极驱动电路中,第4n-3个移位寄存器单元以及第4n-1个移位寄存器单元对奇数行的像素单元进行逐行驱动;
所述第二测试阶段中,所述第二时钟信号端和所述第四时钟信号端输出时钟信号,所述第一时钟信号端和所述第三时钟信号端输出处于第二电位的信号,使得所述栅极驱动电路中,第4n-2个移位寄存器单元以及第4n个移位寄存器单元对偶数行的像素单元进行逐行驱动。
可选的,所述帧开启信号端包括第一信号端和第二信号端,所述栅极驱动电路中的第1个移位寄存器单元的输入端与所述第一信号端连接,所述栅极驱动电路中的第2个移位寄存器单元的输入端与所述第二信号端连接;
所述第一测试阶段中,所述第一信号端输入处于第一电位的脉冲信号,以便为所述第1个移位寄存器单元中的上拉节点充电;
所述第二测试阶段中,所述第二信号端输入处于第一电位的脉冲信号,以便为所述第2个移位寄存器单元中的上拉节点充电。
可选的,所述第2个移位寄存器单元包括:上拉保持模块,所述上拉保持模块分别与所述帧开启信号端、第一电源信号端以及所述第2个移位寄存器单元中的上拉节点连接;
所述第一测试阶段中,所述帧开启信号端输入处于第一电位的脉冲信号,以便为所述第1个移位寄存器单元中的上拉节点充电,以及通过所述上拉保持模块,为所述第2个移位寄存器单元中的上拉节点充电;
在所述第一测试阶段中,所述第2个移位寄存器单元中的上拉节点保持第一电位。
可选的,所述第一电位相对于所述第二电位为高电位。
本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是:
本发明提供了一种显示装置的检测电路和方法,该检测电路包括栅极驱动电路和源极驱动电路,该栅极驱动电路能够对奇数行的像素单元进行逐行驱动或者对偶数行的像素单元进行逐行驱动,因此在对某个颜色的像素单元进行检测的过程中,栅极驱动电路对奇数行(或者偶数行)驱动时,与处于奇数行(或者偶数行)的该颜色的像素单元连接的数据信号端可以一直保持高电平,而无需输出方波信号,因此可以避免方波信号波形延迟对画面显示的影响,从而提高了检测的稳定性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是相关技术中一种显示装置的检测电路的结构示意图;
图2是本发明实施例提供的一种显示装置的检测电路的结构示意图;
图3是本发明实施例提供的一种栅极驱动电路的结构示意图;
图4是本发明实施例提供的另一种栅极驱动电路的结构示意图;
图5是本发明实施例提供的又一种栅极驱动电路的结构示意图;
图6是本发明实施例提供的一种移位寄存器单元的结构示意图;
图7是本发明实施例提供的一种显示装置的检测方法的流程图;
图8是本发明实施例提供的一种显示装置的检测过程的时序图;
图9是本发明实施例提供的一种移位寄存器单元的工作时序图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
本发明所有实施例中采用的晶体管均可以为薄膜晶体管或场效应管或其他特性相同的器件,根据在电路中的作用本发明的实施例所采用的晶体管主要为开关晶体管。由于这里采用的开关晶体管的源极、漏极是对称的,所以其源极、漏极是可以互换的。在本发明实施例中,将其中源极称为第一级,漏极称为第二级,栅极称为第三极。按附图中的形态规定晶体管的中间端为栅极、信号输入端为源极、信号输出端为漏极。此外,本发明实施例所采用的开关晶体管可以为P型开关晶体管和N型开关晶体管中的任一种,其中,P型开关晶体管在栅极为低电平时导通,在栅极为高电平时截止,N型开关晶体管在栅极为高电平时导通,在栅极为低电平时截止。此外,本发明各个实施例中的多个信号都对应有第一电位和第二电位。第一电位和第二电位仅代表该信号的电位有2个状态量,不代表全文中第一电位或第二电位具有特定的数值。
图2是本发明实施例提供的一种显示装置的检测电路的结构示意图,该显示装置包括多条数据线10和多条栅线20,该多条数据线10与该多条栅线20交叉围成多个阵列排布的像素单元,该检测电路包括:源极驱动电路30和栅极驱动电路40。
该源极驱动电路30与该多条数据线10连接,用于为该显示装置中的各个像素单元提供数据信号,该栅极驱动电路40与该多条栅线20连接,用于为该显示装置中的各个像素单元提供栅极驱动信号。
图3是本发明实施例提供的一种栅极驱动电路的结构示意图,参考图2和图3,该栅极驱动电路可以包括多个级联的移位寄存器单元401,每个移位寄存器单元401用于驱动一行像素单元,且该多个级联的移位寄存器单元中,第1个移位寄存器单元和第2个移位寄存器单元的输入端Input分别与帧开启信号端STV连接,第n个移位寄存器单元的输出端Opt与第n+2个移位寄存器单元的输入端Input连接,第n+2个移位寄存器单元的输出端Opt与第n个移位寄存器单元的复位信号端RST连接,例如,移位寄存器单元1的输出端Opt与移位寄存器单元3的输入端Input连接,移位寄存器单元4的输出端Opt与移位寄存器单元2的复位信号端RST连接。其中,n为大于或等于1的整数。
该栅极驱动电路40能够对该显示装置中奇数行的像素单元进行逐行驱动,或者对该显示装置中偶数行的像素单元进行逐行驱动。
综上所述,本发明实施例提供的检测电路包括栅极驱动电路和源极驱动电路,该栅极驱动电路能够对奇数行的像素单元进行逐行驱动或者对偶数行的像素单元进行逐行驱动,因此在对某个颜色的像素单元进行检测的过程中,栅极驱动电路对奇数行(或者偶数行)驱动时,与处于奇数行(或者偶数行)的该颜色的像素单元连接的数据信号端可以一直保持高电平,而无需输出方波信号,因此可以避免方波信号波形延迟对画面显示的影响,从而提高了检测的稳定性。
可选的,如图2所示,该显示装置中的每个像素单元包括一个TFT201和一个像素电极202,各行像素单元中的TFT呈Z字形排列,也即是,该显示装置采用Z反转型的驱动方式,参考图2,该多条数据线中的每条数据线通过TTF分别与两侧的像素电极连接。
该源极驱动电路30包括开关模块301,该开关模块301分别与开关信号端SW、N个数据信号端以及多条数据线10连接,其中N为该显示装置中每个像素所包括的不同颜色的像素单元的个数。开关模块301用于将N个数据信号端与多条数据线对应相连,使得每个数据信号端能够分别为处于奇数行的第一颜色的像素单元,以及处于偶数行的第二颜色的像素单元提供数据信号。示例的,图2所示的显示装置中每个像素可以包括三个不同颜色的像素单元:红色像素单元2a、绿色像素单元2b和蓝色像素单元2c,则该源极驱动电路30中的开关模块301可以包括三个数据信号端:DM、DY和DC,该三个数据信号端分别与该多条数据线对应相连,其中,数据信号端DM能够分别为处于奇数行的蓝色像素单元2c和处于偶数行的红色像素单元2a提供数据信号,数据信号端DY能够分别为处于奇数行的红色像素单元2a和处于偶数行的绿色像素单元2b提供数据信号,数据信号端DC能够分别为处于奇数行的绿色像素单元2b和处于偶数行的蓝色像素单元2c提供数据信号。
进一步的,如图3所示,该栅极驱动电路中可以至少包括4个移位寄存器单元,其中第4n-3个移位寄存器单元中的输出模块(图中未示出)与第一时钟信号端CLK1连接,第4n-2个移位寄存器单元中的输出模块(图中未示出)与第二时钟信号端CLK2连接;第4n-1个移位寄存器单元中的输出模块(图中未示出)与第三时钟信号端CLK3连接;第4n个移位寄存器单元中的输出模块(图中未示出)与第四时钟信号端CLK4连接。其中,每个移位寄存器单元中均设置有一个输出模块,该输出模块的一端与对应的时钟信号端相连,另一端与该移位寄存器单元的输出端相连,每个移位寄存器单元输出的栅极驱动信号,即为该移位寄存器单元中输出模块所连接的时钟信号端输出的时钟信号。
图4是本发明实施例提供的另一种栅极驱动电路的结构示意图,如图4所示,该栅极驱动电路中包括两组移位寄存器单元,该两组移位寄存器单元分别位于显示装置中有效显示区域的两侧,能够分别从两端对显示装置中的像素单元(即显示装置的有效显示区域)进行驱动检测,从而实现双端驱动。其中,图4中的控制信号模块可以包括多个信号输入端,以便为该栅极驱动电路提供时钟信号和电源信号等信号。
在本发明实施例中,为保证第一测试阶段结束后,第二测试阶段中,用于驱动第二行像素单元的移位寄存器单元(即栅极驱动电路中的第2个移位寄存器单元)能够顺利开启,需要保证第2个移位寄存器单元中的上拉节点PU在第一测试阶段结束后保持第一电位,否则该第2个移位寄存器单元将无法正常开启。为了保证该第2个移位寄存器单元中的上拉节点PU保持第一电位,可以采取两种方式实现。
在本发明一种可选的实施方式中,参考图5,该帧开启信号端可以包括第一信号端STV1和第二信号端STV2。
该栅极驱动电路中的第1个移位寄存器单元(即移位寄存器单元1)的输入端Input与该第一信号端STV1连接;该栅极驱动电路中的第2个移位寄存器单元(即移位寄存器单元2)的输入端Input与该第二信号端STV2连接。在图5所示的实现方式中,可以在启动对奇数行像素单元扫描时,通过控制第一信号端STV1输出处于第一电位的脉冲信号,将该第1个移位寄存器单元中上拉节点的电位拉高;在启动对偶数行像素单元扫描时,通过控制第二信号端STV2输出处于第一电位的脉冲信号,将该第2个移位寄存器单元中上拉节点的电位拉高。
在本发明另一种可选的实施方式中,参考图6,该第2个移位寄存器单元还可以包括:上拉保持模块1a,该上拉保持模块1a分别与帧开启信号端STV、第一电源信号端VGH以及该第2个移位寄存器单元中的上拉节点PU连接,用于在该栅极驱动电路对显示装置的奇数行像素单元进行逐行驱动的过程中,使该第2个移位寄存器单元的上拉节点PU保持第一电位。
进一步的,如图6所示,该第2个移位寄存器单元还包括:降噪模块1b,该降噪模块1b分别与复位信号端RST、第二电源信号端VSS、上拉保持模块1a以及第2个移位寄存器单元中的下拉节点PD连接,用于在第2个移位寄存器单元完成对显示装置中第二行像素单元的驱动后,对该上拉保持模块1a以及该上拉节点PU进行降噪。
参考图6,该上拉保持模块包括:第一晶体管M1、第二晶体管M2和电容器C;该降噪模块包括:第三晶体管M3和第四晶体管M4。
第一晶体管M1的栅极与该帧开启信号端STV连接,该第一晶体管M1的第一极与第一电源信号端VGH连接,该第一晶体管M1的第二极分别与第二晶体管M2的栅极以及电容器C的一端连接。
第二晶体管M2的第一极与第一电源信号端VGH连接,该第二晶体管M2的第二极与该上拉节点PU连接;该电容器C的另一端与该上拉节点PU连接。
第三晶体管M3的栅极与复位信号端RST连接,该第三晶体管M3的第一极与该第二电源信号端VSS连接,该第三晶体管M3的第二极与该上拉保持模块1a连接,如图6所示,该第三晶体管M3的第二极通过节点P1与该上拉保持模块1a连接。
第四晶体管M4的栅极与该第2个移位寄存器单元中的下拉节点PD连接,该第四晶体管M4的第一极与第二电源信号端VSS连接,该第四晶体管M4的第二极与该上拉保持模块1a连接,例如图6中第四晶体管M4的第二极通过上拉节点PU与该上拉保持模块1a连接。
进一步的,参考图2,该开关模块301中可以包括M个晶体管M0,M为该显示装置中数据线的个数;该M个晶体管中第i个晶体管的栅极与开关信号端SW连接,该第i个晶体管的第一极与该N个数据信号端中的一个数据信号端连接,该第i个晶体管的第二极与该多条数据线中的一条数据线连接,i为小于等于M的正整数。当该开关信号端SW输出的开关信号处于第一电位时,该M个晶体管均开启,从而可以将该N个数据信号端与该多条数据线导通。
综上所述,本发明实施例提供的检测电路包括栅极驱动电路和源极驱动电路,该栅极驱动电路能够对奇数行的像素单元进行逐行驱动或者对偶数行的像素单元进行逐行驱动,因此在对某个颜色的像素单元进行检测的过程中,栅极驱动电路对奇数行(或者偶数行)驱动时,与处于奇数行(或者偶数行)的该颜色的像素单元连接的数据信号端可以一直保持高电平,而无需输出方波信号,因此可以避免方波信号波形延迟对画面显示的影响,从而提高了检测的稳定性。
图7是本发明实施例提供的一种显示装置的检测方法的流程图,该方法可以应用于图2至图6任一所示的显示装置的检测电路中,该检测电路可以包括:源极驱动电路和栅极驱动电路,参考图7,该方法可以包括:
步骤101、第一测试阶段中,该栅极驱动电路对显示装置中奇数行的像素单元进行逐行驱动,源极驱动电路为该显示装置中预设颜色的像素单元提供数据信号,使得处于奇数行的该预设颜色的像素单元被点亮。
步骤102、第二测试阶段中,该栅极驱动电路对显示装置中偶数行的像素单元进行逐行驱动,源极驱动电路为该显示装置中预设颜色的像素单元提供数据信号,使得处于偶数行的该预设颜色的像素单元被点亮。
综上所述,本发明实施例提供了一种显示装置的检测方法,该方法在对某个颜色的像素单元进行检测时,可以通过两个测试阶段对处于奇数行和偶数行的该颜色的像素单元分别进行检测,因此在检测的过程中,与该颜色的像素单元连接的数据信号端可以在其中一个测试阶段保持第一电位,在另一个测试阶段保持第二电位,该数据信号端无需输出方波信号,因此可以避免方波信号波形延迟对画面显示的影响,提高了检测的稳定性。
需要说明的是,在实际应用中,还可以先进行该第二测试阶段,然后再进行该第一测试阶段,也即是,可以先对偶数行的像素单元进行逐行驱动,然后再对奇数行的像素单元进行逐行驱动,本发明实施例对该两个测试阶段的执行顺序不做限定。此外,通过上述两个测试阶段,不仅可以实现对显示装置中像素单元的显示性能的检测,还可以通过观察显示装置是否能够正常显示,从而实现对栅极驱动电路的驱动性能的检测。
可选的,如图2所示,该显示装置中的每个像素单元包括一个薄膜晶体管TFT和一个像素电极,各个该像素单元中的TFT呈Z字形排列,该多条数据线中每条数据线通过TTF交替连接该每条数据线不同侧的像素电极;该源极驱动电路30包括开关模块301,该开关模块301分别与开关信号端SW、N个数据信号端以及该多条数据线连接,其中N为该显示装置中每个像素所包括的像素单元的个数;该开关模块30用于将该N个数据信号端与该多条数据线对应相连。
第一测试阶段中,该N个数据信号端中的第一数据信号端输出处于第一电位的信号,除该第一数据信号端之外的其他数据信号端输出处于第二电位的信号,该第一数据信号端由于为该显示装置中处于奇数行的该预设颜色的像素单元提供数据信号。
第二测试阶段中,该N个数据信号端中的第二数据信号端输出处于第一电位的信号,除该第二数据信号端之外的其他数据信号端输出处于第二电位的信号,该第二数据信号端用于为该显示装置中处于偶数行的该预设颜色的像素单元提供数据信号。
图8是本发明实施例提供的一种显示装置的检测过程的时序图,以对显示装置中红色像素单元进行检测为例,详细解释本发明实施例提供的检测方法。由于该预设颜色的像素单元为红色像素单元,则参考图2可知,该检测电路中源极驱动电路30中的数据信号端DM用于为处于偶数行的红色像素单元提供数据信号,数据信号端DY用于为处于奇数行的红色像素单元提供数据信号。
因此,如图8所示,在第一测试阶段T1中,该三个数据信号端中的数据信号端DY输出处于第一电位的信号,数据信号端DM和数据信号端DC(图8中未示出)输出处于第二电位的信号,由于该第一测试阶段中,栅极驱动电路电路能够对奇数行的像素单元进行逐行扫描驱动,而该三个数据信号端中只有数据信号端DY输出处于第一电位的信号,因此此时处于奇数行的红色像素单元将被点亮,而绿色像素单元和蓝色像素单元均处于暗态。
在第二测试阶段T2中,如图8所示,该三个数据信号端中的数据信号端DM输出处于第一电位的信号,例如,数据信号端DM输出信号的电压可以为驱动电压Vop,数据信号端DY和数据信号端DC(图8中未示出)输出处于第二电位的信号,例如,数据信号端DY和数据信号端DC输出信号的电压可以为公共电极电压Vcom,由于该第二测试阶段中,栅极驱动电路电路能够对偶数行的像素单元进行逐行扫描驱动,而该三个数据信号端中只有数据信号端DM输出处于第一电位的信号,因此此时处于偶数行的红色像素单元将被点亮,绿色像素单元和蓝色像素单元均处于暗态。因此,通过上述两个测试阶段即可实现对显示装置中红色像素单元的检测,并且在该检测的过程中,数据信号端DY输出的数据信号在第一测试阶段为第一电位,在第二测试阶段为第二电位,数据信号端DM输出的数据信号在第一测试阶段为第二电位,在第二测试阶段为第一电位,测试过程中该两个数据信号端无需输出方波信号,因此可以避免方波信号延迟对显示效果的影响,从而提高了检测的稳定性。
需要说明的是,在上述两个测试阶段中,该开关信号端SW输出的开关信号均为第一电位,此时该开关模块30中的M个晶体管均处于开启状态,从而可以将该N个数据信号端与该多条数据线导通,使得每个数据信号端能够为对应的像素单元提供数据信号。
还需要说明的是,对于高开口率高级超维场开关(英文:High opening rateAdvanced-Super Dimensional Switching;简称:HADS)类型的显示装置,由于HADS显示模式所对应的像素结构的原因,该类型的显示装置中数据线与公共电极交叠面积较大,从而导致数据线与显示面板内部公共电极之间的耦合电容较大,使得数据线传输的数据信号容易受到该耦合电容的影响而产生延迟,若采用相关技术中的检测方法,数据信号端输入的方波信号经过数据线传输的过程中,方波信号的延迟较大,可能导致该预设颜色的像素单元无法正常显示,而采用本发明实施例提供的检测方法,参考图8,该源极驱动电路中的数据信号端无需输出方波信号,每个数据信号端可以在对应的检测阶段中始终保持第一或者第二电位,因此可以有效降低耦合电容对该数据信号的影响,从而保证了检测过程中,待检测的像素单元的正常显示,提高了检测的稳定性。
还需要说明的是,参考上述对红色像素单元的方法,还可以分别对绿色像素单元和蓝色像素单元进行检查,例如,对绿色像素单元进行检测时,数据信号端DC输出的数据信号在第一测试阶段为第一电位,在第二测试阶段为第二电位,数据信号端DY输出的数据信号在第一测试阶段为第二电位,在第二测试阶段为第一电位,数据信号端DM输出的数据信号在该两个测试阶段均为第二电位;对蓝色像素单元进行检测时,数据信号端DM输出的数据信号在第一测试阶段为第一电位,在第二测试阶段为第二电位,数据信号端DC输出的数据信号在第一测试阶段为第二电位,在第二测试阶段为第一电位,数据信号端DY输出的数据信号在该两个测试阶段均为第二电位。
进一步的,如图3所示,第4n-3个移位寄存器单元中的输出模块与第一时钟信号端连接,第4n-2个移位寄存器单元中的输出模块与第二时钟信号端连接;第4n-1个移位寄存器单元中的输出模块与第三时钟信号端连接;第4n个移位寄存器单元中的输出模块与第四时钟信号端连接。
参考图8,该第一测试阶段T1中,该第一时钟信号端CLK1和该第三时钟信号端CLK3输出时钟信号,该第二时钟信号端CLK2和该第四时钟信号端CLK4输出处于第二电位的信号,使得该栅极驱动电路中,第4n-3个移位寄存器单元以及第4n-1个移位寄存器单元能够对奇数行的像素单元进行逐行驱动。
该第二测试阶段T2中,该第二时钟信号端CLK2和该第四时钟信号端CLK4输出时钟信号,该第一时钟信号端CLK1和该第三时钟信号端CLK3输出处于第二电位的信号,使得该栅极驱动电路中,第4n-2个移位寄存器单元以及第4n个移位寄存器单元对偶数行的像素单元进行逐行驱动。
在本发明实施例中,为保证第一测试阶段结束后,第二测试阶段中,用于驱动第二行像素单元的移位寄存器单元能够(即栅极驱动电路中的第2个移位寄存器单元)顺利开启,需要保证第2个移位寄存器单元中的上拉节点PU在第一测试阶段结束后保持第一电位,否则该第2个移位寄存器单元将无法正常开启。为了保证该第2个移位寄存器单元中的上拉节点PU保持第一电位,可以采取下述两种方式实现。
在本发明一种可选的实现方式中,参考图5,该帧开启信号端包括第一信号端STV1和第二信号端STV2,该栅极驱动电路中的第1个移位寄存器单元的输入端与该第一信号端是STV1连接,该栅极驱动电路中的第2个移位寄存器单元的输入端与该第二信号端STV2连接。
在第一测试阶段T1中,该第一信号端STV1输入处于第一电位的脉冲信号,以便为该第1个移位寄存器单元中的上拉节点充电,使得该第1个移位寄存器单元能够为第一行像素单元输出栅极驱动信号,同时,由于该第1个移位寄存器单元的输出端与第3个移位寄存器单元的输入端相连,因此该第1个移位寄存器单元输出的栅极驱动信号能够为该第3个移位寄存器单元中的上拉节点充电,使得该第3个移位寄存器单元能够为第三行像素单元输出栅极驱动信号,以此类推,进而实现对该显示装置中奇数行像素单元的逐行扫描驱动。
该第二测试阶段T2中,该第二信号端STV2输入处于第一电位的脉冲信号,以便为该第2个移位寄存器单元中的上拉节点充电,使得该第1个移位寄存器单元能够为第一行像素单元输出栅极驱动信号,并为第4个移位寄存器单元的上拉节点充电,以便实现对该显示装置中偶数行像素单元的逐行扫描驱动。
在本发明另一种可选的实现方式中,参考图6,该第2个移位寄存器单元可以包括:上拉保持模块1a,该上拉保持模块1a分别与该帧开启信号端STV、第一电源信号端VGH以及该第2个移位寄存器单元中的上拉节点PU连接。
参考图9,该第一测试阶段T1中,该帧开启信号端STV输出处于第一电位的脉冲信号,以便为该第1个移位寄存器单元中的上拉节点充电,以及通过该上拉保持模块1a,为该第2个移位寄存器单元中的上拉节点充电,如图9所示,帧开启信号端STV输出处于第一电位的脉冲信号后,在该第一测试阶段T1中,该第2个移位寄存器单元中的上拉节点PU保持第一电位。
当该第一测试阶段T1结束后,开始执行第二测试阶段,此时参考图8,第二时钟信号端CLK2和第四时钟信号端CLK4开始输入时钟信号,由于该第2个移位寄存器单元中的输出模块与该第二时钟信号端CLK2连接,因此当该第二时钟信号端CLK2输入的信号为第一电位时,如图9所示,能够将该第2个移位寄存器单元中的上拉节点PU的电位进一步拉高,以便该第2个移位寄存器单元能够向第二行像素单元输出栅极驱动信号,进而再逐行启动偶数行的移位寄存器单元。
具体的,该帧开启信号端STV输出脉冲信号之前,下拉节点PD点为第一电位,第二电源信号端VSS通过第四晶体管M4和电容器C对节点P1进行放电;当帧开启信号端STV输出处于第一电位的脉冲信号后,第一晶体管M1开启,第一电源信号端VGH向节点P1输出处于第一电位的第一电源信号,第二晶体管M2开启,使得第一电源信号端VGH向该上拉节点PU充电。
帧开启信号端STV输出的脉冲信号跳变为第二电位后,在电容器C的作用下,使得节点P1和上拉节点PU在该第一测试阶段T1中一直保持第一电位。当第二时钟信号端CLK2开始输入时钟信号后,该第2个移位寄存器单元向第二行像素单元输出栅极驱动信号。同时该栅极驱动信号作为第4个移位寄存器单元的输入信号,能够对该第4个移位寄存器单元的上拉节点进行充电,使得该第4个移位寄存器单元向第四行像素单元输出栅极驱动信号。由于该第4个移位寄存器单元的输出端与第2个移位寄存器单元的复位信号端RST连接,参考图9,当该第2个移位寄存器单元的复位信号端RST输入的复位信号(即第4个移位寄存器单元输出的栅极驱动信号)为第一电位时,第三晶体管M3开启,第二电源信号端向节点P1输出处于第二电位的第二电源信号,同时在电容器C的作用下,上拉节点PU的电位也被下拉至第二电位,从而实现对该上拉节点PU和节点P1的降噪,防止该第2个移位寄存器单元的非正常输出。
需要说明的是,本发明实施例中栅极驱动电路中所采用的移位寄存器单元可以为10T1C类型,即每个移位寄存器单元中包括10个晶体管和1个电容器,该10T1C类型的移位寄存器单元的具体结构可以参考相关技术,本发明实施例对此不做赘述。
还需要说明的是,在上述实施例中,均是以第一晶体管M1、第二晶体管M2、第三晶体管M3和第四晶体管M4为N型晶体管,且第一电位相对于第二电位为高电位为例进行的说明。当然,该第一至第四晶体管还可以采用P型晶体管,当该第一至第四晶体管采用P型晶体管时,该第一电位相对于该第二电位可以为低电位,且该各个信号端和节点的电位变化可以与图8和图9所示的电位变化相反(即二者的相位差为180度)。
综上所述,本发明实施例提供了一种显示装置的检测方法,该方法在对某个颜色的像素单元进行检测时,可以通过两个测试阶段对处于奇数行和偶数行的该颜色的像素单元分别进行检测,因此在检测的过程中,与该颜色的像素单元连接的数据信号端可以在其中一个测试阶段始终保持第一电位,在另一个测试阶段始终保持第二电位,该数据信号端无需输出方波信号,因此可以避免方波信号波形延迟对画面显示的影响,提高了检测的稳定性。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (15)
1.一种显示装置的检测电路,其特征在于,所述显示装置包括多条数据线和多条栅线,所述多条数据线与所述多条栅线交叉围成多个阵列排布的像素单元,所述检测电路包括:源极驱动电路和栅极驱动电路;
所述源极驱动电路与所述多条数据线连接,用于为所述显示装置中的各个像素单元提供数据信号,所述栅极驱动电路与所述多条栅线连接,用于为所述显示装置中的各个像素单元提供栅极驱动信号;
其中,所述栅极驱动电路包括多个级联的移位寄存器单元,每个移位寄存器单元用于驱动一行像素单元,且所述多个级联的移位寄存器单元中,第1个移位寄存器单元和第2个移位寄存器单元的输入端分别与帧开启信号端连接,第n个移位寄存器单元的输出端与第n+2个移位寄存器单元的输入端连接,第n+2个移位寄存器单元的输出端与第n个移位寄存器单元的复位信号端连接,n为大于或等于1的整数;
所述栅极驱动电路用于对所述显示装置中奇数行的像素单元进行逐行驱动,或者对所述显示装置中偶数行的像素单元进行逐行驱动。
2.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述显示装置中的每个像素单元包括一个薄膜晶体管TFT和一个像素电极,各行所述像素单元中的TFT呈Z字形排列,所述多条数据线中的每条数据线通过TTF分别与两侧的像素电极连接;
所述源极驱动电路包括开关模块,所述开关模块分别与开关信号端、N个数据信号端以及所述多条数据线连接,其中N为所述显示装置中每个像素所包括的不同颜色的像素单元的个数;
所述开关模块用于将所述N个数据信号端与所述多条数据线对应相连,使得每个数据信号端分别为处于奇数行的第一颜色的像素单元,以及处于偶数行的第二颜色的像素单元提供数据信号。
3.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,
所述栅极驱动电路中,第4n-3个移位寄存器单元中的输出模块与第一时钟信号端连接,第4n-2个移位寄存器单元中的输出模块与第二时钟信号端连接;第4n-1个移位寄存器单元中的输出模块与第三时钟信号端连接;第4n个移位寄存器单元中的输出模块与第四时钟信号端连接。
4.根据权利要求1至3任一所述的电路,其特征在于,所述帧开启信号端包括第一信号端和第二信号端;
所述栅极驱动电路中的第1个移位寄存器单元的输入端与所述第一信号端连接;
所述栅极驱动电路中的第2个移位寄存器单元的输入端与所述第二信号端连接。
5.根据权利要求1至3任一所述的电路,其特征在于,所述第2个移位寄存器单元包括:上拉保持模块;
所述上拉保持模块分别与所述帧开启信号端、第一电源信号端以及所述第2个移位寄存器单元中的上拉节点连接,用于在所述栅极驱动电路对所述显示装置的奇数行像素单元进行逐行驱动的过程中,使所述第2个移位寄存器单元的上拉节点保持第一电位。
6.根据权利要求5所述的电路,其特征在于,所述第2个移位寄存器单元还包括:降噪模块;
所述降噪模块分别与复位信号端、第二电源信号端、所述上拉保持模块以及所述第2个移位寄存器单元中的下拉节点连接,用于在所述第2个移位寄存器单元完成对所述显示装置中第二行像素单元的驱动后,对所述上拉保持模块以及所述上拉节点进行降噪。
7.根据权利要求5所述的电路,其特征在于,所述上拉保持模块包括:
第一晶体管、第二晶体管和电容器;
所述第一晶体管的栅极与所述帧开启信号端连接,所述第一晶体管的第一极与所述第一电源信号端连接,所述第一晶体管的第二极分别与所述第二晶体管的栅极以及所述电容器的一端连接;
所述第二晶体管的第一极与所述第一电源信号端连接,所述第二晶体管的第二极与所述上拉节点连接;
所述电容器的另一端与所述上拉节点连接。
8.根据权利要求6所述的电路,其特征在于,所述降噪模块包括:
第三晶体管和第四晶体管;
所述第三晶体管的栅极与所述复位信号端连接,所述第三晶体管的第一极与所述第二电源信号端连接,所述第三晶体管的第二极与所述上拉保持模块连接;
所述第四晶体管的栅极与所述第2个移位寄存器单元中的下拉节点连接,所述第四晶体管的第一极与所述第二电源信号端连接,所述第四晶体管的第二极与所述上拉保持模块连接。
9.根据权利要求2所述的电路,其特征在于,
所述开关模块包括M个晶体管,M为所述显示装置中数据线的个数;
所述M个晶体管中第i个晶体管的栅极与所述开关信号端连接,所述第i个晶体管的第一极与所述N个数据信号端中的一个数据信号端连接,所述第i个晶体管的第二极与所述多条数据线中的一条数据线连接,所述i为小于等于M的正整数。
10.一种显示装置的检测方法,其特征在于,应用于显示装置的检测电路中,所述检测电路包括:源极驱动电路和栅极驱动电路,所述方法包括:第一测试阶段和第二测试阶段;
所述第一测试阶段中,所述栅极驱动电路对显示装置中奇数行的像素单元进行逐行驱动,所述源极驱动电路为所述显示装置中预设颜色的像素单元提供数据信号,使得处于奇数行的所述预设颜色的像素单元被点亮;
所述第二测试阶段中,所述栅极驱动电路对显示装置中偶数行的像素单元进行逐行驱动,所述源极驱动电路为所述显示装置中预设颜色的像素单元提供数据信号,使得处于偶数行的所述预设颜色的像素单元被点亮。
11.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,所述显示装置中的每个像素单元包括一个薄膜晶体管TFT和一个像素电极,各个所述像素单元中的TFT呈Z字形排列,所述多条数据线中每条数据线通过TTF交替连接所述每条数据线不同侧的像素电极;
所述源极驱动电路包括开关模块,所述开关模块分别与开关信号端、N个数据信号端以及所述多条数据线连接,其中N为所述显示装置中每个像素所包括的像素单元的个数;所述开关模块用于将所述N个数据信号端与所述多条数据线对应相连;
所述第一测试阶段中,所述N个数据信号端中的第一数据信号端输出处于第一电位的信号,除所述第一数据信号端之外的其他数据信号端输出处于第二电位的信号,所述第一数据信号端用于为所述显示装置中处于奇数行的所述预设颜色的像素单元提供数据信号;
所述第二测试阶段中,所述N个数据信号端中的第二数据信号端输出处于第一电位的信号,除所述第二数据信号端之外的其他数据信号端输出处于第二电位的信号,所述第二数据信号端用于为所述显示装置中处于偶数行的所述预设颜色的像素单元提供数据信号。
12.根据权利要求10所述的方法,其特征在于,第4n-3个移位寄存器单元中的输出模块与第一时钟信号端连接,第4n-2个移位寄存器单元中的输出模块与第二时钟信号端连接;第4n-1个移位寄存器单元中的输出模块与第三时钟信号端连接;第4n个移位寄存器单元中的输出模块与第四时钟信号端连接;
所述第一测试阶段中,所述第一时钟信号端和所述第三时钟信号端输出时钟信号,所述第二时钟信号端和所述第四时钟信号端输出处于第二电位的信号,使得所述栅极驱动电路中,第4n-3个移位寄存器单元以及第4n-1个移位寄存器单元对奇数行的像素单元进行逐行驱动;
所述第二测试阶段中,所述第二时钟信号端和所述第四时钟信号端输出时钟信号,所述第一时钟信号端和所述第三时钟信号端输出处于第二电位的信号,使得所述栅极驱动电路中,第4n-2个移位寄存器单元以及第4n个移位寄存器单元对偶数行的像素单元进行逐行驱动。
13.根据权利要求10至12任一所述的方法,其特征在于,所述帧开启信号端包括第一信号端和第二信号端,所述栅极驱动电路中的第1个移位寄存器单元的输入端与所述第一信号端连接,所述栅极驱动电路中的第2个移位寄存器单元的输入端与所述第二信号端连接;
所述第一测试阶段中,所述第一信号端输入处于第一电位的脉冲信号,以便为所述第1个移位寄存器单元中的上拉节点充电;
所述第二测试阶段中,所述第二信号端输入处于第一电位的脉冲信号,以便为所述第2个移位寄存器单元中的上拉节点充电。
14.根据权利要求10至12任一所述的方法,其特征在于,所述第2个移位寄存器单元包括:上拉保持模块,所述上拉保持模块分别与所述帧开启信号端、第一电源信号端以及所述第2个移位寄存器单元中的上拉节点连接;
所述第一测试阶段中,所述帧开启信号端输入处于第一电位的脉冲信号,以便为所述第1个移位寄存器单元中的上拉节点充电,以及通过所述上拉保持模块,为所述第2个移位寄存器单元中的上拉节点充电;
在所述第一测试阶段中,所述第2个移位寄存器单元中的上拉节点保持第一电位。
15.根据权利要求11或12所述的方法,其特征在于,
所述第一电位相对于所述第二电位为高电位。
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