CN104898901B - 接垫结构以及触控面板 - Google Patents

Abstract

本发明提出一种接垫结构以及触控面板。该接垫结构包括：一第一子接垫以及一第二子接垫；该第一子接垫具有位于相对二端的一第一接线端与一第一末端，该第一接线端的一宽度大于该第一末端的一宽度；该第二子接垫与该第一子接垫彼此邻近但分离，且该第二子接垫具有位于相对二端的一第二接线端与一第二末端，该第二接线端的一宽度大于该第二末端的一宽度，其中该第一接线端邻近该第二末端，且该第二接线端邻近该第一末端；其中，该第一子接垫的一第一轮廓与该第二子接垫的一第二轮廓以成对且互补的一形态共同组成该接垫结构的一形状。本发明可以缩减接垫配置面积以节省接合媒介的成本以及减缓接合媒介所导致的问题，还可以保持测试作业的正确性。

Description

接垫结构以及触控面板

技术领域

本发明涉及一种接垫结构以及触控面板，且特别涉及一种触控感测装置及其接垫结构。

背景技术

触控面板依照其感测方式的不同而大致上区分为电阻式触控面板、电容式触控面板、光学式触控面板、声波式触控面板以及电磁式触控面板。由于电容式触控面板具有反应时间快、可靠度佳以及耐用度高等优点，因此，电容式触控面板已被广泛地使用于电子产品中，且依其电容感测原理不同而大致可区分为自电容式（自感式）与互电容式（互感式）的触控面板。

其中，就互电容式（互感式）的电容式触控面板而言，触控面板包括多个第一轴向（例如X轴）感测图案以及多个第二轴向（例如Y轴）感测图案。第一轴向感测图案与第二轴向感测图案相交设置，且彼此信号独立。在此设计下，多个第一轴向感测图案与多个第二轴向感测图案需分别集中且并排设置在第一轴向感测图案和/或第二轴向感测图案所在的基板的一侧的多个接垫电性连接。甚至为了实现电性与测试的需求，有些同一轴向感测图案的两端需要被连接至不同接垫。如此，接垫的配置数量增多，使得用以接合于接垫的电路板与接合媒介（例如导电胶）所需要的面积不易缩减，进而使电容式触控面板的成本不易下降。

因此，需要提供一种接垫结构以及触控面板来解决上述问题。

发明内容

本发明提供一种触控面板，其配置与布局方式具有理想的空间利用率。

本发明提供一种触控面板，其接垫配置与布局方式具有理想的空间利用率且有助于确保测试正确性。

本发明的一种接垫结构，该接垫结构包括：一第一子接垫以及一第二子接垫；该第一子接垫具有位于相对二端的一第一接线端与一第一末端，该第一接线端的一宽度大于该第一末端的一宽度；该第二子接垫与该第一子接垫彼此邻近但分离，且该第二子接垫具有位于相对二端的一第二接线端与一第二末端，该第二接线端的一宽度大于该第二末端的一宽度，其中该第一接线端邻近该第二末端，且该第二接线端邻近该第一末端；其中，该第一子接垫的一第一轮廓与该第二子接垫的一第二轮廓以成对且互补的一形态共同组成该接垫结构的一形状。

本发明的一种触控面板，包括多个第一感测结构、多个第二感测结构、多个第一接垫结构、多个第二接垫结构以及多条导线结构。第一感测结构各自具有相对的一第一端与一第二端。第二感测结构与第一感测结构交错设置。每一第一接垫结构包括有一第一子接垫与一第二子接垫，并且第一子接垫的一第一轮廓与第二子接垫的一第二轮廓以成对且互补的一形态共同组成各第一接垫结构的一形状。导线结构的一第一部分与一第二部分别将各第一接垫结构的第一子接垫与第二子接垫分别连接至同一个或不同的第一感测结构的第一端与第二端，并且一第三部分将第二接垫结构连接至第二感测结构。

本发明的一种触控面板，该触控面板包括：多个第一感测结构，该些第一感测结构各自具有相对的一第一端与一第二端；多个第二感测结构，该些第二感测结构与该些第一感测结构交错设置；多个第一接垫结构，每一该第一接垫结构包括一第一子接垫与一第二子接垫，并且该第一子接垫的一第一轮廓与该第二子接垫的一第二轮廓以成对且互补的一形态共同组成各该第一接垫结构的一形状；多个第二接垫结构；以及多条导线结构，该些导线结构的一第一部分与一第二部分别将各该第一接垫结构的该第一子接垫与该第二子接垫连接至同一个或不同的第一感测结构的该第一端与该第二端，并且一第三部分将该些第二接垫结构连接至该些第二感测结构。

本发明的再一种触控面板，该触控面板包括：一基板、多个感测结构、多个接垫结构以及多条导线结构；该些感测结构布置在该基板上，各该感测结构具有相对的一第一端与一第二端；该些接垫结构布置在该基板上，每一该接垫结构包括一第一子接垫与一第二子接垫，并且该第一子接垫的一第一轮廓与该第二子接垫的一第二轮廓以成对且互补的一形态共同组成各该接垫结构的一形状；该些导线结构分别将该些接垫结构的该第一子接垫与该第二子接垫分别连接至同一个或不同的感测结构的该第一端与该第二端。

在本发明的一实施例中，上述各第一接垫结构的第一子接垫的宽度由第一接线端向第一末端逐渐缩减，且第二子接垫的宽度由第二接线端向第二末端逐渐缩减。

在本发明的一实施例中，上述各第一接垫结构具有一延长方向，其由第一接线端指向第二接线端。各第一接垫结构中，第一子接垫沿着延长方向的宽度变化趋势相反于第二子接垫沿着延长方向的宽度变化趋势。

在本发明的一实施例中，上述各第一接垫结构中，第一子接垫的第一轮廓与第二子接垫的第二轮廓呈点对称关系。

在本发明一实施例中，上述各第一接垫结构的第一子接垫包括相邻的一第一测试部与一第一压焊部，第一接线端为第一测试部的远离于第一压焊部的一端，而第一末端为第一压焊部的远离于第一测试部的一端。第一子接垫与第二子接垫分别具有L形或是似L形且颠倒互补的第一轮廓与第二轮廓。同时，各第一接垫结构的第二子接垫包括相邻的一第二测试部与一第二压焊部，第二接线端为第二测试部的远离于第二压焊部的一端，而第二末端为第二压焊部的远离于第二测试部的一端。第一子接垫与该第二子接垫之间相隔一间隙，且第一压焊部、间隙与第二压焊部的整体宽度等于第一测试部或第二测试部的宽度。另外，第一压焊部与第二压焊部之间的间隙为直线状、波浪状或是折曲状。在一实施例中，第一测试部的宽度等于第二测试部的宽度。

在本发明的一实施例中，上述各第一接垫结构的宽度等于各第二接垫结构的宽度。

在本发明的一实施例中，上述第一子接垫与第二子接垫分别具有梯形或是似梯形且颠倒互补的第一轮廓与第二轮廓。

在本发明的一实施例中，上述接垫结构的形状为一矩形。

在本发明的一实施例中，上述各第一接垫结构的长度等于各第二接垫结构的长度。

在本发明的一实施例中，上述导线结构包括多条第一导线与多条第二导线。第一导线连接于第一感测结构的第一端以及第一子接垫的第一接线端之间。第二导线连接于第一感测结构的第二端以及第二子接垫的第二接线端之间。

在本发明的一实施例中，上述触控面板还包括一基板，其中第一感测结构、第二感测结构、第一接垫结构、第二接垫结构以及导线结构配置于基板上。各第二感测结构具有相对的一第三端与一第四端。第二接垫结构的第一部分连接至第三端，第二接垫结构的第二部分连接至第四端，且第一接垫结构位于第二接垫结构的第一部分与第二部分之间。

在本发明的一实施例中，上述触控面板还包括一间隔层，且间隔层具有相对的一第一侧与一第二侧，其中第一感测结构、第一接垫结构以及导线结构的一第一部分配置于第一侧，而第二感测结构、第二接垫结构以及导线结构一第二部分配置于第二侧。导线结构的第一部分将第一感测结构连接至第一接垫结构，而导线结构的第二部分将第二感测结构连接至第二接垫结构。间隔层为一薄膜基板或一绝缘层。在此，各第二接垫结构可以包括一第三子接垫与一第四子接垫，其中第三子接垫与第四子接垫彼此分离并分别连接至其中一个第二感测结构的一第三端与一第四端。第三子接垫具有相对的一第三接线端与一第三末端，而第三接线端的宽度大于第三末端的宽度。第四子接垫具有相对的一第四接线端与一第四末端，而第四接线端的宽度大于第四末端的宽度。第三接线端距离第四末端较近而距离第四接线端较远。

在本发明的一实施例中，上述各第二接垫结构的第三子接垫的宽度由第三接线端向第三末端逐渐缩减。

在本发明的一实施例中，上述各第二接垫结构的第四子接垫的宽度由第四接线端向第四末端逐渐缩减。

在本发明的一实施例中，上述各第二接垫结构具有一延长方向，其由第三接线端指向第四接线端。各第二接垫结构中，第三子接垫沿着延长方向的宽度变化趋势相反于第四子接垫沿着延长方向的宽度变化趋势。

在本发明的一实施例中，上述各第二接垫结构中，第三子接垫与第四子接垫的轮廓呈点对称关系。

在本发明的一实施例中，上述各第二接垫结构的第三子接垫包括相邻的一第三测试部与一第三压焊部，其中第三接线端为第三测试部的远离于第三压焊部的一端，而第三末端为第三压焊部的远离于第三测试部的一端。

在本发明的一实施例中，上述第三子接垫与第四子接垫分别具有似L形或是L形。

在本发明的一实施例中，上述各第二接垫结构的第四子接垫包括相邻的一第四测试部与一第四压焊部，其中第四接线端为第四测试部的远离于第四压焊部的一端，而第四末端为第四压焊部的远离于第四测试部的一端。上述第三子接垫与第四子接垫之间相隔一间隙，且第三压焊部、间隙与第四压焊部的整体宽度等于第三测试部或第四测试部的宽度。间隙为直线状、波浪状或是折曲状。另外，第三测试部的宽度等于第四测试部的宽度。

基于上述，本发明的实施例的触控面板将连接于同一个感测结构两端的两个接垫相邻设置以构成一组接垫结构，且这两个接垫的宽度变化呈现相反趋势。相比于以往的设计为矩形轮廓的接垫而言，本发明的实施例中成组的这两个接垫可以较为密集地设置而有助于缩减接垫设置面积。另外，这两个接垫的宽度并非固定不变，所以各接垫的较宽处可以提供足够的面积让测试探针接触，以便于测试作业的进行。更进一步来说，本发明的实施例中成组的这两个接垫各自从最宽处朝向另一者延伸，因此这两个接垫的延伸长度足够，使得接垫要与电路板或是外部构件接合时，可以具有理想的接合信赖性。同时，藉由本发明的实施例的接垫设计，接垫的配置更为密集，配置面积更为缩减，这有助减少接合用的接合媒介（导电胶）的使用量以及体积。由于接合媒介在制作过程中基于温度差异可能导致体积变化，接合媒介的体积缩减可以降低这样的体积变化造成的信赖性不佳。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附附图作详细说明如下。

附图说明

图1A为本发明的接垫结构的第一种实施方式的示意图。

图1B为本发明的接垫结构的第二种实施方式的示意图。

图1C为本发明的接垫结构的第三种实施方式的示意图。

图1D为本发明的接垫结构的第四种实施方式的示意图。

图1E为本发明的接垫结构的第五种实施方式的示意图。

图2为本发明的第一实施例的触控面板的俯视示意图。

图3为图2的触控面板中局部P的放大示意图。

图4为本发明的第二实施例的触控面板的俯视示意图。

图5为本发明的第三实施例的触控面板的侧视示意图。

图6与图7为图5的触控面板中第一感测层与第二感测层的俯视示意图。

图8为本发明的第三实施例的触控面板的侧视示意图。

图9为本发明的第四实施例的触控面板的侧视示意图。

主要组件符号说明：

10～50 接垫结构 232 第一部分

12、22、32、130A、240A、 第一子接垫 234 第二部分

320A 300A 第一感测层

12A、22A 第一接线端 300B 第二感测层

12B、22B 第一末端 300C 间隔层

14、24、34、130B、240B、 第二子接垫 340A 第三端

320B 340B 第四端

14A、24A 第二接线端 350A 第三子接垫

14B、24B 第二末端 350B 第四子接垫

22T、32T、42T、52T 第一测试部 400A 基板

22U、32U、42U、52U 第一压焊部 500A 第一基板

24T、34T、44T、54T 第二测试部 500B 第二基板

24U、34U、44U、54U 第二压焊部 D1 第一方向

100、200、300、400、500 触控面板 D2 第二方向

102 接垫配置区 E 延伸方向

110、210、310 第一感测结构 G10、G20、G30、G40、 间隙

110A、210A、220A、310A 第一端 G50

110B、210B、220B、310B 第二端 L10、L22T、L22U、 长度

112 第一感测部 L24T、L24U、L130、

114 第一连接部 L140、L150

120、220、340 第二感测结构 P 局部

122 第二感测部 S1 第一侧

124 第二连接部 S2 第二侧

130、230、320 第一接垫结构 SI 绝缘图案

140、240、350 第二接垫结构 W10、W12A、W12B、 宽度

150、250、330、360 导线结构 W14A、W14B、W20、

150A、150B、250A、250B、 导线 W22T、W22U、

250C、250D W130、W140

160 基板

具体实施方式

图1A为本发明的接垫结构的第一种实施方式的示意图。请参照图1A，接垫结构10包括彼此独立的第一子接垫12与第二子接垫14，且两者之间相隔一间隙G10。第一子接垫12具有相对的一第一接线端12A与一第一末端12B，且第一接线端12A的宽度W12A大于第一末端12B的宽度W12B。第二子接垫14具有相对的一第二接线端14A与一第二末端14B，且第二接线端14A的宽度W14A大于第二末端14B的宽度W14B。同时，较宽的第一接线端12A距离较窄的第二末端14B较近而距离较宽的第二接线端14A较远。当接垫结构10应用于电子装置中以作为压焊结合（bonding）的接垫时，电子装置中的导线会连接于较宽的第一接线端12A与第二接线端14A。

由图1A可知，第一子接垫12与第二子接垫14在本实施例中具有梯形轮廓。接垫结构10是一个延长形的结构，并定义有由第一接线端12A指向第二接线端14A的延伸方向E。第一子接垫12的宽度沿着延伸方向E逐渐缩小而第二子接垫14的宽度沿着延伸方向E逐渐增加。也就是说，第一子接垫12沿着延长方向E的宽度变化趋势相反于第二子接垫14沿着延长方向E的宽度变化趋势。另外，接垫结构10的整体宽度W10大致为固定的，因此接垫结构10整体构成矩形形状。在本实施例中，第一子接垫12与第二子接垫14的轮廓可以呈点对称关系，因此两者的轮廓大致上为互补的。

接垫结构10接合其他构件，因此接垫结构10的尺寸设计影响着接合合格率与信赖性。当接垫结构10与其他构件的接合是通过异方性导电胶（ACF，Anisotropic ConductiveFilm；或ACA，Anisotropic Conductive Adhesive）来实现时，宽度W12B与宽度W14B可选择地大于异方性导电胶中导电粒子的平均粒径。举例而言，应用于触控面板与电路板的接合的异方性导电胶中，导电粒子的平均粒径约为10微米（μm）。此时，宽度W12B与宽度W14B可选择地设置为大于10微米。在其他实施例中，异方性导电胶中的导电粒子的平均粒径为3微米时，宽度W12B与宽度W14B可选择地设置为大于3微米。如此一来，宽度W12B与宽度W14B可以确保接合的信赖性。另外，接垫结构10的整体长度L10可以大于1毫米（mm），例如1.24毫米或是1.26毫米。在本实施例中，间隙G10的存在用来维持第一子接垫12与第二子接垫14的电性独立，其宽度可以依据制作机台的精密度而决定。例如，间隙G10可以为15微米至50微米或是更小。第一接线端12A与第二接线端14A的宽度W12A与W14A则可以依据测试机台的探针尺寸来决定，换言之，W12A与W14A的宽度要达到足以供所选用尺寸的探针能精准定位与电性接触以作信号测试的程度。

由图1A可知，接垫结构10的第一子接垫12在第一接线端12A具有较宽大的尺寸，而第二子接垫14在第二接线端14A具有宽大的尺寸。如此一来，进行测试时，测试探针可以正确的接触于第一子接垫12与第二子接垫14，以让测试过程更有效率。另外，第一子接垫12与第二子接垫14在延伸方向E上的长度都大致等于整体长度L10，这有助于增加异方性导电胶配置于接垫结构10的信赖性与正确性。举例来说，假设异方性导电胶在配置于接垫结构10的过程中发生了在延伸方向E上的对位误差而朝向第一接线端12A偏移，则异方性导电胶仍可配置于第二子接垫14的至少一部分上。相似地，假设异方性导电胶在配置于接垫结构10的过程中发生了在延伸方向E上的对位误差而朝向第二接线端14A偏移，则异方性导电胶仍可配置于第一子接垫12的至少一部分上。如此一来，即使制作过程中发生对位上的误差，则第一子接垫12与第二子接垫14都可以确实的接触异方性导电胶，也确保了异方性导电胶配置于接垫结构10的信赖性。

图1B为本发明的接垫结构的第二种实施方式的示意图。请参照图1B，接垫结构20包括彼此独立的第一子接垫22与第二子接垫24，且两者之间相隔一间隙G20。接垫结构20的第一子接垫22包括相邻的一第一测试部22T与一第一压焊部22U，并且第一接线端22A为第一测试部22T的远离于第一压焊部22U的一端，而第一末端22B为第一压焊部22U的远离于第一测试部22T的一端。第二子接垫24则包括相邻的一第二测试部24T与一第二压焊部24U，第二接线端24A为第二测试部24T的远离于第二压焊部24U的一端，而第二末端24B为第二压焊部24U的远离于第二测试部24T的一端。在此，第一接线端22A、第一末端22B、第二接线端24A与第二末端24B的尺寸设计可以参照图1A的相关说明，在此不另赘述。

第一子接垫22与第二子接垫24分别具有似L形或是L形的轮廓，且二轮廓颠倒互补。在本实施例中，第一测试部22T的宽度W22T等于第二测试部24T的宽度W24T。同时，第一压焊部22U、间隙G20与第二压焊部24U的整体宽度W20等于第一测试部22T的宽度W22T或第二测试部24T的宽度W24T。

第一测试部22T与第二测试部24T的尺寸设计可以依据测试机台的需求而设定。举例来说，测试机台的探针需要0.1毫米宽的测试面积时，第一测试部22T的长度L22T可以不小于0.1毫米，而第二测试部24T的长度L24T可以不小于0.1毫米。如此一来，第一测试部22T与第二测试部24T的设置有利于提升测试准确性。第一压焊部22U与第二压焊部24U是用来与异方性导电胶连接的部分，因此第一压焊部22U的长度L22U与第二压焊部24U的长度L24U可以根据接合工艺的需求来决定。举例而言，在现有的接合工艺中，接垫的长度设置为1.24毫米，则本实施例的第一压焊部22U的长度L22U与第二压焊部24U的长度L24U即可以设计为1.24毫米。另外，间隙G20的尺寸可以参照图1A的实施例的描述而依据制作精度来决定，例如为15微米至50微米。

图1C为本发明的接垫结构的第三种实施方式的示意图。请参照图1C，接垫结构30包括彼此独立的第一子接垫32与第二子接垫34。第一子接垫32包括有第一测试部32T与第一压焊部32U，而第二子接垫34包括有第二测试部34T与第二压焊部34U。在此，第一测试部32T与第一压焊部32U相似于图1B的第一测试部22T与第一压焊部22U，而第二测试部34T与第二压焊部34U相似于图1B的第二测试部24T与第二压焊部24U。两实施例主要不同之处在于，本实施例的第一压焊部32U与第二压焊部34U之间的间隙G30为折曲状，而图1B的第一压焊部22U与第二压焊部24U之间的间隙G20为直线状。

图1D为本发明的接垫结构的第四种实施方式的示意图。请参照图1D，接垫结构40包括彼此独立的第一子接垫42与第二子接垫44。第一子接垫42包括有第一测试部42T与第一压焊部42U，而第二子接垫44包括有第二测试部44T与第二压焊部44U。在此，第一测试部42T与第一压焊部42U相似于图1B的第一测试部22T与第一压焊部22U，而第二测试部44T与第二压焊部44U相似于图1B的第二测试部24T与第二压焊部24U。两实施例主要不同之处在于，本实施例的第一压焊部42U与第二压焊部44U之间的间隙G40为波浪状，而图1B的第一压焊部22U与第二压焊部24U之间的间隙G20为直线状。

图1E为本发明的接垫结构的第五种实施方式的示意图。请参照图1E，接垫结构50包括彼此独立的第一子接垫52与第二子接垫54。第一子接垫52包括有第一测试部52T与第一压焊部52U，而第二子接垫54包括有第二测试部54T与第二压焊部54U。在此，第一测试部52T与第一压焊部52U相似于图1B的第一测试部22T与第一压焊部22U，而第二测试部54T与第二压焊部54U相似于图1B的第二测试部24T与第二压焊部24U。两实施例主要不同之处在于，本实施例的第一压焊部52U与第二压焊部54U之间的间隙G50为斜直线状，而图1B的第一压焊部22U与第二压焊部24U之间的间隙G20为直线状。也就是说，间隙G50与间隙G20的倾斜角度不同。

图2为本发明的第一实施例的触控面板的俯视示意图。请参照图2，触控面板100包括多个第一感测结构110、多个第二感测结构120、多个第一接垫结构130、多个第二接垫结构140、多条导线结构150以及基板160，其中第一感测结构110、第二感测结构120、第一接垫结构130、第二接垫结构140以及导线结构150都配置于基板160上并且位于基板160的同一侧。以本实施例而言，第一感测结构110与第二感测结构120分别为延长状的（elongate）感测结构，其中第一感测结构110各自的延伸方向为第一方向D1而第二感测结构120各自的延伸方向为第二方向D2，其中第一方向D1与第二方向D2交错。因此，第二感测结构120与第一感测结构110彼此是交错设置的。另外，第一感测结构110与第二感测结构120可以藉由这些导线结构150对应的连接至位接垫配置区102中的第一接垫结构130与第二接垫结构140。如此一来，控制触控面板100的驱动控制电路可以连接于第一接垫结构130与第二接垫结构140以对第一感测结构110与第二感测结构120进行触控感测的操作。

图3为图2的触控面板中局部P的放大示意图。由图2与图3可知，第一感测结构110包括多个菱形格状的第一感测部112与多个第一连接部114，其中各个第一连接部114将相邻两个第一感测部112沿第一方向D1串接在一起。第二感测结构120包括多个菱形格状的第二感测部122与多个第二连接部124，其中各个第二连接部124将相邻两个第二感测部122沿第二方向D2串接在一起。同时，每个第一连接部114与对应的一个第二连接部124相交，且此两个连接部114与124之间设置有一绝缘图案SI以避免两者之间短路。

具体来说，各第一接垫结构130包括一第一子接垫130A与一第二子接垫130B，且第一子接垫130A与第二子接垫130B彼此分离。第一感测结构110各自具有相对的一第一端110A与一第二端110B。同时，导线结构150中的第一部分（例如第一导线150A）将第一接垫结构130的第一子接垫130A的第一接线端连接至第一感测结构110的第一端110A，而导线结构150中的第二部分（例如第二导线150B）将第一接垫结构130的第二子接垫130B的第二接线端连接至第一感测结构110的第二端110B。并且，导线结构150的第三部分（例如第三导线150C）则用来将各个第二感测结构120连接至对应的第二接垫结构140。在本实施例中，第一接垫结构130可以选用图1A至图1E的接垫结构10～50中任一种来实现，因此第一子接垫130A与第二子接垫130B的具体结构设计不以图2所绘示的方式为限。

在同一个第一接垫结构130中，第一子接垫130A与第二子接垫130B分别连接至同一个第一感测结构110的第一端110A与第二端110B（亦即所谓的“双边出线（Doublerouting）”形态）。在这样的设置下，由于同一个第一接垫结构130中的第一子接垫130A与第二子接垫130B彼此分离，第一子接垫130A、对应的第一导线150A、第一感测结构110、对应的第一导线150B与第二子接垫130B可以形成一回路，而有助于应用于电性测试。只是，在其他的实施例中，同一个第一接垫结构130中，第一子接垫130A与第二子接垫130B是分别连接至不同的二个第一感测结构110的第一端110A与第二端110B，此种实施例的导线分布方式为例如基板上上半部的第一感测结构110皆自左侧第二端110B各连接第一导线150B至第二接垫130B，而基板上下半部的第一感测结构110则皆自右侧第二端110B各连接第一导线150A至第一接垫130A；或是奇数排的第一感测结构110分别自左侧第二端110B各连接第一导线150B至第二接垫130B，而偶数排的第一感测结构110则皆分别自右侧第二端110B各连接第一导线150A至第一接垫130A，也就是第一感测结构110从上到下一左一右地交错进行出线。

由图1A至图1E可知，第一子接垫130A与第二子接垫130B的设计使得第一接垫结构130的整体尺寸大致与第二接垫结构140相同。也就是说，各第一接垫结构130的宽度W130大致上等于各第二接垫结构140的宽度W140，而各第一接垫结构130的长度L130大致上等于各第二接垫结构140的长度L140。如此一来，第一接垫结构130虽然可以提供彼此独立的两个子接垫，仍不至于造成接垫配置区102的面积大幅增加。换言之，本实施例的设计在单个接垫结构的宽度下设置有两个接垫以使接垫布局密度更加紧密。由于接合媒介（例如异方性导电胶）使用体积与接垫配置区102的面积有关，接垫配置区102的面积缩减有助于减少异方性导电胶的使用体积，藉此降低成本以及确保异方性导电胶的信赖性。另外，由图1A至图1E的说明也可知，第一接垫结构130的设计有助于提升测试正确性也可以确保异方性导电胶正确的接合于第一子接垫130A与第二子接垫130B上。

图4为本发明的第二实施例的触控面板的俯视示意图。请参照图4，触控面板200包括多个第一感测结构210、多个第二感测结构220、多个第一接垫结构230、多个第二接垫结构240、多条导线结构250以及基板260，其中第一感测结构210、第二感测结构220、第一接垫结构230、第二接垫结构240以及导线结构250都配置于基板260上并且位于基板260的同一侧。在本实施例中，第一感测结构210与第二感测结构220的设计相同于第一实施例的触控面板100的设计，因此相关的说明可以参照图2与图3。第一接垫结构230划分为第一部分232与第二部分234，且第一部分232与第二部分234分别位于第二接垫结构240的两侧。第二接垫结构240各自具有图1A至图1E的接垫结构10至50中任一种的设计。也就是说，第二接垫结构240各自包括有第一子接垫240A与第二子接垫240B。另外，导线结构250根据所连接的构件而划分为多条第一导线250A、多条第二导线250B、多条第三导线250C以及多条第四导线250D。

以本实施例而言，每一条第一感测结构210的第一端210A与第二端210B都分别连接至一个第一接垫结构230，其中各个第一端210A通过其中一条第一导线250A连接至第一部分232的其中一个第一接垫结构230，而各个第二端210B通过其中一条第一导线250B连接至第二部分234的其中一个第一接垫结构230。同时，每一条第二感测结构220的第一端220A与第二端220B都分别连接至同一个第二接垫结构240的第一子接垫240A与第二子接垫240B，其中各个第一端220A通过其中一条第三导线250C连接至其中一个第二接垫结构240的第一子接垫240A，而各个第二端220B通过其中一条第四导线250D连接至其中一个第二接垫结构240的第二子接垫240B。另外，为了使布线路径长度较为均匀，第三导线250C有一部分可以行经第一导线250A的外侧，而另一部分行经第二导线250B的外侧。

根据图1A至图1E的相关说明可知，第二接垫结构240的设计方式可以提升触控面板200与外部构件接合时的信赖性，同时可以提升触控面板200的测试正确性。另外，第二接垫结构240的设计可以让触控面板200的接垫配置区缩减而有助于减少接合媒介（例如异方性导电胶）的使用量与体积，藉此降低成本。同时，异方性导电胶的体积所减可以降低因为异方性导电胶在制作过程中基于温度差异导致体积变化时，异方性导电胶的体积变化造成的信赖性不佳的现象。

触控面板100与触控面板200都是将感测构件配置于同一个基板的同一侧，因此第一接垫结构与第二接垫结构仅有一者具有图1A至图1E般的成对的接垫设计以避免导线结构相互交错。不过，本发明不以此为限。举例而言，图5为本发明的第三实施例的触控面板的侧视示意图，而图6与图7为图5的触控面板中第一感测层与第二感测层的俯视示意图。请先参照图5，触控面板300包括第一感测层300A、第二感测层300B与间隔层300C，其中间隔层300C夹于第一感测层300A与第二感测层300B之间。也就是说，间隔层300C具有相对的第一侧S1与第二侧S2，而第一感测层300A与第二感测层300B分别配置于第一侧S1与第二侧S2。

同时参照图5与图6，第一感测层300A包括多个第一感测结构310、第一接垫结构320以及多第一导线结构330，其中第一感测结构310各自沿第一方向D1延伸，为长条状的导体图案。第一接垫结构320各自具有如图1A至图1E的接垫结构10至50任一种的设计。因此，第一接垫结构320各自包括一第一子接垫320A与一第二子接垫320B。各个第一子接垫320A通过其中一条第一导线结构330连接于其中一个第一感测结构310的第一端310A，而各个第二子接垫320B通过其中一条第一导线结构330连接于其中一个第一感测结构310的第二端310B。并且，同一个第一感测结构310的第一端310A与第二端310B连接至同一个第一接垫结构320的第一子接垫320A与第二子接垫320B。同样地，同如前述对图2的说明，在其他的实施例中，同一个第一接垫结构320中，第一子接垫320A与第二子接垫320B是分别连接至不同的二个第一感测结构310的第一端310A与第二端310B，此种实施例的导线分布方式为例如基板上上半部的第一感测结构310皆自左侧第一端310A各连接左侧的一条第一导线结构330至第二接垫320B，而基板上下半部的第一感测结构310则皆自右侧第二端310B各连接右侧的一条第一导线结构330至第一接垫320A；或者是奇数排的第一感测结构310分别自左侧第一端310A各连接左侧的一条第一导线结构330至第二接垫320B，而偶数排的第一感测结构310则皆分别自右侧第二端310B各连接右侧的一条第一导线结构330至第一接垫320A，也就是第一感测结构310从上到下一左一右地交错进行出线。

同时参照图5与图7，第二感测层300B包括多个第二感测结构340、第二接垫结构350以及多第二导线结构360，其中第二感测结构340各自沿第二方向D2延伸，为长条状的导体图案而具有相对的第三端340A与第四端340B。第二接垫结构350各自具有如图1A至图1E的接垫结构10至50任一种的设计。因此，第二接垫结构350各自包括一第三子接垫350A与一第四子接垫350B。各个第三子接垫350A通过其中一条第二导线结构360连接于其中一个第二感测结构340的第三端340A，而各个第四子接垫350B通过其中一条第二导线结构360连接于其中一个第二感测结构340的第四端340B。并且，同一个第二感测结构340的第三端340A与第四端340B连接至同一个第二接垫结构350的第三子接垫350A与第四子接垫350B。另外，图7中以虚线表示第一感测结构310的轮廓以便呈现出第一感测结构310与第二感测结构340的关系。由此可知，第一感测结构310的延伸方向（第一方向D1）相交于第二感测结构340的延伸方向（第二方向D2）。另外，第一感测结构310与第二感测结构340在本实施例中分别为长条状的矩形，但本发明不以此为限。在其他的实施例中，第一感测结构310与第二感测结构340可以分别具有图2所绘示的菱形格串列图案。

由图5至图7可知，触控面板300的接垫结构都采用图1A至图1E的其中一者的设计，因此接垫结构的配置更为紧密，有助于缩减配置接垫结构所需要的面积。另外，触控面板300中的间隔层300C可以是一基板或是一绝缘层。在间隔层300C是基板时，第一感测层300A与第二感测层300B可以是直接配置于基板的相对两侧，但本发明不以此为限。

图8为本发明的第三实施例的触控面板的侧视示意图。在图8中，触控面板400包括前述的第一感测层300A、第二感测层300B与间隔层300C外，还包括有基板400A，其中第一感测层300A、第二感测层300B与间隔层300C的具体结构可以参照图6与图7及前述实施例的说明。在本实施例中，第一感测层300A、间隔层300C与第二感测层300B依序地配置于基板400A上。也就是说，间隔层300C为绝缘层。

图9为本发明的第四实施例的触控面板的侧视示意图。在图9中，触控面板500包括前述的第一感测层300A、第二感测层300B与间隔层300C外，还包括有第一基板500A与第二基板500B，其中第一感测层300A、第二感测层300B与间隔层300C的具体结构可以参照图6与图7及前述实施例的说明。在本实施例中，第一感测层300A配置于第一基板500A上，第二感测层300B配置于第二基板500B上，且第一基板500A与第二基板500B藉由间隔层300C贴附在一起。也就是说，间隔层300C为绝缘胶层。另外，第一感测层300A与第二感测层300B都位于第一基板500A与第二基板500B之间，但本发明不以此为限。在其他的实施例中，第一感测层300A与第一基板500A可以上下颠倒而让第一基板500A位于第一感测层300A与间隔层300C之间。

前述各实施例的触控面板皆以在同一基板的同一层上布设有相交错的第一感测结构与第二感测结构为例，或是在同一基板的不同层或是不同基板上分别分布有第一感测层与第二感测层为例，只是事实上，本发明所公开的接垫结构设计亦可以应用在基板上只具有第一感测结构或第二感测结构的单层且单感测结构的触控面板上。

综上所述，本发明的实施例的触控面板将连接于同一个感测结构的两个子接垫设计成对且形状互补，让成对且形状互补的这两个子接垫具有相反的宽度变化趋势，且两个子接垫的整体尺寸约等于单个独立接垫的尺寸。如此一来，接垫配置更为密集，且接垫配置区更为缩减，这有助于减少接合媒介（例如异方性导电胶）的使用量与配置体积。同时，子接垫各自的宽度并非固定不变，其中子接垫的较宽区域可以提供足够的面积而便利于测试作业的进行。整体而言，本发明实施例的触控面板可以缩减接垫配置面积以节省接合媒介的成本以及减缓接合媒介所导致的问题，还可以保持测试作业的正确性。

Claims (33)

1.一种接垫结构，该接垫结构被布置于触控面板中，该接垫结构包括：

一第一子接垫，该第一子接垫具有位于相对二端的一第一接线端与一第一末端，该第一接线端的一宽度大于该第一末端的一宽度；以及

一第二子接垫，该第二子接垫与该第一子接垫彼此邻近但分离，且该第二子接垫具有位于相对二端的一第二接线端与一第二末端，该第二接线端的一宽度大于该第二末端的一宽度，其中该第一接线端邻近该第二末端，且该第二接线端邻近该第一末端；

其中，该第一子接垫的一第一轮廓与该第二子接垫的一第二轮廓以成对且互补的一形态共同组成该接垫结构的一形状；

其中该触控面板包括感测结构以及导线结构；该感测结构具有相对的一第一端与一第二端，该导线结构将该接垫结构的该第一子接垫与该第二子接垫连接至该感测结构的该第一端与该第二端。

2.如权利要求1所述的接垫结构，其中该第一子接垫的宽度由该第一接线端向该第一末端逐渐缩减，且该第二子接垫的宽度由该第二接线端向该第二末端逐渐缩减。

3.如权利要求1所述的接垫结构，其中各该接垫结构具有一延长方向，由该第一接线端指向该第二接线端，各该接垫结构中，该第一子接垫沿着该延长方向的宽度变化趋势相反于该第二子接垫沿着该延长方向的宽度变化趋势。

4.如权利要求1所述的接垫结构，其中该第一子接垫的该第一轮廓与该第二子接垫的该第二轮廓呈点对称关系。

5.如权利要求1所述的接垫结构，其中：

该第一子接垫包括相邻的一第一测试部与一第一压焊部，该第一接线端为该第一测试部的远离于该第一压焊部的一端，而该第一末端为该第一压焊部的远离于该第一测试部的一端；以及该第二子接垫包括相邻的一第二测试部与一第二压焊部，该第二接线端为该第二测试部的远离于该第二压焊部的一端，而该第二末端为该第二压焊部的远离于该第二测试部的一端。

6.如权利要求5所述的接垫结构，其中该第一子接垫与该第二子接垫之间相隔一间隙，且该第一压焊部、该间隙与该第二压焊部的一整体宽度等于该第一测试部或该第二测试部的一宽度。

7.如权利要求6所述的接垫结构，其中该第一压焊部与该第二压焊部之间的该间隙为直线状、波浪状或是折曲状。

8.如权利要求5所述的接垫结构，其中该第一测试部的一宽度等于该第二测试部的一宽度。

9.如权利要求1所述的接垫结构，其中该第一子接垫与该第二子接垫分别具有L形或是似L形且颠倒互补的该第一轮廓与该第二轮廓。

10.如权利要求1所述的接垫结构，其中该第一子接垫与该第二子接垫分别具有梯形或是似梯形且颠倒互补的该第一轮廓与该第二轮廓。

11.如权利要求1所述的接垫结构，其中该接垫结构的该形状为一矩形。

12.一种触控面板，该触控面板包括：

多个第一感测结构，该些第一感测结构各自具有相对的一第一端与一第二端；

多个第二感测结构，该些第二感测结构与该些第一感测结构交错设置；

多个第一接垫结构，每一该第一接垫结构包括一第一子接垫与一第二子接垫，并且该第一子接垫的一第一轮廓与该第二子接垫的一第二轮廓以成对且互补的一形态共同组成各该第一接垫结构的一形状；

多个第二接垫结构；以及

多条导线结构，该些导线结构的一第一部分与一第二部分别将各该第一接垫结构的该第一子接垫与该第二子接垫连接至同一个或不同的第一感测结构的该第一端与该第二端，并且一第三部分将该些第二接垫结构连接至该些第二感测结构。

13.如权利要求12所述的触控面板，其中：

该第一子接垫具有位于相对二端的一第一接线端与一第一末端，该第一接线端的一宽度大于该第一末端的一宽度；以及

该第二子接垫与该第一子接垫彼此邻近但分离，且该第二子接垫具有位于相对二端的一第二接线端与一第二末端，该第二接线端的一宽度大于该第二末端的一宽度，其中该第一接线端邻近该第二末端，且该第二接线端邻近该第一末端。

14.如权利要求13所述的触控面板，其中该些导线结构的该第一部分包括多条第一导线以及该第二部分包括多条第二导线，该些第一导线连接于该些第一感测结构的该些第一端以及该些第一子接垫的该些第一接线端之间，该些第二导线连接于该些第一感测结构的该些第二端以及该些第二子接垫的该些第二接线端之间。

15.如权利要求13所述的触控面板，其中该些第二感测结构各自具有相对的一第三端与一第四端，各该第二接垫结构包括一第三子接垫与一第四子接垫，且该第三子接垫的一第三轮廓与该第四子接垫的一第四轮廓以成对且互补的一形态共同组成各该第二接垫结构的一形状。

16.如权利要求15所述的触控面板，其中该第三子接垫与该第四子接垫彼此邻近但分离并分别连接至同一个或不同的第二感测结构的该第三端与该第四端，其中该第三子接垫具有位于相对二端的一第三接线端与一第三末端，该第三接线端的宽度大于该第三末端的宽度，该第四子接垫具有位于相对二端的一第四接线端与一第四末端，该第四接线端的宽度大于该第四末端的宽度，且该第三接线端邻近该第四末端，而该第四接线端邻近该第三末端。

17.如权利要求12所述的触控面板，其中各该第一接垫结构的一宽度等于各该第二接垫结构的一宽度。

18.如权利要求12所述的触控面板，其中各该第一接垫结构的一长度等于各该第二接垫结构的一长度。

19.如权利要求12所述的触控面板，还包括一基板，其中该些第一感测结构、该些第二感测结构、该些第一接垫结构、该些第二接垫结构以及该些导线结构配置于该基板上。

20.如权利要求12所述的触控面板，其中该些第一接垫结构与该些第二接垫结构相邻并排成一列。

21.如权利要求12所述的触控面板，还包括一间隔层，该间隔层具有相对的一第一侧与一第二侧，该些第一感测结构、该些第一接垫结构以及该些导线结构的该第一部分配置于该第一侧，而该些第二感测结构、该些第二接垫结构以及该些导线结构的该第二部分配置于该第二侧。

22.如权利要求12所述的触控面板，其中该些第一感测结构配置于一第一基板上，该些第二感测结构配置于一第二基板上，且该第一基板与该第二基板藉由一间隔层贴附在一起。

23.一种触控面板，该触控面板包括：

一基板；

多个感测结构，该些感测结构布置在该基板上，各该感测结构具有相对的一第一端与一第二端；

多个接垫结构，该些接垫结构布置在该基板上，每一该接垫结构包括一第一子接垫与一第二子接垫，并且该第一子接垫的一第一轮廓与该第二子接垫的一第二轮廓以成对且互补的一形态共同组成各该接垫结构的一形状；以及

多条导线结构，该些导线结构分别将该些接垫结构的该第一子接垫与该第二子接垫分别连接至同一个或不同的感测结构的该第一端与该第二端。

24.如权利要求23所述的触控面板，其中：

该第一子接垫具有位于相对二端的一第一接线端与一第一末端，该第一接线端的一宽度大于该第一末端的一宽度；以及

该第二子接垫与该第一子接垫彼此邻近但分离，且该第二子接垫具有位于相对二端的一第二接线端与一第二末端，该第二接线端的一宽度大于该第二末端的一宽度，其中该第一接线端邻近该第二末端，且该第二接线端邻近该第一末端。

25.如权利要求24所述的触控面板，其中该第一子接垫的一宽度由该第一接线端向该第一末端逐渐缩减，且该第二子接垫的一宽度由该第二接线端向该第二末端逐渐缩减。

26.如权利要求24所述的触控面板，其中各该接垫结构具有一延长方向，由该第一接线端指向该第二接线端，各该接垫结构中，该第一子接垫沿着该延长方向的一宽度变化趋势相反于该第二子接垫沿着该延长方向的一宽度变化趋势。

27.如权利要求24所述的触控面板，其中：

该第一子接垫包括相邻的一第一测试部与一第一压焊部，该第一接线端为该第一测试部的远离于该第一压焊部的一端，而该第一末端为该第一压焊部的远离于该第一测试部的一端；以及该第二子接垫包括相邻的一第二测试部与一第二压焊部，该第二接线端为该第二测试部的远离于该第二压焊部的一端，而该第二末端为该第二压焊部的远离于该第二测试部的一端。

28.如权利要求27所述的触控面板，其中该第一子接垫与该第二子接垫之间相隔一间隙，且该第一压焊部、该间隙与该第二压焊部的整体宽度等于该第一测试部或该第二测试部的一宽度。

29.如权利要求28所述的触控面板，其中该第一压焊部与该第二压焊部之间的该间隙为直线状、波浪状或是折曲状。

30.如权利要求27所述的触控面板，其中该第一测试部的一宽度等于该第二测试部的一宽度。

31.如权利要求23所述的触控面板，其中该第一子接垫的该第一轮廓与该第二子接垫的该第二轮廓呈点对称关系。

32.如权利要求23所述的触控面板，其中该第一子接垫与该第二子接垫分别具有L形或是似L形且颠倒互补的该第一轮廓与该第二轮廓。

33.如权利要求23所述的触控面板，其中该第一子接垫与该第二子接垫分别具有梯形或是似梯形且颠倒互补的该第一轮廓与该第二轮廓。