CN104862781B - 一种ⅲ族氮化物晶体的生长方法 - Google Patents
一种ⅲ族氮化物晶体的生长方法 Download PDFInfo
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Abstract
一种Ⅲ族氮化物晶体的生长方法,包括以下步骤:把C片、固体的Ga‑Na源材料及籽晶一起放于反应釜的坩埚中,密封反应釜,将反应釜加压升温至预定的过渡条件;Ga‑Na源材料由固体变为Ga‑Na溶液,C片由于密度小于Ga‑Na溶液而漂浮在气液界面,同时C片开始在Ga‑Na溶液上部区域缓慢溶解,使得Ga‑Na溶液上部区域处于高C浓度氛围下;对反应釜继续加压升温,加压升温至预定的生长条件(700~1000℃,1~50MPa),籽晶处开始GaN单晶生长;GaN单晶达到目标厚度后,对反应釜降温降压并排除废液并取出晶体。本发明通过抑制N与Ga的结合,阻止GaN多晶的形成,提高了GaN单晶的生长速率。
Description
技术领域
本发明涉及半导体材料技术领域,具体地说是一种Ⅲ族氮化物晶体的生长方法。
背景技术
氮化镓(GaN)等Ⅲ族氮化物半导体,具有不同于传统半导体材料的优异性能,在光探测、光通讯、固体光源、全色显示等方面有着广阔的应用前景和巨大的市场潜力。目前,GaN晶体的生长方法主要有氢化物气相外延(Hydride vapor phase epitaxy)、高温高压法(High-pressure solution growth method)、氨热法(Ammothermal growth method)和钠流法(Na flux method)。由于晶体所需的生长条件适中,钠流法是制备高质量的GaN单晶体材料的优选技术。在钠流法中,碳(C)通过与溶液中的N形成C-N键达到束缚N的作用,可以减少Ga-Na溶液气液界面的多晶形成,增加目标溶液区域N的浓度,从而提高GaN单晶的生长速率,因此气液界面高的C浓度有利于该区域对N的束缚,减少多晶形成。一般地,将C粉末、Ga/Na原材料、以及籽晶一起放置于反应釜的坩埚中,经高温高压C溶解于Ga/Na溶液,分布在溶液气液界面的C起到束缚N的作用,达到阻止自发形核生长GaN多晶的目的。由于各原材料的放置位置、反应釜内的氮气流动、溶液溶解流动等不确定性,该C源添加方法存在C溶解后在Ga/Na溶液中的分布随机性比较大,不能满足钠流法生长GaN单晶时气液界面高C浓度的要求。
发明内容
本发明公开了一种Ⅲ族氮化物晶体的生长方法,通过抑制N与Ga的结合,阻止GaN多晶的形成,从而显著地提高了GaN单晶的生长速率。
为了解决上述技术问题,本发明采取以下技术方案:
一种Ⅲ族氮化物晶体的生长方法,包括以下步骤:
把C片、固体的Ga-Na源材料及籽晶一起放于反应釜的坩埚中,密封反应釜,将反应釜加压升温至预定的过渡条件,该预定的过渡条件是温度为50~800℃,压力为0.1~20MPa;
Ga-Na源材料由固体变为Ga-Na溶液,C片由于密度小于Ga-Na溶液而漂浮在气液界面,同时C片开始在Ga-Na溶液上部区域缓慢溶解,使得Ga-Na溶液上部区域处于高C浓度氛围下;
对反应釜继续加压升温,加压升温至预定的生长条件,该预定的生长条件是温度为700~1000℃,压力为1~50MPa,籽晶处开始GaN单晶生长;
GaN单晶达到目标厚度后,对反应釜降温降压并排除废液并取出晶体。
所述C片为C粉末或C颗粒通过模压成型、等静压成型或人工晶体生长方式形成的C片,或者是天然形成的C片。
一种Ⅲ族氮化物晶体的生长方法,包括以下步骤:
把固定的Ga-Na源材料及籽晶一起放于反应釜的坩埚中,在反应釜内储存C颗粒,密封反应釜,将反应釜加压升温至预定的过渡条件,该预定的过渡条件是温度为50~800℃,压力为0.1~20MPa;
将反应釜加压升温到预定的过渡条件后,Ga-Na源材料由固体变为Ga-Na溶液,此时使C颗粒落入Ga-Na溶液中,在Ga-Na溶液表面张力和浮力的共同作用下,C颗粒漂浮在气液界面,C颗粒开始在Ga-Na溶液上部区域缓慢溶解;
对反应釜继续加压升温,加压升温至预定的生长条件,该预定的生长条件是温度为700~1000℃,压力为1~50MPa,籽晶处开始GaN单晶生长;
GaN单晶达到目标厚度后,对反应釜降温降压并排除废液并取出晶体。
所述C颗粒为连续掉落或者按照预设间隔时间间隔掉落到Ga-Na溶液中。
所述反应釜内设有颗粒掉落器,C颗粒放置在该颗粒掉落器内。
所述C颗粒的颗粒度大小为1-400目。
所述C片和C颗粒由石墨、石墨烯和碳纳米管中的一种或一种以上组成。
本发明采取在整个晶体生长过程中Ga-Na溶液气液界面区域供应C源的方式,使得Ga-Na溶液气液界面区域的C浓度一直处于高位状态,保证Ga-Na溶液气液界面区域溶解的N几乎全部形成C-N键而被束缚,从而该区域N与Ga的结合受到抑制,GaN多晶的形成被阻止,最终显著地提高了GaN单晶的生长速率。
附图说明
附图1为本发明实施例一对应的反应釜装置结构示意图;
附图2为本发明实施例二对应的反应釜装置结构示意图。
具体实施方式
为了便于本领域技术人员的理解,下面结合附图对本发明作进一步的描述。
实施例一,一种Ⅲ族氮化物晶体的生长方法,如附图1所示,包括以下步骤:
S1,把C片41、固体的Ga-Na源材料及籽晶5一起放于反应釜11的坩埚12中,密封反应釜,将反应釜加压升温至预定的过渡条件,该预定的过渡条件是温度为50~800℃,压力为0.1~20MPa,在本实施例一中,半反应釜加温至150℃,加压至10MPa。该C片为C粉末或C颗粒通过模压成型、等静压成型或人工晶体生长方式形成的C片,或者是天然形成的C片。
S2,Ga-Na源材料由固体变为Ga-Na溶液6,C片由于密度小于Ga-Na溶液而漂浮在气液界面,同时C片开始在Ga-Na溶液上部区域缓慢溶解,使得Ga-Na溶液上部区域处于高C浓度氛围下,即Ga-Na溶液上部区域的C含量较高。
S3,对反应釜继续加压升温,加压升温至预定的生长条件,该预定的生长条件是温度为700~1000℃,压力为1~50MPa,Ga-Na溶液6上部区域在高C浓度氛围下,N被C-N键束缚,N与Ga的结合受到抑制,几乎没有GaN多晶产生,籽晶5处开始GaN单晶生长。在本实施例一中,此时将反应釜升温至800℃,加压至20 MPa。
S4,GaN单晶达到目标厚度后,对反应釜降温降压并排除废液并取出晶体。
实施例二,一种Ⅲ族氮化物晶体的生长方法,如附图2所示,包括以下步骤:
S1,把固定的Ga-Na源材料及籽晶5一起放于反应釜11的坩埚12中,在反应釜11内储存C颗粒42,密封反应釜,将反应釜加压升温至预定的过渡条件,该预定的过渡条件是温度为50~800℃,压力为0.1~20MPa,本实施例二中将反应釜升温至100℃,加压至1MPa。该C颗粒的颗粒度大小为1-400目。
S2,将反应釜加压升温到预定的过渡条件后,Ga-Na源材料由固体变为Ga-Na溶液,此时使C颗粒落入Ga-Na溶液中,在Ga-Na溶液表面张力和浮力的共同作用下,C颗粒漂浮在气液界面,C颗粒开始在Ga-Na溶液上部区域缓慢溶解,使得Ga-Na溶液上部区域的C含量较高,Ga-Na溶液6上部区域在高C浓度氛围下。对于C颗粒的掉落,可以连续掉落,也可以按照预设的间隔时间每隔一段时间掉落,该间隔时间可以在1分钟~10小时的范围区间,具体可根据实际需要进行灵活选择。进一步,可以预先在反应釜11内设置一个颗粒掉落器43,可安装在反应釜顶面盖的内表面,或者其他位置,在此没有限定。将C颗粒储存在该C颗粒掉落器,预先设置好相应的程序,使得该C颗粒掉落器按照预设的要求掉落C颗粒。
S3,对反应釜11继续加压升温,加压升温至预定的生长条件,该预定的生长条件是温度为700~1000℃,压力为1~50MPa,在本实施例二中,将反应釜继续升温至850℃,加压至5MPa,Ga-Na溶液6上部区域在高C浓度氛围下,N被C-N键束缚,N与Ga的结合受到抑制,几乎没有GaN多晶产生,籽晶5处开始GaN单晶生长。
S4,GaN单晶达到目标厚度后,对反应釜降温降压并排除废液并取出晶体。
此外,对于以上涉及的C片和C颗粒,均由石墨、石墨烯和碳纳米管等所有C同素异形体中的一种或一种以上组成。
对反应釜11的升温加压,可在反应釜的外围设置加热器,如在反应釜11的侧壁外围设置加热器31,在反应釜的底面设置加热器32,通过反应釜上的气体管道21进行氮气的引入及加压,气体管道内设置相应的气体阀门22。此为常规技术手段,在此不再详细赘述。
需要说明的是,以上所述并非是对本发明技术方案的限定,在不脱离本发明的创造构思的前提下,任何显而易见的替换均在本发明的保护范围之内。
Claims (3)
1.一种Ⅲ族氮化物晶体的生长方法,包括以下步骤:
把固定的Ga-Na源材料及籽晶一起放于反应釜的坩埚中,在反应釜内储存C颗粒,反应釜内设有颗粒掉落器,C颗粒放置在该颗粒掉落器内,密封反应釜,将反应釜加压升温至预定的过渡条件,该预定的过渡条件是温度为50~800℃,压力为0.1~20MPa;
将反应釜加压升温到预定的过渡条件后,Ga-Na源材料由固体变为Ga-Na溶液,此时使C颗粒落入Ga-Na溶液中,在Ga-Na溶液表面张力和浮力的共同作用下,C颗粒漂浮在气液界面,C颗粒开始在Ga-Na溶液上部区域缓慢溶解;
对反应釜继续加压升温,加压升温至预定的生长条件,该预定的生长条件是温度为700~1000℃,压力为1~50MPa,籽晶处开始GaN单晶生长;
GaN单晶达到目标厚度后,对反应釜降温降压并排除废液并取出晶体。
2.根据权利要求1所述的Ⅲ族氮化物晶体的生长方法,其特征在于,所述C颗粒为连续掉落或者按照预设时间间隔掉落到Ga-Na溶液中。
3.根据权利要求2所述的Ⅲ族氮化物晶体的生长方法,其特征在于,所述C颗粒的颗粒度大小为1-400目。
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