CN104660253B - 一种具有锁相环的测量装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种具有锁相环的测量装置，包括参考信号产生单元、鉴相单元、压控振荡器、分频器、第一整形钳位电路、第二整形钳位电路、加减运算单元、检波比较电路，第一整形钳位电路的输入端连接到参考信号产生单元的输出端和鉴相单元的第一输入端之间，第二整形钳位电路连接到分频器的输出端和鉴相单元的第二输入端之间，加减运算单元的两个输入端分别连接到两个整形钳位电路的输出端，且两个整形钳位电路输出相同形状的信号，检波比较电路将加减运算单元输出的信号与一个阈值电压进行比较，输出比较结果。本发明通过将相位差通过整形钳位转换为幅度差、再进行检波比较，最终得到锁相环的工作状态，检测结果准确、快速。

Description

一种具有锁相环的测量装置

技术领域

本发明涉及测量、测试技术领域，特别是涉及一种具有锁相环的测量装置。

背景技术

在测量、测试领域中，锁相环（PLL，Phase Locked Loop）是很多测量仪器中重要的组成部分，比如射频信号源、频谱分析仪、矢量信号发生器等测量装置中均用到了锁相环。

在射频信号源中，例如专利号为US8044725的美国专利“Signal generator withdirectly-extractable DDS signal source”就公开了一种射频信号源，其中锁相环用于产生一定频率范围的射频信号，然后再进行倍频/分频而最终作为输出射频信号。

在频谱分析仪中，通常第一本振均采用锁相环构成，以产生一定频率范围的射频信号，与频谱分析仪输入端输入的被测信号进行混频，得到中频信号。例如专利申请号为201210428646.0的中国公开专利申请文件中，就公开了一种频谱分析仪，它的第一本振采用锁相环实现，它的输出信号范围覆盖频谱分析仪的射频信号输入范围。

锁相环具有固定的电路结构，例如专利申请号为201110431516.8、201110431636.8等中国公开专利申请文件中就公开了关于锁相环的电路结构。参考附图1，示出了一种锁相环100的电路结构，锁相环100包括一个参考信号产生单元101、一个鉴相单元102、一个压控振荡器103、一个分频器104，还可以包括一个控制单元106，在所述鉴相单元102和压控振荡器103之间还可以设置有环路滤波器105。

其中，所述参考信号产生单元101的输出端与所述鉴相单元102的第一输入端连接，所述鉴相单元102的第二输入端与所述分频器104的输出端连接，所述鉴相单元102的输入端与所述环路滤波器105的输入端连接，所述环路滤波器105的输出端与压控振荡器103的输入端连接，所述压控振荡器103的输出端与所述分频器104的输入端连接，控制单元106则分别控制所述参考信号产生单元101和分频器104，所述压控振荡器103的输出端还作为锁相环100的输出端输出信号。

当所述锁相环工作时，所述控制单元106控制参考信号产生单元101产生一路参考信号，并配置给分频器104具体的分频比，鉴相单元102则实现参考信号和分频器104的输出信号的鉴相，并根据鉴相结果输出信号，环路滤波器105进行滤波，最终输出给压控振荡器103，压控振荡器103根据输入信号幅度的不同而输出不同频率的信号。

但是，当测量装置需要锁相环100输出的信号由一个频率切换到另一个频率时，锁相环并不能立刻实现该切换步骤，这是因为锁相环100的压控振荡器103输出的信号受鉴相单元102的鉴相结果的控制，而在频率切换时，分频器104输出的信号并不能立刻符合要求，鉴相单元102的两路输入信号之间的相位是逐渐收敛的，最终鉴相单元102才能输出符合要求的鉴相信号给压控振荡器103，压控振荡器103才能输出指定频率的信号，此时锁相环100才能正常工作。

锁相环100的这种在频率切换时逐渐收敛的过程也是测量装置的一个指标，被称为频率切换时间，具体定义是频率稳定到预设频率的某个范围内所需的时间。测量装置为了更准确的获得测量数据，一般都会标注该频率切换时间，或者检测锁相环100是否正常工作，并输出一个正常工作的信号，通常是一个脉冲，告知用户此时测量装置已经正常工作。

而为了实现上述目的，专利申请号为02106050.9中国专利申请公开了一种锁相检测电路，该锁相检测电路利用计数器分别对输入给鉴相器的两路输入信号（即参考信号和分频器的反馈信号）进行计数，当参考信号和反馈信号的频率相等时两个计数器的数值相等，当两个计数器的计数数值相等时用第三个计数器开始计数，并计数一定数值得到锁相环的锁定状态。这种方法并不能适用于目前的测量装置的要求，原因是目前的测量装置中的锁相环一般都输出很高频率的信号（都在GHz以上），一般其鉴相频率（即输入给鉴相器的信号的频率）也都比较高，现有的计数器难以有效实现对高频率的信号的准确计数，使得检测不够准确，不适用于测量装置中。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了一种具有锁相环的测量装置，可以准确实现对锁相环的锁定状态进行检测的方案，且电路实现简单。

本发明所述的具有锁相环的测量装置包括：一个参考信号产生单元、一个鉴相单元、一个压控振荡器、一个分频器，

所述参考信号产生单元的输出端与所述鉴相单元的第一输入端连接，所述鉴相单元的输出端与所述压控振荡器的输入端连接，所述压控振荡器的输出端与所述分频器的输入端连接，所述分频器的输出端与所述鉴相单元的第二输入端连接；

还包括第一整形钳位电路、第二整形钳位电路、加减运算单元、检波比较电路，

所述第一整形钳位电路的输入端连接到所述参考信号产生单元的输出端和所述鉴相单元的第一输入端之间，所述第二整形钳位电路连接到所述分频器的输出端和所述鉴相单元的第二输入端之间，

所述加减运算单元的两个输入端分别连接到所述第一整形钳位电路和所述第二整形钳位电路的输出端，且所述第一整形钳位电路和所述第二整形钳位电路的输出端输出的信号为相同形状的信号，

所述检波比较电路的输入端连接到所述加减运算单元的输出端，所述检波比较电路将所述加减运算单元输出的信号与一个阈值电压进行比较，输出比较结果。

本发明所述的具有锁相环的测量装置中，在锁相环工作时，所述第一整形钳位电路和第二整形钳位电路分别对所述参考信号产生单元产生的参考信号和分频器产生的反馈信号进行整形钳位处理，输出相同形状的处理后信号，该两路信号形状相同、且具有固定的幅度，因此可以进行加/减运算，得到一个加/减运算后的值，然后对加/减运算后的值进行检波比较处理，设置一个阈值电压，使加/减运算后的值与该阈值电压进行比较，根据比较结果来判断锁相环是否锁定，整个过程将信号的相位转换为电压值，然后对电压值进行判断处理，检测结果准确，电路简单。

作为一个举例说明，本发明所述的具有锁相环的测量装置中，所述第一整形钳位电路和所述第二整形钳位电路输出端输出的信号为相同形状、相同幅度的信号。

作为一个举例说明，本发明所述的具有锁相环的测量装置中，所述第一整形钳位电路和所述第二整形钳位电路输出的相同形状、相同幅度的信号均为方波信号。

作为一个举例说明，本发明所述的具有锁相环的测量装置中，所述加减运算单元为加法电路或减法电路。

作为一个举例说明，本发明所述的具有锁相环的测量装置中，所述检波比较电路包括依次串联连接的一个检波电路、一个低通滤波器和一个比较器，所述比较器的比较电压即为所述阈值电压。

作为一个举例说明，本发明所述的具有锁相环的测量装置中，当所述第一整形钳位电路和所述第二整形钳位电路输出的信号为相同形状、相同幅度的信号时，所述比较器的比较电压为所述第一整形钳位电路或第二整形钳位电路输出的信号的幅度值。

作为一个举例说明，本发明所述的具有锁相环的测量装置中，在至少所述第一整形钳位电路和所述第二整形钳位电路之一的输入端处还设置有移相器。

作为一个举例说明，本发明所述的具有锁相环的测量装置中，所述第一整形钳位电路和所述第二整形钳位电路均包括一个电容、一个电阻和一个反相器，所述电容串接在所述反相器的输入端，所述电阻连接在所述反相器的输入端和输出端之间。

作为一个举例说明，本发明所述的具有锁相环的测量装置中，所述第一整形钳位电路和所述第二整形钳位电路中的反相器由同一反相器芯片中的两个相同反向器实现。

作为一个举例说明，本发明所述的具有锁相环的测量装置中，所述鉴相单元采用三态鉴相器。

本发明提供的具有锁相环的测量装置能够准确检测锁相环的锁定状态，电路实现简单，适用于各种类型的鉴相器，且成本较低。

附图说明

图1是本发明背景技术中锁相环100的电路原理图；

图2是本发明的测量装置200的电路原理图；

图3是本发明的测量装置200的又一电路原理图；

图4是本发明的测量装置200的参考信号和反馈信号的关系示意图；

图5是本发明的测量装置200中移相器的电路原理图；

图6是本发明的测量装置200的又一电路原理图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

结合参考附图2，本发明提供一种具有锁相环的测量装置200，测量装置200具有与背景技术中相同的锁相环100，包括参考信号产生单元101、鉴相单元102、压控振荡器103、分频器104，还包括第一整形钳位电路201、第二整形钳位电路202、加减运算单元203、检波比较电路204；

所述参考信号产生单元101的输出端与所述鉴相单元102的第一输入端连接，所述鉴相单元102的输出端与所述压控振荡器103的输入端连接，所述压控振荡器103的输出端与所述分频器104的输入端连接，所述分频器104的输出端与所述鉴相单元102的第二输入端连接；所述第一整形钳位电路201的输入端连接到所述参考信号产生单元101的输出端和所述鉴相单元102的第一输入端之间，所述第二整形钳位电路202连接到所述分频器104的输出端和所述鉴相单元102的第二输入端之间，

所述加减运算单元203的两个输入端分别连接到所述第一整形钳位电路201和所述第二整形钳位电路202的输出端，且所述第一整形钳位电路201和所述第二整形钳位电路202的输出端输出的信号为相同形状的信号，

所述检波比较电路204的输入端连接到所述加减运算单元203的输出端，所述检波比较电路204将所述加减运算单元203输出的信号与一个阈值电压V0进行比较，输出比较结果。

具体工作时，所述参考信号产生单元101产生一路参考信号f_r，所述分频器104产生反馈信号f_n，两路信号均输出给所述鉴相单元102，鉴相单元102对该两路信号进行鉴相处理，得到和相位相关的电压信号，所述压控振荡器103在所述鉴相单元102输出的和相位相关的电压信号的控制下产生对应频率的输出信号，该输出信号一方面作为锁相环的输出信号，另一方面输出给所述分频器104做反馈用；在此过程中，所述第一整形钳位电路201也接收所述参考信号产生单元101产生的参考信号f_r，对该参考信号f_r进行整形钳位处理输出信号f1，所述第二整形钳位电路202也接收所述分频器104产生的反馈信号f_n，对该反馈信号f_n进行整形钳位处理输出信号f2，其中信号f1和信号f2是相同形状的信号，且信号f1的幅度为V1,、信号f2的幅度为V2，一般情况下参考信号f_r为固定频率、固定相位的信号，因此信号f1的幅度V1和相位也是固定的；而信号f2的幅度V2是固定的、相位则是随着反馈信号f_n的相位变化而变化；所述加减单元203对信号f1和信号f2做加法或减法运算，得到信号f3，由于信号f2的相位是变化的、信号f1的相位是固定的，因此信号f3的幅度也是变化的，检波比较单元204检波信号f3得到检波电压（即信号f3的电压V3），并将电压V3与阈值电压V0进行比较，阈值电压V0是一个定值。当锁相环趋于稳定时，反馈信号f_n的频率和相位值向一个固定相位值靠拢，信号f2的相位会达到某个固定范围，信号f3的电压值V3随之达到某个范围，当信号f3的电压值V3与参考电压V0具有固定的大小关系时，就可判断出锁相环是否达到稳定状态（即是否锁定），并输出比较结果，实现对锁相环的检测。

作为说明，所述参考信号产生单元101具有多种实现方式，可以是由DDS信号源直接实现，进而输出固定频率或者频率可调的参考信号；也可以是由晶体振荡器直接实现，输出固定频率的参考信号；也可以由DDS信号源和晶体振荡器混频后实现，输出一定频率范围的参考信号或固定参考信号，等等。

作为说明，所述鉴相单元102可以是由模拟鉴相器实现，例如三态鉴相器，也可以是由数字鉴相器实现，还可以是由混频器实现，等等。

作为说明，所述压控振荡器104可以是一个或多个压控振荡器，以实现更宽频率范围的输出。

作为说明，所述分频器104可以是整数分频器或小数分频器。

作为说明，所述锁相环一般还包括设置在所述鉴相单元102和压控振荡器103之间的环路滤波器，由于此部分并不涉及本发明的保护范围，此处不再赘述。

作为说明，本发明所述的测量装置200还包括一个控制单元，该控制单元可以用于控制整个测量装置的工作状态，并可以接收所述检波比较单元204输出的结果，并可以将该结果作为一个信号输出到测量装置200的外部或者输出给显示器显示。

作为一个举例说明，结合参考附图3，本发明所述的第一整形钳位电路201和第二整形钳位电路202为完全相同的两个整形钳位电路，最终输出相同幅度的两路方波信号f1和f2，即V1=V2，且信号f1和f2均为方波。

所述加减运算单元203采用减法电路实现，即所述加减运算单元203对所述第一整形钳位电路201和第二整形钳位电路202输出的两路信号f1和f2做减法运算，输出对两路信号相减的结果。

所述检波比较单元204包括依次串联连接的检波电路205、低通滤波器206和比较器207，检波电路205对所述加减运算单元203输出的信号进行包络检波，去除其高频成分，得到幅度与相位相关联的低频信号，然后低通滤波器206对该信号进行低通滤波，使检波后的信号输出平滑的信号，然后送给比较器207进行比较处理，比较器207的比较电压即为所述阈值电压V0，然后将比较结果输出，测量装置200获取到比较结果后即可实时知道锁相环的工作状态。

由于信号f1和f2的幅度值相等、相位不同，设V1=Vmcos(ωt)，V2=Vmcos(ωt+φ)，因此V1+V2=2Vmcos(φ/2)cos(ωt+φ/2)，那么经过包络检波和低通滤波后得到的信号的幅度与相位相关的值是：2Vmcos(φ/2)，其中Vm是定值，ω是常数，t是时间，φ是相位。最终，当信号f1和信号f2的相位差为180°时，可以得到最大幅度值2Vm，当两者相位差为0°时，可以得到最小幅度值0（对应加减运算单元203采用减法电路）；而当他们的频率不相等时，其输出幅度约为Vm，所以可以根据此原理来判断锁相环的工作状态。

结合参考附图4，示出了低通滤波器206的输出端的信号与反馈信号f_n之间的关系，此时参考信号f_r已经由测量装置200的当前状态而固定，可以明显看出：当反馈信号f_n的频率远离参考信号f_r时，低通滤波器206输出的信号的电压约为电压Vm，此时锁相环工作不稳定；当反馈信号f_n的频率不断接近参考信号f_r时，低通滤波器206输出的信号幅度会越来越高（此时对应加减运算单元203做加法运算）或越来越低（此时对应加减运算单元203做减法运算），并且当反馈信号f_n的频率与参考信号f_r相等时，低通滤波器206输出的信号的幅度值为最大（2Vm）或最小Vm，此时锁相环已经稳定工作，处于锁定状态，因此可以根据该原理设置一个合适的阈值电压V0，就可以准确、快速的判断出锁相环的工作状态，进而在锁相环达到锁定状态时可以最短时间判断出来，并输出给测量装置200得知，实现对锁相环的准确、快速检测。

作为一种变形，本发明所述的第一整形钳位电路201和第二整形钳位电路202为可以采用不同的整形钳位电路分别实现，输出相同幅度的同形状信号或不同幅度的同形状信号。

作为一种变形，所述第一整形钳位电路201和第二整形钳位电路202输出的信号f1和f2的幅度可以不同，即V1不等于V2，此时也可以根据V1和V2的值选取到合适的阈值电压V0，进而准确得到锁相环的工作状态，即是否锁定。

作为一种变形，所述第一整形钳位电路201和第二整形钳位电路202也可以将输入信号整形为正弦波、余弦波等其他形状的波形，也可以准确实现对锁相环状态的检测。

作为一种变形，所述加减运算单元203还可以采用加法电路实现。

作为一种举例说明，所述比较器207的比较电压V0可以等于电压2Vm（当加减运算单元203做加法运算时）或0（当加减运算单元203做减法运算时）。

作为一种变形，所述比较器207的比较电压V0可以是接近2Vm或0的某个电压值，例如为1.5Vm（当加减运算单元203做加法运算时）或0.5Vm（当加减运算单元203做减法运算时），也能比较准确的检测出锁相环的工作状态。

作为一种变形，所述信号f1和f2的电压值V1和V2如果不相等，那么比较器207的比较电压V0的取值可以是V1+V2（当加减运算单元203做加法运算时）或V1-V2的绝对值（当加减运算单元203做加法运算时），或者是略小于V1+V2（当加减运算单元203做加法运算时）的某一值，或者是略大于V1-V2的绝对值的某一值（当加减运算单元203做加法运算时），可以根据测量装置200对锁相环的锁定状态的要求的准确度来设置。

作为一种举例说明，所述第一整形钳位电路201和所述第二整形钳位电路202均包括一个电容、一个电阻和一个反相器，且两个反相器是同一反相器芯片中的两个相同反向器实现，所述电容串接在所述反相器的输入端，所述电阻连接在所述反相器的输入端和输出端之间。其中，电容的作用是隔离直流，反相器起整形作用，可以将输入的信号整形为方波，电阻则提供反相器的直流反馈，由于反相器的最大输出电压接近其供电电压，因此反相器实际上也对输入信号进行了钳位，使得输出信号的电压值稳定在一个定值；由于两个反相器是同一个反相器芯片中的两个相同反相器，使得两个反相器输出的信号的幅度完全相同，可以实现同幅度输出。

作为一种变形，所述两个反相器也可以分别由不同的反相器芯片或不同反相器电路实现。

作为一种变形，所述第一整形钳位电路201和第二整形钳位电路202还可以采用运算放大器电路实现，还可以采用分开的整形电路和钳位电路串接实现，等等。

作为一种变形，在至少所述第一整形钳位电路201和所述第二整形钳位电路202之一的输入端处还设置有移相器。移相器的作用是将参考信号f_r和反馈信号f_n进行移相，比如当所述鉴相单元102采用混频器时，锁相环锁定状态下的参考信号f_r和反馈信号f_n的相位差不是0°或者180°，一般是90°，不利于后续的检波比较，因此可以设置移相器，将参考信号f_r和反馈信号f_n的相位移相为同相（相位差为0°）或反相（相位差为180°），进而有利于后续判断。此时，可以仅在所述第一整形钳位电路201或所述第二整形钳位电路202之一的输入端处设置一路90°移相器，也可以在两路输入端处分别设置一个45°移相器，共同实现移相。结合参考附图5，示出了一种移相器电路500，所述移相器电路500包括两路分别移相45°的移相器，其中一路包括电容C501和电阻R501，另一路包括电容C502和电阻R502，电容C501和C502电容值相等，电阻R501和R502电阻值相等。对于其中一路，电容C501串联在主干路上，电阻R501则串联在主干路和地之间，对于其中另一路，电阻R502串联在主干路上，电容C502串联在主干路和地之间。当在参考频率f_r下电容C501和C502的容抗等于电阻R501和R502的阻抗时，两路移相器电路分别对参考信号f_r和反馈信号f_n进行移相45°，最终实现输出信号同相或反相的效果。

为了更清楚的说明本发明的技术方案，结合参考附图6，附图6示出了本发明所述的测量装置200的一个具体电路，包括电容C1、C2、C3，电阻R1、R2、R3、R4、R5，反相器U1、U2，二极管D1和D2，比较器U3,。

其中电容C1、反相器U1、电阻R3、二极管D2和比较器U3的一个输入端依次串联连接，电容C2、反相器U2、电阻R4和比较器U3的另一个输入端依次串联连接，电阻R1串接在反相器U1的两端，电阻R2串接在反相器U2的两端，二极管D1连接在电阻R4和电阻R3的输出端处，电容C3和电阻R5并联设置在比较器U3的两输入端之间，比较器U3的输出端输出检测结果。

电容C1、反相器U1和电阻R1共同组成了第一整形钳位电路201，电容C2、反相器U2和电阻R2共同组成了第二整形钳位电路202，分别实现对参考信号f_r和反馈信号f_n的整形钳位处理，分别输出一路等幅度方波信号；电阻R3和R4起限流作用，二极管D1和D2组成倍压检波电路，将经过反相器U1和U2整形钳位后的信号进行检波，由于二极管D1和D2设置在反相器U1和U2之间，因此也对反相器U1和U2输出的信号做了差运算；经过二极管D1和D2差运算和检波后的信号经过电容C3和电阻R5组成的低通滤波器进行滤波后送给比较器U3的两个输入端，当参考信号f_r和反馈信号f_n处于同相时，经过检波后的电压值为0（或接近于0），故滤波后进入比较器U3的电压差为0，比较器U3此时设定为低阈值电压，此时输出锁定信号，表明锁相环处于锁定工作状态；当参考信号f_r和反馈信号f_n处于不同相时，经检波滤波后的电压差大于0，一旦此电压差高于比较器U3的阈值电压，比较器U3即输出失锁信号，表明锁相环处于失锁状态，此时锁相环不能正常工作。

通过以上说明可以看出，本发明的实施例解决了背景技术中存在的现有锁相环检测电路检测不够准确、不适用于测量装置的问题，通过将锁相环中输入给鉴相单元102的参考信号f_r和反馈信号f_n引出，然后进行整形钳位、加/减运算处理，将相位差转换为幅度差，然后对幅度值进行检波比较处理，进而得到锁相环的工作状态，不仅能能够准确检测锁相环的锁定状态，还可以根据需要灵活调整准确度，且电路实现非常简单，适用于各种类型和各种频率的鉴相器，成本比较低。

以上所述的仅为本发明的具体实施例，所应理解的是，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的思想和原则之内所做的任何修改、等同替换等等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种具有锁相环的测量装置，包括一个参考信号产生单元、一个鉴相单元、一个压控振荡器、一个分频器，

所述参考信号产生单元的输出端与所述鉴相单元的第一输入端连接，所述鉴相单元的输出端与所述压控振荡器的输入端连接，所述压控振荡器的输出端与所述分频器的输入端连接，所述分频器的输出端与所述鉴相单元的第二输入端连接；

其特征在于：

还包括第一整形钳位电路、第二整形钳位电路、加减运算单元、检波比较电路，

所述第一整形钳位电路的输入端连接到所述参考信号产生单元的输出端和所述鉴相单元的第一输入端之间，所述第二整形钳位电路的输入端连接到所述分频器的输出端和所述鉴相单元的第二输入端之间，

所述加减运算单元的两个输入端分别连接到所述第一整形钳位电路和所述第二整形钳位电路的输出端，且所述第一整形钳位电路和所述第二整形钳位电路的输出端输出的信号为相同形状的信号，

所述检波比较电路的输入端连接到所述加减运算单元的输出端，所述检波比较电路将所述加减运算单元输出的信号与一个阈值电压进行比较，输出比较结果。

2.根据权利要求1所述的具有锁相环的测量装置，其特征在于：

所述第一整形钳位电路和所述第二整形钳位电路输出端输出的信号为相同形状、相同幅度的信号。

3.根据权利要求2所述的具有锁相环的测量装置，其特征在于：

所述第一整形钳位电路和所述第二整形钳位电路输出的相同形状、相同幅度的信号均为方波信号。

4.根据权利要求3所述的具有锁相环的测量装置，其特征在于：

所述加减运算单元为加法电路或减法电路。

5.根据权利要求1、2、3或4所述的具有锁相环的测量装置，其特征在于：

所述检波比较电路包括依次串联连接的一个检波电路、一个低通滤波器和一个比较器，所述比较器的比较电压即为所述阈值电压。

6.根据权利要求5所述的具有锁相环的测量装置，其特征在于：

当所述第一整形钳位电路和所述第二整形钳位电路输出的信号为相同形状、相同幅度的信号时，

所述比较器的比较电压为所述第一整形钳位电路或第二整形钳位电路输出的信号的幅度值的两倍或0。

7.根据权利要求1、2、3或4所述的具有锁相环的测量装置，其特征在于：

在至少所述第一整形钳位电路和所述第二整形钳位电路之一的输入端处还设置有移相器。

8.根据权利要求3或4所述的具有锁相环的测量装置，其特征在于：

所述第一整形钳位电路和所述第二整形钳位电路均包括一个电容、一个电阻和一个反相器，

所述电容串接在所述反相器的输入端，所述电阻连接在所述反相器的输入端和输出端之间。

9.根据权利要求8所述的具有锁相环的测量装置，其特征在于：

所述第一整形钳位电路和所述第二整形钳位电路中的反相器由同一反相器芯片中的两个相同反相器实现。

10.根据权利要求1所述的具有锁相环的测量装置，其特征在于：

所述鉴相单元采用三态鉴相器。