CN104615018A - 一种调整同测芯片dc参数的方法 - Google Patents

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    • G05B19/02—Programme-control systems electric
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
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Abstract

本发明涉及一种调整同测芯片DC参数的方法，通过控制每个被测试芯片的上电顺序，实现分别调节同测的每个芯片的DC参数值，有效的摆脱了控制信号的影响，减少了测试针卡的探针使用数量，节省了测试仪器的测试通道，解决了现有的多个芯片同测时存在测试针卡探针数量增多，测试仪器资源浪费的技术问题。

Description

一种调整同测芯片DC参数的方法
技术领域
本发明涉及一种调整同测芯片DC参数的方法。
背景技术
当多个芯片同测时，如果需要对同测的每一个芯片DC参数进行调解，那么必须保证每个芯片至少存在一个唯一的控制指令，以达到芯片区分的目的。
以同测数为2的采用时钟信号实现特殊激活指令的测试模型为例，如图1所示，当第一芯片、第二芯片同时上电后，先调节第一芯片的DC参数使之达到目标值，之后由测试针卡的第一探针控制第一时钟信号向该芯片发出第一激活指令，使之处于激活状态，不会被第二芯片指令所影响，再调节第二芯片的DC参数使之达到目标值，由测试针卡第二探针控制第二时钟信号向第二芯片发出第二激活指令。
由于控制指令的实现基于芯片的控制信号，因此，采用传统方法调节同测芯片的DC参数时，必须保证每个芯片至少有一个唯一的控制信号，该控制信号的引入直接导致了测试针卡的探针数量增加，测试仪器资源的浪费，提升了测试成本。
发明内容
为了解决现有的多个芯片同测时存在测试针卡探针数量增多，测试仪器资源浪费的技术问题，本发明提供一种调整同测芯片DC参数方法，通过控制每个被测试芯片的上电顺序，实现分别调节同测的每个芯片的DC参数值，有效的摆脱了控制信号的影响，减少了测试针卡的探针使用数量，节省了测试仪器的测试通道，进而达到节约测试成本的目的。
本发明的技术解决方案：
一种调整同测芯片DC参数的方法，其特殊之处在于：包括以下步骤：
1】测试仪控制第一芯片上电；
2】测试仪对当前上电后芯片进行DC参数调整，使得达到目标值；
3】测试针卡探针发送激活指令，当前上电后芯片接到激活指令后处于激活状态；
4】测试仪控制下一个芯片上电；
5】重复步骤2-4】，直至第N个芯片处于激活状态。
上述测试仪为爱德万测试仪。
有两个测试芯片。
本发明所具有优点：
1、本发明通过控制被测的芯片上电顺序，使得N个被测芯片之间的激活指令可以共享，测试卡针仅需用一个探针，即可完成多个被测试芯片的同测，节省了测试仪器的测试通道，节约测试成本。
2、本发明调整同测芯片DC参数电路的方法，通过逐一控制被测芯片依次上电，使得N个被测芯片之间的激活指令可以共享，因此测试卡针探针共享，达到节约测试成本的目的。
附图说明
图1为芯片DC参数的传统调节方法示意图；
图2为本发明一种芯片DC参数调节流程示意图。
具体实施方式
本发明通过控制每个芯片的上电顺序，实现分别调节同测的每个芯片的DC参数值。该技术有效的摆脱了控制信号的影响，减少了测试针卡探针使用的数量，节省了测试仪器的测试通道，进而达到节约测试成本的目的。
相比于传统同测芯片DC参数调节方法，本发明不再区分被测试芯片之间的控制指令，即同测的所有芯片指令共享，芯片之间的区分由控制芯片间的上电顺序实现。
实施例：
如图2所示，以芯片同测数等于2的测试模型为基础，的DC参数调节方法如下：
首先给第一芯片上电，针对第一芯片1进行DC参数的调节，当DC参数达到目标值后，由测试针卡探针向该芯片发出激活指令，使之处于激活状态，不被第二芯片指令所影响，芯片上电顺序控制单元控制再给第二芯片上电，针对第二芯片进行DC参数的调节，当参数达到目标值后，仍然由同一个测试针卡探针向第二芯片发出激活指令。由于第一芯片的DC参数调节完成后，第二芯片没有被上电，因此，给第一芯片发激活指令时，第二芯片不会被激活。当给第二芯片发出激活指令时，由于第一芯片仍处于激活状态，该指令对第一芯片是一个无效指令，第一芯片仍然维持自身的DC参数值。通过该方法，第一芯片与第二芯片之间的激活指令可以共享，因此测试探针共享，达到节约测试成本的目的。

Claims (3)

1.一种调整同测芯片DC参数的方法，其特征在于：包括以下步骤：
1】测试仪控制第一芯片上电；
2】测试仪对当前上电后芯片进行DC参数调整，使得达到目标值；
3】测试针卡探针发送激活指令，当前上电后芯片接到激活指令后处于激活状态；
4】测试仪控制下一个芯片上电；
5】重复步骤2-4】，直至第N个芯片处于激活状态。
2.根据权利要求1所述的调整同测芯片DC参数的方法，其特征在于：所述测试仪为爱德万测试仪。
3.根据权利要1或2所述的调整同测芯片DC参数的方法，其特征在于：有两个测试芯片。
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