CN101452010A - 用于芯片测试的探针卡及其测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种用于芯片测试的探针卡；包括逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口；逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口分别通过共用测试通道与探针相连，逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口之间连有测试通信通道。本发明同时还提供了一种上述探针卡的测试方法，能够对逻辑测试与存储器测试进行切换和控制。因为本发明将逻辑测试仪与存储器测试仪的接口同时设置在一个探测卡上，且在两接口内部又设置了共用测试通道和测试通信通道，实现对原来需要多平台测试的项目可以在一次扎针的情况下完成测试。

Description

用于芯片测试的探针卡及其测试方法
技术领域
本发明涉及一种用于芯片测试的工具，具体涉及一种用于芯片测试的探针卡。本发明还涉及一种上述探针卡的测试方法。
背景技术
由于探针台比较大，所以许多测试工厂测试仪比探针台多的多，其中存储器测试仪同测资源比较多，但逻辑测试功能比较弱，无法进行逻辑测试、由于测试结构原因也无法实现多芯片多向量的测试。而小型逻辑测试仪价格便宜、测试灵活、可实现对每个通道分别控制，但是通道比较少、同测数比较少、且测试时间比较长。不少芯片(例如SOC芯片)由于既需要进行逻辑测试仪的测试又需要进行存储器测试仪的测试，现有方法只能够通过切换不同测试平台进行测试，降低了测试效率、增加了测试成本。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种用于芯片测试的探针卡，它可以实现对原来需要多平台测试的项目可以在一次扎针的情况下完成测试。为此，本发明还要提供一种上述探针卡的测试方法。
为了解决以上技术问题，本发明提供了一种用于芯片测试的探针卡；包括逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口；逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口分别通过共用测试通道与探针相连，逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口之间连有测试通信通道。
本发明还提供了一种用于芯片测试的探针卡的测试方法，包括如下步骤：(1)逻辑测试仪接口与共用测试通道断开，通过测试通信通道查询触发信号；存储器测试仪接口与共用测试通道连接，存储器测试仪通过探针进行探测；(2)存储器测试仪完成探测后将存储器测试仪接口与共用测试通道断开，进行数据处理，并通过测试通信通道向逻辑测试仪发送触发信号，然后等待逻辑测试仪发送的触发信号；(3)逻辑探测仪接收到触发信号后，将逻辑测试仪接口与共用测试通道连接，进而通过探针进行探测；(4)逻辑测试仪完成探测后将逻辑测试仪接口与共用测试通道断开，进行数据处理，并通过测试通信通道向存储器测试仪发送触发信号，然后等待存储器测试仪发送的触发信号；(5)存储器测仪接收到触发信号后，将存储器测试仪接口与共用测试通道连接，进而通过探针进行探测；(6)重复步骤(2)至步骤(5)，直到测试结束。
因为本发明将逻辑测试仪与存储器测试仪的接口同时设置在一个探测卡上，且在两接口内部又设置了共用测试通道和测试通信通道，实现对原来需要多平台测试的项目可以在一次扎针的情况下完成测试。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细说明。
图1是本发明的探测卡实施的系统装置结构图；
图2是本发明的探针卡的结构示意图；
图3是本发明的探针卡的通道结构示意图。
具体实施方式
如图1所示，本发明的用于芯片测试的探针卡安装在探针台的测试头上，可通过其逻辑测试仪接口与逻辑测试仪相连接，也可通过存储器测试仪接口与存储器测试仪相连接，实现对被测元件的逻辑测试和存储器测试。
如图2所示是本发明的用于芯片测试的探针卡的结构示意图，其包括逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口。如图3所示，逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口分别通过共用测试通道与探针相连，逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口之间连有测试通信通道。
上述结构探针卡的测试方法包括如下步骤：(1)逻辑测试仪接口与共用测试通道断开，通过测试通信通道查询触发信号；存储器测试仪接口与共用测试通道连接，存储器测试仪通过探针进行探测；(2)存储器测试仪完成探测后将存储器测试仪接口与共用测试通道断开，进行数据处理，并通过测试通信通道向逻辑测试仪发送触发信号，然后等待逻辑测试仪发送的触发信号；(3)逻辑探测仪接收到触发信号后，将逻辑测试仪接口与共用测试通道连接，进而通过探针进行探测；(4)逻辑测试仪完成探测后将逻辑测试仪接口与共用测试通道断开，进行数据处理，并通过测试通信通道向存储器测试仪发送触发信号，然后等待存储器测试仪发送的触发信号；(5)存储器测仪接收到触发信号后，将存储试仪接口与共用测试通道连接，进而通过探针进行探测；(6)重复步骤(2)至步骤(5)，直到测试结束。
通过上述方法对被测元件进行探测，可以实现逻辑测试与存储器探测在一次扎针的情况下完成测试。

Claims (2)

1、一种用于芯片测试的探针卡；其特征在于，包括逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口；所述的逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口分别通过共用测试通道与探针相连，所述的逻辑测试仪接口和存储器测试仪接口之间连有测试通信通道。
2、一种如权利要求1所述用于芯片测试的探针卡的测试方法；其特征在于，包括如下步骤：
(1)逻辑测试仪接口与共用测试通道断开，通过测试通信通道查询触发信号；存储器测试仪接口与共用测试通道连接，存储器测试仪通过探针进行探测；
(2)存储器测试仪完成探测后将存储器测试仪接口与共用测试通道断开，进行数据处理，并通过测试通信通道向逻辑测试仪发送触发信号，然后等待逻辑测试仪发送的触发信号；
(3)逻辑探测仪接收到触发信号后，将逻辑测试仪接口与共用测试通道连接，进而通过探针进行探测；
(4)逻辑测试仪完成探测后将逻辑测试仪接口与共用测试通道断开，进行数据处理，并通过测试通信通道向存储器测试仪发送触发信号，然后等待存储器测试仪发送的触发信号；
(5)存储器测仪接收到触发信号后，将存储器测试仪接口与共用测试通道连接，进而通过探针进行探测；
(6)重复步骤(2)至步骤(5)，直到测试结束。
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