CN102866348A - 集成电路测试数据查询系统及查询方法 - Google Patents

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CN102866348A CN2012103556814A CN201210355681A CN102866348A CN 102866348 A CN102866348 A CN 102866348A CN 2012103556814 A CN2012103556814 A CN 2012103556814A CN 201210355681 A CN201210355681 A CN 201210355681A CN 102866348 A CN102866348 A CN 102866348A
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徐正元
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Abstract

本发明提出一种集成电路测试数据查询系统,包括一查询设备、一与所述查询设备相连的测试仪阵列、一与所述测试仪阵列相连的测试机台阵列、一与所述测试机台阵列相连的被测器件阵列。本发明还公开了一种集成电路测试数据查询方法。本发明解决了查询设备和测试仪之间的布线问题,可使用远程控制,使得测试更为高效便捷,并可采用一台控制设备控制多个测试仪,提高测试的效率。

Description

集成电路测试数据查询系统及查询方法
技术领域
 本发明涉及集成电路测试技术,特别是集成电路测试数据查询系统及查询方法。
背景技术
当前传统的集成电路测试分为中测和成测两类,测试系统比较类似,均采用电脑控制测试仪接收测试向量代码,并控制探针台或机械臂移动测试负载板,接触晶圆上的芯片Die或成品封装好的芯片,进行测试并接收测试结果,电脑和测试仪的连接采用串行或并行排线的方式。
上述测试系统在通讯方面使用排线,好处是成本较低,但也有不利之处,具体体现在每台电脑仅能控制一台测试仪,而且考虑到排线有电气损耗,长度一般比较短,使得电脑一般靠近测试仪等设备摆放,不利于空间管理,加大布线难度,且无法实现无线控制及数据查询。
发明内容
一种集成电路测试数据查询系统,包括一查询设备、一与所述查询设备相连的带无线通讯模块的测试仪阵列、一与所述带无线通讯模块的测试仪阵列相连的测试机台阵列、一与所述测试机台阵列相连的被测器件阵列,所述测试仪阵列包括N个带无线通讯模块的测试仪,所述测试机台阵列包括N个测试机台,所述被测器件阵列包括N个被测器件,其中N≥1,所述带无线通讯模块的测试仪、所述测试机台、所述被测器件一一对应串行连接。
所述查询设备是能进行无线网络连接的电脑、手机、平板电脑等设备。
所述带无线通讯模块的测试仪的主控芯片中增加无线通讯模块驱动程序,所述无线通讯模块为WIFI、GPRS、CDMA等具有无线传输功能的模块。
所述测试机台包括测试负载板和自动测试机。
一种集成电路测试数据查询方法,包括以下步骤:
所述查询设备通过运行预先开发的应用软件,利用无线网络向所述带无线通讯模块的测试仪发送查询测试信息命令;
所述带无线通讯模块的测试仪接收到所述查询设备发来的查询命令后,根据所述测试机台的测试负载板反馈的信息判断测试是否完成;
如果所述带无线通讯模块的测试仪判断当前测试未完成,则发送当前测试信息给所述查询设备;
如果所述带无线通讯模块的测试仪判断当前测试已完成,则发送整理完成的测试信息给所述查询设备;
所述查询设备对接收到的测试信息进行处理。
所述测试机台的测试负载板执行所述带无线通讯模块的测试仪发送的查询命令,将查询结果反馈给所述带无线通讯模块的测试仪。
所述带无线通讯模块的测试仪的主控芯片控制所述带无线通讯模块的测试仪的无线通讯模块接收查询命令并向所述查询设备发送查询结果。
相对现有技术,本发明集成电路测试数据查询系统及查询方法通过无线传输取代传统的排线进行的信号传输具有更好的灵活性,避免了信号传输的衰减错误,提高了测试结果输出的正确性,此外,由于可以远程控制使得本发明避免了因测试工厂厂房空间带来的布线难度,也避免了因为电脑接口有限无法并行测试多个芯片的问题;且还可由一台查询设备同时查询多个测试仪的结果,充分发挥了测试的高效率,极大的节省了测试成本。
附图说明
图1为本发明技术方案框图。
图2为本发明技术方案流程图。
图3为本发明较佳实施方式框图
具体实施方式
请参阅图3,本发明集成电路测试数据查询系统较佳实施方式包括一查询设备、一与该查询设备相连的带WIFI模块的测试仪阵列、一与该带WIFI模块的测试仪阵列相连的测试机台阵列、一与该测试机台阵列相连的被测器件阵列,该带WIFI模块的测试仪阵列包括N个带WIFI模块的测试仪,该测试机台阵列包括N个测试机台,该被测器件阵列包括N个被测器件,其中N≥1,该带WIFI模块的测试仪、该测试机台、该被测器件一一对应串行连接。
该查询设备是能进行无线网络连接的电脑、手机、平板电脑等设备。
该带WIFI模块的测试仪中的主控芯片中增加WIFI模块驱动程序,该WIFI模块可以替换为GPRS、CDMA等具有无线传输功能的模块。
该测试机台包括测试负载板和自动测试机。
请参阅图2,本发明集成电路测试数据查询方法较佳实施方式,包括以下步骤:
该查询设备通过运行预先开发的应用软件,利用无线网络向该带WIFI模块的测试仪发送查询测试信息命令;
该带WIFI模块的测试仪接收到该查询设备发来的查询命令后,根据该测试机台的测试负载板反馈的信息判断测试是否完成;
如果该带WIFI模块的测试仪判断当前测试未完成,则发送当前测试信息给该查询设备;
如果该带WIFI模块的测试仪判断当前测试已完成,则发送整理完成的测试信息给该查询设备;
该查询设备对接收到的测试信息进行处理。
该测试机台的测试负载板执行该带WIFI模块的测试仪发送的查询命令,将查询结果反馈给该带WIFI模块的测试仪。
该带WIFI模块的测试仪的主控芯片控制该带WIFI模块的测试仪的WIFI模块接收查询命令并向该查询设备发送查询结果。
相对现有技术,本发明集成电路测试数据查询系统及查询方法较佳实施方式通过WIFI传输取代传统的排线进行的信号传输具有更好的灵活性,避免了信号传输的衰减错误,提高了测试结果输出的正确性,此外,由于可以远程控制使得本发明避免了因测试工厂厂房空间带来的布线难度,也避免了因为电脑接口有限无法并行测试多个芯片的问题;且还可由一台查询设备同时查询多个测试仪的结果,充分发挥了测试的高效率,极大的节省了测试成本。

Claims (7)

1.一种集成电路测试数据查询系统,其特征在于:所述集成电路测试系统数据查询系统包括一查询设备、一与所述查询设备相连的带无线通讯模块的测试仪阵列、一与所述测试仪阵列相连的测试机台阵列、一与所述测试机台阵列相连的被测器件阵列,所述带无线通讯模块的测试仪阵列包括N个带无线通讯模块的测试仪,所述测试机台阵列包括N个测试机台,所述被测器件阵列包括N个被测器件,其中N≥1,所述带无线通讯模块的测试仪、所述测试机台、所述被测器件一一对应串行连接。
2.根据权利要求1所述的集成电路测试数据查询系统,其特征在于:所述查询设备是能进行无线网络连接的电脑、手机、平板电脑等设备。
3.根据权利要求1所述的集成电路测试数据查询系统,其特征在于:所述带无线通讯模块的测试仪的主控芯片中增加无线通讯模块驱动程序。
4.根据权利要求1所述的集成电路测试数据查询系统,其特征在于:所述测试机台包括测试负载板和自动测试机。
5.一种集成电路测试数据查询方法,包括以下步骤:
所述查询设备通过运行预先开发的应用软件,利用无线网络向所述带无线通讯模块的测试仪发送查询测试信息命令;
所述带无线通讯模块的测试仪接收到所述查询设备发来的查询命令后,根据所述测试机台的测试负载板反馈的信息判断测试是否完成;
如果所述带无线通讯模块的测试仪判断当前测试未完成,则发送当前测试信息给所述查询设备;
如果所述带无线通讯模块的测试仪判断当前测试已完成,则发送整理完成的测试信息给所述查询设备;
所述查询设备对接收到的测试信息进行处理。
6.根据权利要求5所述的集成电路测试数据查询方法,其特征在于:所述测试机台的测试负载板执行所述带无线通讯模块的测试仪发送的查询命令,将查询结果反馈给所述带无线通讯模块的测试仪。
7.根据权利要求5所述的集成电路测试数据查询方法,其特征在于:所述带无线通讯模块的测试仪的主控芯片控制所述带无线通讯模块的测试仪的无线通讯模块接收查询命令并向所述查询设备发送查询结果。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104175313A (zh) * 2013-05-27 2014-12-03 富泰华工业(深圳)有限公司 电路板测试监控系统及方法
CN104977527A (zh) * 2015-07-29 2015-10-14 江苏杰进微电子科技有限公司 集成电路ic测试装置及测试方法
CN109324281A (zh) * 2018-11-08 2019-02-12 珠海格力电器股份有限公司 一种ic芯片测试系统和方法
CN114860971A (zh) * 2022-07-07 2022-08-05 墨研计算科学(南京)有限公司 一种测试数据查询方法、终端、服务器及系统

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10037698C2 (de) * 2000-08-02 2003-10-30 Rohde & Schwarz Verfahren zum Betreiben mehrerer Testgeräte
CN1692367A (zh) * 2002-09-24 2005-11-02 阿纳洛格装置公司 重新配置集成电路芯片的器件引脚的测试模式控制电路
WO2005114238A1 (en) * 2004-05-22 2005-12-01 Advantest Corporation Datalog support in a modular test system
CN1774642A (zh) * 2003-02-14 2006-05-17 爱德万测试株式会社 检测集成电路的方法和装置
CN1859293A (zh) * 2005-12-30 2006-11-08 华为技术有限公司 一种实现报文转发的装置及方法
CN101073016A (zh) * 2004-12-09 2007-11-14 株式会社爱德万测试 用于执行测试器工具模块的安装和配置管理的方法和系统
CN102169150A (zh) * 2010-12-30 2011-08-31 芯通科技(成都)有限公司 基于矩阵开关的并行测试系统
CN102185729A (zh) * 2009-12-24 2011-09-14 爱德万测试株式会社 测试装置、测试方法及系统
CN102224428A (zh) * 2008-11-26 2011-10-19 株式会社爱德万测试 测试方法和该方法所使用的程序产品
CN203012716U (zh) * 2012-09-23 2013-06-19 成都市中州半导体科技有限公司 一种集成电路测试数据查询系统

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10037698C2 (de) * 2000-08-02 2003-10-30 Rohde & Schwarz Verfahren zum Betreiben mehrerer Testgeräte
CN1692367A (zh) * 2002-09-24 2005-11-02 阿纳洛格装置公司 重新配置集成电路芯片的器件引脚的测试模式控制电路
CN1774642A (zh) * 2003-02-14 2006-05-17 爱德万测试株式会社 检测集成电路的方法和装置
WO2005114238A1 (en) * 2004-05-22 2005-12-01 Advantest Corporation Datalog support in a modular test system
CN101073016A (zh) * 2004-12-09 2007-11-14 株式会社爱德万测试 用于执行测试器工具模块的安装和配置管理的方法和系统
CN1859293A (zh) * 2005-12-30 2006-11-08 华为技术有限公司 一种实现报文转发的装置及方法
CN102224428A (zh) * 2008-11-26 2011-10-19 株式会社爱德万测试 测试方法和该方法所使用的程序产品
CN102185729A (zh) * 2009-12-24 2011-09-14 爱德万测试株式会社 测试装置、测试方法及系统
CN102169150A (zh) * 2010-12-30 2011-08-31 芯通科技(成都)有限公司 基于矩阵开关的并行测试系统
CN203012716U (zh) * 2012-09-23 2013-06-19 成都市中州半导体科技有限公司 一种集成电路测试数据查询系统

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104175313A (zh) * 2013-05-27 2014-12-03 富泰华工业(深圳)有限公司 电路板测试监控系统及方法
CN104175313B (zh) * 2013-05-27 2018-04-17 深圳市精捷能电子有限公司 电路板测试监控系统及方法
CN104977527A (zh) * 2015-07-29 2015-10-14 江苏杰进微电子科技有限公司 集成电路ic测试装置及测试方法
CN109324281A (zh) * 2018-11-08 2019-02-12 珠海格力电器股份有限公司 一种ic芯片测试系统和方法
CN114860971A (zh) * 2022-07-07 2022-08-05 墨研计算科学(南京)有限公司 一种测试数据查询方法、终端、服务器及系统

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