CN103941434B - 背光源模块及其静电损伤检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种背光源模块及其静电损伤检测方法,其包括,一电路板;至少一光源,设置在所述电路板上;至少一正极探点和负极探点,设置在所述电路板上并与所述光源电连接;当对所述背光模块进行静电损伤检测时,所述正极探点和所述负极探点与一分电流部件电连接,实现所述光源与所述分电流部件并联。该背光源模块即使在被组装成液晶显示模组后也能够实现低电流条件下对LED的静电损伤的检测。
Description
技术领域
本发明涉及液晶显示器的背光模组技术领域,尤其涉及一种背光源模块及其静电损伤检测方法。
背景技术
液晶显示器广泛应用在各种电子通信产品上。背光模块(backlight module)是液晶显示器的重要组件之一。目前来说,背光模块所使用的光源一般为发光二极管(LED,light emitting diode),而在背光模块往往会在组装过程中产生静电,产生静电的方式和阶段是多种多样的,例如在LED生产过程中、LED焊接到柔性印刷电路板(FPC)的过程中、将LED灯条组装到背光模块中等等。从LED芯片生产一直到电子产品整机,生产过程中的人、机、料、环都有可能对LED产生静电损害,防止静电危害已成为业内关注的重点之一。究其原因是,由于LED属于半导体类元件,它的PN结是直接裸露在外头的,很容易遭遇静电。当施加正常电流时,严重的静电损伤,LED的往往出现死灯、漏电不良。而受到轻微静电损伤的LED,一般没有什么异常,但此时,该LED已经有一定的隐患,当它受到二次静电损伤时,那就会出现暗亮、死灯、漏电增大等不良。
既然目前静电危害无法避免,就液晶显示模组(LCM)产品生产环节来看,目前措施主要是在各环节中使用检测LED是否正常发光来剔除被静电损害的不良品。若LED损伤严重会出现“死灯”(即LED完全被静电损坏),一般可以通过对LED施加正常的电流可以直接检测出其是否正常发光。如图1所示,将LED灯条1或背光模块(图中未示出)通过点灯治具2连接到正常的电源3上,通过判断LED是否正常放光来判断是否是“死灯”(即完全损坏,不能正常工作)。
而对于受到轻微静电损伤的LED,如果通过施加正常的电流,LED依然能够正常发光,是无法检测出其是否受到了轻微静电损伤,但若是对其施加低电流进行检测,若是受到轻微静电损伤的LED则是无法正常发光的,故一般进一步的采用对LED施加低电流来检测LED是否存在轻微静电损伤。若是对这种受到轻微静电损伤的LED不能进行检测,当其受到二次静电损伤时,那就会出现暗亮、死灯、漏电增大等不良等现象,使得整个背光模块和液晶显示模组,无法正常工作,导致良率降低、生产成本很高。
但是现有对LED检测技术中,对LED是否受到静电损伤的检测一般为如图2所示,在S1环节,对单个LED芯片是否正常发光进行低电流检测;在S2环节,对LED芯片组装成的LED灯条是否正常发光进行低电流检测;S3环节,对LED灯条组装成背光模块是否正常发光进行低电流检测;但是在S4环节,背光模块组装成液晶显示模组(LCM)及其后续的环节是无法进行低电流检测的。其原因是由于当背光模块组装成液晶显示模组之后,供给LED的电流是已经预先设定好的额定电流,其电流值是不易更改的,该额定电流为正常电流,不是低电流,故无法进行低电流检测。但是在液晶显示模组(LCM)及后续步骤中,不可避免的存在静电危害,但又不能对液晶显示模组中的LED进行低电流检测,这样潜在LED静电损伤不良品的存在,留有对液晶显示模组品质隐患。
发明内容
针对现有技术中存在的问题,本发明的目的是提供一种背光源模块、背光源模块静电损伤检测方法和液晶显示模组。
根据本发明的一个示范性的实施例,提供一种背光源模块,其包括,一电路板;至少一光源,设置在所述电路板上;至少正极探点和负极探点,设置在所述电路板上并与所述光源电连接;当对所述背光模块进行静电损伤检测时,所述正极探点和所述负极探点与一分电流部件电连接,实现所述光源与所述分电流部件并联。
根据本发明的一个示范性的实施例,提供一种背光源模块静电损伤检测方法,该方法包括:
提供一分电流部件;
提供一背光源模块,包括:一电路板,至少一光源,设置在所述电路板上;
提供一检测电源,施加第一检测电流;在所述光源上施加所述第一检测电流,具体为:所述检测电源与所述光源进行电连接;
将所述分电流部件与所述光源并联,实现所述第一检测电流被分流成施加在所述光源上的低电流的第二检测电流;
通过施加在所述光源上的第二检测电流,判断所述光源是否损伤。若所述光源正常发光,则不存在静电损伤;若所述光源不能正常发光,则存在静电损伤。
根据本发明的一个示范性的实施例,提供一种液晶显示模组,包括上述背光源模块。
由经上述的技术方案,与现有技术相比,本发明公开了一种背光源模块及其静电损伤检测方法,该背光源模块即使在被组装成液晶显示模组后也能够实现低电流条件下对LED的静电损伤的检测。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有技术中公开的一种检测LED灯条1或背光模块“死灯”方法的示意图;
图2为现有技术中公开的一种检测液晶显示模组静电损伤的流程图;
图3为本发明实施例一中公开的背光源模块的示意图;
图4为图3中虚线框部分的局部放大图;
图5为图3中分流部件112的示意图;
图6为本发明实施例一中公开的背光源模块进行静电损伤检测时的等效电路示意图;
图7为本发明实施例二中公开的背光源模块的示意图;
图8为图7中虚线框部分的局部放大图;
图9为本发明实施例二中公开的背光源模块的等效电路示意图;
图10为本发明实施例二中公开的背光源模块进行静电损伤检测时的等效电路示意图;
图11为本发明实施例三中公开的背光源模块静电损伤检测方法的示意图;
图12为本发明实施例四中公开的背光源模块静电损伤检测方法的示意图;
图13为本发明实施例五中公开的液晶显示模组的示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明公开了一种背光源模块及其静电损伤检测方法,该包括背光源模块,一电路板;至少一光源,设置在所述电路板上;至少一正极探点和负极探点,设置在所述电路板上并与所述光源电连接;当对所述背光模块进行静电损伤检测时,所述正极探点和所述负极探点与一分电流部件电连接,实现所述光源与所述分电流部件并联。该背光源模块即使在被组装成液晶显示模组后也能够实现低电流条件下对LED的静电损伤的检测。
实施例一
如图3-图5所示,本发明公开了一种背光源模块111包括,一电路板12;至少一光源11,设置在电路板12上,其中光源11一般为发光二极管(LED),多个LED相互之间为串联或者先串联成LED组,然后将LED组相互间并联;电路板12包括柔性印刷电路板(FPC)。
如图4所示(图3中虚线框的局部放大图),该光源模块111还包括至少一正极探点13和负极探点14,设置在电路板12上,其具体位置可为在电路板12的伸出端部A并与光源11电连接,即在电路板12上有布置导线使得正极探点13和负极探点14与光源11相互间是导通的。在电路板12上设置正极探点13和负极探点14,其目的是:当对背光模块进行静电损伤检测时,通过正极探点13和负极探点14与一分电流部件112电连接,实现光源11与分电流部件112并联。
继续参考图3,该光源模块111还包括检测引脚15或16,设置在电路板12上并与光源11电连接,即在电路板12上有布置导线使得检测引脚15或16与光源11相互间是导通的。检测引脚15或16通常设置在电路板12的伸出端部A,其目的是为了外接检测电源,实现对光源11的静电损伤或者“死灯”检测。
如图3所示,在该实施例中,背光源模块111与分电流部件112是相互分离独立的结构。
如图5所示,该分电流部件112包括至少一第一电阻19;至少一正极探针17;至少一负极探针18,其中第一电阻19分别与正极探针17、负极探针18电连接,即通过导线将第一电阻19的两端分别连接正极探针17、负极探针18。需要说明的是,第一电阻19包括至少一第一可调电阻或一第一额定电阻。
继续参考图3和图5,当对背光模块111进行静电损伤检测时,通过将正极探针17与正极探点13连接;负极探针18与负极探点14连接,实现第一电阻19与光源11的并联,其等效电路图如6所示。具体来说,当对背光模块111进行静电损伤检测时,一般是将外接电源通过检测引脚15或16,将外接电流直接施加到光源11上,以此来判断光源11是否存在静电损伤,当外接电源的电流大小无法控制时,特别是外接电源的电流较大时,是无法检测出某些存在受到轻微静电损伤的光源,当其受到二次静电损伤时,那就会出现暗亮、死灯、漏电增大等不良等现象。为了解决当外接电源的大小不可控的问题,在本实施中通过对背光模块111上的光源11并联第一电阻19,由于第一电阻19其电阻值大小可调的第一可调电阻,且与光源11是并联,能够实现对光源11上的外接电流进行分流,并通过调节第一电阻19其阻值的大小,实现将外接电流分流成能够检测出光源是否存在静电损伤的低电流。另外,若第一电阻19为第一额定电阻,可以通过更换阻值不同的额定电阻,实现对外接电流的分流。
另外需要说明的是,如果多个光源11,一般为LED,多个LED相互间都是串联,那么够检测出LED是否存在静电损伤的低电流,其电流值一般为0.5-1mA,即使得相互串联的LED上的电流均为0.5-1mA。另一情况是:如果多个LED先串联成多个LED组,然后将多个LED组相互间并联,那么够检测出LED是否存在静电损伤的低电流,需要使得每个LED组上的相互串联的LED上所被施加的电流为0.5-1mA,故在此种情况下,低电流的电流值不是固定的。
另外,将正极探点13和负极探点14,设置在电路板12的伸出端部A,其目的是为了即使在背光模块111被组装液晶模组后,由于正负极探点是在电路板12的伸出端部,故正负极探点是裸露在液晶模组外部的,当对其进行静电损伤检测时,十分易于将分流部件112与正极探点13、负极探点14连接,操作十分方便易行。
实施例二
在上述本发明公开的实施例一的基础上,本发明公开了一种背光源模块211包括,一电路板22;至少一光源21,设置在电路板22上;检测引脚25或26,通常设置在电路板12的伸出端部B;还包括至少一正极探点23和负极探点24,设置在电路板22上,其具体位置可为在电路板22的伸出端部B并与光源21电连接。其中光源21一般为发光二极管(LED),多个LED相互之间为串联或者先串联成LED组,然后将LED组相互间并联;电路板22包括柔性印刷电路板(FPC)。在电路板22上设置正极探点23和负极探点24,其目的是:当对背光模块211进行静电损伤检测时,通过正极探点23和负极探点24与一分电流部件29电连接,实现光源21与分电流部件29并联。
如图7所示,本实施例与实施例一不同之处在于:背光源模块211与分电流部件29是一体化结构。
如图8所示(为图7中虚线框的局部放大图),分电流部件29包括至少一第二电阻29,其包括至少第二可调电阻或第二额定电阻,设置在电路板22的一侧,比较优选的,将第二电阻设置电路板22的伸出端B上,当然不限于此。当不对背光模块211进行静电检测时,第二电阻29与光源21之间是相互断开的,无任何电连接的,其等效电路图如图9所示,可以通过在电路板21上的导线布置实现如图9所示的电路连接。当在光源21两端施加正常的工作电压,光源21处于正常工作状态,第二电阻29与光源21无任何电连接。
继续参考图8,当对背光模块211进行静电损伤检测时,通过一外接导线20将正极探点23与负极探点24连接,实现第二电阻29与光源21并联,其等效电路图如图10所示。即可以通过外接导线20连接正极探点23与负极探点24,使得正极探点23与负极探点24起到一个开关的作用,即当两者相互连接时,第二电阻29被并联在光源上,能够起到分流作用;当两者不连接时,第二电阻29与光源21无任何电连接。将分电流部件29直接做在电路板22上,这样可以使得对背光模块211的静电损伤检测更为简单易行。
本实施例是在实施例一的基础上公开,对于两者相同部分,在此就不一一赘述,两者可以相互参见。
实施例三
在上述本发明公开的实施例一的基础上,如图3、图11所示,本发明公开了一种背光源模块静电损伤检测方法,该方法包括:
S101:提供一分电流部件112,其包括至少一第一电阻19,一正极探针17,一负极探针18,其中第一电阻19分别与正极探针17、负极探针18电连接,即通过导线将第一电阻19的两端分别连接正极探针17、负极探针18,需要说明的是,第一电阻19至少包括一第一可调电阻或第一额定电阻;
S102:提供一背光源模块111,包括:一电路板12(一般为柔性印刷电路板FPC),至少一光源11,设置在电路板12上,正极探点13和负极探点14,设置在电路板12上,其具体位置可为在电路板12的伸出端部A并与光源11电连接,还包括检测引脚15或16,设置在电路板12上并与光源11电连接,即在电路板12上有布置导线使得检测引脚15或16与光源11相互间是导通的;
S103:提供一检测电源,对光源11施加第一检测电流I1(其电流值的大小可以是固定的或预先设定不易改变的)即:检测电源与光源11进行电连接,具体为:检测电源通过电路板12上的检测引脚15或16,实现对光源11施加第一检测电流I1;
S104:将分电流部件112与光源并联11,实现第一检测电流I1被分流成施加在光源11上的低电流的第二检测电流I2,具体为:将分电流部件112的正极探针17和电路板12上的正极探点13电连接,分电流部件112的负性探针18和电路板12上的负极探点14电连接,使得第一电阻19与光源11的并联,实现第一检测电流I1被分流成施加在光源11上的低电流的第二检测电流I2;
S105:通过施加在光源11上的第二检测电流I2,判断光源11是否损伤。若光源11正常发光,则不存在静电损伤;若光源11不能正常发光,则存在静电损伤。其中第二检测电流I2为能够判断出光源11是否存在静电损伤的低电流,且小于第一检测电流I1。
继续参考图3、图5、图11,当对背光模块111进行静电损伤检测时,在S104中,通过将正极探针17与正极探点13连接;负极探针18与负极探点14连接,实现第一电阻19与光源11的并联,其等效电路图如6所示。具体来说,当对背光模块111进行静电损伤检测时,一般是将检测电源所提供的第一检测电流I1通过检测引脚15或16,将外接电流直接施加到光源11上,以此来判断光源11是否存在静电损伤,当第一检测电流I1大小无法控制或者预先设定不易更改时,特别是第一检测电流I1较大时,是无法检测出某些存在受到轻微静电损伤的光源11,当其受到二次静电损伤时,那就会出现暗亮、死灯、漏电增大等不良等现象。为了解决当第一检测电流I1大小不可控的问题,在本实施例中通过对背光模块111上的光源11并联第一电阻19,由于第一电阻19其电阻值大小可调的,且与光源11是并联,能够实现对光源11上的第一检测电流I1进行分流,并通过调节第一可调电阻其阻值的大小,实现将第一检测电流I1分流成能够检测出光源11是否存在静电损伤的低电流的第二检测电流I2。另外,若第一电阻19包括第一额定电阻,可以通过更换阻值不同的第一额定电阻,实现对第一检测电流I1的分流。
另外需要说明的是,在S104、S105中,如果多个光源11,一般为LED,多个LED相互间都是串联,那么够检测出LED是否存在静电损伤的低电流的第二检测电流I2,其电流值一般为0.5-1mA,即使得相互串联的LED上的电流均为0.5-1mA。另一情况是:如果多个LED先串联成多个LED组,然后将多个LED组相互间并联,那么够检测出LED是否存在静电损伤的低电流的第二检测电流I2,需要使得每个LED组上的相互串联的LED上所被施加的电流为0.5-1mA,故在此种情况下,低电流的第二电流I2电流值不是固定的。
另外,在S102、S104中,将正极探点13和负极探点14,设置在电路板12的伸出端部,其目的是为了即使在背光模块111被组装液晶模组后,由于正负极探点是在电路板12的伸出端部A,故正负极探点是裸露在液晶模组外部的,当对其进行静电损伤检测时,十分易于将分流部件112与正极探点13、负极探点14连接,操作十分方便易行。
实施例四
在上述本发明公开的实施例二、三的基础上,如图7-图10、图12所示,本发明公开了一种背光源模块静电损伤检测方法,该方法包括:
S201:提供一分电流部件29,其包括至少一第二电阻29,需要说明的是,第二电阻29至少包括第二可调电阻或第二额定电阻;
S202:提供一背光源模块211,包括:一电路板22(一般为柔性印刷电路板FPC),至少一光源21,设置在电路板22上,正极探点23和负极探点24,设置在电路板22上,其具体位置可为在电路板22的伸出端部B并与光源21电连接,还包括检测引脚25或26,设置在电路板22上并与光源21电连接,即在电路板22上有布置导线使得检测引脚25或26与光源21相互间是导通的;该背光源模块211进一步的还包括:设置在电路板22一侧的分流部件29,当不对背光模块211进行静电检测时,第二电阻29与光源21之间是相互断开的,无任何电连接的,其等效电路图如图9所示,可以通过在电路板21上的导线布置实现如图9所示的电路连接;
S203:提供一检测电源,对光源21施加第一检测电流I1(其电流值的大小可以是固定的或预先设定不易改变的)即:检测电源与光源21进行电连接,具体为:检测电源通过电路板22上的检测引脚25或26,实现对光源21施加第一检测电流I1;
S204:将分电流部件29与光源并联21,实现第一检测电流I1被分流成施加在光源21上的低电流的第二检测电流I2,继续参考图8具体为:通过一外接导线20将正极探点23与负极探点24连接,实现第二电阻29与光源21并联,其等效电路图如图10所示,实现第一检测电流I1被分流成施加在光源21上的低电流的第二检测电流I2;
S205:通过施加在光源21上的第二检测电流I2,判断光源21是否损伤。若光源21正常发光,则不存在静电损伤;若光源21不能正常发光,则存在静电损伤。其中第二检测电流I2为能够判断出光源21是否存在静电损伤的低电流,且小于第一检测电流I1。
其中值得说明的是,当对背光模块211进行静电损伤检测时,在S204中,通过外接导线20连接正极探点23与负极探点24,使得正极探点23与负极探点24起到一个开关的作用,即当两者相互连接时,第二电阻29被并联在光源上,能够起到分流作用;当两者不连接时,第二电阻29与光源21无任何电连接。将分电流部件29直接做在电路板22上,这样可以使得对背光模块211的静电损伤检测更为简单易行。
在S204、S205中,如果多个光源21,一般为LED,多个LED相互间都是串联,那么第二检测电流I2,其电流值一般为0.5-1mA。另一情况是:如果多个LED先串联成多个LED组,然后将多个LED组相互间并联,那么够检测出LED是否存在静电损伤的低电流的第二检测电流I2,需要使得每个LED组上的相互串联的LED上所被施加的电流为0.5-1mA,故在此种情况下,低电流的第二电流I2电流值不是固定的。第二检测电流I2的大小可以通过调节第二可调电阻或者更换第二额定电阻实现。
本实施例是在实施例二、三的基础上公开,对于相同部分,在此就不一一赘述,可以相互参见。
实施例五
在上述本发明公开的实施例一、二的基础上,如图13所示,本发明公开了一种液晶显示模组1111,包括实施例一或二所提供的背光模组111或211。该液晶显示模组还包括液晶显示面板222。该液晶模组1111可以实现对其背光模组111或211中的光源是否存在静电损伤的低电流的检测,如此保证了但是在液晶显示模组(LCM)及后续工艺步骤中,减少了潜在LED静电损伤不良品的存在,提高了产品的良率。
本说明书中各个部分采用递进的方式描述,每个部分重点说明的都是与其他部分的不同之处,各个部分之间相同相似部分互相参见即可。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (26)
1.一种背光源模块,其包括,
一电路板;
至少一光源,设置在所述电路板上;
正极探点和负极探点,设置在所述电路板上并与所述光源电连接;
当对所述背光源模块进行静电损伤检测时,将外接电流施加到所述光源上,所述正极探点和所述负极探点与一分电流部件电连接,实现所述光源与所述分电流部件并联以使所述外接电流分流成能够检测出所述光源是否存在静电损伤的低电流;
当不对所述背光源模块进行静电检测时,在所述光源两端施加正常的工作电压,所述分电流部件与所述光源断开电连接,实现所述光源的正常工作。
2.如权利要求1所述的背光源模块,其特征在于,所述背光源模块与所述分电流部件是相互分离独立的结构。
3.如权利要求2所述的背光源模块,其特征在于,所述分电流部件包括:至少一第一电阻;至少一正极探针;至少一负极探针,所述第一电阻分别与所述正极探针,负极探针电连接。
4.如权利要求3所述的背光源模块,其特征在于,当对所述背光模块进行静电损伤检测时,通过将所述正极探针与所述正极探点连接;所述负极探针与所述负极探点连接,实现所述第一电阻与所述光源并联。
5.如权利要求3所述的背光源模块,其特征在于,所述第一电阻包括至少一第一可调电阻或一第一额定电阻。
6.如权利要求1所述的背光源模块,其特征在于,所述背光源模块与所述分电流部件是一体化结构。
7.如权利要求6所述的背光源模块,其特征在于,所述分电流部件包括至少一第二电阻,所述第二电阻包括至少一第二可调电阻或一第二额定电阻。
8.如权利要求7所述的背光源模块,其特征在于,所述分电流部件设置在所述电路板的一侧,当对所述背光模块进行静电损伤检测时,通过一外接导线将所述正极探点与所述负极探点连接,实现所述第二电阻与所述光源并联。
9.如权利要求1所述的背光源模块,其特征在于,所述电路板包括柔性印刷电路板。
10.如权利要求1所述的背光源模块,其特征在于,所述光源包括发光二极管。
11.如权利要求1所述的背光源模块,其特征在于,所述背光源模块还包括检测引脚,设置在所述电路板上且与所述光源电连接。
12.一种背光源模块静电损伤检测方法,该方法包括:
提供一分电流部件;
提供一背光源模块,包括:一电路板,至少一光源,设置在所述电路板上;
提供一检测电源,施加第一检测电流;
在所述光源上施加所述第一检测电流,具体为:将所述检测电源与所述光源进行电连接;
将所述分电流部件与所述光源并联,实现所述第一检测电流被分流成施加在所述光源上的低电流的第二检测电流;
通过施加在所述光源上的第二检测电流,判断所述光源是否损伤。
13.如权利要求12所述的背光源模块静电损伤检测方法,其特征在于,所述背光源模块还包括正极探点和负极探点,设置在所述电路板上并与所述光源电连接。
14.如权利要求12所述的背光源模块静电损伤检测方法,其特征在于,所述背光源模块与所述分电流部件是相互分离独立的结构。
15.如权利要求14所述的背光源模块静电损伤检测方法,其特征在于,所述分电流部件包括:至少一第一电阻,至少一正极探针,至少一负极探针,所述第一电阻分别与所述正极探针,负极探针电连接。
16.如权利要求15所述的背光源模块静电损伤检测方法,其特征在于,将所述分电流部件与所述光源并联,具体为:将所述分电流部件的正极探针和所述电路板上的正极探点电连接;所述分电流部件的负性探针分别与和所述电路板上的负极探点电连接,使得所述第一电阻与所述光源的并联,实现所述第一检测电流被分流成施加在所述光源上的低电流的第二检测电流。
17.如权利要求14所述的背光源模块静电损伤检测方法,其特征在于,所第一电阻包括至少一第一可调电阻或至少一第一额定电阻。
18.如权利要求17所述的背光源模块静电损伤检测方法,其特征在于,所述第二检测电流的大小通过调节所述第一可调电阻来实现或更换所述第一额定电阻来实现。
19.如权利要求13所述的背光源模块静电损伤检测方法,其特征在于,所述背光源模块与所述分电流部件是一体化结构。
20.如权利要求19所述的背光源模块静电损伤检测方法,其特征在于,所述分电流部件包括至少一第二电阻,所述第二电阻包括至少一第二可调电阻或以一第二额定电阻。
21.如权利要求20所述的背光源模块静电损伤检测方法,其特征在于,所述分电流部件设置在所述电路板的一侧,将所述分电流部件与所述光源并联,具体为:通过一外接导线将所述正极探点与所述负极探点连接,实现所述第二电阻与所述光源并联,实现所述第一检测电流被分流成施加在所述光源上的低电流的第二检测电流。
22.如权利要求20所述的背光源模块静电损伤检测方法,其特征在于,所第二电阻包括至少一第二可调电阻或至少一第二额定电阻。
23.如权利要求22所述的背光源模块静电损伤检测方法,其特征在于,所述第二检测电流的大小通过调节所述第二可调电阻来实现或更换所述第二额定电阻来实现。
24.如权利要求12所述的背光源模块静电损伤检测方法,其特征在于,所述背光源模块还包括检测引脚,设置在所述电路板上并与所述光源电连接;在所述光源上施加所述第一检测电流,具体为:所述检测电源通过所述电路板上的检测引脚,实现对所述光源施加第一检测电流。
25.如权利要求12所述的背光源模块静电损伤检测方法,其特征在于,所述第二检测电流为能够判断出所述光源是否存在静电损伤的低电流,且小于所述第一检测电流。
26.一种液晶显示模组,包括如权利要求1-11任一项所述的背光源模块。
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CN112349207B (zh) * | 2020-11-10 | 2023-02-21 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种背光模组和显示面板 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN201048461Y (zh) * | 2007-05-23 | 2008-04-16 | 咸瑞科技股份有限公司 | 发光二极管模块的可调式定电流装置 |
CN102956204A (zh) * | 2012-11-30 | 2013-03-06 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种led背光驱动电路、背光模组和液晶显示装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US20090201669A1 (en) * | 2006-07-24 | 2009-08-13 | Sharp Kabushiki Kaisha | Backlight device, and display apparatus using the same |
JP5283539B2 (ja) * | 2009-03-03 | 2013-09-04 | シャープ株式会社 | 発光装置、発光装置ユニット、および発光装置製造方法 |
CN102141583A (zh) * | 2010-12-29 | 2011-08-03 | 深圳市火天光电科技有限公司 | Led电流检测电路 |
DE102012201317A1 (de) * | 2012-01-31 | 2013-08-01 | Zumtobel Lighting Gmbh | Lampenbetriebsgerät zum Betreiben mindestens einer LED oder OLED |
US9234914B2 (en) * | 2013-03-15 | 2016-01-12 | Rockwell Automation Technologies Incorporated | Apparatus to verify an electrically safe work condition |
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Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN201048461Y (zh) * | 2007-05-23 | 2008-04-16 | 咸瑞科技股份有限公司 | 发光二极管模块的可调式定电流装置 |
CN102956204A (zh) * | 2012-11-30 | 2013-03-06 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种led背光驱动电路、背光模组和液晶显示装置 |
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