CN110969972B - 显示面板的检测方法、装置、控制器和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种显示面板的检测方法、装置、控制器和存储介质。该方法用于检测待测显示面板中目标引脚是否受静电击伤，其包括：获取参考显示面板中多个预设引脚对应的多个第一阻抗值，多个预设引脚经静电击伤后具有不同大小的第一阻抗值，预设引脚与目标引脚为相同类型的引脚；根据多个第一阻抗值，得到阻抗下限值；根据阻抗下限值，对参考显示面板的可靠性进行检测；如果阻抗下限值通过可靠性检测，则获取待测显示面板中目标引脚的第二阻抗值；根据阻抗下限值和第二阻抗值，确定目标引脚是否受到静电击伤。该方案通过对参考显示面板进行可靠性检测，提高了阻抗下限值的准确性，进一步提高了显示面板检测的准确性。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示面板的检测方法、装置、控制器和存储介质。
背景技术
LCM(Liquid crystal display module，液晶显示面板模组)在生产过程中易受ESD(Electro-Static discharge，静电阻抗器)损伤。
为了检测LCM是否受到ESD损伤，可以在高温条件下使LCM老化2小时，再进行点灯检查。然而，2小时的老化时长，不一定会导致LCM的显示屏不能正常显示。即点灯检查只有在足够长的老化时间下，才能保持一定的准确率。
发明内容
本发明的目的在于提供一种显示面板的检测方法、装置、控制器和存储介质，可以提高显示面板检测的准确性。
本发明实施例提供了一种显示面板的检测方法，用于检测所述显示面板中目标引脚是否受静电击伤，其包括：
获取参考显示面板中多个预设引脚对应的多个第一阻抗值，所述多个预设引脚经静电击伤后具有不同大小的第一阻抗值，所述预设引脚与所述目标引脚为相同类型的引脚；
根据所述多个第一阻抗值，得到阻抗下限值；
根据所述阻抗下限值，对所述参考显示面板的可靠性进行检测；
如果所述参考显示面板通过可靠性检测，则获取所述显示面板中所述目标引脚的第二阻抗值；
根据所述阻抗下限值和所述第二阻抗值，确定所述目标引脚是否受到静电击伤。
在一实施例中，所述参考显示面板包括多个显示面板，所述获取参考显示面板中多个预设引脚对应的多个第一阻抗值步骤，包括：
获取每个预设引脚对应的阻抗衰减曲线，以及所述预设引脚对应的目标显示面板的性能下降曲线，其中，所述阻抗衰减曲线包括所述预设引脚在不同静电击伤时长下对应的衰减阻抗，所述性能下降曲线包括所述目标显示面板在不同静电击伤时长下对应的性能衰减值；
从所述阻抗衰减曲线中，获取所述性能下降曲线中预设性能衰减值对应的目标衰减阻抗；
将所述目标衰减阻抗设置为所述第一阻抗值。
在一实施例中，所述将所述目标衰减阻抗设置为所述第一阻抗值步骤，包括：
获取所述目标衰减阻抗对应的阻抗衰减曲线的阻抗衰减度，所述阻抗衰减度为所述预设引脚在预设时间段内的平均阻抗下降值；
判断所述阻抗衰减度是否处于预设衰减度范围内；
如果在预设衰减度范围内，则将所述目标衰减阻抗设为所述第一阻抗值。
在一实施例中，所述根据所述阻抗下限值，对所述参考显示面板的可靠性进行检测步骤，包括：
根据所述阻抗下限值，获取所述参考显示面板对应的制程能力指数和过程能力指数；
判断所述制程能力指数是否不小于第一预设值，以及所述过程能力指数是否不小于第二预设值；
如果制程能力指数不小于所述第一预设值，且所述过程能力指数不小于所述第二预设值，则确定所述参考显示面板通过可靠性测试。
在一实施例中，所述根据所述阻抗下限值和所述第二阻抗值，确定所述目标引脚是否受到静电击伤步骤，包括：
判断所述第二阻抗值是否小于所述阻抗下限值；
如果所述第二阻抗值小于或等于所述阻抗下限值，则确定所述目标引脚受到静电击伤；
如果所述第二阻抗值大于所述阻抗下限值，则确定所述目标引脚未受到静电击伤。
本发明实施例还提供了一种显示面板的检测装置，用于检测所述显示面板中目标引脚是否受静电击伤，其包括：
第一获取模块，用于获取参考显示面板中多个预设引脚对应的多个第一阻抗值，所述多个预设引脚经静电击伤后具有不同大小的第一阻抗值，所述预设引脚与所述目标引脚为相同类型的引脚；
得到模块，用于根据所述多个第一阻抗值，得到阻抗下限值；
检测模块，用于根据所述阻抗下限值，对所述参考显示面板的可靠性进行检测；
第二获取模块，用于在所述参考显示面板通过可靠性检测候，获取所述显示面板中所述目标引脚的第二阻抗值；
确定模块，用于根据所述阻抗下限值和所述第二阻抗值，确定所述目标引脚是否受到静电击伤。
在一实施例中，所述参考显示面板包括多个显示面板，所述第一获取模块包括：
第一获取子模块，用于获取每个预设引脚对应的阻抗衰减曲线，以及所述预设引脚对应的目标显示面板的性能下降曲线，其中，所述阻抗衰减曲线包括所述预设引脚在不同静电击伤时长下对应的衰减阻抗，所述性能下降曲线包括所述目标显示面板在不同静电击伤时长下对应的性能衰减值；
第二获取子模块，用于从所述阻抗衰减曲线中，获取所述性能下降曲线中预设性能衰减值对应的目标衰减阻抗；
设置子模块，用于将所述目标衰减阻抗设置为所述第一阻抗值。
在一实施例中，所述设置子模块用于：
获取所述目标衰减阻抗对应的阻抗衰减曲线的阻抗衰减度；
判断所述阻抗衰减度是否处于预设衰减度范围内；
如果在预设衰减度范围内，则将所述目标衰减阻抗设为所述第一阻抗值。
本发明实施例还提供了一种控制器，所述控制器用于执行存储于存储器的若干指令，以实现如上所述的检测方法。
本发明实施例还提供了一种存储介质，所述存储介质中存储若干指令，所述指令用于供控制器执行以实现如上所述的检测方法。
本发明实施例的显示面板的检测方法、装置、控制器和存储介质，先预先对多个预设引脚进行静电击伤测试，得到阻抗下限值，再对阻抗下限值进行可靠性检测，提高阻抗下限值的准确性，最终根据该阻抗下限值来对显示面板进行检测，提高了检测的准确性。
附图说明
下面结合附图，通过对本申请的具体实施方式详细描述，将使本申请的技术方案及其它有益效果显而易见。
图1为本发明实施例提供的显示面板的检测方法的场景示意图。
图2为本发明实施例提供的显示面板的检测方法的流程示意图。
图3为本发明实施例提供的阻抗衰减曲线示意图。
图4为本发明实施例提供的参考显示面板的性能下降曲线示意图。
图5为本发明实施例提供的第一参考显示面板的正态分布图。
图6为本发明实施例提供的第二参考显示面板的正态分布图。
图7为本发明实施例提供的显示面板的检测装置的结构示意图。
图8为本发明实施例提供的第一获取模块的结构示意图。
图9为本发明实施例提供的检测模块的结构示意图。
图10为本发明实施例提供的确定模块的结构示意图。
图11为本发明实施例提供的存储器和控制器的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接或可以相互通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本申请的不同结构。为了简化本申请的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本申请。此外，本申请可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本申请提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。
本发明实施例提供了一种显示面板的检查方法。如图1所示,该显示面板的检查方法用于对待测显示面板1000中的目标引脚1001是否受到静电击伤进行检测。请参照图2，图2为本发明实施例提供的显示面板的检测方法的流程示意图。该显示面板的检测方法包括如下步骤：
步骤S101，获取参考显示面板中多个预设引脚对应的多个第一阻抗值，多个预设引脚经静电击伤后具有不同大小的第一阻抗值，预设引脚与目标引脚为相同类型引脚。
当引脚受到静电击伤后，其阻抗值将下降，且该引脚对应的显示面板的性能也随之下降。因此，可以对引脚的阻抗进行检测，来预测待测显示面板的性能。在本实施例中，使用静电发生设备对参考显示面板进行模拟静电击伤实验。然后根据参考显示面板的阻抗衰减情况以及显示情况，确定一阻抗下限值。根据该阻抗下限值可以预测待测显示面板是否可以正常显示。
以下详细介绍获取参考显示面板中多个预设引脚对应的多个第一阻抗值的步骤，该步骤S101包括：
步骤A1，从多个预设引脚中依次获取每个预设引脚对应的阻抗衰减曲线，以及预设引脚对应的目标显示面板的性能下降曲线，其中，阻抗衰减曲线包括预设引脚在不同静电击伤时长下对应的衰减阻抗，性能下降曲线包括目标显示面板在不同静电击伤时长下对应的性能衰减值。
步骤A2，从阻抗衰减曲线中，获取性能下降曲线中预设性能衰减值对应的目标衰减阻抗。
步骤A3，获取目标衰减阻抗对应的阻抗衰减曲线的衰减度。
步骤A4，判断衰减度是否处于预设衰减度范围内。
步骤A5，如果在预设衰减度范围内，则将目标衰减阻抗设为第一阻抗值。
步骤A6，如果不在预设衰减度范围内，则去除目标衰减阻抗。
其中，参考显示面板可以包括多个显示面板。首先，可以选取多个显示面板，每个显示面板中都具有预设引脚。需要说明的是，传递不同信号的引脚其类型不同，而不同类型的引脚在相同的静电击伤下，阻抗值变化不同，因此为了提高显示面板检测的准确性，该预设引脚和目标引脚为相同类型的引脚。其中，以预设引脚为TP PIN以及POL PIN为例进行说明。
然后，可以在高温下，使用静电发生设备对TP PIN进行处理。随着静电击伤的持续，预设引脚发生阻抗衰减。记录TP PIN在不同静电击伤时长下的阻抗值，得到如图3所示的阻抗衰减曲线A。其中，横坐标表示时间t，单位为小时h。纵坐标表示阻抗值Z，单位为千欧姆KΩ。在此过程中，随着TP PIN受静电击伤时长的增长，TP PIN对应的参考显示面板的性能也随之下降。因此通过记录参考显示面板在不同静电击伤时长下的性能衰减值，可以得到如图4所示的性能下降曲线B。其中，横坐标表示时间t，单位为小时h。纵坐标表示性能F。
接着，从上述阻抗衰减曲线A中，获取性能下降曲线B中预设性能衰减值对应的目标衰减阻抗。其中，预设性能衰减值是参考显示面板能否进行正常显示的临界值，如果低于或等于该预设性能衰减值，认为该参考显示面板不能进行正常显示，当高于该预设性能衰减值，认为该参考显示面板可以进行正常显示。
举例来说，假设图4中，预设性能衰减值为0，即当对TPPIN的静电击伤时长达到80h时，参考显示面板已经不能正常显示。在图3中，查找到静电击伤时长80h对应的目标衰减阻抗为23.5KΩ。则预设性能衰减值0对应的目标衰减阻抗为23.5KΩ。
在一实施例中，可以直接将目标衰减阻抗作为第一阻抗。
在一实施例中，为了避免外界因素以及TP PIN自身的干扰，可以对TP PIN的衰减情况是否符合预测情况进行筛选。具体筛选过程如下：
步骤D1，获取目标衰减阻抗对应的阻抗衰减曲线的阻抗衰减度；
步骤D2，判断阻抗衰减度是否处于预设衰减度范围内；
步骤D3，如果在预设衰减度范围内，则将目标衰减阻抗设为第一阻抗值。
其中，阻抗衰减度为预设引脚在预设时间段内的平均阻抗下降值。举例来说，假设有60组预设引脚，预设衰减度范围为1-2之间。其中55组预设引脚在80h左右，性能从100下降到0，则该55组预设引脚的衰减度为1.25。其中2组预设引脚在40h左右，性能从100下降到0，则该2组预设引脚的衰减度为2.5。其中3组预设引脚在200h，性能从100下降到0，则该55组预设引脚的衰减度为0.5。
综上，可知该55组预设引脚处于预设衰减度范围内，因此可以将该55组预设引脚各自对应的目标衰减阻抗设为第一阻抗值。
步骤S102，根据多个第一阻抗值，得到阻抗下限值。
在一实施例中，可以取该多个第一阻抗值的平均值，来生成该阻抗下限值。
步骤S103，根据阻抗下限值，对参考显示面板的可靠性进行检测。
具体的，对参考显示面板的可靠性进行检测步骤包括：
步骤B1，根据所述阻抗下限值，获取参考显示面板的制程能力指数和过程能力指数。
步骤B2，判断所述制程能力指数是否不小于第一预设值，以及所述过程能力指数是否不小于第二预设值。
步骤B3，如果制程能力指数不小于所述第一预设值，且所述过程能力指数不小于所述第二预设值，则确定所述参考显示面板通过可靠性测试。
其中，第一预设值为1.67，第二预设值为2.0。其中，可以根据预设算法，输入该阻抗下限值，即可直接得到参考显示面板的制程能力指数和过程能力指数。
如图5所示，为预设TP PIN对应的第一参考显示面板的正态分布图。该图中，条型柱H代表第一参考显示面板的数量，开口向下的抛物线C表示第一参考显示面板的分布水平。其中，如下表1所示，第一参考显示面板的规格下限为0.1，规格上限为1.5。第一参考显示面板的均值为0.865729，数目为192，实际标准差为0.349942，预测的标准差为0.035513。参考显示面板的能力指数Pp为6.67，衡量过程均值接近规格下限的程度PPL为7.29，衡量过程均值接近规格上限的程度PPU为6.04，过程能力指数Ppk为6.04。预测到第二参考显示面板的能力指数Cp为6.57，测量过程均值趋近规格下限的程度CPL为7.19，测量过程均值趋近规格上限的程度CPU为5.95，制程能力指数Cpk为5.95。
表1
如图6所示，为预设POL PIN对应的第二参考显示面板的正态分布图。该图中，条型柱J代表第二参考显示面板的数量，开口向下的抛物线D表示第二参考显示面板的分布水平。其中，如下表2所示，第二参考显示面板的规格下限为0.1，规格上限为1.5。第二参考显示面板的均值为1.00328，数目为192，实际标准差为0.0211493，预测的标准差为0.0204618。第二参考显示面板的能力指数Pp为11.03，衡量过程均值接近规格下限的程度PPL为14.24，衡量过程均值接近规格上限的程度PPU为7.83，过程能力指数Ppk为7.83。预测到的第二参考显示面板能力指数Cp为11.40，测量过程均值趋近规格下限的程度CPL为14.71，测量过程均值趋近规格上限的程度CPU为8.09，制成程能力指数Cpk为8.09。
表2
综上，第一参考显示面板和第二参考显示面板的过程能力指数Ppk均大于2.0，制成程能力指数Cpk均大于1.6，即二者均通过了可靠性检测。如果没有通过可靠性检测，则需要重新获取多个预设引脚对应的多个第一阻抗值，即重新对多个预设引脚进行静电击伤实验，生成新的阻抗下限值。
步骤S104，如果参考显示面板通过可靠性检测，则获取显示面板中目标引脚的第二阻抗值。
具体的，如图1所示，可以通过转接板16将待测显示面板1000中的目标引脚1001与测试板18上的测试端子17连接。然后通过欧姆表一端与测试端子17连接，另一端与公共地极连接，可以测出目标引脚1001的第二阻抗值。
步骤S105，根据阻抗下限值和第二阻抗值，确定目标引脚是否受到静电击伤。
根据阻抗下限值和第二阻抗值，确定目标引脚是否受到静电击伤的步骤具体如下：
步骤C1，判断所述第二阻抗值是否小于所述阻抗下限值。
步骤C2，如果所述第二阻抗值小于或等于所述阻抗下限值，则确定所述目标引脚受到静电击伤。
步骤C3，如果所述第二阻抗值不小于阻抗下限值，则确定所述目标引脚未受到静电击伤。
如果第二阻抗值小于阻抗下限值，说明目标引脚已经被静电击伤，影响了显示面板的性能。如果不小于阻抗下限值，则确定该目标引脚未受到静电击伤。
需要说明的是，可以对不同类型的目标引脚，都采用上述方法生成对应的阻抗下限值。这样可以在如图1所示的测试板18中设置多个测试端子17，不同的测试端子17对应测试不同类型的目标引脚1001，从而实现对待测显示面板1000中多个目标引脚1001的批量检测。
本发明实施例还提供了一种显示面板的检测装置，用于检测所述显示面板中目标引脚是否受静电击伤。请参照图7，图7为本发明实施例提供的显示面板的检测装置的结构示意图。该检测装置1包括第一获取模块11、得到模块12、检测模块13、第二获取模块14以及确定模块15。
第一获取模块11，用于获取参考显示面板中多个预设引脚对应的多个第一阻抗值，所述多个预设引脚经静电击伤后具有不同大小的第一阻抗值，所述预设引脚与所述目标引脚为相同类型引脚。得到模块12，用于根据所述多个第一阻抗值，得到阻抗下限值。检测模块13，用于根据所述阻抗下限值，对参考显示面板的可靠性进行检测。第二获取模块14，用于在参考显示面板通过可靠性检测候，获取待测显示面板中所述目标引脚的第二阻抗值。确定模块15，用于根据所述阻抗下限值和所述第二阻抗值，确定所述目标引脚是否受到静电击伤。
在一实施例中，如图8所示，所述第一获取模块11包括：第一获取子模块111、第二获取子模块112以及设置子模块113。
第一获取子模块111，用于获取每个预设引脚对应的阻抗衰减曲线，以及所述预设引脚对应的目标显示面板的性能下降曲线，其中，所述阻抗衰减曲线包括所述预设引脚在不同静电击伤时长下对应的衰减阻抗，所述性能下降曲线包括所述目标显示面板在不同静电击伤时长下对应的性能衰减值。第二获取子模块112，用于从所述阻抗衰减曲线中，获取所述性能下降曲线中预设性能衰减值对应的目标衰减阻抗。设置子模块113，用于将所述目标衰减阻抗设置为所述第一阻抗值。
在一实施例中，所述设置子模块113用于：获取所述目标衰减阻抗对应的阻抗衰减曲线的阻抗衰减度；判断所述阻抗衰减度是否处于预设衰减度范围内；如果在预设衰减度范围内，则将所述目标衰减阻抗设为所述第一阻抗值。
在一实施例中，如图9所示，所述检测模块13包括：第三获取子模块131、第一判断子模块132以及第一确定子模块133。
第三获取子模块131，用于根据所述阻抗下限值，获取参考显示面板的制程能力指数和过程能力指数。第一判断子模块132，用于判断所述制程能力指数是否大于第一预设值，以及所述过程能力指数是否大于第二预设值。第一确定子模块133，用于在制程能力指数大于所述第一预设值，且所述过程能力指数大于所述第二预设值时，确定所述参考显示面板通过可靠性测试。
在一实施例中，如图10所示，所述确定模块15包括：第二判断子模块151、第二确定子模块152以及第三确定子模块153。
第二判断子模块151，用于判断所述第二阻抗值是否小于所述阻抗下限值。第二确定子模块152，用于在所述第二阻抗值小于或等于所述阻抗下限值时，确定所述目标引脚受到静电击伤。第三确定子模块153，用于在所述第二阻抗值大于所述阻抗下限值时，确定所述目标引脚未受到静电击伤。
如图1所示，显示面板的检测装置1还包括转接板16、测试板18和测试端子17。测试端子17设置在测试板18上。转接板16用于连接待测显示面板1000中的目标引脚1001和测试板18上的测试端子17。第二获取模块13的一端与测试端子17连接，另一端与公共地极连接，可以测出目标引脚1001的第二阻抗值。
在一实施例中还提供了一种控制器和存储器。
请参考图11，图11为本发明实施例提供的控制器和存储器的结构示意图。
存储器301可用于存储软件程序以及模块，其主要包括存储程序区和存储数据区。控制器302通过运行存储在存储器301的软件程序以及模块，从而执行各种功能应用以及数据处理。
控制器302通过运行或执行存储在存储器201内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储器301内的数据，执行各种功能和处理数据，从而进行整体监控。
在一些实施例中，控制器302用于获取参考显示面板中多个预设引脚对应的多个第一阻抗值，多个预设引脚经静电击伤后具有不同大小的第一阻抗值，预设引脚与目标引脚为相同类型的引脚；根据多个第一阻抗值，得到阻抗下限值；根据阻抗下限值，对参考显示面板的可靠性进行检测；如果参考显示面板通过可靠性检测，则获取显示面板中目标引脚的第二阻抗值；根据阻抗下限值和第二阻抗值，确定目标引脚是否受到静电击伤。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
以上对本申请实施例所提供的一种显示面板的检测方法、装置、控制器和存储介质进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。
Claims (8)
1.一种显示面板的检测方法，用于检测待测显示面板中目标引脚是否受静电击伤，其特征在于，包括：
获取参考显示面板中多个预设引脚对应的多个第一阻抗值，所述多个预设引脚经静电击伤后具有不同大小的第一阻抗值，所述预设引脚与所述目标引脚为相同类型的引脚；
根据所述多个第一阻抗值，得到阻抗下限值；
根据所述阻抗下限值，对所述参考显示面板的可靠性进行检测；
如果所述参考显示面板通过可靠性检测，则获取所述待测显示面板中所述目标引脚的第二阻抗值；
根据所述阻抗下限值和所述第二阻抗值，确定所述目标引脚是否受到静电击伤；
其中，所述参考显示面板包括多个显示面板，所述获取参考显示面板中多个预设引脚对应的多个第一阻抗值步骤，包括：
获取每个预设引脚对应的阻抗衰减曲线，以及所述预设引脚对应的目标显示面板的性能下降曲线，其中，所述阻抗衰减曲线包括所述预设引脚在不同静电击伤时长下对应的衰减阻抗，所述性能下降曲线包括所述目标显示面板在不同静电击伤时长下对应的性能衰减值；
从所述阻抗衰减曲线中，获取所述性能下降曲线中预设性能衰减值对应的目标衰减阻抗；
将所述目标衰减阻抗设置为所述第一阻抗值。
2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述将所述目标衰减阻抗设置为所述第一阻抗值步骤，包括：
获取所述目标衰减阻抗对应的阻抗衰减曲线的阻抗衰减度，所述阻抗衰减度为所述预设引脚在预设时间段内的平均阻抗下降值；
判断所述阻抗衰减度是否处于预设衰减度范围内；
如果在预设衰减度范围内，则将所述目标衰减阻抗设为所述第一阻抗值。
3.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述根据所述阻抗下限值，对所述参考显示面板的可靠性进行检测步骤，包括：
根据所述阻抗下限值，获取所述参考显示面板对应的制程能力指数和过程能力指数；
判断所述制程能力指数是否不小于第一预设值，以及所述过程能力指数是否不小于第二预设值；
如果制程能力指数不小于所述第一预设值，且所述过程能力指数不小于所述第二预设值，则确定所述参考显示面板通过可靠性测试。
4.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述根据所述阻抗下限值和所述第二阻抗值，确定所述目标引脚是否受到静电击伤步骤，包括：
判断所述第二阻抗值是否小于所述阻抗下限值；
如果所述第二阻抗值小于或等于所述阻抗下限值，则确定所述目标引脚受到静电击伤；
如果所述第二阻抗值大于所述阻抗下限值，则确定所述目标引脚未受到静电击伤。
5.一种显示面板的检测装置，用于检测待测显示面板中目标引脚是否受静电击伤，其特征在于，包括：
第一获取模块，用于获取参考显示面板中多个预设引脚对应的多个第一阻抗值，所述多个预设引脚经静电击伤后具有不同大小的第一阻抗值，所述预设引脚与所述目标引脚为相同类型的引脚；
得到模块，用于根据所述多个第一阻抗值，得到阻抗下限值；
检测模块，用于根据所述阻抗下限值，对所述参考显示面板的可靠性进行检测；
第二获取模块，用于在所述参考显示面板通过可靠性检测候，获取所述待测显示面板中所述目标引脚的第二阻抗值；
确定模块，用于根据所述阻抗下限值和所述第二阻抗值，确定所述目标引脚是否受到静电击伤；
其中，所述参考显示面板包括多个显示面板，所述第一获取模块包括：
第一获取子模块，用于获取每个预设引脚对应的阻抗衰减曲线，以及所述预设引脚对应的目标显示面板的性能下降曲线，其中，所述阻抗衰减曲线包括所述预设引脚在不同静电击伤时长下对应的衰减阻抗，所述性能下降曲线包括所述目标显示面板在不同静电击伤时长下对应的性能衰减值；
第二获取子模块，用于从所述阻抗衰减曲线中，获取所述性能下降曲线中预设性能衰减值对应的目标衰减阻抗；
设置子模块，用于将所述目标衰减阻抗设置为所述第一阻抗值。
6.根据权利要求5所述的显示面板的检测装置，其特征在于，所述设置子模块用于：
获取所述目标衰减阻抗对应的阻抗衰减曲线的阻抗衰减度；
判断所述阻抗衰减度是否处于预设衰减度范围内；
如果在预设衰减度范围内，则将所述目标衰减阻抗设为所述第一阻抗值。
7.一种控制器，其特征在于，所述控制器用于执行存储于存储器的若干指令，以实现如权利要求1-4任一项所述的检测方法。
8.一种存储介质，所述存储介质中存储若干指令，其特征在于，所述指令用于供控制器执行以实现如权利要求1-4任一项所述的检测方法。
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