DE102014205441B4

DE102014205441B4 - Hintergrundbeleuchtungsmodul und Verfahren zum Erfassen von dessen elektrostatischer Beschädigung

Info

Publication number: DE102014205441B4
Application number: DE102014205441.9A
Authority: DE
Inventors: Kangkang PING; Dekai Chen; Rongrong Jing; Xueping Wu; Zhuocong Li; Zhengyuan Huang
Original assignee: Tianma Microelectronics Co Ltd; Shanghai AVIC Optoelectronics Co Ltd
Current assignee: Tianma Microelectronics Co Ltd; Shanghai AVIC Optoelectronics Co Ltd
Priority date: 2013-11-15
Filing date: 2014-03-24
Publication date: 2022-11-10
Anticipated expiration: 2034-03-25
Also published as: CN103941434A; US9477115B2; DE102014205441A1; CN103941434B; US20150137709A1

Abstract

Hintergrundbeleuchtungsmodul (111, 211), miteiner Leiterplatte (12, 22);zumindest einer Lichtquelle (11, 21), die auf der Leiterplatte (12, 22) angeordnet ist; undeinem positiven Prüfkopfpunkt (13, 23) und einem negativen Prüfkopfpunkt (14, 24), die beide auf der Leiterplatte (12, 22) bereitgestellt und elektrisch mit der Lichtquelle (11, 21) verbunden sind;wobei der positive Prüfkopfpunkt (13, 23) und der negative Prüfkopfpunkt (14, 24) elektrisch mit einem Stromteilungselement (112) derart verbunden sind, dass die Lichtquelle (11, 21) parallel mit dem Stromteilungselement (112) verbunden ist, um eine elektrostatische Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls (111, 211) zu erfassen,wobei das Stromteilungselement (112) konfiguriert ist, einen zweiten Erfassungsstrom, der ein an die Lichtquelle (11, 21) angelegter Niedrigstrom ist, von dem ersten Erfassungsstrom abzuteilen.

Description

Technisches Gebiet
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Gebiet von Hintergrundbeleuchtungsmodultechniken bei Flüssigkristallanzeigen und insbesondere auf ein Hintergrundbeleuchtungsmodul und ein Verfahren zum Erfassen von dessen elektrostatischer Beschädigung.
Technischer Hintergrund
Flüssigkristallanzeigen sind weit verbreitet in verschiedenen elektronischen Kommunikationserzeugnissen, und ein Hintergrundbeleuchtungsmodul ist eine der wichtigen Komponenten in der Flüssigkristallanzeige. Derzeit werden üblicherweise Leuchtdioden (LEDs) als die Lichtquellen in dem Hintergrundbeleuchtungsmodul verwendet. Statische Elektrizität wird auf verschiedene Arten bei einer Montage des Hintergrundbeleuchtungsmoduls wahrscheinlich erzeugt, beispielsweise während Stadien einer Herstellung der LEDs, eines Schweißens der LEDS an eine flexible gedruckte Leiterplatte (FPC, Flexible Printed Circuit), einer Montage eines LED-Streifens an das Hintergrundbeleuchtungsmodul, und dergleichen. Während dem gesamten Herstellungsprozess von der LED-Chip-Herstellung bis zu der Montage des gesamten elektronischen Erzeugnisses kann eine elektrostatische Beschädigung der LEDs durch Bediener, Maschinen, Materialien und Umgebungen hervorgerufen werden, und die Vermeidung der elektrostatischen Beschädigung ist ein Schwerpunkt in der Industrie geworden, weil die LED, die ein Halbleiterelement ist, anfällig für die statische Elektrizität ist, da deren PN-Übergang der Umgebung direkt ausgesetzt ist. Wenn mit einem normalen Betriebsstrom beaufschlagt zeigt eine einer starken elektrostatischen Beschädigung unterworfene LED Defekte wie eine Stromableitung, oder kann sogar kein Licht abgeben, wohingegen eine einer leichten elektrostatischen Beschädigung unterworfene LED gewöhnlich keine Abnormität zeigt. Die einer leichten elektrostatischen Beschädigung unterworfene LED hat jedoch bereits ein bestimmtes potentielles Risiko, und würde Defekte wie ein abgedunkeltes abgegebenes Licht oder eine erhöhte Stromableitung zeigen, oder kann sogar kein Licht abgeben, nachdem die LED einer sekundären elektrostatischen Beschädigung unterworfen ist.
Da die elektrostatische Beschädigung bislang durch die Herstellungsstadien von Flüssigkristallanzeigemodulen (LCM, Liquid Crystal Display Module) nicht vollständig vermieden werden kann, wurden in den verschiedenen Herstellungsstadien Maßnahmen unternommen, um zu erfassen, ob die LED Licht normal abgibt, um die durch die statische Elektrizität beschädigte defekte LED zu entfernen. Wenn schwer beschädigt, würde die LED zu einem ausgefallenen Licht werden (das heißt, die LED ist vollständig beschädigt, beispielsweise durch die statische Elektrizität, und kann nicht normal funktionieren), was gewöhnlich herausgefunden werden kann durch direktes Erfassen, ob die LED Licht normal abgibt, nachdem der normale Betriebsstrom an die LED angelegt ist. Wie in 1 gezeigt, ist der LED-Streifen oder das Hintergrundbeleuchtungsmodul (nicht gezeigt) mit einer normalen Energieversorgung 3 mittels einer Beleuchtungsbefestigung 2 verbunden, und eine LED des LED-Streifens oder des Hintergrundbeleuchtungsmoduls kann als ein ausgefallenes oder nicht ausgefallenes Licht bestimmt werden durch Erfassen, ob die LED Licht normal abgibt.
Zudem kann eine einer leichten elektrostatischen Beschädigung unterworfene LED, wenn mit dem normalen Betriebsstrom beaufschlagt, auch Licht normal abgeben, und daher ist es nicht möglich zu bestimmen, ob die LED der leichten elektrostatischen Beschädigung unterworfen wurde. Die der leichten elektrostatischen Beschädigung unterworfene LED kann jedoch Licht nicht normal abgeben, wenn ein niedriger Strom an diese angelegt ist, wodurch es geeignet ist, den niedrigen Strom an die LED anzulegen, um zu erfassen, ob die LED durch die statische Elektrizität leicht beschädigt wurde. Wenn eine der leichten elektrostatischen Beschädigung unterworfene LED nicht gefunden ist, würde die LED Defekte wie abgedunkeltes abgegebenes Licht oder eine erhöhte Stromableitung zeigen, oder kann sogar kein Licht abgeben, wenn die LED einer sekundären elektrostatischen Beschädigung unterworfen ist, und als ein Ergebnis kann das gesamte Hintergrundbeleuchtungsmodul und das LCM nicht normal funktionieren, was in geringerem Ertrag und hohen Herstellungskosten resultiert.
2 zeigt die bestehenden LED-Erfassungstechniken zur Erfassung, ob eine LED durch die statische Elektrizität beschädigt wurde. Wie gezeigt wird in Schritt S1 die niedrigstrombasierte Erfassung bei einem einzelnen LED-Chip durchgeführt, um zu bestimmen, ob der einzelne bzw. individuelle LED-Chip Licht normal abgibt, wird in Schritt S2 die niedrigstrombasierte Erfassung bei einem durch LED-Chips zusammengesetzten LED-Streifen durchgeführt, um zu erfassen, ob der LED-Streifen Licht normal abgibt, wird in Schritt S3 die niedrigstrombasierte Erfassung bei einem durch LED-Streifen zusammengesetzten Hintergrundbeleuchtungsmodul durchgeführt, um zu bestimmen, ob das Hintergrundbeleuchtungsmodul Licht normal abgibt, kann jedoch weder in Schritt S4 die niedrigstrombasierte Erfassung für das durch die Hintergrundbeleuchtungsmodule zusammengesetzte LCM noch in den nachfolgenden Schritten durchgeführt werden. DerGrund liegt darin, dass, nachdem die Hintergrundbeleuchtungsmodule in das LCM montiert wurden, der der LED zugeführte Strom auf einen voreingestellten Nennstrom mit einer unveränderbaren Größe begrenzt ist, der ein Normalbetriebsstrom ist, anstelle eines Niedrigstroms, so dass die niedrigstrombasierte Erfassung nicht durchgeführt werden kann. Sowohl in dem Schritt der Montage der Hintergrundbeleuchtungsmodule in das LCM als auch in den nachfolgenden Schritten ist die elektrostatische Beschädigung jedoch unvermeidbar, aber die niedrigstrombasierte Erfassung kann nicht für die LEDs in den LCMs durchgeführt werden, so dass möglicherweise defekte LEDs, die der elektrostatischen Beschädigung unterworfen sind, zu einem Risiko bezüglich der Qualität des LCM führen.
Weitere Informationen zum Stand der Technik sind auch der US 2011 / 0 316 011 A1 und der DE 10 2012 201 317 A1 zu entnehmen.
Zusammenfassung der Erfindung
Für die in dem Stand der Technik dargelegten Probleme ist es Aufgabe der Erfindung, ein Hintergrundbeleuchtungsmodul, ein Verfahren zum Erfassen einer elektrostatischen Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls, und ein Flüssigkristallmodul bereitzustellen.
Gemäß einem beispielhaften Ausführungsbeispiel der Erfindung wird ein Hintergrundbeleuchtungsmodul bereitgestellt, und das Hintergrundbeleuchtungsmodul umfasst: eine Leiterplatte, zumindest eine auf der Leiterplatte angeordnete Lichtquelle, und zumindest einen positiven Prüfkopfpunkt und zumindest einen negativen Prüfkopfpunkt, die beide auf der Leiterplatte bereitgestellt sind und elektrisch mit der Lichtquelle verbunden sind, wobei der positive Prüfkopfpunkt und der negative Prüfkopfpunkt elektrisch mit einem Stromteilungselement verbunden sind, so dass die Lichtquelle parallel mit dem Stromteilungselement verbunden ist, um eine elektrostatische Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls zu erfassen. Das Stromteilungselement ist konfiguriert, einen zweiten Erfassungsstrom, der ein an die Lichtquelle angelegter Niedrigstrom ist, von dem ersten Erfassungsstrom abzuteilen.
Gemäß einem beispielhaften Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren zum Erfassen einer elektrostatischen Beschädigung eines Hintergrundbeleuchtungsmoduls bereitgestellt, wobei das Verfahren die folgenden Schritte aufweist:

Bereitstellen eines Stromteilungselements;
Bereitstellen eines Hintergrundbeleuchtungsmoduls, das eine Leiterplatte und zumindest eine auf der Leiterplatte angeordnete Lichtquelle umfasst;
Bereitstellen einer Erfassungsenergieversorgung, die dazu eingerichtet ist, um einen ersten Erfassungsstrom anzulegen; Anlegen des ersten Erfassungsstroms an die Lichtquelle durch elektrisches Verbinden der Erfassungsenergieversorgung mit der Lichtquelle;
Verbinden des Stromteilungselements parallel mit der Lichtquelle derart, dass ein zweiter Erfassungsstrom, der ein an die Lichtquelle angelegter Niedrigstrom ist, von dem ersten Erfassungsstrom abgeteilt wird; und
Bestimmen mittels dem an die Lichtquelle angelegten zweiten Erfassungsstrom, ob die Lichtquelle beschädigt ist, wobei, wenn eine Lichtquelle Licht normal abgibt, die Lichtquelle der elektrostatischen Beschädigung nicht unterzogen wurde, wenn anderenfalls die Lichtquelle Licht nicht normal abgibt, die Lichtquelle der elektrostatischen Beschädigung unterzogen wurde.

Gemäß einem beispielhaften Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung wird ein Flüssigkristallanzeigemodul bereitgestellt, das das obige Hintergrundbeleuchtungsmodul aufweist.
Mit der vorstehend beschriebenen technischen Lösung offenbart die vorliegende Erfindung ein Hintergrundbeleuchtungsmodul und ein Verfahren zum Erfassen von dessen elektrostatischer Beschädigung, wobei das Hintergrundbeleuchtungsmodul verglichen mit dem Stand der Technik die Erfassung für die elektrostatische Beschädigung der LED unter der Niedrigstrombedingung erzielen kann sogar nachdem das Hintergrundbeleuchtungsmodul in das Flüssigkristallanzeigemodul montiert ist.
Figurenliste
Um die technischen Lösungen der Ausführungsbeispiele der Erfindung klarer zu veranschaulichen, werden die für die Beschreibung der Ausführungsbeispiele verwendeten Zeichnungen nachstehend kurz vorgestellt. Offensichtlich zeigen die Zeichnungen für die folgende Beschreibung lediglich einige Ausführungsbeispiele der Erfindung, und andere Zeichnungen können ebenso durch den Fachmann ohne jegliche schöpferische Arbeit aus den beschriebenen Zeichnungen erhalten werden.

1 ist ein schematisches Diagramm eines Verfahrens zum Erfassen eines ausgefallenen Lichts in einem LED-Streifen 1 oder einem Hintergrundbeleuchtungsmodul gemäß dem Stand der Technik;
2 ist ein Flussdiagramm eines Verfahrens zum Erfassen einer elektrostatischen Beschädigung des Flüssigkristallmoduls gemäß dem Stand der Technik;
3 ist ein schematisches Diagramm eines Hintergrundbeleuchtungsmoduls gemäß der vorliegenden Erfindung;
4 ist eine teilweise vergrößerte Ansicht des durch die gestrichelte Linie in 3 eingeschlossenen Abschnitts;
5 ist ein schematisches Diagramm eines Stromteilungselements 112 der 3;
6 ist ein schematisches Diagramm, das den äquivalenten Schaltkreis bei einer Erfassung der elektrostatischen Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt;
7 ist ein schematisches Diagramm eines Hintergrundbeleuchtungsmoduls gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
8 ist eine teilweise vergrößerte Ansicht des durch die gestrichelte Linie in 7 eingeschlossenen Abschnitts;
9 ist ein schematisches äquivalentes Schaltkreisdiagramm des Hintergrundbeleuchtungsmoduls gemäß dem zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
10 ist ein schematisches Diagramm, das den äquivalenten Schaltkreis bei einer Erfassung der elektrostatischen Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls gemäß dem zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung zeigt;
11 ist ein schematisches Diagramm des Verfahrens zum Erfassen der elektrostatischen Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;
12 ist ein schematisches Diagramm des Verfahrens zum Erfassen der elektrostatischen Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls gemäß einem vierten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung; und
13 ist ein schematisches Diagramm eines Flüssigkristallanzeigemoduls gemäß einem fünften Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.

Detaillierte Beschreibung des bevorzugten Ausführungsbeispiels
Die technischen Lösungen in den Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung sind nachstehend klar und vollständig in Kombination mit den Zeichnungen beschrieben. Offensichtlich sind die beschriebenen Ausführungsbeispiele einige anstelle von allen Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung. Alle anderen im Lichte der beschriebenen Ausführungsbeispiele der Erfindung durch den Fachmann ohne jegliche schöpferische Arbeit erlangten Ausführungsbeispiele sollten in den Schutzbereich der vorliegenden Erfindung fallen.
Die vorliegende Erfindung offenbart ein Hintergrundbeleuchtungsmodul und ein Verfahren zum Erfassen von dessen elektrostatischer Beschädigung, wobei das Hintergrundbeleuchtungsmodul ein Hintergrundbeleuchtungsmodul, eine Leiterplatte, zumindest eine auf der Leiterplatte angeordnete Lichtquelle, und zumindest einen positiven Prüfkopfpunkt und zumindest einen negativen Prüfkopfpunkt, die beide auf der Leiterplatte bereitgestellt und elektrisch mit der Lichtquelle verbunden sind, wobei der positive Prüfkopfpunkt und der negative Prüfkopfpunkt mit einem Stromteilungselement derart verbunden sind, aufweist, dass die Lichtquelle parallel mit dem Stromteilungselement verbunden ist, um eine elektrostatische Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls zu erfassen. Das Hintergrundbeleuchtungsmodul kann verglichen mit dem Stand der Technik die Erfassung für die elektrostatische Beschädigung der LED unter der Niedrigstrombedingung erreichen sogar nachdem das Hintergrundbeleuchtungsmodul in das Flüssigkristallanzeigemodul montiert ist.
[Erstes Ausführungsbeispiel]
Wie in den 3 bis 5 gezeigt offenbart die vorliegende Erfindung ein Hintergrundbeleuchtungsmodul 111, das eine Leiterplatte 12 und zumindest eine Lichtquelle 11 aufweist, die auf der Leiterplatte 12 angeordnet ist. Die Lichtquelle 11 ist gewöhnlich durch LEDs zusammengestellt, die seriell miteinander verbunden sein können, oder die durch parallele LED-Gruppen gebildet sein können, wovon jede seriell verbundene LEDs aufweist, und wobei die Leiterplatte 12 eine FPC-Platte aufweist.
Wie in 4 (die eine teilweise vergrößerte Ansicht des durch eine gestrichelte Linie in 3 eingeschlossenen Abschnitts zeigt) gezeigt, umfasst das Lichtquellenmodul 111 ferner zumindest einen positiven Prüfkopfpunkt 13 und zumindest einen negativen Prüfkopfpunkt 14, die beide auf der Leiterplatte 12 angeordnet (insbesondere auf einem herausragenden Abschnitt A der Leiterplatte 12 angeordnet) sind, und die elektrisch mit der Lichtquelle 11 verbunden sind, das heißt, wobei leitfähige Drähte auf der Leiterplatte 12 angeordnet sind, um den positiven Prüfkopfpunkt 13 und den negativen Prüfkopfpunkt 14 mit der Lichtquelle 11 leitend zu verbinden. Der positive Prüfkopfpunkt 13 und der negative Prüfkopfpunkt 14, die auf der Platte 12 angeordnet sind, sind zu einem elektrischen Verbinden zu einem Stromteilungselement 112 derart eingerichtet, dass die Lichtquelle 11 parallel mit dem Stromteilungselement 112 verbunden ist, um die elektrostatische Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls zu erfassen.
Erneut Bezug nehmend auf 3 umfasst das Hintergrundbeleuchtungsmodul 111 ferner Erfassungspole 15 und 16, die auf der Leiterplatte 12 angeordnet und elektrisch mit der Lichtquelle 11 verbunden sind, das heißt, leitfähige Drähte sind auf der Leiterplatte 12 angeordnet, um die Erfassungspole 15 und 16 mit der Lichtquelle 11 leitend zu verbinden. Die Erfassungspole 15 und 16 sind gewöhnlich auf dem herausragenden Abschnitt A der Leiterplatte 12 angeordnet und dazu eingerichtet, um eine externe Erfassungsenergieversorgung 11 zu verbinden, um die elektrostatische Beschädigung oder ein ausgefallenes Licht in der Lichtquelle 11 zu erfassen.
Wie in 3 gezeigt ist in dem vorliegenden Ausführungsbeispiel das Hintergrundbeleuchtungsmodul 111 strukturell von dem Stromteilungselement 112 getrennt.
Wie in 5 gezeigt umfasst das Stromteilungselement 112 zumindest einen ersten Widerstand 19, zumindest einen positiven Prüfkopf 17, und zumindest einen negativen Prüfkopf 18. Der erste Widerstand 19 ist elektrisch mit sowohl dem positiven Prüfkopf 17 als auch dem negativen Prüfkopf 18 verbunden, das heißt, die beiden Enden des ersten Widerstands 19 sind mit dem positiven Prüfkopf 17 und dem negativen Prüfkopf 18 jeweils mittels leitfähigen Drähten verbunden. Es wird bemerkt, dass der erste Widerstand 19 zumindest einen ersten variablen Widerstand oder zumindest einen ersten konstanten Widerstand aufweist.
Erneut Bezug nehmend auf 3 und 5, um die elektrostatische Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls 111 zu erfassen, wird der positive Prüfkopf 17 mit dem positiven Prüfkopfpunkt 13 verbunden und der negative Prüfkopf 18 mit dem negativen Prüfkopfpunkt 14 verbunden, so dass der erste Widerstand 19 parallel mit der Lichtquelle 11 verbunden ist, was in einem in 10 gezeigten äquivalenten Schaltkreisdiagramm resultiert. Insbesondere wird, um die elektrostatische Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls 111 zu erfassen, der externe Strom typischerweise durch eine mit den Erfassungspolen 15 und 16 verbundene externe Energieversorgung direkt an die Lichtquelle 11 angelegt, um zu bestimmen, ob irgendeine elektrostatische Beschädigung bei der Lichtquelle 11 aufgetreten ist. Wenn die Größe des durch die externe Energieversorgung angelegten Stroms unkontrollierbar ist, insbesondere wenn die Größe des durch die externe Energieversorgung angelegten Stroms groß ist, kann eine der leichten elektrostatischen Beschädigung unterworfene Lichtquelle nicht erfasst werden, und eine solche Lichtquelle wird Defekte wie abgedunkeltes abgegebenes Licht oder eine erhöhte Stromableitung zeigen, oder kann sogar kein Licht abgeben, nachdem die Lichtquelle eine sekundäre elektrostatische Beschädigung erleidet. Um dieses durch die unkontrollierbare Größe des durch die externe Energieversorgung angelegten Stroms verursachte Problem zu lösen, ist in dem vorliegenden Ausführungsbeispiel der erste Widerstand 19, der der erste variable Widerstand mit einem anpassbaren Widerstand (Resistanz) ist, parallel mit der Lichtquelle 11 auf dem Hintergrundbeleuchtungsmodul 111 verbunden, so dass der an die Lichtquelle 11 angelegte externe Strom durch den ersten Widerstand 19 geteilt werden kann, und ein Niedrigstrom (niedriger Strom) zur Erfassung der durch die Lichtquelle erlittenen elektrostatischen Beschädigung wird durch Anpassen der Größe des Widerstands des ersten Widerstands 19 von dem externen Strom abgeteilt. Alternativ kann, wenn der erste Widerstand 19 ein erster konstanter Widerstand ist, das Abteilen des Niedrigstroms von dem externen Strom durch Ersetzen des ersten Widerstands 19 durch einen konstanten Widerstand mit einem anderen Widerstand (Resistanz) umgesetzt sein.
Es wird ebenso bemerkt, dass in dem Fall einer Vielzahl von Lichtquellen 11, die typischerweise LEDs sind, wenn die LEDs seriell miteinander verbunden sind, der Niedrigstrom (niedrige Strom) zur Erfassung des Vorhandenseins einer elektrostatischen Beschädigung irgendeiner LED gewöhnlich eine Größe von 0,5 bis 1 mA hat, das heißt, die Größe des an jede der seriell verbundenen LEDs angelegten Stroms ist 0,5 bis 1 mA; anderenfalls, wenn die Lichtquellen 11 durch parallele LED-Gruppen zusammengestellt sind, von denen jede durch eine Vielzahl von seriell verbundenen LEDs gebildet ist, der Niedrigstrom zur Erfassung des Vorhandenseins einer elektrostatischen Beschädigung in der LED eine solche Größe hat, dass der an jede der seriell verbundenen LEDs in jeder der LED-Gruppen angelegte Strom eine Größe von 0,5 bis 1 mA hat, von daher ist die Größe des Niedrigstroms nicht konstant.
Ferner sind der positive Prüfkopfpunkt 13 und der negative Prüfkopfpunkt 14 auf dem herausragenden Abschnitt A der Leiterplatte 12 bereitgestellt, so dass der positive Prüfkopfpunkt 13 und der negative Prüfkopfpunkt 14 selbst nach der Montage des Hintergrundbeleuchtungsmoduls 111 in das Flüssigkristallanzeigemodul frei liegen, da die positiven und negativen Prüfkopfpunkte beide auf dem herausragenden Abschnitt der Leiterplatte 12 befindlich sind. Von daher ist es leicht und bequem, das Stromteilungselement 112 mit dem positiven Prüfkopfpunkt 13 und dem negativen Prüfkopfpunkt 14 zu verbinden, um die elektrostatische Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls 111 zu erfassen.
[Zweites Ausführungsbeispiel]
Basierend auf dem offenbarten ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung offenbart die Erfindung ferner ein Hintergrundbeleuchtungsmodul 211. Das Hintergrundbeleuchtungsmodul 211 umfasst: eine Leiterplatte 22, zumindest eine auf der Leiterplatte 22 angeordnete Lichtquelle 21, Erfassungspole 25 und 26, die auf einem herausragenden Abschnitt B der Leiterplatte 22 angeordnet sind, und zumindest einen positiven Prüfkopfpunkt 23 und zumindest einen negativen Prüfkopfpunkt 24, die beide auf der Leiterplatte 22 bereitgestellt sind (insbesondere auf einem herausragenden Abschnitt B der Leiterplatte 22), und die mit der Lichtquelle 21 elektrisch verbunden sind. Die Lichtquelle 21 ist gewöhnlich durch LEDs zusammengestellt, die seriell miteinander verbunden sein können, oder die durch parallele LED-Gruppen gebildet sein können, von denen jede seriell verbundene LEDs aufweist, und die Leiterplatte 22 umfasst eine FPC-Platte. Der positive Prüfkopfpunkt 23 und der negative Prüfkopfpunkt 24, die auf der Platte 22 angeordnet sind, sind zum elektrischen Verbinden zu einem Stromteilungselement derart eingerichtet, dass die Lichtquelle 21 parallel mit dem Stromteilungselement verbunden ist, um die elektrostatische Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls 211 zu erfassen.
Wie in 7 gezeigt unterscheidet sich das vorliegende Ausführungsbeispiel von dem ersten Ausführungsbeispiel dadurch, dass das Hintergrundbeleuchtungsmodul 211 integral mit dem Stromteilungselement gebildet ist.
Wie in 8 (die eine teilweise vergrößerte Ansicht des durch die gestrichelte Linie in 7 eingeschlossenen Abschnitts ist) gezeigt umfasst das Stromteilungselement zumindest einen zweiten Widerstand 29, der zumindest einen zweiten variablen Widerstand oder zumindest einen konstanten Widerstand aufweist, angeordnet auf einer Seite der Leiterplatte 22, bevorzugt angeordnet auf dem herausragenden Abschnitt B der Leiterplatte 22, wobei die vorliegende Erfindung jedoch nicht darauf beschränkt ist. Wenn die Erfassung der elektrostatischen Beschädigung nicht für das Hintergrundbeleuchtungsmodul 211 durchgeführt wird, ist der zweite Widerstand 29 von der Lichtquelle 21 getrennt, was in einem in 9 gezeigten äquivalenten Schaltkreisdiagramm resultiert, in dem die elektrischen Schaltkreisverbindungen durch die angeordneten leitfähigen Drähte auf der Leiterplatte 21 verwirklicht sein können. Wenn eine normale Betriebsspannung über der Lichtquelle 21 angelegt ist, ist die Lichtquelle 21 in einem normalen Betriebszustand, und der zweite Widerstand 29 ist von der Lichtquelle 21 getrennt.
Erneut Bezug nehmend auf 8 ist, um die elektrostatische Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls 211 zu erfassen, der positive Prüfkopfpunkt 23 mit dem negativen Prüfkopfpunkt 24 durch einen externen leitfähigen Draht 20 verbunden, so dass der zweite Widerstand 29 parallel mit der Lichtquelle 21 verbunden ist, was in einem in 10 gezeigten äquivalenten Schaltkreisdiagramm resultiert. Das heißt, die Verbindung zwischen dem positiven Prüfkopfpunkt 23 und dem negativen Prüfkopfpunkt 24 mittels dem externen leitfähigen Draht 20 ermöglicht es dem positiven Prüfkopfpunkt 23 und dem negativen Prüfkopfpunkt 24, als ein Schalter zu dienen, und als ein Ergebnis ist, wenn der positive Prüfkopfpunkt 23 und der negative Prüfkopfpunkt 24 miteinander verbunden sind, der zweite Widerstand 29 parallel mit der Lichtquelle zum Zweck einer Stromteilung verbunden, und wenn der positive Prüfkopfpunkt 23 und der negative Prüfkopfpunkt 24 voneinander getrennt sind, der zweite Widerstand 29 nicht mit der Lichtquelle 21 elektrisch verbunden. Das Stromteilungselement, das heißt der zweite Widerstand 29, ist direkt auf der Leiterplatte 22 gebildet, so dass die elektrostatische Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls 211 einfacher erfasst werden kann.
Das vorliegende Ausführungsbeispiel basiert auf dem ersten Ausführungsbeispiel, und Teile in dem vorliegenden Ausführungsbeispiel gleich mit jenen des ersten Ausführungsbeispiels werden hier nicht erneut beschrieben.
[Drittes Ausführungsbeispiel]
Wie in 3 und 11 gezeigt offenbart basierend auf dem offenbarten ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung die vorliegende Erfindung ferner ein Verfahren zum Erfassen einer elektrostatischen Beschädigung eines Hintergrundbeleuchtungsmoduls, und das Verfahren umfasst die Schritte S101 bis S105 wie folgt.
In Schritt S101 wird ein Stromteilungselement 112 bereitgestellt. Das Stromteilungselement 112 umfasst zumindest einen ersten Widerstand 19, zumindest einen positiven Prüfkopf 17, und zumindest einen negativen Prüfkopf 18, wobei der erste Widerstand 19 elektrisch mit dem positiven Prüfkopfpunkt 17 und dem negativen Prüfkopfpunkt 18 verbunden ist, das heißt, beide Enden des ersten Widerstands 19 sind mit dem positiven Prüfkopf 17 und dem negativen Prüfkopf 18 jeweils durch leitfähige Drähte verbunden. Es wird bemerkt, dass der erste Widerstand 19 zumindest einen ersten variablen Widerstand oder einen ersten konstanten Widerstand aufweist.
In Schritt S102 wird ein Hintergrundbeleuchtungsmodul 111 bereitgestellt. Das Hintergrundbeleuchtungsmodul 111 umfasst: eine Leiterplatte 12 (die typischerweise eine flexible gedruckte Leiterplatte ist), zumindest eine Lichtquelle 11, die auf der Leiterplatte 12 angeordnet ist, und den positiven Prüfkopfpunkt 13 und den negativen Prüfkopfpunkt 14, die beide auf der Leiterplatte 12, insbesondere auf dem herausragenden Abschnitt A der Leiterplatte 12, angeordnet sind, und die elektrisch mit der Lichtquelle 11 verbunden sind. Das Hintergrundbeleuchtungsmodul 111 umfasst ferner Erfassungspole 15 und 16, die auf der Leiterplatte 12 bereitgestellt und elektrisch mit der Lichtquelle 11 verbunden sind, das heißt, die Leiterplatte 12 ist mit leitfähigen Drähten zum leitenden Verbinden der Erfassungspole 15 und 16 mit der Lichtquelle 11 versehen.
In Schritt S103 wird eine Erfassungsenergieversorgung bereitgestellt, um einen ersten Erfassungsstrom I₁ (dessen Größe konstant oder als unveränderlich voreingestellt sein kann) an die Lichtquelle 11 anzulegen, das heißt, die Erfassungsenergieversorgung wird elektrisch mit der Lichtquelle 11 verbunden, insbesondere legt die Erfassungsenergieversorgung den ersten Erfassungsstrom I₁ mittels der Erfassungspole 15 und 16 auf der Leiterplatte 12 an die Lichtquelle 11 an.
In Schritt S104 wird das Stromteilungselement 112 parallel mit der Lichtquelle 11 derart verbunden, dass ein zweiter Erfassungsstrom I₂, der ein an die Lichtquelle 11 angelegter Niedrigstrom ist, von dem ersten Erfassungsstrom I₁ abgeteilt wird, insbesondere wird der positive Prüfkopf 17 des Stromteilungselements 112 elektrisch mit dem positiven Prüfkopfpunkt 13 auf der Leiterplatte 12 verbunden, und wird der negative Prüfkopf 18 des Stromteilungselements 112 elektrisch mit dem negativen Prüfkopfpunkt 14 auf der Leiterplatte 12 verbunden, um den ersten Widerstand 19 parallel mit der Lichtquelle 11 derart zu verbinden, dass der zweite Erfassungsstrom I₂, der ein an die Lichtquelle 11 angelegter Niedrigstrom ist, von dem ersten Erfassungsstrom I₁ abgeteilt wird.
In Schritt S105 wird mittels dem an die Lichtquelle 11 angelegten zweiten Erfassungsstrom I₂ bestimmt, ob die Lichtquelle 11 einer elektrostatischen Beschädigung unterworfen wurde. Wenn die Lichtquelle 11 Licht normal abgibt, wurde die Lichtquelle 11 nicht der elektrostatischen Beschädigung unterworfen, und wenn die Lichtquelle 11 Licht nicht normal abgibt, wurde die Lichtquelle 11 der elektrostatischen Beschädigung unterworfen. Der zweite Erfassungsstrom I₂ ist der Niedrigstrom zum Bestimmen, ob die elektrostatische Beschädigung bei der Lichtquelle 11 aufgetreten ist, und dieser ist kleiner als der erste Erfassungsstrom I₁.
Erneut Bezug nehmend auf 3, 5 und 11 wird in Schritt S104, um die elektrostatische Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls 111 zu erfassen, der positive Prüfkopf 17 mit dem positiven Prüfkopfpunkt 13 verbunden und der negative Prüfkopf 18 mit dem negativen Prüfkopfpunkt 14 verbunden, so dass der erste Widerstand 19 mit der Lichtquelle 11 parallel verbunden wird, was in einem in 6 gezeigten äquivalenten Schaltkreisdiagramm resultiert.
Insbesondere wird, um die elektrostatische Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls 111 zu erfassen, der erste Erfassungsstrom I₁ (externer Strom) typischerweise durch eine externe Energieversorgung mittels der Erfassungspole 15 und 16 direkt an die Lichtquelle 11 angelegt, um zu bestimmen, ob irgendeine elektrostatische Beschädigung bei der Lichtquelle 11 aufgetreten ist. Wenn die Größe des ersten Erfassungsstroms I₁ unkontrollierbar ist oder als unveränderbar voreingestellt ist, insbesondere wenn die Größe des ersten Erfassungsstroms I₁ groß ist, kann eine der leichten elektrostatischen Beschädigung unterworfene Lichtquelle nicht erfasst werden, und eine solche Lichtquelle wird Defekte wie ein abgedunkeltes abgegebenes Licht oder eine erhöhte Stromableitung zeigen, oder kann sogar kein Licht abgeben, nachdem die Lichtquelle eine sekundäre elektrostatische Beschädigung erleidet. Um das durch die unkontrollierbare Größe des ersten Erfassungsstroms I₁ verursachte Problem zu lösen, wird in dem vorliegenden Ausführungsbeispiel der erste Widerstand 19, der der erste variable Widerstand mit anpassbarem Widerstand (Resistanz) ist, parallel mit der Lichtquelle 11 auf dem Hintergrundbeleuchtungsmodul 111 verbunden, so dass der an die Lichtquelle 11 angelegte erste Erfassungsstrom I₁ durch den ersten Widerstand 19 geteilt werden kann, und der zweite Erfassungsstrom I₂, der ein Niedrigstrom zum Erfassen ist, ob die elektrostatische Beschädigung bei der Lichtquelle aufgetreten ist, von dem ersten Erfassungsstrom I₁ abgeteilt wird durch Anpassen der Größe des Widerstands (Resistanz) des ersten variablen Widerstands 19. Alternativ kann, wenn der erste Widerstand 19 ein erster konstanter Widerstand ist, das Abteilen des Niedrigstroms von dem ersten Erfassungsstrom I₁ durch Ersetzen des ersten Widerstands 19 durch einen konstanten Widerstand mit einem anderen Widerstand (Resistanz, Widerstandswert) umgesetzt werden.
Es wird ebenso bemerkt, dass in S104 und S105, in dem Fall einer Vielzahl von Lichtquellen 11, die typischerweise LEDs sind, wenn die LEDs seriell (in Reihe) miteinander verbunden sind, der niedrige zweite Erfassungsstrom I₂ zum Erfassen des Vorhandenseins einer elektrostatischen Beschädigung irgendeiner LED gewöhnlich eine Größe von 0,5 bis 1 mA hat, das heißt, die Größe des an jede der seriell verbundenen LEDs angelegten Stroms ist 0,5 bis 1 mA; anderenfalls, wenn die Lichtquellen 11 durch parallele LED-Gruppen zusammengestellt sind, von denen jede durch eine Vielzahl von seriell verbundenen LEDs gebildet ist, der niedrige zweite Erfassungsstrom I₂ zum Erfassen des Vorhandenseins einer elektrostatischen Beschädigung bei der LED eine solche Größe hat, dass der an jede der seriell verbundenen LEDs in jeder der LED-Gruppen eine Größe von 0,5 bis 1 mA hat, von daher ist die Größe des niedrigen zweiten Erfassungsstroms I₂ nicht konstant.
Ferner sind in S102 und S104 der positive Prüfkopfpunkt 13 und der negative Prüfkopfpunkt 14 auf einem herausragenden Abschnitt der Leiterplatte 12 bereitgestellt, so dass der Prüfkopfpunkt 13 und der negative Prüfkopfpunkt 14 sogar nach der Montage des Hintergrundbeleuchtungsmoduls 111 in das Flüssigkristallanzeigemodul frei liegen, da die positiven und negativen Prüfkopfpunkte beide auf dem herausragenden Abschnitt A der Leiterplatte 12 befindlich sind. Von daher ist es leicht und bequem, das Stromteilungselement 112 mit dem positiven Prüfkopfpunkt 13 und dem negativen Prüfkopfpunkt 14 zu verbinden, um die elektrostatische Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls 111 zu erfassen.
[Viertes Ausführungsbeispiel]
Wie in 7 bis 10 und 12 gezeigt offenbart basierend auf den offenbarten zweiten und dritten Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung die vorliegende Erfindung ferner ein Verfahren zum Erfassen einer elektrostatischen Beschädigung eines Hintergrundbeleuchtungsmoduls, und das Verfahren umfasst die Schritte S201 bis S205 wie folgt.
In Schritt S201 wird ein Stromteilungselement bereitgestellt. Das Stromteilungselement umfasst zumindest einen zweiten Widerstand 29. Es wird bemerkt, dass der zweite Widerstand 29 zumindest einen zweiten variablen Widerstand oder einen zweiten konstanten Widerstand aufweist.
In Schritt S202 wird ein Hintergrundbeleuchtungsmodul 211 bereitgestellt. Das Hintergrundbeleuchtungsmodul 211 umfasst: eine Leiterplatte 22 (die typischerweise eine flexible gedruckte Leiterplatte ist), zumindest eine Lichtquelle 21, die auf der Leiterplatte 22 angeordnet ist, und den positiven Prüfkopfpunkt 23 und den negativen Prüfkopfpunkt 24, die beide auf der Leiterplatte 22, insbesondere auf dem herausragenden Abschnitt B der Leiterplatte 22, angeordnet sind, und die elektrisch mit der Lichtquelle 21 verbunden sind. Das Hintergrundbeleuchtungsmodul 211 umfasst ferner Erfassungspole 25 und 26, die auf der Leiterplatte 22 bereitgestellt sind und elektrisch mit der Lichtquelle 21 verbunden sind, das heißt, die Leiterplatte 22 ist mit leitfähigen Drähten zum leitenden Verbinden der Erfassungspole 25 und 26 mit der Lichtquelle 21 versehen. Das Stromteilungselement, das auf einer Seite der Leiterplatte 22 bereitgestellt ist, ist von dem Hintergrundbeleuchtungsmodul 211 umfasst. Wenn die Erfassung der elektrostatischen Beschädigung nicht für das Hintergrundbeleuchtungsmodul 211 durchgeführt wird, ist der zweite Widerstand 29 von der Lichtquelle 21 getrennt, was in dem in 9 gezeigten äquivalenten Schaltkreisdiagramm resultiert, in dem die elektrischen Schaltkreisverbindungen durch die angeordneten leitfähigen Drähte auf der Leiterplatte 21 verwirklicht sein können.
In Schritt S203 wird eine Erfassungsenergieversorgung bereitgestellt, um einen ersten Erfassungsstrom I₁ (dessen Größe konstant oder als unveränderlich voreingestellt sein kann) an die Lichtquelle 21 anzulegen, das heißt, die Erfassungsenergieversorgung wird elektrisch mit der Lichtquelle 21 verbunden, insbesondere legt die Erfassungsenergieversorgung den ersten Erfassungsstrom I₁ mittels der Erfassungspole 25 und 26 auf der Leiterplatte 22 an die Lichtquelle 21 an.
In Schritt S204 wird das Stromteilungselement parallel mit der Lichtquelle 21 derart verbunden, dass ein zweiter Erfassungsstrom I₂, der ein an die Lichtquelle 21 angelegter Niedrigstrom ist, von dem ersten Erfassungsstrom I₁ abgeteilt wird, insbesondere wird, unter erneuter Bezugnahme auf 8, der positive Prüfkopfpunkt 23 mittels einem externen leitfähigen Draht 20 mit dem negativen Prüfkopfpunkt 24 verbunden, um den zweiten Widerstand 29 parallel mit der Lichtquelle 21 zu verbinden, was in einem in 10 gezeigten äquivalenten Schaltkreisdiagramm resultiert, so dass der zweite Erfassungsstrom I₂, der ein an die Lichtquelle 21 angelegter Niedrigstrom ist, von dem ersten Erfassungsstrom I₁ abgeteilt wird.
In Schritt S205 wird mittels dem an die Lichtquelle 21 angelegten zweiten Erfassungsstrom I₂ bestimmt, ob die Lichtquelle 21 einer elektrostatischen Beschädigung unterzogen wurde. Wenn die Lichtquelle 21 Licht normal abgibt, wurde die Lichtquelle 21 der elektrostatischen Beschädigung nicht unterworfen; wenn die Lichtquelle 21 Licht nicht normal abgibt, wurde die Lichtquelle 21 der elektrostatischen Beschädigung unterzogen. Der zweite Erfassungsstrom I₂ ist der Niedrigstrom zur Bestimmung, ob die elektrostatische Beschädigung bei der Lichtquelle 21 aufgetreten ist, und dieser ist kleiner als der erste Erfassungsstrom I₁.
Es wird bemerkt, dass, um die elektrostatische Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls 211 zu erfassen, in Schritt S204 die Verbindung zwischen dem positiven Prüfkopfpunkt 23 und dem negativen Prüfkopfpunkt 24 mittels dem externen leitfähigen Draht 20 dem positiven Prüfkopfpunkt 23 und dem negativen Prüfkopfpunkt 24 ermöglicht, als ein Schalter zu dienen, wobei als ein Ergebnis, wenn der positive Prüfkopfpunkt 23 und der negative Prüfkopfpunkt 24 miteinander verbunden sind, der zweite Widerstand 29 zum Zweck der Stromteilung parallel mit der Lichtquelle verbunden ist, und wenn der positive Prüfkopfpunkt 23 und der negative Prüfkopfpunkt 24 voneinander getrennt sind, der zweite Widerstand 29 nicht mit der Lichtquelle 21 elektrisch verbunden ist. Das Stromteilungselement, das heißt, der zweite Widerstand 29, ist direkt auf der Leiterplatte 22 gebildet, so dass die elektrostatische Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls 211 einfacher erfasst werden kann.
In den Schritten S204 und S205 hat in dem Fall einer Vielzahl von Lichtquellen 21, die typischerweise LEDs sind, wenn die LEDs seriell miteinander verbunden sind, der zweite Erfassungsstrom I₂ gewöhnlich eine Größe von 0,5 bis 1 mA; andernfalls, wenn die Lichtquellen durch parallele LED-Gruppen zusammengestellt sind, von denen jede durch eine Vielzahl von seriell verbundenen LEDs gebildet ist, hat der niedrige zweite Erfassungsstrom I₂ zur Erfassung des Vorhandenseins der elektrostatischen Beschädigung bei der LED eine solche Größe, dass der an jede der seriell verbundenen LEDs in jeder der LED-Gruppen angelegte Strom eine Größe von 0,5 bis 1 mA, von daher ist die Größe des niedrigen zweiten Erfassungsstroms I₂ nicht konstant. Die Größe des zweiten Erfassungsstroms I₂ kann durch Anpassen des zweiten variablen Widerstands oder durch Ersetzen des zweiten konstanten Widerstands gesteuert werden.
Das vorliegende Ausführungsbeispiel basiert auf den zweiten und dritten Ausführungsbeispielen, und die Teile in dem vorliegenden Ausführungsbeispiel gleich mit jenen der zweiten und dritten Ausführungsbeispiele werden hier nicht erneut beschrieben.
[Fünftes Ausführungsbeispiel]
Wie in 13 gezeigt offenbart basierend auf den offenbarten ersten und zweiten Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung die vorliegende Erfindung ferner ein Flüssigkristallanzeigemodul 1111, das das durch das erste Ausführungsbeispiel bereitgestellte Hintergrundbeleuchtungsmodul 111 oder das durch das zweite Ausführungsbeispiel bereitgestellte Hintergrundbeleuchtungsmodul 211 aufweist. Das Flüssigkristallanzeigemodul 1111 umfasst ferner eine Flüssigkristallanzeigetafel 222. Das Flüssigkristallanzeigemodul 1111 weist eine Funktion einer niedrigstrombasierten Erfassung zur Bestimmung auf, ob eine elektrostatische Beschädigung bei der Lichtquelle des Hintergrundbeleuchtungsmoduls 111 oder 211 des Flüssigkristallanzeigemoduls 1111 aufgetreten ist, und reduziert daher die potentiell defekten LEDs, die in dem Schritt für eine Montage des Flüssigkristallanzeigemoduls (LCM) und nachfolgenden Prozessschritten der elektrostatischen Beschädigung unterworfen wurden, und verbessert die Herstellungserträge.
Die verschiedenen Abschnitte in der Spezifikation sind auf eine fortschreitende Weise beschrieben, und Unterschiede der nachfolgenden Abschnitte von den vorhergehenden Abschnitten sind veranschaulicht. Daher können die gleichen oder vergleichbaren Teile in verschiedenen Abschnitten aufeinander bezogen werden.
Die vorstehend offenbarten Ausführungsbeispiele sind zur Umsetzung oder Verwendung der vorliegenden Erfindung durch den Fachmann beschrieben. Es wird offensichtlich, dass durch diesen Fachmann verschiedene Abwandlungen auf diese Ausführungsbeispiele angewendet werden können, und dass die durch die vorliegende Erfindung definierten grundsätzlichen Prinzipien in anderen Ausführungsbeispielen umgesetzt werden können, ohne von dem Geist oder dem Schutzbereich der vorliegenden Erfindung abzuweichen. Daher ist die vorliegende Erfindung nicht durch die hierin aufgezeigten Ausführungsbeispiele beschränkt, sondern entspricht dem breitesten Bereich gemäß den offenbarten Prinzipien und Neuheitskennzeichen.

Claims

Hintergrundbeleuchtungsmodul (111, 211), mit einer Leiterplatte (12, 22); zumindest einer Lichtquelle (11, 21), die auf der Leiterplatte (12, 22) angeordnet ist; und einem positiven Prüfkopfpunkt (13, 23) und einem negativen Prüfkopfpunkt (14, 24), die beide auf der Leiterplatte (12, 22) bereitgestellt und elektrisch mit der Lichtquelle (11, 21) verbunden sind; wobei der positive Prüfkopfpunkt (13, 23) und der negative Prüfkopfpunkt (14, 24) elektrisch mit einem Stromteilungselement (112) derart verbunden sind, dass die Lichtquelle (11, 21) parallel mit dem Stromteilungselement (112) verbunden ist, um eine elektrostatische Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls (111, 211) zu erfassen, wobei das Stromteilungselement (112) konfiguriert ist, einen zweiten Erfassungsstrom, der ein an die Lichtquelle (11, 21) angelegter Niedrigstrom ist, von dem ersten Erfassungsstrom abzuteilen.
Hintergrundbeleuchtungsmodul (111, 211) nach Anspruch 1, wobei das Hintergrundbeleuchtungsmodul (111, 211) strukturell von dem Stromteilungselement (112) getrennt ist.
Hintergrundbeleuchtungsmodul (111, 211) nach Anspruch 2, wobei das Stromteilungselement (112) zumindest einen ersten Widerstand (19), zumindest einen positiven Prüfkopf (17), und zumindest einen negativen Prüfkopf (18) aufweist, wobei der erste Widerstand (19) elektrisch mit sowohl dem positiven Prüfkopf (17) als auch dem negativen Prüfkopf (18) verbunden ist.
Hintergrundbeleuchtungsmodul (111, 211) nach Anspruch 3, wobei der positive Prüfkopf (17) mit dem positiven Prüfkopfpunkt (13, 23) verbunden ist und der negative Prüfkopf (18) mit dem negativen Prüfkopfpunkt (14, 24) verbunden ist, so dass der erste Widerstand (19) parallel mit der Lichtquelle (11, 21) verbunden ist, um die elektrostatische Beschädigung des Hintergrundbeleuchtungsmoduls zu erfassen.
Hintergrundbeleuchtungsmodul (111, 211) nach Anspruch 3, wobei der erste Widerstand (19) zumindest einen ersten variablen Widerstand oder ersten konstanten Widerstand aufweist.
Hintergrundbeleuchtungsmodul (111, 211) nach Anspruch 1, wobei das Hintergrundbeleuchtungsmodul (111, 211) integral mit dem Stromteilungselement (112) gebildet ist, und wobei das Stromteilungselement (112) auf einer Seite der Leiterplatte (12, 22) angeordnet ist.
Hintergrundbeleuchtungsmodul (111, 211) nach Anspruch 6, wobei das Stromteilungselement (112) zumindest einen zweiten Widerstand (29) umfasst, der zumindest einen zweiten variablen Widerstand oder einen zweiten konstanten Widerstand aufweist.
Hintergrundbeleuchtungsmodul (111, 211) nach Anspruch 1, wobei die Lichtquelle (11, 12) eine Leuchtdiode aufweist.
Hintergrundbeleuchtungsmodul (111, 211) nach Anspruch 1, wobei das Hintergrundbeleuchtungsmodul (111, 211) ferner einen Erfassungspol (15, 16, 25, 26) aufweist, der auf der Leiterplatte (12, 22) angeordnet und elektrisch mit der Lichtquelle (11, 21) verbunden ist.
Verfahren zum Erfassen einer elektrostatischen Beschädigung eines Hintergrundbeleuchtungsmoduls (111, 211) mit den Schritten Bereitstellen eines Stromteilungselements (112); Bereitstellen eines Hintergrundbeleuchtungsmoduls (111, 211), das eine Leiterplatte (12, 22) und zumindest eine Lichtquelle (11, 21) umfasst, die auf der Leiterplatte (12, 22) angeordnet ist; Bereitstellen einer Erfassungsenergieversorgung, die dazu eingerichtet ist, um einen ersten Erfassungsstrom anzulegen; Anlegen des ersten Erfassungsstroms an die Lichtquelle (11, 21) durch elektrisches Verbinden der Erfassungsenergieversorgung mit der Lichtquelle (11, 21); Verbinden des Stromteilungselements (112) parallel mit der Lichtquelle (11, 21) derart, dass ein zweiter Erfassungsstrom, der ein an die Lichtquelle (11, 21) angelegter Niedrigstrom ist, von dem ersten Erfassungsstrom abgeteilt wird; und Bestimmen mittels dem an die Lichtquelle (11, 21) angelegten zweiten Erfassungsstrom, ob die Lichtquelle (11, 21) beschädigt ist.
Verfahren nach Anspruch 10, wobei das Hintergrundbeleuchtungsmodul (111, 211) ferner einen positiven Prüfkopfpunkt (13, 23) und einen negativen Prüfkopfpunkt (14, 24) aufweist, die beide auf der Leiterplatte (12, 22) bereitgestellt und elektrisch mit der Lichtquelle (11, 21) verbunden sind.
Verfahren nach Anspruch 10, wobei das Hintergrundbeleuchtungsmodul (111, 211) strukturell von dem Stromteilungselement (112) getrennt ist.
Verfahren nach Anspruch 12, wobei das Stromteilungselement (112) zumindest einen ersten Widerstand (19), zumindest einen positiven Prüfkopf, und zumindest einen negativen Prüfkopf aufweist, wobei der erste Widerstand (19) elektrisch mit sowohl dem positiven Prüfkopf (17) als auch dem negativen Prüfkopf (18) verbunden ist.
Verfahren nach Anspruch 13, wobei das Verbinden des Stromteilungselements (112) parallel mit der Lichtquelle (11, 21) ein elektrisches Verbinden des positiven Prüfkopfs (17) des Stromteilungselements (112) mit dem positiven Prüfkopfpunkt (13, 23) auf der Leiterplatte (12, 22) und ein elektrisches Verbinden des negativen Prüfkopfs (18) des Spannungsteilungselements (112) mit dem negativen Prüfkopfpunkt (14, 24) auf der Leiterplatte (12, 22) aufweist, um den ersten Widerstand (19) parallel mit der Lichtquelle (11, 21) zu verbinden, so dass der zweite Erfassungsstrom, der ein an die Lichtquelle (11, 21) angelegter Niedrigstrom ist, von dem ersten Erfassungsstrom abgeteilt wird.
Verfahren nach Anspruch 12, wobei der erste Widerstand (19) zumindest einen ersten variablen Widerstand oder zumindest einen ersten konstanten Widerstand aufweist, und wobei die Größe des zweiten Erfassungsstroms durch Anpassen des ersten variablen Widerstands oder Ersetzen des ersten konstanten Widerstands gesteuert wird.
Verfahren nach Anspruch 10, wobei das Hintergrundbeleuchtungsmodul (111, 211) integral mit dem Stromteilungselement (112) gebildet ist, und wobei das Stromteilungselement (112) auf einer Seite der Leiterplatte (12, 22) angeordnet ist.
Verfahren nach Anspruch 16, wobei das Stromteilungselement (112) zumindest einen zweiten Widerstand (29) umfasst, der zumindest einen zweiten variablen Widerstand oder zweiten konstanten Widerstand aufweist.
Verfahren nach Anspruch 17, wobei das Verbinden des Stromteilungselements (112) parallel mit der Lichtquelle (11, 21) ein Verbinden des positiven Prüfkopfpunkts (13, 23) mit dem negativen Prüfkopfpunkt (14, 24) mittels einem externen leitfähigen Draht umfasst, um den zweiten Widerstand (29) parallel mit der Lichtquelle (11, 21) zu verbinden, so dass der zweite Erfassungsstrom, der ein an die Lichtquelle (11, 21) angelegter Niedrigstrom ist, von dem ersten Erfassungsstrom abgeteilt wird, und wobei die Größe des zweiten Erfassungsstroms durch Anpassen des zweiten variablen Widerstands oder Ersetzen des zweiten konstanten Widerstands gesteuert wird.
Verfahren nach Anspruch 10, wobei das Hintergrundbeleuchtungsmodul (111, 211) ferner einen Erfassungspol (15, 16, 25, 26) aufweist, der auf der Leiterplatte (12, 22) angeordnet und elektrisch mit der Lichtquelle (11, 21) verbunden ist, wobei die Erfassungsenergieversorgung den ersten Erfassungsstrom mittels dem Erfassungspol (15, 16, 25, 26) auf der Leiterplatte (12, 22) an die Lichtquelle (11, 21) anlegt.
Verfahren nach Anspruch 10, wobei der zweite Erfassungsstrom ein Niedrigstrom zum Bestimmen, ob die elektrostatische Beschädigung bei der Lichtquelle (11, 21) aufgetreten ist, und kleiner als der erste Erfassungsstrom ist.
Flüssigkristallanzeigemodul (1111) mit dem Hintergrundbeleuchtungsmodul (111, 211) nach Anspruch 1.