CN103487961A - 显示面板检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及显示技术领域，提供一种显示面板检测方法，通过连接到发射机的无线信号发射电极分别向预先设置在所述显示面板的切割区的与栅线连接的栅线无线感应电极及与数据线连接的数据线无线感应电极发射无线信号，以分别产生栅线检测信号和数据线检测信号，从而实现对显示面板的检测；所述栅线无线感应电极和数据线无线感应电极分别在制作显示面板的阵列基板的栅线和数据线的工艺过程中形成在所述阵列基板上的所述切割区。通过本发明的方法能够在不切割显示面板的情况下检测出显示器的不良，及早检测出不良，并及时修复，避免了不良产品流入后续工艺导致成本浪费。

Description

显示面板检测方法
技术领域
本发明涉及显示器技术领域，特别涉及一种显示面板检测方法。
背景技术
在TFT-LCD制造过程中，显示不良的产生是不可以避免的。液晶显示不良主要分二大类别：非电学性不良和电学性不良。非电学性不良产生的原因较多，与材料和工艺都有关系，具体而言，导致非电学性不良的材料包括液晶、金属电极层（栅极、源极及漏极）、绝缘层、取向层和封框胶等等。在制作以上材料层的工艺中任何步骤出现缺陷都能够产生非电学性不良，如：水平黑线，白线，黑点等，电学性不良主要产生原因是阵列工艺缺陷，如亮线，亮点，信号线断路等。
为了快速准确的检查到产品的不良反映生产情况，在液晶盒（Cell）工艺生产线中设置液晶盒检测工位。目前的液晶盒工程检测置于Cell切割工艺以后，使用Cell检测设备中的探针单元对液晶盒的切割（dummy）区（Dummy区就是切割时需要废弃的部分。也就是在面板上对后续模组无用的空白空间）的信号线（栅线、数据线等）引线（如：短路条）进行探针测试。探针测试包括对液晶盒的数据线和栅极线的打开测试和颜色测试，仅针对单个液晶盒。使用探针单元对液晶盒的每个信号输入端口输入显示信号从而检测不良。但是在液晶盒未切割前无法实现检测，如图1中虚线框所示的dummy区，因为在切割前Cell检测设备中的探针单元无法在每个待切割的液晶盒1的dummy区进行探针检测，即探针无法接触到信号线引线。
现有的液晶盒检测需要CF基板和TFT基板对盒完成后，液晶基板切割成形成单个液晶盒后才可以检测，这样不良信息反馈滞后，造成后续的生产成本浪费，而且传统的切割后检测采用的接触式的点灯设备投资费用极高。
发明内容
（一）所要解决的技术问题
本发明要解决的技术问题是：如何在液晶盒未切割的情况下实现显示面板检测。
（二）技术方案
为解决上述技术问题，本发明提供了一种显示面板检测方法，通过连接到发射机的无线信号发射电极分别向预先设置在所述显示面板的切割区的与栅线连接的栅线无线感应电极及与数据线连接的数据线无线感应电极发射无线信号，以分别产生栅线检测信号和数据线检测信号，从而实现对显示面板的检测；所述栅线无线感应电极和数据线无线感应电极分别在制作显示面板的阵列基板的栅线和数据线的工艺过程中形成在所述阵列基板上的所述切割区。
其中，通过无线信号发射电极分别向栅线无线感应电极和数据线无线感应电极发射频率不同的无线信号。
其中，所述栅线无线感应电极包括：第一栅线无线感应子电极和第二栅线无线感应子电极，所述第一栅线无线感应子电极连接奇数行栅线，第二栅线无线感应子电极连接偶数行栅线。
其中，所述数据线无线感应电极包括N个数据线无线感应子电极，相同颜色亚像素的数据线连接到同一个所述数据线无线感应子电极，不同颜色亚像素的数据线连接不同的所述数据线无线感应子电极，所述N为亚像素颜色总数。
其中，通过无线信号发射电极分别向不同的数据线无线感应子电极发射频率和强度均不同的无线信号。
其中，在发射无线信号之前还包括：在显示面板的彩膜基板面向观看侧表面对应所述切割区的与所述栅线无线感应电极及数据线无线感应电极对应位置分别设置所述无线信号发射电极。
其中，在发射无线信号之前还包括：在显示面板的阵列基板背离观看侧表面对应所述切割区的与所述栅线无线感应电极及数据线无线感应电极对应位置分别设置所述无线信号发射电极。
其中，在发射无线信号之前还包括：通过第一透明板将上偏光片置于所述显示面板的观看侧，通过第二透明板将下偏光片置于所述显示面板面向背光的一侧，在所述第二透明板上对应所述切割区的与所述栅线无线感应电极及数据线无线感应电极对应位置分别设置所述无线信号发射电极。
其中，在发射无线信号之前还包括：通过第一透明板将上偏光片置于所述显示面板的观看侧，通过第二透明板将下偏光片置于所述显示面板面向背光的一侧，在所述第一透明板上对应所述切割区的与所述栅线无线感应电极及数据线无线感应电极对应位置分别设置所述无线信号发射电极。
其中，在发射无线信号之前还包括：将透明板置于所述显示面板的观看侧，在所述透明板上对应所述切割区的与所述栅线无线感应电极及数据线无线感应电极对应位置分别设置所述无线信号发射电极。
（三）有益效果
本发明提供的显示面板检测方法中，通过在阵列基板工艺进行时，在每个待切割的液晶盒的切割区内分别注入与栅极和数据线连接的无线感应材料，以形成无线感应电极，该无线感应材料能够吸收无线信号，并转换成电压信号，这样在形成整个面板后，无需切割，直接使用无线的方式，给每个无线感应电极处施加相应的无线信号，从而给栅线和数据线进行充电，观察显示屏上的现象，即可实现显示器的电学不良以及非电学不良的检查。本发明在液晶盒切割之前，能够更早的检测到不良，以便能够及早地处理不良问题，避免流入后续工艺中造成成本浪费。
附图说明
图1为待切割显示面板及其上的切割区示意图；
图2为本发明实施例的显示面板检测方法中采用的显示面板的示例图；
图3为本发明实施例显示面板检测方法检测液晶显示面板的示例图；
图4为本发明实施例显示面板检测方法检测OLED显示面板的示例图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明做进一步详细说明。
实施例中，以检测液晶显示面板为例进行说明，通常检测的是阵列基板和彩膜基板对盒后的液晶盒。本实施例的检测方法采用无线感应加电的方式对液晶盒实现检测，具体检测方式如下：
向预先设置在液晶盒的dummy区的与栅线连接的栅线无线感应电极及与数据线连接的数据线无线感应电极发射无线信号，以分别产生栅线检测信号和数据线检测信号，从而实现对液晶盒的检测。本实施例中，栅线无线感应电极和数据线无线感应电极分别在制作液晶盒的阵列基板的栅线和数据线的工艺过程中形成在阵列基板上的切割区。
无线感应电极和无线信号发射电极均是一种磁性材料，类似于铁氧体吸波材料，无线信号发射电极向无线感应电极发射磁信号，无线感应电极能够利用电磁感应技术将无线磁信号转化为电信号，以产生相应电压。为了避免栅线和数据线的无线信号相互干扰，分别向栅线无线感应电极和数据线无线感应电极发射频率不同的无线信号。
如图2所示，本发明实施例的显示面板检测方法中采用的无线感应电极排布示意图，在待切割的液晶盒1的dummy区内预先设置了栅线无线感应电极：包括第一栅线无线感应子电极21和第二栅线无线感应子电极22，第一栅线无线感应子电极21连接奇数行栅线，第二栅线无线感应子电极22连接偶数行栅线。在检测时，间隔地向第一栅线无线感应子电极21和第二栅线无线感应子电极22发射无线信号。
进一步地，为了在检测时能够显示不同的颜色，数据线无线感应电极包括N个数据线无线感应子电极，每个数据线无线感应子电极连接驱动相同颜色亚像素的数据线，不同的数据线无线感应子电极连接驱动不同颜色亚像素的数据线，所述N为亚像素颜色总数。通常液晶盒都采用RGB颜色模式，即N为3。如图2中，数据线无线感应电极包括3个数据线无线感应子电极：第一数据线无线感应子电极31、第二数据线无线感应子电极32和第三数据线无线感应子电极33。第一数据线无线感应子电极31、第二数据线无线感应子电极32和第三数据线无线感应子电极33可分别连接红、绿和蓝的亚像素。在检测时分别向第一数据线无线感应子电极31、第二数据线无线感应子电极32和第三数据线无线感应子电极33发射不同频率（避免信号干扰）和不同强度的无线信号，以产生不同的电压。
当然，栅线无线感应电极和数据线无线感应电极的个数和排布不限于此，栅线无线感应电极也可以只有一个栅线无线感应子电极（连接所有栅线），数据线无线感应电极只有一个数据线无线感应子电极（连接所有数据线）；或者数据线无线感应电极包括M（数据线条数）个数据线无线感应子电极，每条数据线均连接不同的数据线无线感应子电极，只要能分别感应无线信号并将无线信号转换成电信号施加至栅线和数据线即可。
对于液晶盒的检测，如图3所示，在液晶盒1下方设置背光源8，背光源8的上方还设有下偏光片，液晶盒上方设有上偏光片，以便能够观察到显示的效果。上偏光片放置在第一透明板5上，下偏光片放置在第二透明板4上。由于是流水线作业，每个未切割的液晶盒1被运送到第一透明板5和第二透明板4之间进行检测。
在发射无线信号之前还需要将无线信号发射电极6设置在合适的位置，理论上，无线信号发射电极6可以设置在任何能够向栅线无线感应电极和数据线无线感应电极发射无线信号的位置。本实施例中，为了避免采用单独的支架来承载无线信号发射电极6，可以在液晶盒1的彩膜基板面向观看侧表面对应切割区的与栅线无线感应电极及数据线无线感应电极对应位置分别设置无线信号发射电极6；也可以在阵列基板背离观看侧表面对应切割区的与栅线无线感应电极及数据线无线感应电极对应位置分别设置无线信号发射电极6；也可以在第二透明板4上对应切割区的与栅线无线感应电极及数据线无线感应电极对应位置分别设置无线信号发射电极6；也可以如图3中所示，将无线信号发射电极6设置在第一透明板5对应液晶盒1的切割区的位置。开启与无线信号发射电极6连接的发射机向无线感应电极发射无线信号。其中，无线信号发射电极6可以通过导线连接到发射机，但导线通常不透明，在检测过程中不方便观察。优选地，可通过在承载无线信号发射电极6的基板的dummy区形成若干透明引线电极，使每条透明引线电极的一端与一个无线信号发射电极6相连，且每条透明引线电极都连接不同的无线信号发射电极6，另一端连接至承载无线信号发射电极6的基板的边缘，以方便连接发射机。
本实施例的检测方法除了加电方式与现有技术不同外，其它检测步骤和现有技术类似（如：根据不同显示效果判断的不良类型的方法和现有技术相同）此处不再赘述。本实施例的检测方法能够在不切割液晶盒的情况下实现检测，及早检测出问题，并及时修复，避免了不良产品流入后续工艺，导致成本浪费。
本发明的显示面板检测方法不但可以适用于液晶盒，也可用于检测OLED显示面板。如图4所示，由于OLED显示面板1＇不需要背光源，也不需要偏光片，因此将透明板7（作为承载无线信号发射电极6的支架）置于所述OLED显示面板1＇上方或下方，透明板7对应切割区的位置设置有与栅线无线感应电极及数据线无线感应电极相应的无线信号发射电极6。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和替换，这些改进和替换也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种显示面板检测方法，其特征在于，通过连接到发射机的无线信号发射电极分别向预先设置在所述显示面板的切割区的与栅线连接的栅线无线感应电极及与数据线连接的数据线无线感应电极发射无线信号，以分别产生栅线检测信号和数据线检测信号，从而实现对显示面板的检测；所述栅线无线感应电极和数据线无线感应电极分别在制作显示面板的阵列基板的栅线和数据线的工艺过程中形成在所述阵列基板上的所述切割区。
2.如权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，通过无线信号发射电极分别向栅线无线感应电极和数据线无线感应电极发射频率不同的无线信号。
3.如权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述栅线无线感应电极包括：第一栅线无线感应子电极和第二栅线无线感应子电极，所述第一栅线无线感应子电极连接奇数行栅线，第二栅线无线感应子电极连接偶数行栅线。
4.如权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，所述数据线无线感应电极包括N个数据线无线感应子电极，相同颜色亚像素的数据线连接到同一个所述数据线无线感应子电极，不同颜色亚像素的数据线连接不同的所述数据线无线感应子电极，所述N为亚像素颜色总数。
5.如权利要求1所述的显示面板检测方法，其特征在于，通过无线信号发射电极分别向不同的数据线无线感应子电极发射频率和强度均不同的无线信号。
6.如权利要求1～5中任一项所述的显示面板检测方法，其特征在于，在发射无线信号之前还包括：在显示面板的彩膜基板面向观看侧表面对应所述切割区的与所述栅线无线感应电极及数据线无线感应电极对应位置分别设置所述无线信号发射电极。
7.如权利要求1～5中任一项所述的显示面板检测方法，其特征在于，在发射无线信号之前还包括：在显示面板的阵列基板背离观看侧表面对应所述切割区的与所述栅线无线感应电极及数据线无线感应电极对应位置分别设置所述无线信号发射电极。
8.如权利要求1～5中任一项所述的显示面板检测方法，其特征在于，在发射无线信号之前还包括：通过第一透明板将上偏光片置于所述显示面板的观看侧，通过第二透明板将下偏光片置于所述显示面板面向背光的一侧，在所述第二透明板上对应所述切割区的与所述栅线无线感应电极及数据线无线感应电极对应位置分别设置所述无线信号发射电极。
9.如权利要求1～5中任一项所述的显示面板检测方法，其特征在于，在发射无线信号之前还包括：通过第一透明板将上偏光片置于所述显示面板的观看侧，通过第二透明板将下偏光片置于所述显示面板面向背光的一侧，在所述第一透明板上对应所述切割区的与所述栅线无线感应电极及数据线无线感应电极对应位置分别设置所述无线信号发射电极。
10.如权利要求1～5中任一项所述的显示面板检测方法，其特征在于，在发射无线信号之前还包括：将透明板置于所述显示面板的观看侧，在所述透明板上对应所述切割区的与所述栅线无线感应电极及数据线无线感应电极对应位置分别设置所述无线信号发射电极。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015058517A1 (zh) * 2013-10-22 2015-04-30 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其检测方法
CN105259691A (zh) * 2015-11-27 2016-01-20 深圳市华星光电技术有限公司 一种液晶面板制造方法、系统及液晶基板
CN106652862A (zh) * 2017-01-03 2017-05-10 京东方科技集团股份有限公司 测试信号发生装置及其工作方法、测试设备
CN107036787A (zh) * 2017-04-14 2017-08-11 京东方科技集团股份有限公司 检测方法和检测系统
CN113452454A (zh) * 2021-06-28 2021-09-28 广东虹勤通讯技术有限公司 一种屏幕自动检测方法、装置、无线电子设备和存储介质

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107768409B (zh) * 2017-10-20 2021-05-28 武汉华星光电技术有限公司 显示基板及其制作方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040075453A1 (en) * 2002-09-19 2004-04-22 Slupsky Steven Harold Non-contact tester for electronic circuits
US20040174182A1 (en) * 2003-03-04 2004-09-09 Shimadzu Corporation Apparatus and method for testing pixels arranged in a matrix array
US20050206404A1 (en) * 2004-03-18 2005-09-22 Agilent Technologies, Inc. Method for testing a TFT array
CN1954227A (zh) * 2004-02-05 2007-04-25 佛姆法克特股份有限公司 测试信号与受测器件的无接触接口
CN101114065A (zh) * 2007-07-17 2008-01-30 夏可瑜 用于液晶显示屏及液晶显示模块的无线测试系统
CN101495880A (zh) * 2006-07-17 2009-07-29 斯卡尼迈齐克斯公司 具有检测电路的薄膜晶体管阵列

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW354380B (en) * 1995-03-17 1999-03-11 Hitachi Ltd A liquid crystal device with a wide visual angle
JP4060331B2 (ja) 2003-09-04 2008-03-12 富士通株式会社 情報表示システム、表示素子、表示素子駆動方法、および表示装置
JP4660122B2 (ja) 2004-05-28 2011-03-30 東芝モバイルディスプレイ株式会社 アクティブマトリックス型液晶表示装置用検査基板
JP4301219B2 (ja) * 2005-08-01 2009-07-22 セイコーエプソン株式会社 減圧乾燥方法、機能膜の製造方法および電気光学装置の製造方法、電気光学装置、液晶表示装置、有機ｅｌ表示装置、並びに電子機器
JP4395659B2 (ja) * 2005-12-20 2010-01-13 株式会社フューチャービジョン 液晶表示装置とその製造方法
TW200801755A (en) 2006-06-30 2008-01-01 Innolux Display Corp Thin film transistor substrate and liquid crystal display panel using the same
KR101657627B1 (ko) * 2008-09-17 2016-09-20 삼성디스플레이 주식회사 배향 물질, 배향막, 액정 표시 장치 및 그 제조 방법
KR20100089329A (ko) * 2009-02-03 2010-08-12 삼성전자주식회사 표시장치의 및 이의 제조방법
KR20110073318A (ko) 2009-12-22 2011-06-29 가부시키가이샤 히다치 하이테크놀로지즈 유기 ｅｌ 디스플레이 기판의 점등 검사 설비 및 점등 검사 방법, 유기 ｅｌ 디스플레이 기판의 결함 검사 수정 장치 및 결함 검사 수정 방법, 유기 ｅｌ 디스플레이 패널 수정 설비 및 수정 방법 및 유기 ｅｌ 디스플레이 제조 시스템 및 제조 방법
US9557620B2 (en) * 2011-11-15 2017-01-31 Boe Technology Group Co., Ltd. TFT array substrate and display device with tilt angle between strip-like pixel electrodes and direction of initial alignment of liquid crystals
CN103487961B (zh) 2013-10-22 2016-01-06 合肥京东方光电科技有限公司 显示面板检测方法
KR20150129156A (ko) * 2014-05-08 2015-11-19 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 제조 방법
KR20160011298A (ko) * 2014-07-21 2016-02-01 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 패널의 절단 방법

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040075453A1 (en) * 2002-09-19 2004-04-22 Slupsky Steven Harold Non-contact tester for electronic circuits
US20040174182A1 (en) * 2003-03-04 2004-09-09 Shimadzu Corporation Apparatus and method for testing pixels arranged in a matrix array
CN1954227A (zh) * 2004-02-05 2007-04-25 佛姆法克特股份有限公司 测试信号与受测器件的无接触接口
US20050206404A1 (en) * 2004-03-18 2005-09-22 Agilent Technologies, Inc. Method for testing a TFT array
CN101495880A (zh) * 2006-07-17 2009-07-29 斯卡尼迈齐克斯公司 具有检测电路的薄膜晶体管阵列
CN101114065A (zh) * 2007-07-17 2008-01-30 夏可瑜 用于液晶显示屏及液晶显示模块的无线测试系统

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015058517A1 (zh) * 2013-10-22 2015-04-30 京东方科技集团股份有限公司 显示面板及其检测方法
US9829729B2 (en) 2013-10-22 2017-11-28 Boe Technology Group Co., Ltd. Display panel and detection method thereof
CN105259691A (zh) * 2015-11-27 2016-01-20 深圳市华星光电技术有限公司 一种液晶面板制造方法、系统及液晶基板
CN106652862A (zh) * 2017-01-03 2017-05-10 京东方科技集团股份有限公司 测试信号发生装置及其工作方法、测试设备
CN107036787A (zh) * 2017-04-14 2017-08-11 京东方科技集团股份有限公司 检测方法和检测系统
CN113452454A (zh) * 2021-06-28 2021-09-28 广东虹勤通讯技术有限公司 一种屏幕自动检测方法、装置、无线电子设备和存储介质

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WO2015058517A1 (zh) 2015-04-30
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US9829729B2 (en) 2017-11-28

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