CN103426724B - 用于调整晶圆翘曲的方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了用于调整晶圆翘曲的方法和装置,该方法包括提供具有中心部分和边缘部分的晶圆以及提供其上具有用于保持晶圆的保持区的保持台。将晶圆放置在保持台上,其中中心部分高于边缘部分,此后将晶圆按压在保持区上,使得晶圆通过自吸力吸引并保持在保持台上。根据晶圆的翘曲量,以预定温度和预定时间加热晶圆以实现基本平坦的晶圆或预定的晶圆水平面。
Description
技术领域
本发明涉及半导体领域,更具体地,涉及用于调整晶圆翘曲的方法和装置。
背景技术
在先进技术半导体器件(诸如三维集成电路(3D IC))的制造中使用复合晶圆。晶圆翘曲是影响制造产量的因素。
发明内容
根据本发明的一个方面,提供了一种调整晶圆的翘曲的方法,包括:提供具有中心部分和边缘部分的晶圆;提供其上具有用于保持晶圆的保持区的保持台;将晶圆放置在所述保持台上,其中中心部分高于边缘部分;将晶圆按压到保持区上,使得晶圆通过自吸力而吸引并保持在保持台上;以及根据晶圆的翘曲量,以预定温度和预定时间加热晶圆,从而实现基本平坦的晶圆。
优选地,晶圆是复合晶圆。
更优选地,复合晶圆包括硅衬底和设置在硅衬底上的聚合物层。
更优选地,该方法进一步包括:在将晶圆放置在保持台上之前,以聚合物的玻璃转变温度(Tg)的温度或者高于该温度的温度加热晶圆以软化聚合物层。
优选地,保持台的保持区具有凹陷轮廓。
更优选地,保持区具有适合于具有预定翘曲轮廓的晶圆的预定凹陷轮廓,以减少晶圆中的对应翘曲量,从而实现基本平坦的晶圆或预定的晶圆水平面。
优选地,晶圆通过自吸力保持在保持台上而不使用其他力或附加结构。
优选地,预定温度在大约30摄氏度到大约300摄氏度之间,以及预定时间在大约1秒到大约7200秒之间。
优选地,该方法进一步包括:在将晶圆放置在保持台上之前,加热晶圆以软化晶圆。
优选地,该方法进一步包括:在加热晶圆之后,冷却晶圆至室温。
根据本发明的另一方面,提供了一种调整复合晶圆的翘曲的方法,包括:将具有凸起轮廓的复合晶圆放置到具有凹陷状保持区的保持台上,其中晶圆的凸起轮廓朝上定向;将晶圆按压在保持区上,直至晶圆具有凹陷轮廓并通过自吸力保持在保持台上;根据晶圆的翘曲量,以预定温度和预定时间加热晶圆,从而实现基本平坦的晶圆;以及冷却晶圆。
优选地,晶圆通过自吸力保持在保持台上而不使用其他力或附加结构。
优选地,复合晶圆包括硅衬底和设置在硅衬底上的聚合物层。
优选地,该方法进一步包括:在将复合晶圆放置到保持台上之前,以聚合物的玻璃转变温度(Tg)的温度或者高于该温度的温度加热复合晶圆以软化聚合物层。
优选地,保持区具有适合于具有预定翘曲轮廓的晶圆的预定凹陷轮廓,以减少晶圆中的对应翘曲量,从而实现基本平坦的晶圆或预定的晶圆水平面。
优选地,预定温度在大约30摄氏度到大约300摄氏度之间,以及预定时间在大约1秒到大约7200秒之间。
根据本发明的又一方面,提供了一种调整晶圆的翘曲的装置,包括:具有用于保持晶圆的保持区的保持台,晶圆具有中心部分和边缘部分;以及加热器,用于当中心部分高于边缘部分的晶圆被按压在保持区上并通过吸力保持在保持台上时,根据晶圆的翘曲量,以预定时间和预定温度加热晶圆,从而实现基本平坦的晶圆。
优选地,保持区具有凹陷轮廓。
优选地,保持区具有适合于具有预定翘曲轮廓的晶圆的预定凹陷轮廓,以减少晶圆中的对应翘曲量,从而实现基本平坦的晶圆或预定的晶圆水平面。
优选地,吸力包括自吸力。
根据本发明的又一方面,提供了一种调整晶圆的翘曲的方法,包括:提供具有中心部分和边缘部分的晶圆;提供其上具有用于保持晶圆的保持区的保持台;将晶圆放置在保持台上,中心部分高于边缘部分;将晶圆压按到保持区上,使得晶圆通过晶圆的相对侧之间的压差而吸引并保持在保持台上;以及根据晶圆的翘曲量,以预定温度和预定时间加热晶圆,从而实现基本平坦的晶圆。
附图说明
当阅读附图时,根据以下详细描述更好地理解本公开的实施例。需要强调的是,根据工业的标准实践,各种部件没有按比例绘制。事实上,为了讨论的清楚,可以任意地增加或减小各种部件的尺寸。
图1是根据本公开的各种实施例的复合晶圆的截面图。
图2是图1的复合晶圆具有翘曲的截面图。
图3是根据本公开的各种实施例的用于将晶圆保持按压在其上来使晶圆变平的保持台的立体图。
图4是根据本公开的各种实施例的图3的保持台的俯视图。
图5是根据本公开的各种实施例的图3的保持台的截面图。
图6是根据本公开的各种实施例的具有翘曲的晶圆被放置在保持台上的示意性侧视图。
图7是根据本公开的各种实施例的晶圆被按压在保持台上并保持在其上的示意性侧视图。
图8是根据本公开的各种实施例的变平的复合晶圆的示意性侧视图。
图9是根据本公开的各种实施例的调整晶圆翘曲的方法的流程图。
具体实施方式
在下文的描述中,提出了许多具体细节以提供对本公开实施例的彻底理解。然而,本领域技术人员应该意识到,本公开的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实现。在一些情况下,为了避免不必要地模糊本公开的实施例,没有详细描述已知的结构和工艺。
本说明书中的“一个实施例”或“实施例”是指结合实施例描述的特定部件、结构或特性包括在本公开的至少一个实施例中。因此,本说明书中出现的短语“在一个实施例中”或“在实施例中”不是必须指同一个实施例。此外,在一个或更多的实施例中,可以以任何适当的方式组合特定部件、结构或特性。应该理解,以下的附图没有按比例绘制;相反,这些附图仅用于说明。
图1是根据一些实施例的复合晶圆20的截面图。复合晶圆20包括在硅衬底40之上形成的聚合物层30。在复合晶圆20的制造过程中和/或在后续工艺期间,晶圆20可能受到高温(例如,1000-1100摄氏度)。
如图2所示,当复合晶圆20冷却到诸如室温的较低温度时,在晶圆中可能产生翘曲,晶圆具有翘曲h(例如,0.5mm-1mm)。翘曲可能由可具有热膨胀系数(CTE)为4的硅衬底40与可具高于4的CTE的聚合物层30之间CTE差所引起。翘曲或晶圆平坦度是一个考虑因素,因为诸如光刻的后续工艺对于平坦度可能具有高灵敏度并且基本上不平坦的晶圆会使后续器件制造和测试工艺复杂,这可能对制造产量产生不利影响。
图3示出了根据本公开各种实施例的用于在其上保持晶圆20以使晶圆20变平的保持台70。晶圆20可以是单衬底晶圆(诸如硅衬底晶圆)或者是具有形成在硅衬底上的聚合物层的复合晶圆。一个或多个实施例不限于使用基于聚合物的复合晶圆,并且其他材料也可以用于复合晶圆。
图4是根据本公开各种实施例的保持台70的俯视图,图5是保持台的截面图。保持台70可包括一片式结构或多片式结构,并且可以由金属(诸如铝、铜、钢等)或者无孔材料(诸如陶瓷)制成。保持台70可具有正方形或长方形的形状。上述配置仅仅是实例,在一些实施例中存在各种可选的应用配置。
形成保持台70使其作为整体可以通过加热器而加热至预定温度,其中为了简单起见而没有示出加热器。在一些实施例中,例如,保持台70可以设置有电加热器,并且其可以被冷却和加热。然后,加热的保持台70可以加热晶圆20。
保持台70其上具有保持区80。保持区80具有通常凹陷的轮廓和光滑的表面,并且被配置为在晶圆放置在保持区80上然后被按压在其上时产生将晶圆保持至保持台的吸力(空气压差)。保持区80包括不同的凹陷轮廓,以适合于具有不同翘曲轮廓的晶圆。换句话说,根据本公开的实施例,保持区80具有适用于具有预定翘曲轮廓的晶圆的预定凹陷轮廓,来减少晶圆中的相应翘曲量以实现基本平坦的晶圆。根据本公开的实施例,可以制造每一个均具有不同翘曲轮廓的多个保持台70以适应具有不同翘曲程度和晶圆水平面(level)的无数晶圆。
图6示出了将晶圆放置到保持台上的操作,晶圆具有中心部分40a和边缘部分40b。根据一个实施例,晶圆被放置在保持台70上,其中中心部分40a高于边缘部分40b。如图7所示,晶圆20然后被按压在保持区80上。这使得晶圆20通过自吸力而被吸引并保持在保持台70上,或者换句话说,由于晶圆40顶部的压力和保持台70与晶圆20之间的压力之间的空气压差而向晶圆施加向下的力。在一些实施例中,晶圆20和保持区80的光滑表面之间的空气被清除,以获得好的吸力。当晶圆20被按压时,晶圆20将具有稍微凹陷的轮廓,这与保持区80的凹陷轮廓相匹配。在一个实施例中,晶圆20被手动地按压在保持区上,诸如通过技术人员。在另一个实施例中,晶圆20被自动地按压在保持区上,诸如通过机械臂。在一些实施例中,晶圆20通过自吸力吸引并保持在保持台70上,而不使用其他力或附加结构。在一些实施例中,晶圆20通过晶圆20两侧之间的压差吸引并保持在保持台70上,而不使用其他力或附加结构。
在晶圆20按压并保持在保持台70上之后,如图7中的90所示意性示出的,晶圆20的翘曲通过加热修复,其中在一些实施例中,晶圆20通过保持台70中的加热器加热,和/或在又一些实施例中,晶圆20通过通过外部加热器加热。外部加热器源可包括紫外线(UV)、红外线(IR)或微波器件等。结果是晶圆20的翘曲量逐渐减少。根据晶圆的翘曲量,以预定温度和预定时间加热晶圆20以实现图8所示基本平坦的晶圆。在另一示例性实施例中,根据晶圆的翘曲量,以预定温度和预定时间加热晶圆20以实现预定的晶圆水平面。晶圆20被加热的温度取决于晶圆的翘曲轮廓以及复合晶圆中的复合材料体积比。根据一个实施例,预定温度的范围在大约30摄氏度到大约300摄氏度之间,并且预定时间从大约1秒到大约7200秒。根据另一个实施例,复合晶圆20包括硅衬底上的聚合物层,预定温度的范围在大约90摄氏度到大约200摄氏度之间,并且预定时间从大约1秒到大约3600秒。然后,晶圆20被冷却到较低温度,诸如室温。冷却方法不限,但是在一些实施例中推荐使用电子冷却设备。在一些实施例中,用于加热/保持晶圆的温度和时间是预定的,例如对具有各种翘曲程度或轮廓的多个晶圆进行实验,确定每个轮廓的最佳温度和时间,将最佳温度和时间存储在查找表中以在实际晶圆要被变平时访问查找表。
如果复合晶圆的翘曲量h相对较大,例如从大约1mm到大约2mm,则在晶圆20放置到保持台70上的操作之前,可以将晶圆20加热而软化。根据一个实施例,晶圆20可以以复合材料的玻璃转变温度(Tg)或者该温度之上的温度进行加热以软化晶圆中的复合材料。根据另一个实施例,晶圆20可以以聚合物的玻璃转变温度(Tg)或者该温度之上的温度进行加热软化聚合物层。
图9示出了根据本公开各种实施例的调整晶圆翘曲的方法900的流程图。参照图9,方法包括操作910,其中提供具有中心部分和边缘部分的晶圆。在操作920中,提供其上具有用于保持晶圆的保持区的保持台。在操作930中,晶圆放置在保持台上,其中中心部分高于边缘部分。方法900进一步包括操作940,其中晶圆被按压在保持区上,使得晶圆通过吸引方式吸引并保持在保持台上。在操作950中,根据晶圆的翘曲量,以预定温度和预定时间加热晶圆以实现基本平坦的晶圆。在另一示例性实施例中,根据晶圆的翘曲量,以预定温度和预定时间加热晶圆以实现预定的晶圆水平面。
应该理解,可以在图9所示的操作910-950之前、期间或之后执行附加工艺,以完成复合晶圆平坦化工艺,但是为了简单而在本文没有讨论这些附加工艺。
在前面详细的描述中,已经描述了特定的示例性实施例。然而,对于本领域的技术人员显而易见的是可以另外进行各种修改、结构、工艺和变化而不背离本公开的更广泛的精神和范围。因此,说明书和附图应被视为说明性的而不是限制性的。应当理解,本公开的实施例可以使用各种其他组合和环境,并且能够在权利要求的范围内变化或修改。
Claims (20)
1.一种调整晶圆的翘曲的方法,所述方法包括:
提供具有中心部分和边缘部分的晶圆;
提供其上具有用于保持所述晶圆的保持区的保持台;
将所述晶圆放置在所述保持台上,其中所述中心部分高于所述边缘部分;
将所述晶圆按压到所述保持区上,使得所述晶圆通过自吸力而吸引并保持在所述保持台上;以及
根据所述晶圆的翘曲量,以预定温度和预定时间加热所述晶圆,从而实现基本平坦的晶圆。
2.根据权利要求1所述的调整晶圆的翘曲的方法,其中,所述晶圆是复合晶圆。
3.根据权利要求2所述的调整晶圆的翘曲的方法,其中,所述复合晶圆包括硅衬底和设置在所述硅衬底上的聚合物层。
4.根据权利要求3所述的调整晶圆的翘曲的方法,进一步包括:在将所述晶圆放置在所述保持台上之前,以聚合物的玻璃转变温度(Tg)的温度或者高于该温度的温度加热所述晶圆以软化所述聚合物层。
5.根据权利要求1所述的调整晶圆的翘曲的方法,其中,所述保持台的所述保持区具有凹陷轮廓。
6.根据权利要求5所述的调整晶圆的翘曲的方法,其中,所述保持区具有适合于具有预定翘曲轮廓的晶圆的预定凹陷轮廓,以减少所述晶圆中的对应翘曲量,从而实现基本平坦的晶圆或预定的晶圆水平面。
7.根据权利要求1所述的调整晶圆的翘曲的方法,其中,所述晶圆通过自吸力保持在所述保持台上而不使用其他力或附加结构。
8.根据权利要求1所述的调整晶圆的翘曲的方法,其中,所述预定温度在30摄氏度到300摄氏度之间,以及所述预定时间在1秒到7200秒之间。
9.根据权利要求1所述的调整晶圆的翘曲的方法,进一步包括:在将所述晶圆放置在所述保持台上之前,加热所述晶圆以软化所述晶圆。
10.根据权利要求1所述的调整晶圆的翘曲的方法,进一步包括:在加热所述晶圆之后,冷却所述晶圆至室温。
11.一种调整复合晶圆的翘曲的方法,所述方法包括:
将具有凸起轮廓的复合晶圆放置到具有凹陷状保持区的保持台上,其中所述晶圆的凸起轮廓朝上定向;
将所述晶圆按压在所述保持区上,直至所述晶圆具有凹陷轮廓并通过自吸力保持在所述保持台上;
根据所述晶圆的翘曲量,以预定温度和预定时间加热所述晶圆,从而实现基本平坦的晶圆;以及
冷却所述晶圆。
12.根据权利要求11所述的调整复合晶圆的翘曲的方法,其中,所述晶圆通过自吸力保持在所述保持台上而不使用其他力或附加结构。
13.根据权利要求11所述的调整复合晶圆的翘曲的方法,其中,所述复合晶圆包括硅衬底和设置在所述硅衬底上的聚合物层。
14.根据权利要求13所述的调整复合晶圆的翘曲的方法,进一步包括:在将所述复合晶圆放置到所述保持台上之前,以聚合物的玻璃转变温度(Tg)的温度或者高于该温度的温度加热所述复合晶圆以软化所述聚合物层。
15.根据权利要求11所述的调整复合晶圆的翘曲的方法,其中,所述保持区具有适合于具有预定翘曲轮廓的晶圆的预定凹陷轮廓,以减少所述晶圆中的对应翘曲量,从而实现基本平坦的晶圆或预定的晶圆水平面。
16.根据权利要求11所述的调整复合晶圆的翘曲的方法,其中,所述预定温度在30摄氏度到300摄氏度之间,以及所述预定时间在1秒到7200秒之间。
17.一种调整晶圆的翘曲的装置,所述装置包括:
具有用于保持所述晶圆的保持区的保持台,所述晶圆具有中心部分和边缘部分;以及
加热器,用于当所述中心部分高于所述边缘部分的所述晶圆被按压在所述保持区上并通过自吸力保持在所述保持台上时,根据所述晶圆的翘曲量,以预定时间和预定温度加热所述晶圆,从而实现基本平坦的晶圆。
18.根据权利要求17所述的调整晶圆的翘曲的装置,其中,所述保持区具有凹陷轮廓。
19.根据权利要求17所述的调整晶圆的翘曲的装置,其中,所述保持区具有适合于具有预定翘曲轮廓的晶圆的预定凹陷轮廓,以减少所述晶圆中的对应翘曲量,从而实现基本平坦的晶圆或预定的晶圆水平面。
20.一种调整晶圆的翘曲的方法,所述方法包括:
提供具有中心部分和边缘部分的晶圆;
提供其上具有用于保持所述晶圆的保持区的保持台;
将所述晶圆放置在所述保持台上,其中所述中心部分高于所述边缘部分;
将所述晶圆压按到所述保持区上,使得所述晶圆通过所述晶圆的相对侧之间的压差而吸引并保持在所述保持台上;以及
根据所述晶圆的翘曲量,以预定温度和预定时间加热所述晶圆,从而实现基本平坦的晶圆。
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