CN103310750B - 信号处理装置、液晶装置、电子设备以及信号处理方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供通过与在像素产生的横向电场的强度相应的影像信号的校正，抑制由反向倾斜畴导致的显示不良的发生的信号处理装置、液晶装置、电子设备以及信号处理方法。该液晶装置的信号处理装置，具备：检测部，基于控制对多个像素施加的电压的信号，检测第1像素与第2像素的边界，该第1像素被施加比第1基准电压低的第1电压，该第2像素被施加比第2基准电压高的第2电压；和校正部，其将与第1像素对应的第1电压校正成比第1电压高且比与第2像素对应的第2电压低的第3电压。

Description

信号处理装置、液晶装置、电子设备以及信号处理方法

技术领域

本发明涉及减少液晶面板中的显示不良的技术。

背景技术

液晶面板具有由按每个像素设置的像素电极和在多个像素中共用设置的共用电极夹持液晶的结构。在这样的液晶面板中，由于在相互相邻的像素电极彼此产生的横向电场导致产生液晶的取向不良（反向倾斜畴，reverse tilt domain），有时这会成为显示方面的不良情况的原因。在专利文献1以及专利文献2中公开了抑制由于液晶的取向不良导致的显示不良的发生的技术。专利文献1以及专利文献2公开了如下技术：通过相邻像素的信号电平之差（也就是，液晶元件的电压差）检测影像信号的黑白边界，对检测出的黑白边界的影像信号以使信号电平的差减小地对影像信号进行校正。

【专利文献1】日本特开2008-281947号公报

【专利文献2】日本特开2008-46613号公报

在像专利文献1以及专利文献2公开的技术那样，仅以相邻的像素彼此的信号电平差较大为条件、对所有的影像信号进行校正的方法中，在横向电场弱的位置校正过量的影像信号，可能产生使用者容易感知到的显示背离，或者相反地，在横向电场强的位置，影像信号的校正不足，可能会发生由反向倾斜畴导致的显示不良。这样，由于在像素产生的横向电场的不同，用于使反向倾斜畴减少所必需的影像信号的校正量不同。

发明内容

本发明鉴于上述的情况而完成，其目的之一在于：通过与在像素产生的横向电场的强度相应的影像信号的校正，抑制由反向倾斜畴导致的显示不良的发生。

为了达成上述目的，一种信号处理装置，其特征在于，用于具备多个像素的液晶装置中，所述信号处理装置具备:检测部，其基于控制对所述多个像素的各个施加的电压的信号，检测第1像素与第2像素的边界，该第1像素与比第1基准电压低的第1电压对应，该第2像素与比第2基准电压高的第2电压对应；和校正部，其将与所述第1像素对应的所述第1电压校正成比所述第1电压高且比与所述第2像素对应的所述第2电压低的第3电压，所述第2基准电压比所述第1基准电压高，所述第3电压，在所述第2电压高时比所述第2电压低时高。

根据本发明，通过与在像素产生的横向电场的强度相应的影像信号的校正，能够抑制由反向倾斜畴导致的显示不良的发生。

在本发明中，所述校正部，也可以在所述第1电压比低于所述第1基准电压的第3基准电压低的情况下，将与所述第1像素对应的所述第1电压校正成所述第3电压。

根据本发明，能够将判定为液晶分子的取向状态容易紊乱的第1像素作为影像信号的校正的对象。

在本发明中，所述校正部也可以使得所述第4电压，在所述第1电压与第2电压的差值大时比所述差值小时低。

根据本发明，能够与横向电场的强度相应地，按反向倾斜畴的减少所需的量，校正第1像素的影像信号。

在本发明中，所述校正部，也可以设定与从与所述边界相接的所述第2像素向该边界的相反方向连续的2个以上的所述第2像素的所述第2电压相应的、所述第3电压及所述第4电压。

根据本发明，能够抑制在发生弱的横向电场的情况下产生的反向倾斜畴的发生。

在本发明中，所述校正部也可以设定与所述2个以上的所述第2像素的所述第2电压中的最大电压相应的所述第3电压及所述第4电压。

根据本发明，能够更加可靠地抑制在发生了弱的横向电场的情况下产生的反向倾斜畴的发生。

在本发明中，所述校正部，也可以将指定与所述检测出的边界相接的所述第2像素的所述第2电压的影像信号，校正成指定比该电压低且相应于与该边界相接的所述第1像素的所述第1电压的第5电压的影像信号。

根据本发明，能够一边抑制平均1个像素的影像信号的校正，一边通过与在像素产生的横向电场的强度相应的影像信号的校正，抑制由反向倾斜畴导致的显示不良的发生。

在本发明中，所述校正部，也可以将指定与所述检测出的边界相接的所述第2像素的所述施加电压的影像信号，校正为指定比该电压低且相应于与该边界相接的所述第1像素的所述第1电压的第5电压的影像信号。

根据本发明，能够将容易导致反向倾斜畴发生的第2像素作为影像信号的校正的对象。

在本发明中，所述校正部也可以，与所述边界相接的所述第1像素的所述第1电压与所述第2电压的差值越大，就越降低所述第5电压及所述第6电压。

根据本发明，能够与横向电场的强度相应地，按反向倾斜畴的减少所需要的量，校正第2像素的影像信号。

在本发明中，所述校正部，也可以设定相应于从与所述边界相接的所述第1像素向该边界的相反方向连续的2个以上的所述第1像素的第1电压的、所述第5电压及所述第6电压。

根据本发明，能够抑制在弱的横向电场发生的情况下产生的反向倾斜畴的发生。

在本发明中，所述校正部，也可以设定与所述2个以上的所述第1像素的所述第1电压中的最小电压相应的所述第5电压及所述第6电压。

根据本发明，能够更加可靠地抑制在产生弱的横向电场的情况下产生的反向倾斜畴的发生。

在本发明中，所述校正部也可以将指定作为校正对象的像素的施加电压的影像信号校正为，在与该影像信号对应的显示期间的一部分期间中比该电压高、在该显示期间的其他期间中比该施加电压低。

根据本发明，能够缩短横向电场的连续发生时间，使得难以产生反向倾斜畴。

此外，本发明，除了信号处理装置外，也能够作为液晶装置、电子设备以及信号处理方法而概念化。

附图说明

图1是表示应用了本发明的第1实施方式涉及的影像处理电路（信号处理装置）的液晶显示装置的图。

图2是表示该液晶显示装置中的液晶元件的等效电路的图。

图3是表示该影像处理电路的构成的图。

图4是表示构成该液晶显示装置的液晶面板的V-T特性的图。

图5是表示该液晶面板的显示工作的图。

图6是表示与暗像素对应的液晶元件的校正电压及判定电压、和与相邻于该暗像素的亮像素对应的液晶元件的施加电压的关系的曲线图。

图7是该影像处理电路的边界检测步骤的说明图。

图8是表示该影像处理电路的校正处理的图。

图9是表示该影像处理电路的变形例1中的校正处理的图。

图10是起因于弱的横向电场的反向倾斜畴的发生原理的说明图。

图11是表示该影像处理电路的变形例2中的校正处理的图。

图12是第2实施方式涉及的、表示与亮像素对应的液晶元件的校正电压及判定电压、和与相邻于该亮像素的暗像素对应的液晶元件的施加电压的关系的曲线图。

图13是表示该实施方式涉及的影像处理电路中的校正处理的图及其变形例。

图14是起因于弱的横向电场的反向倾斜畴的发生原理的说明图。

图15是表示该影像处理电路的变形例中的校正处理的图。

图16是表示第3实施方式涉及的影像处理电路中的校正处理的图。

图17是该液晶面板中设为VA方式时的初始取向的说明图。

图18是表示第4实施方式涉及的影像处理电路的结构的图。

图19是表示该影像处理电路中的边界检测步骤的说明图。

图20是表示该影像处理电路中的校正处理的图。

图21是液晶面板中设为其他倾斜方位角时的图。

图22是液晶面板中设为其他的倾斜方位角时的图。

图23是该影像处理电路的变形例中的边界检测步骤的说明图。

图24是表示该变形例中的校正处理的图。

图25是表示该变形例中的校正处理的图。

图26是本发明的第5实施方式涉及的影像处理电路的校正处理的说明图。

图27是图像的变动与液晶元件的透射率的变化的关系的说明图。

图28是图像的变动与液晶元件的透射率的变化的关系的说明图。

图29是图像的变动与液晶元件的透射率的变化的关系的说明图。

图30是本发明的第6实施方式涉及的影像处理电路的校正处理的说明图。

图31是本发明的第7实施方式涉及的影像处理电路的校正处理的说明图。

图32是表示该实施方式涉及的、与亮像素对应的液晶元件的校正电压及判定电压、和与相邻于该亮像素的暗像素对应的液晶元件的施加电压的关系的曲线图。

图33是表示变形例中的校正处理的图。

图34是表示应用了液晶显示装置的投影机的图。

图35是表示横向电场的影响导致的显示不良等的图。

附图标记说明

1…液晶显示装置；30…影像处理电路；100…液晶面板；100a…元件基板；100b…对置基板；105…液晶；108…共用电极；118…像素电极；120…液晶元件；302…延迟电路；304…边界检测部；3041…当前帧边界检测部；3042…前一帧边界检测部；3043…保存部；3044…应用边界确定部；3045…判别部；3046…应用边界确定部；306…校正部；308…D/A转换器；2100…投影机。

具体实施方式

下面，关于本发明的实施方式，一边参照附图一边说明。

第1实施方式

首先，关于本发明的第1实施方式进行说明。

图1是表示应用了本实施方式涉及的影像处理电路的液晶显示装置1的整体结构的框图。

如图1所示，液晶显示装置1具备控制电路10、液晶面板100、扫描线驱动电路130和数据线驱动电路140。从上级装置与同步信号Sync同步对控制电路10供给影像信号Vid-in。影像信号Vid-in为分别指定液晶面板100中的各像素的灰度等级的数字数据，以按照同步信号Sync所含的垂直扫描信号、水平扫描信号以及点时钟信号（都省略图示）的扫描的顺序被供给。

此外，因为影像信号Vid-in指定灰度等级，而液晶元件的施加电压根据灰度等级而定，所以可以说影像信号Vid-in是指定液晶元件的施加电压的信号。

控制电路10具备扫描控制电路20和影像处理电路30。扫描控制电路20生成各种控制信号，与同步信号Sync同步地控制各部分。影像处理回路30，关于详情将后述，其将数字的影像信号Vid-in作为输入影像信号处理，输出模拟的数据信号Vx。

液晶面板100构成为，使元件基板（第1基板）100a与对置基板（第2基板）100b保持一定间隙而贴合，并且在该间隙中夹持有由纵向电场驱动的液晶105。在元件基板100a中的与对置基板100b相对的对置面，在图中沿X（横）方向设有多行m行扫描线112，另一方面，沿着Y（纵）方向且与各扫描线112相互保持电绝缘地，设有多列n列数据线114。

此外，在该实施方式中，有时为了区别扫描线112，采用在图中从上往下顺序称为第1、2、3、…、（m-1）、m行这样的叫法。同样地，有时为了区别数据线114，采用在图中从左往右顺序称为第1、2、3、…、（n-1）、n列这样的叫法。

元件基板100a中，进一步，与扫描线112和数据线114的各交叉处分别对应地，设有n沟道型的TFT116和矩形形状且具有透明性的像素电极118的组。TFT116的栅电极连接于扫描线112，源电极连接于数据线114，漏电极连接于像素电极118。另一方面，在对置基板100b中的与元件基板100a相对的对置面，遍及整面设有具有透明性的共用电极108。通过省略了图示的电路对共用电极108施加电压LCcom。

此外，在图1中，元件基板100a的对置面为纸面背侧，所以在该对置面设置的扫描线112、数据线114、TFT116以及像素电极118，应该用虚线表示，但是难以观察到，所以分别用实线表示。

图2是表示液晶面板100中的等效电路的图。

如图2所示，液晶面板100构成为，与扫描线112和数据线114的交叉处对应地，排列由像素电极118和共用电极108夹持液晶105而成的液晶元件120。图1中省略了，但是在液晶面板100的等效电路中，实际上如图2所示，相对于液晶元件120并联地设有辅助电容（存储电容）125。辅助电容125，其一端连接于像素电极118，另一端共用地连接于电容线115。电容线115时间性地保持为一定的电压。

在此，如果扫描线112成为H电平，则栅电极连接于该扫描线的TFT116导通，像素电极118连接于数据线114。因此，在扫描线112为H电平时，如果对数据线114供给与灰度相应的电压的数据信号，则该数据信号经由导通了的TFT116施加于像素电极118。如果扫描线112成为L电平，则TFT116截止，而已施加于像素电极118的电压，由液晶元件120的电容性以及辅助电容125保持。

液晶元件120中，液晶105的分子取向状态，相应于由像素电极118以及共用电极108产生的电场而变化。因此，液晶元件120，如果为透射型，则为与施加和/或保持电压相应的透射率。液晶面板100中，透射率按每个液晶元件120而变化，所以液晶元件120与像素相当。而且，该像素的排列区域成为显示区域101。

此外，本实施方式中，将液晶105设为VA方式，设为液晶元件120在无电压施加时变为黑状态的常黑模式。

返回图1，扫描线驱动电路130，按照扫描控制电路20的控制信号Yctr，对第1、2、3、…、m行扫描线112供给扫描信号Y1、Y2、Y3、…、Ym。详细而言，扫描线驱动电路130，如图5（a）所示，在帧中按第1、2、3、…、（m-1）、m行这样的顺序选择扫描线112，并且将对选择的扫描线的扫描信号设为选择电压V_H（H电平），将对其以外的扫描线的扫描信号设为非选择电压V_L（L电平）。

此外，所谓帧，是指通过驱动液晶面板100来显示图像的1个分隔符（comma）的量所需的期间，如果同步信号Sync所含的垂直扫描信号的频率为60Hz，则帧是其倒数即16.7毫秒。

数据线驱动电路140，按照扫描控制电路20的控制信号Xctr，将从影像处理电路30供给的数据信号Vx，作为数据信号X1～Xn采用到第1～n列的数据线114。

此外，本说明中，关于电压，除了液晶元件120的施加电压外，只要没有特别明确记载就可将省略了图示的接地电位作为零电压的基准。液晶元件120的施加电压为共用电极108的电压LCcom与像素电极118的电位差，用于与其他电压区别。

而且，液晶元件120的施加电压与透射率的关系，如果是常黑模式，则由例如图4（a）所示的V-T特性表示。因此，为了使液晶元件120成为与由影像信号Vid-in指定的灰度等级相应的透射率，应该是只要对液晶元件120施加与该灰度等级相应的电压即可。但是，仅单纯相应于由影像信号Vid-in指定的灰度等级来规定液晶元件120的施加电压，有时会发生由反向倾斜畴导致的显示不良。

可以认为，由反向倾斜畴导致的显示不良的原因之一在于：在液晶元件120中被夹持的液晶分子处于不稳定的状态时，由于横向电场的影响导致紊乱，结果之后就难以成为与施加电压相应的取向状态。

在此，所谓受到横向电场影响的情况，为相互相邻的像素电极彼此的电位差变大的情况，这是在要显示的图像中黑电平（或接近黑电平）的暗像素与白电平（或接近白电平）的亮像素相邻的情况。

其中，关于暗像素，指的是施加电压处于为常黑模式下的黑电平的电压Vbk以上且低于阈值Vth1（第1基准电压）的电压范围A的液晶元件120的像素。另外，为了方便，将液晶元件的施加电压处于电压范围A内的液晶元件的透射率范围（灰度范围）设为“a”。另外，有时将用于成为灰度范围a的透射率的液晶元件的施加电压记为“Va”。关于亮像素，设为施加电压处于为阈值Vth2（第2基准电压）以上且常黑模式下的白电平电压Vwt以下的电压范围B内的液晶元件120。为了方便，将液晶元件的施加电压处于电压范围B内的液晶元件的透射率范围（灰度范围）设为“b”。另外，有时将用于成为灰度范围b的透射率的液晶元件的施加电压记为“Vb”。

此外，在常黑模式下，阈值Vth1为使液晶元件的相对透射率为10％的光学阈值电压，阈值Vth2为使液晶元件的相对透射率为90％的光学饱和电压。但是，阈值Vth1及阈值Vth2，在Vth2＞Vth1的条件下，也可以分别为与其他相对透射率对应的电压。另外，将由阈值Vth1规定的亮像素的影像信号的灰度等级设为“th1”，将由阈值Vth2规定的亮像素的影像信号的灰度等级设为“th2”。另外，将由电压Vbk规定的亮像素的影像信号的灰度等级设为“bk”，将由阈值Vwt规定的亮像素的影像信号的灰度等级设为“wt”。

关于由横向电场导致的显示不良的例子进行说明。例如如图35所示，由影像信号Vid-in表示的图像，在以白像素为背景而黑像素连续的黑图形按每帧每次1个像素地向右移动的情况下，在该黑图形的左端缘部（变动的后缘部）本应从黑像素变为白像素的像素由于反向倾斜畴的发生而没有变为白像素，这样的一种拖尾现象显著化。如本实施方式这样，在液晶面板100以与影像信号Vid-in的供给速度相同的速度被驱动的情况下，在以白像素为背景的黑像素区域按每帧每次2个像素以上地移动时，如后所述，如果液晶元件的响应时间比显示画面的更新的时间间隔短，则这样的拖尾现象不会显著化（或者，难以辨认）。其原因可以作如下考虑。即，因为可以认为：在某一帧中，在白像素与黑像素相邻时，可能会在该白像素中发生反向倾斜畴，如果考虑到图像的变动，则反向倾斜畴发生的像素变成离散性，所以在视觉上不显眼。

此外，在图35中如果改变观察方式，则也会有在以黑像素为背景而白像素连续的白图形按每一帧每次1个像素地向右移动的情况下，在该白图形的右端缘部（变动的前端部）本应从黑像素变为白像素的像素由于反向倾斜畴的发生而没有变为白像素这样的情况。另外，在图35中，为了方便说明，挑出了图像中的1行的边界附近。

液晶分子处于不稳定状态时，为液晶元件的施加电压在电压范围A内低于图4所示的判定电压Vjb（第4基准电压）的时候。在液晶元件的施加电压低于判定电压Vjb时，由该施加电压产生的纵向电场的限制力与由取向膜产生的限制力相比较，较弱，所以液晶分子的取向状态会容易地因微小的外部因素而紊乱。另外，之后，在施加电压为Vjb以上时，即使与该施加电压相应地液晶分子将倾斜，响应也容易花费时间。反过来说，如果施加电压在判定电压Vjb以上，则液晶分子与施加电压相应地开始倾斜（透射率开始变化），所以液晶分子的取向状态能够处于稳定状态。因此，判定电压Vjb处于比按透射率规定的阈值Vth1低的关系。

将作为液晶元件120的施加电压规定判定电压Vjb的影像信号的灰度等级，设为判定等级jb。

在此，在设在液晶面板100的前级的影像处理电路30中，解析由影像信号Vid-in表示的图像，检测是否有灰度范围a的暗像素与灰度范围b的亮像素相邻的状态。而且，影像处理电路30，在与暗像素和亮像素的边界相邻的暗像素的灰度等级低于判定等级jb的情况下，将该暗像素的影像信号校正为校正等级cb的影像信号。判定等级jb是处于灰度范围a内的灰度等级。校正等级cb，至少为判定等级jb以上的灰度等级，在此，其处于高于灰度范围a且低于灰度范围b的灰度等级的范围即灰度范围d内。

下面，将由校正等级cb的影像信号规定的液晶元件120的施加电压，记为校正电压“Vcb”（第3电压）。

此外，发生反向倾斜畴的容易度，因在像素产生的横向电场的强度而变化。例如，与相邻于暗像素的亮像素对应的液晶元件120的施加电压越高，由暗像素与亮像素间的电位差导致的横向电场就越强，所以在暗像素容易发生反向倾斜畴。反过来说，即使在暗像素与亮像素相邻的情况下，与亮像素对应的液晶元件120的施加电压越低，由暗像素与亮像素间的电位差导致的横向电场就越弱，所以在暗像素难以发生反向倾斜畴。因此，就以往方式那样、不管向与暗像素及亮像素分别对应的液晶元件120的施加电压如何都将校正电压设为一定的方法而言，对于横向电场弱的暗像素也将影像信号校正成超过需要的高校正电压的影像信号，有时会产生容易被使用者感知的显示背离。相反地，如果在横向电场强的暗像素中校正电压过低，则可能会发生由反向倾斜畴导致的显示不良。

因此，在本实施方式中，如下面说明地那样，规定判定电压Vjb及校正电压Vcb。

图6是表示与相邻于暗像素的亮像素对应的液晶元件120的施加电压（横轴）、和与该暗像素对应的液晶元件120的校正电压及判定电压（纵轴）的关系的曲线图。在图6中，实线的曲线对应于与相邻的亮像素的施加电压相应的暗像素的校正电压，虚线的曲线对应于与相邻的亮像素的施加电压相应的暗像素的判定电压。在图6（a）～（c）的各图中，虽然对应于亮像素的施加电压与对应于暗像素的校正电压的关系不同，但都是对应于亮像素的施加电压越高，对应于暗像素的校正电压就越高。在图6（a）的曲线图中，判定电压Vjb及校正电压Vcb都相对于亮像素的电压增加而线性增加。在亮像素为最小电压Vth2时，判定电压Vjb及校正电压Vcb分别为最小电压，Vjb＝Vjbmin、Vcb＝Vcbmin。另一方面，在亮像素为最大电压Vwt时，判定电压Vjb及校正电压Vcb分别为最大电压，Vjb＝Vjbmax、Vcb＝Vcbmax。但是，始终满足校正电压Vcb≥判定电压Vjb这一关系。在图6（b）的曲线图中，在亮像素的施加电压处于在Vth2以上且Vlim1以下的范围内时，判定电压Vjb及校正电压Vcb都相对于亮像素的电压增加而线性增加。但是，即使亮像素的施加电压比Vlim1高，校正电压Vcb仍按Vcb＝Vcbmax而一定。这样做是为了：通过进行限制使得校正电压Vcb不会变为某个一定值以上，来抑制由暗像素的校正导致的显示背离的发生。另一方面，即使亮像素的施加电压超过了Vlim1，判定电压Vjb也仍相对于电压增加而线性增加。在图6（c）的曲线图中，判定电压Vjb及校正电压Vcb都相对于亮像素的电压增加而曲线性地增加（也就是，切线的倾斜度不恒定）。在该例子中，在亮像素为最小电压Vth2时，判定电压Vjb及校正电压Vcb也分别为最小电压，Vjb＝Vjbmin、Vcb＝Vcbmin。另一方面，在亮像素为最大电压Vwt时，判定电压Vjb及校正电压Vcb也分别成为最大电压，Vjb＝Vjbmax、Vcb＝Vcbmax。

如上所述，在本实施方式中，与亮像素对应的液晶元件120的施加电压越高，与液晶元件120的暗像素对应的校正电压越高。只要满足该条件，亮像素的施加电压与暗像素的校正电压的关系，也可以是图6（a）～（c）所示关系以外的关系。

此外，将由电压Vcbmin规定的像素的影像信号的灰度等级设为“cbmin”。另外，将由电压Vcbmax规定的像素的影像信号的灰度等级设为“cbmax”。

接下来，参照图3就影像处理电路30的详细情况进行说明。如图3所示，影像处理电路30具备延迟电路302、边界检测部304、校正部306及D/A转换器308。

延迟电路302包括FIFO（First In First Out，先入先出）存储器和/或多级的闩锁电路等，存储从上级装置供给的影像信号Vid-in，在经过预定时间后将其读出并作为影像信号Vid-d输出。此外，延迟电路302中的存储及读出，由扫描控制电路20控制。

边界检测部304具备当前帧边界检测部3041、前一帧边界检测部3042、保存部3043、应用边界确定部3044和判别部3045。

当前帧边界检测部3041，解析由当前帧的影像信号Vid-in表示的图像，判别是否存在处于灰度范围a的暗像素与处于灰度范围b的亮像素相邻的部分。而且，当前帧边界检测部3041，在判别为存在相邻的部分时，检测该相邻部分即边界，输出边界的位置信息（第1边界检测部）。

前一帧边界检测部3042，解析由前一帧的影像信号Vid-in表示的图像，检测暗像素与亮像素相邻的部分作为边界。前一帧边界检测部3042，基于影像信号Vid-in执行与当前帧边界检测部3041相同步骤的处理以检测边界，输出检测出的边界的位置信息。

保存部3043保存由前一帧边界检测部3042检测出的边界的位置信息，使其延迟正好1帧期间再输出。

因此，由当前帧边界检测部3041检测的边界是当前帧涉及的边界，相对于此，由前一帧边界检测部3042检测而由保存部3043保存的边界是前一帧涉及的边界。即，前一帧边界检测部3042，检测前一帧的输入影像信号中的暗像素与亮像素的边界（第2边界检测部）。

应用边界确定部3044将由当前帧边界检测部3041检测出的当前帧图像的边界中的、去除了与由保存部3043保存的前一帧图像的边界相同的部分后的边界，确定为应用边界。即，应用边界为从前一帧到当前帧变化了的边界，换言之，是在前一帧中不存在而在当前帧中存在的边界。

判别部3045，判别由延迟输出的影像信号Vid-d表示的像素是否是与由应用边界确定部3044确定的应用边界相接、且低于与相邻的亮像素相应的判定等级jb的暗像素，在判别结果为“是”的情况下，将输出信号的标志Q输出为“1”。另一方面，判别部3045，在判别为不是与应用边界相接的暗像素的情况下，以及关于与应用边界相接的暗像素判别为在与相邻的亮像素相应的判定等级jb以上的情况下，将输出信号的标志Q输出为“0”。

此外，当前帧边界检测部3041，如果不是已存储了某一程度（至少3行以上）的影像信号，则不能遍及应该显示的图像的垂直方向或水平方向检测边界。关于前一帧边界检测部3042也同样。因此，为了调整来自于上级装置的影像信号Vid-in的供给定时，而设有延迟电路302。

以上是边界检测部304的结构说明。

校正部306，将从判别部3045供给的标志Q为“1”时的暗像素的影像信号Vid-d校正为与相邻的亮像素相应的校正等级cb的影像信号，输出校正后的影像信号Vid-out。此时，校正部306规定校正等级cb，以使成为图6所示那样的亮像素的施加电压与暗像素的校正电压的关系。另一方面，校正部306，在从判别部3045供给的标志Q为“0”时，不校正影像信号，将影像信号Vid-d原样作为影像信号Vid-out输出。

D/A转换器308将作为数字数据的影像信号Vid-out转换成模拟的数据信号Vx。为了防止对液晶105施加直流分量，数据信号Vx的电压，例如按每帧交互地变换成相对于视频振幅中心即电压Vcnt为高位侧的正极性电压和为低位侧的负极性电压。

此外，施加于共用电极108的电压LCcom，可以认为是与电压Vcnt大致相同的电压，但考虑到n沟道型的TFT116的截止泄漏等，有时将其调整成与电压Vcnt相比为低位。

接下来，如果就液晶显示装置1的显示工作进行说明，则从上级装置，在帧中按1行1列～1行n列、2行1列～2行n列、3行1列～3行n列、…、m行1列～m行n列的像素的顺序，供给影像信号Vid-in。影像处理电路30，对影像信号Vid-in进行延迟和/或校正等处理而作为影像信号Vid-out输出。

在此，在以1行1列～1行n列的影像信号Vid-out被输出的水平有效扫描期间（Ha）来看时，被处理了的影像信号Vid-out，由D/A转换器308如图5（b）所示转换成正极性或负极性的数据信号Vx。在此例如被转换成正极性的数据信号。该数据信号Vx，通过数据线驱动电路140被采样到第1～n列的数据线114作为数据信号X1～Xn。

另一方面，在1行1列～1行n列的影像信号Vid-out被输出的水平扫描期间中，扫描控制电路20控制扫描线驱动电路130，以仅使扫描信号Y1变为H电平。如果扫描信号Y1为H电平，则第1行的TFT116变为导通状态，所以被采样到了数据线114的数据信号，经由处于导通状态的TFT116被施加于像素电极118。由此，对1行1列～1行n列的液晶元件，分别写入与由影像信号Vid-out指定的灰度等级相应的正极性电压。

接着，2行1列～2行n列的影像信号Vid-in，同样由影像处理电路30处理，作为影像信号Vid-out输出，并且由D/A转换器308转换成正极性的数据信号，之后通过数据线驱动电路140被采样到第1～n列的数据线114。

在2行1列～2行n列的影像信号Vid-out被输出的水平扫描期间中，通过扫描线驱动回路130仅使扫描信号Y2变为H电平，所以被采样到了数据线114的数据信号，经由处于导通状态的第2行的TFT116被施加于像素电极118。由此，对2行1列～2行n列的液晶元件，分别写入与由影像信号Vid-out指定的灰度等级相应的正极性电压。

下面，对第3、4、…、m行执行同样的写入工作，由此，对各液晶元件写入与由影像信号Vid-out指定的灰度等级相应的电压，作成由影像信号Vid-in规定的透射像。

在下一帧中，除了通过数据信号的极性反相，将影像信号Vid-out转换成负极性的数据信号以外，执行同样的写入工作。

图5（b）是表示从影像处理电路30在水平扫描期间（H）输出1行1列～1行n列的影像信号Vid-out时的数据信号Vx的一例的电压波形图。本实施方式中，设为常黑模式，所以数据信号Vx，如果是正极性，则变为相对于基准电压Vcnt按与由影像处理电路30处理了的灰度等级相应的量变高的高位侧的电压（图5（b）中由上箭头（↑）表示），如果是负极性，则成为相对于基准电压Vcnt按与灰度等级相应的量变低的低位侧的电压（图5（b）中由下箭头（↓）表示）。

详细而言，数据信号Vx的电压，如果为正极性，则在从与白相当的电压Vw(+)到与黑相当的电压Vb(+)的范围内，另一方面，如果是负极性，则在从与白相当的电压Vw(-)到与黑相当的电压Vb(-)的范围内，分别成为从基准电压Vcnt按与灰度相应的量偏离的电压。

电压Vw(+)及电压Vw(-)处于以电压Vcnt为中心相互对称的关系。电压Vb(+)及Vb(-)，也处于以电压Vcnt为中心相互对称的关系。

此外，图5（b），表示数据信号Vx的电压波形，与被施加于液晶元件120的电压（像素电极118与共用电极108的电位差）不同。另外，图5（b）中的数据信号的电压的纵向标度，与图5（a）中的扫描信号等的电压波形相比较，扩大了。

关于影像处理电路30进行的校正处理的具体例子进行说明。

在由前一帧的影像信号Vid-in所示的图像例如如图7（a）所示、由当前帧的影像信号Vid-in所示的图像例如如图7（b）所示的情况下，由各影像信号Vid-in所示的图像的边界，分别如图7（c）所示。而且，由应用边界确定部3044，将由当前帧边界检测部3041检测的边界中的不与由前一帧边界检测部3042检测的边界重复的边界，确定为应用边界。由此，该情况下的应用边界，如图8（a）所示。

图8（b）是例示了由影像信号Vid-in表示的图像从图7（a）变化成图7（b）那样的情况下的影像信号Vid-out的图。

校正部306，如图8（b）所示，在与从前一帧到当前帧变化了的边界相接的暗像素的灰度等级低于判定等级jb的情况下，将与该应用边界相接的暗像素的影像信号校正成校正等级cb的影像信号。在此，在图7（b）所示的以亮像素（由白色图示）为背景的暗像素（由黑色图示）的图形中，所有亮像素中，左半部分的亮像素的灰度等级为“th2”，右半部分的亮像素的灰度等级为“wt”。该情况下，与灰度等级“th2”的亮像素相邻的暗像素被校正为“cbmin”，与灰度等级“wt”的亮像素相邻的暗像素被校正为“cbmax”。在图8（b）中由“※1”表示的暗像素，因为纵横连续的边界位于其左上角或左下角，所以该暗像素就与该边界相接，即使不相邻于亮像素也成为校正对象像素。这样确定校正对象像素是考虑了图像向倾斜方向按1pixel/frame移动（变动）的情况后的结果。另一方面，关于仅纵向或横向断裂的边界位于暗像素的某一角的暗像素，因为不存在纵横连续的边界，所以不认为与边界相接，不会成为校正对象像素。这样的看法是在下面的说明中相同的内容。

在以上说明了的第1实施方式中，影像处理电路30，与相邻于校正对象的暗像素的亮像素的施加电压相应地，使判定电压及校正电压不同。此时，影像处理电路30使得：与亮像素对应的液晶元件120的施加电压越高，液晶元件120的与暗像素对应的校正电压越高；并且在亮像素的施加电压为Vth2时，判定电压Vjb及校正电压Vcb分别变为最小电压；在亮像素的施加电压为Vwt时，判定电压Vjb及校正电压Vcb分别变为最大电压。由此，关于横向电场相对较弱的暗像素，能够减少校正量以抑制由于影像信号的过度校正导致的显示背离的发生；关于横向电场相对较强的亮像素，能够增大校正量以抑制由反向倾斜畴导致的显示不良的发生。由此，作为显示面101的整体，能够相应于横向电场的强度以必要的校正量对各像素的影像信号进行校正。

第1实施方式的变形例

第1实施方式的变形例1

在上述的第1实施方式中，校正部306仅将与应用边界相接的像素作为校正对象的暗像素。取而代之，校正部306也可以如图9所示，将从与应用边界相接的暗像素向该应用边界的相反方向连续的2个以上的暗像素（在此，为3个）作为校正对象。该情况下，在将液晶面板100的显示画面更新的时间间隔设为S（毫秒）、将变为从低于判定电压Vjb的施加电压变换成电压Vcb时的液晶元件120的取向状态为止的响应时间设为U1（毫秒）的情况下，优选设为，在用响应时间U1除以时间间隔S所得的值的整数部的值加上1后所得的值以上的像素数。

此外，只要事先研究例如表示暗像素的最小灰度的Vbk被施加时的液晶元件达到最大电压Vcbmax被施加时的静态透射率为止的时间来确定响应时间U1即可。

在液晶面板100按等倍速被驱动的情况下，时间间隔S为与帧相等的16.7毫秒。因此，如果S（＝16.7）≥U1，则校正对象像素仅为与应用边界相邻的1个像素即可。另一方面，近年来，有2倍速、4倍速、…这样的液晶面板100的驱动更加高速化的倾向。即使是这样的高速驱动，从上级装置供给的影像信号Vid-in，与等速驱动同样地为每帧1分隔符的量。因此，在n帧与（n＋1）帧之间，为了提高动态画面显示观看特性等，有时通过插补技术等生成两帧的中间的图像，使其在液晶面板100上显示。例如在2倍速驱动的情况下，显示画面更新的时间间隔变为一半即8．35（毫秒）。因此，各帧分割成第1场和第2场这2个场，并且在第1场中进行例如使自身的帧的图像显示的更新，在第2场中进行使与该自身的帧的图像和后一帧的图像相当的插补图像显示的更新。因此，即使是高速驱动，有时图像图形也会在分割帧而成的场中每次1个像素地移动。

在将影像信号Vid-in按1分隔符的量被供给的帧的时间设为V（毫秒）时，在按其的F倍速（F为整数）驱动液晶面板时，1场的时间成为V除以F后的值，这成为更新显示画面的时间间隔S。

因此，例如相对于1帧以16.7毫秒被供给的影像信号Vid-in而言，在按2倍速驱动液晶面板100时，显示画面更新的时间间隔S变为一半即8．35毫秒。在此，如果假设上述响应时间T为24毫秒，则“24”除以“8．35”后的值为“2．874…”，所以作为校正对象优选的像素数，成为该值中的整数部“2”加上“1”所得的“3”。

这样，在液晶面板100被2倍速以上驱动的情况等时，即使在液晶元件的响应时间U1比显示画面更新的时间间隔S长的情况下，也能够适当设定作为校正对象的暗像素的数量，事先避免由上述的反向倾斜畴导致的显示不良的发生。另外，在常黑模式下，将成为校正对象的暗像素设为3个连续的暗像素，但是该数量不限于“3”，也可以考虑液晶元件120的响应时间和液晶面板100的驱动速度将该数量进一步增多。

另外，该情况下，有时对1个暗像素规定2种以上的校正电压Vcb，但是例如为了使反向倾斜畴的减少优先，采用最大的校正电压即可。但是，校正部306也可以根据这2种以上的校正电压Vcb的平均值和/或中间值等的统计值来规定校正电压。

第1实施方式的变形例2

上述的第1实施方式中，在相邻的暗像素以及亮像素间的电位差比较小、降低与暗像素对应的校正电压的情况下，在下一帧以后，即使该暗像素以及亮像素间的横向电场弱，有时也会发生反向倾斜畴。例如，可以考虑图10（a）的N帧所示那样的、连续的多个暗像素与连续的多个亮像素排成一列的图像行。在此，在灰度等级“bk”的暗像素p1与灰度等级“th2”的亮像素p2相邻的情况下，原本暗像素p1被校正成灰度等级cbmin的影像信号。但是，如图10（a）所示，在亮像素p2的与暗像素p1相反的一侧，相邻有灰度等级“wt”的亮像素p3，而且，图像行在图中向右（p2→p1的方向）从N帧到N＋1帧移动了1个像素。此时的液晶105的取向状态示出于图10（b）。

在N帧中，暗像素与亮像素间的灰度差比较小，所以如图10（b）所示那样产生弱的横向电场，在亮像素p2发生稍许的反向倾斜。接着，在N＋1帧中，亮像素p2从灰度等级“th2”迁移到灰度等级“wt”，所以纵向电场变强。于是，如图10（b）所示，在反向倾斜状态缓和而回到预倾角之前，对像素p2施加强的纵向电场，反向倾斜状态进一步恶化。这样，如果对产生了弱的横向电场的亮像素施加强的纵向电场，则尽管是弱的横向电场，在该亮像素也会发生反向倾斜畴。因此，本变形例的影像处理电路30，基于从与应用边界相接的亮像素向该应用边界的相反方向连续的多个亮像素（在此，为4个亮像素）的灰度等级，设定暗像素的校正等级。在此，影像处理电路30，基于多个亮像素中的最大灰度的亮像素，以上述实施方式的方法来确定暗像素的校正等级。

这样一来，如图11（a）所示，在N帧中暗像素的灰度等级变为cbmax，所以如图11（b）所示，在N帧中难以在亮像素p2发生反向倾斜。由此，如图11（a）所示，即使在N＋1帧中像素p2变为灰度等级wt、被施加强的纵向电场，如图11（b）所示，在N＋1帧中也不会在亮像素p2发生反向倾斜畴。

在该变形例中，在影像处理电路30中，判别部3045判别：由Vid-d表示的像素是否是低于判定等级jb的暗像素，该判定等级jb与从相接于由应用边界确定部3044确定的应用边界的暗像素向该应用边界的相反方向连续的m个（在此，m＝4）亮像素相应，在判别结果为“是”的情况下，将输出信号的标志Q输出为“1”。而且，校正部306，将从判别部3045供给的标志Q为“1”时的暗像素的影像信号Vid-d校正成：与从相接于应用边界的暗像素向该应用边界的相反方向连续的m个亮像素相应的校正等级cb的影像信号，输出校正后的影像信号Vid-out。在此，校正部306将其设为M个亮像素中的最大灰度即可。

影像处理电路30的结构与上述的第1实施方式相同。

根据该变形例，能够将由于对发生了弱的横向电场的亮像素施加纵向电场而发生反向倾斜畴的情况，抑制于未然。

第2实施方式

接着，关于本发明的第2实施方式进行说明。

在该实施方式中，影像处理电路30，取代与应用边界相接的暗像素，而校正与应用边界相接的亮像素的影像信号。在该实施方式中，校正部306不校正暗像素的影像信号。在该实施方式中，在与暗像素相邻的亮像素的施加电压高于判定电压“Vjw”（第6电压）的情况下，校正影像信号，以使得该亮像素的施加电压为判定电压“Vjw”以下的校正电压“Vcw”（第5电压）。下面，将规定判定电压“Vjw”的影像信号的灰度等级设为判定等级“jw”，将规定校正电压“Vcw”的影像信号的灰度等级设为判定等级“cw”。

通过校正亮像素，在液晶面板100中，也不会由容易受到横向电场影响的亮像素而发生反向倾斜畴。但是，如上所述，反向倾斜畴的发生容易度，与在像素发生的横向电场的强度相关。即使在亮像素与暗像素相邻的情况下，也是暗像素的灰度等级越高，由亮像素与暗像素间的电位差导致的横向电场越弱，所以在该亮像素难以发生反向倾斜畴。

在此，在本实施方式中，如以下说明地那样，确定判定电压Vjw及校正电压Vcw。

图12是表示与相邻于亮像素的暗像素对应的液晶元件120的施加电压（横轴）、和与该亮像素对应的液晶元件120的校正电压及判定电压（纵轴）的关系的曲线图。在图12中，实线曲线对应于与相邻的暗像素的施加电压相应的亮像素的校正电压，虚线曲线对应于与相邻的暗像素的施加电压相应的亮像素的判定电压。在图12（a）～（c）的各图中，对应于暗像素的施加电压与对应于亮像素的校正电压的关系不同，但都是：对应于暗像素的施加电压越低，对应于亮像素的校正电压就越低。在图12（a）的曲线图中，判定电压Vjw及校正电压Vcw都相对于暗像素的电压减小而线性减小。在暗像素为最大电压Vth1时，判定电压Vjw及校正电压Vcw分别变为最大电压，Vjw＝Vjwmax、Vcw＝Vcwmax。另一方面，在暗像素为最小电压Vbk时，判定电压Vjw及校正电压Vcw分别变为最小电压，Vjw＝Vjwmin、Vcw＝Vcwmin。但是，始终满足校正电压Vcw≤判定电压Vjw这一关系。在图12（b）的曲线图中，在暗像素的施加电压为Vlim2以上且Vth1以下时，判定电压Vjw及校正电压Vcw都相对于暗像素的电压减小而线性减小。但是，在暗像素的施加电压为Vlim2以上时，按Vcw＝Vcwmin而一定。这样设定是为了，通过进行限制以使校正电压Vcw不会变为某一定值以下，抑制由亮像素的校正导致的显示背离的发生。另一方面，即使暗像素的施加电压低于Vlim2，判定电压Vjw仍相对于电压减小而线性减小。在图12（c）的曲线图中，判定电压Vjw及校正电压Vcw都相对于暗像素的电压减小而曲线性地减小（也就是，切线的倾斜度不恒定）。在该例子中，在暗像素为最大电压Vth1时，判定电压Vjw及校正电压Vcw分别变为最大电压，Vjw＝Vjwmax、Vcw＝Vcwmax。另一方面，在暗像素为最小电压Vbk时，判定电压Vjw及校正电压Vcw分别变为最小电压，Vjw＝Vjwmin、Vcw＝Vcwmin。

如上所述，在本实施方式中，对应于暗像素的液晶元件120的施加电压越低，对应于液晶元件120的亮像素的校正电压就越低。只要满足该条件，暗像素的施加电压与亮像素的校正电压的关系，也可以是图12（a）～（c）所示关系以外的关系。

此外，将由电压Vcwmin规定的像素的影像信号的灰度等级设为“cwmin”。另外，将由电压Vcwmax规定的像素的影像信号的灰度等级设为“cwmax”。

关于本实施方式的影像处理电路30的结构，说明与上述第1实施方式不同的内容。

判别部3045判别：由影像信号Vid-d表示的像素是否是与由应用边界确定部3044确定的应用边界相接且高于与相邻的暗像素相应的判定等级jw的亮像素，在判别结果为“是”的情况下，将输出信号的标志Q输出为“1”。另一方面，判别部3045，在判别为不是与应用边界相接的亮像素的情况下、以及关于与应用边界相接的亮像素判别为在与相邻的暗像素相应的判定等级jb以下的情况下，将输出信号的标志Q输出为“0”。

校正部306，将从判别部3045供给的标志Q为“1”时的亮像素的影像信号Vid-d，校正成与相邻的暗像素相应的校正等级cw的影像信号，输出校正后的影像信号Vid-out。此时，校正部306规定校正等级cw，以使成为图12所示那样的暗像素的施加电压与亮像素的校正电压的关系。另一方面，校正部306，在从判别部3045供给的标志Q为“0”时，不校正影像信号，将影像信号Vid-d原样作为影像信号Vid-out输出。

关于影像处理电路30进行的校正处理的具体例进行说明。

由前一帧的影像信号Vid-in所示的图像为例如图7（a）所示那样、且由当前帧的影像信号Vid-in所示的图像为例如图7（b）所示那样的情况下的应用边界，如图8（a）所示那样。

图13（a）是例示了由影像信号Vid-in表示的图像从图7（a）变化成图7（b）那样的情况下的影像信号Vid-out的图。

校正部306，如图13（a）所示，在与从前一帧到当前帧变化了的边界相接的亮像素高于判定等级jw的情况下，将与该应用边界相接的亮像素的影像信号校正成校正等级cw的影像信号。在此，在图7（b）所示的图形中，设为，左半部分的暗像素为灰度等级“bk”，右半部分的暗像素为灰度等级“th1”。该情况下，与灰度等级“bk”的暗像素相邻的亮像素被校正为“cwmin”，与灰度等级“th1”的暗像素相邻的亮像素被校正为“cwmax”。

第2实施方式的变形例

第2实施方式的变形例1

另外，如上述的第1实施方式的变形例1那样，校正部306也可以将从与应用边界相接的亮像素向该应用边界的相反方向连续的2个以上的亮像素（在此，为3个）作为校正对象（参照图13（b））。该情况下，与上述的第1实施方式同样地，在将液晶面板100的显示画面更新的时间间隔设为S（毫秒）、将变为从高于电压Vjw的施加电压（例如，与最大灰度对应的电压Vwt）变换成电压Vcw（例如Vcwmin）时的液晶元件120的取向状态为止的响应时间设为U2（毫秒）的情况下，优选设为，响应时间U2除以时间间隔S所得的值的整数部的值加上1后的值以上的像素数。

在以上说明了的第2实施方式中，影像处理电路30，相应于与校正对象的亮像素相邻的暗像素的施加电压，使与亮像素对应的判定电压及校正电压不同。此时，影像处理电路30使得：对应于暗像素的液晶元件120的施加电压越低，液晶元件120的对应于亮像素的校正电压就越低，在暗像素的施加电压为Vth1时，判定电压Vjb及校正电压Vcb分别变为最大电压，在暗像素的施加电压为Vbk时，判定电压Vjb及校正电压Vcb分别变为最小电压。由此，关于横向电场相对较弱的亮像素，能够减小校正量以抑制由过度的校正导致的显示背离的发生，关于横向电场相对较强的亮像素，能够增大校正量以抑制由反向倾斜畴导致的显示不良的发生。由此，作为显示面101的整体，能够相应于横向电场的强度以必要的校正量来校正各像素的影像信号。

第2实施方式的变形例2

在上述的实施方式中，在相邻的暗像素与亮像素间的电位差比较小、对亮像素升高校正电压的情况下，在下一帧以后，即使这些暗像素与亮像素间的横向电场弱，有时也会发生反向倾斜畴。例如，在图14（a）的N帧所示那样的、多个暗像素与多个亮像素并排的图像行从N帧到N＋1帧在图中向右每次1个像素地移动的情况下，如图14（a）所示地，图像行迁移。此时的液晶105的取向状态示于图14（b）。在此，在灰度等级“bk”的暗像素p1与灰度等级“th1”的暗像素p2相邻、而且灰度等级“wt”的亮像素p3相邻于暗像素p2的情况下，暗像素p1与暗像素p2的电位差小，横向电场弱。但是，如图14（b）所示地，在N帧中，暗像素p2保持未变为与灰度等级“th1”相应的取向状态的状态不变，在N＋1帧中灰度等级变为“wt”。该情况下，像素p1的施加电压变为Vth1，像素p2的施加电压变为Vwt，仅会发生弱的横向电场，但像素p2仍处于接近灰度等级“bk”的预倾角的状态，所以即使是弱的横向电场，有时也会如图14（b）的N＋1帧那样发生反向倾斜畴。因此，本变形例的影像处理电路30，基于从与应用边界相接的暗像素向该应用边界的相反方向连续的多个暗像素（在此，为4个暗像素）的灰度等级，设定校正等级cw。在此，影像处理电路30，基于多个暗像素中的最小灰度的暗像素，按上述的实施方式的方法来确定亮像素的校正等级。

如果这样，则如图15（a）所示，在N帧中亮像素的灰度等级变为cwmin。由此，即使如图15（a）所示、在N＋1帧中像素p2变为灰度等级wt，如图15（b）所示，向使得横向电场变弱的方向校正亮像素的影像信号，所以横向电场变弱，难以发生反向倾斜状态。

在该变形例中，在影像处理电路30中，判别部3045判别：由Vid-d表示的像素是否是高于判定等级jw的亮像素，该判定等级jw与从相接于由应用边界确定部3044确定的应用边界的暗像素向该应用边界的相反方向连续的n个（在此，n＝4）的暗像素相应，在判别结果为“是”的情况下，将输出信号的标志Q输出为“1”。

接着，校正部306，将从判别部3045供给的标志Q为“1”时的亮像素的影像信号Vid-d校正成，与从相接于应用边界的暗像素向该应用边界的相反方向连续的n个暗像素相应的校正等级cw的影像信号，输出校正后的影像信号Vid-out。这里，校正部306将其设为n个暗像素中的最小灰度即可。

这里没有说明的影像处理电路30的结构与上述第2实施方式相同。

根据该变形例，通过对发生了弱的横向电场的亮像素施加纵向电场，能够将发生反向倾斜畴的情况抑制于未然。

第3实施方式

接下来，关于本发明的第3实施方式进行说明。

在该实施方式中，影像处理电路30进行在第1实施方式中说明了的暗像素的校正和在第2实施方式中说明了的亮像素的校正这两方。在下面的说明中，关于与第1及第2实施方式相同的结构标注相同的附图标记进行表示，关于其说明适当省略。

关于本实施方式的影像处理电路30的结构，说明与上述的第1或第2实施方式不同的内容。

判别部3045，在判别了由影像信号Vid-d表示的像素，是与由应用边界确定部3044确定的应用边界相接且低于与相邻的亮像素相应的判定等级jb的暗像素，或者是与应用边界相接且高于与相邻的暗像素相应的判定等级jw的亮像素的情况下，都将输出信号的标志Q输出为“1”。另一方面，判别部3045，在判别出该像素不是与应用边界相接的暗像素及亮像素中的任何一个的情况下、关于与应用边界相接的暗像素判别为在与相邻的亮像素相应的判定等级jb以下的情况下、或者关于与应用边界相接的亮像素判别为在与相邻的暗像素相应的判定等级jw以下的情况下，将输出信号的标志Q输出为“0”。

校正部306，在从判别部3045供给的标志Q为“1”时，将暗像素的影像信号Vid-d校正成与相邻的亮像素对应的校正等级cw的影像信号，输出校正后的影像信号Vid-out，另一方面，将亮像素的影像信号Vid-d校正成与相邻的暗像素对应的校正等级cb的影像信号，输出校正后的影像信号Vid-out。另一方面，校正部306，在从判别部3045供给的标志Q为“0”时，不校正影像信号，将影像信号Vid-d原样作为影像信号Vid-out输出。

关于影像处理电路30进行的校正处理的具体例子进行说明。

前一帧的影像信号Vid-in所示的图像如例如图7（a）所示那样、且当前帧的影像信号Vid-in所示的图像如例如图7（b）所示那样的情况下的应用边界，如图8（a）所示那样。

图16（a）是例示了由影像信号Vid-in表示的图像从图7（a）变化成图7（b）那样的情况下的影像信号Vid-out的图。

校正部306，如图16（a）所示，在与从前一帧到当前帧变化了的边界相接的亮像素高于判定等级jw的情况下，将与该应用边界相接的亮像素的影像信号校正成校正等级cw的影像信号，在与该边界相接的暗像素低于判定等级jb的情况下，将与该应用边界相接的暗像素的影像信号校正成校正等级cb的影像信号。在此，在图7（b）所示的图形中，设为，左半部分的暗像素为灰度等级“bk”、右半部分的暗像素为灰度等级“th1”，且左半部分的亮像素为灰度等级“th2”，右半部分的亮像素为灰度等级“wt”。在该情况下，与灰度等级“th2”的亮像素相邻的暗像素被校正成“cbmin”，与灰度等级“wt”的亮像素相邻的暗像素被校正成“cbmax”。该情况下，与灰度等级“bk”的暗像素相邻的亮像素被校正成“cwmin”，与灰度等级“th1”的暗像素相邻的亮像素被校正成“cwmax”。

在以上说明了的第3实施方式中，影像处理电路30，将暗像素及亮像素这两方作为校正对象，所以与上述的第1及第2实施方式相比，能够一边抑制平均每1个像素的影像信号的变化，一边抑制由反向倾斜畴导致的显示不良的发生。除此以外，根据上述的第3实施方式，还起到与上述的第1及第2实施方式同等的效果。

另外，在该第3实施方式中，影像处理电路30，也可以基于从与应用边界相接的亮像素向该应用边界的相反方向连续的多个亮像素（在此，为4个亮像素）的灰度等级，设定暗像素的校正等级，基于从与应用边界相接的亮像素向该应用边界的相反方向连续的多个亮像素（在此，为4个亮像素）的灰度等级，设定校正等级。该情况下的影像处理电路30的工作，如在上述的第1实施方式的变形例2及第2实施方式的变形例2中说明了的那样。另外，影像处理电路30也可以：将从与应用边界相接的亮像素向该应用边界的相反方向连续的2个以上的亮像素（在此为3个）作为校正对象，将从与应用边界相接的暗像素向该应用边界的相反方向连续的2个以上的暗像素（在此，为3个）作为校正对象（参照图16（b））。

第4实施方式

接下来，关于本发明的第4实施方式进行说明。在以下的实施方式中，像上述第3实施方式那样将亮像素及暗像素这两方作为校正对象，但是也可以仅将亮像素作为校正对象，也可以仅将暗像素作为校正对象。

在该实施方式中，影像处理电路30，在考虑液晶分子的倾斜方位角及倾斜角而进一步精简校正对象像素这一点上，与上述的第1实施方式不同。首先，关于考虑液晶分子的倾斜方位角及倾斜角的根据进行说明。

如上所述，在变化前液晶分子处于不稳定的状态的像素，由于因图像的变动使得暗像素与亮像素相邻时的横向电场的影响，会处于反向倾斜畴容易发生的状况。但是，如果考虑液晶分子的初始取向状态进行研究，则由于暗像素与亮像素的位置关系，有时发生反向倾斜畴，有时不发生。

图17（a）是表示液晶面板100中相互在纵向以及横向上相邻的2×2的像素的图，图17（b）是用包括图17（a）的p-q线的垂直面剖切了液晶面板100时的简易剖视图。

如图17所示，VA方式的液晶分子，在像素电极118与共用电极108的电位差（液晶元件的施加电压）为零的状态下，设为倾斜角为θa、倾斜方位角为θb（＝45度），进行初始取向。在此，如上所述由像素电极118彼此的横向电场导致发生反向倾斜畴，所以设置有像素电极118的元件基板100a侧的液晶分子的举动成为问题。因此，关于液晶分子的倾斜方位角以及倾斜角，以像素电极118（元件基板100a）侧为基准来规定。

详细而言，所谓倾斜角θa，设为如图17（b）所示：以基板法线Sv为基准，以液晶分子的长轴Sa中的像素电极118侧的一端为固定点而共用电极108侧的另一端倾斜时，液晶分子的长轴Sa所成的角度。

另一方面，所谓倾斜方位角θb，设为：以沿着数据线114的排列方向即Y方向的基板垂直面为基准、包括液晶分子的长轴Sa以及基板法线Sv的基板垂直面（包括p-q线的垂直面）所成的角度。此外，关于倾斜方位角θb，在从像素电极118侧向共用电极108俯视观察时，设为：从画面中的上方向（Y方向的相反方向）到以液晶分子的长轴的一端为起点而朝向另一端的方向（图17（a）中为右上方）为止，按顺时针规定的角度。

另外，同样地在从像素电极118侧俯视观察时，将液晶分子中的从像素电极侧的一端朝向另一端的方向简称为倾斜方位的下游侧，相反地将从另一端朝向一端的方向（图17（a）中为左下方）简称为倾斜方位的上游侧。

如日本特开2011-107174号公报也公开地那样，VA方式（常黑模式）的液晶中，在如图17（a）所示地倾斜方位角θb为45度的情况下，在自身像素以及周边像素中仅自身像素从液晶分子不稳定的状态变化成亮像素时，在该自身像素中反向倾斜如图17（c）所示，在沿着左边以及下边的内周区域发生。因此，在着眼于某n帧时，在满足下面这样的要件的情况下，会在n帧中在下一像素受到反向倾斜畴的影响。

即，（1）在着眼于n帧时暗像素与亮像素相邻，即，施加电压低的状态的像素与施加电压高的状态的像素相邻，横向电场变强的情况，且，

（2）在n帧中，该亮像素（施加电压高）相对于相邻的暗像素（施加电压低），位于与液晶分子中的倾斜方位的上游侧相当的左下侧、左侧或下侧的情况下，

（3）在n帧中变化成该亮像素的像素，在前1帧的（n-1）帧中，液晶分子处于不稳定的状态时，

在n帧中，在该亮像素发生反向倾斜。

已经说明了理由，可以认为：在（2）中，在表示暗像素与亮像素相邻的部分的边界从前一帧按1个像素移动时，更加容易受到反向倾斜畴的影响。

基于这样的考虑处理当前帧的影像信号Vid-in，用于预先防止在液晶面板100发生反向倾斜畴的电路，为图18中的影像处理电路30。

接下来，关于影像处理电路30的详细情况，参照图18来说明。如图18所示，影像处理电路30具有延迟电路302、边界检测部304a、校正部306及D/A转换器308。其中，延迟电路302及D/A转换器308，实现与上述的第1实施方式的结构同等的功能。

边界检测部304a，除了第1实施方式的边界检测部304的结构外，具备风险边界检测部3046，并且具有判别部3045a以取代判别部3045。风险边界检测部3046，解析由当前帧的影像信号Vid-in表示的图像，判别是否存在处于灰度范围a的暗像素与处于灰度范围b的亮像素在垂直方向或水平方向上相邻的部分。而且，风险边界检测部3046，在判别为有相邻的部分时，将该相邻部分作为边界检测，输出边界的位置信息。这样，风险边界检测部3046检测暗像素与亮像素的边界的一部分的且由液晶105的倾斜方位确定的风险边界（第1边界检测部）。

判别部3045a，根据由延迟输出的影像信号Vid-d表示的像素中的、与由风险边界检测部3046检测出的风险边界且由应用边界确定部3044确定的应用边界的边界相接的像素，来特定校正对象的像素。即，判别部3045a取代应用边界而基于为风险边界且为应用边界的边界，来特定校正对象像素，除此之外，判别部3045a与上述的第3实施方式同样地工作。

校正部306，与上述的第3实施方式同样，按照从判别部3045a供给的标志Q工作。

关于影像处理电路30进行的校正处理的具体例子进行说明。

在此，在由前一帧的影像信号Vid-in所示的图像是如例如图7（a）所示那样、由当前帧的影像信号Vid-in所示的图像是如例如图7（b）所示那样的情况下，如前所述，应用边界确定部3044确定的应用边界，如图8（a）所示那样。另一方面，风险边界检测部3046根据当前帧的影像信号Vid-in检测的风险边界，在倾斜方位角为θb＝45度的情况下，如图19（a）所示那样。因此，在倾斜方位角为θb＝45度的情况下，在当前帧的影像信号Vid-in中，为风险边界且为应用边界的边界，如图19（b）所示那样。

校正部306，将与为风险边界且为应用边界的边界相接的暗像素及亮像素作为校正对象像素，如图20所示，校正校正对象的像素的影像信号。根据图20可知，影像处理电路30，根据与为风险边界且为应用边界的边界相接的暗像素及亮像素来确定校正对象像素，所以与像上述的第3实施方式那样不考虑风险边界就确定校正对象像素的情况相比，校正对象像素减少。

另外，如上述的第1实施方式的变形例1和/或第2实施方式的变形例1那样，校正部306可以将从与应用边界相接的暗像素向该应用边界的相反方向连续的2个以上的暗像素（在此，为3个）设为校正对象，也可以将从与应用边界相接的亮像素向该应用边界的相反方向连续的2个以上的亮像素（在此，为3个）设为校正对象（参照图25（a））。

在以上说明了的第4实施方式中，影像处理电路30，将与为风险边界且为应用边界的边界相接的像素设为校正对象，所以与上述的第3实施方式相比，能够一边精简反向倾斜畴容易发生的像素以减少校正像素数，一边抑制由反向倾斜畴导致的显示不良的发生。除此以外，根据上述的第4实施方式，还起到与上述的第3实施方式同等的效果。

第4实施方式的变形例

第4实施方式的变形例1

在上述的第4实施方式中，以VA方式中倾斜方位角θb为45度的情况为例进行了说明，但是如在日本特开2011－107174号公报中也公开了的那样，即使倾斜方位角θb为其他角度，与第1实施方式相比也能够减少校正像素。关于倾斜方位角θb为225度的例子进行说明。

首先，如图21（a）所示，自身像素以及周边像素中仅自身像素从液晶分子不稳定的状态变化成了亮像素时，在该自身像素中反向倾斜如图21（b）所示，在沿着左边以及下边的内周区域发生。此外，就该例子而言，与使图17所示的倾斜方位角θb为45度的情况下的例子旋转180度后的情况等效。

在倾斜方位角θb为225度的情况下，将在倾斜方位角θb为45度的情况下发生反向倾斜畴的要件（1）～（3）中的要件（2）如下修正。即，修正成：

（2）在n帧中，该亮像素（施加电压高）相对于相邻的暗像素（施加电压低），位于与液晶分子中的倾斜方位的上游侧相当的右上侧、右侧或上侧的情况。此外，关于要件（1）及要件（3）不变更。

因此，如果倾斜方位角θb为225度，则只要在n帧中暗像素与亮像素相邻且该暗像素相对于该亮像素相反地位于左下侧、左侧或下侧的情况下，对与该暗像素相当的液晶元件实施使得液晶分子不会变为不稳定状态的措施即可。

为此，影像处理电路30中的校正部306，基于从前一帧到当前帧变化了的边界中的、暗像素位于下侧且亮像素位于上侧的部分与暗像素位于左侧且亮像素位于右侧的部分的风险边界，来校正影像信号，即可。

因此，在倾斜方位角θb为225度的情况下，从图7（a）变化成图7（b）那样的图像，如图23（a）所示，被检测风险边界。然后，根据与为风险边界且为应用边界的边界相接的暗像素来确定校正对象像素，校正成图24（a）所示的图像。

第4实施方式的变形例2

接下来，关于如图22（a）所示那样倾斜方位角θb为90度的例子进行说明。该例子中，在自身像素以及周边像素中仅自身像素从液晶分子不稳定的状态变化成了亮像素时，在该自身像素中反向倾斜如图22（b）所示，在沿着右边的区域集中发生。因此，也有如下观点：在该自身像素中反向倾斜畴，按在右边发生的宽度的量，也在上边的靠右边处以及下边的靠右边处发生。

因此，在倾斜方位角θb为90度的情况下，将在倾斜方位角θb为45度的情况下反向倾斜畴发生的要件（1）～（3）中的要件（2），如下这样修正。即，修正成：

（2）在n帧中，该亮像素（施加电压高），相对于相邻的暗像素（施加电压低），不仅位于与液晶分子中的倾斜方位的上游侧相当的左侧，而且位于受到在该左侧发生的区域的影响的上侧或下侧的情况。此外，关于要件（1）及要件（3）不变更。

因此，如果倾斜方位角θb为90度，则只要在n帧中暗像素与亮像素相邻且该暗像素相对于该亮像素相反地位于右侧、下侧或上侧的情况下，对与该暗像素相当的液晶元件，实施使得液晶分子不会变成不稳定状态的措施，即可。

为此，影像处理电路30中的校正部306，基于从前一帧到当前帧变化了的边界中的暗像素位于右侧且亮像素位于左侧的部分、暗像素位于上侧且亮像素位于下侧的部分与暗像素位于下侧且亮像素位于上侧的部分的风险边界，来校正影像信号，即可。

因此，在倾斜方位角θb为90度的情况下，从图7（a）变化成图7（b）那样的图像，如图23（b）所示那样被检测风险边界。然后，根据与为风险边界且为应用边界的边界相接的暗像素来确定校正对象像素，校正成图24（b）所示的图像。

另外，校正部306，既可以将从与应用边界相接的暗像素向该应用边界的相反方向连续的2个以上的暗像素（在此，为3个）作为校正对象，也可以将从与应用边界相接的亮像素向该应用边界的相反方向连续的2个以上的亮像素（在此，为3个）作为校正对象。图25（b）是例示了倾斜方位角θb为225度的情况的图，图25（c）是例示了倾斜方位角θb为90度的情况的图。

第5实施方式

接下来，关于本发明的第5实施方式进行说明。

在下面的说明中，关于与第3实施方式相同的结构，标注同一附图标记进行表示，关于其说明适当省略。

本实施方式的影像处理电路30，检测当前帧中暗像素与亮像素相邻的边界，将与该检测出的边界中的从前一帧到当前帧按1个像素移动了的边界相接的暗像素作为校正对象像素，不将其以外的像素作为校正对象像素。像在上述的第1实施方式中利用图35已经说明了的那样，在以亮像素为背景的暗像素的区域按每帧每次2个像素以上地移动时，这样的拖尾现象不显著（或者，难以被观看到）。因此，如果影像处理电路30以这样的按1个像素移动了的边界的相邻像素为校正对象像素的要件，则校正对象像素数进一步减少。

因此，在该实施方式中，应用边界确定部3044，根据当前帧边界检测部3041及前一帧边界检测部3042的边界的检测结果，仅将按1个像素移动了的边界确定为应用边界，不将没有从前一帧移动的边界及移动了2个像素以上的风险边界确定为应用边界。影像处理电路30的其他各部分实现的功能，与上述的第3实施方式相同。

图26为说明本实施方式的校正处理的图。

如图26所示，从图26（a）所示的图像变化成图26（b）所示的图像，即使是从前一帧到当前帧如图示那样变化了的边界，如图26（c）所示，也只有与满足1pixel/1flame的移动条件的边界相接的暗像素成为校正对象，例如在边界移动了2个像素的量的情况下，即使是与边界相接的暗像素也不会成为校正对象。

由此，校正部306，能够进一步精简至反向倾斜畴更加容易发生的部位进行校正。

第5实施方式的变形例

在上述的第5实施方式中，校正部306，在与从前一帧到当前帧按1个像素移动了的边界相接的暗像素以及亮像素在前一帧中都是亮像素的情况下，也可以不校正与该暗像素对应的影像信号。所谓在前一帧中为亮像素，可以说是即使在当前帧中为暗像素、但在当前帧中也未达到静态透射率。可以认为这样的暗像素在当前帧中不会变成反向倾斜状态，所以影像处理电路30，通过将其从校正对象像素中去除，能够进一步抑制显示背离的发生。

第6实施方式

接下来，说明本发明的第6实施方式。

在校正对象像素增多了的情况下，由校正对象像素导致的显示背离可能会显眼。因此，在本实施方式中，考虑图像的变动，如下这样确定校正对象的像素。

在从图27到图29中，（a）是说明1行的图像的像素的从N帧到N＋5帧的图像的变动的情况的图，（b）是说明（a）中从右起位于第2个的像素P的透射率的时间序列变化的曲线图。

考虑如图27（a）所示那样的、图像的移动方向（图中为右方）上的暗像素的连续数少的显示图形（在此，为以白像素为背景的连续2个像素的暗像素的图形）按1pixel/frame（平均1帧移动1个像素）移动的情况。在该情况下，如果着眼于像素P，则在第N＋2及N＋3帧中被施加属于灰度范围a的电压Va，在其前后的帧中被施加属于灰度范围b的电压Vb。假如忽略液晶的响应速度，则在第N＋2及N＋3帧中，像素P应该达到图27（b）中示为“Va的静态透射率”的透射率。但是，实际上，如图27（b）所示，第N＋3帧结束的时刻的透射率高于施加了电压Va时的静态透射率。这是因为，相对于液晶元件的响应速度而言，电压Va的施加期间较短。此时，为液晶的倾斜角大于预倾角的状态，所以即使对该暗像素施加了强的横向电场，反向倾斜畴也难以发生。根据这样的观点，在本实施方式中从用于使反向倾斜畴减少的校正对象像素中去除这样的暗像素。

另外，如图28（a）所示，在这样的暗像素的施加电压校正成了校正电压Vcb的情况下，与从电压Vb向电压Va的响应相比，从电压Vb向校正电压Vcb的响应较慢，所以如图28（b）所示，在第N＋2及N＋3帧中，与不校正的情况相比，校正对象像素的透射率变高。其结果，背景的白像素与暗像素的图形的灰度差变小，图像的对比度比（动态图像对比度）比原来的图像低。

由于以上的理由，可以说，关于即使与亮像素相接、但电压Va的施加期间在达到施加电压Va时的静态透射率之前结束了的暗像素，优选，不进行用于使反向倾斜畴减少的校正。在此，将液晶面板100的显示画面更新的时间间隔设为S（毫秒），将从高于阈值Vth2的施加电压变换到低于Vth1的施加电压时的液晶元件120的响应时间设为T（毫秒）。在该情况下，如果设响应时间T为2.5×S，如果电压Va的施加期间为2S，则如图27所示，液晶元件120没有达到静态透射率。另一方面，如果电压Va的施加期间持续3S以上，则如图29的第N＋4帧所示，液晶元件120达到静态透射率。因此，为了抑制显示不良容易显眼的、图像按1pixel/frame变动了时的显示不良，在被施加电压Va的暗像素连续3个像素以上地持续的情况下，需要进行用于使反向倾斜畴减少的校正。另一方面，在被施加电压Va的暗像素连续2个像素以下的情况下，不需要进行用于使反向倾斜畴减少的校正。一般而言，如果将应该成为校正对象的暗像素的连续数设为R（R为2以上的整数），则在连续数R为响应时间T除以时间间隔S所得的值的整数部分的值加上1所得的值以上的情况下，需要进行这些暗像素的校正。

此外，关于响应时间T，例如，只要事前研究以下时间即可：被施加了表示亮像素的最大灰度的电压Vwt时的静态透射率的液晶元件，达到被施加低于阈值Vth1的电压（例如表示最小灰度的电压Vbk）时的静态透射率为止的时间。

图30是说明响应时间T为2.5×S的情况下的影像处理电路30的校正处理的概要的图。

在图30（a）所示那样的1行的图像存在的情况下，如图30（b）所示，构成这1行图像的像素被校正。具体而言，在从两侧被亮像素夹着的暗像素连续并排5个的情况下，暗像素的连续数R（=5）为响应时间T除以时间间隔S所得的值的整数部分的值加上1所得的值（也就是3）以上，所以这些暗像素中与亮像素相邻的2个暗像素为校正对象，被校正成灰度等级cb的影像信号。另一方面，在从两侧被亮像素夹着的暗像素连续并排2个的情况下，暗像素的连续数R（=2）低于响应时间T除以时间间隔S所得的值的整数部分的值加上1所得的值（也就是3），所以这些暗像素没有成为校正对象。

根据以上说明了的第6实施方式，关于即使与应用边界相接、但在图像按1pixel/frame移动了时由于液晶元件的响应速度与液晶面板100的更新间隔的关系而没有达到静态透射率的暗像素，影像处理电路30将其从校正对象像素中去除。由此，影像处理电路30，能够精简至在动态图像中反向倾斜畴容易发生的暗像素而将其作为校正对象像素，能够抑制由用于使反向倾斜畴减少的影像信号的校正导致的、动态图像对比度低下这一显示背离的发生。

第7实施方式

接下来，说明本发明的第7实施方式。

上述的各实施方式中，关于校正对象像素，在1帧整个期间校正成同一灰度的影像信号，但也可以校正影像信号以使其在1帧期间的一部分期间与其他期间校正等级不同。以下，关于影像处理电路30实现4倍速驱动的情况进行说明。

如图31（a）所示，表示灰度等级为th1的多个暗像素与灰度等级为th2的多个亮像素排列的图像行的影像信号Vid-in，按60Hz的供给速度被供给，通过该影像信号Vid-in，指定随着第1帧、第2帧、第3帧的推进，图像在图中从左向右每次1个像素地滚动移动的图像的显示。该情况下，在影像信号Vid-out原样被输出了时，在由第1～第4场构成的1帧期间的整体（也就是，在16.67毫秒）中，风险边界存在于同一部位。如果风险边界长时间存在于同一位置，则如上所述液晶分子的取向不良状态容易稳定，在其相邻的像素中成为反向倾斜畴容易发生的状态。

因此，影像处理电路30使用图32所示那样的校正等级进行校正处理。

校正部306，在判别部3045的输出信号的标志Q为“1”的情况下，如图32（a）所示，在1帧中的第1、第3场中，校正成提高暗像素的灰度等级的方向的灰度等级cb1，在1帧中的第2、第4场中，校正成降低暗像素的灰度等级的方向的灰度等级cb2。另外，与暗像素相邻的亮像素的灰度等级越高，校正部306使得灰度等级cb1越高，亮像素的灰度等级越低，校正部306使得灰度等级cb2越低。在此，与暗像素相邻的亮像素的灰度等级越高，校正部306使得灰度等级cb1越高的理由，与上述的各实施方式相同。另一方面，与暗像素相邻的亮像素的灰度等级越高，校正部306使得灰度等级cb2越低的理由，是为了抑制1帧期间中的透射率的积分值（积分透射率）的变化。通过这样，能够抑制由影像信号的校正导致的透射率变化被使用者感知的情况。

另外，校正部306，在判别部3045的输出信号的标志Q为“1”的情况下，如图32（b）所示，在1帧期间中的第1、第3场中，校正成提高亮像素的灰度等级的方向的灰度等级cw1，在1帧期间中的第2、第4场中，校正成降低亮像素的灰度等级的方向的灰度等级cw2。另外，与亮像素相邻的暗像素的灰度等级越高，校正部306使得灰度等级cw1越高、使得灰度等级cw2越低。在此，与暗像素相邻的亮像素的灰度等级越高，校正部306使得灰度等级cw1越高的理由，与上述的各实施方式相同。另一方面，与亮像素相邻的暗像素的灰度等级越高，校正部306使得灰度等级cw2越低的理由，是为了抑制1帧期间中的透射率的积分值（积分透射率）的变化。通过这样，能够抑制由影像信号的校正导致的透射率变化被使用者感知的情况。

此外，本实施方式中，在第1、第3场中，暗像素被校正为灰度等级升高，在第2、第4场中，暗像素被校正成灰度等级降低。在第1、第3场中，亮像素被校正成灰度等级升高，在第2、第4场中，亮像素被校正成灰度等级降低。这是为了避免灰度等级高的亮像素与灰度等级低的暗像素相邻、横向电场暂时变强的情况，而采取的。但是，只要在1帧期间整体风险边界不存在于同一部位，即使存在灰度等级高的亮像素与灰度等级低的暗像素相邻的情况，也可以。

另外，本实施方式的影像处理电路30，不限于4倍速驱动，也能够在采用例如2倍速和/或8倍速驱动等倍速驱动的液晶显示装置中应用。另外，本实施方式的影像处理电路30，也可以不应用在采用倍速驱动的液晶显示装置中。例如，影像处理电路，只要将与1分隔符的量的影像信号Vid-in对应的显示期间（例如多个帧期间）中的至少一部分作为校正期间（例如1帧期间）进行上述的校正处理，即可。

变形例

变形例1

上述的各实施方式中，影像处理电路30，使校正等级及判别等级这两方可变，但也可以使判别等级固定。

变形例2

上述的各实施方式中，影像处理电路30，按照图6、12所示的关系设定了校正等级，但是也可以按下面的方法设定校正等级。例如，校正部306在校正暗像素的情况下，对校正等级的最大值cbmax与校正前的暗像素的灰度等级a的差值乘上系数k，再加上校正前的暗像素的灰度等级a，来设为校正等级cb。该情况下的系数k，满足例如图33所示的关系。也就是，与暗像素相邻的亮像素的灰度等级越高，系数k从初始值k0线性增加得越多，在亮像素的灰度等级为“wt”时变为k＝1。同样地，影像处理电路30，在校正亮像素的情况下，也可以对校正等级的最小值cwmin与校正前的亮像素的灰度等级b的差值乘上系数k，再将其从校正前的亮像素的灰度等级b中减去，将剩余值作为校正等级cw。该情况下的系数k也只要满足图33所示的关系即可。该情况下的系数k，例如满足图33所示的关系，与亮像素相邻的暗像素的灰度等级越低，系数k从初始值k0线性增加得越多，在暗像素的灰度等级为“bk”时变成k＝1。

变形例3

上述的各实施方式中，影像处理电路30，检测从前一帧到当前帧变化的边界，通过与检测出的边界相接的暗像素确定了校正对象的像素。影像处理电路30，即使不具备与前一帧边界检测部3042、保存部3043及应用边界确定部3044相当的结构，也能够特定本发明。即使是这样的影像处理电路30的结构，也能够与横向电场的强度相应地按校正量校正影像信号。

变形例4

上述的各实施方式中，关于液晶105使用VA方式的例子进行了说明，但也可以为TN方式。其理由如在日本特开2011－107174号公报中也公开了的那样。

变形例5

在校正部306校正暗像素的影像信号的情况下，也可以校正成与显示区域101的图像亮度相应的灰度等级的影像信号。例如，校正部306，获取成为显示区域101的亮度的指标的信息，根据获取到的信息确定的亮度的等级越高（也就是，越亮），校正后的影像信号的灰度等级越高。这样是因为，显示区域101越亮，校正导致的灰度等级的变化越难以显眼，即使为了使反向倾斜畴的减少优先而提高校正后的灰度等级，使用者也难以感知显示背离。作为成为显示区域101的亮度的指标的信息，有显示区域101周边的影像显示环境的亮度（例如照度）。该情况下，校正部306获取在液晶显示装置1设置的光传感器的检测结果，校正部306确定校正后的灰度等级即可。除此以外，校正部306，也可以获取输入影像信号的灰度等级作为成为亮度的指标的信息（例如，1帧的输入影像信号的灰度等级的平均值）。因为显示越高的灰度等级的影像信号的图像的情况下，显示区域101也变得越亮。另外，校正部306也可以获取模式信息，该模式信息指定规定显示区域101所显示的图像的亮度或对比度比的多个影像显示模式中的任一个。校正部306使用与按影像显示模式确定的辉度或对比度比相应的校正量。该情况下，校正部306，在按所谓动态模式＞通常模式＞节能模式的顺序提高灰度等级的情况下，校正成与显示模式相应的灰度等级的影像信号即可。

另外，校正部306，也可以获取检测液晶显示装置1的周边温度和/或装置内温度的温度传感器的检测结果，与该检测结果表示的温度相应地确定校正后的影像信号的灰度等级。一般来说，温度越高，液晶元件的透射率越容易变高，所以校正部306只要以使透射率的温度相关性减小的方式将其校正成与温度相应的灰度等级的影像信号，即可。

另外，关于校正后的影像信号（液晶元件120的施加电压）的确定方式，校正部306除了使用运算式计算的结构外，还可以是参照查找表的结构。

变形例6

上述的各实施方式中，影像信号Vid-in指定像素的灰度等级，但是也可以直接指定液晶元件的施加电压。只要在影像信号Vid-in指定液晶元件的施加电压的情况下，根据所指定的施加电压判别边界而校正电压，即可。

另外，在各实施方式中，液晶元件120不限于透射型，也可以是反射型。

电子设备

接下来，作为使用上述的各实施方式涉及的液晶显示装置的电子设备的一例，说明将液晶面板100用作光阀的投影型显示装置（投影机）。图34是表示该投影机的结构的俯视图。

如该图所示，在投影机2100内部，设置有包括卤素灯等白色光源的灯单元2102。从该灯单元2102出射的投影光，由在内部配置的3个镜体2106及2个分色镜2108分离成R（红）色、G（绿）色、B（蓝）色这3原色，分别被导入与各原色对应的光阀100R、100G及100B。此外，B色的光，与其他的R色和G色相比较，光路较长，所以为了防止其损失，经由包括入射透镜2122、中继透镜2123及出射透镜2124的中继透镜系统2121被引导。

在该投影机2100中，包括液晶面板100的液晶显示装置，分别与R色、G色、B色对应设有3组。光阀100R、100G及100B的结构，与上述的液晶面板100相同。为了指定R色、G色、B色的各原色分量的灰度等级，从外部上级电路分别供给影像信号，以分别驱动光阀100R、100G及100。

由光阀100R、100G、100B分别调制了的光，从3个方向入射于分色棱镜2112。接着，在该分色棱镜2112中，R色及B色的光按90度折射，另一方面，G色的光直行。因此，在各原色的图像合成了后，在屏幕2120上通过投影透镜2114投影彩色图像。

此外，通过分色镜2108，与R色、G色、B色的各色对应的光入射于光阀100R、100G及100B，所以不需要设置滤色器。另外，光阀100R、100B的透射像，由分色棱镜2112反射后被投影，相对于此，光阀100G的透射像原样被投影，所以光阀100R、100B的水平扫描方向与光阀100G的水平扫描方向反向，显示左右颠倒了的像。

作为电子设备，除参照图35说明了的投影机外，还可以举出电视机和/或、取景器型·监视直视型的磁带录像机、车辆导航装置、寻呼机、电子记事本、电子计算器、文字处理器、工作站、电视电话机、POS终端、数字照相机、便携电话机、具备接触面板的设备等。而且，当然可以对这些各种电子设备应用上述液晶显示装置。

Claims (18)

1.一种信号处理装置，其特征在于，

用于具备多个像素的液晶装置中，

所述信号处理装置具备：

检测部，其基于控制对所述多个像素的各个施加的电压的信号，检测第1像素与第2像素的边界，该第1像素与施加比第1基准电压低的第1电压的第1信号对应，该第2像素与施加比第2基准电压高的第2电压的第2信号对应；和

校正部，其在所述第1电压比低于所述第1基准电压的第3基准电压低的情况下，将与所述第1像素对应的所述第1信号校正成第3信号，该第3信号施加比所述第1电压高且比所述第2电压低的第3电压，

所述第2基准电压比所述第1基准电压高，

所述第3电压，在所述第2电压低时和所述第2电压高时，电压不同。

2.根据权利要求1所述的信号处理装置，其特征在于，

所述第3电压，在所述第2电压高时比在所述第2电压低时高。

3.根据权利要求1所述的信号处理装置，其特征在于，

所述第3基准电压，在所述第2电压高时比在所述第2电压低时高。

4.根据权利要求1所述的信号处理装置，其特征在于，

所述校正部，与校正所述第1像素同样地校正与相邻于所述第1像素的第3像素对应的信号，

所述第1像素配置在所述第3像素与所述第2像素之间。

5.根据权利要求1所述的信号处理装置，其特征在于，

所述校正部，将与所述第2像素对应的所述第2信号，校正成施加比所述第2电压低且比所述第3电压高的第4电压的第4信号，

所述第4电压，在所述第1电压高时比在所述第1电压低时高。

6.根据权利要求5所述的信号处理装置，其特征在于，

在所述第2电压比高于所述第2基准电压的第4基准电压高的情况下，将与所述第2像素对应的所述第2电压校正成所述第4电压。

7.根据权利要求1所述的信号处理装置，其特征在于，

所述校正部，与校正所述第2像素同样地校正与相邻于所述第2像素的第4像素对应的信号，

所述第2像素配置在所述第1像素与所述第4像素之间。

8.一种液晶装置，其特征在于，

具备权利要求1所述的信号处理装置。

9.一种电子设备，其特征在于，

具备权利要求8所述的液晶装置。

10.一种信号处理装置，其特征在于，

用于具备多个像素的液晶装置中，

所述信号处理装置具备：

检测部，其基于控制对所述多个像素的各个施加的电压的信号，检测第1像素与第2像素的边界，该第1像素与施加比第1基准电压低的第1电压的第1信号对应，该第2像素与施加比第2基准电压高的第2电压的第2信号对应；和

校正部，其在所述第1电压比低于所述第1基准电压的第3基准电压低的情况下，将与所述第1像素对应的所述第1信号校正成第3信号，该第3信号施加比所述第1电压高且比与所述第2像素对应的所述第2电压低的第3电压，

所述第2基准电压比所述第1基准电压高，

所述第3电压，在所述第1电压与第2电压的差值大时比在所述差值小时高。

11.根据权利要求10所述的信号处理装置，其特征在于，

所述校正部，还将与所述第2像素对应的所述第2信号校正成第4信号，该第4信号施加比所述第2电压低且比与所述第1像素对应的所述第1电压高的第4电压，

所述第4电压，在所述第1电压与第2电压的差值大时比在所述差值小时低。

12.一种液晶装置，其特征在于，

具备权利要求10所述的信号处理装置。

13.一种电子设备，其特征在于，

具备权利要求12所述的液晶装置。

14.一种信号处理装置，其特征在于，

用于具备多个像素的液晶装置中，

所述信号处理装置具备：

检测部，其基于控制对所述多个像素的各个施加的电压的信号，检测第1信号和第2信号，该第1信号与第1像素对应，施加比第1基准电压低的第1电压，该第2信号与相邻于所述第1像素的第2像素对应，施加比第2基准电压高的第2电压；和

校正部，其在所述第1电压比低于所述第1基准电压的第3基准电压低的情况下，将与所述第1像素对应的第1信号校正成第3信号，该第3信号施加比所述第1电压高且比与所述第2像素对应的所述第2电压低的第3电压，

所述第2基准电压比所述第1基准电压高，

所述第3电压，在所述第2电压高时比在所述第2电压低时高。

15.一种液晶装置，其特征在于，

具备权利要求14所述的信号处理装置。

16.一种电子设备，其特征在于，

具备权利要求15所述的液晶装置。

17.一种信号处理方法，其特征在于，

处理要在具备多个像素的液晶装置中显示的信号，

该信号处理方法包括：

检测步骤，其中，基于控制对所述多个像素的各个施加的电压的信号，检测第1像素与第2像素的边界，该第1像素与施加比第1基准电压低的第1电压的第1信号对应，该第2像素与施加比第2基准电压高的第2电压的第2信号对应；和

校正步骤，其中，在所述第1电压比低于所述第1基准电压的第3基准电压低的情况下，将与所述第1像素对应的所述第1信号校正成第3信号，该第3信号施加比所述第1电压高且比与所述第2像素对应的所述第2电压低的第3电压，

所述第2基准电压比所述第1基准电压高，

所述第3电压，在所述第2电压高时比在所述第2电压低时高。

18.一种信号处理装置，其特征在于，

用于具备多个像素的液晶装置中，

所述信号处理装置具备：

检测部，其基于控制对所述多个像素的各个施加的电压的信号，检测第1像素与第2像素的边界，该第1像素与施加比第1基准电压低的第1电压的第1信号对应，该第2像素与施加比第2基准电压高的第2电压的第2信号对应；和

校正部，其在所述第1电压比低于所述第1基准电压的第3基准电压低的情况下，将与所述第1像素对应的所述第1信号校正成第3信号，该第3信号施加比所述第1电压高且比与所述第2像素对应的所述第2电压低的第3电压，

所述第2基准电压比所述第1基准电压高，

所述第3电压为与所述第2电压相应的电压。