CN103247667A - Oled面板及其制作方法与封装效果的检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种OLED面板及其制作方法与封装效果检测方法，所述OLED面板包括：基板（20）、与基板（20）相对设置的盖板（40）、设于基板（20）上的OLED元件（22）、设于盖板（40）上的湿敏膜（42）及将基板（20）与盖板（40）粘接在一起的密封胶框（60），该基板（20）、盖板（40）、及密封胶框（60）之间形成一密封空间（246），该OLED元件（22）、湿敏膜（42）均密封于该密封空间（246）内，该湿敏膜（42）与盖板（40）之间设有数根测试引线（44），每根测试引线（44）的一端电性连接湿敏膜（42），另一端由密封胶框（60）延伸于密封空间（246）外，用于电性连接测量装置。
Description
技术领域
本发明涉及平面显示领域，尤其涉及一种OLED面板及其制作方法与封装效果的检测方法。
背景技术
平面显示装置具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用。现有的平面显示装置主要包括液晶显示装置（LCD，Liquid Crystal Display）及有机发光显示装置（OLED，Organic Light Emitting Display）。
有机发光显示装置具备自发光、高亮度、宽视角、高对比度、可挠曲、低能耗等特性，因此受到广泛的关注，并作为新一代的显示方式，已开始逐渐取代传统液晶显示装置，被广泛应用在手机屏幕、电脑显示器、全彩电视等。OLED显示技术与传统的LCD显示方式不同，无需背光灯，采用非常薄的有机材料涂层和玻璃基板，当有电流通过时，这些有机材料就会发光。但是由于有机材料易与水氧反应，作为基于有机材料的显示设备，OLED面板对封装的要求非常高。为了实现商业化的应用，OLED元件要求达到使用寿命（lifetime）大于或等于10,000小时；需满足水汽穿透率小于或等于10-6g/m2/day（天）；氧气穿透率小于或等于10-5cc/m2/day（1atm）的封装效果要求。由此可见封装是整个OLED面板生产过程中最重要的制程之一，是影响产品良率的关键。
然而，目前对于大部分的OLED面板生产过程，针对封装效果进行监测的方法极少。现有一种使用干燥剂进行封装效果监测的方法，其原理是，干燥剂吸湿后膨胀，利用摄像方式记录干燥剂前后的面积，由干燥剂图像面积值的大小，以判定干燥剂是否膨胀，由此得知OLED面板是否因封装不良而导致水汽进入。该方法原理简单，但是存在可靠性的问题。如，干燥剂吸湿后体积膨胀，而通过摄像的方法仅能反应面积的变化；且通过摄像的图像对比，并不能反映出干燥剂吸湿后的微小体积变化。因此，利用干燥剂吸湿膨胀的方法检测封装效果有待改进。
针对上述缺陷，如图1所示，提出一种有机发光二极管的封装效果检测方法，其在由基板1、盖板2和密封层3共同形成的密闭腔体11内设置测试条4，该密闭腔体11内还有设于基板1上的发光芯片9，测试条4设于盖板2上，与发光芯片9相对，测试条4的两端分别设置有测试电极5，测试电极5的一端与测试条4连接，另一端伸出至密闭腔体11的外侧。测试条4一般由钙或者钡等易氧化金属材料构成，根据测试条4在氧化后的电阻率发生变化，从而判断密闭腔体11内的密封效果，一般电阻率变化越大，检测效果越明显。
上述方法虽然能较为有效的检测有机发光二极管的封装效果，但其制程较为复杂，成本相对较高，且，为防止通电电极10与测试电极5之间互相干扰，影响测量结果的准确性，在密封层3与测试电极5之间还设置有绝缘层6，使有机发光二极管整体结构较为复杂，也增加了制程步骤。
发明内容
本发明的目的在于提供一种OLED面板，其封装效果好，使用寿命较长。
本发明的另一目的在于提供一种OLED面板的制作方法，其制程简单，且由该方法制得的OLED面板使用寿命长，且能有效检测其封装效果，提高产品良率。
本发明的又一目的在于提供一种OLED面板封装效果的检测方法，其能有效检测出OLED面板封装内部的水氧含量，进而准确判断OLED面板的封装效果，且易于实现，不会对面板造成不利影响。
为实现上述目的，本发明提供一种OLED面板，包括：基板、与基板相对设置的盖板、设于基板上的OLED元件、设于盖板上的湿敏膜及将基板与盖板粘接在一起的密封胶框，该基板、盖板、及密封胶框之间形成一密封空间，该OLED元件、湿敏膜均密封于该密封空间内，该湿敏膜与盖板之间设有数根测试引线，每根测试引线的一端电性连接湿敏膜，另一端由密封胶框延伸于密封空间外，用于电性连接测量装置。
所述湿敏膜由易吸湿膨胀的高分子材料掺入导电微粉制成，该导电微粉为炭黑微粉。
所述基板为玻璃基板，所述密封胶框由玻璃胶或UV胶制成。
本发明还提供一种OLED面板的制作方法，包括以下步骤：
步骤1、提供盖板；
步骤2、在盖板上形成测试引线；
步骤3、在盖板靠近边缘的位置涂布玻璃胶，并对该玻璃胶进行高温烘烤，以形成密封胶框，所述测试引线一端位于该密封胶框内，一端延伸于该密封胶框外；
步骤4、在盖板上密封胶框内形成湿敏膜，并进行低温烘烤，所述湿敏膜覆盖于所述测试引线上；
步骤5、在密封胶框上涂布邦定胶；
步骤6、提供基板，该基板上形成有OLED元件；
步骤7、将基板与盖板通过邦定胶粘接在一起，并固化所述密封胶框。
所述湿敏膜由易吸湿膨胀的高分子材料掺入导电微粉制成，该导电微粉为炭黑微粉；所述邦定胶为围堰胶。
本发明还提供一种OLED面板的制作方法，包括以下步骤：
步骤11、提供盖板；
步骤12、在盖板上形成测试引线；
步骤13、在盖板上形成湿敏膜，并进行低温烘烤，所述湿敏膜覆盖于所述测试引线上；
步骤14、在盖板靠近边缘的位置涂布UV胶，以形成密封胶框，所述湿敏膜位于该密封胶框内，所述测试引线一端位于该密封胶框内，一端延伸于该密封胶框外；
步骤15、提供基板，该基板上形成有OLED元件；
步骤16、将基板与盖板通过UV胶粘接在一起，并固化所述密封胶框。
所述湿敏膜由易吸湿膨胀的高分子材料掺入导电微粉制成，该导电微粉为炭黑微粉。
本发明还提供一种OLED面板封装效果的检测方法，包括以下步骤：
步骤101、提供OLED面板，所述OLED面板包括：基板、与基板相对设置的盖板、设于基板上的OLED元件、设于盖板上的湿敏膜及将基板与盖板粘接在一起的密封胶框，该基板、盖板、及密封胶框之间形成一密封空间，该OLED元件、湿敏膜均密封于该密封空间内，该湿敏膜与盖板之间设有数根测试引线，每根测试引线的一端电性连接湿敏膜，另一端由密封胶框延伸于密封空间外，用于电性连接测量装置；
步骤102、提供测量装置，并将该测量装置通过测试引线电性连接于所述湿敏膜；
步骤103、测量该湿敏膜的导电率，并将该测量导电率与预设标准导电率进行对比，以判定封装效果。
所述湿敏膜由易吸湿膨胀的高分子材料掺入导电微粉制成，该导电微粉为炭黑微粉。
所述预设标准导电率为对应所述湿敏膜在水含量1000ppm，氧气含量106ppm环境下的导电率；如果该测量导电率大于或等于该预设标准导电率，那么该封装合格；如果该测量导电率小于该预设标准导电率，那么该封装不合格。
本发明的有益效果：本发明的OLED面板及其制作方法与封装效果的检测方法，利用易吸湿膨胀的高分子材料掺入导电微粉制成湿敏膜，由于该湿敏膜具有较好的吸湿性，可将该湿敏膜用作OLED面板密封空间内的干燥剂，以延长OLED面板的使用寿命，还可以通过湿敏膜在不同水氧含量的环境下的导电率差异，可较为精确的检测OLED面板封装后的水氧含量，进而准确的判断封装效果，且用于该检测方法的OLED面板的制程简单，容易实现。
为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
附图说明
下面结合附图，通过对本发明的具体实施方式详细描述，将使本发明的技术方案及其它有益效果显而易见。
附图中，
图1为现有的一种有机发光二极管的剖面结构示意图；
图2为本发明OLED面板的剖面结构示意图；
图3为图2中形成有测试引线、湿敏膜、密封胶圈的盖板的平面结构示意图；
图4为本发明OLED面板的制作方法第一实施例的流程图；
图5为本发明OLED面板的制作方法第二实施例的流程图；
图6为本发明OLED面板封装效果的检测方法的流程图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
请参阅图2及图3，本发明提供一种OLED面板，包括：基板20、与基板20相对设置的盖板40、设于基板20上的OLED元件22、设于盖板40上的湿敏膜42及将基板20与盖板40粘接在一起的密封胶框60，该基板20、盖板40、及密封胶框60之间形成一密封空间246，该OLED元件22、湿敏膜42均密封于该密封空间246内，该湿敏膜42与盖板40之间设有数根测试引线44，每根测试引线44的一端电性连接湿敏膜42，另一端由密封胶框60延伸于密封空间246外，用于电性连接测量装置。
所述基板20为透明基板，优选为玻璃基板，所述OLED元件22一般包括：阳极、形成于阳极上的有机层，及形成于有机层上的阴极。值得一提的是，所述有机层一般包括形成于阳极上的空穴传输层（Hole Transport Layer，HTL）、形成于空穴传输层上的有机发光层（Emitting Material Layer，EML）、形成于有机发光层上的电子传输层（Electron Transport Layer，ETL），其各层可通过蒸镀方式形成。
所述湿敏膜42由易吸湿膨胀的高分子材料掺入导电微粉制成，优选的，该导电微粉为具有良好导电性的炭黑微粉。其具有良好的干燥作用，能有效延长OLED面板的使用寿命。该湿敏膜42未吸湿时，处于收缩状态，导电微粉浓度相对较高、导电微粉颗粒之间的距离小，使得湿敏膜42所表现的电阻值较低；当湿度增加，湿敏膜42吸收的水分增多，体积发生膨胀，导电微粉颗粒之间的距离增大，使得湿敏膜42所表现的电阻值相应增加，因此可根据湿敏膜42前后导电率的改变，有效判断OLED面板的封装效果的好坏。
所述测试引线44通过蒸镀的方式形成于盖板40上，请参阅图3，在本实施例中，所述测试引线44为两条，其一条测试引线44呈“F”型，另一条测试引线44与其对称设置，且该两条测试引线44相互交叉，以能更准确的测量出湿敏膜42的导电率。
所述密封胶框60由玻璃胶或UV胶形成。
请参阅图2，并参阅图3及图4，本发明还提供一种OLED面板的制作方法，包括以下步骤：
步骤1、提供盖板40。
步骤2、在盖板40上形成测试引线44。
所述测试引线44通过蒸镀的方式形成于盖板40上，请参阅图3，在本实施例中，所述测试引线44为两条，其一条测试引线44呈“F”型，另一条测试引线44与其对称设置，且该两条测试引线44相互交叉。
步骤3、在盖板40靠近边缘的位置涂布玻璃（frit）胶，并对该玻璃胶进行高温烘烤，以形成密封胶框60，所述测试引线44一端位于该密封胶框60内，一端延伸于该密封胶60框外。
所述玻璃胶涂布于所述盖板40靠近边缘的位置，并通过高温烘烤，使得该玻璃胶半固化，以形成密封胶框60。
所述延伸于密封胶框60外的测试引线44用于电性连接外部测量装置，以便在后续的密封效果检测时，对湿敏膜42导电率的检测。
步骤4、在盖板40上密封胶框60内形成湿敏膜42，并进行低温烘烤，所述湿敏膜42覆盖于所述测试引线44上。
所述湿敏膜42由易吸湿膨胀的高分子材料掺入导电微粉制成，优选的，该导电微粉为具有良好导电性的炭黑微粉。其具有良好的干燥作用，能有效延长OLED面板的使用寿命。且，该湿敏膜42未吸湿时，处于收缩状态，导电微粉浓度相对较高、导电微粉颗粒之间的距离小，使得湿敏膜42所表现的电阻值较低；当湿度增加，湿敏膜42吸收的水分增多，体积发生膨胀，导电微粉颗粒之间的距离增大，使得湿敏膜42所表现的电阻值相应增加，因此可根据湿敏膜42前后导电率的改变，有效判断OLED面板的封装效果的好坏。
值得一提的是，由于所述湿敏膜42对湿度的敏感，所述盖板40在形成湿敏膜42后，对其进行低温烘烤，以保证其干燥度。
步骤5、在密封胶框60上涂布邦定胶。
在本实施例中，所述邦定胶优选围堰胶（DAM胶），有效提高密封效果。
步骤6、提供基板20，该基板20上形成有OLED元件22。
所述基板20为透明基板，优选为玻璃基板，所述OLED元件22一般包括：阳极、形成于阳极上的有机层，及形成于有机层上的阴极。值得一提的是，所述有机层一般包括形成于阳极上的空穴传输层（Hole Transport Layer，HTL）、形成于空穴传输层上的有机发光层（Emitting Material Layer，EML）、形成于有机发光层上的电子传输层（Electron Transport Layer，ETL），其各层可通过蒸镀方式形成。
步骤7、将基板20与盖板40通过邦定胶粘接在一起，并固化所述密封胶框60。
将基板20与盖板40相对贴合，并固化所述密封胶框60，进而将OLED元件22与湿敏膜42密封于该基板20、盖板40与密封胶框60形成的密封空间246内。
固化所述密封胶框60为先UV照射，以固化DAM胶，再激光密封（lasersealing），以固化玻璃胶。
用本法制得的OLED面板，其使用寿命长，且能有效检测其封装效果，提高产品良率。
请参阅图5，并参考图2及图3，本发明还提供一种OLED面板的制作方法，包括以下步骤：
步骤11、提供盖板40。
步骤12、在盖板40上形成测试引线44。
所述测试引线44通过蒸镀的方式形成于盖板40上，请参阅图4，在本实施例中，所述测试引线44为两条，其一条测试引线44呈“F”型，另一条测试引线44与其对称设置，且该两条测试引线44相互交叉。
步骤13、在盖板40上形成湿敏膜42，并进行低温烘烤，所述湿敏膜42覆盖于所述测试引线44上。
所述湿敏膜42由易吸湿膨胀的高分子材料掺入导电微粉制成，优选的，该导电微粉为具有良好导电性的炭黑微粉。其具有良好的干燥作用，能有效延长OLED面板的使用寿命。且，该湿敏膜42未吸湿时，处于收缩状态，导电微粉浓度相对较高、导电微粉颗粒之间的距离小，使得湿敏膜42所表现的电阻值较低；当湿度增加，湿敏膜42吸收的水分增多，体积发生膨胀，导电微粉颗粒之间的距离增大，使得湿敏膜42所表现的电阻值相应增加，因此可根据湿敏膜42前后导电率的改变，有效判断OLED面板的封装效果的好坏。
值得一提的是，由于所述湿敏膜42对湿度的敏感，所述盖板40在形成湿敏膜42后，对其进行低温烘烤，以保证其干燥度。
在本实施例中，所述湿敏膜42覆盖于测试引线44的上半部分，以预留一定的空间，用于形成密封胶框60。
步骤14、在盖板40靠近边缘的位置涂布UV胶，以形成密封胶框60，所述湿敏膜42位于该密封胶框60内，所述测试引线44一端位于该密封胶框60内，一端延伸于该密封胶框60外。
所述延伸于密封胶框60外的测试引线44用于电性连接外部测量装置，以便在后续的密封效果检测时，对湿敏膜42导电率的检测。
步骤15、提供基板20，该基板20上形成有OLED元件22。
所述基板20为透明基板，优选为玻璃基板，所述OLED元件22一般包括：阳极、形成于阳极上的有机层，及形成于有机层上的阴极。值得一提的是，所述有机层一般包括形成于阳极上的空穴传输层（Hole Transport Layer，HTL）、形成于空穴传输层上的有机发光层（Emitting Material Layer，EML）、形成于有机发光层上的电子传输层（Electron Transport Layer，ETL），其各层可通过蒸镀方式形成。
步骤16、将基板20与盖板40通过UV胶粘接在一起，并固化所述密封胶框60。
将基板20与盖板40相对贴合，并固化所述密封胶框60，进而将OLED元件22与湿敏膜42密封于该基板20、盖板40与密封胶框60形成的密封空间246内。
在本实施例中，所述密封胶框60的固化方式为UV照射。
用本法制得的OLED面板，其使用寿命长，且能有效检测其封装效果，提高产品良率。
OLED面板封装后，需要对其内的密封空间进行检测，以保证OLED面板的使用寿命，目前，OLED面板要求达到使用寿命（lifetime）大于或等于10,000小时，进而使得封装后的OLED面板需满足水汽穿透率小于或等于10-6g/m2/day；氧气穿透率小于或等于10-5cc/m2/day（1atm）的封装效果，由此可估算OLED面板封装后的密封空间内的水含量不得超过1000ppm，氧气含量不得超过106ppm，那么，OLED面板封装后的密封空间内的水氧含量就可作为判断该OLED面板是否合格的一个检验标准，为此，本发明还提供一种通过检测OLED面板封装后的密封空间内的水氧含量来判断OLED面板封装效果的检测方法。
请参阅图6，同时参考图2及图3，本发明提供一种OLED面板封装效果的检测方法，包括以下步骤：
步骤101、提供OLED面板，所述OLED面板包括：基板20、与基板20相对设置的盖板40、设于基板20上的OLED元件22、设于盖板40上的湿敏膜42及将基板20与盖板40粘接在一起的密封胶框60，该基板20、盖板40、及密封胶框60之间形成一密封空间246，该OLED元件22、湿敏膜42均密封于该密封空间246内，该湿敏膜42与盖板40之间设有数根测试引线44，每根测试引线44的一端电性连接湿敏膜42，另一端由密封胶框60延伸于密封空间246外，用于电性连接测量装置。
所述基板20为透明基板，优选为玻璃基板，所述OLED元件22一般包括：阳极、形成于阳极上的有机层，及形成于有机层上的阴极。值得一提的是，所述有机层一般包括形成于阳极上的空穴传输层（Hole Transport Layer，HTL）、形成于空穴传输层上的有机发光层（Emitting Material Layer，EML）、形成于有机发光层上的电子传输层（Electron Transport Layer，ETL），其各层可通过蒸镀方式形成。
所述湿敏膜42由易吸湿膨胀的高分子材料掺入导电微粉制成，优选的，该导电微粉为具有良好导电性的炭黑微粉。该湿敏膜42未吸湿时，处于收缩状态，导电微粉浓度相对较高、导电微粉颗粒之间的距离小，使得湿敏膜42所表现的电阻值较低；当湿度增加，湿敏膜42吸收的水分增多，体积发生膨胀，导电微粉颗粒之间的距离增大，使得湿敏膜42所表现的电阻值相应增加，因此可根据湿敏膜42前后导电率的改变，有效判断OLED面板的封装效果的好坏。
所述测试引线44通过蒸镀的方式形成于盖板40上，请参阅图3，在本实施例中，所述测试引线44为两条，其一条测试引线44呈“F”型，另一条测试引线44与其对称设置，且该两条测试引线44相互交叉，以能更准确的测量出湿敏膜42的导电率。
所述密封胶框60由玻璃胶或UV胶形成。
步骤102、提供测量装置，并将该测量装置通过测试引线44电性连接于所述湿敏膜42。
步骤103、测量该湿敏膜42的导电率，并将该测量导电率与预设标准导电率进行对比，以判定封装效果。
所述预设标准导电率为对应所述湿敏膜在水含量1000ppm，氧气含量106ppm环境下的导电率。如果该测量导电率大于或等于该预设标准导电率，那么说明所述密封空间246内的水含量小于或等于1000ppm，氧气含量小于或等于106ppm，那么该封装合格；如果该测量导电率小于该预设标准导电率，那么说明所述密封空间246内的水含量大于1000ppm，氧气含量大于106ppm，那么该封装不合格。
综上所述，本发明的OLED面板及其制作方法与封装效果的检测方法，利用易吸湿膨胀的高分子材料掺入导电微粉制成湿敏膜，由于该湿敏膜具有较好的吸湿性，可将该湿敏膜用作OLED面板密封空间内的干燥剂，以延长OLED面板的使用寿命，还可以通过湿敏膜在不同水氧含量的环境下的导电率差异，可较为精确的检测OLED面板封装后的水氧含量，进而准确的判断封装效果，且用于该检测方法的OLED面板的制程简单，容易实现。
以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。
Claims (10)
1.一种OLED面板，其特征在于，包括：基板（20）、与基板（20）相对设置的盖板（40）、设于基板（20）上的OLED元件（22）、设于盖板（40）上的湿敏膜（42）及将基板（20）与盖板（40）粘接在一起的密封胶框（60），该基板（20）、盖板（40）、及密封胶框（60）之间形成一密封空间（246），该OLED元件（22）、湿敏膜（42）均密封于该密封空间（246）内，该湿敏膜（42）与盖板（40）之间设有数根测试引线（44），每根测试引线（44）的一端电性连接湿敏膜（42），另一端由密封胶框（60）延伸于密封空间（246）外，用于电性连接测量装置。
2.如权利要求1所述的OLED面板，其特征在于，所述湿敏膜（42）由易吸湿膨胀的高分子材料掺入导电微粉制成，该导电微粉为炭黑微粉。
3.如权利要求1所述的OLED面板，其特征在于，所述基板（20）为玻璃基板，所述密封胶框（60）由玻璃胶或UV胶制成。
4.一种OLED面板的制作方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1、提供盖板（40）；
步骤2、在盖板（40）上形成测试引线（44）；
步骤3、在盖板（40）靠近边缘的位置涂布玻璃胶，并对该玻璃胶进行高温烘烤，以形成密封胶框（60），所述测试引线（44）一端位于该密封胶框（60）内，一端延伸于该密封胶框（60）外；
步骤4、在盖板（40）上密封胶框（60）内形成湿敏膜（42），并进行低温烘烤，所述湿敏膜（42）覆盖于所述测试引线（44）上；
步骤5、在密封胶框（60）上涂布邦定胶；
步骤6、提供基板（20），该基板（20）上形成有OLED元件（22）；
步骤7、将基板（20）与盖板（40）通过邦定胶粘接在一起，并固化所述密封胶框（60）。
5.如权利要求4所述的OLED面板的制作方法，其特征在于，所述湿敏膜（42）由易吸湿膨胀的高分子材料掺入导电微粉制成，该导电微粉为炭黑微粉；所述邦定胶为围堰胶。
6.一种OLED面板的制作方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤11、提供盖板（40）；
步骤12、在盖板（40）上形成测试引线（44）；
步骤13、在盖板（40）上形成湿敏膜（42），并进行低温烘烤，所述湿敏膜（42）覆盖于所述测试引线（44）上；
步骤14、在盖板（40）靠近边缘的位置涂布UV胶，以形成密封胶框（60），所述湿敏膜（42）位于该密封胶框（60）内，所述测试引线（44）一端位于该密封胶框（60）内，一端延伸于该密封胶框（60）外；
步骤15、提供基板（20），该基板（20）上形成有OLED元件（22）；
步骤16、将基板（20）与盖板（40）通过UV胶粘接在一起，并固化所述密封胶框（60）。
7.如权利要求6所述的OLED面板的制作方法，其特征在于，所述湿敏膜（42）由易吸湿膨胀的高分子材料掺入导电微粉制成，该导电微粉为炭黑微粉。
8.一种OLED面板封装效果的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤101、提供OLED面板，所述OLED面板包括：基板（20）、与基板（20）相对设置的盖板（40）、设于基板（20）上的OLED元件（22）、设于盖板（40）上的湿敏膜（42）及将基板（20）与盖板（40）粘接在一起的密封胶框（60），该基板（20）、盖板（40）、及密封胶框（60）之间形成一密封空间（246），该OLED元件（22）、湿敏膜（42）均密封于该密封空间（246）内，该湿敏膜（42）与盖板（40）之间设有数根测试引线（44），每根测试引线（44）的一端电性连接湿敏膜（42），另一端由密封胶框（60）延伸于密封空间（246）外，用于电性连接测量装置；
步骤102、提供测量装置，并将该测量装置通过测试引线（44）电性连接于所述湿敏膜（42）；
步骤103、测量该湿敏膜（42）的导电率，并将该测量导电率与预设标准导电率进行对比，以判定封装效果。
9.如权利要求8所述的OLED面板封装效果的检测方法，其特征在于，所述湿敏膜（42）由易吸湿膨胀的高分子材料掺入导电微粉制成，该导电微粉为炭黑微粉。
10.如权利要求8所述的OLED面板封装效果的检测方法，其特征在于，所述预设标准导电率为对应所述湿敏膜（42）在水含量1000ppm，氧气含量106ppm环境下的导电率；如果该测量导电率大于或等于该预设标准导电率，那么该封装合格；如果该测量导电率小于该预设标准导电率，那么该封装不合格。
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Address after: 518132 No. 9-2 Ming Avenue, Guangming New District, Guangdong, Shenzhen Patentee after: TCL Huaxing Photoelectric Technology Co., Ltd Address before: 518000 No. 9-2 Ming Avenue, Guangming New District, Guangdong, Shenzhen Patentee before: Shenzhen Huaxing Optoelectronic Technology Co., Ltd. |