CN103235185A - 用于选择性发射电极电池制备过程中的测试方阻的方法 - Google Patents
用于选择性发射电极电池制备过程中的测试方阻的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103235185A CN103235185A CN2013101368942A CN201310136894A CN103235185A CN 103235185 A CN103235185 A CN 103235185A CN 2013101368942 A CN2013101368942 A CN 2013101368942A CN 201310136894 A CN201310136894 A CN 201310136894A CN 103235185 A CN103235185 A CN 103235185A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- pilot hole
- probe
- substrate
- resistance
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Secondary Cells (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Battery Electrode And Active Subsutance (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Description
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201310136894.2A CN103235185B (zh) | 2013-04-18 | 2013-04-18 | 用于选择性发射电极电池制备过程中的测试方阻的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201310136894.2A CN103235185B (zh) | 2013-04-18 | 2013-04-18 | 用于选择性发射电极电池制备过程中的测试方阻的方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN103235185A true CN103235185A (zh) | 2013-08-07 |
CN103235185B CN103235185B (zh) | 2015-09-09 |
Family
ID=48883236
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201310136894.2A Active CN103235185B (zh) | 2013-04-18 | 2013-04-18 | 用于选择性发射电极电池制备过程中的测试方阻的方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN103235185B (zh) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103884912A (zh) * | 2014-03-14 | 2014-06-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种方块电阻的测量方法 |
CN106885924A (zh) * | 2017-02-13 | 2017-06-23 | 北京工业大学 | 一种用于igbt芯片表面铝金属化层方阻测量的定位装置 |
CN112599578A (zh) * | 2020-12-11 | 2021-04-02 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 阵列基板及其制备方法 |
CN113030198A (zh) * | 2021-03-31 | 2021-06-25 | 深圳市溢鑫科技研发有限公司 | 一种直立石墨烯薄膜材料的品质检测分析方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001074795A (ja) * | 1999-08-31 | 2001-03-23 | Ando Electric Co Ltd | 通信回線の抵抗測定装置、通信回線の抵抗測定方法、及び記憶媒体 |
CN102130214A (zh) * | 2010-12-31 | 2011-07-20 | 常州天合光能有限公司 | 一种湿法刻蚀监控方法 |
CN102185005A (zh) * | 2010-10-18 | 2011-09-14 | 江阴浚鑫科技有限公司 | 一种选择性发射极电池的制作方法 |
CN102200552A (zh) * | 2010-11-17 | 2011-09-28 | 浙江正泰太阳能科技有限公司 | 硅片的方块电阻的测试方法及设备 |
CN102539919A (zh) * | 2011-12-19 | 2012-07-04 | 中利腾晖光伏科技有限公司 | 一种选择性扩散方阻测试的方法 |
CN102929101A (zh) * | 2012-10-12 | 2013-02-13 | 昆山维信诺显示技术有限公司 | 一种导电光刻胶及使用该导电光刻胶的oled电极及制造方法 |
-
2013
- 2013-04-18 CN CN201310136894.2A patent/CN103235185B/zh active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001074795A (ja) * | 1999-08-31 | 2001-03-23 | Ando Electric Co Ltd | 通信回線の抵抗測定装置、通信回線の抵抗測定方法、及び記憶媒体 |
CN102185005A (zh) * | 2010-10-18 | 2011-09-14 | 江阴浚鑫科技有限公司 | 一种选择性发射极电池的制作方法 |
CN102200552A (zh) * | 2010-11-17 | 2011-09-28 | 浙江正泰太阳能科技有限公司 | 硅片的方块电阻的测试方法及设备 |
CN102130214A (zh) * | 2010-12-31 | 2011-07-20 | 常州天合光能有限公司 | 一种湿法刻蚀监控方法 |
CN102539919A (zh) * | 2011-12-19 | 2012-07-04 | 中利腾晖光伏科技有限公司 | 一种选择性扩散方阻测试的方法 |
CN102929101A (zh) * | 2012-10-12 | 2013-02-13 | 昆山维信诺显示技术有限公司 | 一种导电光刻胶及使用该导电光刻胶的oled电极及制造方法 |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103884912A (zh) * | 2014-03-14 | 2014-06-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种方块电阻的测量方法 |
CN103884912B (zh) * | 2014-03-14 | 2016-09-07 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种方块电阻的测量方法 |
US9632048B2 (en) | 2014-03-14 | 2017-04-25 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Sheet resistance measuring method |
CN106885924A (zh) * | 2017-02-13 | 2017-06-23 | 北京工业大学 | 一种用于igbt芯片表面铝金属化层方阻测量的定位装置 |
CN112599578A (zh) * | 2020-12-11 | 2021-04-02 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 阵列基板及其制备方法 |
CN112599578B (zh) * | 2020-12-11 | 2023-10-17 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 阵列基板及其制备方法 |
CN113030198A (zh) * | 2021-03-31 | 2021-06-25 | 深圳市溢鑫科技研发有限公司 | 一种直立石墨烯薄膜材料的品质检测分析方法 |
CN113030198B (zh) * | 2021-03-31 | 2023-11-14 | 深圳市溢鑫科技研发有限公司 | 一种直立石墨烯薄膜材料的品质检测分析方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN103235185B (zh) | 2015-09-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN103235185A (zh) | 用于选择性发射电极电池制备过程中的测试方阻的方法 | |
CN103163442B (zh) | 一种晶圆测试方法 | |
CN105527800B (zh) | 一种曝光方法、曝光装置及彩膜基板 | |
JP2011060919A5 (zh) | ||
CN103743974A (zh) | 可靠性测试板以及印制电路板的耐caf性能测试方法 | |
CN103874335A (zh) | 电路板蚀刻线宽控制方法 | |
CN103065943A (zh) | 深沟槽刻蚀工艺的关键尺寸补偿方法 | |
CN103529659A (zh) | 一种对位精度检测方法及系统 | |
CN102033423A (zh) | 用于校准光刻工具的装置及方法 | |
CN103472672B (zh) | 校正光学邻近校正模型的方法 | |
CN102445858B (zh) | 一种光刻机之间的工艺匹配方法 | |
CN102955378B (zh) | 光刻胶形貌表征方法 | |
CN104281009B (zh) | 光刻重叠采样 | |
CN101251576A (zh) | 一种基于神经网络的电路故障诊断方法 | |
CN103140016A (zh) | 防止静电释放的pcb电路板 | |
CN107560533A (zh) | 一种提高电镀均匀性分析效率的测量装置及方法 | |
CN102540773A (zh) | 一种新型的利用曝光后烘烤的opc模型检验光刻工艺的方法 | |
CN107045259B (zh) | 包含有监测图形的掩膜版以及监测方法 | |
CN107993957A (zh) | 离子注入浓度检测方法及不同离子机台离子注入浓度一致性的评测方法 | |
CN103631085A (zh) | 光学邻近校正模型的校正方法 | |
CN102591158A (zh) | 一种精确测量wee宽度的方法 | |
CN106325004A (zh) | Ldi曝光机能量均匀性检测方法 | |
CN109085129A (zh) | 阻焊油墨对uv光吸收的定量测试方法 | |
CN111123653B (zh) | 一种测量盘及偏心值测量方法 | |
CN105093815B (zh) | 器件设计尺寸的提取方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CP01 | Change in the name or title of a patent holder | ||
CP01 | Change in the name or title of a patent holder |
Address after: Solar photovoltaic industry park Tianhe Road 213031 north of Jiangsu Province, Changzhou City, No. 2 Patentee after: TRINA SOLAR Co.,Ltd. Address before: Solar photovoltaic industry park Tianhe Road 213031 north of Jiangsu Province, Changzhou City, No. 2 Patentee before: trina solar Ltd. |
|
CP03 | Change of name, title or address | ||
CP03 | Change of name, title or address |
Address after: Solar photovoltaic industry park Tianhe Road 213031 north of Jiangsu Province, Changzhou City, No. 2 Patentee after: trina solar Ltd. Address before: Tianhe Electronic Industrial Park Road 213022 north of Jiangsu Province, Changzhou City, No. 2 Patentee before: CHANGZHOU TRINA SOLAR ENERGY Co.,Ltd. |
|
TR01 | Transfer of patent right | ||
TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20180521 Address after: 224000 No. five mountain road, Yancheng economic and Technological Development Zone, Jiangsu 101 Patentee after: YANCHENG TIANHE GUONENG PHOTOVOLTAIC TECHNOLOGY CO.,LTD. Address before: 213031 Tianhe PV Industrial Park No. 2, Xinbei District, Changzhou, Jiangsu Patentee before: TRINA SOLAR Co.,Ltd. |