CN103126696B - X射线诊断装置以及x射线光阑控制方法 - Google Patents

X射线诊断装置以及x射线光阑控制方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种能够根据被检体厚度与SID来确定合适的附加滤波器，并在X射线产生部与被载置在顶板的被检体之间配置所确定的附加滤波器的X射线诊断装置。本实施方式所涉及的X射线诊断装置具备：X射线产生部，其产生X射线；X射线检测部，其检测从X射线产生部产生并透过了被载置在顶板的被检体的X射线；X射线光阑部，其具有将所产生的X射线的线质硬化的多个滤波器；X射线光阑控制部，其控制X射线光阑部，以便将根据X射线产生部与X射线检测部的距离和被检体的厚度而从多个滤波器中确定的滤波器配置在X射线产生部与上述被检体之间。

Description

X射线诊断装置以及X射线光阑控制方法
本申请主张2011年12月2日申请的日本专利申请号2011-264505的优先权，并在本申请中引用上述日本专利申请的全部内容。
技术领域
本发明涉及X射线诊断装置以及X射线光阑控制方法。
背景技术
以往，X射线诊断装置具有能够调整X射线照射范围的X射线光阑部。为了调整X射线的线质，X射线光阑部具有厚度不同的多个滤波器（以下称为附加滤波器）。附加滤波器（也被称为线质滤波器或者光束光谱滤波器）能够减少由X射线诊断装置中的X射线产生部产生的X射线的软线。多个附加滤波器的切换例如根据由用于产生X射线的条件（以下称为X射线条件）等而推定出的被检体厚度、或者源像距（SourceImage Distance：以下称为SID）来执行。
当根据推定出的被检体厚度来切换附加滤波器（以下称为被检体厚度切换法）时，存在以下那样的问题。当被检体厚度薄时，可使用软X射线（比较长的波长、透过力低的X射线）的除去率高的附加滤波器（一般为厚度厚的附加滤波器）。另一方面，当推定出的被检体厚度厚时，由于在透视时等X射线条件（例如X射线管球的最大输出、向被检体入射的放射剂量的限制等）易于达到上限，所以可使用X射线透过率高的附加滤波器（软X射线的除去率低的附加滤波器：一般为厚度薄的附加滤波器）。当被检体厚度厚时，与在X射线诊断装置中产生具有透过力的X射线的能力有余力无关，可使用薄的附加滤波器。因此，存在能够摄影或者透视的最大厚度与通过最大限度地使用上述能力而能够摄影或者透视的最大厚度相比较减少的问题。
另外，用于避免上述问题的方法是与SID的大小联动的附加滤波器的切换方法（以下称为SID依存切换法）。根据该方法，能够通过在X射线诊断装置中最大限度地使用产生具有透过力的X射线的能力，来确保可进行摄影以及透视的最大厚度。然而，在SID依存切换法中，由于没有依存于被检体厚度，如果SID长，则使用薄的附加滤波器，因此，对于被检体厚度薄的被检体而言，存在与被检体厚度切换法相比被辐射量增大这样的问题。并且，在被检体厚度切换法以及SID切换法中存在画质降低那样的问题。
现有技术文献
日本特开2004-8490号公报
日本特开2007-97665号公报
发明内容
本发明的目的在于，提供一种能够根据被检体厚度与SID来确定合适的附加滤波器，并在X射线产生部与被载置于顶板的被检体之间配置所确定的附加滤波器的X射线诊断装置。
本实施方式所涉及的X射线诊断装置具备：X射线产生部，其产生X射线；X射线检测部，其检测从X射线产生部产生并透过了被载置于顶板的被检体的X射线；X射线光阑部，其具有使所产生的X射线的线质硬化的多个滤波器；以及X射线光阑控制部，其控制X射线光阑部，以便将根据X射线产生部与X射线检测部的距离和被检体的厚度而从多个滤波器中确定出的滤波器配置在X射线产生部与被检体之间。
可提供一种能够根据被检体厚度与SID来确定合适的附加滤波器，并在X射线产生部与被载置于顶板的被检体之间配置所确定的附加滤波器的X射线诊断装置。
附图说明
图1是表示第1实施方式所涉及的X射线诊断装置的结构的一个例子的图。
图2是表示第1实施方式所涉及的与被检体厚度和SID对应的附加滤波器的厚度的对应表的一个例子的图。
图3是表示第1实施方式所涉及的根据X射线条件、SID、X射线检测放射剂量、附加滤波器的厚度（也包含附加滤波器的种类）来确定被检体厚度，根据被检体厚度和SID从多个附加滤波器中确定一个附加滤波器的步骤的一个例子的流程图。
图4是表示第1实施方式的第1变形例所涉及的读出与X射线条件（X射线管的最大电力）对应的对应表，根据被检体厚度、SID、以及所读出的对应表从多个附加滤波器中确定一个附加滤波器的步骤的一个例子的流程图。
图5是表示第1实施方式的第1变形例所涉及的与X射线条件、向被检体入射的放射剂量率（上限值）、SID、被检体厚度对应的附加滤波器的对应表的一个例子的图。
图6是表示第2实施方式所涉及的X射线诊断装置的结构的一个例子的图。
图7是表示第2实施方式所涉及的根据被检体厚度、X射线条件、第1、第2仿真体（phantom）的数据来计算对比度值，根据对比度值、被检体厚度以及SID，从多个附加滤波器中确定一个附加滤波器的步骤的一个例子的流程图。
图8是表示第2实施方式的第2变形例所涉及的根据对比度值、被检体厚度、SID、被检体的检查部位，从多个附加滤波器中确定一个附加滤波器的步骤的一个例子的流程图。
符号说明：1…X射线诊断装置、3…X射线产生部、4…X射线光阑部、5…X射线检测部、7…支承机构、9…支承机构驱动部、11…顶板、13…顶板驱动部、15…移动控制部、16…厚度决定部、17…滤波器确定部、18…X射线光阑控制部、19…图像生成部、20…计算部、21…存储部、23…显示部、25…输入部、27…系统控制部。
具体实施方式
一般而言，根据本实施方式，X射线诊断装置包括X射线产生部、X射线检测部、X射线光阑部、和X射线光阑控制部。X射线产生部产生X射线。X射线检测部检测从X射线产生部产生并透过了被载置在顶板的被检体的X射线。X射线光阑部具有将所产生的X射线的线质硬化的多个滤波器。X射线光阑控制部控制X射线光阑部，以便将根据X射线产生部与X射线检测部的距离和被检体的厚度而从多个滤波器中确定出的滤波器配置在X射线产生部与被检体之间。
以下，参照附图来说明本发明的实施方式所涉及的X射线诊断装置。其中，在以下的说明中，对具有大致相同的功能以及结构的构成要素赋予同一符号，只在必要时进行重复说明。
（第1实施方式）
图1表示了本实施方式所涉及的X射线诊断装置1的结构。X射线诊断装置1具有：X射线产生部3、X射线光阑部4、X射线检测部5、支承机构7、支承机构驱动部9、顶板11、顶板驱动部13、移动控制部15、厚度决定部16、滤波器确定部17、X射线光阑控制部18、图像生成部19、存储部21、显示部23、输入部25、系统控制部27。
X射线产生部3具有未图示的X射线管和高电压产生部。高电压产生部产生对X射线管供给的管电流、和对X射线管施加的管电压。高电压产生部对X射线管供给分别适于X射线摄影以及X射线透视的管电流。高电压产生部对X射线管施加分别适于X射线摄影以及X射线透视的管电压。X射线管根据从高电压产生部供给的管电流、和由高电压产生部施加的管电压，在X射线的焦点（以下称为管球焦点）处产生X射线。
X射线光阑部4被设置在X射线产生部与被载置在后述的顶板11的被检体之间。具体而言，X射线光阑部4设置在X射线产生部3的X射线放射窗。为了不对观察部位以外的部位造成不需要的辐射，X射线光阑部4将由X射线产生部3产生的X射线会聚为规定的照射视野的尺寸。以减少对被检体辐射的放射剂量以及提高画质为目的，X射线光阑部4具有被插入到利用X射线锥内的多个滤波器（以下称为附加滤波器）。多个附加滤波器分别是由金属薄板（铝、铜、钼、钽等）构成的板材。多个附加滤波器具有分别不同的厚度。附加滤波器也被称为X射线滤波器、过滤板、光束滤波器、线质滤波器、或者光束光谱滤波器（beam spectrum filter）。X射线光阑部4在后述的X射线光阑控制部18的控制下，将多个附加滤波器中的至少一个配置在X射线放射窗的前面。
多个附加滤波器分别根据附加滤波器的厚度来除去由X射线产生部3产生的连续光谱X射线的长波长分量。多个附加滤波器分别通过与厚度对应的长波长成分的除去，来使由X射线产生部3产生的X射线的线质硬化。另外，多个附加滤波器也分别能够除去对于X射线诊断而言不需要的X射线的能量分量。由此，多个附加滤波器分别被用于调整由X射线产生部3产生的X射线的线质。X射线光阑部4在后述的X射线光阑控制部18的控制下，将由后述的滤波器确定部17确定出的附加滤波器配置在X射线产生部3中的X射线放射窗的前面。
X射线检测部5检测从X射线产生部3产生并透过了被检体P的X射线。例如，X射线检测部5具有平板检测器（Flat Panel Detecter：以下称为FPD）。FPD具有多个半导体检测元件。在半导体检测元件中，存在直接转换型和间接转换型。所谓直接转换型是指将入射X射线直接转换成电信号的形式。所谓间接转换型是指由荧光体将入射X射线转换成光，并将该光转换成电信号的形式。伴随着X射线的入射而由多个半导体检测元件产生的电信号被输出至未图示的模拟数字转换器（Analogto Digital converter:以下称为A/D转换器）。A/D转换器将电信号转换成数字数据。A/D转换器将数字数据输出至未图示的前处理部。另外，作为X射线检测部5，也可以使用图像增强器（Image intensifier）等。
未图示的前处理部对于从X射线检测部5输出的数字数据执行前处理。前处理是指X射线检测部5中的信道间的灵敏度不均匀的校正、以及与因金属等X射线强吸收体导致的极端的信号降低或者数据的脱落相关的校正等。前处理后的数字数据被输出至后述的图像生成部19。
支承机构7可移动地支承X射线产生部3与X射线检测部5。具体而言，支承机构7例如具有未图示的C形臂和C形臂支承部。C形臂将X射线产生部3与X射线检测部5相互对向地支承。另外，也可以代替C形臂而使用Ω形臂。另外，C形臂可变更X射线产生部3与X射线检测部5的距离（源像距（Source Image Distance：以下称为SID））地支承X射线产生部3和X射线检测部5。C形臂支承部在沿着该C形状的方向（以下称为第1方向）将C形臂支承为可滑动。另外，C形臂支承部以C形臂与C形臂支承器的连接部作为中心，将C形臂支承为在与第1方向正交的方向（以下称为第2方向）可旋转。另外，C形臂支承部也能够将C形臂支承为在后述的顶板的宽度方向（以下称为X方向）和长度方向（以下称为Y方向）可平行移动。
支承机构驱动部9在后述的移动控制部17的控制下，驱动支承机构7。具体而言，支承机构驱动部9对C形臂支承部供给与来自移动控制部17的控制信号对应的驱动信号，使C形臂在第1方向（LAO或者RAO）滑动。支承机构驱动部9对C形臂支承部供给于来自移动控制部17的控制信号对应的驱动信号，使C形臂在第2方向（CRA或者CAU）旋转。为了实现经由输入部25由操作者输入的SID，支承机构驱动部9在移动控制部15的控制下驱动支承机构7。在X射线透视时以及X射线摄影时，X射线产生部3与X射线检测部5之间配置有被载置在顶板11的被检体P。
顶板驱动部13在后述的移动控制部15的控制下驱动顶板11。具体而言，顶板驱动部13根据来自移动控制部15的控制信号，使顶板11沿顶板11的宽度方向或者顶板11的长度方向滑动。另外，顶板驱动部13使顶板11在垂直方向升降。顶板驱动部13在移动控制部15的控制下，根据经由输入部25而输入的视野尺寸和SID来驱动顶板11。
移动控制部15控制支承机构驱动部9，以便通过驱动支承机构7，来使FPD的中心位于摄影位置以及透视位置。具体而言，移动控制部15将用于使FPD的中心位于摄影位置以及透视位置的控制信号输出至支承机构驱动部9。
厚度决定部16根据X射线产生部3中与X射线的产生相关的条件（以下称为X射线条件）、入射至X射线检测部5的X射线的放射剂量（以下称为X射线检测放射剂量）、视野尺寸、SID、附加滤波器的厚度（包含附加滤波器的种类），来确定被检体的厚度（以下称为被检体厚度）。X射线条件例如是指施加给X射线管的管电压（kV））与提供给X射线管的管电流（mA）之积（电力：kW）。X射线检测放射剂量例如是根据来自FPD的输出来产生图像所需的X射线的放射剂量，与画质相关联。具体而言，厚度决定部16将X射线条件、X射线检测放射剂量、视野尺寸、SID、附加滤波器的厚度（包含附加滤波器的种类）作为输入值，通过执行规定的计算，来决定被检体厚度。厚度决定部16将所决定的被检体厚度输出至后述的滤波器确定部17。
滤波器确定部17根据被检体厚度与SID，从X射线光阑部4中的多个附加滤波器中确定至少一个。具体而言，滤波器确定部17读出存储于后述的存储部21的对应表。对应表是指与被检体厚度和SID对应的附加滤波器的对应表。滤波器确定部17根据被检体厚度、SID、以及所读出的对应表，从多个附加滤波器中确定被配置在X射线放射窗的前面的附加滤波器。例如当被检体厚度薄、SID短时，滤波器确定部17从多个附加滤波器中确定厚的附加滤波器。另外，例如当被检体厚度厚、SID长时，滤波器确定部17从多个附加滤波器中确定薄的附加滤波器。滤波器确定部17将与所确定的附加滤波器相关的信息（例如基于附加滤波器的厚度的识别符等：以下称为附加滤波器确定信息）输出至后述的X射线光阑控制部18。
另外，对应表也可以是与被检体厚度和SID对应的附加滤波器的厚度的对应表。此时，滤波器确定部17根据被检体厚度、SID、以及所读出的对应表，来决定附加滤波器的厚度。接着，滤波器确定部17从多个附加滤波器中确定具有所决定的厚度的附加滤波器。
图2是表示使对应表可视化的一个例子的图。图2的对应表是与被检体厚度和SID对应的附加滤波器的厚度的对应表。滤波器确定部17例如在被检体厚度为11cm、SID为123cm时，将附加滤波器的厚度决为0.9mm。接着，滤波器确定部17从多个附加滤波器中确定具有0.9mm的厚度的附加滤波器。另外，滤波器确定部17也可以通过将多个附加滤波器中的2种以上附加滤波器组合，来确定成为0.9mm的厚度的多个附加滤波器。
另外，滤波器确定部17也能够在确定附加滤波器之前，从存储部21读出第1、第2阈值，进行以下的处理。当被检体厚度是第1阈值以下时，滤波器确定部17也能够不依据SID地确定被配置在X射线放射窗的前面的附加滤波器。此时，滤波器确定部17首先将被检体厚度与规定的阈值进行比较。接着，当被检体厚度是规定的阈值以上时，滤波器确定部17从多个附加滤波器中确定与被检体厚度对应的附加滤波器。另外，当被检体厚度超过第2阈值时，滤波器确定部17根据被检体厚度、SID、以及所读出的对应表，从多个附加滤波器中确定被配置在X射线放射窗的前面的附加滤波器。
X射线光阑控制部18控制X射线光阑部4，以便将由滤波器确定部17确定出的附加滤波器配置在X射线放射窗的前面。具体而言，X射线光阑控制部18控制X射线光阑部4，以便将从滤波器确定部17输出的与附加滤波器确定信息对应的附加滤波器配置在X射线放射窗的前面。
图像生成部19根据在摄影位置中进行了X射线摄影之后被前处理的数字数据，生成摄影图像。图像生成部19根据在透视位置进行了X射线透视之后被前处理的数字数据，生成透视图像。
存储部21存储由图像生成部19生成的各种图像、本X射线诊断装置1的控制程序、诊断协议、从后述的输入部25发送来的操作者的指示、摄影条件、透视条件等各种数据组、视野尺寸、SID、X射线检测放射剂量等。另外，存储部21存储用于将X射线条件、X射线检测放射剂量、视野尺寸、SID作为输入值来执行规定的计算的被检体厚度计算程序。存储部21存储与被检体厚度和SID对应的附加滤波器的对应表。另外，存储部21也可以存储第1、第2阈值。此外，存储部21也可以存储与被检体厚度和SID对应的附加滤波器的厚度的对应表。
显示部23显示由图像生成部19生成的摄影图像以及透视图像。显示部23显示用于输入X射线条件、X射线检测放射剂量、向被检体入射的放射剂量率（上限值）、视野尺寸、SID等的输入画面。另外，显示部23也能够显示用于输入被检体厚度的画面。
输入部25输入操作者所希望的X射线摄影的摄影条件以及X射线透视的透视条件、视野尺寸、SID等。具体而言，输入部25将来自操作者的各种指示、命令、信息、选择、设定取入到本X射线诊断装置1中。虽然没有图示，但输入部25具有用于进行关心区域的设定等的轨迹球、开关按钮、鼠标、键盘等。输入部25检测显示画面上显示的光标的坐标，将检测到的坐标输出至系统控制部27。另外，输入部25也可以是被设计成覆盖显示画面的触摸面板。此时，输入部25检测被以电磁感应式、电磁应变式、压力感应式等坐标读取原理触摸指示的坐标，并将检测到的坐标输出至系统控制部27。另外，输入部25也能够输入被检体厚度。
系统控制部27具备未图示的CPU（Central Processing Unit）和存储器。系统控制部27控制X射线产生部3、X射线光阑控制部、移动控制部17等，以便按照从输入部25送来的操作者的指示、摄影条件、透视条件等执行X射线摄影以及透视。
（附加滤波器确定功能）
附加滤波器确定功能是指根据被检体厚度、SID、所读出的对应表，从多个附加滤波器中确定被配置到X射线放射窗的前面的附加滤波器的功能。以下，针对与附加滤波器确定功能相关的处理（以下称为附加滤波器确定处理）进行说明。另外，附加滤波器确定处理也可以使用与检查的目的对应的对应表来执行。
图3是表示第1实施方式所涉及的根据X射线条件、SID、X射线检测放射剂量、附加滤波器的厚度（也包含附加滤波器的种类）来确定被检体厚度，并根据被检体厚度和SID从多个附加滤波器中确定一个附加滤波器的步骤的一个例子的流程图。
在利用本X射线诊断装置1进行的摄影以及X射线透视之前，设定X射线条件、SID、X射线检测放射剂量、向被检体入射的放射剂量率（上限值）、视野尺寸等（步骤Sa1）。其中，X射线条件、SID、X射线检测放射剂量、向被检体入射的放射剂量率（上限值）、视野尺寸等的设定例如可以经由输入部25由操作者来输入。
通过将所设定的X射线条件、SID、X射线检测放射剂量、视野尺寸、附加滤波器的厚度（也包含附加滤波器的种类）作为输入值，执行规定的计算，来决定被检体厚度（步骤Sa2）。接着，从存储部21读出对应表。使用所决定的被检体厚度、SID、以及所读出的对应表，从多个附加滤波器中确定至少一个附加滤波器（步骤Sa3）。控制X射线光阑部4，以便将所确定的附加滤波器配置在X射线放射窗的前面（步骤Sa4）。
（第1变形例）
与第1实施方式的不同在于：存储与管电压以及管电流等X射线条件（或者X射线管的最大电力）对应的多个对应表，根据与所设定的X射线条件对应的对应表、被检体厚度、以及SID，从多个附加滤波器中确定被配置在X射线放射窗的前面的附加滤波器。
存储部21例如存储管电压与管电流之积等与X射线条件（或者X射线管的最大电力）对应的多个对应表。存储部21存储分别与多个对应表对应的多个阈值。
滤波器确定部17从存储部21读出与所设定的X射线条件（例如作为管电压与管电流之积的电力）对应的对应表。滤波器确定部17根据被检体厚度、SID、以及所读出的对应表，从多个附加滤波器中确定被配置在X射线放射窗的前面的附加滤波器。滤波器确定部17将附加滤波器确定信息输出至X射线光阑控制部18。
另外，滤波器确定部17也能够在确定附加滤波器之前，从存储部21读出与所读出的对应表对应的阈值，并进行以下的处理。当被检体厚度是所读出的第1阈值以下时，滤波器确定部17不依据SID地确定被配置在X射线放射窗的前面的附加滤波器。此时，滤波器确定部17首先将被检体厚度与规定的阈值进行比较。接着，当被检体厚度是第1阈值以下时，滤波器确定部17从多个附加滤波器中确定与被检体厚度对应的附加滤波器。另外，当被检体厚度超过第2阈值时，滤波器确定部17根据被检体厚度、SID、以及所读出的对应表，从多个附加滤波器中确定被配置在X射线放射窗的前面的附加滤波器。
（附加滤波器确定功能）
第1变形例中的附加滤波器确定功能是指从存储部21读出与X射线条件对应的对应表，根据被检体厚度、SID、以及所读出的对应表从多个附加滤波器中确定一个附加滤波器的功能。以下，针对与第1变形例中的附加滤波器确定功能相关的处理进行说明。
图4是表示第1实施方式的第1变形例所涉及的读出与X射线条件（X射线管的最大电力）对应的对应表，并根据被检体厚度、SID、以及所读出的对应表从多个附加滤波器中确定一个附加滤波器的步骤的一个例子的流程图。
在通过本X射线诊断装置1进行的X射线摄影以及X射线透视之前，设定X射线条件、SID、X射线检测放射剂量、向被检体入射的放射剂量率（上限值）、视野尺寸等（步骤Sb1）。其中，X射线条件、SID、X射线检测放射剂量、向被检体入射的放射剂量率（上限值）、视野尺寸等的设定例如可以经由输入部25由操作者来输入。
通过将所设定的X射线条件、SID、X射线检测放射剂量、视野尺寸、附加滤波器的厚度（也包含附加滤波器的种类）作为输入值，执行规定的计算，来确定被检体厚度（步骤Sb2）。接着，从存储部21读出与X射线条件对应的对应表（步骤Sb3）。
图5是表示与X射线条件、向被检体入射的放射剂量率（上限值）、SID、被检体厚度对应的附加滤波器的对应表的一个例子的图。图5的（a）表示了作为脉冲X射线透视法中的X射线条件，最大电力（kW）为3kW的对应表的一个例子。图5的（b）表示了作为脉冲X射线透视法中的X射线条件，最大电力（kW）是2.2kW的对应表的一个例子。图5中的第1至第7附加滤波器是厚度分别不同的附加滤波器。在第1至第7附加滤波器中，第1附加滤波器是厚度最厚的附加滤波器，第7附加滤波器是最薄的附加滤波器。
使用所决定的被检体厚度、SID、以及所读出的对应表，从多个附加滤波器中确定至少一个附加滤波器（步骤Sb4）。控制X射线光阑部4，以便将所确定的附加滤波器配置在X射线放射窗的前面（步骤Sb5）。
根据以上所述的结构，能够得到以下的效果。
根据本实施方式中的本X射线诊断装置1，能够根据X射线条件、X射线检测放射剂量、视野尺寸、SID、附加滤波器的厚度（也包含附加滤波器的种类）来决定，并根据所决定的被检体厚度、SID、以及对应表更精密地确定适合于X射线摄影以及X射线透视的附加滤波器。由此，在本X射线诊断装置1中能够最大限度地活用产生X射线的性能。并且，能够将对被检体的辐射量抑制在最小限度。另外，根据本X射线诊断装置1，能够根据X射线条件来使用附加滤波器的确定所使用的对应表。由此，能够根据X射线条件（例如X射线管的性能），使用最佳的附加滤波器。并且，即使在X射线管的性能因X射线管的阳极蓄积热量的上升或经年劣化而劣化的情况下，也能够使用最佳的附加滤波器。
综上所述，根据本实施方式中的本X射线诊断装置1，能够在被检体厚度薄的被检体中总是使用优先使辐射减少的附加滤波器。并且，即使是被检体厚度厚的被检体，当SID短时，也能够有效地利用X射线管的性能，即使在被检体厚度厚的被检体中，也能够减少辐射。
（第2实施方式）
在以下所述的第2实施方式中，针对与第1实施方式相同的构成要素，为了避免重复说明，对相同的构成部分添加同一符号而省略其详细的说明，只针对不同的构成要素进行说明。
图6是表示第2实施方式所涉及的X射线诊断装置的结构的图。
存储部21存储具有与被检体厚度相同厚度的第1仿真体的数据。第1仿真体的数据例如是具有水的X射线减弱系数的数据。存储部21存储比被检体厚度薄的具有规定厚度的第2仿真体的数据。第2仿真体的数据是具有造影剂的X射线减弱系数的数据。规定的厚度例如是指血管的直径。存储部21存储与被检体厚度、S1D、以及由后述的计算部20计算出的对比度值对应的附加滤波器的对应表。具体而言，第2实施方式中的对应表例如是对第1实施方式中的图5的对应表的项目，附加了对比度值的对应表。与第2实施方式相关的对应表中的附加滤波器是使对比度值提高的附加滤波器。另外，存储部21也可以取代存储第1、第2仿真体的数据，而存储水的X射线减弱系数、造影剂的X射线减弱系数、以及规定的厚度。
计算部20使用X射线条件和第1仿真体的数据，计算当以X射线条件产生的X射线透过了第1仿真体时从X射线检测部5输出的第1信号值。计算部20使用X射线条件与第2仿真体的数据，计算当以X射线条件产生的X射线透过了第2仿真体时从X射线检测部5输出的第2信号值。计算部20计算第2信号值相对于第1信号值之比（以下称为对比度值）。另外，作为对比度值，计算部20也可以计算第1信号值相对于第2信号值之比。另外，当在存储部21中没有存储第1、第2仿真体的数据时，计算部20在计算第1、第2信号值之前，首先根据存储于存储部21的水的X射线减弱系数和被检体厚度来产生（计算）第1仿真体的数据。接着，计算部20根据存储于存储部21的水的X射线减弱系数和被检体厚度来产生（计算）第1仿真体的数据。最后，计算部20还能够根据存储部21中存储的造影剂的X射线减弱系数和规定的厚度来产生（计算）第2仿真体的数据。
滤波器确定部17根据被检体厚度、SID、以及对比度值，从X射线光阑部4中的多个附加滤波器中确定至少一个。具体而言，滤波器确定部17读出存储于存储部21的对应表。对应表是指与被检体厚度、SID、以及对比度值对应的附加滤波器的对应表。滤波器确定部17根据被检体厚度、SID、对比度值、以及所读出的对应表，从多个附加滤波器中确定被配置在X射线放射窗的前面的附加滤波器。例如，当被检体厚度薄、SID短、对比度值大时，确定厚的附加滤波器。另外，例如当被检体厚度厚、SID长、对比度值小时，确定薄的附加滤波器。滤波器确定部17将与所确定的附加滤波器相关的信息（例如基于附加滤波器的厚度的识别符等：以下称为附加滤波器确定信息）输出至后述的X射线光阑控制部18。
（附加滤波器确定功能）
与第1实施方式的不同在于：根据被检体厚度、X射线条件、以及第1、第2仿真体的数据来计算对比度值，并根据计算出的对比度值、被检体厚度、以及SID，从多个附加滤波器中确定一个附加滤波器。以下，针对与第2实施方式中的附加滤波器确定功能相关的处理进行说明。
图7是表示第2实施方式所涉及的根据被检体厚度、X射线条件、以及第1、第2仿真体的数据来计算对比度值，并根据计算出的对比度值、被检体厚度、以及SID，从多个附加滤波器中确定一个附加滤波器的步骤的一个例子的流程图。
在通过本X射线诊断装置1进行的X射线摄影以及X射线透视之前，设定X射线条件、SID、X射线检测放射剂量、视野尺寸等（步骤Sc1）。其中，X射线条件、SID、X射线检测放射剂量、视野尺寸等的设定例如可以经由输入部25由操作者来输入。
通过将所设定的X射线条件、SID、X射线检测放射剂量、视野尺寸、附加滤波器的厚度（也包含附加滤波器的种类）作为输入值，执行规定的计算，来决定被检体厚度（步骤Sc2）。接着，读出第1仿真体的数据。根据X射线条件、被检体厚度、以及第1仿真体的数据，计算从X射线检测部5输出的第1信号值（步骤Sc3）。接着，读出第2仿真体的数据。根据X射线条件、被检体厚度、以及第2仿真体的数据，计算从X射线检测部5输出的第2信号值（步骤Sc4）。计算作为第2信号值相对于第1信号值之比的对比度值（步骤Sc5）。
接着，从存储部21读出对应表。使用对比度值、被检体厚度、SID、所读出的对应表，从多个附加滤波器中确定至少一个附加滤波器（步骤Sc6）。控制X射线光阑部4，以便将所确定的附加滤波器配置在X射线放射窗的前面（步骤Sc7）。
（第2变形例）
与第2实施方式的不同在于：根据经由输入部25等而输入的检查部位、对比度值、被检体厚度、SID，从多个附加滤波器中确定一个附加滤波器。
输入部25输入被检体的检查部位。另外，也可以代替检查部位而输入检查协议。检查部位或者检查协议也可以从经由未图示的接口而连接的医院信息系统或者放射科信息管理系统来转送。
存储部21存储与检查部位、被检体厚度、SID、对比度值对应的附加滤波器的对应表。具体而言，第2变形例中的对应表例如是对第1实施方式中的图5的对应表的项目，附加了对比度值和检查部位的对应表。第2变形例的对应表中的附加滤波器是使对比度值提高的附加滤波器或者用于减少被检体受到的辐射所使用的附加滤波器。另外，存储部21也能够根据减少被检体受到的辐射或者提高对比度值等目的来存储多个对应表。另外，存储部21也可以存储分别与多个检查部位对应的多个对应表。此外，存储部21也可以存储被检体受到的辐射量与由显示部23显示的图像的质量之间设置了优先顺序的对应表。
滤波器确定部17根据检查部位、被检体厚度、SID、对比度值，来从X射线光阑部4中的多个附加滤波器中确定至少一个。具体而言，滤波器确定部17读出存储于存储部21的对应表。对应表是指与检查部位、被检体厚度、SID、对比度值对应的附加滤波器的对应表。另外，滤波器确定部17也可以根据与检查内容对应的对被检体的辐射量与画质的优选顺序的输入，来读出对应表。滤波器确定部17根据检查部位、被检体厚度、SID、对比度值、所读出的对应表，从多个附加滤波器中确定被配置在X射线放射窗的前面的附加滤波器。例如，当被检体厚度薄、SID长、对比度值大、检查部位是头部时，确定厚的附加滤波器。另外，例如当被检体厚度厚、SID短、对比度值小、检查部位是腹部时，确定薄的附加滤波器。滤波器确定部17将与所确定的附加滤波器相关的信息（例如基于附加滤波器的厚度的识别符等：以下称为附加滤波器确定信息）输出至后述的X射线光阑控制部18。
（附加滤波器确定功能）
附加滤波器确定功能中的与第2实施方式的不同在于：设定检查部位，使用所设定的检查部位、对比度值、被检体厚度、SID、以及所读出的对应表，来从多个附加滤波器中确定至少一个附加滤波器。
图8是表示根据对比度值、被检体厚度、SID、被检体的检查部位，从多个附加滤波器中确定一个附加滤波器的步骤的一个例子的流程图。
在通过本X射线诊断装置1进行的X射线摄影以及X射线透视之前，设定被检体的检查部位、X射线条件、SID、X射线检测放射剂量、视野尺寸等（步骤Sd1）。其中，被检体的检查部位、X射线条件、SID、X射线检测放射剂量、视野尺寸等的设定例如可以经由输入部25由操作者来输入。
通过将所设定的X射线条件、SID、X射线检测放射剂量、视野尺寸、附加滤波器的厚度（也包含附加滤波器的种类）作为输入值，执行规定的计算，来决定被检体厚度（步骤Sd2）。接着，读出第1仿真体的数据。根据X射线条件、被检体厚度、以及第1仿真体的数据，计算从X射线检测部5输出的第1信号值（步骤Sd3）。接着，读出第2仿真体的数据。根据X射线条件、被检体厚度、以及第2仿真体的数据，计算从X射线检测部5输出的第2信号值（步骤Sd4）。计算作为第2信号值相对于第1信号值之比的对比度值（步骤Sd5）。
接着，从存储部21读出对应表。使用检查部位、对比度值、被检体厚度、SID、所读出的对应表，从多个附加滤波器中确定至少一个附加滤波器（步骤Sd6）。控制X射线光阑部4，以便将所确定的附加滤波器配置在X射线放射窗的前面（步骤Sd7）。
根据以上所述的结构，能够得到以下的效果。
根据本实施方式中的本X射线诊断装置1，能够根据X射线条件、X射线检测放射剂量、视野尺寸、SID、附加滤波器的厚度（也包含附加滤波器的种类）来决定被检体厚度，并根据所决定的被检体厚度与X射线条件，计算对比度值。根据本X射线诊断装置1，能够根据对比度值、被检体厚度、SID、对应表，更精密地确定适合于X射线摄影以及X射线透视的附加滤波器。由此，在本X射线诊断装置1中能够最大限度地活用产生X射线的性能。并且，能够将对被检体的辐射量抑制在最小限度。另外，根据本X射线诊断装置1，由于考虑对比度值来确定附加滤波器，所以不会降低显示部23所显示的图像的质量地确定附加滤波器。
另外，根据本X射线诊断装置1，能够根据检查部位或者检查协议等读出附加滤波器的确定所使用的对应表。由此，能够根据对被检体的辐射量与画质的优先程度来确定附加滤波器。
综上所述，根据本实施方式中的本X射线诊断装置1，能够使用最适合于X射线条件、被检体厚度等的附加滤波器，能够提供与被检体的检查内容对应的最合适的图像。并且，能够缩短诊断时间、进行准确的诊断、降低辐射量等。
并且，实施方式所涉及的功能也能够通过将执行该处理的程序安装到工作站等计算机中，通过将它们在存储器上展开来实现。此时，能够使计算机执行该方法的程序可保存在磁盘（软盘（注册商标）、硬盘等）、光盘（CD-ROM、DVD等）、半导体存储器等存储介质中并发布。
虽然说明了本发明的几个实施方式，但这些实施方式是作为例子而提示的，并不意图限定本发明的范围。这些实施方式能够以其他的各种方式进行实施，在不脱离发明主旨的范围内，能够进行各种省略、置换、变更。这些实施方式或其变形与包含于发明的范围或主旨中一样，包含于权利要求书记载的发明及其等同的范围中。

Claims (8)

1.一种X射线诊断装置，其特征在于，具备：
X射线产生部，其产生X射线；
X射线检测部，其检测从上述X射线产生部产生并透过了被载置在顶板的被检体的X射线；
X射线光阑部，其具有将上述产生的X射线的线质硬化的多个滤波器；
滤波器确定部，其根据上述X射线产生部与上述X射线检测部的距离、上述被检体的厚度、和与由上述X射线产生部产生的X射线相关的X射线条件，从上述多个滤波器中确定至少一个滤波器；以及
X射线光阑控制部，其控制上述X射线光阑部，以便在上述X射线产生部与上述被检体之间配置上述确定出的滤波器。
2.根据权利要求1所述的X射线诊断装置，其特征在于，
上述X射线诊断装置还具备厚度决定部，该厚度决定部根据与上述X射线的产生相关的X射线条件、入射至上述X射线检测部的X射线的放射剂量、上述距离、以及上述滤波器的厚度，来决定上述被检体的厚度，
上述滤波器确定部根据上述距离和上述决定的厚度，从上述多个滤波器中确定至少一个滤波器。
3.根据权利要求1所述的X射线诊断装置，其特征在于，
上述X射线诊断装置还具备存储部，该存储部存储与上述被检体的厚度和上述距离对应的上述滤波器的对应表，
上述滤波器确定部根据上述被检体的厚度、上述距离、以及上述对应表，从上述多个滤波器中确定至少一个滤波器。
4.根据权利要求1所述的X射线诊断装置，其特征在于，
使用与上述X射线的产生相关的X射线条件和具有上述被检体的厚度的第1仿真体的数据，计算当以上述X射线条件产生的X射线透过了上述第1仿真体时从上述X射线检测部输出的第1信号值，
使用比上述被检体的厚度薄的具有规定的厚度、并与造影剂相关的第2仿真体的数据和与上述X射线的产生相关的X射线条件，计算当以上述X射线条件产生的X射线透过了上述第2仿真体时从上述X射线检测部输出的第2信号值，
上述X射线诊断装置还具备计算上述第1信号值与上述第2信号值之比的计算部，
上述滤波器确定部根据上述距离、上述被检体的厚度、以及上述比，从上述多个滤波器中确定至少一个滤波器。
5.根据权利要求4所述的X射线诊断装置，其特征在于，
上述X射线诊断装置还具备输入上述被检体的检查部位的输入部，
上述滤波器确定部根据上述检查部位、上述距离、上述被检体的厚度、以及上述比，从上述多个滤波器中确定至少一个滤波器。
6.根据权利要求1所述的X射线诊断装置，其特征在于，
上述X射线诊断装置还具备存储部，该存储部存储分别针对与上述X射线的产生相关的多个X射线条件中的每一个的、与上述被检体的厚度和上述距离对应的上述滤波器的厚度的对应表，
上述滤波器确定部根据与上述X射线条件对应的对应表、上述被检体的厚度、以及上述距离，从上述多个滤波器中确定至少一个滤波器。
7.根据权利要求1所述的X射线诊断装置，其特征在于，
上述X射线诊断装置还具备：存储部，其存储与上述被检体的厚度、上述距离、向上述被检体入射的放射剂量率的上限值对应的上述滤波器的对应表；和
输入部，其输入上述距离和上述上限值；
上述滤波器确定部根据上述被检体的厚度、上述距离、上述上限值、和上述对应表，从上述多个滤波器中确定至少一个滤波器。
8.一种X射线光阑控制方法，其特征在于，
根据产生X射线的X射线产生部与检测从上述X射线产生部产生的X射线的X射线检测部的距离、被检体的厚度、和与由上述X射线产生部产生的X射线相关的X射线条件，从将上述X射线的线质硬化的多个滤波器中确定至少一个滤波器，
在上述X射线产生部与上述被检体之间配置上述确定出的滤波器。
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