JP7374604B2

JP7374604B2 - Ｘ線診断装置

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Publication number: JP7374604B2
Application number: JP2019070829A
Authority: JP
Inventors: 拓也相田; 邦夫白石
Original assignee: Canon Medical Systems Corp
Current assignee: Canon Medical Systems Corp
Priority date: 2019-04-02
Filing date: 2019-04-02
Publication date: 2023-11-07
Anticipated expiration: 2039-04-02
Also published as: JP2020168145A

Description

本発明の実施形態は、Ｘ線診断装置に関する。

Ｘ線診断装置は、Ｘ線発生部に設けられ、Ｘ線照射領域の大きさ（以下、視野サイズと呼ぶ）を調整するＸ線絞りを有する。Ｘ線絞りは、厚みの異なる複数のフィルタ（以下、付加フィルタと呼ぶ）を有する。付加フィルタは、線質フィルタまたはビームスペクトグラムフィルタとも呼ばれる。付加フィルタのうち少なくとも１つが、Ｘ線管の焦点からＸ線検出器までの経路に挿入され、Ｘ線発生部におけるＸ線放射窓の前面に配置される。経路に挿入された付加フィルタは、付加フィルタを通過するＸ線の軟線を削減することにより、Ｘ線の線質を調整する。経路に挿入される付加フィルタは、Ｘ線管によるＸ線の照射の条件（以下、Ｘ線条件と呼ぶ）等により推定された被検体の厚み（以下、体厚と呼ぶ）、及び、線源受像面間距離（ＳｏｕｒｃｅＩｍａｇｅＤｉｓｔａｎｃｅ：以下、ＳＩＤと呼ぶ）に基づいて、自動的に選択される。

一方、Ｘ線検出器に設けられるＦＰＤ（Flat Panel Detector）の検出素子の各々の大きさ（以下、ＦＰＤ素子サイズと呼ぶ）、又は、視野サイズが変化すると、Ｘ線画像の画質を確保するために必要なＸ線の線量（以下、目標線量と呼ぶ）が変化する。目標線量の変化を考慮せずに付加フィルタを選択した場合、適切な付加フィルタが選択されない可能性がある。

特開２０１３－１１６１８４号公報

本発明が解決しようとする課題は、目標線量に応じて適切な付加フィルタを選択することである。

実施形態に係るＸ線診断装置は、Ｘ線を発生させるＸ線管と、前記Ｘ線管から発せられたＸ線を検出するＸ線検出器と、前記Ｘ線管から発せられたＸ線を減衰させるための複数のフィルタと、前記Ｘ線管におけるＸ線の焦点から前記Ｘ線検出器へのＸ線の経路に対して、前記複数のフィルタのうちの少なくとも１つを挿入するフィルタ駆動部と、前記Ｘ線検出器における画素の大きさ、前記Ｘ線検出器による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさ及びＸ線照射領域の大きさのうちの少なくとも一つと、被検体の体厚に関する情報と、に基づいて、前記複数のフィルタのうち前記経路に挿入されるフィルタを選択するフィルタ選択部と、を備える。

図１は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置の構成を例示する図である。図２は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置による透視実行処理の処理手順を例示するフローチャートである。図３は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置による撮像条件設定処理の処理手順を例示するフローチャートである。図４は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置によるフィルタ選択処理の処理手順を例示するフローチャートである。図５は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置によるフィルタ選択処理に用いられる、最大電力、被曝限度、ＳＩＤ、及び体厚と、使用される付加フィルタとの関係を示す対応表の一例を示す図である。図６は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置によるフィルタ選択処理に用いられる、最大電力、被曝限度、ＳＩＤ、及び体厚と、使用される付加フィルタとの関係を示す対応表の一例を示す図である。図７は、第２の実施形態に係るＸ線診断装置によるフィルタ選択処理の処理手順を例示するフローチャートである。図８は、第３の実施形態に係るＸ線診断装置によるフィルタ選択処理の処理手順を例示するフローチャートである。図９は、第４の実施形態に係るＸ線診断装置によるフィルタ選択処理の処理手順を例示するフローチャートである。図１０は、第５の実施形態に係るＸ線診断装置によるフィルタ選択処理の処理手順を例示するフローチャートである。図１１は、第６の実施形態に係るＸ線診断装置によるフィルタ選択処理の処理手順を例示するフローチャートである。図１２は、第７の実施形態に係るＸ線診断装置による撮像条件設定処理の処理手順を例示するフローチャートである。

以下、図面を参照しながら、Ｘ線診断装置の実施形態について詳細に説明する。以下の説明において、略同一の機能及び構成を有する構成要素については、同一符号を付し、重複説明は必要な場合にのみ行う。なお、以下の実施形態に係るＸ線診断装置は、例えば、単一モダリティ装置であってもよく、アンギオＣＴ装置等の複合モダリティ装置であってもよい。

（第１の実施形態）
図１は、第１の実施形態に係るＸ線診断装置１の構成例を示す図である。図１に示すように、Ｘ線診断装置１は、撮影装置１０、寝台装置３０及びコンソール装置４０を備えている。撮影装置１０は、高電圧発生装置１１、Ｘ線発生部１２、Ｘ線検出器１３、Ｃアーム１４、及びＣアーム駆動装置１４２を備えている。

高電圧発生装置１１は、Ｘ線管の陰極から発生する熱電子を加速するために、陽極と陰極の間に印加する高電圧を発生させてＸ線管へ出力する。

Ｘ線発生部１２は、被検体Ｐに対してＸ線を照射するＸ線管、照射Ｘ線量を減衰或いは低減させる機能を有する複数のフィルタ（以下、付加フィルタと呼ぶ）、及び、Ｘ線絞りを備えている。

Ｘ線管は、Ｘ線を発生させる真空管である。Ｘ線管は、管球と、管球に設けられたフィラメント（陰極）と、タングステン陽極とを備える。Ｘ線管は、フィラメントより放出された熱電子を高電圧によって加速させる。Ｘ線管は、この加速電子をタングステン陽極に衝突させることでＸ線を発生させる。

本実施形態では、発生するＸ線の焦点（実効焦点）の大きさ（以下、焦点サイズと呼ぶ）が異なる２つの種類のフィラメントが設けられている。後述する入力インターフェース４３での操作者による入力、又は、後述する処理回路４４による設定に応じて、２つのフィラメントの中から使用されるフィラメントが選択され、図示しない駆動装置の駆動により使用されるフィラメントが切り替えられる。そして、使用されるフィラメントが切り替えられることにより、小焦点と中焦点との間で焦点サイズが切り替えられる。中焦点は、小焦点よりも焦点サイズが大きい。小焦点は、例えば、０．２～０．４ｍｍの範囲内の値である。中焦点は、例えば、０．５～０．７ｍｍの範囲内の値である。小焦点は、第１の焦点サイズの一例である。中焦点は、第２の焦点サイズの一例である。

なお、本実施形態では、小焦点と中焦点との２種類の焦点サイズが焦点サイズの設定として設定可能であるが、３つ以上の焦点サイズが設定可能でもよい。この場合、設定可能な焦点サイズの数に対応する数のフィラメントが設けられる。

付加フィルタは、銅やアルミニウム等の金属板で構成される。付加フィルタは、Ｘ線管とＸ線絞りの間に挿入されることにより、Ｘ線発生部１２で発生された連続スペクトルＸ線の長波長成分（軟Ｘ線）を、付加フィルタの厚みに応じて除去する。付加フィルタの厚みは、例えば、０．１～５ｍｍの範囲内の値である。付加フィルタは、Ｘ線フィルタ、濾過板、ビームフィルタ、線質フィルタ、またはビームスペクトグラムフィルタとも呼ばれる。付加フィルタは、厚みに応じた長波長成分の除去により、Ｘ線発生部１２で発生されたＸ線の線質を硬化させる。また、付加フィルタは、Ｘ線診断にとって不必要なＸ線のエネルギー成分を除去することも可能である。これにより、付加フィルタは、Ｘ線発生部１２で発生されたＸ線の線質を調整する。

本実施形態では、４つの付加フィルタ（フィルタＡ～フィルタＤ）が設けられている。フィルタＡ～フィルタＤは、それぞれ異なる厚みを有する。このため、フィルタＡ～フィルタＤは、軟Ｘ線の除去率（以下、Ｘ線低減率と呼ぶ）が異なる。厚い付加フィルタ（厚みの大きい付加フィルタ）は、薄い付加フィルタ（厚みの小さい付加フィルタ）に比べて、Ｘ線の低減率が大きい。フィルタＡの厚みはフィルタＢの厚みよりも大きく、フィルタＢの厚みはフィルタＣの厚みよりも大きく、フィルタＣの厚みは、フィルタＤの厚みよりも大きい。このため、フィルタＡのＸ線低減率はフィルタＢのＸ線低減率よりも大きく、フィルタＢのＸ線低減率はフィルタＣのＸ線低減率よりも大きく、フィルタＣのＸ線低減率はフィルタＤのＸ線低減率よりも大きい。

駆動装置は、後述する入力インターフェース４３での操作者による入力、又は、後述する処理回路４４による設定に応じて、複数の付加フィルタの中から選択された付加フィルタをＸ線管とＸ線絞りの間に挿入する。また、Ｘ線管とＸ線絞りの間に挿入される付加フィルタが切り替えられることにより、付加フィルタの厚みが調整される。すなわち、駆動装置は、複数の付加フィルタのうちの少なくとも１つを、Ｘ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する。駆動装置は、フィルタ駆動部の一例である。

Ｘ線絞りは、Ｘ線管とＸ線検出器１３の間に位置し、金属板としての鉛板で構成される。Ｘ線絞りは、開口領域外のＸ線を遮蔽することにより、Ｘ線管が発生したＸ線を、被検体Ｐの関心領域にのみ照射されるように絞り込むことにより、Ｘ線照射領域（Ｘ線照射野）の大きさ（以下、視野サイズと呼ぶ）を調整する。例えば、Ｘ線絞りは４枚の絞り羽根を有し、これらの絞り羽根をスライドさせることで、Ｘ線の遮蔽される領域を任意のサイズに調節することにより、視野サイズを調整する。Ｘ線絞りの絞り羽根は、操作者が入力インターフェース４３から入力した関心領域に応じて、図示しない駆動装置により駆動される。

Ｘ線検出器１３は、Ｘ線管から発せられ被検体Ｐを透過したＸ線を検出する。このようなＸ線検出器１３としては、Ｘ線を直接電荷に変換するものと、光に変換した後、電荷に変換するものとが使用可能であり、ここでは前者を例に説明するが後者であっても構わない。すなわち、Ｘ線検出器１３は、例えば、被検体Ｐを透過したＸ線を電荷に変換して蓄積する平面状のＦＰＤ（Flat Panel Detector）と、このＦＰＤに蓄積された電荷を読み出すための駆動パルスを生成するゲートドライバとを備えている。ＦＰＤの大きさは、例えば８～１６インチの範囲内の値である。ＦＰＤは微小な検出素子を列方向及びライン方向に２次元的に配列して構成される。各々の検出素子はＸ線を感知し、入射Ｘ線量に応じて電荷を生成する光電膜と、この光電膜に発生した電荷を蓄積する電荷蓄積コンデンサと、電荷蓄積コンデンサに蓄積された電荷を所定のタイミングで出力するＴＦＴ（薄膜トランジスタ）を備えている。蓄積された電荷はゲートドライバが供給する駆動パルスによって順次読み出される。ＦＰＤの各々の検出素子（以下、ＦＰＤ検出素子と呼ぶ）の大きさ（以下、ＦＰＤ素子サイズと呼ぶ）は、例えば、１３０～２００μｍの範囲内の値である。但し、ＦＰＤ素子サイズは、この例に限らず、例えば、７６μｍ角の如き、微小サイズとしてもよい。

本実施形態では、Ｘ線検出器１３には、２種類のＦＰＤ（ＦＰＤ１～ＦＰＤ２）が設けられている。ＦＰＤ１及びＦＰＤ２は、検出素子の数（以下、ＦＰＤ素子数と呼ぶ）、ＦＰＤ素子サイズ、解像度、Ｘ線画像の画質を確保するために必要なＸ線の線量（以下、目標線量と呼ぶ）、及び対応する撮像モード等が異なる。本実施形態では、ＦＰＤ素子サイズは、ＦＰＤの１画素の大きさ（以下、ＦＰＤ画素サイズと呼ぶ）に相当する。ＦＰＤ画素サイズは、Ｘ線検出器１３における画素の大きさの一例である。後述する入力インターフェース４３での操作者による入力、又は、後述する処理回路４４による撮像モードの設定に応じて、２つのＦＰＤの中から使用されるＦＰＤが選択され、図示しない駆動装置の駆動により、使用されるＦＰＤが切り替えられる。使用されるＦＰＤが切り替えられることにより、ＦＰＤ素子数、ＦＰＤ素子サイズ、ＦＰＤ画素サイズ、解像度、及び目標線量が切り替えられる。なお、ＦＰＤ１の大きさとＦＰＤ２の大きさは、異なっていてもよく、同じであってもよい。また、ＦＰＤ１及びＦＰＤ２は、１つのシンチレータを共有していてもよい。

ＦＰＤ１は、通常モードの撮像モードに対応する。ＦＰＤ２は、通常モードよりも解像度の高い高精細モードの撮像モードに対応する。ＦＰＤ２は、ＦＰＤ１に比べて、ＦＰＤ素子数が大きく、ＦＰＤ画素サイズ、ＦＰＤ素子サイズが小さい。このため、ＦＰＤ２は、ＦＰＤ１に比べて、目標線量が大きい。通常モードは、第１の撮像モードの一例である。高精細モードは、第２の撮像モードの一例である。ＦＰＤ１のＦＰＤ画素サイズは、ＦＰＤ画素サイズの第１の大きさの一例である。ＦＰＤ２のＦＰＤ画素サイズは、ＦＰＤ画素サイズの第２の大きさの一例である。ＦＰＤ１のＦＰＤ素子サイズは、ＦＰＤ素子サイズの第１の大きさの一例である。ＦＰＤ２のＦＰＤ素子サイズは、ＦＰＤ素子サイズの第２の大きさの一例である。

Ｃアーム１４は、Ｘ線発生部１２とＸ線検出器１３とを被検体Ｐ及び天板３３を挟んで対向するように保持することで、天板３３上の被検体ＰのＸ線撮影を行うことができる構成を有する。Ｃアーム１４は、スライド可能、かつ、複数の回転軸のそれぞれを中心に回転可能に支持される。Ｃアーム１４は、スライド及び回転に係る動作を実現するための複数の動力源が該当する適当な箇所に備えられている。これらの動力源はＣアーム駆動装置１４２を構成する。Ｃアーム駆動装置１４２は、駆動制御機能４４４からの駆動信号を読み込んでＣアーム１４をスライド運動、回転運動、直線運動させる。

寝台装置３０は、被検体Ｐを載置、移動させる装置であり、基台３１と、寝台駆動装置３２と、天板３３と、支持フレーム３４とを備えている。

基台３１は、床面に設置され、支持フレーム３４を鉛直方向（Ｚ方向）に移動可能に支持する筐体である。

寝台駆動装置３２は、寝台装置３０の筐体内に収容され、被検体Ｐが載置された天板３３を天板３３の長手方向（Ｙ方向）に移動するモータあるいはアクチュエータである。寝台駆動装置３２は、駆動制御機能４４４からの駆動信号を読み込んで、天板３３を床面に対して水平方向や垂直方向に移動させる。Ｃアーム１４または天板３３が移動することにより、被検体Ｐに対する撮影軸の位置関係が変化する。なお、寝台駆動装置３２は、天板３３に加え、支持フレーム３４を天板３３の長手方向に移動してもよい。

天板３３は、支持フレーム３４の上面に設けられ、被検体Ｐが載置される板である。

支持フレーム３４は、基台３１の上部に設けられ、天板３３をその長手方向に沿ってスライド可能に支持する。

なお、寝台装置３０は、天板３３が支持フレーム３４に対して移動可能であってもよいし、天板３３と支持フレーム３４とが一緒に、基台３１に対して移動可能であってもよい。

コンソール装置４０は、メモリ４１、ディスプレイ４２、入力インターフェース４３及び処理回路４４を備えている。なお、コンソール装置４０は撮影装置１０とは別体として説明するが、撮影装置１０にコンソール装置４０又はコンソール装置４０の各構成要素の一部が含まれてもよい。コンソール装置４０は、例えば、医用画像処理装置に相当する。

なお、以下、コンソール装置４０は、単一のコンソールにて複数の機能を実行するものとして説明するが、複数の機能を別々のコンソールが実行することにしても構わない。例えば、後述の画像生成機能４４６等の処理回路４４の機能は、異なるコンソール装置に分散して搭載されても構わない。

メモリ４１は、種々の情報を記憶するＨＤＤ（ＨａｒｄＤｉｓｋＤｒｉｖｅ）やＳＳＤ（ＳｏｌｉｄＳｔａｔｅＤｒｉｖｅ）、集積回路等の記憶装置である。また、メモリ４１は、ＨＤＤやＳＳＤ等以外にも、ＣＤ（ＣｏｍｐａｃｔＤｉｓｃ）、ＤＶＤ（ＤｉｇｉｔａｌＶｅｒｓａｔｉｌｅＤｉｓｃ）、フラッシュメモリ等の可搬性記憶媒体であってもよい。なお、メモリ４１は、フラッシュメモリ、ＲＡＭ（Random Access Memory）等の半導体メモリ素子等との間で種々の情報を読み書きする駆動装置であってもよい。また、メモリ４１の保存領域は、Ｘ線診断装置１内にあってもよいし、ネットワークで接続された外部記憶装置内にあってもよい。

メモリ４１は、例えば、Ｘ線画像、処理回路４４によって実行されるプログラム、及び処理回路４４の処理に用いられる各種データ等を記憶する。メモリ４１は、記憶部の一例である。

ディスプレイ４２は、各種の情報を表示する。例えば、ディスプレイ４２は、処理回路４４によって生成された医用画像（Ｘ線画像）や、操作者からの各種操作を受け付けるためのＧＵＩ（ＧｒａｐｈｉｃａｌＵｓｅｒＩｎｔｅｒｆａｃｅ）等を出力する。例えば、ディスプレイ４２は、液晶ディスプレイやＣＲＴ（ＣａｔｈｏｄｅＲａｙＴｕｂｅ）ディスプレイである。また、ディスプレイ４２は、表示部の一例である。また、ディスプレイ４２は、撮影装置１０に設けられてもよい。また、ディスプレイ４２は、デスクトップ型でもよいし、コンソール装置４０本体と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしても構わない。

入力インターフェース４３は、操作者からの各種の入力操作を受け付け、受け付けた入力操作を電気信号に変換して処理回路４４に出力する。例えば、入力インターフェース４３は、被検体情報、撮像条件、各種コマンド信号の入力等を操作者から受け付ける。例えば、入力インターフェース４３は、Ｃアーム１４の移動指示、関心領域（ＲＯＩ）の設定、及び透視の実行等を行うためのトラックボール、マウスやキーボード、トラックボール、スイッチ、ボタン、ジョイスティック、操作面へ触れることで入力操作を行うタッチパッド、表示画面とタッチパッドとが一体化されたタッチパネルディスプレイ、及びフットスイッチ等により実現される。また、入力インターフェース４３は、入力部及び操作部の一例である。また、入力インターフェース４３は、撮影装置１０に設けられてもよい。また、入力インターフェース４３は、コンソール装置４０本体と無線通信可能なタブレット端末等で構成されることにしても構わない。なお、入力インターフェース４３はマウス、キーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、装置とは別体に設けられた外部の入力機器から入力操作に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を処理回路４４へ出力する電気信号の処理回路も入力インターフェース４３の例に含まれる。入力インターフェース４３は、Ｘ線管とＸ線検出器１３とを用いた動画の撮像を指示するための操作部の一例である。

処理回路４４は、Ｘ線診断装置１全体の動作を制御する。処理回路４４は、メモリ４１内のプログラムを呼び出し実行することにより、システム制御機能４４１、撮像条件設定機能４４２、フィルタ選択機能４４３、駆動制御機能４４４、Ｘ線制御機能４４５、画像生成機能４４６及び表示制御機能４４７を実行するプロセッサである。

なお、図１においては、単一の処理回路４４にてシステム制御機能４４１、撮像条件設定機能４４２、フィルタ選択機能４４３、駆動制御機能４４４、Ｘ線制御機能４４５、画像生成機能４４６及び表示制御機能４４７が実現されるものとして説明したが、複数の独立したプロセッサを組み合わせて処理回路を構成し、各プロセッサがプログラムを実行することにより各機能を実現するものとしても構わない。また、システム制御機能４４１、撮像条件設定機能４４２、フィルタ選択機能４４３、駆動制御機能４４４、Ｘ線制御機能４４５、画像生成機能４４６及び表示制御機能４４７は、それぞれシステム制御回路、撮像条件設定回路、フィルタ選択回路、駆動制御回路、Ｘ線制御回路、画像処理回路及び表示制御回路と呼んでもよく、個別のハードウェア回路として実装してもよい。

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）、或いは、ＡＳＩＣ、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple Programmable Logic Device：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex Programmable Logic Device：ＣＰＬＤ）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array：ＦＰＧＡ）等の回路を意味する。プロセッサは記憶回路に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、記憶回路にプログラムを保存する代わりに、プロセッサの回路内にプログラムを直接組み込むよう構成しても構わない。この場合、プロセッサは回路内に組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図１における複数の構成要素を１つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。

処理回路４４は、システム制御機能４４１により、入力インターフェース４３を介して操作者から受け付けた入力操作に基づいて、Ｘ線診断装置１における複数の構成要素各々を制御する。例えば、処理回路４４は、撮像条件に従って、撮影装置１０における各種構成要素を制御する。システム制御機能４４１を実現する処理回路４４は、システム制御部の一例である。

処理回路４４は、撮像条件設定機能４４２により、撮像の条件（以下、撮像条件と呼ぶ）を設定する。透視は、動画撮像の一例である。撮像条件設定機能４４２を実現する処理回路４４は、撮像条件設定部の一例である。

撮像条件は、Ｘ線管によるＸ線の照射の条件（以下、Ｘ線条件と呼ぶ）、ＡＧＣ（Auto Gain Control）の倍率（以下、ＡＧＣ倍率と呼ぶ）、使用される付加フィルタに関する情報（以下、フィルタ特定情報と呼ぶ）、検出器空間分解能、解像度、Ｘ線画像における１画素（１ピクセル）の大きさ（以下、画素サイズと呼ぶ）、ＦＰＤ画素サイズ、ＦＰＤ素子サイズ、ＦＰＤ素子数、複数のＦＰＤ検出素子をＦＰＤの１つの画素として扱う制御方法（以下、ビニング制御と呼ぶ）におけるＦＰＤの１画素に対応するＦＰＤ検出素子の数（以下、ビニング数と呼ぶ）、及び撮像モードのうち少なくとも１つを含む。フィルタ特定情報は、使用される付加フィルタの種類、及び使用される付加フィルタの厚み等のうち少なくとも１つを含む。撮像条件は、透視条件と称されてもよい。撮像条件設定機能４４２は、Ｘ線条件を決定するＸ線条件決定部の一例である。

Ｘ線条件は、例えば、管電流、管電圧、焦点サイズ、パルス幅、パルスレート（単位時間当たりのパルス数）、視野サイズ、線源受像面間距離（ＳｏｕｒｃｅＩｍａｇｅＤｉｓｔａｎｃｅ）：以下、ＳＩＤと呼ぶ）、及びＸ線曝射継続時間等のうち少なくとも１つを含む。

処理回路４４は、フィルタ選択機能４４３により、透視回数Ｎの透視におけるＦＰＤ素子サイズと、Ｘ線管の管球の定格等により規定されるＸ線の最大の出力（以下、最大電力と呼ぶ）と、単位時間あたりの被写体へのＸ線の入射線量の上限値（以下、被曝限度と呼ぶ）と、被検体の厚み（以下、体厚と呼ぶ）とに基づいて、複数の付加フィルタのうちＸ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する付加フィルタを選択する。最大電力は、Ｘ線管の出力上限と称されてもよい。体厚は、被検体情報の一例である。フィルタ選択機能４４３は、フィルタ選択部の一例である。

処理回路４４は、駆動制御機能４４４により、例えば、入力インターフェース４３から入力されたＣアーム１４や天板３３の駆動に関する情報に基づいて、Ｃアーム駆動装置１４２及び寝台駆動装置３２の制御を行う。駆動制御機能４４４を実現する処理回路４４は、駆動制御部の一例である。

処理回路４４は、Ｘ線制御機能４４５により、例えば、システム制御機能４４１からの情報を読み込んで、高電圧発生装置１１における管電流、管電圧、焦点サイズ、照射時間、パルス幅等のＸ線条件の制御を行う。なお、Ｘ線制御機能４４５は、撮像条件設定機能４４２により決定されたＸ線の焦点の大きさに基づいて、Ｘ線管の管球に設けられた複数のフィラメントから使用するフィラメントを選択する機能を含んでもよい。Ｘ線制御機能４４５を実現する処理回路４４は、Ｘ線制御部の一例である。

処理回路４４は、画像生成機能４４６により、例えば、Ｘ線検出器１３から出力されたデータに基づいてＸ線画像を生成する。このとき、処理回路４４は、ＡＧＣを行う。ＡＧＣは、生成されたＸ線画像の明るさを一定に保つため、生成されたＸ線画像の明るさを調整する制御である。補足すると、ＡＧＣは、被曝限度（Dose Limit）や管球出力の制限により検出器入射線量が確保できなかった場合に、Ｘ線画像の明るさを確保するために画像全体に掛けるデジタルゲインである。ＡＧＣ倍率は、ＡＧＣによる調整前のＸ線画像に対する調整後のＸ線画像の明るさの割合である。なお、処理回路４４は、生成されたＸ線画像に対して各種合成処理や減算（サブトラクション）処理等を行なってもよい。Ｘ線画像は、医用データの一例である。画像生成機能４４６を実現する処理回路４４は、画像生成部の一例である。

また、処理回路４４は、Ｘ線制御機能４４５及び画像生成機能４４６により、選択された撮像モードに応じて、使用するＦＰＤを切り替える。使用するＦＰＤが切り替えられることにより、ＦＰＤ画素サイズ及びＦＰＤ素子サイズが変化する。例えば、撮像モードとして通常モードが選択された場合、処理回路４４は、使用するＦＰＤをＦＰＤ１に切り替えるとともに、通常モードに対応するＸ線条件の制御及びＸ線画像の生成を行う。例えば、撮像モードとして高精細モードが選択された場合、処理回路４４は、使用するＦＰＤをＦＰＤ２に切り替えるとともに、高精細モードに対応するＸ線条件の制御及びＸ線画像の生成を行う。

処理回路４４は、表示制御機能４４７により、例えば、システム制御機能４４１からの信号を読み込んで、メモリ４１から所望のＸ線画像を取得してディスプレイ４２に表示する。表示制御機能４４７を実現する処理回路４４は、表示制御部の一例である。

次に、Ｘ線診断装置１により実行される透視実行処理の動作について説明する。透視実行処理とは、検査において、入力インターフェース４３での操作に応じて被検体の透視を実行する処理である。

なお、以下で説明する透視実行処理における処理手順は一例に過ぎず、各処理は可能な限り適宜変更可能である。また、以下で説明する処理手順について、実施の形態に応じて、適宜、ステップの省略、置換、及び追加が可能である。

図２は、本実施形態に係る透視実行処理の手順の一例を示すフローチャートである。処理回路４４は、例えば、入力インターフェース４３において検査を開始させる指示が入力されたことに基づいて、透視実行処理を開始する。

（透視実行処理）
（ステップＳ１０１）
処理回路４４は、撮像条件設定機能４４２を実行する。処理回路４４は、撮像条件設定機能４４２により、次に実行される透視における撮像条件を設定する処理（以下、撮像条件設定処理と呼ぶ）を行う。撮像条件設定処理の詳細については、後述する。

（ステップＳ１０２）
処理回路４４は、被検体の検査を終了させることを示す指示が入力されたか否かを判断する。このとき、処理回路４４は、例えば、入力インターフェース４３において被検体の検査を終了させる指示の入力を検出することにより、検査を終了させる指示が入力されたか否かを判断する。検査を終了させる指示が入力された場合（ステップＳ１０２－Ｙｅｓ）、処理回路４４は、当該透視実行処理を終了する。

検査を終了させる指示が入力されない場合（ステップＳ１０２－Ｎｏ）、処理はステップＳ１０３に進む。

（ステップＳ１０３）
処理回路４４は、操作者による入力インターフェース４３の操作に応じて、透視を実行させる指示が入力されたか否かを判断する。このとき、処理回路４４は、例えば、フットスイッチにおいて操作が行われているか否かを検出することにより、透視を実行させる指示が入力されたか否かを判断する。透視を実行（開始）させる指示が入力された場合（ステップＳ１０３－Ｙｅｓ）、処理はステップＳ１０４に進む。透視を実行（開始）させる指示が入力されない場合（ステップＳ１０３－Ｎｏ）、処理はステップＳ１０２に戻り、処理回路４４は、検査を終了させる指示が入力されるか、又は、透視を実行（開始）させる指示が入力されるまで、待機する。

（ステップＳ１０４）
処理回路４４は、システム制御機能４４１と、駆動制御機能４４４と、Ｘ線制御機能４４５と、画像生成機能４４６とを実行することにより、撮影装置１０を用いて透視を実行する。

１回の透視の実行中において、処理回路４４は、画像生成機能４４６により、時系列に沿ったフレームである複数のＸ線画像を生成し、画像生成機能４４６により、生成されたＸ線画像をメモリ４１に記憶する。そして、処理回路４４は、表示制御機能４４７により、生成された複数のＸ線画像によって生成されるＸ線動画をディスプレイ４２に表示させる。このとき、処理回路４４は、画像生成機能４４６により、ＡＧＣを実行する。

また、処理回路４４は、システム制御機能４４１及びＸ線制御機能４４５により、透視の実行中において、前のフレームにおけるＸ線検出器１３の出力に基づいて後のフレームにおけるＸ線条件を設定する制御を行う。すなわち、処理回路４４は、１回の透視の実行中において、被写体条件の変化に基づいてＸ線条件等を変更するフィードバック制御を行う。例えば、フィードバック制御では、処理回路４４は、１回の透視の実行中において被検体が載置された天板３３を移動させる操作により体厚又は被検体の内部組織の構造等が変化した際に、前のフレームにおいて生成されたＸ線画像の明るさ、コントラスト等を検出し、後のフレームにおいて表示されるＸ線画像の明るさ、コントラスト等が所定の条件を満たすように、管電圧、管電流、パルス幅、及びＡＧＣ倍率のうち少なくとも一つを制御する。フィードバック制御により、１回の透視の実行中に被写体条件が変化しても、適切な管電圧、管電流、パルス幅、及びＡＧＣ倍率が選択される。したがって、透視の終了時には、管電圧、管電流、パルス幅、及びＡＧＣ倍率のうち少なくとも一つが、被写体条件の変化に応じて適切に制御された状態となる。また、１回の透視において最後に生成されるＸ線画像は、明るさ、コントラスト等が所定の条件を満たすように調整された状態となる。

（ステップＳ１０５）
処理回路４４は、透視を終了させる指示が入力されたか否かを判断する。このとき、処理回路４４は、例えば、フットスイッチにおいて操作者による操作が行われているか否かを検出することにより、透視を終了させる指示が入力されたか否かを判断する。透視を終了させる指示が入力された場合（ステップＳ１０５－Ｙｅｓ）、処理はステップＳ１０６に進む。処理回路４４は、透視を終了させる指示が入力されるまで、ステップＳ１０４の処理による透視の実行を継続する。

（ステップＳ１０６）
処理回路４４は、システム制御機能４４１と、駆動制御機能４４４と、Ｘ線制御機能４４５と、画像生成機能４４６とを実行することにより、Ｘ線撮影による透視を終了する。
Ｘ線撮影による透視が終了すると、処理はステップＳ１０１に戻る。

処理回路４４は、Ｘ線撮影による透視が終了したことに基づいて、撮像条件設定処理を実行することにより、次に実行される透視における撮像条件を設定する。具体的には、処理回路４４は、第１の動画撮像が終了したことに基づいて、第２の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定し、第２の動画撮像が終了したことに基づいて、第３の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定する。また、処理回路４４は、Ｓ１０１の処理により次に実行される透視における撮像条件を設定した後、ステップＳ１０２の処理により検査を終了させることを示す指示が入力されたか否かを判断する。したがって、検査が終了されることにより、次の透視が実行されない場合であっても、次の透視における撮像条件が設定される。

上述したように、透視実行処理において、処理回路４４は、入力インターフェース４３において透視を実行させる指示が入力されると、透視を開始する。処理回路４４は、入力インターフェース４３において透視を実行させる指示が解除されると、透視を終了する。そして、処理回路４４は、入力インターフェース４３において、透視を実行させる指示が再び入力されると、次の透視を実行する。１回の透視の実行中において、処理回路４４は、被写体条件の変化に基づいて、Ｘ線画像の画質が適切に確保されるように撮像条件を制御する。

（撮像条件設定処理）
次に、Ｘ線診断装置１により実行される撮像条件設定処理の動作について説明する。なお、以下で説明する撮像条件設定処理における処理手順は一例に過ぎず、各処理は可能な限り適宜変更可能である。また、以下で説明する処理手順について、実施の形態に応じて、適宜、ステップの省略、置換、及び追加が可能である。図３は、本実施形態に係る撮像条件設定処理の手順の一例を示すフローチャートであり、図２に示したステップＳ１０１の撮像条件設定処理に対応している。

（ステップＳ１１１）
処理回路４４は、次に実行される透視について、検査開始後の何回目の透視であるかを示す数（以下、透視回数と呼ぶ）を取得する。処理回路４４は、例えば、検査におけるこれまでの透視の実行回数を取得することにより、次の透視の透視回数を決定する。例えば、検査開始後においてこれまでに透視が行われていない場合、処理回路４４は、次の透視が検査開始後の初めての透視であると判断し、透視回数を１に決定する。また、検査開始後においてこれまでに１回の透視が行われている場合、処理回路４４は、次の透視が検査開始後の２回目の透視であると判断し、透視回数を２に決定する。以下、一例として、透視回数がＮの場合の処理について説明する。

（ステップＳ１１２）
処理回路４４は、次の透視の透視回数Ｎが１であるか否かを判断する。処理回路４４は、次の透視の透視回数Ｎが１であるか否かを判断することにより、次に実行される透視が検査開始後に初めて実行される透視であるか、あるいは、検査開始後の２回目以降の透視であるかを判断する。透視回数Ｎが１である場合（ステップＳ１１２－Ｙｅｓ）、次に実行される透視が検査開始後の初めての透視であると判断され、処理はステップＳ１１３に進む。透視回数Ｎが１でない場合（ステップＳ１１２－Ｙｅｓ）、すなわち、透視回数Ｎが２以上である場合、次に実行される透視が検査開始後の２回目以降の透視であると判断され、処理はステップＳ１１４に進む。

（ステップＳ１１３）
処理回路４４は、撮像条件設定機能４４２及びフィルタ選択機能４４３により、透視回数１の透視における撮像条件を既定の条件に設定する。このとき、処理回路４４は、例えば、撮像条件設定機能４４２により、焦点サイズを小焦点に設定し、フィルタ選択機能４４３により、使用される付加フィルタをフィルタＤに決定する。そして、処理回路４４は、撮像条件設定機能４４２により、小焦点及びフィルタＤに対応する既定の撮像条件をメモリ４１から取得し、取得した撮像条件を、透視回数Ｎの透視における撮像条件、すなわち、次に実行される透視における撮像条件として設定する。そして、処理回路４４は、撮像条件設定処理を終了し、処理はステップＳ１０３に進む。

（ステップＳ１１４）
処理回路４４は、透視回数Ｎが２以上である場合に、フィルタ選択機能４４３により、透視回数Ｎの透視において使用する付加フィルタを選択する処理（以下、フィルタ選択処理と呼ぶ）を実行する。

（ステップＳ１１５）
処理回路４４は、ステップＳ１１４の処理により決定された付加フィルタに対応する撮像条件をメモリ４１から取得し、取得した撮像条件を、透視回数Ｎの透視における撮像条件、すなわち、次に実行される透視における撮像条件として設定する。そして、処理回路４４は、撮像条件設定処理を終了し、処理はステップＳ１０３に進む。

（フィルタ選択処理）
以下、Ｘ線診断装置１により実行されるフィルタ選択処理の動作について説明する。なお、以下で説明するフィルタ選択処理における処理手順は一例に過ぎず、各処理は可能な限り適宜変更可能である。また、以下で説明する処理手順について、実施の形態に応じて、適宜、ステップの省略、置換、及び追加が可能である。図４は、本実施形態に係るフィルタ選択処理の手順の一例を示すフローチャートであり、図３に示したステップＳ１１４のフィルタ選択処理に対応している。

（ステップＳ１２１）
処理回路４４は、透視回数Ｎ－１の透視における撮像条件を取得する。処理回路４４は、例えば、メモリ４１に記憶されている透視回数Ｎ－１の透視における撮像条件を読み出すことにより、透視回数Ｎ－１の透視における撮像条件を取得する。処理回路４４は、透視回数Ｎ－１の透視における撮像条件を取得することにより、検査開始後に実行された透視のうち、直前に実行された透視における撮像条件を取得する。処理回路４４は、透視回数Ｎ－１の透視における撮像条件として、例えば、焦点サイズ、フィルタ特定情報、管電圧、管電流、パルス幅及びＡＧＣ倍率を取得する。前述のように、透視の実行中には、被写体条件の変化に基づいてＸ線条件等を変更するフィードバック制御が行われ、透視の終了時には、管電圧、管電流、パルス幅、及びＡＧＣ倍率のうちの少なくとも一つが被写体条件の変化に応じて適切に制御された状態となる。したがって、直前に実行された透視における撮像条件を取得することにより、被写体条件の変化に応じて適切に制御された撮像条件を取得することができる。なお、直前に実行された透視において生成されたＸ線画像に基づく演算処理により、被写体条件の変化に応じてさらに適切に制御された撮像条件を算出し、算出した撮像条件を、直前に実行された透視における撮像条件として取得してもよい。

（ステップＳ１２２）
処理回路４４は、透視回数Ｎ－１の透視における撮像条件に基づいて、透視回数Ｎ－１の透視における体厚を決定する。具体的には、処理回路４４は、透視回数Ｎ－１の透視の終了時におけるフィルタ特定情報、管電圧、管電流、パルス幅及びＡＧＣ倍率に基づいて、メモリ４１に予め記憶された対応表、又は既知の計算方法により、透視回数Ｎ－１の透視における体厚の推定値を算出する。透視回数Ｎ－１の透視の終了時における体厚は、透視回数Ｎの透視の開始時における体厚と同じであるとする。透視回数Ｎ－１の透視の終了時における体厚は、前述のフィードバック制御により被写体条件の変化に応じて適切に調整されたＸ線条件に基づいて算出された、被検体の体厚の推定値である。なお、処理回路４４は、例えば、入力インターフェース４３において体厚を入力する操作入力を検出することにより、体厚を取得してもよい。フィードバック制御により調整されたＸ線条件に基づいて算出された被検体の体厚の推定値は、体厚に関する情報の一例である。

（ステップＳ１２３）
処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における撮像モード、最大電力、被曝限度、体厚、及びＳＩＤを取得する。この際、処理回路４４は、例えば、メモリ４１から、透視回数Ｎの透視における撮像モード、最大電力、被曝限度、体厚、及びＳＩＤを読み出す。

また、処理回路４４は、例えば、入力インターフェース４３として使用されるディスプレイ４２での操作入力を検出することにより、透視回数Ｎの透視におけるＦＰＤ素子サイズを取得する。例えば、撮像モードが通常モードである場合、処理回路４４は、透視回数Ｎの透視におけるＦＰＤ素子サイズとして、ＦＰＤ１の検出素子の素子サイズを取得する。また、撮像モードが高精細モードである場合、処理回路４４は、透視回数Ｎの透視におけるＦＰＤ素子サイズとして、ＦＰＤ２の検出素子の素子サイズを取得する。

（ステップＳ１２４）
処理回路４４は、ステップＳ１２３の処理において取得した透視回数Ｎの透視におけるＦＰＤ素子サイズに基づいて、メモリ４１に記憶された複数の対応表（テーブル）から対応する対応表を読み出す。

図５及び図６は、ステップＳ１２４において付加フィルタを決定する処理に用いられる対応表（テーブル）の一例を示す図である。図５は、撮像モードが通常モードの場合に用いられる対応表の一例である。図６は、撮像モードが高精細モードの場合に用いられる対応表の一例である。図５及び図６のそれぞれは、最大電力、被曝限度、ＳＩＤ、及び体厚と、使用される付加フィルタとの関係を示している。例えば図５は、同一の最大電力において、被曝限度、ＳＩＤ及び体厚が大きいほど、薄い付加フィルタが使用される関係を示している（但し、付加フィルタ厚：Ａ＞Ｂ＞Ｃ＞Ｄ）。この関係は、体厚が２５ｃｍを超えた場合に、顕著に出現する。図６も同様の関係を示している。処理回路４４は、撮像モードが通常モードの場合、すなわち、透視回数Ｎの透視におけるＦＰＤ素子サイズがＦＰＤ１の検出素子の素子サイズである場合、図５の対応表を読み出す。処理回路４４は、撮像モードが高解像モードの場合、すなわち、透視回数Ｎの透視におけるＦＰＤ素子サイズがＦＰＤ２の検出素子の素子サイズである場合、図６の対応表を読み出す。

（ステップＳ１２５）
処理回路４４は、ステップＳ１２４の処理において読み出した対応表と、透視回数Ｎの透視における最大電力、被曝限度、ＳＩＤ、及び体厚とに基づいて、フィルタＡ～フィルタＤの中から、透視回数Ｎの透視において使用する付加フィルタを決定する。処理回路４４は、決定した付加フィルタに関するフィルタ特定情報を、メモリ４１に記憶する。

ステップＳ１２４及びステップＳ１２５の処理では、処理回路４４は、ＦＰＤ素子サイズが大きい場合、ＦＰＤ素子サイズが小さい場合に選択される付加フィルタの厚み以上の厚みを有する付加フィルタを選択する。例えば、処理回路４４は、ＦＰＤ素子サイズが第１の大きさである場合、第１の厚みを有する第１のフィルタを選択し、ＦＰＤ素子サイズが第１の大きさよりも大きい第２の大きさである場合、第１の厚みよりも大きい第２の厚みを有する第２のフィルタを選択する。補足すると、この例では、ＦＰＤ素子サイズが大きいか否かは、ＦＰＤ素子サイズが第１の大きさ及び第２の大きさのうち、第２の大きさであるか否かに対応する。言い換えると、この例では、ＦＰＤ素子サイズが大きい場合とは、ＦＰＤ素子サイズが第１の大きさ及び第２の大きさのうちの第２の大きさであるときに対応する。但し、これに限らず、第１の大きさと第２の大きさとの間の大きさの基準値を用い、ＦＰＤ素子サイズが基準値以上であるか否かに応じて、ＦＰＤ素子サイズが大きいか否かを判定してもよい。ＦＰＤ画素サイズが大きいか否かについても同様である。また、ＦＰＤ素子サイズ（ＦＰＤ画素サイズ）が小さい場合は、同様に、ＦＰＤ素子サイズが第１の大きさ及び第２の大きさのうち、第１の大きさであるときに対応する。これに限らず、基準値との大小関係を用いてＦＰＤ素子サイズ（ＦＰＤ画素サイズ）が小さい場合を定めてもよいことも同様である。

また、処理回路４４は、ＦＰＤ素子サイズに基づいて、ＦＰＤ画素サイズを取得してもよい。この場合、処理回路４４は、ＦＰＤ画素サイズが大きい場合、ＦＰＤ画素サイズが小さい場合に選択される付加フィルタの厚み以上の厚みを有する付加フィルタを選択する。例えば、処理回路４４は、ＦＰＤ画素サイズが第１の大きさである場合、第１の厚みを有する第１のフィルタを選択し、ＦＰＤ画素サイズが第１の大きさよりも大きい第２の大きさである場合、第１の厚みよりも大きい第２の厚みを有する第２のフィルタを選択する。

また、処理回路４４は、撮像モードが通常モードである場合、撮像モードが高精細モードである場合に選択される付加フィルタの厚み以上の厚みを有する付加フィルタを選択する。また、処理回路４４は、最大電力が大きい場合、最大電力が小さい場合に選択される付加フィルタの厚み以上の厚みを有する付加フィルタを選択する。また、処理回路４４は、被曝限度が小さい場合、被曝限度が大きい場合に選択される付加フィルタの厚み以上の厚みを有する付加フィルタを選択する。また、処理回路４４は、ＳＩＤが小さい場合、ＳＩＤが大きい場合に選択される付加フィルタの厚み以上の厚みを有する付加フィルタを選択する。また、処理回路４４は、体厚が小さい場合、体厚が大きい場合に選択される付加フィルタの厚み以上の厚みを有する付加フィルタを選択する。

以下、本実施形態に係るＸ線診断装置１の効果について説明する。

本実施形態のＸ線診断装置１は、Ｘ線検出器１３における画素の大きさと、被検体の体厚に関する情報と、に基づいて、複数のフィルタのうちＸ線管の焦点からＸ線検出器１３へのＸ線の経路に挿入されるフィルタを選択する。

詳しくは、本実施形態のＸ線診断装置１は、次の透視におけるＦＰＤ素子サイズと、体厚とに基づいて、Ｘ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する付加フィルタを複数の付加フィルタの中から選択する。また、本実施形態のＸ線診断装置１は、次の透視におけるＦＰＤ画素サイズと、体厚とに基づいて、Ｘ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する付加フィルタを複数の付加フィルタの中から選択する。

また、本実施形態のＸ線診断装置１は、検出素子の大きさに基づいて、Ｘ線検出器１３における画素の大きさを取得し、Ｘ線検出器１３における画素の大きさと被検体の体厚に関する情報とに基づいて、Ｘ線検出器１３における画素の大きさが大きい場合に、Ｘ線検出器１３における画素の大きさが小さい場合に選択されるフィルタの厚み以上の厚みを有するフィルタを、Ｘ線管の焦点からＸ線検出器１３へのＸ線の経路に挿入されるフィルタとして選択する。

要約すると、本実施形態のＸ線診断装置１は、ＦＰＤ素子サイズが大きい場合に、ＦＰＤ素子サイズが小さい場合に比べて、厚みの大きい付加フィルタを選択する。また、本実施形態のＸ線診断装置１は、ＦＰＤ画素サイズが大きい場合に、ＦＰＤ画素サイズが小さい場合に比べて、厚みの大きい付加フィルタを選択する。

すなわち、上記の構成及び動作により、本実施形態のＸ線診断装置１によれば、体厚に加えて、ＦＰＤ素子サイズを考慮することにより、目標線量の変化を考慮して、適切な付加フィルタを選択することができる。

例えば、ＦＰＤ素子サイズが大きい場合、ＦＰＤ素子サイズが小さい場合に比べて、ＦＰＤ画素サイズが大きくなり、目標線量が小さくなる。このため、ＦＰＤ素子サイズが大きい場合、厚みの大きい付加フィルタを使用した場合でも、目標線量を確保しやすい。本実施形態のＸ線診断装置１によれば、ＦＰＤ素子サイズが大きい場合、ＦＰＤ素子サイズが小さい場合に比べて、厚みの大きい付加フィルタが選択される。このため、目標線量を確保しやすい場合において、Ｘ線の低減率が大きい付加フィルタが選択されることにより、Ｘ線画像の画質を確保し、かつ、被検体の被曝線量を低減することができる。

また、例えば、ＦＰＤ素子サイズが小さい場合、ＦＰＤ素子サイズが大きい場合に比べて、ＦＰＤ画素サイズが小さくなり、目標線量が大きくなる。このため、ＦＰＤ素子サイズが小さい場合、厚みの小さい付加フィルタを使用した場合には、目標線量を確保しにくい。本実施形態のＸ線診断装置１によれば、ＦＰＤ素子サイズが小さい場合、ＦＰＤ画素サイズが大きい場合に比べて、厚みの小さい付加フィルタが選択される。このため、目標線量を確保しにくい場合において、Ｘ線の低減率が小さい付加フィルタが選択されることにより、目標線量に応じた適切な付加フィルタを選択することができる。

また、本実施形態のＸ線診断装置１は、Ｘ線検出器１３における画素の大きさと、被検体の体厚に関する情報と、Ｘ線管の最大の出力、単位時間あたりの被写体へのＸ線の入射線量の上限値、及び線源受像面間距離のうち少なくとも１つと、に基づいて、複数のフィルタのうちＸ線管の焦点からＸ線検出器１３へのＸ線の経路に挿入されるフィルタを選択する。

要約すると、本実施形態のＸ線診断装置１は、ＦＰＤ画素サイズと体厚に加えて、最大電力、被曝限度、及びＳＩＤのうち少なくとも１つに基づいて、Ｘ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する付加フィルタを複数の付加フィルタの中から選択することにより、より適切な付加フィルタを選択することができる。

（第２の実施形態）
第２の実施形態について説明する。本実施形態は、第１の実施形態の構成を以下の通りに変形したものである。本実施形態では、処理回路４４は、ＦＰＤ素子サイズの代わりに、ビニング数に基づいて、次の透視において使用する付加フィルタを決定する。ビニング数は、複数のＦＰＤ検出素子をＦＰＤの１画素として扱う制御方法（ビニング制御）における、ＦＰＤの１画素に対応するＦＰＤ検出素子の数である。第１の実施形態と同様の構成、動作、及び効果については、説明を省略する。

Ｘ線検出器１３には、１種類のＦＰＤが設けられている。

処理回路４４は、フィルタ選択機能４４３により、透視回数Ｎの透視におけるビニング数と、最大電力と、被曝限度と、体厚とに基づいて、複数の付加フィルタのうちＸ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する付加フィルタを選択する。ここで、ＦＰＤ画素サイズは、ビニング数の変化に応じて変化する。すなわち、処理回路４４は、フィルタ選択機能４４３により、透視回数Ｎの透視におけるＦＰＤ画素サイズと、最大電力と、被曝限度と、体厚とに基づいて、複数の付加フィルタのうちＸ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する付加フィルタを選択する。

処理回路４４は、Ｘ線制御機能４４５及び画像生成機能４４６により、ビニング数を制御することにより、選択された撮像モードに応じてＦＰＤ画素サイズを切り替える。例えば、撮像モードとして通常モードが選択された場合、処理回路４４は、ビニング数を４に制御し、ＦＰＤ画素サイズをＦＰＤの検出素子の４つ分に制御する。この場合、処理回路４４は、４つのＦＰＤの検出素子をＦＰＤの１画素とし、４つの検出素子からの出力を１つに束ねて、ＦＰＤの１画素に対応する出力として読み出す。また、例えば、撮像モードとして高精細モードが選択された場合、処理回路４４は、ビニング数を１に制御し、ＦＰＤ画素サイズをＦＰＤの検出素子の１つ分に制御する。この場合、処理回路４４は、１つのＦＰＤの検出素子をＦＰＤの１画素とし、ＦＰＤの検出素子のそれぞれの出力を、ＦＰＤにおける１画素に対応する出力として読み出す。

他の構成は、第１の実施形態と同じである。

以下、Ｘ線診断装置１により実行されるフィルタ選択処理の動作について説明する。図７は、本実施形態に係るＸ線診断装置１により実行されるフィルタ選択処理の手順の一例を示すフローチャートであり、図３に示したステップＳ１１４のフィルタ選択処理に対応している。図７におけるステップＳ１３１～ステップＳ１３２の処理は、それぞれ、第１の実施形態におけるステップＳ１２１～ステップＳ１２２の処理と同様のため、説明を省略する。

（フィルタ選択処理）
（ステップＳ１３３）
処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における撮像条件を取得する。処理回路４４は、例えば、メモリ４１から透視回数Ｎの透視における撮像条件を読み出す。処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における撮像条件を取得することにより、次の透視における撮像条件を取得する。処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における撮像条件として、例えば、ビニング数、最大電力、被曝限度、体厚、及びＳＩＤを取得する。

（ステップＳ１３４）
処理回路４４は、ステップＳ１３３の処理において取得した透視回数Ｎの透視におけるビニング数に基づいて、メモリ４１に記憶された複数の対応表（テーブル）から対応する対応表を読み出す。例えば、ビニング数が４である場合、図５の対応表が選択される。また、例えば、ビニング数が１である場合、図６の対応表が選択される。

（ステップＳ１３５）
処理回路４４は、ステップＳ１３４の処理において読み出した対応表と、透視回数Ｎの透視における最大電力、被曝限度、ＳＩＤ、及び体厚とに基づいて、フィルタＡ～フィルタＤの中から、透視回数Ｎの透視において使用する付加フィルタを決定する。

ステップＳ１３４及びステップＳ１３５の処理では、処理回路４４は、ビニング数が大きい場合、ビニング数が小さい場合に選択される付加フィルタの厚み以上の厚みを有する付加フィルタを選択する。すなわち、処理回路４４は、ＦＰＤ画素サイズが大きい場合、ＦＰＤ画素サイズが小さい場合に選択される付加フィルタの厚み以上の厚みを有する付加フィルタを選択する。例えば、処理回路４４は、ビニング数が第１の大きさである場合、第１の厚みを有する第１のフィルタを選択し、ビニング数が第１の大きさよりも大きい第２の大きさである場合、第１の厚みよりも大きい第２の厚みを有する第２のフィルタを選択する。また、処理回路４４は、ビニング数に基づいて、ＦＰＤ画素サイズを取得してもよい。この場合、処理回路４４は、ＦＰＤ画素サイズが大きい場合、ＦＰＤ画素サイズが小さい場合に選択される付加フィルタの厚み以上の厚みを有する付加フィルタを選択する。例えば、処理回路４４は、ＦＰＤ画素サイズが第１の大きさである場合、第１の厚みを有する第１のフィルタを選択し、ＦＰＤ画素サイズが第１の大きさよりも大きい第２の大きさである場合、第１の厚みよりも大きい第２の厚みを有する第２のフィルタを選択する。その他の処理は、第１の実施形態のステップＳ１２４及びステップＳ１２５の処理と同じであるため、説明を省略する。

本実施形態のＸ線診断装置１は、Ｘ線検出器１３の１画素に対応する検出素子の数に基づいて、Ｘ線検出器１３における画素の大きさを取得し、Ｘ線検出器１３における画素の大きさと被検体の体厚に関する情報とに基づいて、Ｘ線検出器１３における画素の大きさが大きい場合に、Ｘ線検出器１３における画素の大きさが小さい場合に選択されるフィルタの厚み以上の厚みを有するフィルタを、Ｘ線管の焦点からＸ線検出器１３へのＸ線の経路に挿入されるフィルタとして選択する。

要約すると、本実施形態のＸ線診断装置１は、ビニング数と、体厚とに基づいて、Ｘ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する付加フィルタを複数の付加フィルタの中から選択する。また、本実施形態のＸ線診断装置１は、ビニング数が大きい場合に、ビニング数が小さい場合に比べて、厚みの大きい付加フィルタを選択する。

ビニング数が異なる場合、ＦＰＤ画素サイズが異なるため、目標線量が異なり、適切な付加フィルタが異なる。上記の構成及び動作により、本実施形態のＸ線診断装置１によれば、体厚に加えて、ビニング数を考慮することにより、目標線量の変化を考慮して、適切な付加フィルタを選択することができる。

例えば、ビニング数が大きい場合、ビニング数が小さい場合に比べて、ＦＰＤ画素サイズが大きくなり、目標線量が小さくなる。このため、ビニング数が大きい場合、厚みの大きい付加フィルタを使用した場合でも、目標線量を確保しやすい。本実施形態のＸ線診断装置１によれば、ビニング数が大きい場合、ビニング数が小さい場合に比べて、厚みの大きい付加フィルタが選択される。このため、目標線量を確保しやすい場合において、Ｘ線の低減率が大きい付加フィルタが選択されることにより、Ｘ線画像の画質を確保し、かつ、被検体の被曝線量を低減することができる。

また、例えば、ビニング数が小さい場合、ビニング数が大きい場合に比べて、ＦＰＤ画素サイズが小さくなり、目標線量が大きくなる。このため、ビニング数が小さい場合、厚みの小さい付加フィルタを使用した場合には、目標線量を確保しにくい。本実施形態のＸ線診断装置１によれば、ＦＰＤ画素サイズが小さい場合、ＦＰＤ画素サイズが大きい場合に比べて、厚みの小さい付加フィルタが選択される。このため、目標線量を確保しにくい場合において、Ｘ線の低減率が小さい付加フィルタが選択されることにより、目標線量に応じた適切な付加フィルタを選択することができる。

（第３の実施形態）
第３の実施形態について説明する。本実施形態は、第１の実施形態の構成を以下の通りに変形したものである。本実施形態では、処理回路４４は、ＦＰＤ素子サイズの代わりに、Ｘ線検出器１３による出力に基づくＸ線画像における画素サイズに基づいて、次の透視において使用する付加フィルタを決定する。第１の実施形態と同様の構成、動作、及び効果については、説明を省略する。

Ｘ線検出器１３には、１種類のＦＰＤが設けられている。

処理回路４４は、フィルタ選択機能４４３により、透視回数Ｎの透視における画素サイズと、最大電力と、被曝限度と、体厚とに基づいて、複数の付加フィルタのうちＸ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する付加フィルタを選択する。

処理回路４４は、Ｘ線制御機能４４５及び画像生成機能４４６により、選択された撮像モードに応じて、画素サイズを切り替える。例えば、撮像モードとして通常モードが選択された場合、処理回路４４は、画素サイズをＦＰＤの画素の４つ分に制御する。この場合、処理回路４４は、４つのＦＰＤの画素からの出力を１つに束ねて、Ｘ線画像の１画素に対応する出力として読み出す。また、例えば、撮像モードとして高精細モードが選択された場合、処理回路４４は、画素サイズをＦＰＤの画素の１つ分に制御する。この場合、処理回路４４は、ＦＰＤの画素のそれぞれの出力を、Ｘ線画像における１画素に対応する出力として読み出す。ＦＰＤの画素の１つ分の画素サイズは、画素サイズの第１の大きさの一例である。ＦＰＤの画素の４つ分の画素サイズは、画素サイズの第２の大きさの一例である。

他の構成は、第１の実施形態と同じである。

以下、Ｘ線診断装置１により実行されるフィルタ選択処理の動作について説明する。図８は、本実施形態に係るＸ線診断装置１により実行されるフィルタ選択処理の手順の一例を示すフローチャートであり、図３に示したステップＳ１１４のフィルタ選択処理に対応している。図８におけるステップＳ１４１～ステップＳ１４２の処理は、それぞれ、第１の実施形態におけるステップＳ１２１～ステップＳ１２２の処理と同様のため、説明を省略する。

（フィルタ選択処理）
（ステップＳ１４３）
処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における撮像条件を取得する。処理回路４４は、例えば、メモリ４１から透視回数Ｎの透視における撮像条件を読み出す。処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における撮像条件を取得することにより、次の透視における撮像条件を取得する。処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における撮像条件として、例えば、画素サイズ、最大電力、被曝限度、体厚、及びＳＩＤを取得する。

（ステップＳ１４４）
処理回路４４は、ステップＳ１４３の処理において取得した透視回数Ｎの透視における画素サイズに基づいて、メモリ４１に記憶された複数の対応表（テーブル）から対応する対応表を読み出す。例えば、画素サイズがＦＰＤの画素の４つ分である場合、図５の対応表が選択される。また、例えば、画素サイズがＦＰＤの画素の１つ分である場合、図６の対応表が選択される。

（ステップＳ１４５）
処理回路４４は、ステップＳ１４４の処理において読み出した対応表と、透視回数Ｎの透視における最大電力、被曝限度、ＳＩＤ、及び体厚とに基づいて、フィルタＡ～フィルタＤの中から、透視回数Ｎの透視において使用する付加フィルタを決定する。

ステップＳ１４４及びステップＳ１４５の処理では、処理回路４４は、画素サイズが大きい場合、画素サイズが小さい場合に選択される付加フィルタの厚み以上の厚みを有する付加フィルタを選択する。例えば、処理回路４４は、画素サイズが第１の大きさである場合、第１の厚みを有する第１のフィルタを選択し、画素サイズが第１の大きさよりも大きい第２の大きさである場合、第１の厚みよりも大きい第２の厚みを有する第２のフィルタを選択する。その他の処理は、第１の実施形態のステップＳ１２４及びステップＳ１２５の処理と同じであるため、説明を省略する。

本実施形態のＸ線診断装置１は、Ｘ線検出器１３による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさと被検体の体厚に関する情報とに基づいて、Ｘ線検出器１３による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさが大きい場合に、Ｘ線検出器１３による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさが小さい場合に選択されるフィルタの厚み以上の厚みを有するフィルタを、Ｘ線管の焦点からＸ線検出器１３へのＸ線の経路に挿入されるフィルタとして選択する。

要約すると、本実施形態のＸ線診断装置１は、画素サイズと、体厚とに基づいて、Ｘ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する付加フィルタを複数の付加フィルタの中から選択し、画素サイズが大きい場合に、画素サイズが小さい場合に比べて、厚みの大きい付加フィルタを選択する。

すなわち、上記の構成及び動作により、本実施形態のＸ線診断装置１によれば、体厚に加えて、画素サイズを考慮することにより、目標線量の変化を考慮して、適切な付加フィルタを選択することができる。

例えば、画素サイズが大きい場合、画素サイズが小さい場合に比べて、目標線量が小さくなるため、厚みの大きい付加フィルタを使用した場合でも、目標線量を確保しやすい。本実施形態のＸ線診断装置１によれば、画素サイズが大きい場合、画素サイズが小さい場合に比べて、厚みの大きい付加フィルタが選択される。このため、目標線量を確保しやすい場合において、Ｘ線の低減率が大きい付加フィルタが選択されることにより、Ｘ線画像の画質を確保し、かつ、被検体の被曝線量を低減することができる。

また、例えば、画素サイズが小さい場合、画素サイズが大きい場合に比べて、目標線量が大きくなるため、厚みの小さい付加フィルタを使用した場合には、目標線量を確保しにくい。本実施形態のＸ線診断装置１によれば、画素サイズが小さい場合、画素サイズが大きい場合に比べて、厚みの小さい付加フィルタが選択される。このため、目標線量を確保しにくい場合において、Ｘ線の低減率が小さい付加フィルタが選択されることにより、目標線量に応じた適切な付加フィルタを選択することができる。

（第４の実施形態）
第４の実施形態について説明する。本実施形態は、第１の実施形態の構成を以下の通りに変形したものである。本実施形態では、処理回路４４は、ＦＰＤ素子サイズの代わりに、視野サイズに基づいて、次の透視において使用する付加フィルタを決定する。第１の実施形態と同様の構成、動作、及び効果については、説明を省略する。

処理回路４４は、フィルタ選択機能４４３により、透視回数Ｎの透視における視野サイズと、最大電力と、被曝限度と、体厚とに基づいて、複数の付加フィルタのうちＸ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する付加フィルタを選択する。

他の構成は、第１の実施形態と同じである。

以下、Ｘ線診断装置１により実行されるフィルタ選択処理の動作について説明する。図９は、本実施形態に係るＸ線診断装置１により実行されるフィルタ選択処理の手順の一例を示すフローチャートであり、図３に示したステップＳ１１４のフィルタ選択処理に対応している。図９におけるステップＳ１５１～ステップＳ１５２の処理は、それぞれ、第１の実施形態におけるステップＳ１２１～ステップＳ１２２の処理と同様のため、説明を省略する。

（フィルタ選択処理）
（ステップＳ１５３）
処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における撮像条件を取得する。処理回路４４は、例えば、メモリ４１から透視回数Ｎの透視における撮像条件を読み出す。処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における撮像条件を取得することにより、次の透視における撮像条件を取得する。処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における撮像条件として、例えば、視野サイズ、最大電力、被曝限度、体厚、及びＳＩＤを取得する。

（ステップＳ１５４）
処理回路４４は、ステップＳ１５３の処理において取得した透視回数Ｎの透視における視野サイズに基づいて、メモリ４１に記憶された複数の対応表（テーブル）から対応する対応表を読み出す。例えば、視野サイズが第１の大きさである場合、図６の対応表が選択される。また、例えば、視野サイズが第１の大きさよりも大きい第２の大きさである場合、図５の対応表が選択される。

（ステップＳ１５５）
処理回路４４は、ステップＳ１５４の処理において読み出した対応表と、透視回数Ｎの透視における最大電力、被曝限度、ＳＩＤ、及び体厚とに基づいて、フィルタＡ～フィルタＤの中から、透視回数Ｎの透視において使用する付加フィルタを決定する。

ステップＳ１５４及びステップＳ１５５の処理では、処理回路４４は、視野サイズが大きい場合、視野サイズが小さい場合に選択される付加フィルタの厚み以上の厚みを有する付加フィルタを選択する。例えば、処理回路４４は、視野サイズが第１の大きさである場合、第１の厚みを有する第１のフィルタを選択し、視野サイズが第１の大きさよりも大きい第２の大きさである場合、第１の厚みよりも大きい第２の厚みを有する第２のフィルタを選択する。その他の処理は、第１の実施形態のステップＳ１２４及びステップＳ１２５の処理と同じであるため、説明を省略する。

本実施形態のＸ線診断装置１は、Ｘ線照射領域の大きさと被検体の体厚に関する情報とに基づいて、Ｘ線照射領域の大きさが大きい場合に、Ｘ線照射領域の大きさが小さい場合に選択されるフィルタの厚み以上の厚みを有するフィルタを、Ｘ線管の焦点からＸ線検出器１３へのＸ線の経路に挿入されるフィルタとして選択する。

要約すると、本実施形態のＸ線診断装置１は、視野サイズと、体厚とに基づいて、Ｘ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する付加フィルタを複数の付加フィルタの中から選択し、視野サイズが大きい場合に、視野サイズが小さい場合に比べて、厚みの大きい付加フィルタを選択する。

異なる視野サイズで透視を行う場合、散乱線の影響や目標線量が異なるため、適切な付加フィルタが異なる。上記の構成及び動作により、本実施形態のＸ線診断装置１によれば、体厚に加えて、視野サイズを考慮することにより、散乱線の影響及び目標線量の変化を考慮して、適切な付加フィルタを選択することができる。

例えば、視野サイズが大きい場合、視野サイズが小さい場合に比べて、Ｘ線が照射される領域が大きくなるため、散乱線が増加する。散乱線が増加すると、Ｘ線検出器１３に入射するＸ線の線量が増加するため、厚みの大きい付加フィルタを使用した場合でも、目標線量を確保しやすい。本実施形態のＸ線診断装置１によれば、視野サイズが大きい場合、視野サイズが小さい場合に比べて、厚みの大きい付加フィルタが選択される。このため、目標線量を確保しやすい場合において、Ｘ線の低減率が大きい付加フィルタが選択されることにより、Ｘ線画像の画質を確保し、かつ、被検体の被曝線量を低減することができる。

また、例えば、視野サイズが小さい場合、視野サイズが大きい場合に比べて、Ｘ線が照射される領域が小さくなるため、散乱線が減少する。散乱線が減少すると、Ｘ線検出器１３に入射するＸ線の線量が減少するため、厚みの小さい付加フィルタを使用した場合には、目標線量を確保しにくい。本実施形態のＸ線診断装置１によれば、視野サイズが小さい場合、視野サイズが大きい場合に比べて、厚みの小さい付加フィルタが選択される。このため、目標線量を確保しにくい場合において、Ｘ線の低減率が小さい付加フィルタが選択されることにより、目標線量に応じた適切な付加フィルタを選択することができる。

（第５の実施形態）
第５の実施形態について説明する。本実施形態は、第１の実施形態の構成を以下の通りに変形したものである。本実施形態では、処理回路４４は、ＦＰＤ素子サイズの代わりに、焦点サイズに基づいて、次の透視において使用する付加フィルタを決定する。第１の実施形態と同様の構成、動作、及び効果については、説明を省略する。

処理回路４４は、フィルタ選択機能４４３により、透視回数Ｎの透視における焦点サイズと、最大電力と、被曝限度と、体厚とに基づいて、複数の付加フィルタのうちＸ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する付加フィルタを選択する。

他の構成は、第１の実施形態と同じである。

以下、Ｘ線診断装置１により実行されるフィルタ選択処理の動作について説明する。図１０は、本実施形態に係るＸ線診断装置１により実行されるフィルタ選択処理の手順の一例を示すフローチャートであり、図３に示したステップＳ１１４のフィルタ選択処理に対応している。図１０におけるステップＳ１６１～ステップＳ１６２の処理は、それぞれ、第１の実施形態におけるステップＳ１２１～ステップＳ１２２の処理と同様のため、説明を省略する。

（フィルタ選択処理）
（ステップＳ１６３）
処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における撮像条件を取得する。処理回路４４は、例えば、メモリ４１から透視回数Ｎの透視における撮像条件を読み出す。処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における撮像条件を取得することにより、次の透視における撮像条件を取得する。処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における撮像条件として、例えば、焦点サイズ、最大電力、被曝限度、体厚、及びＳＩＤを取得する。

（ステップＳ１６４）
処理回路４４は、ステップＳ１６３の処理において取得した透視回数Ｎの透視における焦点サイズに基づいて、メモリ４１に記憶された複数の対応表（テーブル）から対応する対応表を読み出す。例えば、焦点サイズが中焦点である場合、図５の対応表が選択される。また、例えば、焦点サイズが小焦点である場合、図６の対応表が選択される。

（ステップＳ１６５）
処理回路４４は、ステップＳ１６４の処理において読み出した対応表と、透視回数Ｎの透視における最大電力、被曝限度、ＳＩＤ、及び体厚とに基づいて、フィルタＡ～フィルタＤの中から、透視回数Ｎの透視において使用する付加フィルタを決定する。

ステップＳ１６４及びステップＳ１６５の処理では、処理回路４４は、焦点サイズが大きい場合、焦点サイズが小さい場合に選択される付加フィルタの厚み以上の厚みを有する付加フィルタを選択する。例えば、処理回路４４は、小焦点の焦点サイズである場合、第１の厚みを有する第１のフィルタを選択し、中焦点の焦点サイズである場合、第１の厚みよりも大きい第２の厚みを有する第２のフィルタを選択する。その他の処理は、第１の実施形態のステップＳ１２４及びステップＳ１２５の処理と同じであるため、説明を省略する。

本実施形態のＸ線診断装置１は、被検体の体厚に関する情報と、Ｘ線管の管球の焦点の大きさとに基づいて、Ｘ線管の焦点からＸ線検出器１３へのＸ線の経路に挿入されるフィルタを選択する。また、焦点の大きさが大きい場合に、焦点の大きさが小さい場合に選択されるフィルタの厚み以上の厚みを有するフィルタを、Ｘ線管の焦点からＸ線検出器１３へのＸ線の経路に挿入されるフィルタとして選択する。

要約すると、本実施形態のＸ線診断装置１は、焦点サイズと、最大電力と、被曝限度と、体厚とに基づいて、Ｘ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する付加フィルタを複数の付加フィルタの中から選択する。また、本実施形態のＸ線診断装置１は、焦点サイズが大きい場合に、焦点サイズが小さい場合に比べて、厚みの大きい付加フィルタを選択する。

異なる焦点サイズで透視を行う場合、管球の最大電力が異なるため、適切な付加フィルタが異なる。上記の構成及び動作により、本実施形態のＸ線診断装置１によれば、体厚に加えて、焦点サイズを考慮することにより、最大電力の変化を考慮して、適切な付加フィルタを選択することができる。

例えば、焦点サイズが大きい場合、焦点サイズが小さい場合に比べて、管球の最大電力が大きく、管球の出力を大きくしやすい。このため、厚みの大きい付加フィルタを使用した場合でも、目標線量を確保しやすい。本実施形態のＸ線診断装置１によれば、焦点サイズが大きい場合、焦点サイズが小さい場合に比べて、厚みの大きい付加フィルタが選択される。このため、目標線量を確保しやすい場合において、Ｘ線の低減率が大きい付加フィルタが選択されることにより、Ｘ線画像の画質を確保し、かつ、被検体の被曝線量を低減することができる。

また、例えば、焦点サイズが小さい場合、焦点サイズが大きい場合に比べて、管球の最大電力が小さく、管球の出力を大きくしにくい。このため、厚みの小さい付加フィルタを使用した場合には、目標線量を確保しにくい。本実施形態のＸ線診断装置１によれば、焦点サイズが小さい場合、焦点サイズが大きい場合に比べて、厚みの小さい付加フィルタが選択される。このため、目標線量を確保しにくい場合において、Ｘ線の低減率が小さい付加フィルタが選択されることにより、目標線量に応じた適切な付加フィルタを選択することができる。

（第６の実施形態）
第６の実施形態について説明する。本実施形態は、第１の実施形態の構成を以下の通りに変形したものである。本実施形態では、処理回路４４は、ＦＰＤ素子サイズの代わりに、パルスレートに基づいて、次の透視において使用する付加フィルタを決定する。第１の実施形態と同様の構成、動作、及び効果については、説明を省略する。

処理回路４４は、フィルタ選択機能４４３により、透視回数Ｎの透視におけるパルスレートと、最大電力と、被曝限度と、体厚とに基づいて、複数の付加フィルタのうちＸ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する付加フィルタを選択する。

他の構成は、第１の実施形態と同じである。

以下、Ｘ線診断装置１により実行されるフィルタ選択処理の動作について説明する。図１１は、本実施形態に係るＸ線診断装置１により実行されるフィルタ選択処理の手順の一例を示すフローチャートであり、図３に示したステップＳ１１４のフィルタ選択処理に対応している。図１１におけるステップＳ１７１～ステップＳ１７２の処理は、それぞれ、第１の実施形態におけるステップＳ１２１～ステップＳ１２２の処理と同様のため、説明を省略する。

（フィルタ選択処理）
（ステップＳ１７３）
処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における撮像条件を取得する。処理回路４４は、例えば、メモリ４１から透視回数Ｎの透視における撮像条件を読み出す。処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における撮像条件を取得することにより、次の透視における撮像条件を取得する。処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における撮像条件として、例えば、パルスレート、最大電力、被曝限度、体厚、及びＳＩＤを取得する。

（ステップＳ１７４）
処理回路４４は、ステップＳ１７３の処理において取得した透視回数Ｎの透視におけるパルスレートに基づいて、メモリ４１に記憶された複数の対応表（テーブル）から対応する対応表を読み出す。例えば、パルスレートが第１の大きさである場合、図６の対応表が選択される。また、例えば、パルスレートが第１の大きさよりも大きい第２の大きさである場合、図５の対応表が選択される。

（ステップＳ１７５）
処理回路４４は、ステップＳ１７４の処理において読み出した対応表と、透視回数Ｎの透視における最大電力、被曝限度、ＳＩＤ、及び体厚とに基づいて、フィルタＡ～フィルタＤの中から、透視回数Ｎの透視において使用する付加フィルタを決定する。

ステップＳ１７４及びステップＳ１７５の処理では、処理回路４４は、パルスレートが大きい場合、パルスレートが小さい場合に選択される付加フィルタの厚み以上の厚みを有する付加フィルタを選択する。例えば、処理回路４４は、パルスレートが第１の大きさである場合、第１の厚みを有する第１のフィルタを選択し、パルスレートが第１の大きさよりも大きい第２の大きさである場合、第１の厚みよりも大きい第２の厚みを有する第２のフィルタを選択する。その他の処理は、第１の実施形態のステップＳ１２４及びステップＳ１２５の処理と同じであるため、説明を省略する。

本実施形態のＸ線診断装置１は、被検体の体厚に関する情報と、Ｘ線管から発せられたＸ線のパルスレートと、に基づいて、Ｘ線管の焦点からＸ線検出器１３へのＸ線の経路に挿入されるフィルタを選択する。また、パルスレートが大きい場合に、パルスレートが小さい場合に選択されるフィルタの厚み以上の厚みを有するフィルタを、Ｘ線管の焦点からＸ線検出器１３へのＸ線の経路に挿入されるフィルタとして選択する。

要約すると、本実施形態のＸ線診断装置１は、パルスレートと、最大電力と、被曝限度と、体厚とに基づいて、Ｘ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する付加フィルタを複数の付加フィルタの中から選択する。また、本実施形態のＸ線診断装置１は、パルスレートが大きい場合に、パルスレートが小さい場合に比べて、厚みの大きい付加フィルタを選択する。

異なるパルスレートで透視を行う場合、透視において被検体に入射するＸ線の線量が異なるため、被曝限度に対する被検体に入射するＸ線の線量の関係が変化する。このため、異なるパルスレートで透視を行う場合、適切な付加フィルタが異なる。上記の構成及び動作により、本実施形態のＸ線診断装置１によれば、体厚に加えて、パルスレートを考慮することにより、被曝限度に対する被検体に入射するＸ線の線量の関係を考慮して、適切な付加フィルタを選択することができる。

例えば、パルスレートが大きい場合、パルスレートが小さい場合に比べて、被検体に入射するＸ線の線量が大きく、被曝限度に到達しやすい。本実施形態のＸ線診断装置１によれば、パルスレートが大きい場合、パルスレートが小さい場合に比べて、厚みの大きい付加フィルタが選択される。このため、被曝上限に到達しやすい場合において、Ｘ線の低減率が大きい付加フィルタが選択されることにより、被検体に入射するＸ線の線量が被曝限度を超えることを抑制することができる。

また、例えば、パルスレートが小さい場合、パルスレートが大きい場合に比べて、被検体に入射するＸ線の線量が小さく、被曝限度に到達しにくい。本実施形態のＸ線診断装置１によれば、パルスレートが小さい場合、パルスレートが大きい場合に比べて、厚みの小さい付加フィルタが選択される。このため、被曝限度に到達しにくい場合において、Ｘ線の低減率が小さい付加フィルタが選択されることにより、被曝限度に対する被検体に入射するＸ線の線量の関係に応じた適切な付加フィルタを選択することができる。

（第７の実施形態）
第７の実施形態について説明する。本実施形態は、第１の実施形態の構成を以下の通りに変形したものである。第１の実施形態と同様の構成、動作、及び効果については、説明を省略する。

処理回路４４は、撮像条件設定機能４４２により、複数回の透視の実行を含む検査において、直前に実行された透視におけるＸ線検出器１３の出力に基づいて、次に実行される透視におけるＸ線の焦点の大きさを決定する。また、処理回路４４は、決定した結果に応じて、Ｘ線の焦点サイズを設定する。ここで、「焦点の大きさ」と「焦点サイズ」とは、一対一に対応してもよく、多対一に対応してもよい。一対一に対応する場合、「焦点の大きさ」及び「焦点サイズ」の両者は、「小焦点」又は「中焦点」として決定及び設定してもよい。あるいは、一対一に対応する場合でも、制御グリッド電極を用いるときには、「焦点の大きさ」及び「焦点サイズ」の両者は、例えば、０．２～０．７ｍｍの範囲内の値として決定及び設定してもよい。これに対し、多対一に対応する場合、「焦点の大きさ」を、例えば、０．２～０．４ｍｍの範囲内の値として決定し、「焦点サイズ」を小焦点として設定するようにしてもよい。あるいは、「焦点の大きさ」を、例えば、０．５～０．７ｍｍの範囲内の値として決定し、「焦点サイズ」は中焦点として設定するようにしてもよい。

具体的には、処理回路４４は、撮像条件設定機能４４２により、入力インターフェース４３への操作に応じて実行される第１の透視におけるＸ線検出器１３の出力に基づいて、第１の透視の後に入力インターフェース４３への操作に応じて実行される第２の透視における焦点サイズを決定し、第２の透視におけるＸ線検出器１３の出力に基づいて、第２の透視の後に入力インターフェース４３への操作に応じて実行される第３の透視における焦点サイズを決定する。補足すると、処理回路４４は、例えば、第１の動画撮像及び第２の動画撮像において、前のフレームにおけるＸ線検出器１３の出力に基づいて、後のフレームにおけるＸ線の照射の条件及びＸ線画像にかけるゲインのうち少なくとも一方を設定する制御を行う。また、処理回路４４は、第１の動画撮像におけるＸ線の照射の条件を介することにより、第１の動画撮像におけるＸ線検出器１３の出力に基づいて第２の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定する。さらに、処理回路４４は、第２の動画撮像におけるＸ線の照射の条件を介することにより、第２の動画撮像におけるＸ線検出器１３の出力に基づいて第３の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定する。

また、処理回路４４は、例えば、第１の透視においてＸ線検出器１３の出力によって生成されるＸ線画像に基づいて、第１の透視におけるＸ線条件を取得し、第１の透視におけるＸ線条件に基づいて、第２の透視における焦点サイズを決定するようにしてもよい。第１の透視は第１の動画撮像の一例であり、第２の透視は第２の動画撮像の一例であり、第３の透視は第３の動画撮像の一例である。

他の構成は、第１の実施形態と同じである。

以下、Ｘ線診断装置１により実行されるフィルタ選択処理の動作について説明する。図１２は、本実施形態に係るＸ線診断装置１により実行される撮像条件設定処理の手順の一例を示すフローチャートであり、図２に示したステップＳ１０１の撮像条件設定処理に対応している。図１２におけるステップＳ２１１～ステップＳ２１２、ステップＳ２１４の処理は、それぞれ、第１の実施形態におけるステップＳ１１１～ステップＳ１１２、ステップＳ１１４の処理と同様のため、説明を省略する。

（撮像条件設定処理）
（ステップＳ２１３）
処理回路４４は、検査開始後の初めての透視における既定の撮像条件をメモリ４１から読み出し、読み出した既定の撮像条件を、次に実行される透視における撮像条件として設定する。このとき、処理回路４４は、次に実行される透視における焦点サイズとして、小焦点を設定する。

（ステップＳ２１５）
処理回路４４は、透視回数Ｎの透視において、小焦点の焦点サイズで透視を行う場合と中焦点の焦点サイズで透視を行う場合とのそれぞれについて、Ｘ線発生部１２においてＸ線検出器入射線量を目標線量に出来る限り近づけた場合の撮像条件（以下、撮像条件推定値と呼ぶ）を算出する。撮像条件推定値は、管球の短時間定格及び連続定格等に関する条件を満たし、かつ、Ｘ線検出器入射線量を目標線量に出来る限り近づけた場合の撮像条件である。具体的には例えば、透視回数Ｎ＝２の場合、処理回路４４は、第１の動画撮像におけるＸ線検出器１３の出力に基づいて取得されたＸ線の焦点サイズ、管電圧、管電流及びパルス幅、ＡＧＣ倍率、及びフィルタ特定情報に基づいて、第２の動画撮像における撮像条件推定値を算出してもよい。ここで、透視回数Ｎ＝２の場合に、第１の動画撮像及び第２の動画撮像は、それぞれ第（Ｎ－１）の動画撮像及び第Ｎの動画撮像に対応する。また、透視回数Ｎ＝３の場合、処理回路４４は、第２の動画撮像におけるＸ線検出器１３の出力に基づいて取得されたＸ線の焦点サイズ、管電圧、管電流及びパルス幅、ＡＧＣ倍率、及びフィルタ特定情報に基づいて、第３の動画撮像における撮像条件推定値を算出してもよい。同様に、透視回数Ｎ＝３の場合に、第２の動画撮像及び第３の動画撮像は、それぞれ第（Ｎ－１）の動画撮像及び第Ｎの動画撮像に対応する。

撮像条件推定値は、Ｘ線発生部１２においてＸ線検出器入射線量を目標線量に出来る限り近づけた場合のＸ線条件（以下、Ｘ線条件推定値と呼ぶ）と、Ｘ線発生部１２においてＸ線検出器入射線量を目標線量に出来る限り近づけた場合にＡＧＣにより適用されることが予測されるＡＧＣ倍率（以下、ＡＧＣ倍率推定値）と、を含む。Ｘ線条件推定値は、Ｘ線発生部１２においてＸ線検出器入射線量を目標線量に出来る限り近づけた場合の管電圧（以下、管電圧推定値と呼ぶ）と、Ｘ線発生部１２においてＸ線検出器入射線量を目標線量に出来る限り近づけた場合の管電流（以下、管電流推定値と呼ぶ）と、Ｘ線発生部１２においてＸ線検出器入射線量を目標線量に出来る限り近づけた場合のパルス幅（以下、パルス幅推定値と呼ぶ）とを含む。なお、撮像条件推定値は、Ｘ線画像の画質を確保するために必要なＸ線管の出力（以下、目標出力と呼ぶ）に関する条件を満たす管電圧推定値、当該条件を満たす管電流推定値、目標出力に関する当該条件を満たすパルス幅推定値、及び、目標出力に関する当該条件を満たすＡＧＣ倍率推定値のうち少なくとも１つを含む、ものとしてもよい。

撮像条件推定値を算出する処理としては、例えば、今回の透視のＸ線条件をＸ｛ｋＶ，ｍＡ，ｍｓｅｃ，ＡＧＣ｝とし、前回又は今回の条件の関数をｈ（Focus，ＢＦ，ＢＦ_直前，ｋＶ_直前，ｍＡ_直前，ｍｓｅｃ_直前，ＡＧＣ_直前）としたとき、次式に基づく処理を実行する。

Ｘ｛ｋＶ，ｍＡ，ｍｓｅｃ，ＡＧＣ｝＝ｈ（Focus，ＢＦ，ＢＦ_直前，ｋＶ_直前，ｍＡ_直前，ｍｓｅｃ_直前，ＡＧＣ_直前）
但し、上式中、ｋＶ：管電圧、ｍＡ：管電流、ｍｓｅｃ：パルス幅、ＡＧＣ：ＡＧＣ倍率、Focus：焦点サイズ、ＢＦ：フィルタ特定情報、添え字「直前」：直前の透視における条件、添え字なし：今回の透視における条件とする。

撮像条件推定値を算出する処理において、処理回路４４は、まず、透視回数Ｎ－１の透視における撮像条件を取得する。処理回路４４は、例えば、メモリ４１に記憶されている透視回数Ｎ－１の透視における撮像条件を読み出すことにより、透視回数Ｎ－１の透視における撮像条件を取得する。処理回路４４は、透視回数Ｎ－１の透視における撮像条件を取得することにより、検査開始後に実行された透視のうち、直前に実行された透視における撮像条件を取得する。処理回路４４は、透視回数Ｎ－１の透視における撮像条件として、例えば、焦点サイズ、フィルタ特定情報、管電圧、管電流、パルス幅及びＡＧＣ倍率を取得する。前述のように、透視の実行中には、被写体条件の変化に基づいてＸ線条件等を変更するフィードバック制御が行われ、透視の終了時には、管電圧、管電流、パルス幅、及びＡＧＣ倍率のうちの少なくとも一つが被写体条件の変化に応じて適切に制御された状態となる。したがって、直前に実行された透視における撮像条件を取得することにより、被写体条件の変化に応じて適切に制御された撮像条件を取得することができる。なお、直前に実行された透視において生成されたＸ線画像に基づく演算処理により、被写体条件の変化に応じてさらに適切に制御された撮像条件を算出し、算出した撮像条件を、直前に実行された透視における撮像条件として取得してもよい。

次に、処理回路４４は、透視回数Ｎ－１の透視における焦点サイズ、フィルタ特定情報、管電圧、管電流、パルス幅、及びＡＧＣ倍率に基づいて、目標出力を算出する。処理回路４４は、目標出力と透視回数Ｎの透視におけるフィルタ特定情報とに基づいて、小焦点の焦点サイズで透視を行う場合における管電圧推定値Ｖｐ１、管電流推定値Ｉｐ１、パルス幅推定値Ｗｐ１、及び、ＡＧＣ倍率推定値Ｍｐ１と、中焦点の焦点サイズで透視を行う場合における管電圧推定値Ｖｐ２、管電流推定値Ｉｐ２、パルス幅推定値Ｗｐ２、及び、ＡＧＣ倍率推定値Ｍｐ２とを、それぞれ算出する。なお、小焦点と中焦点との各々の焦点サイズのうち、直前の焦点サイズと同じ焦点サイズの場合には、直前の撮像条件と略同一の撮像条件を表す撮像条件推定値が算出される。補足すると、例えば、透視回数Ｎ＝２の場合、処理回路４４は、Ｘ線の焦点の大きさが異なる複数の焦点サイズのそれぞれについて、第２の動画撮像における撮像条件推定値を算出し、Ｘ線の焦点の大きさとして決定された焦点サイズに対応する撮像条件推定値を第２の動画撮像における撮像条件として決定する。また同様に、例えば、透視回数Ｎ＝３の場合、処理回路４４は、Ｘ線の焦点の大きさが異なる複数の焦点サイズのそれぞれについて、第３の動画撮像における撮像条件推定値を算出し、Ｘ線の焦点の大きさとして決定された焦点サイズに対応する撮像条件推定値を第３の動画撮像における撮像条件として決定する。

（ステップＳ２１６）
処理回路４４は、ステップＳ２１５で取得した透視回数Ｎ－１の透視における撮像条件に基づいて、透視回数Ｎ－１の透視の焦点サイズが小焦点であるか否かを判断する。透視回数Ｎ－１の透視の焦点サイズが小焦点である場合（ステップＳ２１６－Ｙｅｓ）、処理はステップＳ２１７に進む。透視回数Ｎ－１の透視の焦点サイズが小焦点でない場合（ステップＳ２１６－Ｎｏ）、処理回路４４は、透視回数Ｎ－１の透視の焦点サイズが中焦点であると判断し、処理はステップＳ２２１に進む。

（ステップＳ２１７）
処理回路４４は、管電圧推定値Ｖｐ１が閾値Ｖｔｈ１以下であるか否かを判断する。閾値Ｖｔｈ１は、生成されるＸ線画像のコントラストが所定の条件を満たすか否かを判断するための値である。閾値Ｖｔｈ１は、例えば、２０～１５０ｋＶの範囲から定めた値である。閾値Ｖｔｈ１は、所定の値が設定されていてもよく、検査ごとに操作者によって入力されてもよい。閾値Ｖｔｈ１は、判定値の一例である。また、閾値Ｖｔｈ１は、第１の値の一例である。管電圧推定値Ｖｐ１が閾値Ｖｔｈ１以下である場合（ステップＳ２１７－Ｙｅｓ）、処理はステップＳ２１８に進む。管電圧推定値Ｖｐ１が閾値Ｖｔｈ１以下でない場合（ステップＳ２１７－Ｎｏ）、すなわち、管電圧推定値Ｖｐ１が閾値Ｖｔｈ１より大きい場合、処理は、ステップＳ２１９に進む。

（ステップＳ２１８）
処理回路４４は、被曝限度到達指数Ｒが閾値β以下であるか否かを判断する。ここで、被曝限度到達指数Ｒ（＝Ｇ／Ｌ ×１００［％］）は、被曝限度Ｌに対する被曝線量推定値Ｇの割合である。被曝限度（Dose Limit）Ｌは、単位時間あたりに被検体に入射するＸ線の線量（入射線量率）に関する上限値である。すなわち、被曝限度Ｌは、被曝線量の上限値である。被曝限度Ｌは、例えば、使用される国等に応じて予め設定される。被曝限度Ｌは、例えば、５０ｍＧｒ／ｍｉｎや８７ｍＧｒ／ｍｉｎなどの値である。被曝線量推定値Ｇは、中焦点の焦点サイズで透視を行う場合の撮像条件推定値を撮像条件として、透視回数Ｎの透視を行う場合に、被検体に入射することが予測されるＸ線の線量である。閾値βは、被曝限度Ｌに対する被曝線量推定値Ｇの余裕が十分あるか否かを判定するための値である。閾値βは、線量判定値の一例である。閾値βは、例えば、９０～９９％の範囲から定めた値である。閾値βは、所定の値が設定されていてもよく、透視ごとに、操作者によって入力されてもよい。

ステップＳ２１８の処理では、処理回路４４は、まず、管電圧推定値Ｖｐ２、管電流推定値Ｉｐ２、パルス幅推定値Ｗｐ２、ＡＧＣ倍率推定値Ｍｐ２、及び、Ｎ回目の透視におけるフィルタ特定情報に基づいて、被曝線量推定値Ｇを算出する。そして、被曝線量推定値Ｇと被曝限度Ｌとに基づいて、被曝限度到達指数Ｒを算出する。被曝限度到達指数Ｒが閾値β以下である場合（ステップＳ２１８－Ｙｅｓ）、処理回路４４は、中焦点に対応する撮像条件推定値を撮像条件として透視回数Ｎの透視を行う場合に、被曝限度Ｌに対する入射線量率の余裕が十分あると判断し、処理はステップＳ２２０に進む。被曝限度到達指数Ｒが閾値βより大きい場合（ステップＳ２１８－Ｎｏ）、処理回路４４は、中焦点に対応する撮像条件推定値を撮像条件として透視回数Ｎの透視を行う場合に、被曝限度Ｌに対する入射線量率の余裕が十分ないと判断し、処理はステップＳ２１９に進む。

（ステップＳ２１９）
処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における焦点サイズを、小焦点に設定する。また、処理回路４４は、小焦点に対応する撮像条件推定値を、透視回数Ｎの透視における撮像条件として設定する。このとき、処理回路４４は、管電圧推定値Ｖｐ１を透視回数Ｎの透視における管電圧として設定し、管電流推定値Ｉｐ１を透視回数Ｎの透視における管電流とし、パルス幅推定値Ｗｐ１を透視回数Ｎの透視におけるパルス幅として設定し、ＡＧＣ倍率推定値Ｍｐ１を透視回数Ｎの透視におけるＡＧＣ倍率として設定する。そして、処理回路４４は、撮像条件設定処理を終了し、処理はステップＳ１０３に進む。

（ステップＳ２２０）
処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における焦点サイズを、中焦点に設定する。また、処理回路４４は、中焦点に対応する撮像条件推定値を、透視回数Ｎの透視における撮像条件として設定する。このとき、処理回路４４は、管電圧推定値Ｖｐ２を透視回数Ｎの透視における管電圧として設定し、管電流推定値Ｉｐ２を透視回数Ｎの透視における管電流とし、パルス幅推定値Ｗｐ２を透視回数Ｎの透視におけるパルス幅として設定し、ＡＧＣ倍率推定値Ｍｐ２を透視回数Ｎの透視におけるＡＧＣ倍率として設定する。そして、処理回路４４は、撮像条件設定処理を終了し、処理はステップＳ１０３に進む。

（ステップＳ２２１）
処理回路４４は、管電圧推定値Ｖｐ１が閾値Ｖｔｈ２以下であるか否かを判断する。閾値Ｖｔｈ２は、閾値Ｖｔｈ１よりも設定値α１だけ小さい。すなわち、Ｖｔｈ２＝Ｖｔｈ１－αとなる。設定値α１は、中焦点から小焦点への切り替えを判定するための管電圧の余裕分を表す値であり、例えば、１～１０ｋＶの範囲から定めた値である。設定値α１は、所定の値が設定されていてもよく、検査ごとに操作者によって入力されてもよい。閾値Ｖｔｈ２は、判定値の一例である。また、閾値Ｖｔｈ２は、第２の値の一例である。管電圧推定値Ｖｐ１が閾値Ｖｔｈ２以下である場合（ステップＳ２２１－Ｙｅｓ）、処理はステップＳ２２２に進む。管電圧推定値Ｖｐ１が閾値Ｖｔｈ２以下でない場合（ステップＳ２２１－Ｎｏ）、すなわち、管電圧推定値Ｖｐ１が閾値Ｖｔｈ２より大きい場合、処理は、ステップＳ２２３に進む。

（ステップＳ２２２）
ステップＳ２２２の処理は、ステップＳ２１９の処理と同じである。すなわち、処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における焦点サイズを、小焦点に設定する。そして、処理回路４４は、撮像条件設定処理を終了し、処理はステップＳ１０３に進む。

（ステップＳ２２３）
ステップＳ２２３の処理は、ステップＳ２２０の処理と同じである。すなわち、処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における焦点サイズを、中焦点に設定する。そして、処理回路４４は、撮像条件設定処理を終了し、処理はステップＳ１０３に進む。

撮像条件設定処理が終了すると、処理回路４４は、撮像条件設定処理において設定された撮像条件に基づいて、透視回数Ｎの透視を実行する。そして、透視回数Ｎの透視の終了後、次の透視が実行される場合、処理回路４４は、再びステップＳ１０１の撮像条件設定処理を実行する。このとき、処理回路４４は、透視回数Ｎの透視における撮像条件を設定する処理と同様にして、透視回数Ｎの透視におけるＸ線条件に基づいて、透視回数Ｎ＋１の透視における焦点サイズを含む、撮像条件を決定する。

本実施形態のＸ線診断装置１は、操作部への操作に応じて実行される第１の動画撮像におけるＸ線検出器１３の出力に基づいて、第１の動画撮像の後に操作部への操作に応じて実行される第２の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定する。また、第２の動画撮像におけるＸ線検出器１３の出力に基づいて、第２の動画撮像の後に操作部への操作に応じて実行される第３の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定する。

要約すると、本実施形態のＸ線診断装置１は、入力インターフェース４３への操作に応じて直前に実行された透視におけるＸ線検出器１３の出力に基づいて、入力インターフェース４３への操作に応じて次に実行される透視における焦点サイズを決定する。

例えば、本実施形態のＸ線診断装置１は、入力インターフェース４３への操作に応じて実行される透視回数Ｎ－１の透視におけるＸ線条件に基づいて、透視回数Ｎ－１の透視の後に入力インターフェース４３への操作に応じて実行される透視回数Ｎの透視における焦点サイズを決定し、透視回数Ｎの透視におけるＸ線条件に基づいて、透視回数Ｎの透視の後に入力インターフェース４３への操作に応じて実行される透視回数Ｎ＋１の透視における焦点サイズを決定する。

また、本実施形態のＸ線診断装置１は、第１の動画撮像の終了時におけるＸ線検出器１３の出力に基づいて、第２の動画撮像の開始時におけるＸ線の焦点の大きさを決定し、第２の動画撮像の終了時におけるＸ線検出器１３の出力に基づいて、第３の動画撮像の開始時におけるＸ線の焦点の大きさを決定する。

例えば、本実施形態のＸ線診断装置１は、透視回数Ｎ－１の透視の終了時におけるＸ線条件に基づいて、透視回数Ｎの開始時におけるＸ線の焦点の大きさを決定し、透視回数Ｎの透視の終了時におけるＸ線条件の出力に基づいて、透視回数Ｎ＋１の透視の開始時におけるＸ線の焦点の大きさを決定する。

また、本実施形態のＸ線診断装置１は、第１の動画撮像におけるＸ線検出器１３の出力に基づいて、第２の動画撮像について、特定のＸ線の焦点の大きさを用いた場合における目標出力に関する条件を満たす撮像条件推定値を算出し、第２の動画撮像における撮像条件推定値に基づいて第２の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定する。また、第２の動画撮像におけるＸ線検出器１３の出力に基づいて、第３の動画撮像について撮像条件推定値を算出し、第３の動画撮像における撮像条件推定値に基づいて第３の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定する。

例えば、本実施形態のＸ線診断装置１は、透視回数Ｎ－１の透視におけるＸ線条件に基づいて透視回数Ｎの透視における管電圧推定値Ｖｐ１を算出し、管電圧推定値Ｖｐ１に基づいて透視回数Ｎの透視における焦点サイズを決定し、透視回数Ｎの透視におけるＸ線条件に基づいて透視回数Ｎ＋１の透視における管電圧推定値Ｖｐ１を算出し、管電圧推定値Ｖｐ１に基づいて透視回数Ｎ＋１の透視における焦点サイズを決定する。

すなわち、上記の構成及び動作により、本実施形態のＸ線診断装置１によれば、直前の透視におけるＸ線検出器１３の出力に基づいて、フットスイッチを踏みなおすことにより実行される次の透視における焦点サイズを決定することができる。このため、次の透視において、直前の透視におけるＸ線条件に応じた焦点サイズを設定することができる。したがって、直前の透視の実行中に被検体の厚みが変化することにより、コントラストが所定の条件を満たすＸ線画像を生成するために適切な焦点サイズが変化した場合であっても、フィードバック制御により被検体の厚みに応じて適切な値に制御されたＸ線条件に基づいて、次の透視における適切な焦点サイズを自動的に設定することができる。これにより、次の透視において生成されるＸ線画像の画質の向上を図ることができる。例えば、被写体厚が薄く管球出力に余裕がある場合には小焦点を設定することでシャープな画像を生成することができる。一方、被写体厚が厚く、小焦点で管電圧が高くなる場合には高出力の中焦点に切り替えることで、コントラストの強い画像やノイズの少ない画像を生成することができる。

また、本実施形態のＸ線診断装置１は、第２の動画撮像における撮像条件推定値が判定値以下である場合、第２の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさとして第１の焦点サイズを設定し、第２の動画撮像における撮像条件推定値が判定値よりも大きい場合、第２の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさとして第１の焦点サイズよりも大きい第２の焦点サイズを決定する。また、第３の動画撮像における撮像条件推定値が判定値以下である場合、第３の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさとして第１の焦点サイズを設定し、第３の動画撮像における撮像条件推定値が判定値よりも大きい場合、第３の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさとして第２の焦点サイズを決定する。

要約すると、本実施形態のＸ線診断装置１は、例えば、ステップＳ２２１の処理において、透視回数Ｎの透視における管電圧推定値Ｖｐ１が閾値Ｖｔｈ２以下である場合、透視回数Ｎの透視における焦点サイズを小焦点に決定し、透視回数Ｎの透視における管電圧推定値Ｖｐ１が閾値Ｖｔｈ２よりも大きい場合、透視回数Ｎの透視における焦点サイズを中焦点に決定する。

例えば、中焦点の焦点サイズを使用した直前の透視の実行中において被検体の厚みが小さくなった場合、所定の明るさ以上のＸ線画像を生成するために必要なＸ線管の出力が小さくなる。このような場合、本実施形態のＸ線診断装置１によれば、小焦点における管電圧推定値Ｖｐ１が閾値Ｖｔｈ２以下になり、次の透視における焦点サイズが小焦点に設定される。これにより、Ｘ線管の出力に余裕がある場合には、すなわち、出力が小さい小焦点を用いた場合でも所定のコントラスト以上のＸ線画像を生成することができる場合には、次の透視における焦点サイズが小焦点に設定されることにより、焦点サイズが中焦点に設定される場合に比べて、解像度の高いＸ線画像を生成することができる。

また、例えば、小焦点の焦点サイズを使用した直前の透視の実行中において、被検体の厚みが大きくなった場合、所定の明るさ以上のＸ線画像を生成するために必要なＸ線管の出力が大きくなり、生成されるＸ線画像のコントラストが低下する。このような場合、本実施形態のＸ線診断装置１によれば、小焦点における管電圧推定値Ｖｐ１が閾値Ｖｔｈ２より大きくなり、次の透視における焦点サイズが中焦点に設定される。このため、次の透視において、小焦点に比べてＸ線管の出力を高くすることができる中焦点に焦点サイズが切り替えられることにより、必要な線量を確保し、かつ、管電圧を抑制することができる。したがって、小焦点の焦点サイズを継続して用いる場合に比べて、Ｘ線画像のコントラストを確保し、かつ、ノイズが少ないＸ線画像を生成することができる。

また、本実施形態のＸ線診断装置１は、第１の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさが第１の焦点サイズである場合、第１の値を判定値として、第２の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定し、第１の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさが第２の焦点サイズである場合、第１の値とは異なる第２の値を判定値として、第２の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定する。また、第２の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさが第１の焦点サイズである場合、第１の値を判定値として、第３の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定し、第２の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさが第２の焦点サイズである場合、第２の値を判定値として、第３の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定する。例えば、上記第２の値は、第１の値よりも小さい。

要約すると、本実施形態のＸ線診断装置１は、例えば、透視回数Ｎ－１の透視における焦点サイズが小焦点である場合、透視回数Ｎの透視における管電圧推定値Ｖｐ１と閾値Ｖｔｈ１に基づいて、透視回数Ｎの透視における焦点サイズを決定し、透視回数Ｎ－１の透視における焦点サイズが中焦点である場合、透視回数Ｎの透視における管電圧推定値Ｖｐ１と閾値Ｖｔｈ２に基づいて、透視回数Ｎの透視における焦点サイズを決定する。ここで、閾値Ｖｔｈ２は、閾値Ｖｔｈ１よりも小さい。

すなわち、上記の構成及び動作により、本実施形態のＸ線診断装置１によれば、次の透視における焦点サイズを中焦点から小焦点に切り替えるか否かを判断する閾値と、小焦点から中焦点に焦点サイズを切り替える閾値とが異なる。このため、例えば、直前の透視から次の透視に切り替わるごとに、閾値Ｖｔｈよりも小さい範囲と閾値Ｖｔｈよりも大きい範囲との間で管電圧推定値Ｖｐ１が切り替わる場合であっても、中焦点から小焦点への焦点サイズの切り替えを判断する閾値と小焦点から中焦点への焦点サイズの切り替えを判断する閾値とが異なるため、透視を実行するたびに焦点サイズが切り替えられることが防止される。

また、本実施形態のＸ線診断装置１は、第２の動画撮像における撮像条件推定値を第２の動画撮像における撮像条件として用いた場合における被曝線量の上限値に対する被曝線量推定値の割合と、第３の動画撮像における撮像条件推定値を第３の動画撮像における撮像条件として用いた場合における被曝線量の上限値に対する被曝線量推定値の割合とをさらに算出する。また、第１の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさが第１の焦点サイズで、かつ、第２の動画撮像における撮像条件推定値が判定値より大きく、かつ、第２の動画撮像における割合が線量判定値よりも大きい場合、第１の焦点サイズを第２の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさとして決定する。また、第２の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさが第１の焦点サイズで、かつ、第３の動画撮像における撮像条件推定値が判定値より大きく、かつ、第３の動画撮像における割合が線量判定値よりも大きい場合、第１の焦点サイズを第３の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさとして決定する。

要約すると、本実施形態のＸ線診断装置１は、例えば、透視回数Ｎ－１の透視における焦点サイズが小焦点で、透視回数Ｎの透視における管電圧推定値Ｖｐ１が閾値Ｖｔｈ１よりも大きく、かつ、被曝限度到達指数Ｒが閾値β以下である場合、透視回数Ｎの透視における焦点サイズを中焦点に決定し、透視回数Ｎ－１の透視における焦点サイズが小焦点で、透視回数Ｎの透視における管電圧推定値Ｖｐ１が閾値Ｖｔｈ１よりも大きく、かつ、被曝限度到達指数Ｒが閾値βより大きい場合、透視回数Ｎの透視における焦点サイズを小焦点に決定する。

したがって、本実施形態のＸ線診断装置１は、直前の透視において小焦点が使用されていた場合、次の透視において生成されるＸ線画像のコントラストが低くなり、かつ、焦点サイズとして中焦点を用いた場合における被曝限度に対する予測被曝線量の余裕が十分確保された場合にのみ、次の焦点サイズを中焦点に切り替える。一方、本実施形態のＸ線診断装置１は、次の透視において生成されるＸ線画像のコントラストが低くなる場合であっても、被曝限度に対する予測被曝線量の余裕が十分確保されない場合には、次の焦点サイズを中焦点に切り替えない。

すなわち、上記の構成及び動作により、本実施形態のＸ線診断装置１によれば、被曝線量の余裕が一定以上確保される場合においてのみ、被検体の被曝線量が大きくなる中焦点に焦点サイズを切り替える。これにより、次の透視において被検体への被曝線量が被曝限度を超えることを確実に防止することができる。

また、本実施形態のＸ線診断装置１は、操作部への操作に応じて実行される第１の動画撮像におけるＸ線検出器１３の出力と、フィルタ選択部により選択されたフィルタに関する情報とに基づいて、第１の動画撮像の後に操作部への操作に応じて実行される第２の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定し、第２の動画撮像におけるＸ線検出器１３の出力と、フィルタ選択部により選択されたフィルタに関する情報とに基づいて、第２の動画撮像の後に操作部への操作に応じて実行される第３の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定する。

要約すると、本実施形態のＸ線診断装置１は、体厚に加えて、ＦＰＤ素子サイズを考慮することにより、目標線量の変化を考慮して、次の透視における適切な付加フィルタを選択する。そして、次の透視において適切に選択された付加フィルタを用いた場合の撮像条件推定値に基づいて、次の透視における適切な焦点サイズを決定する。

すなわち、上記の構成及び動作により、本実施形態のＸ線診断装置１によれば、直前の透視においてフィードバック制御により被検体の厚みに応じて適切な値に制御されたＸ線条件と、目標線量の変化を考慮して適切に選択された付加フィルタに基づいて、次の透視における適切な焦点サイズを設定することができる。これにより、次の透視において生成されるＸ線画像の画質がさらに向上する。

以上説明した少なくとも１つの実施形態によれば、目標線量に応じて適切な付加フィルタを決定することができるＸ線診断装置を提供することができる。

（第１の実施形態乃至第７の実施形態の変形例）
なお、処理回路４４は、フィルタ選択機能４４３により、透視回数Ｎの透視において使用する付加フィルタとして、フィルタＡ～フィルタＤのうちの複数の付加フィルタを選択してもよい。また、処理回路４４は、フィルタ選択機能４４３により、透視回数Ｎの透視において使用する付加フィルタの選択結果として、フィルタＡ～フィルタＤのうちいずれの付加フィルタも使用しないことを決定してもよい。

なお、Ｘ線発生部１２に設けられる付加フィルタは１つでもよい。この場合、Ｘ線管とＸ線絞りの間に挿入される部位に応じて厚みが異なる付加フィルタが用いられ、フィルタ選択処理では、最大電力、被曝限度、ＳＩＤ、及び体厚と、付加フィルタの厚みとの関係を示す対応表が用いられる。処理回路４４は、フィルタ選択機能４４３により、対応表、透視回数Ｎの透視における最大電力、被曝限度、ＳＩＤ、及び体厚に基づいて、Ｘ線管とＸ線絞りの間に挿入される部位における付加フィルタの厚みを決定する。そして、処理回路４４は、駆動制御機能４４４により、決定された付加フィルタの厚みに基づいて、付加フィルタにおけるＸ線管とＸ線絞りの間に挿入される部位を調整する。この場合、フィルタ選択機能４４３を実現する処理回路４４は、厚み決定部の一例である。

なお、第１の実施形態乃至第６の実施形態の構成うち複数の構成が組み合わされてもよい。例えば、処理回路４４は、フィルタ選択機能４４３により、透視回数Ｎの透視におけるＦＰＤ素子サイズと、焦点サイズと、最大電力と、被曝限度と、体厚とに基づいて、複数の付加フィルタのうちＸ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する付加フィルタを選択してもよく、透視回数Ｎの透視におけるＦＰＤ素子サイズと、ＦＰＤ画素サイズと、画素サイズと、焦点サイズと、パルスレートと、最大電力と、被曝限度と、体厚とに基づいて、複数の付加フィルタのうちＸ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する付加フィルタを選択してもよい。また、例えば、処理回路４４は、フィルタ選択機能４４３により、透視回数Ｎの透視におけるＦＰＤ画素サイズと、画素サイズと、視野サイズと、焦点サイズと、最大電力と、被曝限度とのうちのいずれか一つと、体厚とに基づいて、複数の付加フィルタのうちＸ線管の焦点からＸ線検出器１３までの経路に挿入する付加フィルタを選択してもよい。

なお、処理回路４４は、フィルタ選択処理において、被検体の体厚に関する情報として、体厚の代わりに、透視回数Ｎ－１の透視において前述のフィードバック制御により被写体条件の変化に応じて適切に調整されたＸ線条件を用いてもよい。透視回数Ｎ－１の透視において前述のフィードバック制御により被写体条件の変化に応じて適切に調整されたＸ線条件は、例えば、透視回数Ｎ－１の透視の終了時におけるフィルタ特定情報、管電圧、管電流、パルス幅及びＡＧＣ倍率等である。

以上説明した少なくとも１つの実施形態によれば、目標線量に応じて適切な付加フィルタを決定することができる。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１…Ｘ線診断装置
１０…撮影装置
１１…高電圧発生装置
１２…Ｘ線発生部
１３…Ｘ線検出器
１４…Ｃアーム
１４２…Ｃアーム駆動装置
１５…Ｘ線発生部
３０…寝台装置
３１…基台
３２…寝台駆動装置
３３…天板
３４…支持フレーム
４０…コンソール装置
４１…メモリ
４２…ディスプレイ
４３…入力インターフェース
４４…処理回路
４４１…システム制御機能
４４２…撮像条件設定機能
４４３…フィルタ選択機能
４４４…駆動制御機能
４４５…Ｘ線制御機能
４４６…画像生成機能
４４７…表示制御機能
Ｖｐ１…管電圧推定値
Ｖｐ２…管電圧推定値
Ｉｐ１…管電流推定値
Ｉｐ２…管電流推定値
Ｍｐ１…ＡＧＣ倍率推定値
Ｍｐ２…ＡＧＣ倍率推定値
Ｗｐ１…パルス幅推定値
Ｗｐ２…パルス幅推定値
Ｖｔｈ１，Ｖｔｈ２，β…閾値
α１…設定値
Ｒ…被曝限度到達指数

Claims

Ｘ線を発生させるＸ線管と、
前記Ｘ線管から発せられたＸ線を検出するＸ線検出器と、
前記Ｘ線管から発せられたＸ線を減衰させるための複数のフィルタと、
前記Ｘ線管におけるＸ線の焦点から前記Ｘ線検出器へのＸ線の経路に対して、前記複数のフィルタのうちの少なくとも１つを挿入するフィルタ駆動部と、
前記Ｘ線検出器における画素の大きさ、前記Ｘ線検出器による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさ及びＸ線照射領域の大きさのうちの少なくとも一つと、被検体の体厚に関する情報と、に基づいて、前記複数のフィルタのうち前記経路に挿入されるフィルタを選択するフィルタ選択部と、
を備え、
前記フィルタ選択部は、前記Ｘ線検出器における画素の大きさ、前記Ｘ線検出器による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさ又は前記Ｘ線照射領域の大きさと、前記被検体の体厚に関する情報と、前記Ｘ線の焦点の大きさとに基づいて、前記経路に挿入されるフィルタを選択する、
Ｘ線診断装置。
前記フィルタ選択部は、前記Ｘ線検出器における画素の大きさと前記被検体の体厚に関する情報とに基づいて、前記Ｘ線検出器における画素の大きさが大きい場合に、前記Ｘ線検出器における画素の大きさが小さい場合に選択されるフィルタの厚み以上の厚みを有するフィルタを、前記経路に挿入されるフィルタとして選択する、
請求項１に記載のＸ線診断装置。
前記Ｘ線検出器は、複数の検出素子を備え、
前記フィルタ選択部は、前記検出素子の大きさに基づいて、前記Ｘ線検出器における画素の大きさを取得する、
請求項２に記載のＸ線診断装置。
前記Ｘ線検出器は、複数の検出素子を備え、
前記フィルタ選択部は、前記Ｘ線検出器の１画素に対応する前記検出素子の数に基づいて、前記Ｘ線検出器における画素の大きさを取得する、請求項２に記載のＸ線診断装置。
前記フィルタ選択部は、前記Ｘ線検出器による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさと前記被検体の体厚に関する情報とに基づいて、前記Ｘ線検出器による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさが大きい場合に、前記Ｘ線検出器による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさが小さい場合に選択されるフィルタの厚み以上の厚みを有するフィルタを、前記経路に挿入されるフィルタとして選択する、
請求項１に記載のＸ線診断装置。
前記フィルタ選択部は、前記Ｘ線照射領域の大きさと前記被検体の体厚に関する情報とに基づいて、前記Ｘ線照射領域の大きさが大きい場合に、前記Ｘ線照射領域の大きさが小さい場合に選択されるフィルタの厚み以上の厚みを有するフィルタを、前記経路に挿入されるフィルタとして選択する、
請求項１に記載のＸ線診断装置。
前記フィルタ選択部は、
前記焦点の大きさが大きい場合に、前記焦点の大きさが小さい場合に選択されるフィルタの厚み以上の厚みを有するフィルタを、前記経路に挿入されるフィルタとして選択する、
請求項１に記載のＸ線診断装置。
前記フィルタ選択部は、前記Ｘ線検出器における画素の大きさ、前記Ｘ線検出器による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさ又は前記Ｘ線照射領域の大きさと、前記被検体の体厚に関する情報と、前記Ｘ線管から発せられたＸ線のパルスレートと、に基づいて、前記経路に挿入されるフィルタを選択する、請求項１乃至７のうちいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
前記フィルタ選択部は、前記パルスレートが大きい場合に、前記パルスレートが小さい場合に選択されるフィルタの厚み以上の厚みを有するフィルタを、前記経路に挿入されるフィルタとして選択する、
請求項８に記載のＸ線診断装置。
前記フィルタ選択部は、前記Ｘ線検出器における画素の大きさ、前記Ｘ線検出器による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさ又は前記Ｘ線照射領域の大きさと、前記被検体の体厚に関する情報と、Ｘ線管の最大の出力、単位時間あたりの被写体へのＸ線の入射線量の上限値、及び線源受像面間距離のうち少なくとも１つと、に基づいて、前記経路に挿入されるフィルタを選択する、請求項１乃至９のうちいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
前記被検体の体厚に関する情報は、フィードバック制御により調整されたＸ線条件、又は、フィードバック制御により調整されたＸ線条件に基づいて算出された被検体の体厚の推定値である、請求項１乃至１０のうちいずれか一項に記載のＸ線診断装置。
Ｘ線を発生させるＸ線管と、
前記Ｘ線管から発せられたＸ線を検出するＸ線検出器と、
前記Ｘ線管の焦点から前記Ｘ線検出器へのＸ線の経路に挿入される部位に応じて厚みが異なり、前記Ｘ線管から発せられたＸ線を減衰させるためのフィルタと、
前記フィルタにおける前記経路に挿入される部位を調整するフィルタ駆動部と、
前記Ｘ線検出器における画素の大きさ、前記Ｘ線検出器による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさ又はＸ線照射領域の大きさのうちの少なくとも一つと、被検体の体厚に関する情報と、に基づいて、前記経路に挿入する部位における前記フィルタの厚みを決定する厚み決定部と、
を備え、
前記厚み決定部は、
前記Ｘ線検出器における画素の大きさ、前記Ｘ線検出器による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさ又は前記Ｘ線照射領域の大きさと、前記被検体の体厚に関する情報と、前記Ｘ線の焦点の大きさとに基づいて、前記経路に挿入されるフィルタの厚みを決定し、
前記Ｘ線照射領域の大きさと前記体厚に関する情報とに基づいて前記経路に挿入されるフィルタの厚みを決定する場合、前記Ｘ線照射領域の大きさの変更に応じて前記経路に挿入されるフィルタの厚みを決定する、
Ｘ線診断装置。
Ｘ線を発生させるＸ線管と、
前記Ｘ線管から発せられたＸ線を検出するＸ線検出器と、
前記Ｘ線管の焦点から前記Ｘ線検出器へのＸ線の経路に挿入される部位に応じて厚みが異なり、前記Ｘ線管から発せられたＸ線を減衰させるためのフィルタと、
前記フィルタにおける前記経路に挿入される部位を調整するフィルタ駆動部と、
前記Ｘ線検出器における画素の大きさ、前記Ｘ線検出器による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさ又はＸ線照射領域の大きさのうちの少なくとも一つと、被検体の体厚に関する情報と、に基づいて、前記経路に挿入する部位における前記フィルタの厚みを決定する厚み決定部と、
前記Ｘ線管と前記Ｘ線検出器とを用いた動画の撮像を指示するための操作部と、
前記Ｘ線管によるＸ線の照射の条件を決定するＸ線条件決定部と、
を備え、
前記厚み決定部は、
前記操作部への操作に応じて実行される第１の動画撮像における前記Ｘ線検出器の出力と、前記厚み決定部により決定された前記フィルタの厚みに関する情報とに基づいて、前記第１の動画撮像の後に前記操作部への操作に応じて実行される第２の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定し、
前記第２の動画撮像における前記Ｘ線検出器の出力と、前記厚み決定部により決定された前記フィルタの厚みに関する情報とに基づいて、前記第２の動画撮像の後に前記操作部への操作に応じて実行される第３の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定し、
前記Ｘ線照射領域の大きさと前記体厚に関する情報とに基づいて前記経路に挿入されるフィルタの厚みを決定する場合、前記Ｘ線照射領域の大きさの変更に応じて前記経路に挿入されるフィルタの厚みを決定する、
Ｘ線診断装置。
前記フィルタ選択部は、
前記焦点の大きさが大きい場合に、前記焦点の大きさが小さい場合に選択されるフィルタの厚み以上の厚みを有するフィルタを、前記経路に挿入されるフィルタとして選択する、
請求項１に記載のＸ線診断装置。
Ｘ線を発生させるＸ線管と、
前記Ｘ線管から発せられたＸ線を検出するＸ線検出器と、
前記Ｘ線管から発せられたＸ線を減衰させるための複数のフィルタと、
前記Ｘ線管におけるＸ線の焦点から前記Ｘ線検出器へのＸ線の経路に対して、前記複数のフィルタのうちの少なくとも１つを挿入するフィルタ駆動部と、
前記Ｘ線検出器における画素の大きさ、前記Ｘ線検出器による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさ及びＸ線照射領域の大きさのうちの少なくとも一つと、被検体の体厚に関する情報と、に基づいて、前記複数のフィルタのうち前記経路に挿入されるフィルタを選択するフィルタ選択部と、
を備え、
前記フィルタ選択部は、前記Ｘ線検出器における画素の大きさ、前記Ｘ線検出器による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさ又は前記Ｘ線照射領域の大きさと、前記被検体の体厚に関する情報と、前記Ｘ線管から発せられたＸ線のパルスレートと、に基づいて、前記経路に挿入されるフィルタを選択する、
Ｘ線診断装置。
前記フィルタ選択部は、前記パルスレートが大きい場合に、前記パルスレートが小さい場合に選択されるフィルタの厚み以上の厚みを有するフィルタを、前記経路に挿入されるフィルタとして選択する、
請求項１５に記載のＸ線診断装置。
Ｘ線を発生させるＸ線管と、
前記Ｘ線管から発せられたＸ線を検出するＸ線検出器と、
前記Ｘ線管から発せられたＸ線を減衰させるための複数のフィルタと、
前記Ｘ線管におけるＸ線の焦点から前記Ｘ線検出器へのＸ線の経路に対して、前記複数のフィルタのうちの少なくとも１つを挿入するフィルタ駆動部と、
前記Ｘ線検出器における画素の大きさ、前記Ｘ線検出器による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさ及びＸ線照射領域の大きさのうちの少なくとも一つと、被検体の体厚に関する情報と、に基づいて、前記複数のフィルタのうち前記経路に挿入されるフィルタを選択するフィルタ選択部と、
前記Ｘ線管と前記Ｘ線検出器とを用いた動画の撮像を指示するための操作部と、
前記Ｘ線管によるＸ線の照射の条件を決定するＸ線条件決定部と、
を備え、
前記Ｘ線条件決定部は、
前記操作部への操作に応じて実行される第１の動画撮像における前記Ｘ線検出器の出力と、前記フィルタ選択部により選択された前記経路に挿入されるフィルタに関する情報とに基づいて、前記第１の動画撮像の後に前記操作部への操作に応じて実行される第２の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定し、
前記第２の動画撮像における前記Ｘ線検出器の出力と、前記フィルタ選択部により選択された前記経路に挿入されるフィルタに関する情報とに基づいて、前記第２の動画撮像の後に前記操作部への操作に応じて実行される第３の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定する、
Ｘ線診断装置。
Ｘ線を発生させるＸ線管と、
前記Ｘ線管から発せられたＸ線を検出するＸ線検出器と、
前記Ｘ線管から発せられたＸ線を減衰させるための複数のフィルタと、
前記Ｘ線管におけるＸ線の焦点から前記Ｘ線検出器へのＸ線の経路に対して、前記複数のフィルタのうちの少なくとも１つを挿入するフィルタ駆動部と、
前記Ｘ線検出器における画素の大きさ、前記Ｘ線検出器による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさ及びＸ線照射領域の大きさのうちの少なくとも一つと、被検体の体厚に関する情報と、に基づいて、前記複数のフィルタのうち前記経路に挿入されるフィルタを選択するフィルタ選択部と、
を備え、
前記フィルタ選択部は、前記Ｘ線照射領域の大きさと前記体厚に関する情報とに基づいて前記経路に挿入されるフィルタを選択する場合、前記Ｘ線照射領域の大きさの変更に応じて前記経路に挿入されるフィルタを変更し、
前記フィルタ選択部は、前記Ｘ線検出器における画素の大きさ、前記Ｘ線検出器による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさ又は前記Ｘ線照射領域の大きさと、前記被検体の体厚に関する情報と、前記Ｘ線の焦点の大きさとに基づいて、前記経路に挿入されるフィルタを選択する、
Ｘ線診断装置。
Ｘ線を発生させるＸ線管と、
前記Ｘ線管から発せられたＸ線を検出するＸ線検出器と、
前記Ｘ線管から発せられたＸ線を減衰させるための複数のフィルタと、
前記Ｘ線管におけるＸ線の焦点から前記Ｘ線検出器へのＸ線の経路に対して、前記複数のフィルタのうちの少なくとも１つを挿入するフィルタ駆動部と、
前記Ｘ線検出器における画素の大きさ、前記Ｘ線検出器による出力に基づくＸ線画像における画素の大きさ及びＸ線照射領域の大きさのうちの少なくとも一つと、被検体の体厚に関する情報と、に基づいて、前記複数のフィルタのうち前記経路に挿入されるフィルタを選択するフィルタ選択部と、
前記Ｘ線管と前記Ｘ線検出器とを用いた動画の撮像を指示するための操作部と、
前記Ｘ線管によるＸ線の照射の条件を決定するＸ線条件決定部と、
を備え、
前記フィルタ選択部は、前記Ｘ線照射領域の大きさと前記体厚に関する情報とに基づいて前記経路に挿入されるフィルタを選択する場合、前記Ｘ線照射領域の大きさの変更に応じて前記経路に挿入されるフィルタを変更し、
前記Ｘ線条件決定部は、
前記操作部への操作に応じて実行される第１の動画撮像における前記Ｘ線検出器の出力と、前記フィルタ選択部により選択された前記経路に挿入されるフィルタに関する情報とに基づいて、前記第１の動画撮像の後に前記操作部への操作に応じて実行される第２の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定し、
前記第２の動画撮像における前記Ｘ線検出器の出力と、前記フィルタ選択部により選択された前記経路に挿入されるフィルタに関する情報とに基づいて、前記第２の動画撮像の後に前記操作部への操作に応じて実行される第３の動画撮像におけるＸ線の焦点の大きさを決定する、
Ｘ線診断装置。