CN102969099B - 电阻器及其制造方法 - Google Patents

电阻器及其制造方法 Download PDF

Info

Publication number
CN102969099B
CN102969099B CN201210472650.7A CN201210472650A CN102969099B CN 102969099 B CN102969099 B CN 102969099B CN 201210472650 A CN201210472650 A CN 201210472650A CN 102969099 B CN102969099 B CN 102969099B
Authority
CN
China
Prior art keywords
resistor
bonding jumper
metal strip
terminal area
coating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201210472650.7A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102969099A (zh
Inventor
C·L·史密斯
T·L·伯奇
T·L·怀亚特
T·L·韦克
R·布龙
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Vishay Dale Electronics LLC
Original Assignee
Vishay Dale Electronics LLC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Vishay Dale Electronics LLC filed Critical Vishay Dale Electronics LLC
Publication of CN102969099A publication Critical patent/CN102969099A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102969099B publication Critical patent/CN102969099B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C17/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
    • H01C17/003Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors using lithography, e.g. photolithography
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C1/00Details
    • H01C1/14Terminals or tapping points or electrodes specially adapted for resistors; Arrangements of terminals or tapping points or electrodes on resistors
    • H01C1/142Terminals or tapping points or electrodes specially adapted for resistors; Arrangements of terminals or tapping points or electrodes on resistors the terminals or tapping points being coated on the resistive element
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C17/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
    • H01C17/22Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for trimming
    • H01C17/24Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for trimming by removing or adding resistive material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C17/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors
    • H01C17/28Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for applying terminals
    • H01C17/288Apparatus or processes specially adapted for manufacturing resistors adapted for applying terminals by thin film techniques
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01CRESISTORS
    • H01C3/00Non-adjustable metal resistors made of wire or ribbon, e.g. coiled, woven or formed as grids
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49082Resistor making
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49082Resistor making
    • Y10T29/49087Resistor making with envelope or housing
    • Y10T29/49098Applying terminal

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
  • Details Of Resistors (AREA)
  • Non-Adjustable Resistors (AREA)

Abstract

本发明提供了一种金属条型电阻器(10)。这种金属条型电阻器包括金属条(18),其形成电阻元件并且在不使用单独基片的情况下为金属条型电阻器提供支承。第一终端和第二相反终端包覆着金属条。第一终端和第二相反终端的每个上具有镀层(28)。还有在第一终端和第二相反终端之间包覆着金属条的绝缘材料(20)。本发明提供了一种用来形成金属条型电阻器的方法,其中金属条在没有使用单独基片的情况下给金属条型电阻器提供支承。这种方法包括将绝缘材料涂敷至金属条;应用图像映射工艺以形成包覆着电阻材料的导电图形,其中导电图形包括第一终端和第二相反终端;对导电图形进行电镀;以及调节金属条的电阻。

Description

电阻器及其制造方法
本申请是申请日为2008年9月30日、申请号为200880131264.3、发明名称为“电阻器及其制造方法”的发明专利申请的分案申请。
技术领域
本发明涉及低电阻值的金属条型电阻器及其制造方法。
背景技术
以前已经有各种方式构造金属条型电阻器(metal strip resistor)。例如,授权给Zandman和Person的美国专利No.5,287,083公开了镀镍至电阻材料。然而,这种工艺对于所得到金属条型电阻器的尺寸存在着局限性。镀镍方法由于用于确定镀层几何形状的方法而限制用于较大尺寸。另外,镀镍方法对于激光切边时的电阻测量具有限制。
另一种方法是将铜条片焊接至电阻材料,以形成终端(termination)。这种方法在授权给Rainer的美国专利No.5,604,477中公开。这种焊接方法限制于较大尺寸的电阻器,因为焊接尺寸占用空间。
又一种方法是将铜包覆至电阻材料,以形成终端,比如授权给Smjekal的美国专利No.6,401,329中公开的。这种包覆方法限于较大尺寸电阻器,其原因是用来移除铜材料以限定有效电阻器元件的宽度和位置的切削工艺的公差。
其他方法在授权给Tsukada的美国专利No.7,327,214、授权给Tsukada的美国专利No.7,330,099和授权给Tsukada的美国专利No.7,326,999中公开。这些方法也具有局限性。
因而,所述方法都具有一个或多个局限性。因此,就需要小尺寸的低电阻值的金属条型电阻器及其制造方法。
发明内容
因此,本发明的主要目标、特点和优点是对现有技术进行改进,并提供一种小尺寸的低电阻值的金属条型电阻器及其制造方法。
根据本发明的一个方面,本发明提供了一种金属条型电阻器。这种金属条型电阻器包括金属条,其形成电阻元件并且在不使用单独基片的情况下为金属条型电阻器提供支承。第一终端和第二相反终端包覆着(overlay)金属条。第一终端和第二相反终端的每个上具有镀层。还有包覆第一终端和第二相反终端之间的金属条的绝缘材料。
根据本发明的另一个方面,本发明提供了一种金属条型电阻器。这种金属条型电阻器包括金属条,其形成电阻元件并且在不使用单独基片的情况下为金属条型电阻器提供支承。第一终端和第二相反终端被直接溅镀至金属条。第一终端和第二相反终端的每个上有镀层。还有包覆着第一终端和第二相反终端之间的金属条的绝缘材料。
根据本发明的又一个方面,本发明提供了一种金属条型电阻器。这种金属条型电阻器包括金属条,其形成电阻元件并且在不使用单独基片的情况下为金属条型电阻器提供支承。粘合层溅镀至金属条。第一终端和第二相反终端溅镀至粘合层。第一终端和第二相反终端的每个上有镀层,并且还有在第一终端和第二相反终端之间包覆着金属条的绝缘材料。
根据本发明的另一个方面,本发明提供了一种用来形成金属条型电阻器的方法,其中金属条在没有使用单独基片的情况下给金属条型电阻器提供支承。这种方法包括将绝缘材料涂敷至金属条;应用图像映射工艺以形成包覆着电阻材料的导电图形,其中导电图形包括第一终端和第二相反终端;对导电图形进行电镀;以及调节金属条的电阻。
根据本发明的另一个方面,本发明提供了一种用来形成金属条型电阻器的方法,其中金属条在没有使用单独基片的情况下给金属条型电阻器提供支承。这种方法包括将掩模与金属条配合以覆盖着金属条的部分;将粘合层溅镀至金属条,掩模防止粘合层沉积在由掩模覆盖的金属条的部分上,由掩模覆盖的金属条的那些部分形成包括第一终端和第二相反终端的图形。这种方法还包括将绝缘材料涂敷至金属条以及调节金属条的电阻。
附图说明
图1是电阻器的一个实施例的横截视图。
图2是在制造工艺期间具有粘合层和掩模的电阻材料的横截视图。
图3是在制造工艺期间在施加导电图形并进行电镀之后的横截视图。
图4是在制造工艺期间剥离材料之后的横截视图。
图5是在制造工艺期间的电阻片的俯视图。
图6是在制造工艺期间的电阻片在电阻已被调节之后的俯视图。
图7是在制造工艺期间的电阻片的俯视图,其中绝缘材料覆盖着终端之间的暴露电阻材料。
图8是电阻器在镀层工艺之后的横截视图。
图9是示出四端式电阻器的电阻片的俯视图。
具体实施方式
本发明涉及金属条型电阻器以及制造金属条型电阻器的方法。这种方法适用于制造0402尺寸或更小的低欧姆值的、金属条表面安装型电阻器。0402尺寸是用于具有0.04英寸×0.02英寸(1.0毫米×0.5毫米)尺寸的某些无源元件的标准电子器件封装尺寸。也可使用的较小尺寸封装件的一个示例是0201尺寸。在本发明的内容中,低欧姆值通常是适合于在功率相关的场合中应用的值。低欧姆值通常是小于或等于3欧姆的数值,但经常是数倍于在1至1000毫欧的范围内的值。
制造金属条型电阻器的方法使用这样的一种工艺,其中电阻器的终端通过溅镀和镀层将铜添加至电阻材料来形成。这种方法采用图像映射掩模技术,其允许小得多、且好得多的限定终端特征。这种方法还允许使用非常薄的电阻材料(其是在非常小的电阻器中获得最高值所需的,这种电阻器不使用支承基片)。
图1是本发明的金属条型电阻器的一个实施例的横截视图。金属条型电阻器10由薄片电阻材料18比如但是不限于EVANOHM(镍铬铝铜合金),MANGANIN(铜锰镍合金),或其他类型的电阻材料形成。电阻材料18的厚度可基于期望的电阻而发生改变。然而,如果期望的话,电阻材料可相对较薄。注意到,电阻材料18是相对于电阻器10居中,并且给电阻器10提供支承,并且没有单独基片。
图1所示的电阻器10还包括可由CuTiW(铜、钛、钨)形成的可选粘合层16。粘合层16(如果使用的话)溅镀在电阻材料18的供铜镀层14结合于此的表面上。一些电阻材料可能需要使用粘合层16,而另一些则不需要。是否使用粘合层16,取决于电阻材料的合金以及是否其允许铜镀层通过适当的粘合剂进行直接结合。如果粘合层16是期望的、并且电阻材料18的两侧将承受或容纳衬垫,那么电阻材料18的两侧应当溅镀有粘合层16。
在溅镀工艺之前,金属掩模(图1未示出)可与电阻材料18的片材相匹配,以防止CuTiW材料沉积在片材将稍后成为有效电阻器区域的那些区域上。这个机械掩模步骤允许避免或省去在后续工艺中的镀金和回蚀步骤,因而降低成本。在使用镀金层或其他高导电性镀层时,镀金层24包覆着铜镀层14。设置有镀层28,其可以是镍镀层。锡镀层12包覆着镍镀层28,以提供可焊性。
图1还示出施加至或涂敷至电阻材料18的绝缘覆盖材料20。绝缘覆盖材料20优选地是耐高操作温度的硅酮聚酯。可使用耐化学物质并且能应付高温的其他类型绝缘材料。
图2示出相对薄的片材电阻材料,比如EVANOHM、MANGANIN或其他类型的电阻材料18。电阻材料18用作电阻器的基片和支承结构。没有单独的基片。这个片材电阻材料18的厚度可选择来获得较高或较低的电阻值范围。CuTiW(铜、钛、钨)或其他适合材料的底面层被溅镀在电阻材料18的表面上,其作为供铜镀层结合于此的粘合层16。在溅镀工艺之前,金属掩模可与这个片材电阻材料18相匹配,以防止用于粘合层16的CuTiW材料或其他材料沉积在这个片材的后来将成为有效电阻区域的区域上。这个机械掩模步骤避免或省去了后续工艺中的镀金和回蚀步骤,因而降低成本。
接着执行图像映射工艺。图像映射工艺可包括将干燥的光阻膜22层压至电阻材料18的两侧,以保护电阻材料18免于镀铜。然后,可使用光掩模,以利用对应于将沉积至电阻材料上的铜区域的图形来暴露光阻材料。光阻材料22然后显影,且如图2所示仅在将沉积铜或其他导电材料的区域中暴露电阻材料。
图3示出铜图形14。铜图形可包括单独的终端垫、条带或除了将成为有效电阻器区域以外的几乎完全覆盖区域。在使用条带或几乎全部覆盖图形的情况下,垫尺寸可在冲切操作中限定。终端垫的几何形状和数量能根据PCB安装要求以及所需的电连接(比如2线或4线电路模式或多电阻器阵列)而改变。铜14在电解工艺中进行镀层。薄层的Au(金)24被电镀在铜上。然后,光阻材料如图4所示剥离,并且接着没有由铜镀层14所覆盖的CuTiW材料16在化学蚀刻工艺中从有效电阻器区域剥离。在另一个实施例中,在移除光阻材料层之后,没有添加镀金层14,并且CuTiW层16没有剥离,以节约制造成本,但是这样同时损害了电气性质。在又一实施例中,没有添加金并且剥离不是必须的,因为CuTiW材料在溅镀步骤中被机械掩模。
所得到的终端板可作为薄片或薄片区段进行处理、或在一排或两排电阻器的条中进行处理。作为薄片进行处理将就这一点进行描述,但是这些后续处理也可施加至或应用至型材和条带。如图5所示,片材19是连续的实心体(尽管可存在对准孔),并且然后片材19的区域可移除以限定电阻器的长度和宽度的期望尺寸。优选地,这用冲切工具来完成,但是也可以通过化学蚀刻工艺或通过激光加工或机械切除不需要的材料来完成。
未调节电阻器的电阻值由铜垫的间隔决定,其由光掩模、电阻材料片材的长度、宽度和厚度限定。如图6所示,电阻值的调节可通过激光或其他工具移除材料26来完成,以增大电阻同时测量电阻值。电阻值的调节还可通过在电阻材料仍然暴露的区域中添加更多终端材料(端接材料)或其他导电性材料以降低电阻值来完成。在没有移除或添加材料的情况下,电阻器一样好地工作,只是电阻值的公差或容许量更宽。
如图7和8所示,终端之间暴露的电阻器材料由覆盖材料或涂覆材料20覆盖,覆盖材料是绝缘材料以防止电镀到电阻元件上并且改变其电阻值。覆盖材料20优选地是耐高操作温度的硅酮聚酯,但是也可以是耐化学物质并且能应付高温的其他绝缘材料。覆盖材料20优选地通过传送刮板进行施加或涂敷。受控量的覆盖材料20沉积在刮板的边缘上,并且然后通过刮板和电阻器之间的接触被传送至电阻器。也可使用施加覆盖材料20的其他方法,比如丝网印刷、辊接触传输、喷墨以及其他方法。然后,通过在炉中烘烤电阻器,覆盖材料20得到凝固。布置于覆盖材料20上的任何标记,将在处理过程中在这个点处通过墨水传送或烘烤或通过激光方法得到涂敷或施加。冲刀可用来从载体板上移除每个单独的电阻器。可使用从载体处进行单个化电阻器的其他方法,比如激光切割机或光阻掩模和化学蚀刻。
然后,各个电阻器进入电镀工艺,其中添加镍28和锡12以形成可焊接至PCB的部分,如图1所示。其他电镀材料可用于其他安装方法,比如用于结合应用场合的金。检查每个部件的DC直流电阻,并且公差内的那些零件放入产品包装件内,通常为带或卷,以用于装运。
因此,本发明已经公开了一种低电阻值材料的条型电阻器。电阻器可实现包括0402尺寸的小尺寸或更小尺寸的封装件。本发明预期众多变化,包括所使用材料的变化、是否使用粘合层、电阻器是2终端还是4终端、电阻器的具体电阻值、以及其他变化。另外,本发明还已经公开了一种用来形成低电阻金属条型电阻器的工艺。本发明预期众多变化、选项和替代,包括使用覆盖材料的方式、是否使用机械掩模步骤、以及其他变化。

Claims (12)

1.一种金属条型电阻器,其包括:
金属条,其形成电阻元件并且在不使用单独基片的情况下为金属条型电阻器提供支承;所述金属条具有第一表面、相反的第二表面、第一侧和相反的第二侧;
与金属条的第一表面的第一侧相邻的、采用图像映射掩模技术形成的第一终端区;
与金属条的第一表面的第二侧相邻的、采用图像映射掩模技术形成的第二终端区;以及
在第一终端区和第二终端区的每个上的镀层;
第一绝缘材料,其包覆着位于第一终端区和第二终端区之间的金属条的第一表面;
第二绝缘材料,其包覆着位于第一终端区和第二终端区之间的金属条的第二表面;
第一镀层,其从电阻元件底边缘且与电阻器的第一侧面紧邻地开始一直延伸、向上沿着电阻器的第一侧面、并且在电阻器顶表面处覆盖着第一终端区;以及
第二镀层,其从电阻元件底边缘且与电阻器的第二侧面紧邻地开始一直延伸、向上沿着电阻器的第二侧面、并且在电阻器顶表面处覆盖着第二终端区。
2.如权利要求1所述的金属条型电阻器,其中金属条是包括镍、铬、铝、锰、和铜中的至少一种的金属合金。
3.如权利要求1所述的金属条型电阻器,其中绝缘材料包括硅酮聚酯。
4.如权利要求1所述的金属条型电阻器,其中金属条型电阻器是0402尺寸(1.0毫米×0.5毫米)的片状电阻器。
5.如权利要求1所述的金属条型电阻器,还包括形成在金属条与第一终端区上的镀层之间的第一粘合层和形成在金属条与第二终端区上的镀层之间的第二粘合层。
6.如权利要求1所述的金属条型电阻器,还包括沿着金属条的第一侧延伸并且覆盖第一终端区上镀层的镀层以及沿着金属条的相反第二侧延伸并且覆盖第二终端区上镀层的镀层。
7.一种用来形成金属条型电阻器的方法,其中金属条在不使用单独基片的情况下为金属条型电阻器提供支承,并且所述金属条具有第一表面、相反的第二表面、第一侧和相反的第二侧,所述方法包括:
将掩模与金属条相匹配,以覆盖金属条的第一表面上的部分;
所述掩模形成图形,其包括第一终端和相反的第二终端;
镀第一终端和相反的第二终端;
将第一绝缘材料施加到位于第一终端区和第二终端区之间的金属条的第一表面;
将第二绝缘材料施加到位于第一终端区和第二终端区之间的金属条的第二表面;
镀第一镀层,所述第一镀层从电阻器底表面的第二绝缘材料开始一直延伸、向上沿着电阻器的第一侧面、并且覆盖着电阻器顶表面的第一终端区;
镀第二镀层,所述第二镀层从电阻器底表面的第二绝缘材料开始一直延伸、向上沿着电阻器的第二侧面、并且覆盖着电阻器顶表面的第二终端区;以及
调节金属条的电阻。
8.如权利要求7所述的方法,还包括在形成第一终端和相反的第二终端之前在金属条上溅镀粘合层。
9.如权利要求7所述的方法,其中调节电阻的步骤是使用冲切工具来完成。
10.如权利要求7所述的方法,其中调节电阻的步骤是使用激光来完成。
11.如权利要求7所述的方法,还包括使金属条型电阻器实现单个化的步骤。
12.如权利要求7所述的方法,还包括将金属条型电阻器封装成0402尺寸(1.0毫米×0.5毫米)的片状电阻器封装件。
CN201210472650.7A 2008-09-05 2008-09-30 电阻器及其制造方法 Active CN102969099B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12/205,197 US8242878B2 (en) 2008-09-05 2008-09-05 Resistor and method for making same
US12/205,197 2008-09-05
CN2008801312643A CN102165538B (zh) 2008-09-05 2008-09-30 电阻器及其制造方法

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2008801312643A Division CN102165538B (zh) 2008-09-05 2008-09-30 电阻器及其制造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102969099A CN102969099A (zh) 2013-03-13
CN102969099B true CN102969099B (zh) 2018-04-06

Family

ID=40427643

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2008801312643A Active CN102165538B (zh) 2008-09-05 2008-09-30 电阻器及其制造方法
CN201210472650.7A Active CN102969099B (zh) 2008-09-05 2008-09-30 电阻器及其制造方法

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2008801312643A Active CN102165538B (zh) 2008-09-05 2008-09-30 电阻器及其制造方法

Country Status (8)

Country Link
US (4) US8242878B2 (zh)
EP (3) EP2332152B1 (zh)
JP (3) JP5474975B2 (zh)
CN (2) CN102165538B (zh)
AT (1) ATE552597T1 (zh)
HK (1) HK1160547A1 (zh)
TW (3) TWI529751B (zh)
WO (1) WO2010027371A1 (zh)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8242878B2 (en) * 2008-09-05 2012-08-14 Vishay Dale Electronics, Inc. Resistor and method for making same
WO2011028870A1 (en) 2009-09-04 2011-03-10 Vishay Dale Electronics, Inc. Resistor with temperature coefficient of resistance (tcr) compensation
JP2012174760A (ja) * 2011-02-18 2012-09-10 Kamaya Denki Kk 金属板低抵抗チップ抵抗器及びその製造方法
KR101499716B1 (ko) * 2013-06-05 2015-03-09 삼성전기주식회사 어레이 타입 칩 저항기 및 그 제조 방법
TWI490889B (zh) * 2013-08-26 2015-07-01 Hung Ju Cheng 合金晶片電阻器製造方法
JP6408758B2 (ja) * 2013-09-24 2018-10-17 Koa株式会社 ジャンパー素子
US9396849B1 (en) 2014-03-10 2016-07-19 Vishay Dale Electronics Llc Resistor and method of manufacture
DE102014015805B3 (de) * 2014-10-24 2016-02-18 Isabellenhütte Heusler Gmbh & Co. Kg Widerstand, Herstellungsverfahren dafür und Verbundmaterialband zum Herstellen des Widerstands
CN104760919A (zh) * 2014-11-26 2015-07-08 哈尔滨工业大学深圳研究生院 一种热敏薄膜及其导线制作方法
US9818512B2 (en) * 2014-12-08 2017-11-14 Vishay Dale Electronics, Llc Thermally sprayed thin film resistor and method of making
JP6686907B2 (ja) * 2014-12-26 2020-04-22 日立化成株式会社 エポキシ樹脂、エポキシ樹脂組成物、無機フィラー含有エポキシ樹脂組成物、樹脂シート、硬化物、及びエポキシ化合物
JP7018251B2 (ja) * 2015-05-21 2022-02-10 ローム株式会社 チップ抵抗器
US10083781B2 (en) * 2015-10-30 2018-09-25 Vishay Dale Electronics, Llc Surface mount resistors and methods of manufacturing same
KR101792367B1 (ko) 2015-12-22 2017-11-01 삼성전기주식회사 칩 저항기 및 그 제조 방법
JP6795895B2 (ja) * 2016-02-19 2020-12-02 Koa株式会社 金属板抵抗器の製造方法
RU2640575C2 (ru) * 2016-03-11 2018-01-10 Акционерное общество "Финансово-промышленная компания "Энергия" Низкоомный чип-резистор
RU2639313C2 (ru) * 2016-03-11 2017-12-21 Акционерное общество "Финансово-промышленная компания "Энергия" Способ изготовления низкоомного чип-резистора
US10763017B2 (en) * 2017-05-23 2020-09-01 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Metal plate resistor and method for manufacturing same
US10438729B2 (en) 2017-11-10 2019-10-08 Vishay Dale Electronics, Llc Resistor with upper surface heat dissipation
KR102356802B1 (ko) * 2017-11-28 2022-01-28 삼성전기주식회사 칩 저항기 저항층 형성용 페이스트 및 칩 저항기
WO2019107188A1 (ja) * 2017-12-01 2019-06-06 パナソニックIpマネジメント株式会社 金属板抵抗器およびその製造方法
CN109903938A (zh) * 2017-12-07 2019-06-18 南京萨特科技发展有限公司 一种一体散热的电阻器及制造方法
JP2020010004A (ja) * 2018-07-12 2020-01-16 Koa株式会社 抵抗器及び回路基板
RU2703720C1 (ru) * 2018-12-07 2019-10-22 Акционерное общество "Омский научно-исследовательский институт приборостроения" (АО "ОНИИП") Способ определения температурного коэффициента сопротивления тонких проводящих пленок с использованием четырехзондового метода измерений
CN110660551B (zh) * 2019-09-20 2021-03-02 丽智电子(南通)有限公司 一种制作用于电子产品的合金板金属电阻的方法
DE102020101070A1 (de) * 2020-01-17 2021-07-22 Munich Electrification Gmbh Widerstandsanordnung, Messschaltung mit einer Widerstandsordnung sowie Verfahren zur Herstellung eines bandförmigen Werkstoffverbundes für die Widerstandsanordnung
IL300693B2 (en) 2020-08-20 2024-02-01 Vishay Dale Electronics Llc Resistors, current sensing resistors, battery transitions, transition resistors, and flattening for their production
CN116959827A (zh) 2022-04-13 2023-10-27 国巨电子(中国)有限公司 点火电阻的制造方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4780702A (en) * 1985-02-15 1988-10-25 U.S. Philips Corporation Chip resistor and method for the manufacture thereof
EP1283528A2 (de) * 2001-08-10 2003-02-12 Isabellenhütte Heusler GmbH KG Niederohmiger elektrischer Widerstand und Verfahren zur Herstellung solcher Widerst-nde

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4830723A (en) * 1988-06-22 1989-05-16 Avx Corporation Method of encapsulating conductors
US5287083A (en) 1992-03-30 1994-02-15 Dale Electronics, Inc. Bulk metal chip resistor
JPH0620803A (ja) * 1992-07-06 1994-01-28 Tdk Corp 薄膜抵抗器及び薄膜抵抗器の製造方法
US5604477A (en) 1994-12-07 1997-02-18 Dale Electronics, Inc. Surface mount resistor and method for making same
US5917445A (en) * 1996-12-31 1999-06-29 Honeywell Inc. GPS multipath detection method and system
EP1028436B1 (en) 1997-10-02 2008-07-23 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Resistor and method for manufacturing the same
JP2000195707A (ja) * 1998-12-28 2000-07-14 Murata Mfg Co Ltd チップ型サ―ミスタ
JP2000232008A (ja) * 1999-02-12 2000-08-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 抵抗器およびその製造方法
US6154173A (en) * 1999-03-24 2000-11-28 Trimble Navigation Limited Method and apparatus for processing multipath reflection effects in timing systems
GB9923847D0 (en) * 1999-10-09 1999-12-08 Eaton Ltd Resistor banks
JP2001176701A (ja) * 1999-12-17 2001-06-29 Tateyama Kagaku Kogyo Kk 抵抗器とその製造方法
US6401329B1 (en) 1999-12-21 2002-06-11 Vishay Dale Electronics, Inc. Method for making overlay surface mount resistor
US6510605B1 (en) 1999-12-21 2003-01-28 Vishay Dale Electronics, Inc. Method for making formed surface mount resistor
US6818965B2 (en) * 2001-05-29 2004-11-16 Cyntec Company Process and configuration for manufacturing resistors with precisely controlled low resistance
JP2003045703A (ja) * 2001-07-31 2003-02-14 Koa Corp チップ抵抗器及びその製造方法
WO2003107361A1 (ja) 2002-06-13 2003-12-24 ローム株式会社 低い抵抗値を有するチップ抵抗器とその製造方法
JP3860515B2 (ja) 2002-07-24 2006-12-20 ローム株式会社 チップ抵抗器
JP3848286B2 (ja) 2003-04-16 2006-11-22 ローム株式会社 チップ抵抗器
JP4057462B2 (ja) * 2003-04-28 2008-03-05 ローム株式会社 チップ抵抗器およびその製造方法
US20050046543A1 (en) * 2003-08-28 2005-03-03 Hetzler Ullrich U. Low-impedance electrical resistor and process for the manufacture of such resistor
JP4358664B2 (ja) 2004-03-24 2009-11-04 ローム株式会社 チップ抵抗器およびその製造方法
DE102004033680B4 (de) * 2004-07-09 2009-03-12 Wobben, Aloys, Dipl.-Ing. Lastwiderstand
JP2007049071A (ja) * 2005-08-12 2007-02-22 Rohm Co Ltd チップ抵抗器とその製造方法
JP4796815B2 (ja) * 2005-10-25 2011-10-19 釜屋電機株式会社 超小形チップ抵抗器及び超小形チップ抵抗器用抵抗体ペースト。
JP2007189123A (ja) * 2006-01-16 2007-07-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd 抵抗器の製造方法
JP4735318B2 (ja) * 2006-02-16 2011-07-27 パナソニック株式会社 抵抗器およびその製造方法
JP4971693B2 (ja) * 2006-06-09 2012-07-11 コーア株式会社 金属板抵抗器
TWI430293B (zh) * 2006-08-10 2014-03-11 Kamaya Electric Co Ltd Production method of corner plate type chip resistor and corner plate type chip resistor
US7888746B2 (en) 2006-12-15 2011-02-15 Hvvi Semiconductors, Inc. Semiconductor structure and method of manufacture
JP3143688U (ja) * 2008-05-22 2008-07-31 城南精工股▲分▼有限公司 小型抵抗器
US8242878B2 (en) 2008-09-05 2012-08-14 Vishay Dale Electronics, Inc. Resistor and method for making same

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4780702A (en) * 1985-02-15 1988-10-25 U.S. Philips Corporation Chip resistor and method for the manufacture thereof
EP1283528A2 (de) * 2001-08-10 2003-02-12 Isabellenhütte Heusler GmbH KG Niederohmiger elektrischer Widerstand und Verfahren zur Herstellung solcher Widerst-nde

Also Published As

Publication number Publication date
CN102969099A (zh) 2013-03-13
TW201011784A (en) 2010-03-16
JP5474975B2 (ja) 2014-04-16
EP2332152A1 (en) 2011-06-15
US8686828B2 (en) 2014-04-01
TW201250725A (en) 2012-12-16
ATE552597T1 (de) 2012-04-15
WO2010027371A1 (en) 2010-03-11
JP2012502468A (ja) 2012-01-26
US9251936B2 (en) 2016-02-02
US20120299694A1 (en) 2012-11-29
TW201624505A (zh) 2016-07-01
EP2498265B1 (en) 2013-12-11
JP6302877B2 (ja) 2018-03-28
EP2498265A3 (en) 2012-10-03
US9916921B2 (en) 2018-03-13
JP5792781B2 (ja) 2015-10-14
EP2682956A1 (en) 2014-01-08
TWI529751B (zh) 2016-04-11
CN102165538A (zh) 2011-08-24
US20140210587A1 (en) 2014-07-31
HK1160547A1 (en) 2012-08-17
US20100060409A1 (en) 2010-03-11
JP2015233158A (ja) 2015-12-24
EP2498265A2 (en) 2012-09-12
US20160225498A1 (en) 2016-08-04
US8242878B2 (en) 2012-08-14
CN102165538B (zh) 2013-01-02
EP2332152B1 (en) 2012-04-04
JP2013254988A (ja) 2013-12-19
TWI394175B (zh) 2013-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102969099B (zh) 电阻器及其制造方法
US8044765B2 (en) Chip resistor and method of making the same
JP2003168601A (ja) チップ抵抗器
CN100576373C (zh) 片状电阻器及其制造方法
US7352273B2 (en) Chip resistor
US20020013997A1 (en) Method of manufacture of integral low and high value resistors on a printed circuit board
JP3118509B2 (ja) チップ抵抗器
US20200120811A1 (en) Method of manufacture for embedded ic chip directly connected to pcb
JP2002124401A (ja) 抵抗器及びその製造方法
JP3435419B2 (ja) チップ抵抗器
JP2004311876A (ja) モジュール部品とその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
REG Reference to a national code

Ref country code: HK

Ref legal event code: DE

Ref document number: 1183156

Country of ref document: HK

GR01 Patent grant
GR01 Patent grant