CN102934361B - 电源检测电路 - Google Patents
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Abstract
一种电源检测电路，在该电源检测电路中，检测用比较电路(104)通过输入切换信号生成电路(112)，在其输出的激活状态和非激活状态之间的切换时附近，将输入信号(102)和基准电压(103)进行输入，且进行这两者的比较。另一方面，在所述切换时附近以外，比较电路非使用时输入电压(110)被输入到检测用比较电路(104)，使该差动输入被固定为同电位。因此，会有效地抑制因BT劣化引起的电源检测精度的时效劣化。
Description
技术领域
本发明涉及一种通过检测电源而输出信号的电源检测电路。
背景技术
一般地，以预先决定的规定电压为基础来检测电源的电源检测电路，被用作例如对半导体集成电路内的运算电路的复位信号生成电路。一般地，当电源电压是规定电压Vo以下时，设为电源处于未检测而输出电源检测信号，由此使运算电路停止，另一方面，当电源电压比规定电压Vo高时，设为电源已被检测而输出电源检测信号，由此使运算电路动作，通过这些，使得半导体集成电路动作。
下面，说明电源检测电路的构成。
电源检测电路，如图8所示，由通过在电源端子-接地端子之间串联配置的2个电阻而将电源电压进行线性分割并且输出该分割点处的电压即输出电压12的信号的电源分割电路11、以及将所述电源分割电路11的输出电压12和基准电压13相互进行比较的比较电路14构成。
比较电路14例如具有图10所示那样的构成。即，包括阈值电压相等的2个MOS晶体管20及21、电流源22、以及由半导体元件构成的电流镜像电路23。所述2个MOS晶体管20及21，其各自的栅极被连接到比较电路14的输入，源极共同地被连接到电流源22，漏极被连接到电流镜像电路23，一个漏极24被输入到反相电路25。然后，所述反相电路25的输出26成为比较电路14的输出。该比较电路14在2个MOS晶体管20及21的栅极电压相互相等时，使反相电路25的输出反相。
下面，说明图8所示的电源检测电路的动作。
在图8中，电源分割电路11的输出电压12由于是将电源电压进行了电阻分割后的电压，因此与电源电压成正比地变化。
另一方面，基准电压13被确定为等于电源电压是规定电压Vo时的电源分割电路11的输出电压12，且与电源电压无关地始终为恒定。
比较电路14将电源分割电路11的输出电压12和基准电压13设为输入，当这两个输入变为相等时，比较电路14的输出即电源检测信号反相。
然后，在图9中，基于在比较电路14的比较结果，一般地，当电源分割电路11的输出电压12是基准电压13以下时，看作电源电压是规定电压Vo以下，且输出表示电源未检测的状态的电源检测信号(在图9中为低电平)，当电源分割电路11的输出电压12比基准电压13高时，看作电源电压比规定电压Vo高，且输出表示电源检测状态的电源检测信号15(在图9中为高电平)。
在进行以上那样的动作的电源检测电路中，由于在比较电路14的一个输入上输入了与电源电压成正比地变化的电压12，在另一个输入上输入了始终稳定的基准电压13，因此，在比较电路14的输入之间在施加偏置状态下会产生差异。
但是，在MOS晶体管中存在偏置温度(Bias Temperature：以下，称为“BT”)劣化的问题。这是指因在MOS晶体管的栅极上施加正或者负的偏置而发生的MOS晶体管的阈值电压的变动。还已知，因温度或者偏置被施加的时间等，而会使变动量发生变化。
BT劣化的MOS晶体管会对模拟电路的特性带来影响。例如，在前述比较电路14中，当输入电压相等时将输出反相这样的特性是以2个MOS晶体管20及21的阈值电压相互相等为前提的。
但是，在电源检测电路的比较电路14中，由于在输入之间在施加偏置状态下会产生差异，因此，在由栅极被连接到输入的2个MOS晶体管20及21所发生的BT劣化而引起的阈值电压的变动量中会产生差异，其结果是，意味着由于在该2个MOS晶体管20及21间的阈值电压中会产生差异，因此，比较电路14在输入信号相等时不再使输出反相，也就是说，在想要进行电源检测的规定电压Vo中产生了偏移。
因此，存在因BT劣化而使电源检测电路的电源检测精度劣化这样的问题。
对该问题的对策，已知如下构成：例如，如专利文献1那样，当电路处于非动作状态时，通过将成为针对BT劣化的保护对象的MOS晶体管的栅极钳位到与源极同电位，从而成为没有BT劣化。图11示出该构成。在该图中，成为针对BT劣化的保护对象的是MOS晶体管30及31，在电路处于非动作状态时使半导体元件32及33导通，并且使上述MOS晶体管30及31的栅极与源极成为同电位。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2004-172796号公报(第1页、第2图等)
发明概要
发明所要解决的技术问题
但是，由专利文献1提出的BT劣化对策由于假定电路处于非动作状态，因此，存在不能够适用于需要始终动作的电源检测电路这样的缺陷。
发明内容
本发明是鉴于上述问题提出的，其目的在于，在电源检测电路中，在构成为通过将电源分割电路的输出电压和基准电压由比较电路进行比较来对电源进行检测并输出信号的情况下，在实施BT劣化对策的同时，使始终动作成为可能。
解决技术问题的手段
为了实现上述的目的，根据本发明，将比较电路分成用于检测规定电压Vo的检测用比较电路和用于检测电源电压是否处于规定电压Vo附近的辅助比较电路，且仅在电源电压处于规定电压Vo附近时使检测用比较电路动作，在电源电压不处于规定电压Vo附近时将相同的电压赋予检测用比较电路的2个输入。
也就是说，尽管当电源电压处于规定电压Vo附近时检测用比较电路动作，但是由于2个输入间的偏置施加状态的差异小，因此因BT劣化引起的阈值电压变动量的差异也小，由此，电源检测精度的劣化小。
另一方面，当电源电压不处于规定电压Vo附近时，由于将相同的电压赋予检测用比较电路的2个输入，并且2个输入的BT劣化以相同速度进行，因此阈值电压变动量的差异不会扩大，电源检测精度的劣化不会发生。
由此，能够对用于检测规定电压Vo的检测用比较电路赋予BT劣化对策，并且，通过将检测用比较电路和辅助比较电路进行组合，作为电源检测电路而能够始终动作。
此外，一般地，当比较电路的输入电压相等时，其输出变成不确定。在通常的电源检测电路中，由于比较电路的输入电压变成相等的时间短，因此该现象难以构成问题，但是，在本发明的电源检测电路中，由于当电源电压不处于规定电压Vo附近时在检测用比较电路的输入处赋予了相同的电压，因此在整个长的期间，检测用比较电路的输出变成不确定。由于当该不确定传递到电源检测信号时，不能够得到正确的电源检测信号，因此本发明的电源检测电路在检测用比较电路的后级设置了用于当电源电压不处于规定电压Vo附近时将输出固定为恒定电压的单元。
具体地，方案1记载的发明的电源检测电路，其特征在于，包括：电源分割电路，其对电源的电压进行分割；检测用比较电路，其将所述电源分割电路的第1电源分割电路输出电压和基准电压进行比较；高电压侧辅助比较电路，其将与所述第1电源分割电路输出电压相比为高电压的所述电源分割电路的第2电源分割电路输出电压和所述基准电压进行比较；低电压侧辅助比较电路，其将与所述第1电源分割电路输出电压相比为低电压的所述电源分割电路的第3电源分割电路输出电压和所述基准电压进行比较；输入切换信号生成单元，其基于所述高电压侧辅助比较电路的输出和所述低电压侧辅助比较电路的输出，生成输入切换信号；输入切换单元，其通过所述输入切换信号，将所述检测用比较电路的输入从所述基准电压和所述第1电源分割电路输出电压切换到比较电路非使用时输入电压；信号固定单元，其在所述输入切换单元切换到所述比较电路非使用时输入电压时，将所述检测用比较电路的输出固定为恒定电压；以及电源检测信号生成单元，其根据所述低电压侧辅助比较电路的输出和所述信号固定单元的输出，生成电源检测信号。
方案2记载的发明的电源检测电路，其特征在于，包括：电源分割电路，其对电源的电压进行分割；检测用比较电路，其将所述电源分割电路的第1电源分割电路输出电压和基准电压进行比较；高电压侧辅助比较电路，其将与所述第1电源分割电路输出电压相比为高电压的所述电源分割电路的第2电源分割电路输出电压和所述基准电压进行比较；输入切换单元，其通过所述高电压侧辅助比较电路的输出，将所述检测用比较电路的输入从所述基准电压和所述第1电源分割电路输出电压切换到比较电路非使用时输入电压；以及信号固定单元，其在所述输入切换单元切换到所述比较电路非使用时输入电压时，将所述检测用比较电路的输出固定为恒定电压。
方案3记载的发明的电源检测电路，其特征在于，包括：电源分割电路，其对电源的电压进行分割；检测用比较电路，其将所述电源分割电路的第1电源分割电路输出电压和基准电压进行比较；低电压侧辅助比较电路，其将与所述第1电源分割电路输出电压相比为低电压的所述电源分割电路的第2电源分割电路输出电压和所述基准电压进行比较；输入切换单元，其通过所述低电压侧辅助比较电路的输出，将所述检测用比较电路的输入从所述基准电压和所述第1电源分割电路输出电压切换到比较电路非使用时输入电压；信号固定单元，其在所述输入切换单元切换到所述比较电路非使用时输入电压时，将所述检测用比较电路的输出固定为恒定电压；以及电源检测信号生成单元，其根据所述低电压侧辅助比较电路的输出和所述信号固定单元的输出，生成电源检测信号。
方案4记载的发明，根据所述方案1至3的任何一项记载的电源检测电路中，其特征在于，将所述高电压侧辅助比较电路或者所述低电压侧辅助比较电路的比较精度抑制得比所述检测用比较电路的比较精度还低。
方案5记载的发明，根据所述方案1至3的任何一项记载的电源检测电路中，其特征在于，所述信号固定单元由选择器电路构成。
方案6记载的发明，根据所述方案1至3的任何一项记载的电源检测电路中，其特征在于，还包括：电源切断单元，其在所述输入切换单元选择了所述比较电路非使用时输入电压作为所述检测用比较电路的输入时，对所述检测用比较电路的电源进行切断。
通过上述，根据方案1至6记载的发明，由于在检测用比较电路的差动输入晶体管中，抑制了因BT劣化引起的阈值电压变动量的差异的扩大，因此能够抑制电源检测精度的劣化。
特别地，根据方案4记载的发明，由于能够使辅助比较电路的面积变小，因此能够得到电路面积削减的效果。得到该效果的理由是因为：尽管半导体装置，就相同的电路而言，会有越使面积变小、则因制造工艺上的偏差的影响而越使精度越降低的倾向，但是，对于辅助比较电路的精度，无需设定得如检测用比较电路的精度那样。
而且，根据方案5记载的发明，由于在信号固定单元上使用选择器电路，因此能够以比较小的面积来防止在输入切换单元选择了比较电路非使用时的输入电压作为检测用比较电路的输入时的检测用比较电路的不确定输出的传递。
另外，根据方案6记载的发明，由于在输入切换单元选择了比较电路非使用时的输入电压作为检测用比较电路的输入时，在检测用比较电路上不会流动电流，因此能够抑制耗电。
发明效果
如以上说明的，根据本发明的电源检测电路，由于包括除了检测用比较电路的输出的激活状态和非激活状态之间的切换时附近之外，还将检测用比较电路的差动输入固定到同电位的电路构成，因此获得了能够抑制因BT劣化引起的电源检测精度的劣化的效果。
附图说明
图1是本发明的实施方式1的电源检测电路的构成图。
图2(a)是表示对该实施方式1的检测用比较电路的电源分割电路输出电压波形、高电压侧辅助比较电路的输入波形和输出波形、以及低电压侧辅助比较电路的输入波形和输出波形的示意图，图2(b)是表示向输入切换电路的输入切换信号波形的示意图，图2(c)是表示检测用比较电路的输出信号波形的示意图，图2(d)是表示信号固定电路的输出波形的示意图，图2(e)是表示电源检测信号波形的示意图。
图3是本发明的实施方式2的电源检测电路的构成图。
图4(a)是表示对该实施方式2的检测用比较电路的电源分割电路输出电压波形、以及高电压侧辅助比较电路的输入波形和输出波形的示意图，图4(b)是表示检测用比较电路的输出信号波形的示意图，图4(c)是表示电源检测信号波形的示意图。
图5是本发明的实施方式3的电源检测电路的构成图。
图6(a)是表示对该实施方式3的检测用比较电路的电源分割电路输出电压波形、以及低电压侧辅助比较电路的输入波形和输出波形的示意图，图6(b)是表示检测用比较电路的输出信号波形的示意图，图6(c)是表示信号固定电路的输出波形的示意图，图6(d)是表示电源检测信号波形的示意图。
图7是本发明的变形例的电源检测电路的构成图。
图8是表示现有技术的电源检测电路的构成的一个例子的示意图。
图9是该现有技术的电源检测电路的电源检测信号的波形图。
图10是该现有技术的电源检测电路包括的比较电路的构成图。
图11是表示专利文献1的电路的构成的示意图。
具体实施方式
下面，参考附图，说明本发明的实施方式。而且，在实施方式中，由于带有相同标号的构成单元进行同样的动作，因此有时省略再次的说明。
(实施方式1)
图1是本实施方式的电源检测电路的电路构成图。此外，图2是其波形图。
在图1中，电源检测电路包括：用于将电源100的电压进行分割的电源分割电路101；用于将所述电源分割电路101的第1电源分割电路输出电压102和基准电压103进行比较的检测用比较电路104；用于将与所述第1电源分割电路输出电压102相比为高电压的所述电源分割电路101的第2电源分割电路输出电压106和所述基准电压103进行比较的高电压侧辅助比较电路107；以及用于将与所述第1电源分割电路输出电压102相比为低电压的所述电源分割电路101的第3电源分割电路输出电压108和所述基准电压103进行比较的低电压侧辅助比较电路109。
而且，图1的电源检测电路还具有：用于根据所述高电压侧辅助比较电路107的输出和所述低电压侧辅助比较电路109的输出而生成输入切换信号113的输入切换信号生成电路(输入切换信号生成单元)112；用于在所述输入切换信号113处于非激活状态时，将所述检测用比较电路104的输入从所述基准电压103和所述第1电源分割电路输出电压102的组合切换到比较电路非使用时输入电压11O的输入切换电路(输入切换单元)111；用于在所述输入切换信号113处于非激活状态时，将所述检测用比较电路104的输出固定为恒定电压的信号固定电路(信号固定单元)115；以及用于根据所述低电压侧辅助比较电路109的输出和所述信号固定电路115的输出而生成电源检测信号105的电源检测信号生成电路(电源检测信号生成单元)117。
接着，说明图1的电源检测电路的详细构成和动作。
电源100是将本电源检测电路设为检测对象的电源。所述电源分割电路101通过例如电阻而将所述电源100进行分割，并生成对所述检测用比较电路104的所述电源分割电路输出电压102、对所述高电压侧辅助比较电路107的所述电源分割电路输出电压106、以及对所述低电压侧辅助比较电路109的所述电源分割电路输出电压108。
所述检测用比较电路104，经由所述输入切换电路111接收所述电源分割电路输出电压102和基准电压103，如图2(a)所示那样，将所述电源分割电路输出电压102和所述基准电压103进行比较，其比较的结果是，如果所述电源分割电路输出电压102的一方较大，则将输出111设为激活状态。
此外，所述高电压侧辅助比较电路107接收所述电源分割电路输出电压106，并将所述电源分割电路输出电压106和所述基准电压103进行比较，比较的结果是，如果所述电源分割电路输出电压106的一方较大，则将该输出设为激活状态。
而且，所述低电压侧辅助比较电路109接收所述电源分割电路输出电压108，并将所述电源分割电路输出电压108和所述基准电压103进行比较，比较的结果是，如果所述电源分割电路输出电压108的一方较大，则将该输出设为激活状态。
所述输入切换信号生成电路112由例如门电路构成，并取所述低电压侧辅助比较电路109的输出的反相信号和所述高电压侧辅助比较电路107的输出之间的逻辑与，如图2(b)所示那样，生成用于控制所述输入切换电路111的输入切换信号113。所述输入切换电路111，在所述输入切换信号113处于激活状态时，将所述电源分割电路输出电压102和所述基准电压103连接到所述检测用比较电路104的输入，在所述输入切换信号113处于非激活状态时，将所述比较电路非使用时输入电压110连接到所述检测用比较电路104的输入。
通过所述输入切换电路111进行以上的动作，从而在所述检测用比较电路104的2个输入处，如果所述高电压侧辅助比较电路107的输出处于激活状态，同时仅当所述低电压侧辅助比较电路109的输出处于非激活状态时，才成为产生不同的输入电压的状态，在该状态下，检测用比较器104，如图2(c)所示，在电源分割电路输出电压102为比基准电压103更高的状态时，将其输出设为激活状态。
当所述高电压侧辅助比较电路107的输出处于非激活状态或者所述低电压侧辅助比较电路109的输出处于激活状态时，由于所述检测用比较电路104的2个输入都被连接于所述比较电路非使用时输入电压110，因此，在此期间，在所述检测用比较电路104的2个输入的BT劣化进行状态中不会产生差异。如果在检测用比较电路104的2个输入的BT劣化进行状态中不会产生差异，则由于因2个输入间的BT劣化引起的阈值电压变动量的差异不会扩大，因此能够抑制电源检测精度的劣化。
所述信号固定电路115由选择器电路构成，且在该选择器电路的一个输入上连接了检测用比较电路104的输出114，在另一个输入上连接了固定电压(接地电压)。由此，如图2(d)所示，当输入切换电路111选择了比较电路非使用时输入电压110作为所述检测用比较电路104的输入时，将所述检测用比较电路104的输出固定为恒定电压(接地电压)，能够以比较小的面积来防止从所述检测用比较电路104输出的不确定会传递到所述电源检测信号105上。
所述电源检测信号生成电路117通过取所述信号固定电路115的输出和所述低电压侧辅助比较电路109的输出的逻辑或，如图2(e)所示，使得当所述电源分割电路输出电压102比所述基准电压103更高时，所述电源检测信号105始终处于高电平。
如上所述，根据本实施方式，由于限制了在所述检测用比较电路104的2个输入处产生不同的输入电压的时间，因此能够抑制因BT劣化引起的电源检测精度的劣化。
而且，在本实施方式中，尽管设为在输入切换信号113处于激活状态时选择电源分割电路输出电压102，但是，也可以在处于非激活状态时选择电源分割电路输出电压102。
(实施方式2)
图3是本实施方式的电源检测电路的电路构成图。此外，图4是其波形图。
在图3中，电源检测电路包括：用于将电源100的电压进行分割的电源分割电路101；用于将所述电源分割电路101的第1电源分割电路输出电压102和基准电压103进行比较的检测用比较电路104；以及用于将与所述第1电源分割电路输出电压102相比为高电压的所述电源分割电路101的第2电源分割电路输出电压106和所述基准电压103进行比较的高电压侧辅助比较电路107。
而且，所述电源检测电路还具有：用于在所述高电压侧辅助比较电路107的输出处于非激活状态时，将所述检测用比较电路104的输入从所述基准电压103和所述第1电源分割电路输出电压102的组合切换到比较电路非使用时输入电压110的输入切换电路111；以及用于在所述高电压侧辅助比较电路107的输出处于非激活状态时，将所述检测用比较电路104的输出固定为恒定电压的信号固定电路115。
接着，说明前述电源检测电路的详细构成和动作。
所述电源分割电路101通过例如电阻而将所述电源100进行分割，并生成对所述检测用比较电路104的所述电源分割电路输出电压102和对所述高电压侧辅助比较电路107的所述电源分割电路输出电压106。
所述检测用比较电路104，经由所述输入切换电路111接收所述电源分割电路输出电压102和基准电压103，如图4(a)所示那样，将所述电源分割电路输出电压102和所述基准电压103进行比较，其比较的结果是，如果所述电源分割电路输出电压102的一方较大，则将输出114设为激活状态。
所述输入切换电路111，在所述高电压侧辅助比较电路107的输出处于激活状态时，将所述电源分割电路输出电压102和所述基准电压103连接到所述检测用比较电路104的输入，在所述输入切换信号113处于非激活状态时，将所述比较电路非使用时输入电压110连接到所述检测用比较电路104的输入。
通过所述输入切换电路111进行以上的动作，在所述检测用比较电路104的2个输入处，仅当所述高电压侧辅助比较电路107的输出处于激活状态时，才成为产生不同的输入电压的状态，在该状态下，检测用比较器104，如图4(b)所示，在电源分割电路输出电压102为比基准电压103更高的状态时，将其输出设为激活状态。
当所述高电压侧辅助比较电路107的输出处于非激活状态时，由于所述检测用比较电路104的2个输入都被连接于所述比较电路非使用时输入电压110，因此，在此期间，在所述检测用比较电路104的2个输入的BT劣化进行状态中不会产生差异。如果在检测用比较电路104的2个输入的BT劣化进行状态中不会产生差异，则由于因2个输入间的BT劣化引起的阈值电压变动量的差异不会扩大，因此能够抑制因BT劣化引起的电源检测精度劣化。
所述信号固定电路115，如图4(c)所示，通过在所述输入切换电路111切换到所述比较电路非使用时输入电压110时将所述检测用比较电路104的输出固定为恒定电压，从而防止了从所述检测用比较电路104输出的不确定会传递到所述电源检测信号105。
如上所述，根据本实施方式，由于限制了在所述检测用比较电路104的2个输入处产生不同的输入电压的时间，因此能够抑制因BT劣化引起的电源检测精度的劣化。
而且，在本实施方式中，尽管设为在高电压侧辅助比较电路107的输出处于激活状态时选择电源分割电路输出电压102的构成，但是，也可以设为在处于非激活状态时选择电源分割电路输出电压102的构成。
(实施方式3)
图5是本实施方式的电源检测电路的电路构成图。此外，图6是其波形图。
在图5中，电源检测电路包括：用于将电源100的电压进行分割的电源分割电路101；用于将所述电源分割电路101的第1电源分割电路输出电压102和基准电压103进行比较的检测用比较电路104；以及用于将与所述第1电源分割电路输出电压102相比为低电压的所述电源分割电路101的第2电源分割电路输出电压108和所述基准电压103进行比较的低电压侧辅助比较电路109。
而且，所述电源检测电路还具有：用于在所述低电压侧辅助比较电路109的输出处于激活状态时，将所述检测用比较电路104的输入从所述基准电压103和所述第1电源分割电路输出电压102的组合切换到比较电路非使用时输入电压110的输入切换电路111；用于在所述低电压侧辅助比较电路109的输出处于激活状态时，将所述检测用比较电路104的输出固定为恒定电压的信号固定电路115；以及用于根据所述低电压侧辅助比较电路109的输出和所述信号固定电路115的输出而生成电源检测信号105的电源检测信号生成电路117。
接着，说明所述电源检测电路的详细构成和动作。
所述电源分割电路101通过例如电阻而将所述电源100进行分割，并生成对所述检测用比较电路104的所述电源分割电路输出电压102和对所述低电压侧辅助比较电路109的所述电源分割电路输出电压108。
所述检测用比较电路104，经由所述输入切换电路111接收所述电源分割电路输出电压102和基准电压103，如图6(a)所示那样，将所述电源分割电路输出电压102和所述基准电压103进行比较，其比较的结果是，如果所述电源分割电路输出电压102的一方较大，则将输出114设为激活状态。
所述输入切换电路111，在所述低电压侧辅助比较电路109的输出处于非激活状态时，将所述电源分割电路输出电压102和所述基准电压103连接到所述检测用比较电路104的输入，在所述低电压侧辅助比较电路109的输出处于激活状态时，将所述比较电路非使用时输入电压110连接到所述检测用比较电路104的输入。
通过所述输入切换电路111进行以上的动作，在所述检测用比较电路104的2个输入处，仅当所述低电压侧辅助比较电路109的输出处于非激活状态时，才成为产生不同的输入电压的状态，在该状态下，检测用比较器104，如图6(b)所示，在电源分割电路输出电压102为比基准电压103更高的状态时，将其输出114设为激活状态。
当所述低电压侧辅助比较电路109的输出处于激活状态时，由于所述检测用比较电路104的2个输入都被连接于所述比较电路非使用时输入电压110，因此，在此期间，在所述检测用比较电路104的2个输入的BT劣化进行状态中不会产生差异。如果在检测用比较电路104的2个输入的BT劣化进行状态中不会产生差异，则由于因2个输入间的BT劣化引起的阈值电压变动量的差异不会扩大，因此能够抑制因BT劣化引起的电源检测精度劣化。
所述信号固定电路115，如图6(c)所示，通过在所述输入切换电路111切换到所述比较电路非使用时输入电压110时将所述检测用比较电路104的输出固定为恒定电压(接地电压)，从而防止了从所述检测用比较电路104输出的不确定会传递到所述电源检测信号105。
所述电源检测信号生成电路117通过采用所述信号固定电路115的输出和所述低电压侧辅助比较电路109的输出的逻辑或，如图6(d)所示，使得当所述电源分割电路输出电压102比所述基准电压103更高时，所述电源检测信号105会始终成为高电平。
如上所述，根据本实施方式，通过限制了在所述检测用比较电路104的2个输入处产生不同的输入电压相关的时间，从而能够抑制因BT劣化引起的电源检测精度的劣化。
而且，在本实施方式中，尽管设为在低电压侧辅助比较电路109的输出处于非激活状态时选择电源分割电路输出电压102的构成，但是，也可以设为在处于激活状态时选择电源分割电路输出电压102的构成。
(实施方式4)
尽管半导体装置对于相同的电路而言，会有越使面积变小、则因制造工艺上的偏差的影响而越使精度越降低的倾向，但是，在前述实施方式1至3的电源检测电路中，由于电源检测信号105的精度由检测用比较电路104的比较精度来决定，因此即使将高电压侧辅助比较电路107或者低电压侧辅助比较电路109构成为比较精度比前述检测用比较电路104还低，也不会直接关联到所述电源检测信号105的精度降低。
因此，通过将所述高电压侧辅助比较电路107或者所述低电压侧辅助比较电路109的比较精度抑制在比前述检测用比较电路104的比较精度还低，从而能够削减电路面积。
(变形例)
图7是作为所述实施方式1的变形例的电源检测电路的电路构成图。
不同之处在于：在所述实施方式1的电源检测电路中，还包括电源切断电路(电源切断单元)，其在输入切换电路111选择了比较电路非使用时输入电压110作为检测用比较电路104的输入时，切断前述检测用比较电路104的电源。由此，在此期间，电流不会在所述检测用比较电路104中流动。
通过该构成的采用，能够使在输入切换电路111选择了比较电路非使用时输入电压110作为所述检测用比较电路104的输入时的检测用比较电路104的耗电降低。
以上，说明了本发明的实施方式和变形例，但是显然，本发明不局限于这些实施方式和变形例，各种各样的变更是可能的，这些都应该包含在本发明的范围内。
产业上的可利用性
如以上说明，本发明的电源检测电路，由于能够抑制因BT劣化引起的电源检测精度的劣化，因此，作为使用电池或者蓄电池的电子装置的电源检测精度劣化对策是有用的。
附图标号说明：
100电源
101电源分割电路
102对检测用比较电路的电源分割电路输出电压
103基准电压
104检测用比较电路
105电源检测信号
106对高电压侧辅助比较电路的电源分割电路输出电压
107高电压侧辅助比较电路
108对低电压侧辅助比较电路的电源分割电路输出电压
109低电压侧辅助比较电路
110比较电路非使用时输入电压
111输入切换电路(输入切换单元)
112输入切换信号生成电路(输入切换信号生成单元)
113输入切换信号
114检测用比较电路的输出
115信号固定电路(信号固定单元)
116信号固定电路的输出
117电源检测信号生成电路(电源检测信号生成单元)
122电源切断电路(电源切断单元)
Claims (8)
1.一种电源检测电路，其特征在于，包括：
电源分割电路，其一端与电源连接，另一端与接地连接，对电源的电压进行分割；
检测用比较电路，其输入作为所述电源分割电路的输出的第1电源分割电路输出电压、和基准电压，且将所输入的这两个电压进行比较；
高电压侧辅助比较电路，其输入与所述第1电源分割电路输出电压相比为高电压且作为所述电源分割电路的输出的第2电源分割电路输出电压、和所述基准电压，且将所输入的这两个电压进行比较；
低电压侧辅助比较电路，其输入与所述第1电源分割电路输出电压相比为低电压且作为所述电源分割电路的输出的第3电源分割电路输出电压、和所述基准电压，且将所输入的这两个电压进行比较；
输入切换信号生成单元，其连接所述高电压侧辅助比较电路的输出和所述低电压侧辅助比较电路的输出，且基于这两个输出来生成输入切换信号；
输入切换单元，其通过输入所述输入切换信号，从而将所述检测用比较电路的输入从所述基准电压和所述第1电源分割电路输出电压切换到比较电路非使用时输入电压；
信号固定单元，其与所述检测用比较电路的输出连接，在所述输入切换单元切换到所述比较电路非使用时输入电压时，将所述检测用比较电路的输出固定为恒定电压；以及
电源检测信号生成单元，其连接所述低电压侧辅助比较电路的输出和所述信号固定单元的输出，且基于这两个输出来生成电源检测信号。
2.一种电源检测电路，其特征在于，包括：
电源分割电路，其一端与电源连接，另一端与接地连接，对电源的电压进行分割；
检测用比较电路，其输入作为所述电源分割电路的输出的第1电源分割电路输出电压、和基准电压，且将所输入的这两个电压进行比较；
高电压侧辅助比较电路，其输入与所述第1电源分割电路输出电压相比为高电压且作为所述电源分割电路的输出的第2电源分割电路输出电压、和所述基准电压，且将所输入的这两个电压进行比较；
输入切换单元，其通过输入所述高电压侧辅助比较电路的输出，从而将所述检测用比较电路的输入从所述基准电压和所述第1电源分割电路输出电压切换到比较电路非使用时输入电压；以及
信号固定单元，其与所述检测用比较电路的输出连接，在所述输入切换单元切换到所述比较电路非使用时输入电压时，将所述检测用比较电路的输出固定为恒定电压。
3.一种电源检测电路，其特征在于，包括：
电源分割电路，其一端与电源连接，另一端与接地连接，对电源的电压进行分割；
检测用比较电路，其输入作为所述电源分割电路的输出的第1电源分割电路输出电压、和基准电压，且将所输入的这两个电压进行比较；
低电压侧辅助比较电路，其输入与所述第1电源分割电路输出电压相比为低电压且作为所述电源分割电路的输出的第2电源分割电路输出电压、和所述基准电压，且将所输入的这两个电压进行比较；
输入切换单元，其通过输入所述低电压侧辅助比较电路的输出，从而将所述检测用比较电路的输入从所述基准电压和所述第1电源分割电路输出电压切换到比较电路非使用时输入电压；
信号固定单元，其与所述检测用比较电路的输出连接，在所述输入切换单元切换到所述比较电路非使用时输入电压时，将所述检测用比较电路的输出固定为恒定电压；以及
电源检测信号生成单元，其连接所述低电压侧辅助比较电路的输出和所述信号固定单元的输出，且基于这两个输出来生成电源检测信号。
4.根据权利要求1记载的电源检测电路，其特征在于，
将所述高电压侧辅助比较电路或者所述低电压侧辅助比较电路的比较精度抑制得比所述检测用比较电路的比较精度还低。
5.根据权利要求2记载的电源检测电路，其特征在于，
将所述高电压侧辅助比较电路的比较精度抑制得比所述检测用比较电路的比较精度还低。
6.根据权利要求3记载的电源检测电路，其特征在于，
将所述低电压侧辅助比较电路的比较精度抑制得比所述检测用比较电路的比较精度还低。
7.根据权利要求1至3的任何一项记载的电源检测电路，其特征在于，
所述信号固定单元由选择器电路构成。
8.根据权利要求1至3的任何一项记载的电源检测电路，其特征在于，还包括：
电源切断单元，其在所述输入切换单元选择了所述比较电路非使用时输入电压作为所述检测用比较电路的输入时，对所述检测用比较电路的电源进行切断。
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