CN102789075B - 用于检测液晶面板的点灯治具 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种用于检测液晶面板的点灯治具,包括:底板;第一支撑板和第二支撑板,分别位于所述底板上并与底板垂直;吸附台,设置在所述第一支撑板和第二支撑板之间,并可沿底板垂直方向上下运动,所述吸附台具有吸附探针的吸附面,所述探针包括至少一个,并且在吸附面上的吸附位置可根据不同的被检测液晶面板的电路测试点的分布位置对应调整。本发明的点灯治具,能够实现对不同型号的液晶面板进行点灯,提高了点灯治具的通用性和使用效率。
Description
技术领域
本发明涉及信号加载领域,特别涉及一种用于检测液晶面板的点灯治具。
背景技术
目前,为适应市场需要,推出了各种不同尺寸的液晶显示装置,这样就需要各种不同尺寸的液晶面板。在液晶面板出现不良的时候要对液晶面板进行分析,在分析的过程中需要使用点灯治具对液晶面板进行点灯,即通过点灯治具来进行加载信号确认。如图1所示,使用传统的点灯治具对液晶面板进行点灯的过程,首先将液晶面板500放到点灯治具上;然后将点灯治具的上盖610′通过合页620′翻转过来,使上盖的探针400与液晶面板的电路测试点相接触,从而完成点灯。由于不同尺寸的液晶面板的电路测试点的分布位置,个数不一样;即使同一尺寸不同型号的液晶面板的电路测试点的分布位置,个数也不一样。而传统的点灯治具的探针的位置是固定的,不能够进行调节;所以针对不同型号的液晶面板都会对应一个点灯治具,这样就导致点灯治具的型号很多,每一种型号的使用效率也较低。
发明内容
本发明提供了一种用于检测液晶面板的点灯治具,能够实现对不同型号的液晶面板进行点灯,提高了点灯治具的通用性和使用效率。
为达到上述目的,本发明提供以下技术方案:
一种用于检测液晶面板的点灯治具,包括:底板;第一支撑板和第二支撑板,分别位于所述底板上并与底板垂直;吸附台,设置在所述第一支撑板和第二支撑板之间,并可沿底板垂直方向上下运动,所述吸附台具有吸附探针的吸附面,所述探针包括至少一个,并且在吸附面上的吸附位置可根据不同的被检测液晶面板的电路测试点的分布位置对应调整。
优选地,还包括第三支撑板,所述第三支撑板与底板垂直且与所述第一支撑板和第二支撑板垂直相交,所述吸附台设置在所述第一支撑板,第二支撑板和第三支撑板之间。
优选地,所述吸附面的一部分与底板所在平面垂直且和第一支撑板所在平面垂直。
优选地,所述吸附台包括自上而下贯穿的通孔,所述吸附面是所述通孔的全部或部分内表面。
优选地,所述通孔的横截面为工字形的通孔,所述工字形通孔相互平行的两个一字形部分的内表面与底板所在平面垂直且和第一支撑板所在平面垂直;
或所述通孔的横截面为长方形的通孔,所述长方形通孔两个长边的内表面与底板所在平面垂直且和第一支撑板所在平面垂直;
或所述通孔的横截面为形或形的通孔,所述形或形通孔的横边的内表面与底板所在平面垂直且和第一支撑板所在平面垂直;
或所述通孔是横截面为倒T形的通孔,所述倒T形通孔的横边的内表面与底板所在平面垂直且和第一支撑板所在平面垂直。
优选地,所述第一支撑板和/或第二支撑板与吸附台相对的侧面设置有自上而下的凹槽,所述吸附台与第一支撑板和/或第二支撑板相对的侧面设置有滑块,所述吸附台通过滑块卡入所述凹槽卡接在所述第一支撑板和第二支撑板之间。
优选地,所述第三支撑板与吸附台相对的侧面设置有自上而下的凹槽,所述吸附台与第三支撑板相对的侧面设置有滑块,所述吸附台通过滑块卡入所述凹槽卡接在所述第三支撑板上。
优选地,所述吸附台上设置有把手。
优选地,所述吸附台是磁性吸附台,所述探针是与磁性吸附台磁性相吸的探针。
优选地,在所述吸附台与第一支撑板和/或第二支撑板相卡接的侧面设置有上下两个固定孔,所述第一支撑板和/或第二支撑板的侧面设置有固定螺栓,所述固定螺栓可分别卡入固定孔。
本发明提供的用于检测液晶面板的点灯治具,在对液晶面板进行点灯时,将液晶面板放置在底板上,使液晶面板的电路测试点通过第一支撑板和第二支撑板的之间的空间进入到吸附台下方,将与电路测试点数量相同的探针吸附到与吸附面上,调整液晶面板和探针的位置,使探针与被检测的液晶面板的电路测试点对应,即探针处于测试位置;向下移动吸附台,使探针与液晶面板的电路测试点相接触,实现点灯。在使用本发明的点灯治具进行点灯时,只需将本发明的点灯治具的与电路测试点数量相同的探针调整到测试位置,就能够实现对不同型号液晶面板进行点灯。这样本实施例的点灯治具能够实现对不同型号的液晶面板进行点灯,降低了成本,提高了使用效率。
附图说明
图1为现有点灯治具对液晶面板进行点灯的工作原理示意图;
图2为本发明的一个实施例的用于检测液晶面板的点灯治具进行点灯的示意图;
图3为图2所示的点灯治具的分解结构示意图。
主要元件附图标记说明如下:
100底板,
210第一支撑板,220第二支撑板,221固定螺栓,230第三支撑板,231凹槽,
300吸附台,310工字形的通孔,320把手,
400探针,
500液晶面板,510电路测试点,
610′上盖,620′合页。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明的第一个实施例的用于检测液晶面板的点灯治具,包括:底板;第一支撑板和第二支撑板,分别位于所述底板上并与底板垂直;
吸附台,设置在所述第一支撑板和第二支撑板之间,并可沿底板垂直方向上下运动,所述吸附台具有吸附探针的吸附面,所述探针包括至少一个,并且在吸附面上的吸附位置可根据不同的被检测液晶面板的电路测试点的分布位置对应调整,其中,探针通过信号线与点灯治具的电路部分连接。
吸附台设置在第一支撑板和第二支撑板之间的连接方式可以为卡合连接及其他设置方式,只要可以实现吸附台活动连接在所述第一支撑板和第二支撑板之间且可沿底板垂直方向上下运动即可。
本实施例的用于检测液晶面板的点灯治具,在对液晶面板进行点灯时,将液晶面板放置在底板上,使液晶面板的电路测试点通过第一支撑板和第二支撑板的之间的空间进入到吸附台下方,将与电路测试点数量相同的探针吸附到与吸附面上,调整液晶面板和探针的位置,使探针吸附与被检测的液晶面板的电路测试点对应,即探针处于测试位置;向下移动吸附台,使探针与液晶面板的电路测试点相接触,实现点灯。在使用本发明的点灯治具进行点灯时,只需将本发明的点灯治具的与电路测试点数量相同的探针调整到测试位置,就能够实现对不同型号液晶面板进行点灯。这样本实施例的点灯治具能够实现对不同型号的液晶面板进行点灯,降低了成本,提高了使用效率。
本发明的第二个实施例的点灯治具,本实施例在第一个实施例的基础上,对点灯治具进行进一步阐述:
还包括第三支撑板,所述第三支撑板与底板垂直且与所述第一支撑板和第二支撑板垂直相交,所述吸附台设置在所述第一支撑板,第二支撑板和第三支撑板之间。
所述吸附台设置在所述第三支撑板的连接方式可以为卡合连接及其他设置方式,只要可以实现吸附台活动连接在所述第三支撑板上且可沿底板垂直方向上下运动即可。
作为本发明的第三个实施例,本实施例在第一个实施例和第二个实施例的基础上,对吸附面进行进一步阐述:
所述吸附面的一部分与底板所在平面垂直且和第一支撑板所在平面垂直,为描述方便,将吸附面中与底板所在平面垂直且和第一支撑板所在平面垂直的部分定义为第一吸附面。
作为本发明的第四个实施例,本实施例在第三个实施例基础上,对吸附台进行进一步阐述:
吸附台包括自上而下贯穿的通孔,所述吸附面是所述通孔的全部或部分内表面。
作为本发明的第五个实施例,本实施例在第四个实施例基础上,对通孔的优选的方式进行举例阐述:
第一种优选方式:通孔的横截面为工字形的通孔,工字形通孔相互平行的两个一字形部分的内表面与底板所在平面垂直且和第一支撑板所在平面垂直;
即,吸附面是工字形的通孔全部内表面,第一吸附面是工字形的通孔中两个相互平行的一字形部分的内表面;
或吸附面是工字形的通孔部分内表面,第一吸附面是工字形的通孔中一个或两个相互平行的一字形部分的内表面。
需要说明的是,所述工字形的通孔中两个一字形部分优选为相同的结构,即长度相同,当然长度不相同,比如一长一短,也属于本发明的保护范围。
第二种优选方式:通孔的横截面为长方形的通孔,所述长方形两个长边的内表面与底板所在平面垂直且和第一支撑板所在平面垂直;
即,吸附面是长方形的通孔全部内表面,第一吸附面是长方形通孔的两个长边的内表面;
或吸附面是长方形的通孔部分内表面,第一吸附面是长方形通孔的一个或两个长边的内表面。
第三种优选方式:通孔的横截面为形或形的通孔,所述形或形通孔的横边的内表面与底板所在平面垂直且和第一支撑板所在平面垂直;
即吸附面是形或形通孔的内表面,第一吸附面是形或形通孔的横边的内表面。
第四种优选方式:通孔的横截面为倒T形的通孔,所述倒T形通孔的横边的内表面与底板所在平面垂直且和第一支撑板所在平面垂直;
即吸附面是倒T形通孔的内表面,第一吸附面是倒T形通孔横边的内表面。
当然,通孔的形状并不限于上述描述的四种优选的方式,还可以为其他形状的通孔,通孔的横截面形状只要可以实现第一吸附面与底板所在平面垂直且和第一支撑板所在平面垂直的即可,本处只是举例说明。
作为本发明的第六个实施例,本实施例在上述任一个实施例基础上,对点灯治具进一步进行阐述:
所述第一支撑板和/或第二支撑板与吸附台相对的侧面设置有自上而下的凹槽,所述吸附台与第一支撑板和/或第二支撑板相对的侧面设置有滑块,所述吸附台通过滑块卡入所述凹槽卡接在所述第一支撑板和第二支撑板之间。
凹槽可以只设置在第一支撑板上,或是只设置在第二支撑板上,或是设置在第一支撑板和第二支撑板上,当然与设置有凹槽的支撑板相对的吸附台侧面相应的设置有滑块。
作为本发明的第七个实施例,本实施例在第六个实施例基础上,对点灯治具进一步进行阐述:
所述第三支撑板与吸附台相对的侧面设置有自上而下的凹槽,所述吸附台与第三支撑板相对的侧面设置有滑块,所述吸附台通过滑块卡入所述凹槽卡接在所述第三支撑板上。
作为本发明的第八个实施例,本实施例在上述任一个实施例的基础上,对吸附台进行进一步阐述:
吸附台上表面设置有便于手握的把手。
作为本发明的第九个实施例,本实施例在上述任一个实施例的基础上,对吸附台和探针进行进一步阐述:
所述吸附台是磁性吸附台,所述探针是与磁性吸附台磁性相吸的探针,比如,吸附台是磁铁的吸附台,探针是铁质探针。
作为本发明的第十个实施例,本实施例在上述任一个实施例的基础上,对点灯治具进行进一步阐述:
在吸附台的与第一支撑板和/或第二支撑板相卡接的侧面设置有上下两个固定孔,第一支撑板和/或第二支撑板的侧面设置有固定螺栓,固定螺栓可分别卡入固定孔。
上述是本发明的实施例中技术方案的描述,当然,本发明的实施例还可以为技术方案的任意组合,均在本发明的保护范围之内。
本发明的一个实施例的用于检测液晶面板的点灯治具,如图2和图3所示,包括底板100,在底板的一端设置有与底板垂直的第一支撑板210,第二支撑板220和第三支撑板230,且第一支撑板210和第二支撑板220相互平行,第三支撑板230与第一支撑板210和第二支撑板220垂直相交;
第一支撑板210,第二支撑板220和第三支撑板230之间卡接有吸附台300,吸附台300可沿着第一支撑板210,第二支撑板220和第三支撑板230上下运动,吸附台300包括自上而下贯穿的横截面为工字形通孔310,工字形的通孔310中两个相互平行的一字形部分的内表面与第三支撑板230所在平面平行;
吸附台300是磁铁的吸附台,探针是铁质探针,铁质探针能吸附在工字形的通孔310的内表面,即吸附面是工字形通孔310的内表面,第一吸附面是工字形的通孔310中两个相互平行的一字形部分的内表面。
进一步地,如图3所示,第三支撑板与吸附台相卡接的侧面设置有自上而下的凹槽231,吸附台与第三支撑板相卡接的侧面设置有滑块,吸附台通过滑块卡入凹槽231卡接在所述第三支撑板上。
进一步地,如图2和图3所示,吸附台上表面设置有便于手握的把手320。
如图2所示,本实施例的点灯治具在进行点灯之前,所有探针400吸附在工字形的通孔310靠近第三支撑板一端的一字形部分的内表面,即探针处于初始位置。使用本实施例的点灯治具进行点灯的过程如下:
首先,查看液晶面板500的电路测试点510的个数和位置,并将液晶面板500放置在底板100上,使液晶面板的电路测试点510位于工字形的通孔310远离第三支撑板的一字形部分的下方;如图2中所示,液晶面板的电路测试点510是左右各3个电路测试点;
其次,根据液晶面板的电路测试点510选择探针数量,并将探针固定在液晶面板电路测试点的上方;如图2所示,6个探针沿着工字形的通孔310竖直部分移动到工字形的通孔远离第三支撑板的一字形部分并吸附在其内表面且6个探针位于液晶面板电路测试点510的上方,即探针处于测试位置;
然后,通过把手320使吸附台300向下运动,使探针400与液晶面板的电路测试点510接触,实现点灯。
不同型号液晶面板的电路测试点的数量和分布位置可能不同,在使用本实施例的用于检测液晶面板的点灯治具进行点灯时,只需将本实施例的点灯治具的与电路测试点数量相同的探针从初始位置调整到测试位置,并使探针与液晶面板的电路测试点接触,就能够实现对不同型号液晶面板进行点灯。这样本实施例的点灯治具能够实现对不同型号的液晶面板进行点灯,降低了成本,提高了使用效率。
进一步地,如图3所示,在吸附台与第二支撑板相卡接的侧面设置有上下两个固定孔,第二支撑板的侧面设置有固定螺栓221,固定螺栓221可分别卡入固定孔。通过固定螺栓221卡入不同的固定孔,使吸附台与底板的距离保持不同。在探针处于初始位置时,固定螺栓221卡入上方的固定孔,使吸附台与底板的距离较大;在探针与液晶面板的电路测试点接触后,固定螺栓221卡入下方的固定孔,使探针与液晶面板的电路测试点保持接触,且保证吸附台不会挤压液晶面板。
作为一种可选的方式,通孔是横截面为长方形的通孔,吸附面是长方形的通孔全部或部分内表面,第一吸附面是长方形通孔的长边的内表面。
在吸附台是磁铁的吸附台,吸附面是长方形通孔内表面的全部,第一吸附面是长方形通孔长边的内表面。探针位于初始位置时,探针吸附在长方形定位通孔的远离液晶面板的电路测试点的长边的内表面;探针位于测试位置时,探针吸附在长方形定位通孔的靠近液晶面板的电路测试点的长边的内表面。
在吸附台不是磁铁的吸附台时,长方形通孔的全部或部分内表面上形成可吸附探针的吸附面,吸附面包括与底板所在平面垂直且和第一支撑板所在平面垂直的部分,即第一吸附面。如长方形通孔的一个任一个短边的内表面和靠近液晶面板的电路测试点的长边的内表面是吸附面,其中,长方形通孔的靠近液晶面板的电路测试点的长边的内表面是第一吸附面;如长方形通孔的两个长边的内表面是吸附面,同时又是第一吸附面。
作为一种可选的方式,通孔是横截面为形或形的通孔,吸附面是形或形通孔的内表面,第一吸附面是形或形通孔的横边的内表面。探针处于初始位置时,探针吸附在形或形通孔的竖边的内表面;探针处于测试位置时,探针吸附在形或形通孔的横边的内表面。
作为一种可选的方式,通孔是横截面为倒T形通孔,吸附面是倒T形通孔的内表面,第一吸附面是倒T形通孔的横边的内表面。探针处于初始位置时,探针吸附在倒T形通孔的竖边的内表面;探针处于测试位置时,探针吸附在倒T形通孔的横边的内表面。
显然,本领域的技术人员可以对本发明实施例进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (9)
1.一种用于检测液晶面板的点灯治具,其特征在于,包括:
底板;
第一支撑板和第二支撑板,分别位于所述底板上并与底板垂直;
吸附台,设置在所述第一支撑板和第二支撑板之间,并可沿底板垂直方向上下运动,所述吸附台具有吸附探针的吸附面,所述探针包括至少一个,并且在吸附面上的吸附位置可根据不同的被检测液晶面板的电路测试点的分布位置对应调整;
还包括第三支撑板,所述第三支撑板与底板垂直且与所述第一支撑板和第二支撑板垂直相交,所述吸附台设置在所述第一支撑板,第二支撑板和第三支撑板之间且紧贴在第一支撑板,第二支撑板和第三支撑板的内侧面。
2.根据权利要求1所述的点灯治具,其特征在于,所述吸附面的一部分与底板所在平面垂直且和第一支撑板所在平面垂直。
3.根据权利要求2所述的点灯治具,其特征在于,所述吸附台包括自上而下贯穿的通孔,所述吸附面是所述通孔的全部或部分内表面。
4.根据权利要求3所述的点灯治具,其特征在于,所述通孔是横截面为工字形的通孔,所述工字形通孔相互平行的两个一字形部分的内表面与底板所在平面垂直且和第一支撑板所在平面垂直;
或所述通孔是横截面为长方形的通孔,所述长方形通孔两个长边的内表面与底板所在平面垂直且和第一支撑板所在平面垂直;
或所述通孔是横截面为└形或┘形的通孔,所述└形或┘形通孔的横边的内表面与底板所在平面垂直且和第一支撑板所在平面垂直;
或所述通孔是横截面为倒T形的通孔,所述倒T形通孔的横边的内表面与底板所在平面垂直且和第一支撑板所在平面垂直。
5.根据权利要求3所述的点灯治具,其特征在于,所述第一支撑板和/或 第二支撑板与吸附台相对的侧面设置有自上而下的凹槽,所述吸附台与第一支撑板和/或第二支撑板相对的侧面设置有滑块,所述吸附台通过滑块卡入所述凹槽卡接在所述第一支撑板和第二支撑板之间。
6.根据权利要求1所述的点灯治具,其特征在于,所述第三支撑板与吸附台相对的侧面设置有自上而下的凹槽,所述吸附台与第三支撑板相对的侧面设置有滑块,所述吸附台通过滑块卡入所述凹槽卡接在所述第三支撑板上。
7.根据权利要求5所述的点灯治具,其特征在于,所述吸附台上设置有把手。
8.根据权利要求5所述的点灯治具,其特征在于,所述吸附台是磁性吸附台,所述探针是与磁性吸附台磁性相吸的探针。
9.根据权利要求5所述的点灯治具,其特征在于,在所述吸附台与第一支撑板和/或第二支撑板相卡接的侧面设置有上下两个固定孔,所述第一支撑板和/或第二支撑板的侧面设置有固定螺栓,所述固定螺栓可分别卡入固定孔。
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