CN102721692B - 玻璃基板卡匣的检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种玻璃基板卡匣的检测装置，玻璃基板卡匣沿竖直方向设置有用于支撑玻璃基板的多个支撑面，检测装置包括沿竖直方向分布且分别与多个支撑面对应的多个检测单元，以同时对每个支撑面上是否存在玻璃基板以及每个支撑面上的玻璃基板是否存在异常进行检测。本发明检测装置包括多个沿竖直方向分布的检测单元能同时分别对卡匣沿竖直方向设置的多个支撑面进行检测，检测过程所用的时间大大缩减。

Description

玻璃基板卡匣的检测装置
技术领域
本发明涉及一种检测装置，尤其涉及一种玻璃基板卡匣的检测装置。
背景技术
用于电脑显示器及电视机等显示面板的玻璃基板在进入制程线前装在卡匣中临时存放。该卡匣通常在竖直方向上设置多个支撑面，每一支撑面用以支撑一块玻璃基板。
当玻璃基板被装入卡匣中临时存放到通过自动仓储系统将存放玻璃基板的卡匣移动至显示面板的制程线的这一过程中需检测卡匣的各个支撑面上是否存在玻璃基板以及玻璃基板是否存在重叠放置的情形。一种现有的检测装置包括一传感单元和一控制单元。传感单元包括发光部和受光部。控制单元包括传感单元控制模块。发光部用于发出检测光，检测光束在遇到玻璃基板时进行反射，并由受光部接收反射光束；传感单元将光信号转换成电信号并发送到控制单元的传感单元控制模块以检测对应的支撑面是否存在玻璃基板或是否存在重叠放置的玻璃基板。
使用过程中，该检测装置按照一定的顺序依次对卡匣的每个用于承载玻璃基板的支撑面进行检测，工作效率较低、耽误生产时间、产能较低。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种能够快速检测卡匣中承载的玻璃基板的信息的玻璃基板卡匣的检测装置。
为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：一种玻璃基板卡匣的检测装置，玻璃基板卡匣沿竖直方向设置有用于支撑玻璃基板的多个支撑面，检测装置包括沿竖直方向分布且分别与多个支撑面对应的多个检测单元，以同时对每个支撑面上是否存在玻璃基板以及每个支撑面上的玻璃基板是否存在异常进行检测；检测装置进一步包括固定元件，固定元件用于沿竖直方向固定多个检测单元；卡匣沿水平方向设置有至少两组多个支撑面，检测装置进一步包括至少一条水平滑轨，固定元件滑动固定于水平滑轨，使多个检测单元能够依次检测每组多个支撑面。
其中，每一检测单元包括一投光部和一受光部，投光部用于向对应的支撑面的被检测位置投射检测光，受光部用于接收经被检测位置反射的检测光，检测装置进一步包括处理单元，用于判断反射的检测光是否处于预定范围。
其中，固定元件位于卡匣的外侧。
其中，检测装置进一步包括一驱动电机，用于驱动固定元件沿水平滑轨滑行。
其中，水平滑轨为两条，两条水平滑轨互相平行且位于同一竖直平面内。
本发明的有益效果是：与现有技术相比，本发明玻璃基板卡匣的检测装置包括多个沿竖直方向分布的检测单元，能同时分别对卡匣沿竖直方向设置的多个支撑面进行检测，检测过程所用的时间大大缩减，大幅提升了工作效率、缩短生产时间、产能得到很大提高。
附图说明
图1是应用本发明玻璃基板卡匣的检测装置的第一实施例检测玻璃基板卡匣的主视图；
图2是图1所示检测装置的单个检测单元用于检测玻璃基板的光路示意图；
图3是应用本发明玻璃基板卡匣的检测装置的第二实施例检测玻璃基板卡匣的主视图；
图4是图3所示检测装置检测玻璃基板卡匣的俯视图；
图5是应用本发明玻璃基板卡匣的检测装置的第三实施例检测玻璃基板卡匣的主视图；
图6是图5所示检测装置检测玻璃基板卡匣的俯视图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细说明。
请参照图1，本发明第一实施例玻璃基板卡匣的检测装置100用于检测卡匣12。卡匣12沿竖直方向设置有用于支撑玻璃基板13的多个支撑面120。
检测装置100包括沿竖直方向分布且分别与多个支撑面120对应的多个检测单元11，以同时对每个支撑面120上是否存在玻璃基板13以及每个支撑面120上的玻璃基板13是否存在异常进行检测。
请一并参照图2，本实施例中，检测单元11是反射式检测器。检测单元11包括一投光部111和一受光部112。投光部111用于向对应的支撑面120的被检测位置投射检测光113，受光部112用于接收经被检测位置反射的检测光。检测装置100进一步包括处理单元14，用于判断受光部112接收的反射检测光是否处于预定范围。
实际应用中，每一支撑面120承载一块玻璃基板13。若部分支撑面120空置则会带来储存、搬运成本增加等经济损失；若玻璃基板13临时储存不当也可能出现一支撑面120承载两块甚至更多块层叠放置的玻璃基板13，互相叠放的多块玻璃基板13在储存、搬运、取放过程中相互之间很容易划伤、压碎。因此，上述两种不规范情形均是不容许出现的。
当支撑面120上承载一块玻璃基板13，检测单元11的投光部111投射的检测光113可达到玻璃基板13的侧壁（未标示），部分检测光113反射后被受光部112接收。该处于预定范围的信息进一步反馈至处理单元14。
当支撑面120上没有承载玻璃基板13，检测单元11的投光部111投射的检测光113不能到达玻璃基板13的侧壁，也无反射的检测光被受光部112接收。该超出预定范围的信息反馈至处理单元14，处理单元14显示该异常信息并进一步反馈给其他执行机构例如报警单元（未图示）。
当支撑面120上承载大于一块玻璃基板13时。检测单元11的投光部111投射的检测光113到达多块玻璃基板13的侧壁所在的表面，检测面积变大，因此检测位置处所接收到的投射的检测光113的光束变大，进而反射的检测光光束变大，受光部112接收的反射检测光也随之超出预定范围。该超出预定范围的信息反馈至处理单元14，处理单元14显示该异常信息并进一步反馈给其他执行机构。
本实施例中，所有检测单元11检测到的信息同步反馈至处理单元14，处理单元14处理所有检测信息并根据需要反馈给其他执行机构。例如，通过显示屏显示所有检测信息，具体地，第一排：正常，第二排：漏料，第三排：多料，……以上，仅为对处理单元处理形式的举例表达，并不构成对本发明的限制。
本实施例中，检测装置100进一步包括固定元件15。固定元件15位于卡匣12的外侧，用于沿竖直方向固定多个检测单元11。通过固定元件15固定在一起的检测单元11方便移动和安装，使用范围更广。实际应用中，处理单元14也可以通过固定元件15固定起来，使整个检测装置100构成一个有机的整体。
本实施例检测装置100可一次性检测水平方向上设置有一组支撑面120的卡匣12。请进一步参照图3和图5，若使用本实施例检测装置100检测沿第一水平方向（未标示）设置有两组或两组以上支撑面220、320的卡匣22、32，则需通过移动检测装置100或卡匣22、32来分组依次进行检测。为了方便检测第一水平方向上设置有两组或两组以上支撑面的卡匣，本发明进一步提供了第二实施例玻璃基板卡匣的检测装置200和第三实施例玻璃基板卡匣的检测装置300。
请一并参照图3和图4，本发明第二实施例玻璃基板卡匣的检测装置200用于检测沿第一水平方向设置有两组或两组以上支撑面220、320的卡匣22、32。本实施例玻璃基板卡匣的检测装置200以检测卡匣22来进行说明。
检测装置200包括多个检测单元21、处理单元24、固定元件25、水平滑轨26和驱动电机27。
检测单元21、处理单元24和固定元件25与第一实施例提到的对应元件并无区别，在此不再赘述。
水平滑轨26位于卡匣22的外侧，沿第一水平方向放置。固定元件25滑动固定于水平滑轨26，使多个检测单元21能够依次检测每组多个支撑面。
固定元件25相对水平滑轨26的滑动通过驱动电机27进行驱动。为了固定元件25滑行更加稳定，本实施例检测装置200包括两条设置在不同高度的水平滑轨26；该两条水平滑轨26互相平行且位于同一竖直平面内。实际应用中，水平滑轨26的数目可以为一条也可以为多条。
请一并参阅图5和图6，本发明第三实施例玻璃基板卡匣的检测装置300用于检测沿第一水平方向设置有两组支撑面320的卡匣32。
检测装置300包括多个检测单元31、处理单元34、固定元件35、旋转支撑装置36和驱动电机37。
检测单元31、处理单元34和固定元件35与第一实施例提到的对应元件并无区别，在此不再赘述。
固定元件35被旋转支撑装置36支撑且可绕沿竖直方向设置的转轴旋转，以使所述多个检测单元31能够依次检测每组所述多个支撑面320。驱动电机37驱动固定元件35绕转轴旋转。
本实施例中，支撑装置36沿竖直方向同时支撑固定元件35的顶端和底端，固定元件35绕竖直方向设置的转轴旋转，此处的转轴即固定元件35自身；驱动电机37驱动固定元件35绕其自身在竖直方向的中心线旋转。
实际应用中，支撑装置36亦可以是为固定元件35提供旋转的转轴，则支撑装置36沿竖直方向的中心线与固定元件35沿竖直方向的中心线相互平行设置。驱动电机37驱动支撑装置36旋转，在支撑装置36的带动下，固定元件35随支撑装置36一起旋转。
本发明的有益效果是：与现有技术相比，本发明检测装置100、200、300包括多个沿竖直方向分布的检测单元11、21、31能同时分别对卡匣12、22、32沿竖直方向设置的多个支撑面120、220、320同时进行检测，检测过程所用的时间大大缩减，大幅提升了工作效率、缩短生产时间、产能得到很大提高。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (4)

1.一种玻璃基板卡匣的检测装置，所述玻璃基板卡匣沿竖直方向设置有用于支撑玻璃基板的多个支撑面，其特征在于，所述检测装置包括沿所述竖直方向分布且分别与所述多个支撑面对应的多个检测单元，以同时对所述每个支撑面上是否存在所述玻璃基板以及所述每个支撑面上的所述玻璃基板是否存在异常进行检测；所述检测装置进一步包括固定元件，所述固定元件用于沿所述竖直方向固定所述多个检测单元；所述检测装置还包括旋转支撑装置，所述固定元件被所述旋转支撑装置支撑且可绕沿竖直方向设置的转轴以所述固定元件自身为中心旋转，以使所述多个检测单元能够依次检测两组所述多个支撑面中的每组所述多个支撑面，其中所述卡匣在水平方向设置有两组支撑面，每一所述检测单元包括一投光部和一受光部，所述投光部用于向对应的所述支撑面的被检测位置投射检测光，所述受光部用于接收经所述被检测位置反射的所述检测光，所述检测装置进一步包括处理单元，用于判断反射的所述检测光是否处于预定范围，其中当所述支撑面上承载一块玻璃基板时，所述检测单元的投光部投射的检测光达到玻璃基板的侧壁，部分检测光反射后被所述受光部接收，产生处于所述预定范围的信息，当所述支撑面上没有承载玻璃基板，无反射的检测光被所述受光部接收，产生超出所述预定范围的信息，当所述支撑面上承载大于一块玻璃基板时，所述检测单元的投光部投射的检测光到达多块玻璃基板的侧壁所在的表面，反射的检测光光束相对于一块玻璃基板时变大，产生超出所述预定范围的信息。
2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述固定元件位于所述卡匣的外侧。
3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述支撑装置沿所述竖直方向同时支撑所述固定元件的顶端和底端。
4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置进一步包括一驱动电机，用于驱动所述固定元件绕所述转轴旋转。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103412347B (zh) * 2013-07-23 2016-02-24 合肥京东方光电科技有限公司 卡匣和卡匣的检测方法
CN104807401B (zh) 2015-03-04 2017-06-23 京东方科技集团股份有限公司 基板卡匣检测装置
CN107345913A (zh) * 2016-05-04 2017-11-14 东莞大和化成汽车零配件有限公司 一种塑胶制品检测合格装置
CN106597709A (zh) * 2017-01-06 2017-04-26 武汉华星光电技术有限公司 基板检测装置、显示面板加工系统及显示面板加工方法
CN110906980B (zh) * 2019-11-14 2021-10-08 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 一种检测系统和检测方法
CN112945084B (zh) * 2019-12-10 2023-01-24 合肥欣奕华智能机器股份有限公司 线扫描传感器、线扫描检测系统及线扫描检测方法
CN112362004B (zh) * 2020-11-05 2022-12-23 惠科股份有限公司 卡匣的检测装置及检测方法，基板加工生产线

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2707677Y (zh) * 2004-06-07 2005-07-06 东捷科技股份有限公司 玻璃基板检知装置
CN1840445A (zh) * 2005-04-01 2006-10-04 大福股份有限公司 卡匣保管及被处理板的处理设备
WO2006108137A2 (en) * 2005-04-06 2006-10-12 Corning Incorporated Glass inspection systems and methods for using same
CN101131366A (zh) * 2006-08-22 2008-02-27 东京毅力科创株式会社 基板检测机构以及基板收纳容器
CN102393576A (zh) * 2011-08-03 2012-03-28 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示器中玻璃基板的目视检查机及检查方法
CN102636460A (zh) * 2012-04-13 2012-08-15 安徽鑫昊等离子显示器件有限公司 一种等离子显示器用玻璃基板检测系统及方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10116879A (ja) * 1996-10-11 1998-05-06 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板検出装置
CN2777491Y (zh) * 2005-02-05 2006-05-03 欣禾国际企业有限公司 晶圆片或液晶面板卡匣的存取侦测装置
WO2007040379A1 (en) * 2005-10-06 2007-04-12 Jinoid Co., Ltd. Apparatus for sensing glass substrates in a cassette
JP4285708B2 (ja) * 2008-12-19 2009-06-24 大日本スクリーン製造株式会社 基板検出装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2707677Y (zh) * 2004-06-07 2005-07-06 东捷科技股份有限公司 玻璃基板检知装置
CN1840445A (zh) * 2005-04-01 2006-10-04 大福股份有限公司 卡匣保管及被处理板的处理设备
WO2006108137A2 (en) * 2005-04-06 2006-10-12 Corning Incorporated Glass inspection systems and methods for using same
CN101131366A (zh) * 2006-08-22 2008-02-27 东京毅力科创株式会社 基板检测机构以及基板收纳容器
CN102393576A (zh) * 2011-08-03 2012-03-28 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示器中玻璃基板的目视检查机及检查方法
CN102636460A (zh) * 2012-04-13 2012-08-15 安徽鑫昊等离子显示器件有限公司 一种等离子显示器用玻璃基板检测系统及方法

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