KR101423540B1 - 전자 부품 검사 지그 교체 장치 및 방법 - Google Patents

전자 부품 검사 지그 교체 장치 및 방법 Download PDF

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윤범수
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Abstract

본 발명은 전자 부품 검사 지그 교체 장치에 관한 것으로서, 전자 부품 검사 지그 교체 장치의 한 예는 복수의 전자 부품 검사 지그 적재함에 존재하는 전자 부품 검사 지그 중에서 가장 위쪽에 위치하는 전자 부품 검사 지그가 피킹 위치에 위치하는지를 감지하여 해당하는 상태의 감지 신호를 출력하는 복수의 최상위 전자 부품 검사 지그 위치 감지부, 상기 복수의 최상위 전자 부품 검사 지그 위치 감지부에 연결되어 있는 제어부, 상기 제어부와 연결되어 있고, 상기 제어부의 제어에 따라 복수의 상기 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치하는 상기 전자 부품 검사 지그를 상기 피킹 위치로 이동시키는 전자 부품 검사 지그 이동 장치 구동부, 상기 제어부와 연결되어 있고, 상기 제어부의 제어에 따라 검사 트레이에 위치한 상기 전자 부품 검사 지그 내에 위치하는 전자 부품을 최종 검사 위치로 이동시키는 전자 부품 검사 지그 시프터 구동부, 그리고 상기 제어부와 연결되어 있고, 상기 제어부의 제어에 따라 상기 전자 부품을 X 방향, Y 방향 및 Z 방향 중 적어도 하나로 이동시키는 피커 구동부를 포함한다. 상기 제어부는 검사되는 전자 부품의 종류를 판정하고, 판정된 종류의 전자부품에 대응하는 타입의 전자 부품 검사 지그를 판정하며, 상기 복수의 전자 부품 검사 지그 적재함 중에서 판정된 타입의 전자 부품 검사 지그가 위치하는 목표 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치하는 최상위 전자 부품 검사 지그 위치 감지부에서 출력되는 상기 감지 신호에 의해 상기 전자 부품 검사 지그가 상기 피킹 위치에 존재하는 상태로 판정되면, 상기 피커 구동부를 구동시켜 상기 전자 부품 검사 지그를 집어 올려 상기 검사 트레이 내에 위치시키고, 상기 피커 구동부를 구동시켜 전자 부품 적재함에 위치하는 전자 부품을 상기 검사 트레이 내에 위치하는 상기 전자 부품 검사 지그에 위치시키고, 상기 전자 부품 검사 지그 시프터 구동부를 구동시켜 상기 검사 트레이에 위치한 전자 부품을 상기 최종 검사 위치로 이동시키고, 상기 전자 부품에 대한 검사가 완료되면, 상기 피커 구동부를 구동시켜 검사 결과에 따라 검사가 완료된 전자 부품을 전자 부품 분배함으로 배분한다.

Description

전자 부품 검사 지그 교체 장치 및 방법{APPARATUS AND METHOD FOR CHANGING ELECTRONIC COMPONENT TEST JIG}
본 발명은 전자 부품 검사 지그 교체 장치 및 방법에 관한 것이다.
전자 부품은 회로 설계 및 제조 공정, 검사 공정, 패키징(packaging) 공정 등을 거쳐 제조된다.
이러한 전자 부품 중에는 메모리 모듈(memory module)이나 SSD(solid state disk)와 같은 초고속 반도체 메모리를 저장 매체로 사용하는 대용량 저장 장치가 존재한다.
저장 장치로 사용되는 SSD는 컴퓨터(computer)에서 정보를 저장하고 필요 시 지울 수 있는 중요한 부품 중 하나이다.
이처럼, SSD는 컴퓨터에서 매우 중요한 역할을 하게 되어 제품이 출하되기 전에 SSD의 동작이 정확하게 이루어지는 지를 확인하는 검사 공정을 반드시 거치게 된다.
따라서, SSD의 상태를 검사하는 검사 장치는 제조된 SSD에 읽기, 쓰기 및 삭제 동작을 수행하여 SSD가 정상 상태인지 불량 상태인지를 판정하게 된다.
이러한 검사 동작을 위해, 검사자는 제조된 SSD를 검사 장치의 검사 위치로 수동으로 이동시키고, 검사자에 의해 해당 위치로 SSD가 위치하면 비로소 검사 장치에 의해 검사 동작이 행해진다.
이처럼, SSD와 같은 전자 부품의 검사를 수행할 때, 비록 검사 장치를 이용해 전자 부품에 대한 검사는 자동으로 이루어지더라도 검사 위치로 전자 부품과 이 전자 부품을 고정하는 검사 지그(test jig)를 배치하는 동작이 수작업으로 이루어지고 검사할 SSD의 제품의 종류가 바뀌면 변경된 SSD의 제품 종류에 맞는 검사 지그를 작업자가 교체해야 하는 불편함이 발생한다.
이에 따라 전자 부품의 검사 완료 시간이 지연되고 검사자 확보로 인한 인건비가 증가하여, SSD과 같은 전자 부품의 제조 시간과 제조 비용이 증가한다.
따라서 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 전자 부품의 검사 시간을 단축하여 수율을 향상시키기 위한 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는 전자 부품의 제조 비용을 줄이기 위한 것이다.
본 발명의 한 특징에 따른 전자 부품 검사 지그 교체 장치는 복수의 전자 부품 검사 지그 적재함에 존재하는 전자 부품 검사 지그 중에서 가장 위쪽에 위치하는 전자 부품 검사 지그가 피킹 위치에 위치하는지를 감지하여 해당하는 상태의 감지 신호를 출력하는 복수의 최상위 전자 부품 검사 지그 위치 감지부, 상기 복수의 최상위 전자 부품 검사 지그 위치 감지부에 연결되어 있는 제어부, 상기 제어부와 연결되어 있고, 상기 제어부의 제어에 따라 복수의 상기 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치하는 상기 전자 부품 검사 지그를 상기 피킹 위치로 이동시키는 전자 부품 검사 지그 이동 장치 구동부, 상기 제어부와 연결되어 있고, 상기 제어부의 제어에 따라 검사 트레이에 위치한 상기 전자 부품 검사 지그 내에 위치하는 전자 부품을 최종 검사 위치로 이동시키는 전자 부품 검사 지그 시프터 구동부, 그리고 상기 제어부와 연결되어 있고, 상기 제어부의 제어에 따라 상기 전자 부품을 X 방향, Y 방향 및 Z 방향 중 적어도 하나로 이동시키는 피커 구동부를 포함한다.
이때, 상기 제어부는 검사되는 전자 부품의 종류를 판정하고, 판정된 종류의 전자부품에 대응하는 타입의 전자 부품 검사 지그를 판정하며, 상기 복수의 전자 부품 검사 지그 적재함 중에서 판정된 타입의 전자 부품 검사 지그가 위치하는 목표 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치하는 최상위 전자 부품 검사 지그 위치 감지부에서 출력되는 상기 감지 신호에 의해 상기 전자 부품 검사 지그가 상기 피킹 위치에 존재하는 상태로 판정되면, 상기 피커 구동부를 구동시켜 상기 전자 부품 검사 지그를 집어 올려 상기 검사 트레이 내에 위치시키고, 상기 피커 구동부를 구동시켜 전자 부품 적재함에 위치하는 전자 부품을 상기 검사 트레이 내에 위치하는 상기 전자 부품 검사 지그에 위치시키고, 상기 전자 부품 검사 지그 시프터 구동부를 구동시켜 상기 검사 트레이에 위치한 전자 부품을 상기 최종 검사 위치로 이동시키고, 상기 전자 부품에 대한 검사가 완료되면, 상기 피커 구동부를 구동시켜 검사 결과에 따라 검사가 완료된 전자 부품을 전자 부품 분배함으로 배분한다.
상기 제어부는 상기 최상위 전자 부품 검사 지그 위치 감지부에서 출력되는 상기 감지 신호에 의해 상기 전자 부품 검사 지그가 상기 피킹 위치에 존재하지 않은 상태로 판정되면, 상기 전자 부품 검사 지그 이동 장치 구동부를 구동시켜 상기 전자 부품 검사 지그를 상기 피킹 위치로 상승시키는 것이 좋다.
상기 특징에 따른 전자 부품 검사 지그 교체 장치는 상기 제어부와 연결되어 있고, 상기 검사 트레이 내에 위치하는 상기 전자 부품 검사 지그의 위치를 감지하여 해당 상태의 감지 신호를 출력하는 전자 부픔 검사 지그 배치 상태 감지부, 그리고 상기 제어부와 연결되어 있는 표시 장치를 더 포함할 수 있고, 상기 제어부는 상기 검사 부품 검사 지그 배치 상태 감지부에서 출력되는 상기 감지 신호에 의해 상기 전자 부품 검사 지그가 상기 검사 트레이 내에 정상적으로 위치하고 있는 상태로 판정되면, 상기 표시 장치로 경고 신호를 출력할 수 있다.
상기 특징에 따른 전자 부품 검사 지그 교체 장치는 상기 제어부에 연결되어 있고, 상기 복수의 전자 부품 검사 지그 적재함에 상기 전자 부품 검사 지그가 존재하는지의 여부를 감지하여 해당 상태의 감지 신호를 출력하는 복수의 전자 부품 검사 지그 적재함 상태 감지부를 더 포함할 수 있고, 상기 제어부는 목표 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치한 전자 부품 검사 지그 적재함 상태 감지부에서 출력되는 감지 신호에 의해 상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함이 빈 상태로 판정되면, 상기 표시 장치를 통해 상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함의 빈 상태를 표시할 수 있다.
상기 제어부는 상기 검사 트레이에 존재하는 상기 전자 부품 검사 지그에 위치하는 상기 검사 부품에 대한 검사가 완료된 후, 검사되는 전자 부품의 종류를 판정하고, 판정된 전자 부품의 종류가 검사가 완료된 상기 전자 부품의 종류가 다를 경우, 상기 피커 구동부를 구동하여 상기 검사 트레이에 위치하는 상기 전자 부품 검사 지그를 해당하는 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치시키는 것이 좋다.
상기 전자 부품은 SSD(solid state disk)일 수 있다.
본 발명의 다른 특징에 따른 전자 부품 검사 지그 교체 방법은 검사할 전자 부품의 종류를 판정하는 단계, 복수의 전자 부품 검사 지그 적재함 중에서 판정된 종류의 전자 부품에 대응하는 전자 부품 검사 지그가 위치하고 있는 목표 전자 부품 검사 지그 적재함을 판정하는 단계, 피커 구동부를 구동하여 상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치하고 있는 전자 부품 검사 지그를 검사 트레이에 위치시키는 단계, 상기 피커 구동부를 구동하여 상기 검사 트레이에 위치한 상기 전자 부품 검사 지그에 검사할 상기 전자 부품을 위치시키는 단계, 전자 부품 검사 지그 시프터 구동부를 구동하여 검사할 상기 전자 부품을 최종 검사 위치로 이동시키는 단계, 그리고 상기 전자 부품의 검사가 완료되면, 검사 결과에 따라 상기 피커 구동부를 구동하여 검사가 완료된 상기 전자 부품은 전자 부품 분배함으로 이동하는 단계를 포함한다.
본 발명의 다른 특징에 따른 전자 부품 검사 지그 교체 방법은 상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치하는 최상위 전자 부품 검사 지그 위치 감지부에서 출력되는 상기 감지 신호를 판독하여 상기 전자 부품 검사 지그가 피킹 위치에 존재하는 상태로 판정하는 단계, 상기 피킹 위치에 상기 전자 부품 검사 지그가이 위치할 경우, 상기 피커 구동부를 구동시켜 상기 전자 부품 검사 지그를 상기 검사 트레이에 위치시키는 단계, 상기 피킹 위치에 상기 전자 부품 검사 지그가 위치하지 않을 경우, 전자 부품 검사 지그 이동 장치 구동부를 동작시켜 상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치하는 최상위 전자 부품 검사 지그를 상기 피킹 위치로 이동시키는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 특징에 따른 전자 부품 검사 지그 교체 방법은 전자 부품 검사 지그 배치 상태 감지부에서 출력되는 감지 신호를 판독하여 상기 검사 트레이에 위치하는 상기 전자 부품 검사 지그의 위치가 정상 상태인지를 판정하는 단계, 상기 검사 트레이에 위치하는 상기 전자 부품 검사 지그의 위치가 정상 상태일 경우, 상기 전자 부품을 상기 최종 검사 위치로 이동시키는 단계, 그리고 상기 검사 트레이에 위치하는 상기 전자 부품 검사 지그의 위치가 비정상 상태일 경우, 표시 장치를 통해 상기 전자 부품 검사 지그의 배치 상태를 표시하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 특징에 따른 전자 부품 검사 지그 교체 방법은 목표 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치한 전자 부품 검사 지그 적재함 상태 감지부에서 출력되는 감시 신호를 판독하여 상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함이 비었는지를 판정하는 단계, 그리고 상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함이 빈 상태로 판정되면, 표시 장치를 통해 상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함의 빈 상태를 표시하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 전자 부품은 SSD(solid state disk)일 수 있다.
이러한 특징에 따르면, 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치하는 전자 부품 검사 지그를 각 해당하는 검사 트레이에 위치시키는 동작, 각 검사 트레이에서 전자 부품을 최종 검사 위치로 이동하는 동작, 그리고 검사 결과에 따라 전자 부품을 해당하는 전자 부품 분리함으로 배분하는 동작 모두가 제어부의 제어에 의해 자동으로 행해진다. 이로 인해, 검사 시간 크게 단축되며, 검사자의 작업 공간이 줄어들고, 수작업 시 작업자의 실수로 인해 발생하는 시간적 및 물질적인 손실이 줄어든다.
도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 SSD를 검사하는 검사 장치의 개략적인 사시도이다.
도 2는 도 1에 도시한 SSD 검사 지그 이동 장치의 하부를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 3는 본 발명의 한 실시예에 따른 SSD 검사 지그의 한 예를 도시한 것으로서, (a)는 검사 트레이에 위치하고 있는 SSD 검사 지그를 도시한 도면이고, (b)는 SSD 검사 지그에 SSD가 장착되어 있는 모습을 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 한 실시예에 따라 SSD 검사 지그를 교체하는 SSD 검사 지그 교체 장치의 제어 유닛에 대한 블럭도이다.
도 5a 및 도 5b는 본 발명의 한 실시예에 따라 SSD 검사 지그를 교차하는 SSD 검사 지그 교체 장치의 동작 순서도이다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
그러면 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 한 실시예에 따른 전자 부품검사 지그 교체 장치 및 그 방법에 대하여 설명한다.
본 발명에서 전자 부품의 한 예로서 SSD(solid state disk)와 같은 저장 장치를 사용한다.
따라서, 이하, 본 발명의 실시예에서는 SSD를 검사할 때 사용되는 SSD 검사 지그를 검사 위치로 이동시키고, 검사되는 SSD의 종류에 맞는 SSD 검사 지그를 교체하는 SSD 검사 지그 교체 장치 및 그 방법에 대하여 설명한다.
하지만, 이에 한정되지 않고, 본 발명은 SSD뿐만 아니라 다른 저장 장치나 메모리 모듈과 같은 다른 종류의 전자 부품을 검사할 때 사용되는 검사 지그를 검사 위치로 이동시키고 또한 전자 부품의 종류에 따라 검사 지그의 종류를 교체하는 전자 부품 검사 지그 교체 장치 및 방법에 적용될 수 있다.
먼저, 도 1 및 도 2를 참고로 하여 본 발명의 한 실시예에 따라 SSD(즉, 전자 부품) 검사 지그(200)를 검사 위치로 이동시키고 원하는 종류의 SSD 검사 지그(즉, 전자 부품 검사 지그)로 교체하는 SSD 검사 지그 교체 장치(즉, 전자 부품 검사 지그 교체 장치)에 대하여 설명한다.
도 1에 도시한 것처럼, Z 방향으로 이동하며 SSD 검사 지그(200)를 집어 올려 원하는 위치로 이동시키는 피커(picker)(100)와 연결되어 있고 X 방향으로 뻗어 있는 X 방향 이동 가이드(110), 피커(100)와 연결되어 있고 Y 방향으로 뻗어 있으며 서로 마주보고 있는 한 쌍의 Y 방향 이동 가이드(120), 각각 복수의 검사 소켓(test socket)(131)를 구비하고 있고 Y 방향으로 뻗어 있는 제1 및 제2 검사 블록(test block)(130), 제1 및 제2 검사 블록(130) 각각에 인접하게 위치하고, Y 방향으로 나란히 위치하고 있는 복수의 검사 트레이(test tray)(140), 서로 인접한 한 쌍의 검사 트레이(140)에 연결되어 있는 복수의 SSD 검사 지그 시프터(shifter)(즉, 전자 부품 검사 지그 시프터)(150), 해당 방향으로 나란히 위치하고 있고, 각각 SSD 검사 지그(200)가 적재되는 적재 공간(161)을 구비하는 복수의 SSD 검사 지그 적재함(즉, 전자 부품 검사 지그 적재함)(160), Y 방향으로 이동하여 복수의 SSD 검사 지그 적재함(160) 중 원하는 SSD 검사 지그 적재함(160)으로 이동하고, Z 방향으로 이동하여 원하는 SSD 검사 지그 적재함(160)에 위치하는 SSD 검사 지그(200)를 원하는 위치까지 상승시키는 SSD 검사 지그 이동 장치(즉, 전자 부품 검사 지그 이동 장치)(170), 검사를 대기하고 있는 SSD가 위치하고 있는 SSD 적재함(즉, 전자 부품 적재함)(180), 그리고 검사 결과에 따라 SSD를 분리하기 위한 SSD 분리함(즉, 전자 부품 분리함)(190)을 구비한다.
피커(100)는 도 1에 도시한 것처럼, 서로 마주보고 있는 Y 방향 이동 가이드(120)에 각각 형성된 홈에 위치하여 Y 방향 이동 가이드(120)를 따라 Y 방향으로 이동하는 제1 연결부(101)에 연결되어 있고, 또한 제1 연결부(101)에 형성된 홈(도시하지 않음)에 위치하여 제1 연결부(101)를 따라 X 방향으로 이동하는 제2 연결부(102)에 연결되어 있다.
따라서, 제1 연결부(101)는 Y 방향 이동 가이드(120)를 따라서 Y 방향으로 이동하여, 제2 연결부(102)는 제1 연결부(101)를 따라 X 방향으로 이동하여, 피커(100)는 제1 및 제2 연결부(101, 102)의 이동에 의해 X 방향과 Y 방향으로 이동된다.
도 1에 도시되지 않았지만, 피커(100)의 Z 방향으로의 이동을 위해 메모리 모듈 이송 장치는 Z 방향 이동 가이드(도시하지 않음)를 더 구비하고 있고, 피커(100)는 이 Z 방향 이동 가이드를 따라 이동한다.
피커(100)의 X, Y 및 Z 방향으로의 이동은 모터(motor)(도시하지 않음)와 벨트(belt)(도시하지 않음) 등에 의해 행해질 수 있다.
이로 인해, 피커(100)는 X 방향, Y 방향 및 Z 방향으로 이동한다. 이러한 피커(100)의 단부에는 SSD 검사 지그(200)와 SSD를 집기 위한 복수의 집게(도시하지 않음)가 부착되어 있다.
피커(100)에 의해 한 번에 피킹(picking)되는 SSD와 SSD검사 지그(200)의 개수는 각각 하나 이상일 수 있다.
각각 검사 소켓(131)을 구비하고 있는 제1 및 제2 검사 블록(130)은 X 방향으로 서로 이격되어 위치하고 있고, 서로 동일한 구조를 갖고 있다.
따라서, 각 검사 블록(130)에 위치한 복수의 검사 소켓(131)의 개수와 구조는 동일하다.
각 검사 소켓(131)은 검사 트레이(140) 내의 SSD 검사 지그(200)에 안착되어 있는 SSD 단자와 대응되게 위치한다.
따라서 SSD 검사 지그 시프터(150)의 동작에 의해, 각 검사 트레이(140) 내에 위치하는 SSD 검사 지그(200)는 X 방향으로 이동하여 SSD 검사 지그(200)에 위치한 SSD의 SSD 단자를 검사 소켓(131) 속으로 삽입시킨다.
따라서, 검사기(도시하지 않음)는 해당 검사 소켓(131)에 삽입된 SSD로 정해진 검사용 데이터를 출력한 후 판독하여 SSD의 읽기 기능, 쓰기 기능 및 삭제 기능 등을 검사한다.
제1 및 제2 검사 블록(130) 각각의 복수의 검사 소켓(131) 각각과 대응하게 복수의 검사 트레이(140)가 위치한다.
따라서, 제1 및 제2 검사 블록(130)에 위치한 검사 소켓(131)의 개수가 동일할 경우, 각 검사 블록(130)에 대응되게 위치하는 복수의 검사 트레이(140)의 개수 역시 동일하다.
복수의 검사 트레이(140)는 모두 동일한 형상을 갖고 있고, 각 검사 트레이(140)는 SSD 검사 지그(200)가 위치하는 배치 공간(141)을 구비하고 있다.
따라서, 피커(100)의 동작에 의해, 각 검사 트레이(140)의 배치 공간(141) 내에 검사가 이루어지는 SSD에 적합한 SSD 검사 지그(200)가 위치하게 된다.
SSD 검사 지그 시프터(150)는 각 검사 트레이(140) 내의 SSD 검사 지그(200) 내에 위치한 SSD를 검사하기 위해 SSD를 대응되는 검사 소켓(131) 방향으로 이동시키기 위한 것으로서, 외부로부터 인가되는 공기압에 따라 해당 SSD 검사 지그(200)를 검사 소켓(131) 쪽으로 이동시키거나 초기 상태로 복귀시킨다.
이를 위해, 검사 트레이(140)에는 장착되어 있는 SSD 검사 지그(200)를 검사 소켓(131) 쪽이나 초기 상태로 이동시키기 위한 레일(rail) 등과 같은 이동부(도시하지 않음)가 설치되어 있고, SSD 검사 지그(200)에는 이 이동부와 결합되어 이동부를 따라 원하는 방향으로 이동하는 체결 장치(도시하지 않음) 등이 구비되어 있다.
각 SSD 검사 지그 시프터(150)는 공압 실린더 등으로 이루어질 수 있고, 해당 SSD 쪽으로 공기압을 공급하고 외부로 배출하는 관(tube)(도시하지 않음)과 연결된다.
도 1에 도시한 것처럼, 하나의 SSD 검사 지그 시프터(150)는 서로 인접하게 위치한 검사 트레이(140) 내에 각각 위치한 한 쌍의 SSD 검사 지그(200)의 위치 이동을 제어한다.
따라서, 두 개의 검사 트레이(140)마다 하나의 SSD 검사 지그 시프터(150)가 설치되어 있다.
하지만, 이와는 달리, 각 검사 트레이(140)마다 하나의 SSD 검사 지그 시프터(150)가 설치될 수 있다.
복수의 SSD 검사 지그 적재함(160)은 해당 방향(예를 들어, Y 방향)으로 나란히 위치하고 있고, 각 SSD 검사 지그 적재함(160) 내에는 SSD 검사 지그(200)가 Z 방향(또는 수직 방향)으로 적재되는 적재 공간(161)이 위치한다.
따라서, 각 SSD 검사 지그 적재함(160)에 위치하는 SSD 검사 지그(200)는 적재 공간(161)을 따라 상승하여 피킹 위치로 이동된다.
각 적재 공간(161)은 직사각형 형상을 가질 수 있다.
따라서, 검사자는 각 SSD 검사 지그 적재함(160)의 적재 공간(161) 속에 SSD 검사 지그(200)를 채워 넣고, 피커(100)는 각 SSD 검사 지그 적재함(160)의 적재 공간(161) 내에 위치하는 SSD 검사 지그(200)를 집어 올려 원하는 위치에 배치된 검사 트레이(140)의 배치 공간(141) 속에 위치시키게 된다.
SSD 검사 지그(200)는 도 3의 (a)에 도시한 것처럼, 검사가 이루어지는 SSD가 위치하는 공간을 구비하고 있다. 이러한 SSD 검사 지그(200)는 피커(100)의 동작에 위해 SSD 검사 지그 적재함(160)에서부터 검사 트레이(140) 내에 위치하고 그 공간 내에 해당하는 종류의 SSD(300)가 위치한다. 따라서 SSD 검사 지그(200) 내에 SSD(300)가 안정적으로 위치하여 SSD(300)는 해당하는 검사 동작을 정상적으로 받게 된다.
이때, 검사되는 SSD의 종류에 따라 SSD(300)이 위치하는 공간의 형태가 상이하므로, 검사되는 SSD(300)의 종류가 변경되면 검사 트레이(140) 내로 배치되는 SSD 검사 지그(200)의 종류 역시 변경되어 한다.
따라서, 각 SSD 검사 지그(160)의 적재 공간(161)에는 이러한 SSD 검사 지그(200)가 적재되어 있고, 이때, 복수의 SSD 검사 지그 적재함(160)에는 모두 동일한 종류의 SSD 검사 지그(200)가 위치하거나 하나 이상의 서로 다른 종류의 SSD 검사 지그(200)가 위치할 수 있다.
도 1 및 도 2에 도시한 것처럼, SSD 검사 지그 이동 장치(170)는 Y 방향으로 뻗어 있는 Y 방향 이동 가이드(171), Z 방향으로 뻗어 있는 Z 방향 이동 가이드(도시하지 않음), Y 방향 이동 가이드(171)와 Z 방향 이동 가이드에 연결되어 Y 방향 이동 가이드(171)를 따라 Y 방향과 Z 방향으로 이동하는 지지대(172), 지지대(172)에 연결되어 있고 각 SSD 검사 지그 적재함(160) 내에 적재되어 있는 SSD 검사 지그(200)를 피킹 위치로 이동시키는 리프터(lifter)(173), 그리고 지지대(172)의 Y 방향과 Z 방향으로의 이동시키기 위한 벨트(174, 175)를 구비한다.
SSD 적재함(180)은 검사를 받기 위한 SSD가 대기하고 있는 곳으로서, 이 적재함(180)에 위치하고 있는 SSD는 피커(100)의 동작에 의해 검사 트레이(140)에 위치하고 있는 SSD 검사 지그(200)의 공간에 배치되어, 검사 동작이 이루어지도록 한다.
SSD 분리함(190)은 검사 결과에 따라 검사를 마친 SSD를 분리하기 위한 곳으로서, 검사 결과가 정상인 SSD와 비정상인 SSD가 서로 분리되어 서로 다른 분리함(190)에 위치한다.
본 예에서, 검사 트레이(140)에서 SSD 분리함(190)으로의 SSD 위치 이동은 피커(100)에 의해 행해진다.
따라서, SSD 적재함(180)은 검사를 대기하고 있는 복수의 SSD가 위치하는 복수의 적재 공간(181)을 구비하고 있고, SSD 분리함(190)에는 검사를 마친 SSD가 위치하는 복수의 적재 공간(191)을 구비한다.
이로 인해, 피커(100)에 의해 검사를 위한 SSD가 자동으로 검사 트레이(140)에 위치한 해당 SSD 검사 지그(200) 내로 위치하고, 검사가 완료되면 검사 결과에 따라 피커(100)에 의해 자동으로 SSD 검사 지그(200) 내의 SSD를 해당 분리함(190) 쪽으로 옮겨진다.
따라서, 작업자에 의해 수동으로 SSD가 검사를 위해 SSD 검사 지그(200) 속으로 위치하고 검사 결과에 따라 SSD의 분리 동작이 행해지는 경우에 비해, 작업 속도가 크게 향상된다.
또한, 검사자에 의해 검사가 완료된 SSD의 이동이 불필요하므로, 검사자의 실수로 정상 상태의 SSD와 비정상 상태의 SSD를 정상용 SSD 분리함(190)과 비정상용 분리함(190)으로 분류되는 문제가 발생하지 않는다.
추가로, 검사가 완료된 SSD을 검사자가 해당 SSD 분리함(190)까지 수동으로 옮기지 않아도 되므로, 추락 등으로 인해 검사가 완료된 정상 상태의 SSD가 파손되는 문제가 발생하지 않는다.
본 예의 경우, 검사 블록(130)은 두 개를 구비하고 있지만, 이에 한정되지 않고 SSD 검사 장치의 크기 등에 따라 달라져 한 개 또는 3개 이상의 검사 블록(130)을 구비할 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따른 SSD 검사 지그 교체 장치는 SSD 검사 지그 교체 장치의 동작을 제어하는 제어 유닛(이하, 'SSD 검사 지그 교체 장치의 제어 유닛'이라 함)을 또한 구비한다.
따라서, 다음 도 4를 참고로 하여 이러한 SSD 검사 지그 교체 장치의 제어 유닛에 대하여 설명한다.
도 4에 도시한 것처럼, SSD 검사 지그 교체 장치의 제어 유닛은 각 SSD 검사 지그 적재함(160)에 SSD 검사 지그(200)가 존재하는지의 여부를 감지하여 해당 상태의 감지 신호를 출력하는 복수의 SSD 검사 지그 적재함 상태 감지부(11), 각 SSD 검사 지그 적재함(160) 내에 존재하는 SSD 검사 지그(200) 중에서 가장 위쪽에 존재하는 최상위 SSD 검사 지그(200)의 위치를 감지하여 SSD 검사 지그(200)가 피킹 위치(picking position)에 존재하는지의 여부에 따라 해당 상태의 감지 신호를 출력하는 최상위 SSD 검사 지그 위치 감지부(13), SSD 검사 지그(200)가 위치하는 복수의 검사 트레이(140) 내에 각각 위치하는 SSD 검사 지그(200)의 위치를 감지하여 해당 상태의 감지 신호를 출력하는 복수의 SSD 검사 지그 배치 상태 감지부(15), 복수의 SSD 검사 지그 적재함 상태 감지부(11), 복수의 최상위 SSD 검사 지그 위치 감지부(13) 및 복수의 SSD 검사 지그 배치 상태 감지부(15)에 연결되어 있고 저장 장치(21)를 구비하는 제어부(20), 제어부(20)에 연결되어 있고, 제어부(20)에서 출력되는 신호에 따라 동작 상태가 변하는 표시 장치(31), 제어부(20)에 연결되어 있고, 제어부(20)에서 출력되는 신호에 따라 복수의 SSD 검사 지그 적재함(160) 각각에 위치하는 SSD 검사 지그(200)를 상하 방향으로 이동시키는 SSD 검사 지그 이동 장치 구동부(33), 제어부(20)와 연결되어 있고, 제어부(20)에서 출력되는 제어 신호에 따라 검사 트레이(140)에 위치한 SSD 검사 지그(200) 내의 SSD의 단자를 검사 블록(130)의 검사 소켓(131)과 접촉시키기 위해 동작하는 SSD 검사 지그 시프터(150)로의 공기 공급 상태를 제어하여 복수의 SSD 검사 지그 시프터 구동부(34), 그리고 제어부(20)에 연결되어 있고, SSD 검사 지그(200)과 SSD를 원하는 위치로 이동시키는 피커(100)를 구동하는 피커 구동부(35)를 구비한다.
복수의 SSD 검사 지그 적재함 상태 감지부(11) 각각은 각 SSD 검사 지그 적재함(160) 내의 가장 하부에 SSD 검사 지그(200)가 위치하는지를 감지하여 해당 SSD 검사 지그 적재함(160)에 SSD 검사 지그(200)가 존재하는지 또는 SSD 검사 지그 적재함(160)이 비어있는지를 감지하기 위한 것이다.
따라서 각 SSD 검사 지그 적재함 상태 감지부(11)는 SSD 검사 지그 적재함(160)의 하단부에서 위치하여, SSD 검사 지그 적재함(160) 내의 가장 하부에 위치하는 최하위 SSD 검사 지그(200)의 위치를 감지한다.
복수의 최상위 SSD 검사 지그 위치 감지부(13) 각각은 이미 설명한 것처럼, 각 SSD 검사 지그 적재함(160) 내의 최상위 SSD 검사 지그(200)가 피킹 위치에 존재하는지를 감지하기 위한 것이다.
따라서, 각 최상위 SSD 검사 지그 위치 감지부(13)는 해당 SSD 검사 지그 적재함(160)의 상단부에서 최상위 SSD 검사 지그(200)가 원하는 위치(즉, 피킹 위치)에 존재하는지의 여부를 감지할 수 있는 위치에 위치한다.
복수의 SSD 검사 지그 배치 상태 감지부(15) 각각은 각 검사 트레이(140) 내에 위치하여, 각 검사 트레이(140)의 배치 공간(141)에 SSD 검사 지그(200)가 위치하는지를 감지하기 위한 것이다.
본 예에서, SSD 검사 지그 상태 감지부(11), 최상위 SSD 검사 지그 위치 감지부(13) 및 SSD 검사 지그 배치 상태 감지부(15)는 모두 수광부와 발광부를 구비한 광 센서(photo sensor)로 이루어져 있다.
따라서, 발광부에서 빛이 조사되면 해당 위치에 SSD 검사 지그(200)가 존재할 경우와 존재하지 않을 경우 수광부로 입사되는 빛의 양이 변하게 된다. 따라서, 수광부는 입사되는 빛의 양에 따라 해당하는 상태를 전기 신호를 제어부(20)로 출력한다.
이로 인해, 제어부(20)는 각 감지부(11, 13, 15)에서 출력되는 신호를 이용하여 원하는 위치에 원하는 SSD 검사 지그(200)가 존재하는지의 여부를 판정하게 된다.
제어부(20)는 각 SSD 검사 지그 적재함(160) 내의 피킹 위치에 존재하는 SSD 검사 지그(200)를 집어 올려 검사 트레이(140) 내로 위치시키는 피커(100)의 위치 이동 제어를 위한 피커 이동 위치 정보, 각 SSD 검사 지그 적재함(160)의 위치 정보, 각 검사 트레이(140)의 위치 정보, SSD 적재함(180)의 적재 공간(181)의 위치 정보, SSD 분리함(190)의 적재 공간(191)의 위치 정보, 복수의 SSD 검사 지그 적재함(160)에서의 SSD 검사 지그(200)의 피킹 순서 등을 저장하고 있는 저장 장치(21)를 구비한다.
따라서, 제어부(20)는 이 저장 장치(21)에 저장되어 있는 위치 정보를 이용하여 피커 구동부(35)의 동작을 제어하여, 피커(100)가 X 방향, Y 방향 및 Z 방향 중 적어도 한 방향으로 이동하여 해당 위치에서 해당하는 SSD 검사 지그(200)와 SSD를 집어 원하는 위치에 위치시키도록 한다.
표시 장치(31)는 제어부(20)에서 출력되는 신호에 따라서 해당하는 정보를 표시하는 것으로 액정 표시 장치나 유기 발광 표시 장치 등으로 이루어져 있다.
본 예에서, 제어부(20)의 제어에 의해 표시 장치(31)는 SSD 검사 지그 적재함(160)에 SSD 검사 지그(200)가 존재하지 않고 SSD 검사 지그 적재함(160)이 비어 있을 경우, 검사 트레이(140)에 위치한 SSD 검사 지그(200)의 위치 상태가 비정상 상태일 경우 및 검사 완료된 SSD 검사 결과 등을 표시할 수 있다.
SSD 검사 지그 이동 장치 구동부(33)는 제어부(20)에서 출력되는 제어 신호에 따라 SSD 검사 지그 이동 장치(170)의 지지대(172)를 Y 방향으로 이동시키는 Y 방향 이동 모터(331), 제어부(20)에서 출력되는 제어 신호에 따라 지지대(172)를 Z 방향으로 이동시키는 Z 방향 이동 모터(332), 그리고 이들 이동 모터(331, 332)의 동작 상태를 감지하여 이동 모터(331, 332)의 동작 상태의 신호를 제어부(20)로 출력하는 엔코더(encorder)(334, 335)를 구비한다.
이러한 지지대(172)의 Y 방향과 Z 방향으로의 이동은 SSD 검사 지그 이동 장치(170)의 벨트(174, 175)의 접힘 동작과 펴짐 동작에 연동하여 행해진다.
따라서, 제어부(20)에서 출력되는 제어 신호에 따라 SSD 검사 지그 이동 장치 구동부(33)는 Y 방향 이동 모터(331)와 Z 방향 이동 모터(332)를 구동시켜 지지대(172)를 상승시킨다. 따라서, 지지대(172)의 상승 동작에 의해, 지지대(172)에 연결되어 있고 복수의 SSD 검사 지그 적재함(160) 중 원하는 SSD 검사 지그 적재함(160)에 위치하는 리프터(173) 역시 위쪽으로 이동되어 해당 SSD 검사 지그 적재함(160)에 위치하는 최상위 SSD 검사 지그(200)를 피킹 위치로 이동시킨다.
이때, 제어부(20)는 엔코더(334, 335)에서 출력되는 신호를 이용하여 Y 방향 이동 모터(331)와 Z 방향 이동 모터(332)의 동작 상태를 판정하여, Y 방향 이동 모터(331)와 Z 방향 이동 모터(332)의 동작을 제어한다.
SSD 검사 지그 시프터 구동부(34)는 제어부(20)에서 출력되는 제어 신호에 의해 동작하여, 각 검사 트레이(140)의 배치 공간(141)에 배치되어 있는 SSD 검사 지그(200)를 검사 블록(130)의 검사 소켓(131) 쪽으로 이동시켜, 이동한 SSD 검사 지그(200) 내에 위치한 SSD의 단자를 검사 소켓(131)에 접속시킨다.
이러한 SSD 검사 지그 시프터 구동부(34)는 공압 실린더의 동작을 제어하여, 각 검사 트레이(140) 쪽으로 공기를 공급하거나 외부로 배출하도록 한다.
피커 구동부(35)는 제어부(20)에서 출력되는 제어 신호에 따라, 피커(100)를 X 방향으로 이동시키는 X 방향 이동 모터(351), Y 방향으로 이동시키는 Y 방향 이동 모터(352), 그리고 Z 방향으로 이동시키는 Z 방향 이동 모터(353)를 구비하고, 또한 이들 각 이동 모터(351-353)의 동작 상태를 감지하여 각 이동 모터(351-353)의 동작 상태의 신호를 제어부(20)로 출력하는 엔코더(356-358)를 구비한다.
따라서, 제어부(20)는 저장 장치(21)에 저장되어 있는 피커 이동 위치 정보와 엔코더(356-358)의 출력 신호를 이용하여 원하는 위치에 피커(100)를 위치시킨다.
다음, 도 5a 및 도 5b를 참고로 하여, 이러한 구조를 갖는 SSD 검사 지그 교체 장치의 동작에 대하여 설명한다.
먼저, 동작에 필요한 전원이 공급되어 SSD 검사 지그 교체 장치의 동작이 시작되면, 제어부(20)의 동작도 시작된다(S10).
동작이 시작되면, 제어부(20)는 SSD 검사 지그 교체 장치 전체의 동작을 제어하는 상위 서버(도시하지 않음)로부터 전송되는 전송 데이터를 수신한 후 전송된 데이터를 판독하여(S11), 검사할 SSD의 종류를 판정한다(S13).
따라서, 제어부(20)는 검사할 SSD의 종류에 맞는 SSD 검사 지그(200)의 타입을 판정하여, 판정된 타입에 해당하는 SSD 검사 지그가 위치하는 SSD 검사 지그 분류함(160)에서 해당하는 SSD 검사 지그(200)를 검사 위치로 이동시키는 동작을 제어한다.
이를 위해, 제어부(20)는 저장 장치(21)에 저장되어 있는 정보를 이용하여 현재 복수의 SSD 검사 지그 적재함(160) 각각에 적재되는 SSD 검사 지그(200)의 타입을 판정하여, 복수의 SSD 검사 지그 적재함(160) 중에서 단계(S13)에서 판정된 SSD의 종류에 대응하는 SSD 검사 지그(200)가 위치하는 SSD 검사 지그 적재함(160)[이하, '목표 SSD 검사 지그 적재함(160)' 이라 함]의 위치를 판정한다(S14).
각 SSD 검사 지그 적재함(160)에 적재되는 SSD 검사 지그(200)의 타입은 입력 장치(도시하지 않음) 등을 통해 관리자에 의해 입력되어 제어부(20)의 저장 장치(21)에 저장될 수 있다.
다음, 제어부(20)는 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)에 위치하는 SSD 검사 지그 적재함 상태 감지부(11)에서 출력되는 감지 신호를 판독하여(S15), 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)이 비어있는지의 여부를 판정한다(S17).
목표 SSD 검사 지그 적재함(160)이 빈 상태로 판정되면, 제어부(20)는 표시 장치(31)로 해당하는 경고 신호를 출력하여(S21), 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)이 현재 비어 있다는 상태를 외부로 알리게 된다. 그런 다음, 단계(S15)로 넘어가 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)이 비어있는지를 판정한다.
본 예의 경우, 표시 장치(31)는 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)의 상태를 글이나 그림으로 나타내는 표시 장치이지만, 이와는 달리, 발광 다이오드 등과 같은 경고등을 이용하여 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)의 빈 상태를 외부로 알려주는 표시 장치일 수 있다.
이와 같이, 표시 장치(31)를 통해 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)에 사용될 SSD 검사 지그(200)가 존재하지 않은 상태가 표시되면, 관리자는 해당 SSD 검사 지그 적재함(160)의 상태를 확인한 후 해당하는 타입의 SSD 검사 지그(200)를 해당 SSD 검사 지그 적재함(160)에 채워 넣게 된다. 하지만, 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)이 빈 상태가 아닐 경우, 제어부(20)는 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)에 위치하는 SSD 검사 지그(200)를 검사 트레이(140)로 이동시키는 동작을 제어한다.
따라서, 제어부(20)는 복수의 SSD 검사 지그 적재함(160) 중에서 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)에 장착된 최상위 SSD 감지부(13)에서 출력되는 감지 신호를 판독하여(S23), 피킹 위치에 SSD 검사 지그(200)가 위치하고 있는지를 판정한다(S25).
따라서, 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)의 피킹 위치에 SSD 검사 지그(200)가 존재할 경우, 제어부(20)는 피커 구동부(35)로 구동 신호를 출력하여 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)의 피킹 위치에 존재하는 SSD 검사 지그(200)를 집어 올려 해당 위치에 존재하는 검사 트레이(140)의 배치 공간(141)에 배치한다(S27).
피커(100)에 의해 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)의 피킹 위치에 위치하는 SSD 검사 지그(200)의 피킹 동작이 완료되면, 제어부(20)는 SSD 검사 지그 이동 장치 구동부(33)의 상태를 초기화시켜, SSD 검사 지그 이동 장치(170)의 리프터(173)를 초기 위치로 하강시킨다.
하지만, 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)의 피킹 위치에 이동될 SSD 검사 지그(200)가 존재하지 않을 경우, 제어부(20)는 SSD 검사 지그 이동 장치 구동부(33)로 구동 신호를 출력한다(S29).
이미 제어부(20)의 저장 장치(21)에는 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)의 위치 정보, 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)의 피킹 위치가 저장되어 있고, SSD 검사 지그 이동 장치(170)의 현재 위치를 알고 있다.
따라서, 제어부(20)는 이들 정보를 이용하여 SSD 검사 지그 이동 장치 구동부(35)로 해당하는 상태의 구동 신호를 출력하여, 지지대(171)의 이동 정도와 이동 방향을 제어하다.
제어부(20)의 구동 신호에 의해 SSD 검사 지그 이동 장치 구동부(33)의 Y 방향 이동 모터(331)가 동작하여 SSD 검사 지그 이동 장치(170)의 지지대(172)를 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)으로 이동시켜, 목표 SSD 검사 지그 적재함(160) 밑에 리프트(173)를 위치시킨다.
그런 다음, Z 방향 이동 모터(332)를 동작하여 지지대(172)를 Z 방향으로 이동시켜 지지대(172)에 연결된 리프터(173)를 이용해 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)에 위치하고 있는 SSD 검사 지그(200)를 피킹 위치(즉, 상승 방향) 쪽으로 이동시킨다.
SSD 검사 지그 이동 장치 구동부(33)로 구동 신호를 출력하여 리프터(173)를 상승시킨 후, 제어부(20)는 복수의 최상위 SSD 검사 지그 위치 감지부(13) 중에서 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)에 장착된 최상위 SSD 검사 지그 위치 감지부(13)에서 출력되는 감지 신호를 판독하여(S31), 리프터(173)의 동작으로 SSD 검사 지그(200)가 피킹 위치로 이동했는지를 판정한다(S33).
따라서, 제어부(20)는 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)의 맨 위에 위치하는 SSD 검사 지그(200)가 피킹 위치로 이동할 때까지 SSD 검사 지그 이동 장치 구동부(33)의 Z 방향 이동 모터(332)를 구동시킨 후, 해당 SSD 검사 지그(200)가 피킹 위치로 이동하면 SSD 검사 지그 이동 장치 구동부(33)의 Z 방향 이동 모터(332)로 인가되는 구동 신호의 출력을 중지한다(S35).
따라서, SSD 검사 지그 이동 장치(170)의 리프터(173)는 현재 위치를 유지하게 되고, 이로 인해, 최상의 SSD 검사 지그(200)는 현재 위치인 피킹 위치에 위치하게 된다.
하지만, SSD 검사 지그 이동 장치(170)의 리프터(173)가 목표 SSD 검사 지그 적재함(160) 하부에 위치하고 있을 경우, 제어부(20)는 Y 방향으로의 SSD 검사 지그 이동 장치 구동부(33) 제어 동작을 실시하지 않고 바로 Z 방향으로의 SSD 검사 지그 이동 장치 구동부(33) 제어 동작을 실시하여, 최상위 SSD 검사 지그(200)가 피킹 위치로 이동하도록 한다.
이와 같이, 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)에 존재하는 적어도 하나의 SSD 검사 지그(200) 중 가장 위에 위치하는 최상위 SSD 검사 지그(200)가 피킹 위치에 위치하면, 제어부(20)는 이미 설명한 것처럼 피커 구동부(35)로 구동 신호를 출력하여 X 방향 이동 모터(351), Y 방향 이동 모터(352) 및 Z 방향 이동 모터(353) 중 적어도 하나를 구동시켜 SSD 검사 지그(200)를 해당 검사 트레이(140)의 배치 공간(141) 내에 위치시킨다.
이때, 제어부(20)의 저장 장치(21)에는 SSD 검사 지그(200)의 피킹 동작이 행해지는 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)의 위치, 현재 피커(100)의 위치 및 집어 올린 SSD 검사 지그(200)가 배치될 검사 트레이(140)의 위치에 따라 이미 이동 모터(351-353) 중에서 구동되는 모터의 순서와 동작량이 정해져 있다.
따라서, 제어부(20)는 피킹 동작이 행해지는 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)의 위치, 현재 피커(100)의 위치 및 SSD 검사 지그(200)가 배치될 검사 트레이(140)의 위치에 따라 정해진 순서대로 X 방향 이동 모터(351), Y 방향 이동 모터(352) 및 Z 방향 이동 모터(353) 중 적어도 하나를 정해진 양만큼 구동시킨다.
이러한 제어부(20)의 동작에 의해 피커(100)는 X, Y 및 Z 방향 중 적어도 하나로 이동하면서 해당 SSD 검사 지그(200)를 정해진 검사 트레이(140)에 배치하고, 제어부(20)는 각 모터(351-353)의 동작 상태를 감지하는 엔코더(356-358)의 출력 신호를 이용하여 해당 이동 모터(351-353)의 동작 상태를 제어한다.
이와 같이, 모든 검사 트레이(140)의 적재 공간(141) 내에 검사되는 SSD의 종류에 해당하는 타입의 SSD 검사 지그 배치 동작을 제어한 후, 제어부(20)는 각 검사 트레이(140)에 장착되어 있는 복수의 SSD 검사 지그 배치 상태 감지부(15)에서 출력되는 신호를 판독하여(S37), 비정상적으로 검사 트레이(140)의 적재 공간(141) 내에 위치하고 있는 SSD 검사 지그(200)가 존재하는지를 판정한다(S39).
이때, 제어부(20)는 검사 트레이(140)의 개수와 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)에서 피킹되는 SSD 검사 지그(200)의 개수를 이용하여 모든 검사 트레이(140) 내의 적재 공간(141)에 SSD 검사 지그(200)의 배치 동작이 완료되었는지를 판정한다.
이를 위해, 제어부(20)는 피커(100)에 의해 피킹되어 검사 위치로 배치되는 SSD 검사 지그(200)의 개수를 계수하는 카운터를 더 구비하여, 계수된 개수와 검사 트레이(140)의 개수를 비교하여 모든 검사 트레이(140)에 SSD 검사 지그(200)가 위치하였는지를 판정할 수 있다.
단계(S39)에서, 판독된 복수의 SSD 검사 지그 배치 상태 감지부(15)에서 출력되는 감지 신호에 의해 비정상적으로 검사 트레이(140)의 적재 공간(141) 내에 위치하는 SSD 검사 지그(200)가 존재하는 상태로 판정되면, 제어부(20)는 표시 장치(31)로 경고 신호를 출력하여 비정상적으로 SSD 검사 지그(200)가 위치하고 있는 검사 트레이(140)의 위치를 표시한다(S41).
이로 인해, 관리자는 표시 장치(31)에 표시되는 정보를 이용하여 해당 검사 트레이(140)에 위치하는 SSD 검사 지그(200)의 위치를 검사하여 정상 상태에 위치하도록 한다.
이미 설명한 것처럼, 이 경우에도 경고등을 이용하여 해당하는 비정상적으로SSD 검사 지그(200)가 위치하고 있는 검사 트레이(140)의 위치를 표시할 수 있다.
다음, 제어부(20)는 검사 트레이(140)에 위치하는 SSD 검사 지그(200) 내로 검사 받을 SSD를 이동하기 위해, 피커 구동부(35)로 제어 신호를 출력한다(S40).
이미 설명한 것처럼, 제어부(20)의 저장 장치(21)에는 SSD 적재함(180)에서 검사를 대기하고 있는 SSD 위치 정보와 각 검사 트레이(140)에 위치하고 있는 SSD 검사 지그(200)의 위치 정보를 알고 있으므로, 이를 이용하여 이미 설명한 것처럼 피커 구동부(35)의 X 방향 이동 모터(351), Y 방향 이동 모터(352) 및 Z 방향 이동 모터(353) 중 적어도 하나를 해당 양만큼 구동시켜, 피커(100)를 이용해 SSD 적재함(180)에 위치하고 있는 SSD를 검사 트레이(140)의 SSD 검사 지그(200)의 공간 내로 위치시킨다.
검사 트레이(140) 내에 위치하고 있는 모든 SSD 검사 지그(200)의 공간에 검사 받은 SSD가 이동하면, 제어부(20)는 복수의 SSD 검사 지그 시프터 구동부(34) 각각으로 구동 신호를 출력하여 검사 블록(130)의 검사 소켓(131)에 SSD 검사 지그(200)에 위치한 SSD의 SSD 단자를 접촉시킨다(S43).
즉, 각 SSD 검사 지그 시프터 구동부(34)가 동작하면, 해당 검사 트레이(140) 내의 SSD 검사 지그(200)가 이동하고, 그 속에 위치하는 SSD가 수평 방향, 즉 검사 소켓(131) 쪽으로 이동하여, SSD 단자는 검사 소켓(131) 속에 삽입되어 서로 접하게 된다.
이처럼, 검사를 위해 검사 블록(130)의 검사 소켓(131) 쪽으로 SSD를 이동시킨 후, 제어부(20)는 검사기(도시되지 않음)로 검사 시작 신호를 출력한다(S45). 이때, 제어부(20)는 현재 검사를 위해 해당 검사 트레이(140)에 위치하고 있는 SSD의 종류도 함께 보내준다.
그런 다음, 제어부(200)는 검사기로부터 검사 완료 신호가 수신되었는지를 판정한다(S47).
제어부(20)로부터 전송된 검사 시작 신호를 수신한 검사기는 저장부(도시하지 않음)로부터 검사 대상인 SSD의 종류에 맞는 검사용 데이터를 읽어와, 서로 접해 있는 검사 소켓(131)과 SSD 단자를 통해 SSD로 검사용 데이터를 출력한 후, 다시 SSD 단자와 검사 소켓(131)을 통해 SSD에 기록된 데이터를 판독하여, SSD의 쓰기 동작, 읽기 동작 및 지우기 동작 등이 정상적으로 이루어지는지를 검사하게 된다.
SSD의 동작을 검사하기 위한 검사용 데이터는 검사되는 SSD의 종류에 맞게 정해져 있고, 검사용 데이터는 이미 설명한 것처럼 검사기의 저장부에 저장되어 있다. 이처럼, 제어부(20)는 검사 트레이(140)와 연결되어 있는 복수의 SSD 검사 지그 시프터 구동부(34) 각각으로 동시에 구동 신호를 출력하여 동시에 각 검사 트레이(140) 내에 위치하고 있는 SSD를 최종 검사 위치[즉, SSD 단자를 검사 소켓(131) 쪽으로 이동시킨 위치]로 이동시켜 복수의 SSD 검사 지그(200)에 위치하는 복수의 SSD의 검사 동작이 동시에 이루어지도록 한다.
하지만, 대안적으로, 하나 또는 두 개와 같이 정해진 개수씩 SSD 검사 지그 시프터 구동부(34)를 구동시킨 후 정해진 개수의 SSD를 동시에 검사하여, 모든 검사 트레이(140)에 위치하는 SSD 검사 지그(200)의 SSD 상태를 검사할 수 있다.
SSD 검사 지그(200)에 위치하는 SSD에 대한 검사 동작이 완료되면, 검사기는 검사 완료 신호와 함께 검사 결과를 제어부(20)로 전송한다.
이처럼, 검사기로부터 검사 완료 신호가 수신되면, 제어부(20)는 검사 결과를 저장 장치(21)에 저장한다(S48).
다음, 제어부(20)는 SSD 검사 지그 시프터 구동부(34)로 인가되는 구동 신호를 중지시켜(S49) 검사 동작이 완료된 SSD를 구비하고 있는 SSD 검사 지그(200)를 초기 위치로 복귀시킨다. 이로 인해, SSD는 검사 소켓(131)의 반대쪽으로 수평 방향으로 이동하게 되므로, SSD 단자와 검사 소켓(131)과의 접촉 상태가 해제된다.
이미 설명한 것처럼, 모든 검사 트레이(140)에 위치하는 SSD가 동시에 검사 동작이 행해질 경우, 검사 동작이 완료되면 동시에 모든 SSD는 해당 검사 트레이(140)의 초기 위치로 복귀하게 된다.
하지만, 정해진 개수의 SSD 단위로 검사 동작이 차례로 행해질 경우, 해당 개수의 SSD 검사 지그(200)를 최종 검사 위치로 이동→검사 실시→SSD 검사 지그(200)를 초기 위치 복귀의 순으로 검사 동작이 행해진다. 즉, 동일한 단위에 포함되는 SSD에 대해서는 동시에 검사 동작이 행해지지만, 서로 다른 단위에 속한 SSD는 정해진 순서대로 순차적으로 검사 동작이 행해진다.
다음, 제어부(20)는 모든 검사 트레이(140) 내에 위치하는 SSD에 대한 검사 결과를 저장 장치(21)로부터 읽어와(S51), 검사 결과가 정상인 SSD와 비정상인 SSD가 어떤 검사 트레이(140)에 위치하는지를 판정한다.
그런 다음, 제어부(20)는 피커 구동부(35)로 구동 신호를 출력하여, 검사 결과가 정상인 SSD와 비정상인 SSD를 분리하여 SSD 분리함(190)의 적재 공간(191)으로 이동시킨다(S53).
이때, SSD 검사 지그 적재함(160)에서 해당 검사 트레이(140)로 SSD 검사 지그(200)를 이동시킬 때와 유사하게, 제어부(20)는 정상 상태의 SSD가 위치하는 검사 트레이(140)의 위치, 비정상 상태의 SSD가 위치하는 검사 트레이의(140) 위치, 정상 상태인 SSD가 위치하는 분리함(190)의 배치 공간(191)의 위치, 비정상 상태의 SSD가 위치하는 분리함(190)의 배치 공간(191)의 위치를 모두 알고 있다.
따라서, 제어부(20)는 각 검사 트레이(140)의 위치와 그 검사 트레이(140)에 수용되어 있는 SSD의 검사 결과에 따라 X 방향 이동 모터(351), Y 방향 이동 모터(352) 및 Z 방향 이동 모터(353) 중 적어도 하나를 해당 양만큼 해당 방향으로 이동시켜 정상 상태의 SSD와 비정상 상태의 SSD를 해당 SSD 분리함(190)에 위치시킨다.
이미 설명한 것처럼, 제어부(20)는 각 이동 모터(351-353)의 동작 상태에 따라 해당하는 상태의 펄스 신호를 출력하는 엔코더(356-358)를 이용하여 해당 이동 모터(351-353)의 동작 상태를 제어한다.
다음, 이처럼 모든 검사 트레이(140)에 위치한 SSD의 검사 동작을 완료하고, 검사 결과에 따라 SSD를 해당 SSD 분리함(190)에 각각 분리하여 위치시킨 후, 제어부(20)는 다시 새로운 SSD를 검사하기 위한 동작을 실시한다.
따라서, 제어부(20)는 단계(S11)와 같이, 외부로부터 전송되는 데이터를 판독하여(S55), 새롭게 검사할 SSD의 종류를 판정한다(S57).
그런 다음, 검사할 SSD의 종류가 이전의 종류와 다른지를 판정한다(S59).
판정된 SSD의 종류가 이전의 종류와 동일할 경우, 제어부(20)는 단계(S15)로 넘어가 해당 SSD 검사 지그 적재함 상태 감지부(11)에서 출력되는 감지 신호를 판독하여 목표 SSD 검사 지그 적재함(160)이 빈 상태인지를 판정한다.
하지만, 판정된 SSD의 종류가 이전의 종류와 다를 경우, 제어부(20)는 검사 트레이(140)에 현재 위치하고 있는 SSD 검사 지그(200)를 변경된 SSD의 종류에 맞는 SSD 검사 지그(200)로 교체한다.
따라서, 제어부(20)는 피커 구동부(35)를 구동하여 검사 트레이(140)에 현재 위치하고 있는 SSD 검사 지그(200)를 집어 올려 이 SSD 검사 지그(200)가 위치하는 해당 SSD 검사 지그 적재함(160)으로 이동시킨다.
이미 설명한 것처럼, 제어부(20)는 X 방향 이동 모터(351), Y 방향 이동 모터(352) 및 Z 방향 이동 모터(353) 중 적어도 하나를 정해진 양만큼 이동시켜, 해당 SSD 검사 지그(200)를 검사 트레이(140)에서 해당 SSD 검사 지그 적재함(160)으로 이동시킨다.
그런 다음, 다시 변경된 SSD 종류에 맞는 새로운 타입의 SSD 검사 지그(200)를 검사 트레이(140)의 배치 공간(141)에 배치하는 동작을 실시한다.
따라서, 제어부(20)는 단계(S14)로 넘어가, 저장 장치(21)에 저장되어 있는 정보를 이용하여 복수의 SSD 검사 지그 적재함(160) 중에서 단계(S57)에서 판정된 SSD의 종류에 대응하는 SSD 검사 지그(200)가 위치하는 SSD 검사 지그 적재함(160)의 위치를 판정하여, 단계(S15) 내지 단계(S53)에 따라 판정된 SSD 검사 지그 적재함(160)에 존재하는 SSD 검사 지그(200)의 이동 동작을 제어하고 해당 SSD에 대한 검사 동작을 제어한다.
이와 같이, 변경되는 SSD 종류에 따라 복수의 SSD 검사 지그 적재함(160) 중에서 SSD 종류에 해당하는 SSD 검사 지그(200)가 위치하는 해당 SSD 검사 지그 적재함(160)으로 자동으로 이동하여 해당 SSD 검사 지그 적재함(160)에 위치하는 SSD 검사 지그(200)를 각 검사 트레이(160)에 위치시키는 동작, 각 검사 트레이(140)에 위치하는 SSD를 최종 검사 위치로 이동하는 동작, 검사 결과에 따라 SSD를 SSD 분리함(190) 배분하는 동작, 그리고 검사가 종료된 종류의 SSD에 대응하는 SSD 검사 지그(200)를 검사 트레이(140)에서 해당 SSD 검사 지그 적재함(160)으로 수거하는 동작 모두가 제어부(20)의 제어에 의해 자동으로 행해진다.
이로 인해, 검사 시간 크게 단축되며, 검사자의 작업 공간이 줄어든다. 또한, 수작업 시 작업자의 실수로 인해 발생하는 시간적 및 물질적인 손실이 줄어든다.
이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
11: SSD 검사지그 적재함 상태 감지부 13: 최상위 SSD 검사지그 감지부
15: SSD 검사 지그 배치 상태 감지부 20: 제어부
21: 저장 장치 31: 표시 장치
33: SSD 검사 지그 이동 장치 구동부 34: SSD 검사 지그 시프터 구동부
35: 피커 구동부 351: X 방향 이동 모터
352: Y 방향 이동 모터 353: Z 방향 이동 모터
356-358: 엔코더 100: 피커
110: X 방향 이동 가이드 120: Y 방향 이동 가이드
130: 검사 블록 131: 검사 소켓
140: 검사 트레이 141: 배치 공간
150: SSD 검사 지그 시프터 160: SSD 검사 지그 적재함
161, 181, 191: 적재 공간 170: SSD 검사 지그 이동 장치
180: SSD 적재함 190: SSD 분리함

Claims (11)

  1. 복수의 전자 부품 검사 지그 적재함에 존재하는 전자 부품 검사 지그 중에서 가장 위쪽에 위치하는 전자 부품 검사 지그가 피킹 위치에 위치하는지를 감지하여 해당하는 상태의 감지 신호를 출력하는 복수의 최상위 전자 부품 검사 지그 위치 감지부,
    상기 복수의 최상위 전자 부품 검사 지그 위치 감지부에 연결되어 있는 제어부,
    상기 제어부와 연결되어 있고, 상기 제어부의 제어에 따라 복수의 상기 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치하는 상기 전자 부품 검사 지그를 상기 피킹 위치로 이동시키는 전자 부품 검사 지그 이동 장치 구동부,
    상기 제어부와 연결되어 있고, 상기 제어부의 제어에 따라 검사 트레이에 위치한 상기 전자 부품 검사 지그 내에 위치하는 전자 부품을 최종 검사 위치로 이동시키는 전자 부품 검사 지그 시프터 구동부, 그리고
    상기 제어부와 연결되어 있고, 상기 제어부의 제어에 따라 상기 전자 부품을 X 방향, Y 방향 및 Z 방향 중 적어도 하나로 이동시키는 피커 구동부
    를 포함하고,
    상기 제어부는 검사되는 전자 부품의 종류를 판정하고, 판정된 종류의 전자부품에 대응하는 타입의 전자 부품 검사 지그를 판정하며, 상기 복수의 전자 부품 검사 지그 적재함 중에서 판정된 타입의 전자 부품 검사 지그가 위치하는 목표 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치하는 최상위 전자 부품 검사 지그 위치 감지부에서 출력되는 상기 감지 신호에 의해 상기 전자 부품 검사 지그가 상기 피킹 위치에 존재하는 상태로 판정되면, 상기 피커 구동부를 구동시켜 상기 전자 부품 검사 지그를 집어 올려 상기 검사 트레이 내에 위치시키고,
    상기 피커 구동부를 구동시켜 전자 부품 적재함에 위치하는 전자 부품을 상기 검사 트레이 내에 위치하는 상기 전자 부품 검사 지그에 위치시키고,
    상기 전자 부품 검사 지그 시프터 구동부를 구동시켜 상기 검사 트레이에 위치한 전자 부품을 상기 최종 검사 위치로 이동시키고, 상기 전자 부품에 대한 검사가 완료되면, 상기 피커 구동부를 구동시켜 검사 결과에 따라 검사가 완료된 전자 부품을 전자 부품 분배함으로 배분하는
    전자 부품 검사 지그 교체 장치.
  2. 제1항에서,
    상기 제어부는 상기 최상위 전자 부품 검사 지그 위치 감지부에서 출력되는 상기 감지 신호에 의해 상기 전자 부품 검사 지그가 상기 피킹 위치에 존재하지 않은 상태로 판정되면, 상기 전자 부품 검사 지그 이동 장치 구동부를 구동시켜 상기 전자 부품 검사 지그를 상기 피킹 위치로 상승시키는 전자 부품 검사 지그 교체 장치.
  3. 제1항에서,
    상기 제어부와 연결되어 있고, 상기 검사 트레이 내에 위치하는 상기 전자 부품 검사 지그의 위치를 감지하여 해당 상태의 감지 신호를 출력하는 전자 부픔 검사 지그 배치 상태 감지부, 그리고
    상기 제어부와 연결되어 있는 표시 장치
    를 더 포함하고,
    상기 제어부는 상기 검사 부품 검사 지그 배치 상태 감지부에서 출력되는 상기 감지 신호에 의해 상기 전자 부품 검사 지그가 상기 검사 트레이 내에 비정상적으로 위치하고 있는 상태로 판정되면, 상기 표시 장치로 경고 신호를 출력하는
    전자 부품 검사 지그 교체 장치.
  4. 제3항에서,
    상기 제어부에 연결되어 있고, 상기 복수의 전자 부품 검사 지그 적재함에 상기 전자 부품 검사 지그가 존재하는지의 여부를 감지하여 해당 상태의 감지 신호를 출력하는 복수의 전자 부품 검사 지그 적재함 상태 감지부를 더 포함하고,
    상기 제어부는 목표 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치한 전자 부품 검사 지그 적재함 상태 감지부에서 출력되는 감지 신호에 의해 상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함이 빈 상태로 판정되면, 상기 표시 장치를 통해 상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함의 빈 상태를 표시하는
    전자 부품 검사 지그 교체 장치.
  5. 제1항에서,
    상기 제어부는 상기 검사 트레이에 존재하는 상기 전자 부품 검사 지그에 위치하는 상기 검사 부품에 대한 검사가 완료된 후, 검사되는 전자 부품의 종류를 판정하고, 판정된 전자 부품의 종류가 검사가 완료된 상기 전자 부품의 종류가 다를 경우, 상기 피커 구동부를 구동하여 상기 검사 트레이에 위치하는 상기 전자 부품 검사 지그를 해당하는 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치시키는 전자 부품 검사 지그 교체 장치.
  6. 제1항에서,
    상기 전자 부품은 SSD(solid state disk)인 전자 부품 검사 지그 교체 장치.
  7. 검사할 전자 부품의 종류를 판정하는 단계,
    복수의 전자 부품 검사 지그 적재함 중에서 판정된 종류의 전자 부품에 대응하는 전자 부품 검사 지그가 위치하고 있는 목표 전자 부품 검사 지그 적재함을 판정하는 단계,
    피커 구동부를 구동하여 상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치하고 있는 전자 부품 검사 지그를 검사 트레이에 위치시키는 단계,
    상기 피커 구동부를 구동하여 상기 검사 트레이에 위치한 상기 전자 부품 검사 지그에 검사할 상기 전자 부품을 위치시키는 단계,
    전자 부품 검사 지그 시프터 구동부를 구동하여 검사할 상기 전자 부품을 최종 검사 위치로 이동시키는 단계, 그리고
    상기 전자 부품의 검사가 완료되면, 검사 결과에 따라 상기 피커 구동부를 구동하여 검사가 완료된 상기 전자 부품을 전자 부품 분배함으로 이동하는 단계
    를 포함하는 전자 부품 검사 지그 교체 방법.
  8. 제7항에서,
    상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함을 판정하는 단계 다음에, 상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치하는 최상위 전자 부품 검사 지그 위치 감지부에서 출력되는 상기 감지 신호를 판독하여 상기 전자 부품 검사 지그가 피킹 위치에 존재하는 상태로 판정하는 단계, 그리고
    상기 피킹 위치에 상기 전자 부품 검사 지그가 위치할 경우, 상기 전자 부품 검사 지그를 상기 검사 트레이에 위치시키는 단계를 수행하고, 상기 피킹 위치에 상기 전자 부품 검사 지그가 위치하지 않을 경우, 전자 부품 검사 지그 이동 장치 구동부를 동작시켜 상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치하는 최상위 전자 부품 검사 지그를 상기 피킹 위치로 이동시키는 단계를 더 포함하는 전자 부품 검사 지그 교체 방법.
  9. 제7항에서,
    상기 검사 트레이에 위치한 상기 전자 부품 검사 지그에 검사할 상기 전자 부품을 위치시키는 단계 다음에, 전자 부품 검사 지그 배치 상태 감지부에서 출력되는 감지 신호를 판독하여 상기 검사 트레이에 위치하는 상기 전자 부품 검사 지그의 위치가 정상 상태인지를 판정하는 단계, 그리고
    상기 검사 트레이에 위치하는 상기 전자 부품 검사 지그의 위치가 정상 상태일 경우, 상기 전자 부품을 상기 최종 검사 위치로 이동시키는 단계를 수행하고, 상기 검사 트레이에 위치하는 상기 전자 부품 검사 지그의 위치가 비정상 상태일 경우, 표시 장치를 통해 상기 전자 부품 검사 지그의 배치 상태를 표시하는 단계를 더 포함하는 전자 부품 검사 지그 교체 방법.
  10. 제7항에서,
    상기 판정된 종류의 전자 부품에 대응하는 전자 부품 검사 지그가 위치하고 있는 목표 전자 부품 검사 지그 적재함을 판정하는 단계 다음에, 목표 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치한 전자 부품 검사 지그 적재함 상태 감지부에서 출력되는 감시 신호를 판독하여 상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함이 비었는지를 판정하는 단계, 그리고
    상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함이 빈 상태가 아닐 경우, 상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함에 위치하고 있는 전자 부품 검사 지그를 검사 트레이에 위치시키는 단계를 수행하고, 상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함이 빈 상태로 판정되면, 표시 장치를 통해 상기 목표 전자 부품 검사 지그 적재함의 빈 상태를 표시하는 단계
    를 더 포함하는 전자 부품 검사 지그 교체 방법.
  11. 제7항에서,
    상기 전자 부품은 SSD(solid state disk)인 전자 부품 검사 지그 교체 방법.
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