CN107300791B - 一种Flicker值和TP值联合测试装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种Flicker值和TP值联合测试装置,包括机架(1),还包括设于机架(1)上的旋转装置(2)、PG测试盒(6)、TP测试装置(5)和Flicker测试装置(7),所述旋转装置(2)包括中心轴和旋转平台,沿所述旋转平台的圆周设有上料工位、TP测试工位、Flicker测试工位和下料工位,所述PG测试盒(6)设于所述旋转平台的中心,所述TP测试装置(5)设于所述TP测试工位上,所述Flicker测试装置(7)设于所述Flicker测试工位上。本发明还公开了一种Flicker值和TP值联合测试方法。本发明的测试装置可以同时对待检测液晶显示屏幕进行TP测试和Flicker测试,优化了测试装置的运行时间,提高了测试效率,而且大大节省了工厂场地空间。
Description
技术领域
本发明属于液晶面板测试技术领域,更具体地,涉及一种Flicker值和TP值联合测试装置及方法。
背景技术
在液晶面板的使用过程中,由于公开电极信号(VCOM)的极性切换会产生水平的条纹的闪烁现象,一般称之为Flicker现象。其中,Flicker闪烁值的数值大小,直接反映了液晶面板的品质可靠性。通常,Flicker闪烁值的数值越小,表面液晶面板产生的图像残留(Image Sticking,IS)的风险越小,反之则风险越大。
随着平板显示器的迅速发展,消费者对其显示效果的要求也越来越高,这就要求在液晶面板的生产过程中对其进行Flicker闪烁值测试,传统的测试液晶面板Flicker闪烁值的机构的光学探头由人员操作,测试结果可能存在偏差,并且只能对单块的液晶面板进行测试,测试效率低。
近几年,市场上出现了以一些可以运用于生产线的液晶屏幕的Flicker值测试装置及方法,使人们摆脱了使用肉眼对液晶模组的Flicker值进行调校的尴尬局面。如专利CN105681700A公开了一种Flicker值测试装置,该装置包括主信号芯片和控制模块,所述主信号芯片包括OSD画布模块、Flicker调试画面数据输出模块、Vcom电压控制寄存器值保存模块和调试模块。该装置解决了因上屏信号接口的改变导致现有调试设备无法实现功能调试的问题,但这种Flicker值测试装置也存在不足,比如该测试装置只能对待测屏幕进行Flicker值测试,不能对其进行TP测试,此外,该装置一次仅能对对一块屏幕进行Flicker值测试,测试效率低。
发明内容
针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本发明提供一种Flicker值和TP值联合测试装置及方法,其目的是通过旋转装置及多工位结构设计,多工位按照人员上料位,TP值测试、Flicker测试和预留工位合理分布工位时间,相对于单纯流水线工位,可以同时实现对待检测液晶显示屏幕的TP测试和Flicker测试,优化了测试装置的运行时间,提高了测试效率,而且大大节省了工厂场地空间。
为了实现上述目的,按照本发明的一个方面,提供一种Flicker值和TP值联合测试装置,包括机架,还包括设于机架上的旋转装置、PG测试盒、TP测试装置和Flicker测试装置;
其中,所述旋转装置包括中心轴和旋转平台,所述中心轴用于实现所述旋转装置与机架的连接,沿所述旋转平台的圆周设有上料工位、TP测试工位、Flicker测试工位和下料工位,其中,所述上料工位与下料工位相毗邻,所述TP测试工位和Flicker测试工位相毗邻,所述旋转平台用于带动所述上料工位、TP测试工位、Flicker测试工位和下料工位绕所述中心轴旋转;
所述PG测试盒设于所述旋转平台的中心,用于点亮待检测液晶屏幕;
所述TP测试装置设于所述TP测试工位上,用于实现所述待检测液晶屏幕的TP测试;
所述Flicker测试装置设于所述Flicker测试工位上,用于实现所述待检测液晶屏幕的Flicker测试。
进一步地,所述TP测试装置包括第一气缸、第一气缸固定支架、第一调整导轨、TP探针装置以及第一气缸支架,其中,所述第一气缸通过第一气缸固定支架安装于所述第一调整导轨上,并可以沿所述第一调整导轨在第一方向上滑动,所述第一气缸支架的一端与所述第一气缸连接,另一端与所述TP探针装置连接,所述第一气缸支架可沿所述第一气缸在第二方向上滑动,从而灵活调节所述TP探针装置的位置,实现对不同所述待检测液晶屏幕的TP值测试。
进一步地,所述第一气缸的数量为多个,对应第一气缸支架、第一气缸支架的数量与所述第一气缸的数量相匹配,从而实现同时对多块所述待检测液晶屏幕的TP值测试。
进一步地,所述Flicker测试装置包括第二气缸、第二气缸固定支架、第二调整导轨及Flicker探针装置,其中,所述第二气缸通过所述第二气缸固定支架安装于所述第二调整导轨上,并可沿所述第二调整导轨在第一方向上滑动,所述Flicker探针装置安装于所述第二气缸上,并可沿所述第二气缸在第二方向上滑动,从而灵活调节所述Flicker探针装置的位置,实现对不同所述待检测液晶屏幕的Flicker值测试。
进一步地,所述第二气缸的数量为多个,对应第二气缸固定支架、第二调整导轨及Flicker探针装置的数量与所述第二气缸的数量相匹配,从而实现同时对多块所述待检测液晶屏幕的Flicker值测试。
进一步地,所述上料工位、TP测试工位、Flicker测试工位和下料工位均设有灯箱装置平台,所述灯箱装置平台上设有多个屏幕装载卡槽,所述屏幕装载卡槽用于安放所述待检测液晶屏幕,从而实现同时对多块所述待检测液晶屏幕进行测试。
进一步地,所述屏幕装载卡槽为矩形凹槽结构,其尺寸根据所述待检测液晶屏幕的大小确定,用于实现对不同尺寸所述待检测液晶屏幕的定位。
进一步地,所述上料工位、TP测试工位、Flicker测试工位和下料工位上均设有导通装置,所述导通装置一端与所述待检测检测液晶屏幕的排线连接,另一端与控制端连接,用于采集所述待检测检测液晶屏幕信息。
进一步地,所述第一气缸、第二气缸的数量与屏幕装载屏幕装载卡槽的数量相匹配。
按照本发明的另一个方面,提供一种Flicker值和TP值联合测试方法,采用所述的Flicker值和TP值测试装置完成,包括如下步骤:
(1)将待测试液晶屏幕放置在灯箱装置平台上的屏幕装载卡槽内;
(2)导通装置完成对待测液晶屏幕的信息进行采集;
(3)PG测试盒对待测液晶屏幕进行点屏测试,并反馈给控制端,对液晶屏幕进行屏幕点亮
(4)旋转装置将装有待测液晶屏幕的灯箱装置平台运送至TP测试工位,TP测试装置对待测液晶屏幕进行TP测试;
(5)旋转装置将装有待测液晶屏幕的灯箱装置平台运送至Flicker测试工位,Flicker测试装置对待测液晶屏幕进行Flicker测试;
(6)测试完成的液晶屏幕由旋转装置运送至下料工位,下料;
(7)循环步骤(1)~(6),从而完成对批量待测液晶屏幕的TP值和Flicker值测试。
总体而言,通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比,能够取得下列有益效果:
(1)本发明的测试装置,通过旋转装置及多工位结构设计,多工位按照人员上料位,TP值测试、Flicker测试和预留工位合理分布工位时间,相对于单纯流水线工位,可以同时实现对待检测液晶显示屏幕的TP测试和Flicker测试,优化了测试装置的运行时间,提高了测试效率,而且大大节省了工厂场地空间。
(2)本发明的测试装置,每一个工位上设有灯箱装置平台,每个灯箱装置平台上设有多个屏幕卡槽,对应TP值测试装置设有多个气缸和多个探针装置,从而实现同时对多块待测液晶屏幕进行TP值测试。
(3)本发明的测试装置,每一个工位上设有灯箱装置平台,每个灯箱装置平台上设有多个屏幕卡槽,对应Flicker测试装置设有多个气缸和多个探针装置,从而实现同时对多块待测液晶屏幕进行Flicker测试。
(4)本发明的测试方法,操作简单,工作人员只需要在相应工位上小待测液晶屏幕即可,测试装置对应产品调整完后可自动对位,自动压接,并自动测试处理,自动化程度高。
附图说明
图1为本发明实施例一种Flicker值和TP值联合测试装置的结构示意图;
图2为本发明实施例一种Flicker值和TP值联合测试装置涉及的TP测试装置结构示意图;
图3为本发明实施例一种Flicker值和TP值联合测试装置涉及的Flicker测试装置结构示意图。
所有附图中,同一个附图标记表示相同的结构元件,其中:1-机架、2-旋转装置、3-灯箱装置平台、4-导通装置、5-TP测试装置、6-PG测试盒、7-Flicker测试装置、51-第一气缸、52-第一气缸固定支架、53-第一调整导轨、54-TP探针装置、71-第二气缸、72-第二气缸固定支架、73-第二调整导轨、74-Flicker探针装置。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。此外,下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
图1为本发明实施例一种测试Flicker值和TP值的旋转装置的结构示意图。如图1所示,该测试装置包括机架1、旋转装置2、灯箱装置平台3、导通装置4、TP测试装置5、PG测试盒6、Flicker测试装置7以及控制装置(图中未显示)。
如图1所示,该旋转装置2包括中心轴和旋转平台,旋转平台的中心开有通孔,所述中心轴穿过所述通孔与机架1的平台实现连接,旋转平台可绕该中心轴旋转。
在本发明一个实施例中,沿着该旋转平台上的圆周设有4个工位,分别为上料工位、TP测试工位、Flicker测试工位和下料工位。其中,上料工位与下料工位相毗邻,TP测试工位和Flicker测试工位相毗邻,从而实现,上料、TP测试、Flicker测试和下料的测试过程。通过旋转装置及多工位结构设计,多工位按照人员上料位,TP值测试、Flicker测试和预留工位合理分布工位时间,相对于单纯流水线工位,可以同时实现对待检测液晶显示屏幕的TP测试和Flicker测试,优化了测试装置的运行时间,提高了测试效率,而且大大节省了工厂场地空间。
图2为本发明实施例一种Flicker值和TP值联合测试装置涉及的TP测试装置结构示意图。如图2所示,TP测试装置5布置于TP测试工位上,包括第一气缸51、第一气缸固定支架52、第一调整导轨53、TP探针装置54以及第一气缸支架55。其中,第一气缸固定支架52包括第一支柱组和第一调整导轨53,第一支柱组的底部通过螺栓与机架1的平台连接,第一调整导轨53设于第一支柱组的顶端之间。第一气缸51设于该第一调整导轨53上,并可以沿第一调整导轨53在第一方向上滑动。第一气缸51的数量可以为多个,譬如2个、4个、6个或8个等,在第一个气缸51的端部设有第一气缸支架55,第一气缸支架55可沿第一气缸51在第二方向上滑动。第一气缸支架55优选为L型结构,一端与第一气缸51连接,另一端与TP探针装置54连接,该TP探针装置54的数量与第一气缸51的数量相匹配,从而实现同时对多块待检测屏幕进行TP测试,提高TP测试效率。
图3为本发明实施例一种Flicker值和TP值联合测试装置涉及的Flicker测试装置结构示意图。如图3所示,Flicker测试装置7布置于Flicker测试工位上,包括第二气缸71、第二气缸固定支架72、第二调整导轨73及Flicker探针装置74。其中,第二气缸固定支架72包括第二支柱组和第二调整导轨73,第二支柱组的底部通过螺栓与机架1的平台连接,第二支柱组的其中一根支柱与第一支柱组的其中一根支柱可以共用。第二调整导轨73设于第二支柱组的顶端之间,第二气缸71设于第二调整导轨73上,并可以沿第二调整导轨73在第一方向上滑动。第二气缸71的数量可以为多个,比如2个、4个、6个或8个等,在第二气缸71的端部设有Flicker探针装置74,Flicker探针装置74可沿第二气缸71在第二方向上滑动。该Flicker探针装置74的数量与第二气缸71的数量相匹配,从而实现同时对多块待检测屏幕进行Flicker测试,提高Flicker测试效率。
如图1所示,在本发明的一个实施例中,4个工位均为方形盒装结构,每一个工位包括灯箱装置平台3和导通装置4。其中,灯箱装置平台3设于该方形盒装结构的上表面,导通装置4与灯箱装置平台3对应布置,并实现连接,用于实现待检测屏幕的电源和信号连通。
在本发明的一个实施例中,灯箱装置平台3为液晶屏幕装载装置,每个灯箱装装置平台上设有多个屏幕卡槽,用于安放待检测屏幕,屏幕卡槽的数量譬如为2个、4个、6个或8个等,具体屏幕卡槽的数量与第一气缸51、第二气缸71的数量保持一致。
如图1所示,在本发明的一个实施例中,四个方向盒体工位相互毗邻设置,其中间形成了一个方向的腔体,在该腔体上方设有支架,该支架优选为铝合金结构,包括四条支腿,该四条支腿设于所述腔体的四个角上。所述PG测试盒6设于该支架上,用于对待检测屏幕进行点屏测试,并通过控制装置控制待测屏幕进行屏幕点亮。
在本发明的一个优选实施例中,采用上述的装置,对液晶屏幕进行TP值和Flicker值进行测试,具体包括如下步骤:
(1)将待测试液晶屏幕放置在灯箱装置平台3上的屏幕装载卡槽内;
(2)导通装置4完成对待测液晶屏幕的信息进行采集;
(3)PG测试盒6对待测液晶屏幕进行点屏测试,并反馈给控制端,对液晶屏幕进行屏幕点亮
(4)旋转装置2将装有待测液晶屏幕的灯箱装置平台3运送至TP测试工位,TP测试装置5对待测液晶屏幕进行TP测试;
(5)旋转装置2将装有待测液晶屏幕的灯箱装置平台3运送至Flicker测试工位,Flicker测试装置7对待测液晶屏幕进行Flicker测试;
(6)测试完成的液晶屏幕由旋转装置2运送至下料工位,下料;
(7)循环步骤1~6,从而完成对批量待测液晶屏幕的TP值和Flicker值测试。
本发明的测试方法,操作简单,工作人员只需要在相应工位上小待测液晶屏幕即可,测试装置对应产品调整完后可自动对位,自动压接,并自动测试处理,自动化程度高。
本领域的技术人员容易理解,以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用于限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种Flicker值和TP值联合测试装置,包括机架(1),其特征在于,还包括设于机架(1)上的旋转装置(2)、PG测试盒(6)、TP测试装置(5)和Flicker测试装置(7);
其中,所述旋转装置(2)包括中心轴和旋转平台,所述中心轴用于实现所述旋转装置(2)与机架(1)的连接,沿所述旋转平台的圆周设有上料工位、TP测试工位、Flicker测试工位和下料工位,其中,所述上料工位与下料工位相毗邻,所述TP测试工位和Flicker测试工位相毗邻,所述旋转平台用于带动所述上料工位、TP测试工位、Flicker测试工位和下料工位绕所述中心轴旋转,实现上料、TP测试、Flicker测试和下料的测试过程,同时实现对待检测液晶显示屏幕的TP测试和Flicker测试;
所述PG测试盒(6)设于所述旋转平台的中心,用于点亮待检测液晶屏幕;
所述TP测试装置(5)设于所述TP测试工位上,用于实现所述待检测液晶屏幕的TP测试;
所述Flicker测试装置(7)设于所述Flicker测试工位上,用于实现所述待检测液晶屏幕的Flicker测试;
所述TP测试装置(5)包括第一气缸(51)、第一气缸固定支架(52)、第一调整导轨(53)、TP探针装置(54)以及第一气缸支架(55),其中,所述第一气缸(51)通过第一气缸固定支架(52)安装于所述第一调整导轨(53)上,并可以沿所述第一调整导轨(53)在第一方向上滑动,所述第一气缸支架(55)的一端与所述第一气缸(51)连接,另一端与所述TP探针装置(54)连接,所述第一气缸支架(55)可沿所述第一气缸(51)在第二方向上滑动,从而灵活调节所述TP探针装置(54)的位置,实现对不同所述待检测液晶屏幕的TP值测试;
所述Flicker测试装置(7)包括第二气缸(71)、第二气缸固定支架(72)、第二调整导轨(73)及Flicker探针装置(74),其中,所述第二气缸(71)通过所述第二气缸固定支架(72)安装于所述第二调整导轨(73)上,并可沿所述第二调整导轨(73)在第一方向上滑动,所述Flicker探针装置(74)安装于所述第二气缸(71)上,并可沿所述第二气缸(71)在第二方向上滑动,从而灵活调节所述Flicker探针装置(74)的位置,实现对不同所述待检测液晶屏幕的Flicker值测试;
所述Flicker测试装置(7)的第二支柱组的其中一根支柱与TP测试装置(5)的第一支柱组的其中一根支柱可以共用。
2.根据权利要求1所述的一种Flicker值和TP值联合测试装置,其特征在于,所述第一气缸(51)的数量为多个,对应第一气缸支架(55)、第一气缸支架(55)的数量与所述第一气缸(51)的数量相匹配,从而实现同时对多块所述待检测液晶屏幕的TP值测试。
3.根据权利要求1或2所述的一种Flicker值和TP值联合测试装置,其特征在于,所述第二气缸(71)的数量为多个,对应第二气缸固定支架(72)、第二调整导轨(73)及Flicker探针装置(74)的数量与所述第二气缸(71)的数量相匹配,从而实现同时对多块所述待检测液晶屏幕的Flicker值测试。
4.根据权利要求1所述的一种Flicker值和TP值联合测试装置,其特征在于,所述上料工位、TP测试工位、Flicker测试工位和下料工位均设有灯箱装置平台(3),所述灯箱装置平台(3)上设有多个屏幕装载卡槽,所述屏幕装载卡槽用于安放所述待检测液晶屏幕,从而实现同时对多块所述待检测液晶屏幕进行测试。
5.根据权利要求4所述的一种Flicker值和TP值联合测试装置,其特征在于,所述屏幕装载卡槽为矩形凹槽结构,其尺寸根据所述待检测液晶屏幕的大小确定,用于实现对不同尺寸所述待检测液晶屏幕的定位。
6.根据权利要求4或5所述的一种Flicker值和TP值联合测试装置,其特征在于,所述上料工位、TP测试工位、Flicker测试工位和下料工位上均设有导通装置(4),所述导通装置(4)一端与所述待检测液晶屏幕的排线连接,另一端与控制端连接,用于采集所述待检测液晶屏幕信息。
7.根据权利要求6中所述的一种Flicker值和TP值联合测试装置,其特征在于,所述第一气缸(51)和第二气缸(71)的数量均与屏幕装载卡槽的数量相匹配。
8.一种Flicker值和TP值联合测试方法,其特征在于,采用如权利要求7中所述的Flicker值和TP值联合测试装置完成,包括如下步骤:
S1:将待测试液晶屏幕放置在灯箱装置平台(3)上的屏幕装载卡槽内;
S2:导通装置(4)完成对待测液晶屏幕的信息进行采集;
S3:PG测试盒(6)对待测液晶屏幕进行点屏测试,并反馈给控制端,对液晶屏幕进行屏幕点亮;
S4:旋转装置(2)将装有待测液晶屏幕的灯箱装置平台(3)运送至TP测试工位,TP测试装置(5)对待测液晶屏幕进行TP测试;
S5:旋转装置(2)将装有待测液晶屏幕的灯箱装置平台(3)运送至Flicker测试工位,Flicker测试装置(7)对待测液晶屏幕进行Flicker测试;
S6:测试完成的液晶屏幕由旋转装置(2)运送至下料工位,下料;
S7:循环步骤S1~S6,从而完成对批量待测液晶屏幕的TP值和Flicker值测试。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
CB02 | Change of applicant information | ||
CB02 | Change of applicant information |
Address after: 430070 Hubei City, Hongshan Province, South Lake Road, No. 53, Hongshan Venture Center, building on the four floor, No. Applicant after: Wuhan fine test electronics group Limited by Share Ltd Address before: 430070 Hubei City, Hongshan Province, South Lake Road, No. 53, Hongshan Venture Center, building on the four floor, No. Applicant before: Wuhan Jingce Electronic Technology Co., Ltd. |
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GR01 | Patent grant | ||
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