CN102484060A - 用于硅表面蚀刻的方法 - Google Patents
用于硅表面蚀刻的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN102484060A CN102484060A CN2010800356641A CN201080035664A CN102484060A CN 102484060 A CN102484060 A CN 102484060A CN 2010800356641 A CN2010800356641 A CN 2010800356641A CN 201080035664 A CN201080035664 A CN 201080035664A CN 102484060 A CN102484060 A CN 102484060A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- hydrocolloid
- etching solution
- etching
- described method
- grams per
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005530 etching Methods 0.000 title claims abstract description 108
- 239000010703 silicon Substances 0.000 title claims abstract description 38
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 38
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 37
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 34
- 239000000416 hydrocolloid Substances 0.000 claims abstract description 81
- 239000000243 solution Substances 0.000 claims description 72
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 30
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 12
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 claims description 12
- 235000010987 pectin Nutrition 0.000 claims description 12
- 229920001277 pectin Polymers 0.000 claims description 12
- 239000001814 pectin Substances 0.000 claims description 12
- 239000000654 additive Substances 0.000 claims description 7
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 claims description 7
- 229920002678 cellulose Polymers 0.000 claims description 7
- 239000001913 cellulose Substances 0.000 claims description 7
- 150000008044 alkali metal hydroxides Chemical class 0.000 claims description 6
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M potassium hydroxide Substances [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 6
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- IXPNQXFRVYWDDI-UHFFFAOYSA-N 1-methyl-2,4-dioxo-1,3-diazinane-5-carboximidamide Chemical compound CN1CC(C(N)=N)C(=O)NC1=O IXPNQXFRVYWDDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229920001817 Agar Polymers 0.000 claims description 4
- 229920002307 Dextran Polymers 0.000 claims description 4
- 108010010803 Gelatin Proteins 0.000 claims description 4
- 229920002472 Starch Polymers 0.000 claims description 4
- 235000010489 acacia gum Nutrition 0.000 claims description 4
- 239000001785 acacia senegal l. willd gum Substances 0.000 claims description 4
- 239000008272 agar Substances 0.000 claims description 4
- 235000010419 agar Nutrition 0.000 claims description 4
- 229920003086 cellulose ether Polymers 0.000 claims description 4
- 229920000159 gelatin Polymers 0.000 claims description 4
- 239000008273 gelatin Substances 0.000 claims description 4
- 235000019322 gelatine Nutrition 0.000 claims description 4
- 235000011852 gelatine desserts Nutrition 0.000 claims description 4
- 235000010413 sodium alginate Nutrition 0.000 claims description 4
- 239000000661 sodium alginate Substances 0.000 claims description 4
- 229940005550 sodium alginate Drugs 0.000 claims description 4
- 239000008107 starch Substances 0.000 claims description 4
- 235000019698 starch Nutrition 0.000 claims description 4
- 229920001285 xanthan gum Polymers 0.000 claims description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 8
- 229920002134 Carboxymethyl cellulose Polymers 0.000 description 7
- 239000001768 carboxy methyl cellulose Substances 0.000 description 7
- 235000010948 carboxy methyl cellulose Nutrition 0.000 description 7
- 239000008112 carboxymethyl-cellulose Substances 0.000 description 7
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 230000008929 regeneration Effects 0.000 description 2
- 238000011069 regeneration method Methods 0.000 description 2
- 240000007762 Ficus drupacea Species 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002585 base Substances 0.000 description 1
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 1
- 239000000084 colloidal system Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000002360 explosive Substances 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 150000004676 glycans Chemical class 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910000000 metal hydroxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004692 metal hydroxides Chemical class 0.000 description 1
- 229920001282 polysaccharide Polymers 0.000 description 1
- 239000005017 polysaccharide Substances 0.000 description 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 1
- 102000004169 proteins and genes Human genes 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 150000003376 silicon Chemical class 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/306—Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/306—Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
- H01L21/30604—Chemical etching
- H01L21/30608—Anisotropic liquid etching
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09K—MATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- C09K13/00—Etching, surface-brightening or pickling compositions
- C09K13/02—Etching, surface-brightening or pickling compositions containing an alkali metal hydroxide
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0236—Special surface textures
- H01L31/02363—Special surface textures of the semiconductor body itself, e.g. textured active layers
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Weting (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
本发明涉及一种用于硅表面蚀刻的方法,包括下列步骤:提供50℃至95℃温度的包含至少一种水胶体的含水碱性水胶体蚀刻液,将所述硅表面与所述水胶体蚀刻液接触一段指定的时间,以及从所述硅表面去除所述水胶体蚀刻液。
Description
技术领域
本发明涉及一种用于硅表面蚀刻的方法,特别是用于硅晶圆表面的湿化学、金字塔纹理蚀刻的方法。
背景技术
EP 0 944 114B1描述了一种硅表面的湿化学、金字塔纹理蚀刻的方法,在用于该方法的蚀刻液中除了其他成分还添加了异丙醇和乙二醇。使用这种已知的蚀刻液在硅表面上制成金字塔蚀刻纹理需要至少25至30分钟相对长的处理时间以及80℃至85℃相对高的处理温度。此外,利用已知的蚀刻液制成的金字塔蚀刻纹理不具有特别良好的同质性。处理后的硅表面在由此产生的多个金字塔的密度、尺寸和粒度分布方面尤其相异。
这种已知蚀刻液的另一缺陷在于在蚀刻反应期间由蒸发的异丙醇和释放的氢会形成爆炸性混合物。由于这个原因,必须不断地吸掉容纳该蚀刻液的处理池上方的空气。
这种已知蚀刻液的又一缺陷在于,在使用蚀刻液8至10次之后,金字塔蚀刻纹理的质量明显降低。为了保证足够的蚀刻纹理质量,需要相对频繁地更换蚀刻液。
发明内容
本发明的目的是消除现有技术的一些缺陷。特别地,具体提供一种能够在硅表面上快速且容易地制成同质的金字塔蚀刻纹理的方法。特别地,提高了金字塔蚀刻纹理的质量和工艺效率。根据本发明的又一目的,提出一种新的应用。
该目的由权利要求1、13和15的特征解决。本发明的有益实施例源于权利要求2至12、14以及16和17的特征。
根据本发明,所提出的一种用于硅表面蚀刻的方法具有下列步骤:
提供具有50℃至95℃温度的包含至少一种水胶体的含水碱性水胶体蚀刻液,
将所述硅表面与所述水胶体蚀刻液接触一段指定的时间,以及
从所述硅表面去除所述水胶体蚀刻液。
使用根据本发明提出的所述水胶体蚀刻液,可以减少或避免添加异丙醇。令人惊讶的结果是水胶体的添加缩短了蚀刻工艺的持续时间,同时金字塔蚀刻纹理能够获得出色的均质质量。
在本发明的意义中,“多种水胶体”应理解为作为胶体溶解在水中并且表现出很强的凝胶化能力的多糖和蛋白质组。“一种水胶体”应理解为由某个化学成分定义的水胶体。
所提出的方法特别适用于在硅晶圆的硅表面上制备金字塔蚀刻纹理。但除此之外,本发明提供的方法还适用于光学或电化学传感器的湿化学结构蚀刻、催化剂、电极等。
待处理的硅表面具有(100)取向。利用本发明提供的方法制备的蚀刻金字塔具有(111)表面。水胶体蚀刻液与硅表面相接触的持续时间影响所形成的蚀刻金字塔的尺寸。本领域技术人员将根据待形成的蚀刻金字塔的尺寸选择适当的持续时间。
根据本发明的有利实施例,所述水胶体蚀刻液中包含的所述至少一种水胶体的浓度为0.01至2.0克/升、优选地0.01至0.99克/升。所述水胶体蚀刻液的温度有利地设置在65℃至90℃、优选地68℃至85℃。此外,已证明所述硅表面与水胶体蚀刻液相接触的时间为5至25分钟、优选地10至20分钟是有利地。在10分钟的接触时间以及65℃至70℃内的温度范围下已经能够获得出色的结果。所形成的金字塔蚀刻纹理在蚀刻金字塔的密度、尺寸和粒度分布方面呈现优异的同质性。
根据又一有利实施例,该水胶体蚀刻液通过将至少一种水胶体添加到含水蚀刻液中制成。因此,该含水蚀刻液可以通过将碱金属氢氧化物溶解在水中制成。特别地,KOH或NaOH可以用作该碱金属氢氧化物。也可以使用前述碱金属氢氧化物的混合物。
有利地,所述水胶体蚀刻液中包含的所述碱金属氢氧化物的浓度为10至90克/升、优选地15至30克/升。
根据本发明提供的方法的又一实施例,下列多种水胶体的至少一种作为水胶体被添加到含水溶液中:淀粉、纤维素、纤维素醚、果胶、阿拉伯胶、琼脂、海藻酸钠、右旋糖酐、明胶、黄原胶。在这个意义上,已证明将含水溶液中的至少一种水胶体添加到蚀刻液中来制备水胶体蚀刻液是特别有利的。由此,该含水溶液有利地是碱性的。
该水胶体蚀刻液也可以包含异丙醇。令人惊讶的结果是,将水胶体添加到包含异丙醇的传统蚀刻液中引起蚀刻纹理的显著改进。特别地,被认为是已经失效无法再用的传统蚀刻液可以通过添加至少一种水胶体而被再生,从而能够显著延长使用时间。换句话说,可以显著增加待处理衬底的数量,由此提高传统蚀刻液的效率。
根据本发明的另一方案,提出包含至少一种水胶体以及KOH或NaOH的含水溶液的水胶体蚀刻液的应用,用以调节容纳用于硅表面蚀刻的蚀刻液的池。所提出的对该池的调节或预处理惊人地导致随后加入的含异丙醇的传统蚀刻液的效率显著增加。
用于调节该池的水胶体蚀刻液中包含的水胶体的浓度有利地为0.01至2.0克/升、优选地0.01至0.99克/升。
根据本发明的又一方案,提出至少一种水胶体作为添加剂添加到用于硅表面蚀刻的包含异丙醇的含水碱性蚀刻液中的应用。由此,所述至少一种水胶体能够以一定数量添加到所述蚀刻液中,使得所获得的水胶体溶液的浓度为0.01至2.0克/升、优选地0.01至0.99克/升。所提出的将水胶体作为添加剂添加到用于硅表面蚀刻的传统蚀刻液中的应用特别是在硅表面的金字塔纹理蚀刻方面获得惊人的出色结果。
根据前述的应用,所述至少一种水胶体有利地选自以下组中:淀粉、纤维素、纤维素醚、果胶、阿拉伯胶、琼脂、海藻酸钠、右旋糖酐、明胶、黄原胶。
当然,还可以使用几种水胶体的混合物制备水胶体蚀刻液。
附图说明
现在将基于附图使用实例更详细地描述本发明。附图列出如下:
图1是在硅表面(50×50μm)上的第一金字塔蚀刻纹理;以及
图2是在硅表面(50×50μm)上的第二金字塔蚀刻纹理。
具体实施方式
为了制备如图1中所示的金字塔蚀刻纹理,所使用的水胶体蚀刻液由含水蚀刻液和包含水胶体的含水碱性溶液制成。该含水蚀刻液通过将1250克的KOH溶解在90升的水中制成。该包含水胶体的含水溶液通过将羧甲基纤维素和果胶溶解在4升的水中制成。羧甲基纤维素和果胶的重量比为约8∶1。随后,包含多种水胶体的含水溶液与该含水蚀刻液混合。将硅晶圆浸泡在80℃温度下的由此制备的水胶体蚀刻液中持续20分钟的处理时间。如图1中所示,以此方法制成的表面所具有的蚀刻金字塔的尺寸在约2至5μm的范围内。在该硅晶圆的每个硅表面上蚀刻共10μm。
对于另一种水胶体蚀刻液,该含水蚀刻液通过将3600克的KOH颗粒溶解在90升的水中制成。包含多种水胶体的含水溶液,即优选6∶1比例的羧甲基纤维素和果胶添加到该含水蚀刻液中。由此制备的水胶体蚀刻液被加热到75℃。在10分钟的处理过程中,在硅表面上可以形成金字塔蚀刻纹理,其中蚀刻金字塔具有约12μm的平均尺寸。图2示出在硅表面上制成的金字塔蚀刻纹理。在图1和图2中所示的硅表面的截面尺寸均为50×50μm。
为了制备用于使例如包含异丙醇的传统蚀刻液再生的添加剂,制备含0.3至0.9克/升、优选地0.5至0.7克/升的多种水胶体的含水溶液。例如为羧甲基纤维素和果胶的混合物。所述羧甲基纤维素和果胶的重量比可以为6∶1至约8∶1。所提出的添加剂按照一定的数量被添加到传统蚀刻液中,使得该蚀刻液含有约10至30毫克、优选地15至20毫克的水胶体。由于该添加剂的作用,与传统蚀刻液相比,被处理的硅晶圆的数量增加一倍,同时保持相同的蚀刻质量。使用该添加剂能够多次使该蚀刻液再生。
在前述实例中,包含多种水胶体的含水溶液中羧甲基纤维素与果胶的混合比例有利地为6∶1至8∶1。水胶体蚀刻液中的水胶体的浓度有利地为0.1至2.0克/升。
特别地,水胶体果胶与另一水胶体、优选地纤维素、特别是羧甲基纤维素的组合物被认为是有利的,这是因为当使用具有最大为2.0克/升的相对低的水胶体总浓度的水胶体蚀刻液时,金字塔纹理蚀刻已经获得出色的效率和质量。多种水胶体纤维素/果胶的组合物可以包含50%(重量)以上、优选地60%(重量)以上、特别优选地70%(重量)以上的纤维素。其余的由果胶构成。
Claims (17)
1.用于硅表面蚀刻的方法,包括下列步骤:
提供50℃至95℃温度的包含至少一种水胶体的含水碱性水胶体蚀刻液,
将所述硅表面与所述水胶体蚀刻液接触一段指定的时间,以及
从所述硅表面去除所述水胶体蚀刻液。
2.如权利要求1所述的方法,其中所述水胶体蚀刻液中包含的所述至少一种水胶体的浓度为0.01至2.0克/升、优选地0.01至0.99克/升。
3.如前述任一权利要求所述的方法,其中所述水胶体蚀刻液的温度设置在65℃至90℃。
4.如前述任一权利要求所述的方法,其中所述硅表面与所述水胶体蚀刻液接触的时间为5至25分钟、优选地10至20分钟。
5.如前述任一权利要求所述的方法,其中所述水胶体蚀刻液通过将至少一种水胶体添加到含水蚀刻液中制成。
6.如前述任一权利要求所述的方法,其中所述含水蚀刻液通过将碱金属氢氧化物溶解在水中制成。
7.如前述任一权利要求所述的方法,其中KOH或NaOH用作所述碱金属氢氧化物。
8.如前述任一权利要求所述的方法,其中所述水胶体蚀刻液中包含的所述碱金属氢氧化物的浓度为10至90克/升、优选地15至30克/升。
9.如前述任一权利要求所述的方法,其中下列水胶体的至少一种作为水胶体被添加到含水蚀刻液中:淀粉、纤维素、纤维素醚、果胶、阿拉伯胶、琼脂、海藻酸钠、右旋糖酐、明胶、黄原胶。
10.如前述任一权利要求所述的方法,其中所述水胶体蚀刻液中含有异丙醇。
11.如前述任一权利要求所述的方法,其中在含水溶液中的所述至少一种水胶体被添加到所述蚀刻液中以制备所述水胶体蚀刻液。
12.如前述任一权利要求所述的方法,其中所述含水溶液是碱性的。
13.包含至少一种水胶体以及KOH或NaOH的含水溶液的水胶体蚀刻液的应用,用以调节容纳用于硅表面蚀刻的蚀刻液的池。
14.如权利要求13所述的应用,其中所述水胶体蚀刻液中包含的所述至少一种水胶体的浓度为0.01至2.0克/升、优选地0.01至0.99克/升。
15.至少一种水胶体作为添加剂添加到用于硅表面蚀刻的包含异丙醇的含水碱性蚀刻液中的应用。
16.如权利要求13至15任一所述的应用,其中所述至少一种水胶体选自以下组中:淀粉、纤维素、纤维素醚、果胶、阿拉伯胶、琼脂、海藻酸钠、右旋糖酐、明胶、黄原胶。
17.如权利要求15或16所述的应用,其中所述至少一种水胶体以一定数量添加到所述蚀刻液中,使得所获得的水胶体溶液的浓度为0.01至2.0克/升、优选地0.01至0.99克/升。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102009028762.0 | 2009-08-20 | ||
DE102009028762A DE102009028762A1 (de) | 2009-08-20 | 2009-08-20 | Verfahren zum Ätzen von Siliziumoberflächen |
PCT/EP2010/057737 WO2011020632A1 (en) | 2009-08-20 | 2010-06-02 | Method for etching of silicon surfaces |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN102484060A true CN102484060A (zh) | 2012-05-30 |
Family
ID=43086967
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2010800356641A Pending CN102484060A (zh) | 2009-08-20 | 2010-06-02 | 用于硅表面蚀刻的方法 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20120208370A1 (zh) |
EP (1) | EP2467873B1 (zh) |
JP (1) | JP2013502706A (zh) |
KR (1) | KR101404217B1 (zh) |
CN (1) | CN102484060A (zh) |
DE (1) | DE102009028762A1 (zh) |
TW (1) | TW201108321A (zh) |
WO (1) | WO2011020632A1 (zh) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102719132A (zh) * | 2012-06-07 | 2012-10-10 | 彭朝兵 | 导电聚合物蚀刻油墨及制备方法 |
CN102751384A (zh) * | 2012-07-07 | 2012-10-24 | 蚌埠玻璃工业设计研究院 | 一种晶体硅表面织构方法 |
CN103980905A (zh) * | 2014-05-07 | 2014-08-13 | 佛山市中山大学研究院 | 一种用于氧化物材料体系的新型蚀刻液及其蚀刻方法和应用 |
CN104584232A (zh) * | 2012-08-10 | 2015-04-29 | 第一工业制药株式会社 | 纹理形成用蚀刻液及使用其的纹理形成方法 |
CN107338480A (zh) * | 2017-08-24 | 2017-11-10 | 嘉兴尚能光伏材料科技有限公司 | 一种单晶硅硅片制绒方法及其制绒添加剂 |
CN108242477A (zh) * | 2016-12-27 | 2018-07-03 | 中国科学院上海高等研究院 | 层转移单晶硅薄膜用籽晶衬底的微接触湿法刻蚀制备方法 |
CN113502163A (zh) * | 2021-09-10 | 2021-10-15 | 杭州晶宝新能源科技有限公司 | 用于形成太阳电池背结构的化学助剂、其制备方法及应用 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120112321A1 (en) * | 2010-11-04 | 2012-05-10 | Solarworld Industries America, Inc. | Alkaline etching liquid for texturing a silicon wafer surface |
TWI419958B (zh) * | 2010-09-10 | 2013-12-21 | Jou Wei Tseng | 矽基材之蝕刻液及蝕刻方法 |
KR20120136881A (ko) * | 2011-06-10 | 2012-12-20 | 동우 화인켐 주식회사 | 결정성 실리콘 웨이퍼의 텍스쳐 에칭액 조성물 및 텍스쳐 에칭방법 |
KR20120136882A (ko) * | 2011-06-10 | 2012-12-20 | 동우 화인켐 주식회사 | 결정성 실리콘 웨이퍼의 텍스쳐 에칭액 조성물 및 텍스쳐 에칭방법 |
WO2013002502A2 (ko) * | 2011-06-28 | 2013-01-03 | 동우화인켐 주식회사 | 결정성 실리콘 웨이퍼의 텍스쳐 에칭액 조성물 및 텍스쳐 에칭방법 |
KR102618423B1 (ko) * | 2016-08-19 | 2023-12-27 | 오씨아이 주식회사 | 실리콘 텍스쳐링 조성물 및 이의 제조방법 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1378947A1 (en) * | 2002-07-01 | 2004-01-07 | Interuniversitair Microelektronica Centrum Vzw | Semiconductor etching paste and the use thereof for localised etching of semiconductor substrates |
JP2005019605A (ja) * | 2003-06-25 | 2005-01-20 | Naoetsu Electronics Co Ltd | テクスチャー形成用エッチング液 |
CN1679147A (zh) * | 2002-09-04 | 2005-10-05 | 默克专利有限公司 | 用于硅表面和层的蚀刻糊 |
CN1837320A (zh) * | 2004-03-24 | 2006-09-27 | 福吉米株式会社 | 抛光用组合物及抛光方法 |
WO2008052636A1 (de) * | 2006-11-01 | 2008-05-08 | Merck Patent Gmbh | Partikelhaltige ätzpasten für siliziumoberflächen und -schichten |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19811878C2 (de) | 1998-03-18 | 2002-09-19 | Siemens Solar Gmbh | Verfahren und Ätzlösung zum naßchemischen pyramidalen Texturätzen von Siliziumoberflächen |
US6685757B2 (en) * | 2002-02-21 | 2004-02-03 | Rodel Holdings, Inc. | Polishing composition |
US7736405B2 (en) * | 2003-05-12 | 2010-06-15 | Advanced Technology Materials, Inc. | Chemical mechanical polishing compositions for copper and associated materials and method of using same |
JP4668528B2 (ja) * | 2003-09-05 | 2011-04-13 | 株式会社フジミインコーポレーテッド | 研磨用組成物 |
JP2009503910A (ja) * | 2005-08-05 | 2009-01-29 | アドバンスド テクノロジー マテリアルズ,インコーポレイテッド | 金属フィルム平坦化用高スループット化学機械研磨組成物 |
DE102006022093B4 (de) * | 2006-05-11 | 2010-04-08 | Siltronic Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Behandlung einer Halbleiterscheibe durch Ätzen |
DE102007026081A1 (de) * | 2007-05-25 | 2008-11-27 | Gebr. Schmid Gmbh & Co. | Verfahren zur Behandlung von Siliziumwafern, Behandlungsflüssigkeit und Siliziumwafer |
KR20110093759A (ko) * | 2008-09-01 | 2011-08-18 | 메르크 파텐트 게엠베하 | 에칭에 의한 박층 태양광 모듈의 에지 제거 |
US20120112321A1 (en) * | 2010-11-04 | 2012-05-10 | Solarworld Industries America, Inc. | Alkaline etching liquid for texturing a silicon wafer surface |
US20110244184A1 (en) * | 2010-04-01 | 2011-10-06 | Solarworld Industries America, Inc. | Alkaline etching solution for texturing a silicon wafer surface |
US20120295447A1 (en) * | 2010-11-24 | 2012-11-22 | Air Products And Chemicals, Inc. | Compositions and Methods for Texturing of Silicon Wafers |
-
2009
- 2009-08-20 DE DE102009028762A patent/DE102009028762A1/de not_active Ceased
-
2010
- 2010-06-02 EP EP10720942.1A patent/EP2467873B1/en active Active
- 2010-06-02 CN CN2010800356641A patent/CN102484060A/zh active Pending
- 2010-06-02 JP JP2012525097A patent/JP2013502706A/ja not_active Ceased
- 2010-06-02 KR KR1020127003304A patent/KR101404217B1/ko active IP Right Grant
- 2010-06-02 US US13/390,081 patent/US20120208370A1/en not_active Abandoned
- 2010-06-02 WO PCT/EP2010/057737 patent/WO2011020632A1/en active Application Filing
- 2010-06-03 TW TW099117944A patent/TW201108321A/zh unknown
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1378947A1 (en) * | 2002-07-01 | 2004-01-07 | Interuniversitair Microelektronica Centrum Vzw | Semiconductor etching paste and the use thereof for localised etching of semiconductor substrates |
CN1679147A (zh) * | 2002-09-04 | 2005-10-05 | 默克专利有限公司 | 用于硅表面和层的蚀刻糊 |
JP2005019605A (ja) * | 2003-06-25 | 2005-01-20 | Naoetsu Electronics Co Ltd | テクスチャー形成用エッチング液 |
CN1837320A (zh) * | 2004-03-24 | 2006-09-27 | 福吉米株式会社 | 抛光用组合物及抛光方法 |
WO2008052636A1 (de) * | 2006-11-01 | 2008-05-08 | Merck Patent Gmbh | Partikelhaltige ätzpasten für siliziumoberflächen und -schichten |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102719132A (zh) * | 2012-06-07 | 2012-10-10 | 彭朝兵 | 导电聚合物蚀刻油墨及制备方法 |
CN102719132B (zh) * | 2012-06-07 | 2015-06-24 | 彭朝兵 | 导电聚合物蚀刻油墨及制备方法 |
CN102751384A (zh) * | 2012-07-07 | 2012-10-24 | 蚌埠玻璃工业设计研究院 | 一种晶体硅表面织构方法 |
CN104584232A (zh) * | 2012-08-10 | 2015-04-29 | 第一工业制药株式会社 | 纹理形成用蚀刻液及使用其的纹理形成方法 |
CN104584232B (zh) * | 2012-08-10 | 2017-03-08 | 第一工业制药株式会社 | 纹理形成用蚀刻液及使用其的纹理形成方法 |
CN103980905A (zh) * | 2014-05-07 | 2014-08-13 | 佛山市中山大学研究院 | 一种用于氧化物材料体系的新型蚀刻液及其蚀刻方法和应用 |
CN103980905B (zh) * | 2014-05-07 | 2017-04-05 | 佛山市中山大学研究院 | 一种用于氧化物材料体系的蚀刻液及其蚀刻方法和应用 |
CN108242477A (zh) * | 2016-12-27 | 2018-07-03 | 中国科学院上海高等研究院 | 层转移单晶硅薄膜用籽晶衬底的微接触湿法刻蚀制备方法 |
CN108242477B (zh) * | 2016-12-27 | 2020-03-24 | 中国科学院上海高等研究院 | 层转移单晶硅薄膜用籽晶衬底的微接触湿法刻蚀制备方法 |
CN107338480A (zh) * | 2017-08-24 | 2017-11-10 | 嘉兴尚能光伏材料科技有限公司 | 一种单晶硅硅片制绒方法及其制绒添加剂 |
CN113502163A (zh) * | 2021-09-10 | 2021-10-15 | 杭州晶宝新能源科技有限公司 | 用于形成太阳电池背结构的化学助剂、其制备方法及应用 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102009028762A1 (de) | 2011-03-03 |
JP2013502706A (ja) | 2013-01-24 |
US20120208370A1 (en) | 2012-08-16 |
WO2011020632A1 (en) | 2011-02-24 |
EP2467873A1 (en) | 2012-06-27 |
KR101404217B1 (ko) | 2014-06-05 |
TW201108321A (en) | 2011-03-01 |
KR20120041750A (ko) | 2012-05-02 |
DE102009028762A8 (de) | 2011-06-01 |
EP2467873B1 (en) | 2014-01-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN102484060A (zh) | 用于硅表面蚀刻的方法 | |
WO2017185592A1 (zh) | 一种金刚线切割多晶硅片的制绒方法 | |
CN104617195B (zh) | 一种近红外发光二极管及其生产方法 | |
CN106098810B (zh) | 一种晶体硅太阳能电池绒面结构的制备方法 | |
CN106222756A (zh) | 用于金刚线切割单晶硅片制绒的添加剂及其应用方法 | |
CN102181935B (zh) | 一种制作单晶硅绒面的方法及腐蚀液 | |
CN101211774A (zh) | 用于清洗硅片的方法 | |
CN108206225B (zh) | 一种单晶硅片制绒剂组合物及其应用 | |
CN113416547B (zh) | 一种清洗绕镀多晶硅的碱腐蚀辅助剂及其应用 | |
CN114196970B (zh) | 析氧催化剂及其制备方法 | |
CN106012027B (zh) | 一种单多晶硅链式酸碱一体制绒及其制备方法 | |
CN106602081B (zh) | 一种用于直接甲酸燃料电池的氧化钯催化剂及其制备方法 | |
CN102315113A (zh) | 一种具有低挥发性的太阳电池单晶硅制绒液及应用 | |
CN112736261A (zh) | 多孔碳网络负载铂纳米颗粒复合材料催化剂及其制备方法 | |
CN111363064B (zh) | 一种高取代度和高分子量的羧甲基壳聚糖的制备方法 | |
CN108660510A (zh) | 一种新型单晶硅片制绒添加剂的制造及简单制绒方法 | |
CN107240546B (zh) | 一种金刚线切割后的硅片清洗方法 | |
CN101701348A (zh) | 用于半导体n\p型致冷晶片表面电镀前处理的粗化液及相关的电镀前处理工艺 | |
CN102760794B (zh) | 一种低应力的氮化镓外延层的制备方法 | |
CN114959910A (zh) | 一种高效单晶硅太阳能电池制绒添加剂溶液及应用 | |
TW201245418A (en) | Texture etching solution composition and texture etching method of crystalline silicon wafers | |
CN102709390A (zh) | 一种单晶半成品印刷前异常硅片去除pn结的处理方法 | |
CN113502163B (zh) | 用于形成太阳电池背结构的化学助剂、其制备方法及应用 | |
CN103243336B (zh) | 一种纳米铂/二氧化钛纳米管阵列复合材料的制备方法 | |
CN110707001B (zh) | 一种通过重复利用黑硅清洗液对硅片进行制绒的方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20120530 |