CN102233335A - 应用于电子元件测试分类机的测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明是一种应用于电子元件测试分类机的测试装置，所述的测试装置包含有第一、二升降机构以及一横移机构，其各设有一可作Z轴向位移的第一、二传动架，传动架的两端是滑置于第一、二Z轴向滑轨上，而横移机构是在第一、二直压杆架的两侧方设有两个X轴向滑轨，并具有两个可作X轴向位移的第一、二掣动架，掣动架的两端则滑置于X轴向滑轨上。如此，当第一、二取放器将电子元件的反作用力传导至第一、二传动架以及第一、二掣动架时，第一、二传动架以及第一、二掣动架可分别利用两端滑置限位于二第一、二Z轴向滑轨以及二X轴向滑轨而使受力平衡，以防止产生X-Y轴向力矩以及机件变形，达到提升取放元件精确性以及测试品质的实用效益。

Description

应用于电子元件测试分类机的测试装置

技术领域

本发明涉及一种可使机件受力平衡而有效防止变形，以更加提升取放电子元件的精确度以及测试品质的应用于电子元件测试分类机的测试装置。

背景技术

请参阅图1、图2，是现有电子元件测试分类机的测试装置的示意图，是在第一、二机架101、201上分别设有第一取料机构以及第二取料机构，第一、二取料机构各具有第一、二升降结构以及第一、二横移结构，其中，第一、二升降结构是分别在第一、二机架101、201上装设有二支第一、二Z轴向滑轨102、202，并设有一由第一、二Z轴向驱动源103、203驱动作Z轴向位移的第一、二Z轴向传动架104、204，所述的第一、二Z轴向传动架104、204是在背面设有可滑置于第一、二Z轴向滑轨102、202上的第一、二Z轴向滑座105、205，并在前面设有第一、二X轴向滑轨106、206，所述的第一、二X轴向滑轨106、206的两端则凸伸出于第一、二Z轴向滑轨102、202的侧方，并供第一、二L型悬臂107、207的第一、二X轴向滑座108、208滑置组装，第一、二L型悬臂107、207的底面则具有第一、二取放器109、209，用来取放以及压抵电子元件，另所述的第一、二横移结构是在第一、二机架101、201上分别装设一由第一、二X轴向驱动源110、210驱动作X轴向位移的第一、二X轴向传动架111、211，所述的第一、二X轴向传动架111、211与第一、二L型悬臂107、207间设有相互配合的第一、二Z轴向滑座112、212以及第一、二Z轴向滑轨113、213；在执行取出待测电子元件作业时，以第一取料机构为例，所述的第一取料机构可控制第一X轴向驱动源110经第一X轴向传动架111而带动第一L型悬臂107作X轴向位移，所述的第一L型悬臂107即以第一X轴向滑座108滑置于第一X轴向传动架111的第一X轴向滑轨106的侧端处，使得第一取放器109位于具待测电子元件的载台上方，再控制第一Z轴向驱动源103经第一传动架104而带动第一L型悬臂107作Z轴向位移，使得第一取放器109下降位移而取出待测的电子元件。

然而，第一取放器109在取放电子元件时，所述的电子元件会对第一取放器109产生反作用力，所述的反作用力会传导至第一Z轴向传动架104，由于第一Z轴向传动架104的两端是作用端，当反作用力作用于第一Z轴向传动架104的作用端时，即会使第一Z轴向传动架104以第一Z轴向滑轨102为支点，而产生Y轴向力矩，致使第一Z轴向传动架104可能发生变形，又由于第一取放器109是配置在第一L型悬臂107上，且第一L型悬臂107与第一Z轴向传动架104间具有一Y轴向距离，所述的反作用力也会使第一L型悬臂107产生X轴向力矩，以致第一取放器109产生较差的水平度，致使第一L型悬臂107可能发生变形，故当测试装置的第一Z轴向传动架104以及第一L型悬臂107等机件因产生X-Y轴向力矩而变形时，不仅影响机件寿命，对于取放以及压测电子元件的作业上也会有影响，以第一Z轴向传动架104若发生变形为例，对于取放电子元件的作业上，当第一L型悬臂107带动第一取放器109位移至第一Z轴向传动架104的一侧作用端时，第一取放器109可能会因下降位移的高度产生变化，而发生无法接触到电子元件或过度下压接触电子元件的情形，以致影响取放电子元件的精确度以及作业顺畅性，工作人员也需繁琐费时的调整第一取放器109的适当下降位移高度，而造成使用上的不便，对于压测电子元件的作业而言，将使得第一取放器109无法确保以相同的下压力下压待测电子元件，以致待测电子元件受力不平均，进而影响测试品质。

因此，如何设计一种可防止机件变形，而可更加精确取放以及压测电子元件，以提升作业便利性以及测试品质的测试装置，即为业者研发的标的。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明的目的在于：提供一种应用于电子元件测试分类机的测试装置，解决现有技术存在的待测电子元件受力不平均，进而影响测试品质的问题。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种应用于电子元件测试分类机的测试装置，所述的测试装置是配置在具有测试站以及载送装置的机台上，载送装置是在测试站的前、后方分别设有入、出料载台，其特征在于，所述的测试装置包含：

第一升降机构：是在第一垂直向机架上设有一由第一Z轴向驱动源驱动作Z轴向位移的第一传动架，第一传动架的两端则滑置限位于第一垂直向机架的二第一Z轴向滑轨上，用来带动一具第一取放器的第一直压杆架作Z轴向位移；

第二升降机构：是在第二垂直向机架上设有一由第二Z轴向驱动源驱动作Z轴向位移的第二传动架，第二传动架的两端则滑置限位于第二垂直向机架的二第二Z轴向滑轨上，用来带动一具第二取放器的第二直压杆架作Z轴向位移；

横移机构：是在水平向机架上且相对第一、二升降机构的第一、二直压杆架两侧方设有两个X轴向滑轨，并具有两个由第一、二X轴向驱动源驱动作X轴向位移的第一、二掣动架，第一、二掣动架的两端滑置于两个X轴向滑轨上，并可分别带动第一、二直压杆架作X轴向位移，使得第一、二取放器能够分别在测试站以及载送装置的入、出料载台间移载待测/完测电子元件。

其中：所述的第一升降机构的第一Z轴向驱动源是由第一Z轴向马达、第一皮带轮组、第一Z轴向螺杆以及第一Z轴向螺座所组成，并以第一Z轴向螺座连结第一传动架。

其中：所述的第一升降机构的第一传动架是在两端设有第一Z轴向滑座，用来滑置于第一垂直向机架的第一Z轴向滑轨上，另在第一传动架与第一直压杆架间设有相互配合的第一X轴向滑轨以及第一X轴向滑座。

其中：所述的第二升降机构的第二Z轴向驱动源是由第二Z轴向马达、第二皮带轮组、第二Z轴向螺杆以及第二Z轴向螺座所组成，并以第二Z轴向螺座连结第二传动架。5.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其中，所述的第二升降机构的第二传动架是在两端设有第二Z轴向滑座，用来滑置于第二垂直向机架的第二Z轴向滑轨上，另在第二传动架与第二直压杆架间设有相互配合的第二X轴向滑轨以及第二X轴向滑座。

其中：所述的第一升降机构的第一直压杆架是分别在底面相对于其直杆位置的两侧设有第一取放器，又所述的第二升降机构的第二直压杆架是分别在底面相对于其直杆位置的两侧设有第二取放器。

其中：所述的横移机构的第一X轴向驱动源是由第一X轴向马达、第一皮带轮组、第一X轴向螺杆以及第一X轴向螺座所组成，并以第一X轴向螺座连结第一掣动架，又所述的第二X轴向驱动源是由第二X轴向马达、第二皮带轮组、第二X轴向螺杆以及第二X轴向螺座所组成，并以第二X轴向螺座连结第二掣动架。

其中：所述的横移机构是在第一掣动架的两端设有第一X轴向滑座，用来滑置于水平向机架底面的二X轴向滑轨上，另在所述的第一掣动架与第一直压杆架间设有相互配合的第一Z轴向滑座以及第一Z轴向滑轨。

其中：所述的横移机构是在第二掣动架的两端设有第二X轴向滑座，用来滑置于水平向机架底面的二X轴向滑轨上，另在所述的第二掣动架与第二直压杆架间设有相互配合的第二Z轴向滑座以及第二Z轴向滑轨。

其中：所述的测试装置在水平向机架上设有一取像机构，该取像机构为CCD。

与现有技术相比较，本发明具有的有益效果是：

1.所述的测试装置包含有第一、二升降机构以及一横移机构，第一、二升降机构各设有一可作Z轴向位移的第一、二传动架，第一、二传动架的两端是滑置于二第一、二Z轴向滑轨上，并可分别带动具第一、二取放器的第一、二直压杆架作Z轴向位移，而横移机构是在第一、二直压杆架的两侧方设有二X轴向滑轨，并具有二可作X轴向位移的第一、二掣动架，第一、二掣动架的两端则滑置于二X轴向滑轨上，并可分别带动第一、二直压杆架作X轴向位移，使得第一、二取放器可作X-Z轴向位移而执行取放以及压测电子元件作业；如此，当第一、二取放器将电子元件的反作用力传导至第一、二传动架以及第一、二掣动架时，第一、二传动架以及第一、二掣动架可分别利用两端滑置限位于二第一、二Z轴向滑轨以及二X轴向滑轨而使受力平衡，使得第一、二取放器保持较佳的水平度，而以相同下压力道压抵待测电子元件，使待测电子元件均匀受力而执行测试作业，达到提升测试品质的实用效益。

2.所述的测试装置可利用第一、二传动架以及第一、二掣动架的两端分别滑置限位于二第一、二Z轴向滑轨以及二X轴向滑轨，在第一、二取放器将电子元件的反作用力传导至第一、二传动架以及第一、二掣动架时，可使得第一、二传动架以及第一、二掣动架受力平衡，并不会产生X-Y轴向力矩，而可防止机件变形，使第一、二取放器可依预设值作精确下降位移取放电子元件，达到提升取放作业便利性的实用效益。

3.所述的测试装置可利用第一、二传动架以及第一、二掣动架的两端分别滑置限位于二第一、二Z轴向滑轨以及二X轴向滑轨，在第一、二取放器将电子元件的反作用力传导至第一、二传动架以及第一、二掣动架时，可使得第一、二传动架以及第一、二掣动架受力平衡，并不会产生X-Y轴向力矩，而可防止机件变形，达到延长机件使用寿命的实用效益。

附图说明

图1是现有测试装置的前视图；

图2是现有测试装置的侧视图；

图3是本发明应用于测试分类机的配置图；

图4是本发明测试装置的前视图；

图5是本发明测试装置的侧视图；

图6是本发明测试装置的俯视图；

图7是本发明测试装置的使用示意图(一)；

图8是本发明测试装置的使用示意图(二)；

图9是本发明测试装置的使用示意图(三)；

图10是本发明测试装置的使用示意图(四)；

图11是本发明测试装置的使用示意图(五)；

图12是本发明测试装置的使用示意图(六)；

图13是本发明测试装置的使用示意图(七)；

图14是本发明测试装置的使用示意图(八)。

附图标记说明：

现有技术：第一机架101；第一Z轴向滑轨102；第一Z轴向驱动源103；第一Z轴向传动架104；第一Z轴向滑座105；第一X轴向滑轨106；第一L型悬臂107；第一X轴向滑座108；第一取放器109；第一X轴向驱动源110；第一X轴向传动架111；第一Z轴向滑座112；第一Z轴向滑轨113；第二机架201；第二Z轴向滑轨202；第二Z轴向驱动源203；第二Z轴向传动架204；第二Z轴向滑座205；第二X轴向滑轨206；第二L型悬臂207；第二X轴向滑座208；第二取放器209；第二X轴向驱动源210；第二X轴向传动架211；第二Z轴向滑座212；第二Z轴向滑轨213；

本发明：测试站30；测试座31；外罩32；；载送装置40；第一入料载台41；第一出料载台42；第二入料载台43；第二出料载台44；测试装置50；；第一垂直向机架511A；第二垂直向机架511B；第一Z轴向滑轨512A；第二Z轴向滑轨512B；第一Z轴向马达521A；第二Z轴向马达521B；第一皮带轮组522A；第二皮带轮组522B；第一Z轴向螺杆523A；第二Z轴向螺杆523B；第一Z轴向螺座524A；第二Z轴向螺座524B；第一传动架531A；第二传动架531B；第一Z轴向滑座532A；第二Z轴向滑座532B；第一X轴向滑轨533A；第二X轴向滑轨533B；第一直压杆架541A；第二直压杆架541B；第一X轴向滑座542A；第二X轴向滑座542B；第一取放器543A；第二取放器543B；第一Z轴向滑轨544A；第二Z轴向滑轨544B；水平向机架551；X轴向滑轨552；第一X轴向马达561A；第二X轴向马达561B；第一皮带轮组562A；第二皮带轮组562B；第一X轴向螺杆563A；第二X轴向螺杆563B；第一X轴向螺座564A；第二X轴向螺座564B；第一掣动架571A；第二掣动架571B；第一X轴向滑座572A；第二X轴向滑座572B；第一Z轴向滑座573A；第二Z轴向滑座573B；CCD61；电子元件71、72。

具体实施方式

为使贵审查委员对本发明作更进一步的了解，兹举一较佳实施例并配合图式，详述如后：

请参阅图3，本实施例的测试分类机是在机台上配置有测试站30、载送装置40以及测试装置50等，所述的测试站30具有信号连接至测试机的测试座31，用来测试电子元件，载送装置40是在测试站30的前方设有第一入、出料载台41、42，并在后方设有第二入、出料载台43、44，而可执行载送待测/完测电子元件作业，所述的测试装置50可直接装配在机台上或相关装置的上方，本实施例的测试装置50是配置在测试站30的上方，用来执行取放以及压测电子元件作业。

请参阅图3、图4、图5、图6，所述的测试装置50包含有第一、二升降机构以及一横移机构，第一、二升降机构是分别在第一、二垂直向机架511A、511B的一侧面设有第一、二Z轴向驱动源，第一、二Z轴向驱动源各由第一、二Z轴向马达521A、521B与第一、二皮带轮组522A、522B、第一、二Z轴向螺杆523A、523B以及第一、二Z轴向螺座524A、524B所组成，并以第一、二Z轴向螺座524A、524B分别连结带动位于第一、二垂直向机架511A、511B另一面的第一、二传动架531A、531B作Z轴向升降位移，所述的第一、二传动架531A、531B的两端设有第一、二Z轴向滑座532A、532B，用来滑置于第一、二垂直向机架511A、511B的第一、二Z轴向滑轨512A、512B上，另在第一、二传动架531A、531B上设有第一、二X轴向滑轨533A、533B，供滑置第一、二直压杆架541A、541B，所述的第一、二直压杆架541A、541B是以第一、二X轴向滑座542A、542B滑置于第一、二X轴向滑轨533A、533B上，并在底面相对于其直杆位置的两侧设有第一、二取放器543A、543B，且在侧面设有第一、二Z轴向滑轨544A、544B，而横移机构是在一水平向机架551上设有第一、二X轴向驱动源，第一、二X轴向驱动源各由第一、二X轴向马达561A、561B、第一、二皮带轮组562A、562B、第一、二X轴向螺杆563A、563B以及第一、二X轴向螺座564A、564B所组成，并以第一、二X轴向螺座564A、564B分别连结带动位于水平向机架551下方的第一、二掣动架571A、571B作X轴向位移，所述的第一、二掣动架571A、571B各在第一、二直压杆架541A、541B的两侧方设有第一、二X轴向滑座572A、572B，用来滑置于水平向机架551底面的二X轴向滑轨552，另在第一、二掣动架571A、571B上设有与第一、二直压杆架541A、541B的第一、二Z轴向滑轨544A、544B相互配合的第一、二Z轴向滑座573A、573B，以供第一、二直压杆架541A、541B以及第一、二取放器543A、543B可作Z轴向升降位移，另在水平向机架551的底面设有一为CCD61的取像机构，用来扫瞄测试站30的测试座31。

请参阅图7、图8，在执行电子元件测试作业时，所述的载送装置40的第一入料载台41可载送待测电子元件71至测试站30的侧方，本实施例第一取放器543A的初始状态因位于第一传动架531A的侧端，且相对于第一入料载台41的上方，进而可控制第一Z轴向马达521A经第一皮带轮组522A而带动第一Z轴向螺杆523A旋转，使第一Z轴向螺杆523A经第一Z轴向螺座524A而带动第一传动架531A作Z轴向下降位移，第一传动架531A即以两端的第一Z轴向滑座532A沿第一Z轴向滑轨512A位移，使第一X轴向滑轨533A经第一X轴向滑座542A而带动第一直压杆架541A作Z轴向位移，所述的第一直压杆架541A是以第一Z轴向滑轨544A沿第一掣动架571A的第一Z轴向滑座573A作下降位移，而带动第一取放器543A下降位移取料，当第一取放器543A接触吸取待测电子元件71时，待测电子元件71会对第一取放器543A产生反作用力，所述的反作用力经传导而作用于第一直压杆架541A、第一传动架531A以及第一掣动架571A等元件时，由于第一直压杆架541A是以第一Z轴向滑轨544A滑置于第一掣动架571A的第一Z轴向滑座573A上，而第一掣动架571A的两端又以第一X轴向滑座572A滑置于二X轴向滑轨552上，而可利用二X轴向滑轨552支撑以及限位于第一掣动架571A的两端，使得第一掣动架571A受力平衡，并不会作X轴向偏摆，而可防止第一直压杆架541A以及相关机件产生X轴向力矩以及变形，再者，由于第一传动架531A的两端是以第一Z轴向滑座532A滑置于二第一Z轴向滑轨512A上，使得第一传动架531A的两端并为支持端，且第一X轴向滑轨533A可供第一直压杆架541A作X轴向位移的行程，即为二支第一Z轴向滑轨512A间的距离，当第一直压杆架541A以及第一取放器543A位于第一传动架531A的侧端时，即可利用二第一Z轴向滑轨512A支撑限位第一传动架531A的两端，使第一传动架531A不会作Y轴向偏摆，使得第一传动架531A受力平衡，而可防止产生Y轴向力矩以及变形，使第一取放器543A可精准下降位移而吸取待测电子元件71，并反向上升位移复位；此时，取像机构的CCD61可先行扫瞄测试站30的测试座31中是否残留有受损电子元件余屑或灰尘等异物，如扫瞄出测试座31具有异物，即可事先将异物排除，以防止后续置入的电子元件压抵异物而造成损坏，以大幅降低IC损坏率，若无，则继续执行测试作业。

请参阅图9、图10，在第一取放器543A取出待测电子元件71后，即可控制第一X轴向马达561A经第一皮带轮组562A驱动第一X轴向螺杆563A，使第一X轴向螺杆563A上的第一X轴向螺座564A带动第一掣动架571A作X轴向位移，所述的第一掣动架571A是以第一X轴向滑座572A沿X轴向滑轨552位移，使得第一Z轴向滑座573A经第一Z轴向滑轨544A而带动第一直压杆架541A以及第一取放器543A作X轴向位移，所述的第一直压杆架541A即以第一X轴向滑座542A沿第一传动架531A的第一X轴向滑轨533A作X轴向位移，使第一取放器543A将待测电子元件71移载至测试站30的测试座31上方。

请参阅图6、图8、图11，接着可控制第一Z轴向马达521A经第一皮带轮组522A带动第一Z轴向螺杆523A旋转，使第一Z轴向螺杆523A经第一Z轴向螺座524A而带动第一传动架531A下降位移，令第一取放器543A将待测电子元件71置入在测试站30的测试座31中而执行测试作业，由于第一直压杆架541A是使各第一取放器543A配置在直杆的两侧，使得各第一取放器543A可保持较佳的水平度，并以相同下压力道压抵待测电子元件71，使待测电子元件71均匀受力而执行测试作业，以提升测试品质，又当第一取放器543A压抵待测电子元件71执行测试作业时，所述的载送装置40的第二入料载台43已承载待测电子元件72位移至测试站30的侧方，由于第二取放器543B已位于第一传动架531B的侧端，测试装置50即可驱动第二Z轴向马达521B经第二皮带轮组522B而带动第二Z轴向螺杆523B旋转，使第二Z轴向螺杆523B经第二Z轴向螺座524B而带动第二传动架531B下降位移，使第二取放器543B在第二入料载台43中取出待测电子元件72，当第二取放器543B承受待测电子元件72的反作用力时，由于第一、二升降机构的设计相同，所述的第二升降机构也可使各机件受力平衡，而防止产生X-Y轴向力矩以及变形，使得第二取放器543B可精准下降位移而吸取待测电子元件72，并反向上升位移复位。

请参阅图5、图7、图12，在测试站30的测试座31执行测试作业完毕后，即可控制第一Z轴向马达521A经第一皮带轮组522A、第一Z轴向螺杆523A以及第一Z轴向螺座524A的传动，而带动第一传动架531A以及第一直压杆架541A上升位移，使第一取放器543A在测试座31中取出完测电子元件71；请参阅图7、图13、图14，由于载送装置40的第一出料载台42已位移至测试站30的侧方，测试装置50即控制第一X轴向马达561A经第一皮带轮组562A、第一X轴向螺杆563A以及第一X轴向螺座564A的传动，而带动第一掣动架571A以及第一直压杆架541A作X轴向位移，使第一取放器543A将完测电子元件71移载至第一出料载台42上方，再控制第一取放器543A将完测电子元件71置入在第一出料载台42上，并反向上升复位，当取像机构的CCD61扫瞄测试站30的测试座31中并无残留异物后，接着可控制第二X轴向马达561B经第二皮带轮组562B、第二X轴向螺杆563B以及第二X轴向螺座564B的传动，而带动第二掣动架571B以及第二直压杆架541B作X轴向位移，使第二取放器543A将下一待测电子元件72移载至测试站30的测试座31上方，再控制第二Z轴向马达521B经第二皮带轮组522B而带动第二Z轴向螺杆523B旋转，使第二Z轴向螺杆523B经第二Z轴向螺座524B而带动第二传动架531B下降位移，使第二取放器543B将待测电子元件72置入压抵测试座31内而执行测试作业，因此，第一、二取放器543A、543B可分别作动在测试站30的测试座31以及载送装置40的第一入、出料载台41、42、第二入、出料载台43、44间移载待测/完测电子元件而依序执行测试作业。

据此，本发明的测试装置可使各机件受力平衡而防止变形，以更加提升取放元件的精确度以及测试品质。

以上说明对本发明而言只是说明性的，而非限制性的，本领域普通技术人员理解，在不脱离权利要求所限定的精神和范围的情况下，可作出许多修改、变化或等效，但都将落入本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种应用于电子元件测试分类机的测试装置，所述的测试装置是配置在具有测试站以及载送装置的机台上，载送装置是在测试站的前、后方分别设有入、出料载台，其特征在于，所述的测试装置包含：

第一升降机构：是在第一垂直向机架上设有一由第一Z轴向驱动源驱动作Z轴向位移的第一传动架，第一传动架的两端则滑置限位于第一垂直向机架的二第一Z轴向滑轨上，用来带动一具第一取放器的第一直压杆架作Z轴向位移；

第二升降机构：是在第二垂直向机架上设有一由第二Z轴向驱动源驱动作Z轴向位移的第二传动架，第二传动架的两端则滑置限位于第二垂直向机架的二第二Z轴向滑轨上，用来带动一具第二取放器的第二直压杆架作Z轴向位移；

横移机构：是在水平向机架上且相对第一、二升降机构的第一、二直压杆架两侧方设有两个X轴向滑轨，并具有两个由第一、二X轴向驱动源驱动作X轴向位移的第一、二掣动架，第一、二掣动架的两端滑置于两个X轴向滑轨上，并可分别带动第一、二直压杆架作X轴向位移，使得第一、二取放器能够分别在测试站以及载送装置的入、出料载台间移载待测/完测电子元件。

2.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其特征在于：所述的第一升降机构的第一Z轴向驱动源是由第一Z轴向马达、第一皮带轮组、第一Z轴向螺杆以及第一Z轴向螺座所组成，并以第一Z轴向螺座连结第一传动架。

3.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其特征在于：所述的第一升降机构的第一传动架是在两端设有第一Z轴向滑座，用来滑置于第一垂直向机架的第一Z轴向滑轨上，另在第一传动架与第一直压杆架间设有相互配合的第一X轴向滑轨以及第一X轴向滑座。

4.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其特征在于：所述的第二升降机构的第二Z轴向驱动源是由第二Z轴向马达、第二皮带轮组、第二Z轴向螺杆以及第二Z轴向螺座所组成，并以第二Z轴向螺座连结第二传动架。

5.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其中，所述的第二升降机构的第二传动架是在两端设有第二Z轴向滑座，用来滑置于第二垂直向机架的第二Z轴向滑轨上，另在第二传动架与第二直压杆架间设有相互配合的第二X轴向滑轨以及第二X轴向滑座。

6.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其特征在于：所述的第一升降机构的第一直压杆架是分别在底面相对于其直杆位置的两侧设有第一取放器，又所述的第二升降机构的第二直压杆架是分别在底面相对于其直杆位置的两侧设有第二取放器。

7.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其特征在于：所述的横移机构的第一X轴向驱动源是由第一X轴向马达、第一皮带轮组、第一X轴向螺杆以及第一X轴向螺座所组成，并以第一X轴向螺座连结第一掣动架，又所述的第二X轴向驱动源是由第二X轴向马达、第二皮带轮组、第二X轴向螺杆以及第二X轴向螺座所组成，并以第二X轴向螺座连结第二掣动架。

8.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其特征在于：所述的横移机构是在第一掣动架的两端设有第一X轴向滑座，用来滑置于水平向机架底面的二X轴向滑轨上，另在所述的第一掣动架与第一直压杆架间设有相互配合的第一Z轴向滑座以及第一Z轴向滑轨。

9.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其特征在于：所述的横移机构是在第二掣动架的两端设有第二X轴向滑座，用来滑置于水平向机架底面的二X轴向滑轨上，另在所述的第二掣动架与第二直压杆架间设有相互配合的第二Z轴向滑座以及第二Z轴向滑轨。

10.根据权利要求1所述的应用于电子元件测试分类机的测试装置，其特征在于：所述的测试装置在水平向机架上设有一取像机构，该取像机构为CCD。

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