CN102112885A - 电接点部件及接触式探头 - Google Patents

电接点部件及接触式探头 Download PDF

Info

Publication number
CN102112885A
CN102112885A CN2009801308394A CN200980130839A CN102112885A CN 102112885 A CN102112885 A CN 102112885A CN 2009801308394 A CN2009801308394 A CN 2009801308394A CN 200980130839 A CN200980130839 A CN 200980130839A CN 102112885 A CN102112885 A CN 102112885A
Authority
CN
China
Prior art keywords
electric contact
core
peripheral part
precious metal
metal alloys
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2009801308394A
Other languages
English (en)
Inventor
风间俊男
高村典利
瓦林朋弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NHK Spring Co Ltd
Original Assignee
NHK Spring Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NHK Spring Co Ltd filed Critical NHK Spring Co Ltd
Publication of CN102112885A publication Critical patent/CN102112885A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic
    • G01R1/06722Spring-loaded
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H1/00Contacts
    • H01H1/02Contacts characterised by the material thereof
    • H01H1/04Co-operating contacts of different material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02Contact members
    • H01R13/03Contact members characterised by the material, e.g. plating, or coating materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02Contact members
    • H01R13/22Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H01R13/2407Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
    • H01R13/2421Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means using coil springs
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H1/00Contacts
    • H01H1/02Contacts characterised by the material thereof
    • H01H1/021Composite material
    • H01H1/023Composite material having a noble metal as the basic material
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49204Contact or terminal manufacturing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

本发明提供一种耐久性优良且经济的电接点部件及接触式探头。为了该目的,具备:相对于长度方向的中心轴成为对称的形状且具有中空部的外周部;以大致棒状向长度方向延伸并填充中空部的芯部,其中,外周部及所述芯部的一方由贵金属合金形成,另一方由与贵金属合金不同的导电性材料形成。由贵金属合金构成的外周部及芯部的一方在长度方向的一端部也可以比另一方突出。

Description

电接点部件及接触式探头
技术领域
本发明涉及电接点部件及使用该电接点部件构成的接触式探头。
背景技术
以往,已知有在进行IC芯片等半导体集成电路的电特性检查时,为了对半导体集成电路传送检查用的信号而使用导电性的接触式探头的技术(例如,参照专利文献1)。在该技术中,与半导体集成电路或发送检查用信号的电路基板的电极接触的部分由针状的电接点部件构成。为了提高此种接触式探头的导电性,而多采用对电接点部件的表面实施镀敷金或银等贵金属的方法。
然而,在接触式探头中,随着检查次数的增加而在电接点部件的前端部附近转印有半导体集成电路或电路基板的电极的焊药,从而接触电阻增加,无法进行正常的电特性检查。为了避免此种情况,需要定期地进行使用砂纸等磨掉附着在接触式探头前端的焊药的作业。
专利文献1:日本特开2001-33480号公报
在上述的以往的接触式探头中,在磨掉附着在前端的焊药时,镀敷的覆盖也被磨薄。镀敷的覆盖变薄时,磨掉焊药的周期有变短的倾向,最终会产生更换接触式探头的需要。
因此,为了即使进行磨掉附着在前端的焊药的作业也能够长期使用接触式探头,而考虑有使用贵金属的无垢材料形成电接点部件的情况。然而这种情况下,由于大量使用高价的贵金属,因此存在接触式探头成为高价的问题。
发明内容
本发明鉴于上述情况而作出,其目的在于提供一种耐久性优良且经济的电接点部件及接触式探头。
为了解决上述课题而实现目的,本发明涉及的电接点部件的特征在于,具备:相对于长度方向的中心轴成为对称的形状且具有中空部的外周部;以大致棒状向所述长度方向延伸并填充所述中空部的芯部,其中,所述外周部及所述芯部的一方由贵金属合金形成,另一方由与所述贵金属合金不同的导电性材料形成。
另外,本发明的电接点部件以上述发明为基础,其特征在于,由所述贵金属合金构成的所述外周部及所述芯部的一方在所述长度方向的一端部比另一方突出。
另外,本发明的接触式探头的特征在于,具备:第一及第二电接点部件,它们分别具备相对于长度方向的中心轴成为对称的形状且具有中空部的外周部、和以大致棒状向所述长度方向延伸且填充所述中空部的芯部;弹簧部件,其由向轴线方向伸缩自如的导电性材料形成,在所述轴线方向的两端部分别安装所述第一及第二电接点部件,其中,在所述第一及第二电接点部件的各自的所述长度方向的端部中的与所述弹簧部件未连结的一侧的端部,所述外周部及所述芯部的一方比另一方突出,该突出的所述外周部及所述芯部的一方由贵金属合金形成,另一方由与所述贵金属合金不同的导电性材料形成。
发明效果
根据本发明,由于电接点部件具备相对于长度方向的中心轴成为对称的形状且具有中空部的外周部、和以大致棒状向长度方向延伸且填充中空部的芯部,并且外周部及芯部的一方由贵金属合金形成,另一方由与贵金属合金不同的导电性材料形成,因此,在与被接触体接触的部分使用贵金属合金,而能够抑制贵金属合金的使用量。因此,能够提供一种耐久性优良且经济的电接点部件及具备该电接点部件的接触式探头。
附图说明
图1是示出本发明的一实施方式的接触式探头的结构的图。
图2是示出本发明的一实施方式的接触式探头的第一柱塞的结构的纵剖视图。
图3是示出本发明的一实施方式的接触式探头的第二柱塞的结构的纵剖视图。
图4是示出本发明的另一实施方式的电接点部件即继电器接点的结构的图。
图5是图4的纵剖视图。
具体实施方式
以下,参照附图,说明用于实施本发明的方式(以下称为“实施方式”)。此外,附图是示意性的图,应该注意到存在有各部分的厚度和宽度的关系、各个部分的厚度的比率等与现实不同的情况,当然在附图彼此之间也存在包含相互的尺寸的关系或比率不同的部分的情况。
图1是示出本发明的一实施方式的接触式探头的结构的图。该图所示的接触式探头1包括:具有彼此向相反方向突出的前端部的第一柱塞2及第二柱塞3;将第一柱塞2和第二柱塞3连结并向长度方向(图1的上下方向)伸缩自如的弹簧部件4。
接触式探头1由探头保持器5收容,将检查对象即IC芯片等半导体集成电路100和输出检查用的信号的电路基板200之间电连接,进行电信号的发送接收。在进行半导体集成电路100的检查时,第一柱塞2与设置在半导体集成电路100上的连接用电极101相接触,而第二柱塞3与设置在电路基板200上的连接用电极201相接触。因此,第一柱塞2及第二柱塞3的一方为第一电接点部件,另一方为第二电接点部件。
第一柱塞2具有:前端成为冠状的前端部2a;具有比前端部2a的直径大的直径的凸缘部2b;隔着凸缘部2b向与前端部2a相反方向突出,成为比凸缘部2b的直径小的直径的圆柱状,用于将弹簧部件4的端部压入的凸起部2c;成为比凸起部2c的直径小的直径的圆柱状,并从凸起部2c向与凸缘部2b相反侧延伸的基端部2d,所述第一柱塞2相对于长度方向的中心轴成为对称的形状。
图2是示出第一柱塞2的结构的纵剖视图。第一柱塞2包括:具有中空部的外周部21;向长度方向延伸并填充外周部21中空部的圆柱状(圆棒状)的芯部22。在第一柱塞2的前端部中的图2的上端部,外周部21成为冠状,比芯部22向长度方向突出。因此,外周部21的上端在半导体集成电路100的检查时与连接用电极101相接触。外周部21中的冠状例如通过车床加工时的槽加工形成。
外周部21由贵金属合金构成。作为该贵金属合金,例如能够适用以银(Ag)、钯(Pd)、金(Au)、铂(Pt)、锌(Zn)、铜(Cu)、铁(Fe)、镍(Ni)为主要成分的合金、以钯、银、铜为主要成分的合金、或以银、铂、锌、金、铜为主要成分的合金等。而且,芯部22由比贵金属合金廉价的铜或铝等导电性材料构成。由此,通过进行检查而能够定期地进行磨掉附着在外周部21前端部的焊药的作业并能够长期使用,并且能够抑制贵金属合金的使用量而降低成本。
例如通过对外周侧由与外周部21相对应的贵金属合金形成而内周侧的芯部由与芯部22相对应的导电性材料形成的铅笔状的工件部件进行车床加工而形成具有以上结构的第一柱塞2。
第二柱塞3包括:具有尖锐端的前端部3a;具有比前端部3a的直径大的直径的凸缘部3b;隔着凸缘部3b向与前端部3a相反方向突出,成为比凸缘部3b的直径小的直径的圆柱状,用于将弹簧部件4的端部压入的凸起部3c;成为比凸起部3c的直径小的直径的圆柱状,并从凸起部3c向与凸缘部3b相反侧延伸的基端部3d,所述第二柱塞3相对于与长度方向平行的中心轴成为对称形状。
图3是示出第二柱塞3的结构的纵剖视图。第二柱塞3包括:具有中空部的外周部31;沿长度方向延伸而填充外周部31的中空部,且图3的下端为尖锐端的大致棒状的芯部32。在第二柱塞3的前端部中的图3的下端部,芯部32比外周部31向长度方向突出。因此,芯部32的下端与电路基板200的连接用电极201相接触。
外周部31由与芯部22同样的导电性材料形成,芯部32由与外周部21同样的贵金属合金形成。因此,与第一柱塞2同样地,第二柱塞3也能得到耐久性优良且经济的效果。
例如通过对外周侧由与外周部31相对应的导电性材料形成而内周侧的芯部由与芯部32相对应的贵金属合金形成的铅笔状的工件部件进行车床加工而形成具有以上结构的第二柱塞3。
弹簧部件4是具有均匀直径且由向线方向伸缩自如的导电性材料形成的螺旋弹簧,安装于第一柱塞2的一侧为密卷绕部4a,而安装于第二柱塞3的一侧为疏卷绕部4b。弹簧部件4的内径比凸起部2c、3c的外径略小。密卷绕部4a的端部与凸缘部2b抵接,而疏卷绕部4b的端部与凸缘部3b抵接。
进行半导体集成电路100的检查时,弹簧部件4由于从第一柱塞2及第二柱塞3承受载荷而收缩、弯曲。其结果是,密卷绕部4a的至少一部分与基端部3d接触。由此,能实现依次经由第一柱塞2、弹簧部件4及第二柱塞3的最短路径的电导通。如此通过实现最短路径的电导通,能够抑制检查时的接触式探头1的电感的增加。
接下来,说明探头保持器5的结构。探头保持器5在使各接触式探头1的两端露出的状态下将多个接触式探头1收容成与连接用电极101的配置图案相对应的图案。探头保持器5将使用高绝缘性的合成树脂材料等绝缘性材料而分别形成为板状的第一保持器部件6及第二保持器部件7沿板厚方向层叠。第一保持器部件6和第二保持器部件7通过胶粘或螺止等进行固定。
在第一保持器部件6上设有多个沿板厚方向贯通并供接触式探头1插通的插通孔61。插通孔61成为由小径部61a和大径部61b构成的阶梯孔形状。小径部61a在与检查对象即半导体集成电路100相对向的一侧(图1的上表面侧)具有开口,而大径部61b在与第二保持器部件7相对向的一侧具有开口。通过使凸缘部2b与成为小径部61a和大径部61b的边界的阶梯状部分抵接而防止第一柱塞2从第一保持器部件6脱落。
在第二保持器部件7上设有多个沿板厚方向贯通并供接触式探头1插通的插通孔71。插通孔71与多个插通孔61的任一个连通。插通孔71成为由小径部71a和大径部71b构成的阶梯孔形状。小径部71a在与电路基板200相对向的一侧(图1的下表面侧)具有开口,而大径部71b在与第一保持器部件6相对向的一侧具有开口。通过使凸缘部3b与成为小径部71a和大径部71b的边界的阶梯状部分抵接而防止第二柱塞3从第二保持器部件7脱落。
作为构成第一保持器部件6及第二保持器部件7的绝缘性材料,能够使用具有良好的绝缘性的合成树脂材料。而且,作为绝缘性材料,能够使用滑动性良好的树脂材料或可切削陶瓷、特氟纶(注册商标)等。
插通孔61、71通过实施对成为母材的绝缘性材料进行钻孔加工、蚀刻、冲孔成形的任一种,或使用激光、电子射线、离子射线、线电极电火花等任一种的加工而形成。
此外,第一保持器部件6的板厚与第二保持器部件7的板厚之比能够根据收容的接触式探头1的形状等而适当设定。
根据以上说明的本发明的一实施方式,由于在与连接对象接触的部分适用贵金属合金,而在其内周或外周适用比贵金属合金廉价的导电性材料,因此能够提供一种耐久性优良且经济的电接点部件及接触式探头。
到此为止,说明了用于实施本发明的最佳方式,但本发明并未限定为所述实施方式。例如,本发明能够适用作为上述以外的电接点部件。图4是示出本发明的另一实施方式的电接点部件即继电器接点的结构的图。图5是图4的纵剖视图。图4及图5所示的继电器接点8具备:中空圆盘状的底座部81;填充底座部81的中空部且一端从中空部突出的圆筒状的突起部82。突起部82由贵金属合金形成,而底座部81由与贵金属合金不同的导电性材料(优选比贵金属合金廉价的导电性材料)形成。根据具有以上结构的继电器接点8,与上述的第一柱塞2或第二柱塞3同样地,能够得到耐久性优良且经济的效果。
如此,本发明也包含未记载于此的各种实施方式等,在不脱离权利要求书的范围所限定的技术思想的范围内能够实施各种设计变更等。
工业实用性
本发明在构成电气回路的电接点方面有用,尤其适用于构成进行半导体集成电路等的电特性检查的装置中的电接点。
符号说明:
1接触式探头
2第一柱塞
2a、3a前端部
2b、3b凸缘部
2c、3c凸起部
2d、3d基端部
3第二柱塞
4弹簧部件
4a密卷绕部
4b疏卷绕部
5探头保持器
6第一保持器部件
7第二保持器部件
8继电器接点
21、31外周部
22、32芯部
61、71插通孔
61a、71a小径部
61b、71b大径部
81底座部
82突起部
100半导体集成电路
101、201连接用电极
200电路基板

Claims (3)

1.一种电接点部件,其特征在于,具备:
相对于长度方向的中心轴成为对称的形状且具有中空部的外周部;
以大致棒状向所述长度方向延伸并填充所述中空部的芯部,
所述外周部及所述芯部的一方由贵金属合金形成,另一方由与所述贵金属合金不同的导电性材料形成。
2.根据权利要求1所述的电接点部件,其特征在于,
由所述贵金属合金构成的所述外周部及所述芯部的一方在所述长度方向的一端部比另一方突出。
3.一种接触式探头,其特征在于,具备:
第一及第二电接点部件,它们分别具备相对于长度方向的中心轴成为对称的形状且具有中空部的外周部、和以大致棒状向所述长度方向延伸且填充所述中空部的芯部;
弹簧部件,其由向轴线方向伸缩自如的导电性材料形成,在所述轴线方向的两端部分别安装所述第一及第二电接点部件,
在所述第一及第二电接点部件的各自的所述长度方向的端部中的与所述弹簧部件未连结的一侧的端部,所述外周部及所述芯部的一方比另一方突出,该突出的所述外周部及所述芯部的一方由贵金属合金形成,另一方由与所述贵金属合金不同的导电性材料形成。
CN2009801308394A 2008-08-08 2009-08-10 电接点部件及接触式探头 Pending CN102112885A (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008206238 2008-08-08
JP2008-206238 2008-08-08
PCT/JP2009/064140 WO2010016608A1 (ja) 2008-08-08 2009-08-10 電気接点部材およびコンタクトプローブ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN102112885A true CN102112885A (zh) 2011-06-29

Family

ID=41663816

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2009801308394A Pending CN102112885A (zh) 2008-08-08 2009-08-10 电接点部件及接触式探头

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20110128025A1 (zh)
EP (1) EP2322943A4 (zh)
JP (1) JPWO2010016608A1 (zh)
KR (1) KR101235228B1 (zh)
CN (1) CN102112885A (zh)
WO (1) WO2010016608A1 (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104300251A (zh) * 2013-11-20 2015-01-21 中航光电科技股份有限公司 一种板间射频连接器
CN104891134A (zh) * 2015-06-05 2015-09-09 胡和萍 一种砂石传送带手动式弹性接触开关
CN106321068A (zh) * 2016-09-05 2017-01-11 中海石油(中国)有限公司 一种井下油套管地面检测传感器推送装置

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011180034A (ja) * 2010-03-02 2011-09-15 Citizen Tohoku Kk コンタクトプローブ用プランジャー
KR101154519B1 (ko) * 2010-05-27 2012-06-13 하이콘 주식회사 스프링 콘택트 구조
KR101415722B1 (ko) 2010-06-25 2014-07-25 니혼 하츠쵸 가부시키가이샤 콘택트 프로브 및 프로브 유닛
TWI442055B (zh) * 2010-07-05 2014-06-21 Nhk Spring Co Ltd 車床加工用構件、針狀構件及接觸探針
KR102016427B1 (ko) 2013-09-10 2019-09-02 삼성전자주식회사 포고 핀 및 이를 포함하는 프로브 카드
KR101869211B1 (ko) * 2014-08-08 2018-06-19 니혼 하츠쵸 가부시키가이샤 접속 단자
US10598696B2 (en) 2016-03-28 2020-03-24 Intel Corporation Probe pins with etched tips for electrical die test
KR102580832B1 (ko) * 2018-09-03 2023-09-20 삼성전기주식회사 컨택트 구조체 및 이를 포함하는 기판 홀더
KR102202827B1 (ko) * 2020-10-27 2021-01-14 (주) 네스텍코리아 프로브 핀 및 이를 적용한 동축 프로브 조립체

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10319039A (ja) * 1997-05-19 1998-12-04 Toshiba Corp プローブ用垂直ニードル、垂直ニードル型プローブおよびそれに用いられる複合細線
US20030102877A1 (en) * 2001-09-24 2003-06-05 Souza Theresa R. Electrical test probes and methods of making the same
WO2008084627A1 (ja) * 2006-12-19 2008-07-17 Nhk Spring Co., Ltd. 導電性接触子ユニット

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3024320A1 (de) * 1980-06-27 1982-04-01 Wacker-Chemitronic Gesellschaft für Elektronik-Grundstoffe mbH, 8263 Burghausen Vorrichtung zur hochtemperaturbehandlung von gasen
JPS5911386B2 (ja) * 1981-11-09 1984-03-15 株式会社中島銅工所 半田用チツプの製造方法
US5906799A (en) * 1992-06-01 1999-05-25 Hemlock Semiconductor Corporation Chlorosilane and hydrogen reactor
DE69533336T2 (de) * 1994-11-15 2005-01-13 Formfactor, Inc., Livermore Testkarte und ihre anwendung
JPH10332740A (ja) * 1997-06-04 1998-12-18 Toshiba Corp プローブ針、プローブカードおよびプローブ針の製造方法
US6396293B1 (en) * 1999-02-18 2002-05-28 Delaware Capital Formation, Inc. Self-closing spring probe
JP3745184B2 (ja) * 1999-03-25 2006-02-15 株式会社東京カソード研究所 プローブカード用探針及びその製造方法
JP2001033480A (ja) 1999-07-26 2001-02-09 Rohm Co Ltd 接触型プローブ装置
JP3742742B2 (ja) * 2000-03-15 2006-02-08 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット
JP2001337110A (ja) * 2000-05-29 2001-12-07 Bureijingu:Kk プローブピンおよびプローブカード
US20040173597A1 (en) * 2003-03-03 2004-09-09 Manoj Agrawal Apparatus for contacting gases at high temperature
JP2004279283A (ja) * 2003-03-18 2004-10-07 Kanai Hiroaki プローブ針およびプローブ針用線材ならびにプローブ針用線材の製造方法
JP4695337B2 (ja) * 2004-02-04 2011-06-08 日本発條株式会社 導電性接触子および導電性接触子ユニット
KR20050087300A (ko) * 2004-02-26 2005-08-31 (주)티에스이 반도체 패키지용 테스트 소켓
WO2006007440A1 (en) * 2004-06-16 2006-01-19 Rika Denshi America, Inc. Electrical test probes, methods of making, and methods of using
JPWO2006064546A1 (ja) * 2004-12-14 2008-06-12 株式会社アドバンテスト コンタクトピン、それを用いたプローブカード及び電子部品試験装置
US7248065B2 (en) * 2005-04-22 2007-07-24 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Arcuate blade probe
JP5428146B2 (ja) * 2006-10-31 2014-02-26 三菱マテリアル株式会社 トリクロロシラン製造装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10319039A (ja) * 1997-05-19 1998-12-04 Toshiba Corp プローブ用垂直ニードル、垂直ニードル型プローブおよびそれに用いられる複合細線
US20030102877A1 (en) * 2001-09-24 2003-06-05 Souza Theresa R. Electrical test probes and methods of making the same
WO2008084627A1 (ja) * 2006-12-19 2008-07-17 Nhk Spring Co., Ltd. 導電性接触子ユニット

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104300251A (zh) * 2013-11-20 2015-01-21 中航光电科技股份有限公司 一种板间射频连接器
CN104300251B (zh) * 2013-11-20 2017-09-22 中航光电科技股份有限公司 一种板间射频连接器
CN104891134A (zh) * 2015-06-05 2015-09-09 胡和萍 一种砂石传送带手动式弹性接触开关
CN106321068A (zh) * 2016-09-05 2017-01-11 中海石油(中国)有限公司 一种井下油套管地面检测传感器推送装置
CN106321068B (zh) * 2016-09-05 2019-10-11 中海石油(中国)有限公司 一种井下油套管地面检测传感器推送装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP2322943A4 (en) 2014-06-25
KR20110039392A (ko) 2011-04-15
EP2322943A1 (en) 2011-05-18
WO2010016608A1 (ja) 2010-02-11
US20110128025A1 (en) 2011-06-02
JPWO2010016608A1 (ja) 2012-01-26
KR101235228B1 (ko) 2013-02-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102112885A (zh) 电接点部件及接触式探头
JP5861423B2 (ja) コンタクトプローブ及びそれを備えた半導体素子用ソケット
US9435827B2 (en) Probe-connection-type pogo pin and manufacturing method thereof
EP1795906B1 (en) Microcontactor probe
US8610447B2 (en) Spring structure and test socket using thereof
CN103575939A (zh) 检查用工具以及接触器
US10611139B2 (en) Method for producing at least one spring contact pin or a spring contact pin arrangement, and corresponding devices
US20130099813A1 (en) Contact terminal for a probe card, and the probe card
JP6103821B2 (ja) 通電試験用プローブ
KR20040017250A (ko) 전도성 접촉자
JP4916719B2 (ja) コンタクトプローブおよびコンタクトプローブの実装構造
JP2016015224A (ja) コネクタ
KR20080027182A (ko) 접속 장치
JP2006284292A (ja) コンタクトプローブ構造体
JP2011180034A (ja) コンタクトプローブ用プランジャー
JP5926587B2 (ja) 電気接触子及び電気部品用ソケット
JP2006284297A (ja) コンタクトプローブ構造体の製造方法
JP2007147518A (ja) 電極子装置
CN108140970B (zh) 电触头以及电气部件用插座
JP2006010588A (ja) コンタクトプローブおよびその製造方法
WO2024014231A1 (ja) プローブ装置
US20240085458A1 (en) Probe joint and spring probe comprising the same
KR20230146795A (ko) 검사장치용 프로브 핀
JP2015161603A (ja) コンタクトピン
JP2020095861A (ja) 接点構造、接点構造の製造方法、中間生成物及び電気機器

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C12 Rejection of a patent application after its publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20110629