CN101908535A - 集成电感及其制造方法 - Google Patents

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CN101908535A CN201010198432XA CN201010198432A CN101908535A CN 101908535 A CN101908535 A CN 101908535A CN 201010198432X A CN201010198432X A CN 201010198432XA CN 201010198432 A CN201010198432 A CN 201010198432A CN 101908535 A CN101908535 A CN 101908535A
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许丹
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Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corp
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Abstract

本发明提供一种集成电感及其制造方法,所述集成电感上置于半导体衬底上,包括由一根导电线缠绕而成的多层线圈,所述导电线的宽度相等或者呈等差、等比数列的规律变化,所述多层线圈之间形成的间隙宽度相等或者呈等差、等比数列的规律变化,所述导电线为铝、铜或者导电的硅化物。所述半导体衬底包括:背衬底;在所述背衬底表面上形成的绝缘层;在所述绝缘层上形成的半导体层;在所述半导体层内形成的沟槽氧化物。与现有技术相比,本发明的集成电感以半导体为衬底,使得所述集成电感与衬底之间不再含有导电的金属线,并去除对应所述集成电感位置的背衬底,消除了各种干扰集成电感的因素,从而提高了集成电感的Q值。

Description

集成电感及其制造方法
技术领域
本发明涉及一种集成电感及其制造方法,具体的,涉及一种集成电感及其制造方法。
背景技术
电感在电路中具有广泛的应用,尤其在射频集成电路中,电感是一种关键元件,也是集成电路中最难设计和掌握的元件之一,它的性能参数直接影响着电路的性能。
随着集成电路的高速发展,集成在SOC(system on chip:片上系统)的电感已经变成现实,它具有成本低、噪声小和功耗低的优点。但是,一片复杂的SOC往往会集成各种各样器件,对于集成在SOC中的集成电感来说,如果位于集成电感下方的衬底还集成有金属,则该金属以及衬底产生的寄生电容、寄生电阻以及金属本身都将会对集成电感造成干扰,从而降低所述集成电感的Q值(品质因数)。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:提供一种集成电感及其制造方法,提高集成电感的Q值。
为了实现本发明目的,本发明提供一种集成电感,所述集成电感上置于半导体衬底上,包括由一根导电线缠绕而成的多层线圈。
所述导电线的宽度相等或者呈等差、等比数列的规律变化。
所述多层线圈之间形成的间隙宽度相等或者呈等差、等比数列的规律变化。
所述导电线为铝、铜或者导电的硅化物。
所述半导体衬底包括:
背衬底;
在所述背衬底表面上形成的绝缘层;
在所述绝缘层上形成的半导体层;
在所述半导体层内形成的沟槽氧化物。
所述背衬底以及半导体层为硅。
所述绝缘层为氧化层。
所述氧化层为二氧化硅。
本发明还提供一种如上所述集成电感的制造方法,包括步骤:
在晶圆上形成背衬底;
在所述背衬底的表面上形成绝缘层;
在所述绝缘层上形成半导体层;
在所述半导体层上形成沟槽;
在所述沟槽内沉积形成沟槽氧化物;
在所述沟槽氧化物表面上沉积金属层;
刻蚀部分金属层,使剩余部分金属层形成所述集成电感;
去除对应所述集成电感位置的背衬底,形成凹槽,在所述凹槽内填充绝缘材料。
与现有技术相比,本发明的集成电感以半导体为衬底,使得所述集成电感与衬底之间不再含有导电的金属线,并去除对应所述集成电感位置的背衬底,消除了各种干扰集成电感的因素,从而提高了集成电感的Q值。
附图说明
图1为本发明集成电感的结构示意图。
具体实施方式
为了更清楚了解本发明的技术内容,特举具体实施例并配合所附图式说明如下。
本实施例中的集成电感上置于半导体衬底上,包括由一根导电线缠绕而成的多层线圈,根据实际产品的应用需要,所述导电线的宽度可以设计成相等或者呈等差、等比数列的规律变化。在所述多层线圈之间形成的间隙宽度也可以设计成相等或者呈等差、等比数列的规律变化。所述导电线可以由铝、铜或者导电的硅化物形成。
请参阅图1,图1为所述集成电感的截面示意图。所述集成电感5置于半导体衬底上,所述半导体衬底包括:背衬底6;在所述背衬底6表面上形成的绝缘层2;在所述绝缘层2上形成的半导体层3;在所述半导体层3内形成的沟槽氧化物4。
所述背衬底6以及半导体层3为硅,所述绝缘层2为氧化层,优选为二氧化硅。
制造所述集成电感的步骤如下:
在晶圆上形成背衬底6;
在所述背衬底6的表面上形成绝缘层2;
在所述绝缘层2上形成半导体层3;
在所述半导体层3上形成沟槽4;
在所述沟槽4内沉积形成沟槽氧化物,该沟槽氧化物为绝缘材料;
在所述沟槽氧化物表面上沉积金属层;
刻蚀部分金属层,使剩余部分金属层形成所述集成电感5;
去除对应所述集成电感位置的背衬底6,形成凹槽1,在所述凹槽内填充绝缘材料,比如硅的氧化物或者硅的氮化物等均可。
本实施例的集成电感5以半导体为衬底,使得所述集成电感5与半导体衬底之间不再含有导电的金属线,并去除对应所述集成电感位置的背衬底,消除了各种干扰集成电感的因素,从而提高了集成电感的Q值。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解,本发明不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理,在不脱离本发明精神和范围的前提下本发明还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围内。本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。

Claims (9)

1.一种集成电感,其特征在于:所述集成电感上置于半导体衬底上,包括由一根导电线缠绕而成的多层线圈。
2.如权利要求1所述的集成电感,其特征在于:所述导电线的宽度相等或者呈等差、等比数列的规律变化。
3.如权利要求2所述的集成电感,其特征在于:所述多层线圈之间形成的间隙宽度相等或者呈等差、等比数列的规律变化。
4.如权利要求1所述的集成电感,其特征在于:所述导电线为铝、铜或者导电的硅化物。
5.如权利要求1所述的集成电感,其特征在于:所述半导体衬底包括:
背衬底;
在所述背衬底表面上形成的绝缘层;
在所述绝缘层上形成的半导体层;
在所述半导体层内形成的沟槽氧化物。
6.如权利要求5所述的集成电感,其特征在于:所述背衬底以及半导体层为硅。
7.如权利要求5所述的集成电感,其特征在于:所述绝缘层为氧化层。
8.如权利要求7所述的集成电感,其特征在于:所述氧化层为二氧化硅。
9.一种如权利要求1所述集成电感的制造方法,其特征在于,包括步骤:
在晶圆上形成背衬底;
在所述背衬底的表面上形成绝缘层;
在所述绝缘层上形成半导体层;
在所述半导体层上形成沟槽;
在所述沟槽内沉积形成沟槽氧化物;
在所述沟槽氧化物表面上沉积金属层;
刻蚀部分金属层,使剩余部分金属层形成所述集成电感;
去除对应所述集成电感位置的背衬底,形成凹槽,在所述凹槽内填充绝缘材料。
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