CN101885606B - 压电铁电薄膜的制备方法 - Google Patents

压电铁电薄膜的制备方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101885606B
CN101885606B CN201010235315.6A CN201010235315A CN101885606B CN 101885606 B CN101885606 B CN 101885606B CN 201010235315 A CN201010235315 A CN 201010235315A CN 101885606 B CN101885606 B CN 101885606B
Authority
CN
China
Prior art keywords
substrate
thin film
pzt
minutes
piezoelectric
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201010235315.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101885606A (zh
Inventor
郑慈航
唐刚
刘景全
李倩倩
尹桂林
余震
何丹农
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Jiaotong University
Shanghai National Engineering Research Center for Nanotechnology Co Ltd
Original Assignee
Shanghai Jiaotong University
Shanghai National Engineering Research Center for Nanotechnology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Jiaotong University, Shanghai National Engineering Research Center for Nanotechnology Co Ltd filed Critical Shanghai Jiaotong University
Priority to CN201010235315.6A priority Critical patent/CN101885606B/zh
Publication of CN101885606A publication Critical patent/CN101885606A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101885606B publication Critical patent/CN101885606B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)
  • Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)

Abstract

一种锆钛酸铅系陶瓷制备技术领域的压电铁电薄膜的制备方法,通过配制前驱体溶液、利用PLD法制备衬底以及利用Sol-Gel法在PZT结晶种子层上制备压电铁电薄膜实现。本发明利用PLD和Sol-Gel相结合的方法制备的PZT厚膜,对不同的基片适用性强;制备的PZT厚膜具有高度择优取向且晶粒大小均匀、结构致密的突出优点,可制备出3-6微米厚的锆钛酸铅薄膜,剩余极化值Pr为25~45μC/cm2,矫顽场Ec为40~65kV/cm。同时,本发明方法实现成本相对低廉;且该发明程序可控性强,具有很高的工业化运用的价值。

Description

压电铁电薄膜的制备方法
技术领域
本发明涉及的是一种锆钛酸铅系陶瓷制备技术领域的方法,具体是一种压电铁电薄膜的制备方法。
背景技术
锆钛酸铅(PbZrxTi1-xO3,简称PZT)薄膜具备钙钛矿型结构,因其优异的介电、铁电和压电特性,在微电子技术中得到广泛的应用。在实际的工程运用中,不同的使用目的对薄膜的厚度有不同的需求:作为电容制作非挥发性动态随机存储器(FRAM)时,要求薄膜厚度小于0.2微米,以减小开关电压;作为压电材料制作微型机电系统(MEMS)时,为取得足够的传感灵敏度或较大的驱动力,则要求薄膜具备较大的厚度(2微米~10微米)。
制备PZT薄膜的方法主要有化学沉积和物理沉积两类;目前使用的具体的制备方法有:溶胶-凝胶法(Sol-Gel),脉冲激光沉积法(PLD),金属有机化学气相沉积法(MOCVD),丝网印刷法,磁控溅射法(Magnetron Sputtering)等,而在诸多的方法中,以前两种最为普及。
Sol-Gel法是将Pb、Zr、Ti的醇盐、有机盐或无机盐在合适的溶剂中溶解,通过控制水解、聚合等一系列反应形成前驱体溶胶,并采用旋涂法或提拉法使之均匀地涂布在基片上,随后经过热解和退火处理,即得PZT薄膜。使用该方法制备的薄膜具有高度的均匀性,且易于调整组分,同时由于设备简单、成本低,适于产业化生产。但该方法制备的薄膜的结构和晶粒的生长受基片影响较大,致密性往往不够理想,在热解及退火过程中容易出现龟裂现象。
PLD(Pulsed Laser Position)法是利用高功率的脉冲准激光器(一般选用XeCl激光器)所产生的高强度激光束聚焦于金属靶(在转动靶平面上配制适当比例的Pb、Zr、Ti金属靶)或者粉末压制及烧结的PZT靶表面,使靶材表面产生高温及熔蚀,形成羽辉状等离子体,在氧气气氛下沉积于加热的基片上形成薄膜。采用溅射法制备的薄膜外延性好,结构致密,具备良好的电学性能,但沉积速度较慢(<10nm/min),成本高,在厚膜制备(>3微米)中受到限制。
发明内容
本发明针对现有技术存在的上述不足,提供一种压电铁电薄膜的制备方法,制备得到提供具有高度择优取向且结构致密的锆钛酸铅(PZT)厚膜。
本发明是通过以下技术方案实现,本发明包括以下步骤:
第一步、配制前驱体溶液:通过将三水醋酸铅晶体溶解于乙二醇甲醚,同时将钛酸四丁酯和硝酸锆依次溶解于乙二醇甲醚和乙酰丙酮并与上述三水醋酸铅-乙二醇甲醚溶液混合后实现前驱体溶液的配置,具体步骤如下:
1.1)称取三水醋酸铅晶体,加入乙二醇甲醚中,加热溶解后在120℃下回流一个小时;
1.2)将钛酸四丁酯,加入乙二醇甲醚和乙酰丙酮,在80℃、超声振荡的条件下放置20分钟,使之均匀混合;然后将硝酸锆加入到上述钛酸四丁酯-乙二醇甲醚-乙酰丙酮溶液中,均匀搅拌5分钟;将混合溶液在80℃、超声振荡的条件下放置20分钟,使之均匀混合;
1.3)将步骤1.1)和步骤1.2)所得溶液相混合后置于80℃、超声振荡的条件下放置30分钟,使之均匀混合,然后以醋酸作为催化剂滴定至pH值为2.7~3.0,然后重新置于80℃下进行搅拌,搅拌速度为220~280rpm,搅拌时间为4~6小时。
1.4)向步骤1.3)所得溶液中补充乙二醇甲醚,使得乙二醇甲醚的浓度达到0.4~0.8mol/L,然后进行冷却静置密封,在室温下老化40~80个小时。
所述的前驱体溶液中:乙二醇甲醚(CH3OC2H4OH)为溶剂,体积比为15∶1的乙酰丙酮(CH3COCH2COCH3)为稳定剂,醋酸铅、硝酸锆以及钛酸四丁酯为溶质。
所述的前驱体溶液中金属离子摩尔浓度比为Pb∶Zr∶Ti=为X∶Y∶1-Y,其中:1.1<X<1.15,0.2<Y<0.8。
第二步、制备衬底:在清洗后的基片上用PLD法制备PZT结晶种子层;
所述的清洗是指:依次用三氯乙烯、分析纯丙酮、分析纯酒精和蒸馏水在超声清洗仪中对基片进行清洗,每道清洗流程保持3分钟以上,然后将基片置于干燥箱中180℃条件下放置24小时。
所述的PLD法具体步骤如下:首先安放由PZT粉末压制烧结而成的PZT靶材,然后将真空室抽真空至10-3~10-4pa,再以1∶1的比例充入Ar和O2,并控制真空室内压强达65~80Pa,启动加热器,将基片温度升高并保持在650℃,选用XeCl激光器,调节激光脉冲功率为1.2~1.4×108W/cm2,脉冲频率为5~10HZ,调节基片旋转的频率与激光脉冲相配合,使等离子体羽辉能够均匀得沉积在基片上,经过1小时~1.5小时的沉积,获得0.4~0.6微米厚的PZT薄膜,沉积完毕后在650℃下保温15~20分钟,随炉冷却到室温。
第三步、制备PZT厚膜:利用Sol-Gel法在PZT结晶种子层上制备压电铁电薄膜,具体步骤包括:
3.1)将第一步得到的前驱体溶液滴到第二步得到的PZT结晶种子层上,直至铺满衬底;
3.2)通过两步法将前驱体溶液均匀甩开:首先在800~1000rmp下旋涂5~10秒,然后在2500~3000rmp下旋涂20~25秒;
3.3)采用三步式加热方法,将前驱体溶液中的金属前驱体固定于PZT结晶种子层上:首先将基片在100℃下保温3~4分钟,使溶剂挥发;然后将基片在350℃下保温4~6分钟,使溶胶进行热解;最后将基片在680℃下保温5~6分钟,进行预退火处理;重复步骤3.3)8~12遍。
3.4)将基片在快速热反应炉中进行退火处理,在氧气气氛下退火30~45分钟,退火温度为650~700℃;退火后随炉冷却,即得压电铁电薄膜。
通过上述方法制备得到的压电铁电薄膜的分子式为PbZryTi1-yO3,其中:0.2≤y≤0.8。
本发明利用PLD和Sol-Gel相结合的方法制备的PZT厚膜,解决了PZT厚膜结构致密性与厚度难以兼得的问题:一方面,前驱体溶液在PZT结晶种子层上可以顺利结晶,对不同的基片适用性强;另一方面,所制备的PZT厚膜具有高度择优取向且晶粒大小均匀、结构致密的突出优点。本发明可制备出3-6微米厚的锆钛酸铅薄膜,剩余极化值Pr为25~45μC/cm2,矫顽场Ec为40~65kV/cm。
此外,制备Sol-Gel前驱体溶液的配料均为国产试剂,成本相对低廉;且该发明程序可控性强,具有很高的工业化运用的价值。
附图说明
图1是实施例1制备得到的锆钛酸铅薄膜的表面微观形貌图。
图2是实施例1制备得到的锆钛酸铅薄膜的X射线衍射图。
具体实施方式
下面对本发明的实施例作详细说明,本实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施,给出了详细的实施方式和具体的操作过程,但本发明的保护范围不限于下述的实施例。
实施例一
第一步、配制80ml,浓度为0.5mol/L的PZT(PbZr0.53Ti0.47O3)前驱体溶液:称取17.449克(0.046mol)的三水醋酸铅晶体,加入50ml乙二醇甲醚中,加热,使之完全溶解,随后在120℃下回流一个小时;取6.475ml(0.019mol)的纯钛酸四丁酯,加入50ml乙二醇甲醚和6ml乙酰丙酮,在80℃、超声振荡的条件下放置20分钟,使之均匀混合;称取9.101克(0.021mol)的硝酸锆,加入到上述的溶液中,均匀搅拌5分钟;将混合溶液在80℃、超声振荡的条件下放置20分钟,使之均匀混合;将上述的两种溶液混合;将混合溶液在80℃、超声振荡的条件下放置30分钟,使之均匀混合;之后利用醋酸滴定,使PH值为2.8;将上述溶液在80℃下进行搅拌,搅拌速度为240rpm,搅拌时间为4小时;添加约20ml乙二醇甲醚,使溶液总量为80ml左右,这时前驱体溶液浓度约为0.5mol/L;冷却,静置密封,在自然条件下老化40个小时;
第二步、衬底准备:选用Pt/Ti/SiO2/Si基片;先后用三氯乙烯、分析纯丙酮、分析纯酒精和蒸馏水在超声清洗仪中对基片进行3分钟的超声清洗;在干燥箱中180℃条件下放置24小时;利用PLD法制备厚约0.5微米的PZT结晶种子层,放置由PZT粉末压制烧结而成的PZT靶材;将真空室抽真空至10-3pa;随后以1∶1的比例充入Ar和2,并控制真空室内压强达80Pa;启动加热器,将基片温度升高并保持在650℃;选用XeCl激光器,调节激光脉冲功率为1.25×108W/cm2,脉冲频率为6HZ;调节基片旋转的频率与激光脉冲相配合,使等离子体羽辉能够均匀得沉积在基片上;经过70分钟的沉积,获得0.5微米厚的PZT薄膜;沉积完毕后在650℃下保温20分钟,随炉冷却到室温;
第三步、利用Sol-Gel法制备PZT厚膜:将上述1配制好的前驱体溶液滴到PZT种子层衬底上,任其自然流动,直至铺满衬底;利用匀胶机将溶液均匀甩开;甩胶分两档,第一档在1000rmp下旋涂5秒,第二档在3000rmp下旋涂20秒;将基片在100℃下保温3分钟,使溶剂挥发;将基片在350℃下保温4分钟,使溶胶进行热解;将基片在680℃下保温5分钟,进行预退火处理;重复上述升温步骤8遍;将基片在快速热反应炉中进行退火处理,在氧气气氛下退火30分钟,退火温度为680℃;随炉冷却,即得PZT厚膜,厚度约3微米,其中PLD制备的种子层约0.5微米。经测量,剩余极化值Pr为28μC/cm2,矫顽场Ec为47kV/cm。
如图1所示,为本实施例制备得到的高度(111)取向的锆钛酸铅薄膜的表面微观形貌图,如图2所示,为本实施例制备得到的高度(111)取向的锆钛酸铅薄膜的X射线衍射图,可见锆钛酸铅薄膜晶粒结构致密,取向排列具有很好的一致性。
实施例二
配制80ml,浓度为0.7mol/L的PZT(PbZr0.53Ti0.47O3)前驱体溶液:称取24.429克(0.064mol)的三水醋酸铅晶体,加入50ml乙二醇甲醚中,加热,使之完全溶解,随后在120℃下回流一个小时;取9.066ml(0.026mol)的纯钛酸四丁酯,加入50ml乙二醇甲醚和6ml乙酰丙酮,在80℃、超声振荡的条件下放置20分钟,使之均匀混合;称取12.742克(0.030mol)的硝酸锆,加入到上述的溶液中,均匀搅拌5分钟;前驱体溶液中金属离子摩尔浓度比为Pb∶Zr∶Ti=1.15/0.53/0.47;将混合溶液在80℃、超声振荡的条件下放置20分钟,使之均匀混合;用CH3COOH滴定,使PH值为2.7;搅拌速度为260rpm,搅拌时间为6小时;自然老化时间为60小时;其余同实施例一。即可得约4微米厚的PbZr0.53Ti0.47O3铁电薄膜,其中PLD制备的种子层约0.5微米。经测量,剩余极化值Pr为30μC/cm2,矫顽场Ec为48kV/cm。
实施例三
配制80ml,浓度为0.5mol/L的PZT(PbZr0.3Ti0.7O3)前驱体溶液:称取17.449克(0.046mol)的三水醋酸铅晶体,加入50ml乙二醇甲醚中,加热,使之完全溶解,随后在120℃下回流一个小时;取9.644ml(0.028mol)的纯钛酸四丁酯,加入50ml乙二醇甲醚和6ml乙酰丙酮,在80℃、超声振荡的条件下放置20分钟,使之均匀混合;称取5.151克(0.012mol)的硝酸锆,加入到上述的溶液中,均匀搅拌5分钟;前驱体溶液中金属离子摩尔浓度比为Pb∶Zr∶Ti=1.15/0.3/0.7;将混合溶液在80℃、超声振荡的条件下放置20分钟,使之均匀混合;其余同实施例一。即可得3微米厚的PbZr0.3Ti0.7O3铁电薄膜,其中PLD制备的种子层约0.5微米。经测量,剩余极化值Pr为35μC/cm2,矫顽场Ec为52kV/cm。
实施例四
如实施例一第一步配制80ml,浓度为0.5mol/L的PZT(PbZr0.53Ti0.47O3)前驱体溶液;将真空室抽真空至10-4pa;随后以1∶1的比例充入Ar和O2,并控制真空室内压强达75Pa;其余同实施例一。即可得3微米厚的PbZr0.53Ti0.47O3铁电薄膜,其中PLD制备的种子层约0.5微米。
实施例五
如实施例一第一步配制80ml,浓度为0.5mol/L的PZT(PbZr0.53Ti0.47O3)前驱体溶液;将真空室抽真空至10-4pa;随后以1∶1的比例充入Ar和O2,并控制真空室内压强达80Pa;选用XeCl激光器,调节激光脉冲功率为1.3×108W/cm2,脉冲频率为8HZ;其余同实施例一。即可得3微米厚的PbZr0.53Ti0.47O3铁电薄膜,其中PLD制备的种子层约0.6微米。
实施例六
如实施例一第一步配制80ml,浓度为0.5mol/L的PZT(PbZr0.53Ti0.47O3)前驱体溶液;将真空室抽真空至10-4pa;随后以1∶1的比例充入Ar和O2,并控制真空室内压强达75Pa;选用XeCl激光器,调节激光脉冲功率为1.2×108W/cm2,脉冲频率为10HZ;其余同实施例一。即可得3微米厚的PbZr0.53Ti0.47O3铁电薄膜,其中PLD制备的种子层约0.6微米。
实施例七
如实施例一第一步配制80ml,浓度为0.5mol/L的PZT(PbZr0.53Ti0.47O3)前驱体溶液;将真空室抽真空至10-4pa;随后以1∶1的比例充入Ar和O2,并控制真空室内压强达80Pa;选用XeCl激光器,调节激光脉冲功率为1.2×108W/cm2,脉冲频率为10HZ;经过80分钟的沉积;其余同实施例一。即可得3微米厚的PbZr0.53Ti0.47O3铁电薄膜,其中PLD制备的种子层约0.5微米。
实施例八
如实施例一第一步配制80ml,浓度为0.5mol/L的PZT(PbZr0.53Ti0.47O3)前驱体溶液;采用(100)取向的SiTiO3衬底作为基片;将真空室抽真空至10-4pa;随后以1∶1的比例充入Ar和O2,并控制真空室内压强达80Pa;选用XeCl激光器,调节激光脉冲功率为1.2×108W/cm2,脉冲频率为10HZ;经过80分钟的沉积;其余同实施例一。即可得3微米厚的PbZr0.53Ti0.47O3铁电薄膜,其中PLD制备的种子层约0.5微米。
实施例九
如实施例一第一步配制80ml,浓度为0.5mol/L的PZT(PbZr0.53Ti0.47O3)前驱体溶液;采用(100)取向的硅基衬底作为基片;将真空室抽真空至10-4pa;随后以1∶1的比例充入Ar和O2,并控制真空室内压强达80Pa;选用XeCl激光器,调节激光脉冲功率为1.25×108W/cm2,脉冲频率为10HZ;经过90分钟的沉积;其余同实施例一。即可得3微米厚的PbZr0.53Ti0.47O3铁电薄膜,其中PLD制备的种子层约0.6微米。
实施例十
如实施例一第一步配制80ml,浓度为0.5mol/L的PZT(PbZr0.53Ti0.47O3)前驱体溶液;将上述1配制好的前驱体溶液滴到PZT种子层衬底上,任其自然流动,直至铺满衬底;利用匀胶机将溶液均匀甩开;甩胶分两档,第一档在800rmp下旋涂5秒,第二档在2500rmp下旋涂25秒;将基片先后在100℃、350℃、680℃下分别保温4分钟、4分钟、5分钟;其余同实施例一。即可得3微米厚的PbZr0.53Ti0.47O3铁电薄膜,其中PLD制备的种子层约0.5微米。
实施例十一
如实施例一第一步配制80ml,浓度为0.5mol/L的PZT(PbZr0.53Ti0.47O3)前驱体溶液;将上述1配制好的前驱体溶液滴到PZT种子层衬底上,任其自然流动,直至铺满衬底;利用匀胶机将溶液均匀甩开;甩胶分两档,第一档在1000rmp下旋涂8秒,第二档在2700rmp下旋涂25秒;将基片先后在100℃、350℃、680℃下分别保温4分钟、5分钟、6分钟;重复甩胶12遍;其余同实施例一。即可得5微米厚的PbZr0.53Ti0.47O3铁电薄膜,其中PLD制备的种子层约0.5微米。
实施例十二
将经过种子层制备及甩胶的基片在快速热反应炉中进行退火处理,在氧气气氛下退火45分钟,退火温度为650℃;其余同实施例一。即可得3微米厚的PbZr0.53Ti0.47O3铁电薄膜,其中PLD制备的种子层约0.5微米。

Claims (6)

1.一种压电铁电薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤: 
第一步、配制前驱体溶液:通过将三水醋酸铅晶体溶解于乙二醇甲醚,同时将钛酸四丁酯和硝酸锆依次溶解于乙二醇甲醚和乙酰丙酮并与上述三水醋酸铅-乙二醇甲醚溶液混合后实现前驱体溶液的配置; 
第二步、制备衬底:在清洗后的基片上用PLD法制备PZT结晶种子层; 
第三步、制备PZT厚膜:利用Sol-Gel法在PZT结晶种子层上制备压电铁电薄膜; 
所述的PLD法具体步骤如下:首先安放由PZT粉末压制烧结而成的PZT靶材,然后将真空室抽真空至10-3~10-4Pa,再以1:1的比例充入Ar和O2,并控制真空室内压强达65~80Pa,启动加热器,将基片温度升高并保持在650℃,选用XeCl激光器,调节激光脉冲功率为1.2~1.4×108W/cm2,脉冲频率为5~10Hz,调节基片旋转的频率与激光脉冲相配合,使等离子体羽辉能够均匀地沉积在基片上,经1小时~1.5小时的沉积,获得0.4~0.6微米厚的PZT薄膜,沉积完毕后在650℃下保温15~20分钟,随炉冷却到室温。 
2.根据权利要求1所述的压电铁电薄膜的制备方法,其特征是,所述的第一步具体包括以下步骤: 
1.1)称取三水醋酸铅晶体,加入乙二醇甲醚中,加热溶解后在120℃下回流一个小时; 
1.2)将钛酸四丁酯,加入乙二醇甲醚和乙酰丙酮,在80℃、超声振荡的条件下放置20分钟,使之均匀混合;然后将硝酸锆加入到上述钛酸四丁酯-乙二醇甲醚-乙酰丙酮溶液中,均匀搅拌5分钟;将混合溶液在80℃、超声振荡的条件下放置20分钟,使之均匀混合; 
1.3)将步骤1.1)、步骤1.2)所得溶液混合后置于80℃、超声振荡的条件下放置30分钟,使之均匀混合,然后以醋酸作为催化剂滴定至pH值为2.7~3.0,然后重新置于80℃下进行搅拌,搅拌速度为220~280rpm,搅拌时间为4~6个小时; 
1.4)向步骤1.3)所得溶液中补充乙二醇甲醚,使得乙二醇甲醚的浓度达到0.4~0.8mol/L,然后进行冷却静置密封,在室温下老化40~80个小时。 
3.根据权利要求1所述的压电铁电薄膜的制备方法,其特征是,所述的前驱体溶 液中金属离子摩尔浓度比为Pb:Zr:Ti为X:Y:1-Y,其中:1.1﹤X﹤1.15,0.2﹤Y﹤0.8。 
4.根据权利要求1所述的压电铁电薄膜的制备方法,其特征是,所述的清洗是指:依次用三氯乙烯、分析纯丙酮、分析纯酒精和蒸馏水在超声清洗仪中对基片进行清洗,每道清洗流程保持3分钟以上,然后将基片置于干燥箱中180℃条件下放置24小时。 
5.根据权利要求1所述的压电铁电薄膜的制备方法,其特征是,所述的第三步具体包括以下步骤: 
3.1)将第一步得到的前驱体溶液滴到第二步得到的PZT结晶种子层上,直至铺满衬底; 
3.2)通过两步法将前驱体溶液均匀甩开:首先在800~1000rpm下旋涂5~10秒,然后在2500~3000rpm下旋涂20~25秒; 
3.3)采用三步式加热方法,将前驱体溶液中的金属前驱体固定于PZT结晶种子层上:首先将基片在100℃下保温3~4分钟,使溶剂挥发;然后将基片在350℃下保温4~6分钟,使溶胶进行热解;然后将基片在680℃下保温5~6分钟,进行预退火处理;重复步骤3.3)8~12遍; 
3.4)将基片在快速热反应炉中进行退火处理,在氧气气氛下退火30~45分钟,退火温度为650~700℃;退火后随炉冷却,即得压电铁电薄膜。 
6.一种根据权利要求1至5中任一所述的方法制备得到的压电铁电薄膜,其特征在于,所述的压电铁电薄膜的分子式为PbZryTi1-yO3,其中:0.2≤y≤0.8。 
CN201010235315.6A 2010-07-28 2010-07-28 压电铁电薄膜的制备方法 Expired - Fee Related CN101885606B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201010235315.6A CN101885606B (zh) 2010-07-28 2010-07-28 压电铁电薄膜的制备方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201010235315.6A CN101885606B (zh) 2010-07-28 2010-07-28 压电铁电薄膜的制备方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101885606A CN101885606A (zh) 2010-11-17
CN101885606B true CN101885606B (zh) 2014-01-15

Family

ID=43071725

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201010235315.6A Expired - Fee Related CN101885606B (zh) 2010-07-28 2010-07-28 压电铁电薄膜的制备方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN101885606B (zh)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102173796B (zh) * 2011-02-24 2013-03-13 中国地质大学(武汉) 一种组合合成锆钛酸铅薄膜的方法
CN102888579B (zh) * 2012-09-26 2014-08-06 中国人民解放军装甲兵工程学院 一种BaTiO3智能涂层的制备方法和BaTiO3智能涂层
CN103740327B (zh) * 2013-12-10 2016-03-02 南京理工大学 一种分子铁电薄膜及其溶液浸泡生长方法
CN106977112B (zh) * 2016-01-18 2019-10-18 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 一种ito薄膜的制备方法
CN105633270B (zh) * 2016-02-24 2018-08-21 南京邮电大学 一种螺旋管式压电弹簧及其制备方法
LU93084B1 (en) * 2016-05-24 2017-12-22 Luxembourg Inst Science & Tech List Transparent piezoelectric device and method for manufacturing the same
CN106087058A (zh) * 2016-06-22 2016-11-09 桂林电子科技大学 一种K0.5Na0.5NbO3基铁电压电单晶及其制备方法
CN107256866B (zh) * 2017-06-12 2019-11-15 湘潭大学 一种柔性外延铁电薄膜的制备方法
KR102411185B1 (ko) * 2017-10-31 2022-06-21 에스케이하이닉스 주식회사 강유전성 메모리 소자 및 이의 제조 방법
CN108447979B (zh) * 2018-03-08 2019-09-20 清华大学 压电薄膜传感器及其制备方法
CN108754525B (zh) * 2018-05-22 2019-10-25 河北工业大学 一种锆钛酸铅铁电薄膜光电极及其制备方法
CN108517503A (zh) * 2018-05-22 2018-09-11 苏州大学 一种锆钛酸铅薄膜的制备方法
CN109994315B (zh) * 2019-02-19 2021-02-19 湖北大学 由磁性纳米纤维铁电薄膜组合的磁电复合材料及其制备方法
CN109761605A (zh) * 2019-03-18 2019-05-17 大连瑞林数字印刷技术有限公司 一种具有(100)晶粒择优取向的锆钛酸铅薄膜及其制备方法
WO2021086337A1 (en) * 2019-10-30 2021-05-06 Hewlett-Packard Development Company L.P. Protective panels with anti-glare ceramic coatings
CN112723754B (zh) * 2021-01-05 2023-05-05 聚合电光(杭州)科技有限公司 面向下一代高速通信的锆钛酸铅薄膜及其制备方法、应用

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5384294A (en) * 1993-11-30 1995-01-24 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Sol-gel derived lead oxide containing ceramics
CN1263070A (zh) * 2000-02-16 2000-08-16 中国科学院上海硅酸盐研究所 一种简便而有效的制备锆钛酸铅薄膜的方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5384294A (en) * 1993-11-30 1995-01-24 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Sol-gel derived lead oxide containing ceramics
CN1263070A (zh) * 2000-02-16 2000-08-16 中国科学院上海硅酸盐研究所 一种简便而有效的制备锆钛酸铅薄膜的方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN101885606A (zh) 2010-11-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101885606B (zh) 压电铁电薄膜的制备方法
CN100533798C (zh) 压电薄膜制造方法
CN103733366B (zh) 压电体元件
CN104609856B (zh) 高度择优取向钛酸铋钠-钛酸钡无铅压电薄膜的制备方法
WO2011111643A1 (en) Piezoelectric material and devices using the same
JP2011181776A (ja) 圧電薄膜、圧電素子、圧電素子の製造方法、液体吐出ヘッドおよび超音波モータ
CN110112285A (zh) 一种高性能锆钛酸铅压电薄膜底电极的制备方法
CN101962293A (zh) 一种无铅压电陶瓷薄膜的制备方法
CN105732022A (zh) 高居里温度压电陶瓷及其薄膜的制备方法
KR20160138417A (ko) Mn 도프의 PZT 계 압전체막 형성용 조성물 및 Mn 도프의 PZT 계 압전체막
EP3125316B1 (en) Mn AND Nb CO-DOPED PZT-BASED PIEZOELECTRIC FILM
US6979938B2 (en) Electronic device formed from a thin film with vertically oriented columns with an insulating filler material
KR20140117262A (ko) PNbZT 강유전체 박막의 제조 방법
JP7222647B2 (ja) 圧電体膜形成用塗工液組成物、その製造方法、配向性圧電体膜、並びに、液体吐出ヘッド
CN108727020A (zh) 一种锆钛酸铅薄膜及其制备方法
JP3835960B2 (ja) 圧電セラミックス厚膜構造
CN109279652A (zh) 一种铂-锆钛酸铅纳米复合铁电薄膜材料及制备方法
CN110092662A (zh) 一种(100)择优取向和高介电常数的锆钛酸铅压电薄膜的制备方法
Yu et al. Preparation, structure, and properties of 0.3 Pb (Zn1/3Nb2/3) O3-0.7 PbTiO3 thin films on LaNiO3/YSZ/Si substrates
JP2001026421A (ja) ゾル・ゲル法による結晶性薄膜の形成方法
CN107346802A (zh) 压电膜及其制备方法
JP2002261093A (ja) ゾル−ゲル工程を利用した強誘電体薄膜の製造方法
JP7166800B2 (ja) 配向性圧電体膜用塗工液組成物、配向性圧電体膜、並びに、液体吐出ヘッド
JP4544861B2 (ja) 定向圧電膜の作成方法
CN1513809A (zh) 高性能锆钛酸铅薄膜的制备方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20140115

Termination date: 20170728