CN101769874A - 视觉检测装置 - Google Patents
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Abstract
公开了一种视觉检测装置,而且更具体地,公开了一种能够检测电子元件的外观的视觉检测装置。该视觉检测装置包括装载单元,用于装载至少一个待视觉检测的电子元件;第一视觉检测单元,用于对通过所述装载单元装载的电子元件实施第一视觉检测;第二视觉检测单元,用于对所述电子元件实施第二视觉检测;倒置单元,安装在所述第一和第二视觉检测单元之间,用于在将所述电子元件传送至所述第二视觉检测单元之前,将由所述第一视觉检测单元完全地进行了第一视觉检测的电子元件倒置;卸载单元,用于卸载由所述第二视觉检测单元完全地进行了第二视觉检测的所述电子元件;以及传送工具,用于将分别在所述第一视觉检测单元、倒置单元和第二视觉检测单元内的各电子元件同时传送至各单元的后续单元。
Description
技术领域
本发明涉及视觉检测装置,尤其涉及能够检测电子元件的外观的视觉检测装置。
背景技术
由于较差的工艺可能会使得电子元件不工作或者误操作,当这些发生故障的电子元件呈现在市场上,该电子元件的可靠性可能会降低。
因此,在电子元件呈现在市场上之前,需要通过各种检测来实施一序列的处理以选择好的电子元件。
作为各种检测之一,视觉检测处理是为了检测该电子元件的外观,例如标记状态,导线或球栅是否已损坏,以及是否已经出现了一些裂缝或者划痕。
图7是示出了依据传统技术的条状类型视觉检测装置的结构的视图。
该传统的条状类型视觉检测装置包括安装为一排的装载单元500、第一视觉检测单元510、第二视觉检测单元520,以及倒置单元530。该电子元件通过传送工具550进行传送。
该传统的视觉检测处理如下。
首先,通过该传送工具550将装载单元500内的该电子元件传送至该第一视觉检测单元510,从而通过该第一视觉检测单元510进行第一视觉检测处理。然后,将已完全地进行了第一视觉检测的该电子元件倒置,即,通过该倒置单元530将其倒置。然后,通过该第二视觉检测单元520将该被倒置的电子元件进行第二视觉检测处理,并通过该卸载单元540进行卸载处理。
然而,该传统的条状类型视觉检测装置具有如下问题。
在将该电子元件传送至该第二视觉检测单元520之前,应当由该倒置单元530将已完全地进行了第一视觉检测的电子元件倒置。
这可能会导致当通过该倒置单元530将该电子元件倒置并将其传送时,该第一视觉检测单元510和该第二视觉检测单元520处于等待状态。结果,该视觉检测可能不会连续实施,且可能会花费大量时间来实施该视觉检测。
此外,在该视觉检测期间传送该电子元件的总距离较长。这可能导致每小时低的生产量,从而导致低的生产率和经济特性。
而且,将该电子元件从该倒置单元530传送至该第二视觉检测单元520与将该电子元件从该第二视觉检测单元520传送至该卸载单元540分开实施。因此,当通过该卸载单元540将该电子元件卸载时,待传送至该第二视觉检测单元520的下一个电子元件必须在该倒置单元530处于等待状态。结果,该视觉检测可能不会连续实施,而且可能花费大量时间来实施该视觉检测。而且,由于每小时的生产量明显降低,因此,在生产率和经济性方面是不利的。
第二,为了重新检测一些已经进行视觉检测的电子元件,不可能以循环方式将任何通过该卸载单元540卸载的电子元件传送至该装载单元500。
依据该传统的结构设计并安装该装载单元500和该卸载单元540,这使得不可能以循环方式将任何通过该卸载单元540卸载的电子元件传送至该装载单元500。
可以组成附加的传送工具,以便将通过该卸载单元540卸载的电子元件循环传送至该装载单元500。然而,这可能导致该视觉检测装置具有非常复杂的结构。而且,将通过该卸载单元540卸载的该电子元件循环传送至该装载单元500的操作可能会与将还未经检测的电子元件装载至该装载单元500的操作相冲突。
第三,该装载单元500和卸载单元540分别布置在该视觉检测装置的前部和右部。这可能导致装载和卸载处理连同与操作员的较长移动路径一起进行实施,且导致该操作员的工作容易被打扰。这可能导致效率降低。为了提高效率,需要提供附加的人力,增加了劳动成本。
第四,由于在此结构下的电子元件的移动路径变得复杂,该视觉检测装置的整个尺寸也增加了。这可能导致制造该视觉检测装置的高成本,并导致净化室的利用率降低。
发明内容
因此,本发明的第一目的是提供一种通过使得视觉检测能连续操作从而能够增加每小时的生产量的视觉检测装置。
本发明的第二目的是提供一种通过防止由倒置和卸载过程而导致的时间浪费从而能够增加每小时的生产量的视觉检测装置。
本发明的第三目的是提供一种通过简化该装载单元和卸载单元的设计和布置,以循环方式将未装载的电子元件传送至装载单元从而能够重新检测任何电子元件,且能够防止浪费时间的视觉检测装置。
本发明的第四目的是提供一种通过改善装载单元和卸载单元的结构来减少操作员的移动路径,从而能够以最小化的人力提高操作效率,且能够简化电子元件的移动路径的视觉检测装置。
为了实现这些和其它优点,并依据本发明的目的,如此处所具体体现和广泛描述的,提供了一种视觉检测装置,包括:装载单元,用于装载至少一个待视觉检测的电子元件;第一视觉检测单元,用于对通过该装载单元装载的电子元件实施第一视觉检测;第二视觉检测单元,用于对该电子元件实施第二视觉检测;倒置单元,安装在该第一和第二视觉检测单元之间,用于在将该电子元件传送至该第二视觉检测单元之前,将已经由该第一视觉检测单元完全地进行了第一视觉检测的电子元件倒置;卸载单元,用于将已经由该第二视觉检测单元完全地进行了第二视觉检测的电子元件卸载;以及传送工具,用于将分别在该第一视觉检测单元、倒置单元和第二视觉检测单元内的电子元件同时传送至各自的后续单元。
通过该装载单元对该电子元件进行的装载处理,以及通过该卸载单元对该电子元件实施的卸载处理可能在该视觉检测装置的一侧进行。
该第一视觉检测单元、该倒置单元,以及该第二视觉检测单元可以布置为一排,且形成检测区域单元,而且该装载单元和该卸载单元可以置为一排,且形成等待区域单元。而且,该检测区域单元和该等待区域单元可以平行布置。
由该等待区域单元的装载单元装载的该电子元件可以通过装载接口单元传送至该检测区域单元。而且,该检测区域单元已经完全检测的该电子元件可以通过卸载接口单元传送至该等待区域单元的卸载单元。
该传送工具可以将分别装载于该装载接口单元、该第一视觉检测单元、倒置单元,以及第二视觉检测单元内的各电子元件同时传送至该第一视觉检测单元、倒置单元、第二视觉检测单元,以及卸载接口单元。
该装载单元可以包括堆叠单元,其中堆积了电子元件,且包括装载传送单元,其用于将堆积在该堆叠单元中的电子元件传送至该装载接口单元。
该卸载单元可以包括优质品单元、废弃品单元和垃圾箱(bin)单元,用于基于该检测区域单元的检测结果将该电子元件分拣至该优质品单元、废弃品单元和垃圾箱单元;以及卸载传送单元,用于将已经在该检测区域单元完全地检测的电子元件从该卸载接口单元传送至该优质品单元、废弃品单元或者垃圾箱单元。
该第一视觉检测单元可以包括第一元件装载单元,用于装载通过该传送工具从该装载接口单元传送来的电子元件;第一传送单元,用于传送装载于该第一元件装载单元内的电子元件;和第一检测单元,用于对通过该第一传送工具传送的电子元件实施第一视觉检测。
该第二视觉检测单元可以包括第二元件装载单元,用于装载通过该传送工具从该倒置单元传送来的电子元件;第二传送单元,用于传送装载于该第二元件装载单元内的电子元件;和第二检测单元,用于对通过该第二传送工具传送的电子元件实施第二视觉检测。
该传送工具可以包括第一传送工具,用于将装载在该装载接口单元内的电子元件传送至该第一视觉检测单元;第二传送工具,用于将该电子元件从该第一视觉检测单元传送至该倒置单元;第三传送工具,用于将该电子元件从该倒置单元传送至该第二视觉检测单元;和第四传送工具,用于将该电子元件从该第二视觉检测单元传送至该卸载接口单元。
该视觉检测装置还可以装备有传送工具导轨,用于同时引导该第一、第二、第三和第四传送工具,以便该第一、第二、第三和第四传送工具能够同时传送该电子元件。
依据本发明的另一方面,提供了一种视觉检测装置,包括:检测区域单元,用于对电子元件实施视觉检测;等待区域单元,用于将该待传送的电子元件装载至该检测区域单元,并卸载已经在该检测区域单元进行了完全视觉检测的电子元件;装载接口单元,用于将已经装载至该等待区域单元的电子元件传送至该检测区域单元;以及卸载接口单元,用于将已经在该检测区域单元进行了完全视觉检测的电子单元传送至该等待区域单元。
依据本发明的该视觉检测装置可以具有如下优点。
首先,可以通过该装载接口单元将已经装载在该等待区域单元内的该电子元件传送至该检测区域单元。可以通过该卸载接口单元将已经在该检测区域单元进行了完全检测的该电子元件传送至该等待区域单元。而且,该倒置单元可以布置于该第一和第二视觉检测单元之间。因此,可以通过多个传送工具同时将该电子元件从该装载接口单元、第一视觉检测单元、倒置单元和第二视觉检测单元传送至该第一视觉检测单元、倒置单元、第二视觉检测单元和卸载接口单元。因此,可以连续处理多个电子元件。这可能大大提高每小时的生产量。
第二,可以通过该装载接口单元将装载在该等待区域单元内的该电子元件传送至该检测区域单元。可以通过该卸载接口单元将已经在该检测区域单元进行了完全检测的该电子元件传送至该等待区域单元。而且,该倒置单元可以布置在该第一和第二视觉检测单元之间。因此,可以缩短并简化电子元件的移动路径。这可以大大减少电子元件的传送时间,从而提高每小时的生产量。
第三,由于简化了电子元件的路径,该视觉检测装置的整个结构可以被简化,且其制造成本可以大大降低。
第四,可以在该视觉检测装置的一侧通过该装载单元实施装载该电子元件的处理,以及通过该卸载单元实施卸载该电子元件的处理。因此,可以将该卸载的电子元件直接传送至该装载单元。这可使得较容易地以循环方式传送该电子元件,并且较容易地进行重新检查,从而提高生产率。
第五,由于可以在该视觉检测装置的一侧通过该装载单元和卸载单元实施装载和卸载处理,操作员的移动路径可以缩短。这可以提高操作效率,并防止不必要的人力浪费。此外,用于视觉检测装置的安装空间以及在净化室内为每位操作员提供的操作空间可以变小。
第六,由于可以在该视觉检测装置的一侧通过该装载单元和卸载单元实施装载和卸载处理,即使多个视觉检测装置平行布置,也可以流畅地实施该装载和卸载处理。此外,由于各视觉检测装置之间的距离可以得到最小化,因此该净化室的利用率也可以得到最小化。
第七,可以将该装载单元和卸载单元布置为一排,以便形成该等待区域单元。而且,该第一视觉检测单元、倒置单元和第二视觉检测单元可以布置为一排,以便形成该检测区域单元。而且,该等待区域单元和视觉检测区域单元可以平行布置。这可以使得该视觉检测装置对的整个结构紧密,并得到简化。
第八,由于当需要重新检测电子元件时,该装载接口单元和卸载接口单元可以用作缓存区,从而可以更容易地以循环方式传送该电子元件。
本发明的前述和其它目的、特征、方面和优点将从以下结合附图对本发明的详细描述中变得更加明显。
附图说明
该附图被包括用于提供对本发明的进一步理解,且并入并组成本说明书的一部分,例示本发明的实施方案,连同说明书一起用于解释本发明的原则。
图中:
图1是依据本发明的视觉检测装置的平面图;
图2是图1中的等待区域单元的侧面示意图;
图3是图1中的检测区域单元的侧面示意图;
图4是示出了图1中的电子元件的传送路径的平面示意图;
图5是示出了图1中的视觉检测装置的一个安装实例的平面示意图;
图6是示出了图1中的视觉检测装置的另一个安装实例的平面示意图;
图7是依据传统技术的视觉检测装置的示意图。
具体实施方式
现在参考附图详细描述本发明。
以下将参考附图更详细地阐述依据本发明的视觉检测装置。
依据本发明的视觉检测装置1用于通过检测电子元件2的外观来分拣电子元件2。此处,电子元件2可以为半导体设备、半导体条、半导体组件等,其外观可以影响产品的可靠性。
视觉检测装置1可以包括用于装载至少一个待视觉检测的电子元件的装载单元10,用于对电子元件2实施第一视觉检测的第一视觉检测单元50,用于对电子元件2实施第二视觉检测的第二视觉检测单元60,安装在第一和第二视觉检测单元50和60之间、用于将已经由第一视觉检测单元50完全地进行了第一视觉检测的电子元件倒置的倒置单元70,以及用于卸载已经通过第二视觉检测单元60完全地进行了第二视觉检测的电子元件2的卸载单元20。
第一视觉检测单元50、倒置单元70,以及第二视觉检测单元60可以沿第一方向布置成一排,以形成检测区域单元101。装载单元10和卸载单元20可以沿该第一方向布置为一排,以形成等待区域单元100。检测区域单元101和等待区域单元100可以沿垂直于该第一方向的第二方向平行布置。
可以通过装载接口单元14将装载在等待区域单元100的装载单元10内的电子元件2传送至检测区域单元101。而且,可以通过卸载接口单元24将已经通过检测区域单元101的第二视觉检测单元60完全地进行了第二视觉检测的电子元件2传送至等待区域单元100的卸载单元20。
可以通过传送工具30将分别装载在装载接口单元14、第一视觉检测单元50、倒置单元70、以及第二视觉检测单元60内的各电子元件2同时传送至各自的后续单元,即,第一视觉检测单元50、倒置单元70、第二视觉检测单元60和卸载接口单元24。
装载单元10可以包括其中堆积了电子元件2的堆叠单元12,还包括装载传送单元120,用于将堆积于堆叠单元12内的电子元件传送至装载接口单元14。
可以将堆叠单元12配置为具有堆垛类型结构,在其中可以堆积多个电子元件2。或者,可以将堆叠单元12配置为具有托盘类型结构,在其中可以一个个地安放电子元件2。亦或,还可以将堆叠单元12配置为具有各种结构。如果需要,可以通过导轨、升降机、或者传输工具等传送堆叠单元12。
装载接口单元14还可以包括装载传送单元14A。装载传送单元14A可用于装载从装载单元10传送来的电子元件2,且可以通过用于装载的驱动单元驱动。装载传送单元14A可以根据电子元件2的类型具有各种结构,例如台子、托盘和模具。
用于装载的驱动单元可以依据驱动方法具有各种结构。优选地,可以将用于装载的驱动单元配置为使得装载传送单元14A可以沿装载导轨14B相互传送。
第一视觉检测单元50可以对电子元件2的两个表面(顶面和底面)之一(如顶面)实施第一视觉检测。而且,第二视觉检测单元60可以对电子元件2的两个表面(顶面和底面)的另一表面(如底面)实施第二视觉检测。
倒置单元70可以将已经完全地进行了第一视觉检测的电子元件2倒置,以便连续实施第一和第二视觉检测。
依据本发明的视觉检测装置可以具有如下特点。
第一,第一视觉检测单元50、倒置单元70和第二视觉检测单元60可以依据电子元件2的处理顺序布置为一排。这可以使分别装载在装载接口单元14、第一视觉检测单元50、倒置单元70和第二视觉检测单元60内的电子元件同时传送至各自的后续单元,即,第一视觉检测单元50、倒置单元70、第二视觉检测单元60,以及卸载接口单元24。因此,电子元件2可以进行连续的视觉检测。由于通过多个传送工具30连续处理电子元件2,每小时的生产量可以大大提高。
第二,当第一和第二视觉检测单元50和60实施视觉检测时,倒置单元70可以实施倒置操作。这可以防止浪费用于倒置操作的时间。此外,由于同时传送各电子元件2,可能不需要额外的时间用于装载或卸载电子元件2。
第三,由于简化并缩短了电子元件2的传送路径,使得用于传送电子元件2的时间大大减少,还可以更多地提高每小时的生成量。
第一和第二视觉检测单元50和60可以根据电子元件2的类型、时间检测方法等以各种方式配置。
例如,第一和第二视觉检测单元50和60可以包括第一和第二元件装载单元52和62,及第一和第二检测单元54和64。第一和第二元件装载单元52和62可以装载电子元件2,以使得电子元件2的两个表面之一朝向上方。第一和第二检测单元54和64可以获得已经装载在第一和第二元件装载单元52和62内的电子元件2的外部图像,且可以通过分析所获得的外部图像检测电子元件2是合格品还是废品。
第一和第二视觉检测单元50和60还可以包括用于传送第一和第二元件装载单元52和62的第一和第二传送单元,以便流畅地实施该第一和第二视觉检测。
可以驱动该第一和第二传送单元,以使得已经装载在第一和第二元件装载单元52和62内的电子元件2在第一和第二元件装载单元52和62与第一和第二检测单元54和64之间相互传送。为此,可以将第一和第二传送单元配置为使得第一和第二元件装载单元52和62沿第一和第二检测导轨51和61相互传送。尽管未示出,可以通过旋转或上下移动第一和第二元件装载单元52和62,将该第一和第二传送单元配置为使得已经装载在第一和第二元件装载单元52和62内的电子元件2在第一和第二元件装载单元52和62与第一和第二检测单元54和64之间传送。该第一和第二传送单元可以以各种方式进行配置。
第一和第二视觉检测单元50和60还可以包括用于移动第一和第二检测单元54和64的检测机器人,以使得当在第一和第二元件装载单元52和62的上面的X和Y方向移动时,第一和第二检测单元54和64检测电子元件2。
为了提高视觉检测的可靠性,第一和第二视觉检测单元50和60还可以包括第一和第二清洁器56和66,用于当将电子元件2从第一和第二元件装载单元52和62传送至第一和第二检测单元54和64时,清洁电子元件2的外部表面。
第一和第二清洁器56和66可以具有各种结构,该结构包括用于刷拭电子元件2的外部表面的刷子、用于以吹气方式清除附着于电子元件2的外表面的颗粒的气帘,等等。
在本发明中,可以装备第一和第二元件装载单元52和62,以便传送电子元件2,而且可以装备第一和第二检测单元54和64,以便视觉检测电子元件2。由于可以将第一和第二视觉检测单元50和60内的电子元件2同时装载至第一和第二元件装载单元52和62,可以通过两个步骤快速实施视觉检测。
也就是说,可以同时实施用于传送电子元件2的第一至第四步骤。该第一传送步骤可以为将电子元件2从装载接口单元14传送至第一元件装载单元52,该第二传送步骤可以为将装载至第一元件装载单元52的电子元件2传送至倒置单元70。该第三传送步骤可以为将装载至倒置单元70的电子元件2传送至第二元件装载单元62,且该第四传送步骤可以为将装载至第二元件装载单元62的电子元件2传送至卸载接口单元24。
在对电子元件2进行视觉检测的过程中,可以停止电子元件2在各单元之间的传送。当然,可以将装载在第一和第二元件装载单元52和62内的电子元件2传送至第一和第二检测单元54和64,以通过第一和第二检测单元54和64进行视觉检测。然后,电子元件2可以返回到第一和第二元件装载单元52和62。
第一元件装载单元52、第一检测单元54、第二元件装载单元62,以及第二检测单元64可以在与第一视觉检测单元50、倒置单元70,以及第二视觉检测单元60的方向不同的方向上布置。
就是说,第一元件装载单元52、倒置单元70,以及第二元件装载单元62可以在其间未放置有任何干扰物的情况下布置为一排。
这可以依据每个视觉检测区域单元缩短电子元件2的传送距离。因此,包括传送工具30的该视觉检测装置的整个构造可以变得更加简化。此外,在各单元之间传送电子元件2所花费的时间可以减少。
优选地,可以在该第二方向布置第一元件装载单元52、第一检测单元54、第二元件装载单元62以及第二检测单元64。
传送工具30可以具有各种结构,例如采集器和把手。为了减小视觉检测装置1的尺寸,并更流畅和快速地传送电子元件2,可以将传送工具30优选配置为当电子元件2在每个区域上面移动时传送电子元件2。
为了同时传送电子元件2,传送工具30可以包括第一传送工具32,用于将装载接口单元14的电子元件2传送至第一元件装载单元52,第二传送工具34,用于将电子元件2从第一元件装载单元52传送至倒置单元70,第三传送工具36,用于将电子元件2从倒置单元70传送至第二元件装载单元62,以及第四传送工具38,用于将第二元件装载单元62的电子元件2传送至卸载接口单元24。
第一至第四传送工具32、34、36和38可以由一个传送工具导轨40驱动,以便传送彼此构成一个整体结构的各个电子元件2。
也就是说,第一至第四传送工具32、34、36和38可以由一个传送工具导轨40和一个驱动单元驱动,而非由多个传送工具导轨和驱动单元驱动。这可以使得该视觉检测装置具有简化的整体结构。
以下将更详细地解释卸载单元20。
可将卸载单元20配置为不管该视觉检测结果如何,使得依据该视觉检测的顺序来卸载进行视觉检测的电子元件2。
或者,如图所示,可以将卸载单元20配置为使得已经完全地进行了视觉检测的电子元件2依据基于该视觉检测结果的等级进行分拣,以进行随后的流畅的处理过程。
更具体地,卸载单元20可以包括优质品单元22A,用于卸载基于该视觉检测结果而被分拣为好的产品的电子元件2,以及废弃品单元22B,用于卸载基于该视觉检测结果而被分拣为应被废弃的产品的电子元件2。
卸载单元20还可以包括垃圾箱单元22C。该垃圾箱单元22C可以用于依据基于该视觉检测结果的次品等级来更具体地分拣被废弃的电子元件2。
卸载单元20还可以包括卸载传送单元122,用于将电子元件2从卸载接口单元24传送至优质品单元22A、废弃品单元22B,或者垃圾箱单元22C。
这里,可以将装载传送单元120和卸载传送单元122配置为在装载单元10和卸载单元20上面移动。或者,可以将装载传送单元120和卸载传送单元122配置为整体由一个装载和卸载导轨124驱动,或者分别由对方驱动。
依据本发明的该视觉检测装置可以具有如下优点。
首先,由于装载单元10和卸载单元20布置在该视觉检测装置的一侧,可以以循环方式传送电子元件2。因此,当被卸载的电子元件2需要重新检测,可以不经过操作员6将已经完全地进行了视觉检测的电子元件2循环送至装载单元10。这可以缩短重新检测电子元件2的时间,并减少由操作员6实施的工作的数量。此外,由于装载接口单元14和卸载接口单元24可以用作缓存区,可以有效避免由于以循环方式传送而导致的各电子元件2之间的干扰。
第二,由于装载单元10和卸载单元20可以布置在该视觉检测装置的一侧,该操作员通过装载单元10实施该处理的空间以及操作员通过卸载单元20实施该处理的空间可以仅保留在该视觉检测装置1的一侧。这可以使一个操作员6容易地通过装载单元10和卸载单元20实施这些处理,且可以缩短该操作员的工作路径。此外,由于可以减小操作员的空间,用于在净化室内安装视觉检测装置1的空间可以减小。这可以使得在该净化室中自由布置视觉检测装置1。此外,尽管多个视觉检测装置平行布置,对电子元件2的装载和卸载处理可以流畅地得以实施,且各视觉检测装置之间的距离可以得到最小化。因此,该净化室的利用效率可以得到最大化。
如图5和6所示,以及本发明的视觉检测装置可以自由布置,以使彼此对称。在这种情况下,操作员6可以操作两个或更多个视觉检测装置1。
依据本发明的视觉检测装置1可以对每个电子元件2实施如下视觉检测。
图4是示出了依据本发明的视觉检测装置1内的电子元件2的传送路径的示例图。
参考图1和4,可以将电子元件2装载至装载单元10的堆叠单元12(S1)。
然后,可以通过装载传送单元120将装载至装载单元10的堆叠单元12的电子元件2传送至装载接口单元14的装载传送单元14A(S2-1)。
可以通过装载导轨14B将已经传送至装载传送单元14A的电子元件2从等待区域单元100传送至检测区域单元101(S2-2)。
一旦电子元件2可能已经从装载接口单元14传送至第一视觉检测单元50,就可以使装载传送单元14A回到最初的位置(即,等待区域单元100),然后装载新的电子元件2。
可以通过第一传送工具32将依据由装载导轨14B传送至检测区域单元101的电子元件2传送至第一视觉检测单元50的第一元件装载单元52(S3-1)。
可以沿第一检测导轨51将传送至第一元件装载单元52的电子元件2传送至第一检测单元54,并进行第一视觉检测(S3-2)。
可以通过第一检测导轨51使通过第一检测单元54完全地进行了第一视觉检测的电子元件2回到第一元件装载单元52(S3-1)。
可以通过第二传送工具34将完全地进行了第一视觉检测之后回到第一元件装载单元52的电子元件2传送至倒置单元70,然后将其倒置(S4)。
可以通过第三传送工具36将倒置的电子元件2传送至第二视觉检测单元60的第二元件装载单元62(S5-1)。
可以沿第二检测导轨61将传送至第二元件装载单元62的电子元件2传送至第二检测单元64,并进行第二视觉检测(S5-2)。
可以通过第二检测导轨61使通过第二检测单元64完全地进行了第二视觉检测的电子元件2回到第二元件装载单元62(S5-1)。
可以通过第四传送工具38将经历第二视觉检测之后回到第二元件装载单元62的电子元件2传送至卸载接口单元24的卸载传送单元24A。(S6-1)。
可以通过卸载导轨24B将传送至卸载传送单元24A的电子元件2从检测区域单元101传送至等待区域单元100(S6-2)。
一旦将电子元件2从卸载接口单元24传送至卸载单元20,可以使卸载传送单元24A回到最初的位置(即,检测区域单元101),并通过第四传送工具38从第二视觉检测单元60的第二元件装载单元62装载下一个电子元件2。
可以基于该第一和第二视觉检测结果分拣已经通过卸载导轨24B传送至等待区域单元100的电子元件2,且可以通过卸载传送单元122将其传送至卸载单元20的优质品单元22A、废弃品单元22B,或者垃圾箱22C(S7)。
当需要重新检测电子元件2,可以通过由装载传送单元120重新装载将传送至卸载单元20的电子元件2传送至装载接口单元14的装载传送单元14A。这里,可以将待重新检查的电子元件2从卸载接口单元24传送至装载单元10,或者可以不经过装载单元10而直接传送至装载接口单元14的装载传送单元14A。
尤其是,装载接口单元14的装载传送单元14A可以用作装载单元10和检测区域单元101之间的缓存区,且卸载接口单元24的卸载传送单元24A可以用作检测区域单元101和卸载单元20之间的缓存区。因此,可以容易地对电子元件2进行重新检查。
可以通过两个步骤对电子元件2实施视觉检测处理,即,传送步骤和视觉检测步骤。
可以在图4的箭头A所指示的方向实施传送步骤。就是说,可以通过第一至第四传送工具32、34、36和38将装载于装载接口单元14、第一视觉检测单元50、倒置单元70和第二视觉检测单元60内的电子元件2,在一个步骤中同时传送至下一单元,即分别为第一视觉检测单元50、倒置单元70,第二视觉检测单元60和卸载接口单元24。就是说,可以同时将四个电子元件2传送至进行视觉检测。
在将电子元件2装载至装载接口单元14、第一视觉检测单元50、倒置单元70和第二视觉检测单元60的情况下,可以通过驱动第一至第四传送工具32、34、36和38来传送电子元件2。然而,在首先驱动该视觉检测装置的状态下,将电子元件2装载至装载接口单元14、第一视觉检测单元50、倒置单元70和第二视觉检测单元60中的几个部分的情况下,可以不对电子元件2进行实际的传送,但是可以驱动传送工具30。
可以在该传送步骤之后如图4的箭头B所指示的方向实施视觉检测步骤。就是说,可以实施第一视觉检测处理、倒置处理和第二视觉检测处理。可以将装载至装载单元10的电子元件2传送至装载接口单元14的装载传送单元14A。可以通过装载导轨14B将电子元件2从等待区域单元100传送至检测区域单元101。可以通过卸载导轨24B将装载至卸载接口单元24的卸载传送单元24A的电子元件2从检测区域单元101传送至等待区域单元100。而且,可以通过卸载单元20的卸载传送单元122将电子元件2卸载。
对于第一和第二视觉检测,可以沿第一和第二检测导轨51和61将装载至第一和第二视觉检测单元50和60的第一和第二元件装载单元52和62的电子元件2传送至第一和第二检测单元54和64。然后,可以使得已经通过第一和第二检测单元54和64完全地进行了第一和第二视觉检测的电子元件2沿第一和第二检测导轨51和61回到第一和第二元件装载单元52和62。
这里,可以基于该第一视觉检测结果,在不进行任何处理的情况下仅仅将电子元件2传送至倒置单元70和第二视觉检测单元60。
前述的实施方案和优点仅是示例性的,且不被解释为限制本公开。本教导可以被容易地应用于其它类型的装置。本说明书旨在例示,而非限制权利要求的范围。许多替换、修正和变型对本领域的技术人员来说是明显的。此处描述的典型实施方案的特征、结构、方法和其它特点可以用各种方式组合,以得到另外和/或替换的典型实施方案。
本特征可以在不偏离其特点的情况下以各种形式体现,也应当理解,除非另外方式的具体说明,上述实施方案不被前述说明的任意细节所限制,而是应当在所附的权利要求所限定的范围内被广泛地解释,因此落入该权利要求的边界和界限,或者这些边界和界限的等同物内的所有改变和修正旨在被所附的权利要求所包含。
Claims (11)
1.一种视觉检测装置,包括:
装载单元,用于装载至少一个待视觉检测的电子元件;
第一视觉检测单元,用于对通过所述装载单元装载的所述电子元件实施第一视觉检测;
第二视觉检测单元,用于对所述电子元件实施第二视觉检测;
倒置单元,安装在所述第一和第二视觉检测单元之间,用于在将所述电子元件传送至所述第二视觉检测单元之前,将已由所述第一视觉检测单元完全地进行了第一视觉检测的所述电子元件倒置;
卸载单元,用于卸载已由所述第二视觉检测单元完全地进行了第二视觉检测的所述电子元件;以及
传送工具,用于将分别在所述第一视觉检测单元、所述倒置单元和所述第二视觉检测单元内的电子元件同时传送至各自的后续单元。
2.如权利要求1所述的视觉检测装置,其中,由所述装载单元对所述电子元件进行的装载处理,以及由所述卸载单元对所述电子元件实施的卸载处理在所述视觉检测装置的一侧进行。
3.如权利要求1所述的视觉检测装置,还包括:
装载接口单元,用于将装载至所述装载单元的所述电子元件传送至所述第一视觉检测单元;以及
卸载接口单元,用于将装载至所述第二视觉检测单元的所述电子元件传送至所述卸载单元。
4.如权利要求1所述的视觉检测装置,其中,所述第一视觉检测单元、所述倒置单元以及所述第二视觉检测单元布置为一排,且形成检测区域单元;
其中,所述装载单元和所述卸载单元布置为一排,且形成等待区域单元;
其中,所述检测区域单元和所述等待区域单元相互平行布置。
5.如权利要求4所述的视觉检测装置,还包括:
装载接口单元,用于将已由所述等待区域单元的装载单元装载的所述电子元件传送至所述检测区域单元;以及
卸载接口单元,用于将已在所述检测区域单元完全地进行了第二视觉检测的所述电子元件传送至所述等待区域单元的所述卸载单元。
6.如权利要求3或5所述的视觉检测装置,其中,所述装载单元包括:
其中堆积了电子元件的堆叠单元,以及
装载传送单元,用于将堆积在所述堆叠单元中的所述电子元件传送至所述装载接口单元。
7.如权利要求3或5所述的视觉检测装置,其中,所述卸载单元包括:
优质品单元、废弃品单元和垃圾箱单元,用于基于在所述检测区域单元的检测结果将所述电子元件分拣至所述优质品单元、废弃品单元和垃圾箱单元;以及
卸载传送单元,用于将已在所述检测区域单元完全地进行了检测的所述电子元件从所述卸载接口单元传送至所述优质品单元、废弃品单元和垃圾箱单元。
8.如权利要求3或5所述的视觉检测装置,其中,所述第一视觉检测单元包括:
第一元件装载单元,用于装载通过所述传送工具从所述装载接口单元传送来的电子元件;
第一传送单元,用于传送装载于所述第一元件装载单元内的电子元件;以及
第一检测单元,用于对通过所述第一传送单元传送的电子元件实施第一视觉检测。
9.如权利要求1所述的视觉检测装置,其中,所述第二视觉检测单元包括:
第二元件装载单元,用于装载通过所述传送工具从所述倒置单元传送来的所述电子元件;
第二传送单元,用于传送装载于所述第二元件装载单元内的所述电子元件;以及
第二检测单元,用于对通过所述第二传送单元传送的所述电子元件实施第二视觉检测。
10.一种视觉检测装置,包括:
检测区域单元,用于对至少一个电子元件实施视觉检测;
等待区域单元,用于将待传送的所述电子元件装载至所述检测区域单元,并卸载已在所述检测区域单元完全地进行了视觉检测的所述电子元件;
装载接口单元,用于将已装载至所述等待区域单元的电子元件传送至所述检测区域单元;以及
卸载接口单元,用于将已在所述检测区域单元完全地进行了视觉检测的电子单元传送至所述等待区域单元。
11.如权利要求10所述的视觉检测装置,其中,所述检测区域单元包括:
第一视觉检测单元,用于对通过所述装载接口单元传送的所述电子元件实施第一视觉检测;
倒置单元,用于将已完全地进行了第一视觉检测的所述电子元件倒置,并向此处传送;以及
第二视觉检测单元,用于对被倒置之后所传送的电子元件实施第二视觉检测,
其中,所述等待区域单元包括:
装载单元,用于装载待视觉检测的电子元件;以及
卸载单元,用于基于所述视觉检测结果分拣和卸载从所述卸载接口单元传送来的所述电子元件,
其中,所述检测区域单元和所述等待区域单元平行布置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2008-0138475 | 2008-12-31 | ||
KR1020080138475A KR101012139B1 (ko) | 2008-12-31 | 2008-12-31 | 비전검사장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101769874A true CN101769874A (zh) | 2010-07-07 |
CN101769874B CN101769874B (zh) | 2012-07-18 |
Family
ID=42430343
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2009102617310A Expired - Fee Related CN101769874B (zh) | 2008-12-31 | 2009-12-30 | 视觉检测装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101012139B1 (zh) |
CN (1) | CN101769874B (zh) |
SG (1) | SG162715A1 (zh) |
TW (1) | TWI418781B (zh) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN106483132A (zh) * | 2015-09-02 | 2017-03-08 | 由田新技股份有限公司 | 单侧式及双侧式点灯检查设备 |
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CN109964114A (zh) * | 2016-09-13 | 2019-07-02 | 伊莫拉Sacmi机械合作公司 | 检查型坯的设备和方法以及包括该设备的制作型坯的机器 |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101324973B1 (ko) * | 2012-03-22 | 2013-11-05 | 한미반도체 주식회사 | 반도체 패키지 검사유닛, 반도체 패키지 검사장치 및 반도체 패키지 검사방법 |
KR101363733B1 (ko) * | 2013-05-08 | 2014-02-21 | 주식회사 티엠씨 | 액화천연가스 저장탱크용 멤브레인 시트의 검사 장치 |
KR101440230B1 (ko) * | 2013-05-08 | 2014-10-07 | 주식회사 티엠씨 | 액화천연가스 저장탱크용 멤브레인 시트의 검사 장치 |
KR101754875B1 (ko) | 2014-12-24 | 2017-07-06 | 주식회사 유라코퍼레이션 | 압입부를 구비한 비전 검사기 및 이를 이용한 비전 검사 방법 |
CN105035438A (zh) * | 2015-07-31 | 2015-11-11 | 深圳市锦龙科技有限公司 | Pcb分板点数机 |
KR101683093B1 (ko) * | 2015-08-10 | 2016-12-07 | (주)소닉스 | 인라인형 셀 검사장치 |
KR20170037079A (ko) * | 2015-09-25 | 2017-04-04 | (주)제이티 | 소자핸들러 |
KR101833887B1 (ko) * | 2016-12-07 | 2018-03-05 | (주)소닉스 | 제품 분류 장치 |
KR20240030907A (ko) | 2022-08-29 | 2024-03-07 | (주)휴넷가이아 | 머신비전 기반 피검사체 표면 결함 자동 검출 시스템 |
WO2024155010A1 (ko) * | 2023-01-20 | 2024-07-25 | 에스케이온 주식회사 | 전극 검사 시스템 및 방법 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4534025B2 (ja) * | 2004-11-30 | 2010-09-01 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 外観検査装置および外観検査装置用搬送部 |
JP5122737B2 (ja) * | 2005-10-03 | 2013-01-16 | 株式会社名南製作所 | 木材の検査方法及び装置及びプログラム |
JP2008087883A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板取出装置およびその方法 |
-
2008
- 2008-12-31 KR KR1020080138475A patent/KR101012139B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2009
- 2009-12-28 SG SG200908659-6A patent/SG162715A1/en unknown
- 2009-12-28 TW TW098145391A patent/TWI418781B/zh not_active IP Right Cessation
- 2009-12-30 CN CN2009102617310A patent/CN101769874B/zh not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107209128A (zh) * | 2015-02-10 | 2017-09-26 | 宰体有限公司 | 元件处理器和视觉检测方法 |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201024718A (en) | 2010-07-01 |
KR20100079883A (ko) | 2010-07-08 |
SG162715A1 (en) | 2010-07-29 |
KR101012139B1 (ko) | 2011-02-07 |
TWI418781B (zh) | 2013-12-11 |
CN101769874B (zh) | 2012-07-18 |
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Legal Events
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C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20120718 Termination date: 20181230 |