KR101189179B1 - 소자정렬장치 및 그를 가지는 엘이디소자검사장치 - Google Patents
소자정렬장치 및 그를 가지는 엘이디소자검사장치 Download PDFInfo
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Abstract
Description
도 2는 도 1의 엘이디소자검사장치의 개략적 측면도이다.
도 3a 및 도 3b는 도 1의 엘이디소자검사장치에 사용되는 웨이퍼링의 일례를 보여주는 도면들이다.
도 4는 도 1의 엘이디소자검사장치의 소자검사부의 턴테이블의 구성을 보여주는 평면도이다.
도 5는 도 1의 엘이디소자검사장치의 웨이퍼링매거진부, 웨이퍼링이송부 및 웨이퍼링테이블을 보여주는 개념도이다.
도 6은 도 1의 엘이디소자검사장치의 웨이퍼링테이블을 보여주는 사시도이다.
도 7은 도 1의 엘이디소자검사장치의 웨이퍼링이송부를 보여주는 사시도이다.
도 8a 및 도 8b는 도 1의 엘이디소자검사장치에서 제1이송툴의 작동과정을 보여주는 개념도들이다.
도 9는 도 1의 엘이디소자검사장치의 웨이퍼링이송부가 웨이퍼링매거진부에서 웨이퍼링을 인출하거나 인입시키는 상태를 보여주는 개념도이다.
도 10a 및 도 10b는 도 1의 엘이디소자검사장치의 웨이퍼링이송부가 웨이퍼링테이블에서 웨이퍼링을 인출하거나 인입시키는 과정을 보여주는 개념도들이다.
도 11는 도 1의 엘이디소자검사장치의 소자정렬부를 보여주는 사시도이다.
도 12a 및도 12b는 도 11의 소자정렬부의 우측면도의 일부 및 정면도이다.
도 13은 도 11의 소자정렬부의 평면도이다.
도 14은 도 11의 소자정렬부가 엘이디소자를 정렬하기 위한 상태를 보여주는 단면도이다.
도 15a 내지 도 15d는 도 11의 소자정렬부에서 정렬부재에 의한 엘이디소자를 정렬하는 과정을 보여주는 개념도들이다.
도 16은 도 1의 엘이디소자검사장치의 버퍼부의 개략적 구성 및 그 작동상태를 보여주는 도면이다.
도 17은 도 1의 엘이디소자검사장치의 언로딩부에 사용되는 소팅플레이트의 일례를 보여주는 도면이다.
도 18a 및 도 18b는 도 1의 엘이디소자검사장치의 언로딩부의 개략적 구성 및 그 작동상태를 보여주는 도면들이다.
300 : 버퍼부 310 : 버퍼블록
400 : 언로딩부
600 : 소자정렬부
620; 621, 622, 623, 624 : 정렬부재
631, 632, 633, 634 : 선형이동블록
641, 642 : 캠부재
Claims (12)
- 엘이디소자들이 적재된 웨이퍼링을 로딩하는 로딩부와; 상기 로딩부의 엘이디소자들을 전달받아 검사하는 소자검사부와; 상기 소자검사부에서 검사완료된 엘이디소자들이 적재되는 버퍼플레이트를 포함하는 버퍼부와; 상기 버퍼플레이트에 적재된 엘이디소자들을 상기 소자검사부의 검사결과에 따라 각각의 소팅플레이트에 분류하여 언로딩하는 언로딩부와; 상기 로딩부와 소자검사부의 사이에서 상기 엘이디소자들을 픽업하여 이송하는 제1이송툴과; 상기 소자검사부와 버퍼부의 사이에서 상기 엘이디소자들을 픽업하여 이송하는 제2이송툴과; 상기 버퍼부와 언로딩부의 사이에서 상기 엘이디소자들을 픽업하여 이송하는 제3이송툴을 포함하며,
상기 소자검사부는 상기 로딩부의 엘이디소자들을 전달받아 안착되는 소자안착부와, 상기 소자안착부에 안착된 소자를 정렬하기 위한 소자정렬장치를 포함하며,
상기 소자정렬장치는 소자안착부에 안착된 직사각형 형상의 소자를 정렬하기 위한 소자정렬장치로서, 상기 소자정렬장치가 설치될 구조물에 결합되는 본체부와; 상기 본체부에 선형이동 가능하게 설치되어 선형이동에 의하여 상기 소자의 변들 중 적어도 2개의 변을 가압하여 상기 소자를 미세 이동시키는 2개 이상의 정렬부재들과; 상기 정렬부재들 각각을 선형구동하기 위한 구동부를 포함하는 것을 특징으로 하는는 엘이디소자검사장치. - 소자안착부에 안착된 직사각형 형상의 소자를 정렬하기 위한 소자정렬장치로서, 상기 소자정렬장치가 설치될 구조물에 결합되는 본체부와; 상기 본체부에 선형이동 가능하게 설치되어 선형이동에 의하여 상기 소자의 변들 중 적어도 2개의 변을 가압하여 상기 소자를 미세 이동시키는 2개 이상의 정렬부재들과; 상기 정렬부재들 각각을 선형구동하기 위한 구동부를 포함하며,
상기 구동부는
상기 정렬부재 중 하나가 결합되며 상기 본체부에 선형이동이 가능하게 설치되는 하나 이상의 선형이동블록과; 상기 본체부에 설치되며 구동축을 가지는 회전구동부와; 상기 구동축에 결합되어 회전에 의하여 하나 이상의 상기 선형이동블록을 선형이동시키는 캠부재를 포함하는 하나 이상의 서브구동부를 포함하는 것을 특징으로 하는 소자정렬장치. - 청구항 2에 있어서,
상기 캠부재에 의하여 선형이동되는 상기 선형이동블록들은 직사각형 형상의 소자의 대향되는 변들에 대응되는 상기 정렬부재들이 각각 설치되는 한 쌍의 상기 선형이동블록들인 것을 특징으로 하는 소자정렬장치. - 청구항 2 내지 청구항 3 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 정렬부재는 직사각형 형상의 소자의 각 변에 대응되는 4개인 것을 특징으로 하는 소자정렬장치. - 청구항 2 내지 청구항 3 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 서브구동부는 직사각형 형상의 소자의 대향되는 변들에 대응되어 한 쌍으로 구성된 것을 특징으로 하는 소자정렬장치. - 청구항 2 내지 청구항 3 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 캠부재에 의하여 선형이동되는 상기 선형이동블록들은 직사각형 형상의 소자의 각 변들의 시계방향을 따라서 연속으로 배치된 2개의 선형이동블록들인 것을 특징으로 하는 소자정렬장치. - 소자안착부에 안착된 직사각형 형상의 소자를 정렬하기 위한 소자정렬장치로서, 상기 소자정렬장치가 설치될 구조물에 결합되는 본체부와; 상기 본체부에 선형이동 가능하게 설치되어 선형이동에 의하여 상기 소자의 변들 중 적어도 2개의 변을 가압하여 상기 소자를 미세 이동시키는 2개 이상의 정렬부재들과; 상기 정렬부재들 각각을 선형구동하기 위한 구동부를 포함하며,
상기 구동부는 상기 정렬부재들 각각이 결합되며 상기 본체부에 선형이동이 가능하게 설치되는 2개 이상의 선형이동블록들과;
상기 본체부에 설치되며 구동축을 가지는 회전구동부와; 상기 구동축에 결합되며 회전에 의하여 접촉된 상기 선형이동블록을 선형이동시키는 캠부재를 포함하는 서브구동부를 포함하는 것을 특징으로 하는 소자정렬장치. - 청구항 7에 있어서,
상기 캠부재는 상기 선형이동블록에 설치된 종동부재와 구속결합되어 회전에 의하여 상기 선형이동블록의 위치를 변경시키는 하나 이상의 구동면이 형성되며,
상기 구동면은 상기 소자가 정렬되었을 때의 평면영역을 이상영역이라 할 때, 상기 정렬부재의 끝단이 상기 이상영역의 각 변으로부터 간격을 두고 위치되도록 외경이 제1반경을 가지는 제1반경구간과, 상기 정렬부재의 끝단이 상기 이상영역의 각 변에 위치되도록 외경이 제2반경을 가지는 제2반경구간과, 상기 제1반경구간 및 상기 제2반경구간 사이에 상기 제1반경으로부터 상기 제2반경으로 변화되며 상기 구동축을 중심으로 소정각도를 가지는 반경가변구간이 형성된 것을 특징으로 하는 소자정렬장치. - 청구항 8에 있어서,
상기 제1반경구간은 180°보다 크며, 상기 선형이동블록은 180°의 위상차를 두고 설치된 것을 특징으로 하는 소자정렬장치. - 엘이디소자들이 적재된 웨이퍼링을 로딩하는 로딩부와; 상기 로딩부의 엘이디소자들을 전달받아 검사하는 소자검사부와; 상기 소자검사부에서 검사완료된 엘이디소자들이 적재되는 버퍼플레이트를 포함하는 버퍼부와; 상기 버퍼플레이트에 적재된 엘이디소자들을 상기 소자검사부의 검사결과에 따라 각각의 소팅플레이트에 분류하여 언로딩하는 언로딩부와; 상기 로딩부와 소자검사부의 사이에서 상기 엘이디소자들을 픽업하여 이송하는 제1이송툴과; 상기 소자검사부와 버퍼부의 사이에서 상기 엘이디소자들을 픽업하여 이송하는 제2이송툴과; 상기 버퍼부와 언로딩부의 사이에서 상기 엘이디소자들을 픽업하여 이송하는 제3이송툴을 포함하며,
상기 소자검사부는 상기 로딩부의 엘이디소자들을 전달받아 안착되는 소자안착부와, 상기 소자안착부에 안착된 소자를 정렬하기 위한 청구항 2 내지 청구항 3, 청구항 7 내지 청구항 9 중 어느 하나의 항에 따른 소자정렬장치를 포함하는 엘이디소자검사장치. - 엘이디소자들이 적재된 웨이퍼링을 로딩하는 로딩부와; 상기 로딩부의 엘이디소자들을 전달받아 검사하는 소자검사부와; 상기 소자검사부에서 검사완료된 엘이디소자들을 언로딩하는 언로딩부와; 상기 로딩부와 소자검사부의 사이에서 상기 엘이디소자들을 픽업하여 이송하는 제1이송툴과; 상기 소자검사부와 상기 언로딩 사이에서 상기 엘이디소자들을 픽업하여 이송하는 제2이송툴을 포함하며,
상기 소자검사부는 상기 로딩부의 엘이디소자들을 전달받아 안착되는 소자안착부와, 상기 소자안착부에 안착된 소자를 정렬하기 위한 청구항 2 내지 청구항 3, 청구항 7 내지 청구항 9 중 어느 하나의 항에 따른 소자정렬장치를 포함하는 엘이디소자검사장치. - 엘이디소자들이 적재된 웨이퍼링을 로딩하는 로딩부와; 상기 로딩부의 엘이디소자들을 전달받아 검사하는 소자검사부와; 상기 소자검사부에서 검사완료된 엘이디소자들을 언로딩하는 언로딩부와; 상기 로딩부와 소자검사부의 사이에서 상기 엘이디소자들을 픽업하여 이송하는 제1이송툴과; 상기 소자검사부와 상기 언로딩 사이에서 상기 엘이디소자들을 픽업하여 이송하는 제2이송툴을 포함하며,
상기 소자검사부는 상기 로딩부의 엘이디소자들을 전달받아 안착되는 소자안착부와, 상기 소자안착부에 안착된 소자를 정렬하기 소자정렬장치를 포함하며,
상기 소자정렬장치는 소자안착부에 안착된 직사각형 형상의 소자를 정렬하기 위한 소자정렬장치로서, 상기 소자정렬장치가 설치될 구조물에 결합되는 본체부와; 상기 본체부에 선형이동 가능하게 설치되어 선형이동에 의하여 상기 소자의 변들 중 적어도 2개의 변을 가압하여 상기 소자를 미세 이동시키는 2개 이상의 정렬부재들과; 상기 정렬부재들 각각을 선형구동하기 위한 구동부를 포함하는 것을 특징으로 하는는 엘이디소자검사장치.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020110024639A KR101189179B1 (ko) | 2011-03-18 | 2011-03-18 | 소자정렬장치 및 그를 가지는 엘이디소자검사장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020110024639A KR101189179B1 (ko) | 2011-03-18 | 2011-03-18 | 소자정렬장치 및 그를 가지는 엘이디소자검사장치 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20120106493A KR20120106493A (ko) | 2012-09-26 |
| KR101189179B1 true KR101189179B1 (ko) | 2012-10-10 |
Family
ID=47113197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020110024639A Expired - Fee Related KR101189179B1 (ko) | 2011-03-18 | 2011-03-18 | 소자정렬장치 및 그를 가지는 엘이디소자검사장치 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR101189179B1 (ko) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105137261A (zh) * | 2015-08-20 | 2015-12-09 | 国网山东金乡县供电公司 | 便携式智能对线器及对线方法 |
| KR102699063B1 (ko) * | 2018-11-16 | 2024-08-27 | (주)테크윙 | 전자부품 테스트용 핸들러 |
| WO2020247146A1 (en) * | 2019-06-06 | 2020-12-10 | Lam Research Corporation | Automated transfer of edge ring requiring rotational alignment |
| KR102206767B1 (ko) * | 2019-08-30 | 2021-01-22 | 김형태 | 엘이디 백라이트 유닛 테스트 장비 |
| KR102788978B1 (ko) * | 2023-01-31 | 2025-03-31 | 주식회사 씨케이엘 | 전자 소자 위치 정렬 장치 |
| KR102837813B1 (ko) * | 2023-06-21 | 2025-07-23 | 주식회사 휴로 | 반도체 테스트 핀 비전 검사장치 |
| CN118311398B (zh) * | 2024-04-11 | 2024-12-31 | 深圳市凤翔光电电子有限公司 | 用于发光二极管的检测装置 |
-
2011
- 2011-03-18 KR KR1020110024639A patent/KR101189179B1/ko not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20120106493A (ko) | 2012-09-26 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| D13-X000 | Search requested |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D13-srh-X000 |
|
| D14-X000 | Search report completed |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D14-srh-X000 |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| T11-X000 | Administrative time limit extension requested |
St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R18-oth-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| R15-X000 | Change to inventor requested |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R15-oth-X000 |
|
| R16-X000 | Change to inventor recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R16-oth-X000 |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150915 Year of fee payment: 4 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 4 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160907 Year of fee payment: 5 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 5 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001 Fee payment year number: 6 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903 Not in force date: 20181003 Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903 Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE Not in force date: 20181003 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |