CN101446624A - 联合测试组链路成链方法及联合测试组链路装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种联合测试组链路成链方法及联合测试组链路装置。其中方法包括：将属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚分别与联合测试组链接口的不同引脚连接；将属于不同链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的不同测试数据输出引脚连接；在所述联合测试组链接口通过不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于无效状态时，选通第一链路。装置包括：联合测试组链接口，至少两个边界扫描器件。应用本发明可以减少联合测试组链路分链时使用的器件。
Description
技术领域
本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种联合测试组链路成链方法及联合测试组链路装置。
背景技术
在目前常用的单板设计中，已经广泛采用联合测试组(JTAG，Joint TestAction Group)链路的设计方式，实现了单板的各种测试功能，以及完成某些芯片的调试、加载等功能。
在实际应用中，为了满足各种需求，往往需要对一个JTAG链路进行分链设计。
例如为了实现加载的可靠性与高速度，要求尽量少的器件组链，会倾向于只将与加载相关的边界扫描(BS，Boundary Scan)器件连成一条的JTAG链路；或者为了更好的实现单板互连测试等功能，方便生产定位维修，要求将尽量多的器件组链，会倾向于将单板上所有的BS器件组成一条JTAG链路。
此时就需要对一块单板上的JTAG链进行分链路设计，使一个单板上的器件可以通过选择组成不同的链路，让单板实现整板JTAG链及各分链路，来支持各种需求。其中将为常见的情况也就是既可以将单板上所有的BS器件组成一条较长的JTAG链路，也可以只将其中部分BS器件组成一条较短的JTAG链路。
分链时常用的方法有两种：
1)在单板上加装选择器，选择器可控制不同的链路是否有效，通过控制选择器选择不同的链路，实现分链；
2)在单板上加装JTAG专用桥片，通过JTAG专用桥片来实现链路的隔离或者多链设计，JTAG专用桥片可以连接多个不同链路，通过控制JTAG专用桥片选择不同的链路，实现分链。
在对现有技术的研究和实践过程中，发明人发现现有技术存在以下问题：
这两种方法都需要在单板上增加硬件，硬件增加就会增加电路设计的复杂度，单板上器件增多，器件故障的几率增加，也会造成单板坏板率增加，同时增加硬件，成本也会上升。
发明内容
本发明实施例要解决的技术问题是提供一种联合测试组链路成链方法及联合测试组链路装置，可以减少联合测试组链路分链时使用的器件。
本发明实施例一方面，提供了一种联合测试组链路成链方法，包括：
将属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚分别与联合测试组链接口的不同引脚连接；
将属于不同链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的不同测试数据输出引脚连接；
在所述联合测试组链接口通过不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于无效状态时，选通第一链路。
另一方面，提供了一种联合测试组链路装置，包括：联合测试组链接口，至少两个边界扫描器件；
属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚分别与所述联合测试组链接口的不同引脚连接；
属于不同链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的不同测试数据输出引脚连接；
在所述联合测试组链接口通过不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于无效状态时，第一链路有效。
由以上技术方案可以看出，由于将属于某一链路的边界扫描器件的控制引脚与不属于该链路的边界扫描器件的控制引脚分别连接到联合测试组链接口不同的引脚，在需要使该链路有效时，由联合测试组链接口控制不属于该链路的边界扫描器件无效，既可完成，不需要增加新的器件，与现有技术相比有效减少了器件的使用量，相应减轻了电路设计的复杂度，降低了单板坏板率，降低了成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的边界扫描器件引脚图；
图2为本发明提供的联合测试组链路装置实施例一结构图；
图3为本发明提供的联合测试组链路装置实施例二电路原理图；
图4为本发明提供的联合测试组链路装置实施例三电路原理图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供了一种联合测试组链路成链方法及联合测试组链路装置，可以减少联合测试组链路分链时使用的器件。
本发明实施例提供的联合测试组链路成链方法包括：
将属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚分别与联合测试组链接口的不同引脚连接；
将属于不同链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的不同测试数据输出引脚连接；
在所述联合测试组链接口通过不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于无效状态时，选通第一链路。
由于边界扫描器件有3个可以控制边界扫描器件状态的输入信号引脚，本发明实施例提供的联合测试组链路成链方法，将属于某一链路的边界扫描器件的控制引脚与不属于该链路的边界扫描器件的控制引脚分别连接到联合测试组链接口不同的引脚，在需要使该链路有效时，由联合测试组链接口控制不属于该链路的边界扫描器件无效，既可完成，不需要增加新的器件，与现有技术相比有效减少了器件的使用量，相应减轻了电路设计的复杂度，降低了单板坏板率，降低了成本。
在本发明实施例提供的联合测试组链路成链方法中，控制引脚可以是测试复位(TRST)引脚、测试时钟(TCK)引脚或测试模式选择(TMS)引脚其中之一，根据使用的引脚不同，控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于无效状态的方式也不同：
1)在控制引脚为测试复位引脚时；
测试复位引脚为低电平时，边界扫描器件会处于复位状态，不工作，是一种无效状态，所以此时联合测试组链接口会将所述不属于第一链路的边界扫描器件测试复位引脚置为低电平，控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于复位状态。
2)在控制引脚为测试时钟引脚时；
边界扫描器件只有在能获得正常时钟信号时才会正常工作，如果测试时钟引脚收不到信号，就不会工作，处于无效状态，所以此时联合测试组链接口将所述不属于第一链路的边界扫描器件测试时钟引脚置为高阻态，控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于无效状态。
3)在控制引脚为测试模式选择引脚时；
边界扫描器件在测试模式选择引脚为高电平时，如果连续收到5个时钟信号就会进入复位状态，因此联合测试组链接口将所述不属于第一链路的边界扫描器件测试模式选择引脚置为高电平，控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于复位状态。
以上电平状态均为举例，实际中有可能不同，例如测试复位引脚可能为高电平有效。
进一步，为了使系统可以正常工作，清除之前的状态，可以在选通某一链路前，先将所有边界扫描器件复位，复位的方式可以是，使用测试复位引脚，也可以是将全部边界扫描器件测试模式选择引脚置为高电平，向全部边界扫描器件测试时钟引脚输出5个连续时钟信号，控制全部边界扫描器件处于复位状态。
以上为对本发明实施例提供的联合测试组链路成链方法的描述，现将开始描述本发明实施例提供的联合测试组链路装置。
本发明实施例提供的联合测试组链路装置，包括：联合测试组链接口，至少两个边界扫描器件；
属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚分别与所述联合测试组链接口的不同引脚连接；
属于不同链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的不同测试数据输出引脚连接；
在所述联合测试组链接口通过不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于无效状态时，第一链路有效。
其中，联合测试组链接口可以是主机(Host)，或者联合测试组插座。
以有两个边界扫描器件为例，本发明提供的联合测试组链路装置实施例一结构如图1所示，包括：联合测试组链接口U01、边界扫描器件U02、边界扫描器件U03；边界扫描器件U02构成第一链路，边界扫描器件U02和边界扫描器件U03共同组成另一链路。
边界扫描器件U02属于第一链路，边界扫描器件U02的引脚1为控制引脚，连接到联合测试组链接口U01的引脚1；边界扫描器件U03不属于第一链路，边界扫描器件U03的引脚1为控制引脚，连接到联合测试组链接口U01的引脚4；
边界扫描器件U02的引脚2为输入引脚，连接到联合测试组链接口U01的引脚2，边界扫描器件U02的引脚3为输出引脚，连接到联合测试组链接口U01的引脚3，组成第一链路；边界扫描器件U02的引脚3连接到边界扫描器件U03的引脚3，边界扫描器件U03的引脚3位输入引脚，组成另一链路，边界扫描器件U02的引脚2为边界扫描器件U02和边界扫描器件U03共同组成链路的输出引脚，连接到联合测试组链接口U01的引脚5；
在所述联合测试组链接口U01通过不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚4控制不属于第一链路的边界扫描器件U03处于无效状态时，第一链路有效。
图2为本发明实施例提供的边界扫描器件引脚图，引脚1为测试复位引脚，引脚2为测试模式选择引脚，引脚3为测试时钟引脚，引脚4为测试数据输入(TDI)引脚，引脚5为测试数据输出(TDO)引脚。
当边界扫描器件为复位状态时，测试数据输出引脚为高阻态，不输出数据。
实际上用中由于测试模式选择引脚与测试时钟引脚组合也能复位边界扫描器件，因此测试复位引脚并非必须引脚，可能没有。
由于边界扫描器件有3个可以控制边界扫描器件状态的输入信号引脚，本发明实施例提供的联合测试组链路装置，将属于某一链路的边界扫描器件的控制引脚与不属于该链路的边界扫描器件的控制引脚分别连接到联合测试组链接口不同的引脚，在需要使该链路有效时，由联合测试组链接口控制不属于该链路的边界扫描器件无效，既可完成，不需要增加新的器件，与现有技术相比有效减少了器件的使用量，相应减轻了电路设计的复杂度，降低了单板坏板率，降低了成本。
现以实例进行描述，以控制引脚为测试复位引脚，一个边界扫描器件组成第一链路，全部边界扫描器件组成第二链路为例，本发明提供的联合测试组链路装置实施例二电路原理图如图3所示：
联合测试组链接口S01的引脚1为第一测试复位引脚，与属于第一链路的边界扫描器件S02的引脚1连接在一起，边界扫描器件S02的引脚1为测试复位引脚；
联合测试组链接口S01的引脚2为第二测试复位引脚，与不属于第一链路的边界扫描器件S03、S04的引脚1连接在一起，边界扫描器件S03、S04的引脚1为测试复位引脚；
联合测试组链接口S01的引脚3为测试模式选择引脚，与全部边界扫描器件S02、S03、S04的引脚2连接在一起，边界扫描器件S02、S03、S04的引脚2为测试模式选择引脚；
联合测试组链接口S01的引脚4为测试时钟引脚，与全部边界扫描器件S02、S03、S04的引脚3连接在一起，边界扫描器件S02、S03、S04的引脚3为测试时钟引脚；
联合测试组链接口S01的引脚5为测试数据输入引脚，与属于第一链路的边界扫描器件S02的引脚4连接在一起，边界扫描器件S02的引脚4为测试数据输入引脚；
边界扫描器件S02的引脚5为测试数据输出引脚，与联合测试组链接口S01的引脚6、边界扫描器件S03的引脚4连接在一起，联合测试组链接口S01的引脚6为第一测试数据输出引脚，边界扫描器件S03的引脚4为测试数据输入引脚；
边界扫描器件S03的引脚5为测试数据输出引脚，连接到下一个边界扫描器件的测试数据输入引脚，在本实施例中，如果下一个就是边界扫描器件S04，则连接到边界扫描器件S04的引脚4，也即边界扫描器件S04的测试数据输入引脚；
边界扫描器件S04的引脚5为测试数据输出引脚，连接到联合测试组链接口S01的引脚7，联合测试组链接口S01的引脚7为第二测试数据输出引脚。
当需要选通第一链路时，也就是只需要边界扫描器件S02有效，联合测试组链接口S01的引脚2输出低电平，则边界扫描器件S03到边界扫描器件S04的都会被置低电平，边界扫描器件S03到边界扫描器件S04的都会进入复位状态，被无效；联合测试组链接口S01的引脚1、3、4、5、6，也就是联合测试组链接口S01的第一测试复位引脚、测试模式选择引脚、测试时钟引脚、测试数据输入引脚和第一测试数据输出引脚组成一组联合测试组信号控制边界扫描器件S02进入工作状态，此时第一链路有效。
当需要选通第二链路时，也就是需要全部边界扫描器件有效，联合测试组链接口S01的引脚1、2输出同步有效信号，与联合测试组链接口S01的引脚3、4、5、7组成一组联合测试组信号控制边界扫描器件S02、S03、S04进入工作状态，此时第二链路有效。
假如控制引脚为测试时钟引脚或测试模式选择引脚，其实电路原理图与本发明提供的联合测试组链路装置实施例一类似，不同之处在于联合测试组链接口需要给出两个测试时钟引脚或测试模式选择引脚，只需要一个测试复位引脚，由于联合测试组链接口具有可编程的特性，可以满足需求。
以控制引脚为测试时钟引脚，一个边界扫描器件组成第一链路，其他边界扫描器件组成第二链路为例，本发明提供的联合测试组链路装置实施例三电路原理图如图4所示：
联合测试组链接口D01的引脚1为测试复位引脚，与边界扫描器件D02、D03、D04的引脚1连接在一起，边界扫描器件D02、D03、D04的引脚1为测试复位引脚；
联合测试组链接口D01的引脚2为测试模式选择引脚，与边界扫描器件D02、D03、D04的引脚2连接在一起，边界扫描器件D02、D03、D04的引脚2为测试模式选择引脚；
联合测试组链接口D01的引脚3为第二测试时钟引脚，与属于第二链路的边界扫描器件D03、D04的引脚3连接在一起，边界扫描器件D03、D04的引脚3为测试时钟引脚；
联合测试组链接口D01的引脚4为第一测试时钟引脚，与属于第一链路的边界扫描器件D02的引脚3连接在一起，边界扫描器件D02的引脚3为测试时钟引脚；
联合测试组链接口D01的引脚5为第一测试数据输入引脚，与属于第一链路的边界扫描器件D02的引脚4连接在一起，边界扫描器件D02的引脚4为测试数据输入引脚；
边界扫描器件D02的引脚5为测试数据输出引脚，与联合测试组链接口D01的引脚6连接在一起，联合测试组链接口D01的引脚6为第一测试数据输出引脚；
联合测试组链接口D01的引脚7为第二测试数据输入引脚，与属于第一链路的边界扫描器件D03的引脚4连接在一起，边界扫描器件D03的引脚4为测试数据输入引脚；
边界扫描器件D03的引脚5为测试数据输出引脚，连接到下一个边界扫描器件的测试数据输入引脚，在本实施例中，如果下一个就是边界扫描器件D04，则连接到边界扫描器件D04的引脚4，也即边界扫描器件D04的测试数据输入引脚；
边界扫描器件D04的引脚5为测试数据输出引脚，连接到联合测试组链接口D01的引脚8，联合测试组链接口D01的引脚8为第二测试数据输出引脚。
当需要选通第一链路时，也就是只需要边界扫描器件D02有效，联合测试组链接口D01先将全部边界扫描器件复位，可以使用测试复位引脚全部复位，也可以先将测试模式选择引脚置高电平，再给第一测试时钟引脚、第二测试时钟引脚5个时钟信号；
复位后，联合测试组链接口D01的引脚3输出高阻态，则边界扫描器件D03到边界扫描器件D04的都无法收到时钟信号，会一直处于复位状态，被无效；联合测试组链接口D01的引脚1、2、4、5、6，也就是联合测试组链接口D01的测试复位引脚、测试模式选择引脚、第一测试时钟引脚、第一测试数据输入引脚和第一测试数据输出引脚组成一组联合测试组信号，控制边界扫描器件D02进入工作状态，此时第一链路有效。
当需要选通第二链路时，也就是需要边界扫描器件D03、边界扫描器件D04有效，联合测试组链接口D01同样先将全部边界扫描器件复位，
复位后，联合测试组链接口D01的引脚4输出高阻态，则边界扫描器件D02无法收到时钟信号，会一直处于复位状态，被无效；联合测试组链接口D01的引脚1、2、3、7、8组成一组联合测试组信号，控制边界扫描器件D03、D04进入工作状态，此时第二链路有效。
在有更多的链路时，都可依照上述办法进行处理，在此不再重复描述。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括如下步骤：
一种联合测试组链路成链方法，包括：
将属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚分别与联合测试组链接口的不同引脚连接；
将属于不同链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的不同测试数据输出引脚连接；
在所述联合测试组链接口通过不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于无效状态时，选通第一链路。
上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
以上对本发明所提供的一种联合测试组链路成链方法及联合测试组链路装置进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (10)
1、一种联合测试组链路成链方法，其特征在于，包括：
将属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚分别与联合测试组链接口的不同引脚连接；
将属于不同链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的不同测试数据输出引脚连接；
在所述联合测试组链接口通过不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于无效状态时，选通第一链路。
2、如权利要求1所述的联合测试组链路成链方法，其特征在于，所述控制引脚为测试复位引脚；
所述联合测试组链接口通过不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于无效状态包括：
所述联合测试组链接口将所述不属于第一链路的边界扫描器件测试复位引脚置为低电平，控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于复位状态。
3、如权利要求1所述的联合测试组链路成链方法，其特征在于，所述控制引脚为测试时钟引脚；
所述联合测试组链接口通过不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于无效状态包括：
所述联合测试组链接口将所述不属于第一链路的边界扫描器件测试时钟引脚置为高阻态，控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于无效状态。
4、如权利要求1所述的联合测试组链路成链方法，其特征在于，所述控制引脚为测试模式选择引脚；
所述联合测试组链接口通过不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于无效状态包括：
所述联合测试组链接口将所述不属于第一链路的边界扫描器件测试模式选择引脚置为高电平，控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于复位状态。
5、如权利要求3或4所述的联合测试组链路成链方法，其特征在于，在所述联合测试组链接口通过不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于无效状态之前还包括：
所述联合测试组链接口将全部边界扫描器件测试模式选择引脚置为高电平，所述联合测试组链接口向全部边界扫描器件测试时钟引脚输出5个连续时钟信号，控制全部边界扫描器件处于复位状态。
6、一种联合测试组链路装置，其特征在于，包括：联合测试组链接口，至少两个边界扫描器件；
属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚分别与所述联合测试组链接口的不同引脚连接；
属于不同链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的不同测试数据输出引脚连接；
在所述联合测试组链接口通过不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于无效状态时，第一链路有效。
7、如权利要求6所述的联合测试组链路装置，其特征在于，全部所述边界扫描器件组成第二链路；
所述属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚分别与所述联合测试组链接口的不同引脚连接；属于不同链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的不同测试数据输出引脚连接包括：
属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与所述联合测试组链接口的控制引脚连接在一起；属于第一链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的第一测试数据输出引脚连接在一起；不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与所述联合测试组链接口的第二引脚连接在一起；属于第二链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的第二测试数据输出引脚连接在一起；
在通过所述联合测试组链接口的第二引脚控制所述不属于第一链路的边界扫描器件处于工作状态时，第二链路有效。
8、如权利要求6所述的联合测试组链路装置，其特征在于，所述不属于第一链路的边界扫描器件组成第二链路；
所述属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚分别与所述联合测试组链接口的不同引脚连接；属于不同链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的不同测试数据输出引脚连接包括：
属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与所述联合测试组链接口的控制引脚连接在一起；属于第一链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的第一测试数据输出引脚连接在一起；不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与所述联合测试组链接口的第二引脚连接在一起；所述不属于第一链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的第二测试数据输出引脚连接在一起；在通过所述联合测试组链接口的控制引脚控制所述属于第一链路的边界扫描器件处于无效状态时，第二链路有效。
9、如权利要求6所述的联合测试组链路装置，其特征在于，所述边界扫描器件为三个以上；
所述属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与不属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚分别与所述联合测试组链接口的不同引脚连接；属于不同链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的不同测试数据输出引脚连接包括：
属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与所述联合测试组链接口的控制引脚连接在一起；属于第一链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的第一测试数据输出引脚连接在一起；
属于第一链路的边界扫描器件的控制引脚与所述联合测试组链接口的控制引脚连接在一起；属于第一链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的第一测试数据输出引脚连接在一起；
属于第二链路的边界扫描器件的控制引脚与所述联合测试组链接口的第二引脚连接在一起；属于第二链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的第二测试数据输出引脚连接在一起；
属于第三链路的边界扫描器件的控制引脚与所述联合测试组链接口的第三引脚连接在一起；属于第三链路的边界扫描器件的测试数据输出引脚与所述联合测试组链接口的第三测试数据输出引脚连接在一起；
在通过所述联合测试组链接口的控制引脚、第三引脚控制所述属于第一链路和第三链路的边界扫描器件处于无效状态时，第二链路有效；在通过所述联合测试组链接口的控制引脚、第二引脚控制所述属于第一链路和第二链路的边界扫描器件处于无效状态时，第三链路有效。
10、如权利要求6、7、8或9所述的联合测试组链路装置，其特征在于，所述控制引脚为：测试复位引脚、测试时钟引脚或测试模式选择引脚。
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2008
- 2008-12-29 CN CNA2008101891421A patent/CN101446624A/zh active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107340467A (zh) * | 2017-07-04 | 2017-11-10 | 北京兆芯电子科技有限公司 | 测试系统 |
| CN107340467B (zh) * | 2017-07-04 | 2020-02-07 | 北京兆芯电子科技有限公司 | 测试系统 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Open date: 20090603 |