CN101339359B - 放射线照相成像设备和方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种放射线照相成像设备和方法。在步骤S1中,系统处于作为成像准备状态的待机模式。如果在步骤S2中检测到握住操作柄,则操作进入步骤S3,其中,释放电磁制动器,从而允许放射线检测器大致绕成像区域的中心旋转。如果在步骤S5中检测到旋转角度,则将覆盖有效成像区域的第一限制装置切换为第二限制装置,从而使得即使在放射线检测器的旋转期间也能恒定地布置在有效成像区域内。

Description

放射线照相成像设备和方法
技术领域
本发明涉及一种对透过被摄体的放射线进行成像的放射线照相成像设备,并且更具体地,涉及放射线的照射形状的控制。
背景技术
到目前为止,一种通过利用放射线照射对象并检测透过对象的放射线的强度分布来获得对象的放射线照相图像的设备已经在工业无损检查和医疗诊断领域中广泛使用。典型的成像方法可以是针对放射线的胶片/屏(film/screen)方法。胶片/屏方法是使用感光胶片和对放射线敏感的闪烁体的成像方法。由于该方法需要用于显影的化学处理,因此,难以进行实时成像。
相反,使用图像增强器的成像系统能够进行实时动画记录。例如,作为使用图像增强器的设备,已知图9所示的可移动的X射线透视检查设备1。下部设置有脚轮的X射线透视检查设备1包括支架2和设置在支架2上的水平轴3。支架2通过脚轮可以水平移动。水平轴3可以如箭头Mh所示水平移动,如箭头Mv所示垂直移动,以及如箭头Rv所示绕垂直支撑轴旋转。C形臂构件4被固定在水平轴3的顶端。
将X射线源5和图像增强器6相对地布置在臂构件4的两个顶端,从而使得它们相对。臂构件4被配置为根据水平轴3的运动如箭头Rh所示绕水平轴旋转,并如箭头Rc所示沿C形轨迹旋转和移动。利用包含水平轴3的运动的多个运动机构,X射线透视检查设备1在各位置相对于被检者调整X射线源5和图像增强器6。
X射线源5向处于臂构件4内的被检者输出X射线。然后,与X射线源5相对布置的图像增强器6将透过被检者的X射线图像转换为光学图像。通过光学镜头光学地汇聚经图像增强器6转换后的光学图像,并通过TV照相机将其转换为电信号。该电信号在阴极射线管(CRT)等上再现为可视图像。对该图像信息进行A/D转换以作为数字信号来存储,利用各种图像处理技术将该图像信息处理为有用信息,并且在各种诊断应用中使用该图像信息。因此,医疗成像诊断技术实现了进步。
与此同时,近年来,半导体工艺技术得到了发展。尤其是,利用半导体传感器进行放射线照相图像的成像的平板检测器(FPD)得到了发展。图10是示出使用这种FPD的放射线照相系统的示意图。放射线源装置11利用放射线照射被摄体P,并且包含FPD 12的放射线照相成像设备13对透过被摄体P的放射线进行成像。FPD 12是在平坦基板上以二维栅格的形式排列光电转换元件的平面检测器。FPD 12通过闪烁体将放射线转化为可见光。以二维栅格的形式排列的光电转换元件检测可见光,作为电信号。将用于控制读取的驱动、图像传送等的控制器14连接到放射线照相成像设备13。控制器14对从放射线照相成像设备13输出的图像进行数字图像处理,并使得监视器15立即显示被摄体P的放射线照相图像。
现有技术的图像增强器6具有直径为6~12英寸的X射线入射面。对于光学聚光单元,图像增强器6具有朝入射面长的圆柱形。在一些情况下,根据大小,可能不将图像增强器6安装在期望的位置。因此,需要降低X射线检测器的厚度。
相反,FPD 12是平面检测器,因此,诸如图像增强器6的光学聚光系统不是必需的,从而降低了X射线检测器的厚度。另外,在边缘部分图像不会变形,可以有效地使用整个矩形区域。
在这种成像系统中,检测面板被安装在专用于站立位置、平躺位置等成像模式的架台上。根据期望选择检测面板,将该成像系统安装并固定在放射线室内。例如,如在日本特开2005-470号公报中所公开的可移动X射线透视设备中,该成像系统在重量上进一步降低,并用来替代图像增强器6。
当X射线检测器要与被摄体对准时,由于现有技术的图像增强器具有对称的圆柱外形,因此,X射线检测器不需要在X射线入射面内旋转。为了旋转图像,进行图像处理,或者在检测器中旋转光学系统。
然而,由于使用玻璃基板的制造处理和电路结构,FPD为矩形,所以FPD必须与被摄体对准,因此,在面内旋转FPD。
在很多情况下,X射线成像设备具有X射线限制机构,以防止所发出的X射线从X射线检测器泄漏到外部。在诸如图像增强器的圆形检测器的情况下,即使当图像增强器旋转时,只要图像增强器绕中心旋转,则射线限制区域不会超出成像区域。
相反,在矩形检测器的情况下,如图11所示,射线限制形状21也是矩形。因此,即使当检测器22在面内绕检测器22的中心S旋转时,检测器22的角度也能够与射线限制形状21的角度不重合。在这种情况下,出现X射线泄漏到后方的区域23。从技术上讲,能够测量这两个角度,并自动地使其相互对准。然而,这种结构会增加成本。
发明内容
考虑到上述情况,本发明提供一种能够防止放射线泄漏到检测器的后方的放射线照相成像设备。
例如,根据本发明的一个方面的放射线照相成像设备包括:放射线源,用于利用放射线照射被摄体;放射线射线限制装置,用于以多个射线限制形状使放射线成形;放射线检测器,其包括多个检测单元并具有矩形状外形,所述检测单元以二维阵列的形式布置,所述放射线检测器用于利用所述检测单元检测透过所述被摄体的放射线的放射线分布;以及支撑器,用于保持所述放射线检测器,其中,所述支撑器包括:旋转支撑单元,用于在放射线入射面内可旋转地支撑所述放射线检测器,旋转感测单元,用于感测所述放射线检测器的旋转,以及控制单元,用于当所述旋转感测单元感测到所述放射线检测器的旋转时,控制所述放射线源和所述放射线射线限制装置至少之一,使得放射线布置在所述放射线检测器的外形内。
根据本发明的另一个方面的放射线照相成像设备包括:放射线检测器,用于将放射线转换为图像信号;支撑器,用于绕作为旋转中心的旋转轴可旋转地支撑所述放射线检测器;放射线源,用于向所述放射线检测器发射放射线;以及改变单元,用于根据相对于所述放射线检测器的所述旋转轴的旋转角度随时间的变化,来改变从所述放射线源发射的放射线的照射形状,所述旋转角度随时间的变化是角速度或角加速度。
根据本发明的又一个方面的用于控制从放射线源发射的放射线的照射形状的方法包括:获取放射线检测器相对于旋转轴的旋转角度随时间的变化,所述旋转角度随时间的变化是角速度或角加速度;以及根据所述随时间的变化,来改变从所述放射线源发射的放射线的照射形状。
根据以下结合附图的说明,本发明的其它特征和优点将变得明显,在说明书的全部附图中,相同的附图标记表示相同或类似的部分。
附图说明
包含在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出本发明的实施例,并与说明书一起用于解释本发明的原理。
图1是示出根据第一实施例的检测器和支撑器的截面。
图2是示出用于支撑检测器的保持装置的结构图。
图3A~3D是示出检测器的旋转状态的说明图。
图4示出根据第一实施例的系统的流程图。
图5是示出根据第二实施例的X射线照射定时的说明图。
图6示出根据第二实施例的系统的流程图。
图7是示出检测器和射线限制区域之间的位置关系的说明图。
图8示出根据第三实施例的系统的流程图。
图9是示出根据现有技术的可移动C臂装置的结构图。
图10是示出具有FPD的系统的示意图。
图11是示出检测器和射线限制区域之间的位置关系的说明图。
具体实施方式
现在,将根据附图详细说明本发明的优选实施例。
第一典型实施例
图1是示出根据第一实施例的放射线照相成像设备的支撑器31和放射线检测器32的内部的截面。放射线检测器32被安装在支撑器31上。放射线检测器32包括上方敞开的箱形框体33。利用由高X射线穿透性材料制成的框体盖34密封框体33的上方。利用插入金属基台36和框体33之间的支撑部35将金属基台36固定在框体33内。在基台36上设置有X射线图像检测面板37,在该X射线图像检测面板37中层叠有基板37a、光电转换元件37b和闪烁板37c。
因为玻璃板不与半导体元件发生化学反应,在半导体工艺的温度下耐热,并且满足尺寸稳定性的要求,因此,基板37a通常为玻璃板。通过半导体工艺以二维阵列的形式在基板37a上形成光电转换元件37b。通过利用金属化合物的闪烁体涂布树脂板,形成闪烁板37c。通过接合,使闪烁板37c与基板37a和光电转换元件37b一体化。
另外,限定读取电路和驱动电路的柔性电路板38被连接至光电转换元件37b的层的侧面。将光电转换元件37b连接至电路板39。在电路板39上具有用于处理光电转换后的电信号的电子组件39a和39b。因此,X射线图像检测面板37为矩形。通常,将读取电路和驱动电路分别布置在相互正交的面。通过线缆40将电路板39连接至中继电路41。
在用作旋转支撑单元的支撑器31内具有用于旋转放射线检测器32的轴42。通过轴承43可旋转地支撑轴42。轴42具有中空的部分,并设置有包括盘状部件44和电磁制动器45的驱动单元。因此,能够通过电气单元控制放射线检测器32的旋转。为了当操作者旋转放射线检测器32时允许旋转操作,设置有操作开关(未示出)。
在支撑器31内具有包括例如用于检测放射线检测器32的旋转的编码器的角度位置检测器46。通过线缆47将角度位置检测器46连接至外部控制单元。为了电力供应、信号传送和其它目的,通过线缆48穿过轴42中的中空部分将放射线检测器32中的中继电路41连接到外部控制单元。
此外,在放射线检测器32的背面上设置有用于放射线检测器32的手动旋转的操作柄49。操作柄49包含用于检测操作柄49是否被握住的接触传感器50。
放射线检测器32与用作X射线源的X射线管结合。通过对透过被摄体的X射线的放射线分布进行成像,可以进行X射线成像。当透过被摄体的X射线从放射线检测器的32的上面入射时,X射线透过框体盖34,并且入射在X射线图像检测面板37上。然后,X射线图像检测面板37的闪烁板37c发光。以二维阵列的形式布置的光电转换元件37b将光转换为电信号。电信号被作为图像信息传送,因此,可以在监视器上立即观察图像。
放射线检测器32可以与各种类型的保持装置结合。作为典型的例子,放射线检测器32与图2所示的可移动C臂装置61结合使用。通常的可移动C臂装置61在具有脚轮62的主体63上具有水平轴64。水平轴64可以如箭头Mv和Mh所示垂直地和水平地移动,并如箭头Rv所示旋转。C形臂构件65被固定在水平轴64的顶端。臂构件65可以如箭头Rc和Rh所示旋转。主体63包括控制设置在可移动C臂装置61上的构件的控制器66。
X射线源68被安装在臂构件65的一端。X射线源68包含用作泄漏放射线射线限制装置的X射线限制装置67。放射线检测器32被安装在臂构件65的另一端,从而使得放射线检测器32面对X射线源68。放射线检测器32被可旋转地支撑在如图1所示的支撑器31上。支撑X射线源68和放射线检测器32,使得它们之间具有恒定的距离。通过上述机构,可以以相对于被摄体的期望角度布置X射线源68和放射线检测器32,其中被摄体被布置在X射线源68和放射线检测器32之间。
通常,X射线限制装置67由具有高X射线屏蔽率的铅等重金属制成。例如,考虑到对被摄体的曝光,准备了多个射线限制形状。X射线限制装置67包括一对相互正交布置的机构。每个机构具有两个板,并通过水平移动这两个板来改变开口的宽度。因此,如图3A所示,提供用于限定第一矩形射线限制形状的射线限制形状71。可以将射线限制形状71改变为如图3B所示的用于限定具有射线限制形状71的缩小的尺寸的第二射线限制形状的射线限制形状72、如图3C所示的用于限定圆形第二射线限制形状的射线限制形状73、如图3D所示的多边形第二射线限制形状的射线限制形状74等。因此,可以形成期望的射线限制形状。
放射线检测器32具有外形为矩形的有效成像区域。与圆形图像增强器不同,根据成像对象的部位,需要进行位置调整,以使期望的范围与有效成像区域对准。上述C臂装置61的可移动机构可以进行该对准;然而,以高精度进行对准很难。为了利用有效的操作进行对准,放射线检测器32应当在放射线入射面内旋转。因此,设置有用于使放射线检测器32沿图2中箭头Rx所示的方向、绕大致位于有效成像区域中心的X轴旋转的机构。
通过按下开关(未示出)释放电磁制动器45,操作者可以手动旋转放射线检测器32。特别地,通过放射线检测器32的电路板39和线缆48将操作柄49中的接触传感器50的输出发送到主体63中的控制器66。
由于放射线检测器32的成像区域是矩形的,因此,设置有用于自动旋转X射线限制装置67来对准射线限制形状位置的单元。此外,放射线检测器32的X射线限制装置67具有用于感测旋转角度的旋转感测单元。基于所获得的旋转角度来控制X射线限制装置67的旋转位置。
利用这种设备,当操作者观察显示在监视器上的图像时,操作者手动进行对准操作,以使期望的部分与矩形成像区域对准。支撑器31中的角度位置检测器46检测由操作者旋转的旋转量,并通过线缆48将其输出发送到控制器66。响应于来自控制器66的指令,与放射线检测器32的旋转同步地驱动X射线限制装置67。
此时,如果操作者快速改变角度,并且如果这种改变超出用于旋转X射线限制装置67的致动器的性能限制,则射线限制形状不能跟随这种改变,因此,X射线可能超出放射线检测器32的外形,并泄漏到后方。根据本实施例,考虑到这种情况,当检测到旋转状态的切换时,改变射线限制形状,从而使得即使在放射线检测器32处旋转射线限制形状时,也能恒定地布置在有效成像区域内,从而防止X射线泄漏。
图4是示出根据本实施例的操作的流程图。在步骤S1中,包括放射线检测器32的系统处于作为成像准备状态的待机模式。在这种状态下,持续监视是否按下了一定数量的操作开关。如果状态是没有操作开关被按下的关闭状态,则保持成像准备状态。操作开关可以包括用于开始成像的开关、用于释放锁定从而移动诸如臂构件65的机构的开关、以及用于释放锁定从而旋转放射线检测器32的开关。
本实施例是关于专用于与X射线限制装置67和放射线检测器32的对准有关的操作的处理。在步骤S2中,接触传感器50检测操作柄49的握住操作。为了操作者执行放射线检测器32的对准,首先必需释放旋转限制。在本实施例中,操作柄49中的接触传感器50的检测用作触发。当握住操作柄49时,接触传感器50对该握住做出反应。如果检测到操作柄49的握住,则操作进入步骤S3,其中,释放电磁制动器45,放射线检测器32变得大致绕成像区域的中心可旋转。如果在步骤S2中未检测到操作柄49的握住,则操作进入步骤S4,其中,启动电磁制动器45,然后操作返回步骤S1。
在步骤S3中释放电磁制动器45之后,操作进入步骤S5,其中,检测放射线检测器32的旋转。如果操作者旋转放射线检测器32并且角度位置检测器46检测到旋转角度,则操作进入步骤S6。在步骤S6中,将射线限制形状从如图3A所示的覆盖放射线检测器32的有效成像区域的第一射线限制形状71的矩形区域改变为即使放射线检测器32旋转时也恒定地布置在有效成像区域内的第二射线限制形状72、73或74。例如,图3B中示出的第二射线限制形状72具有类似的矩形形状,但是在大小上减小,使得对角线L1变得小于放射线检测器32的短边尺寸L。可选地,射线限制形状可以改变为如图3C或3D所示的第二射线限制形状73或74的圆形或多边形,第二射线限制形状具有小于放射线检测器32的短边尺寸的最外形状尺寸L2或L3。
在步骤S7中,如图3A~图3D所示,与所测得的放射线检测器32的角度θd同步地,将X射线限制装置67旋转角度θc(=θd)。如果操作者在步骤S5中停止旋转放射线检测器32,并且关闭旋转检测,则操作进入步骤S8,其中,射线限制形状返回第一射线限制形状71。在这种状态下,操作者可以在整个成像区域中判断对准是否有效。
特别地,如果可以获得期望的对准,于是,操作者释放操作柄49,并且接触传感器50关闭,在步骤S4中启动电磁制动器45。由于系统被这样配置,因此,即使在操作者以超过用于旋转X射线限制装置67的致动器的性能限制的加速度来移动放射线检测器32时,也可以防止X射线超出放射线检测器32的外形并防止X射线泄漏到外部。
第二典型实施例
在第一实施例中,通过改变射线限制形状以使得即使在旋转期间射线限制形状也能恒定地布置在有效成像区域内,来实现用于在放射线检测器32的旋转期间防止X射线泄漏到后方的功能。在调整有效成像区域的中心部分处的感兴趣的部分的方向的情况下,这种方法是足够的。然而,在对准有效成像区域的端部处的感兴趣的区域的情况下,当旋转中断时,必需检查对准。因此,需要对该方法的进一步改进。支撑放射线检测器32的支撑器31具有与第一实施例中的结构类似的结构。通过使用各种可移动机构,可以将放射线检测器32相对于被摄体布置在期望位置和姿势。
动画通常包括以恒定的时间间隔获取的间歇图像帧。图5的(a)部分示出根据第二实施例的放射线检测器32的图像获取定时。随着时间间隔Δt降低,可以获取具有缩小的令人不适的帧间间隙的连续动画。考虑到人眼的分辨率,通常帧率为30帧每秒(FPS)。关于放射线检测器32的该要求,X射线照射是如图5的(b)部分所示的脉冲照射而非连续照射。即使在放射线检测器32的旋转操作期间,也与帧的成像同步地进行间歇脉冲照射。因此,可以降低照射的X射线量,并可以降低由于发热所引起的使用限制。
图6是示出根据第二实施例的操作的流程图。在步骤S1~S5中,进行与图4中的流程图中的处理相似的处理。当在步骤S5中操作者旋转放射线检测器32并且测量到旋转角度时,操作进入步骤S11,其中,计算放射线检测器32和X射线限制装置67之间的相对角度,然后,在步骤S12中,根据在步骤S11中获得的结果旋转X射线限制装置67。
在对准时,通过低帧率的X射线脉冲照射获取X射线图像。在操作者检查图像显示监视器上的位置的同时,操作者进行对准。此时,X射线限制装置67具有如图7所示的覆盖有效成像区域的射线限制形状。与第一实施例不同,即使在旋转期间也能在有效成像区域的端部检查图像。
以一定的时间间隔重复步骤S11和S12。每X射线脉冲间隔Δt将操作切换到条件判断处理。步骤S13表示每脉冲间隔Δt操作进入步骤S14,在步骤S14中,当步骤S5之后经过的时间t是Δt的整数n倍时,操作分叉。
在操作者快速旋转放射线检测器32的情况下,用于旋转X射线限制装置67的致动器不能跟随该旋转,导致时间延迟。如果相对角度超过容许值,则X射线可能泄漏到后方。因此,判断在步骤S14中获得的相对角度是否在容许范围内,即是否是容许值或更小。如图5的(c)部分所示,在X射线的非照射时间段内至少执行一次相对位置判断处理。
如果该值是容许值或更小,则在如图5的(c)部分所示的用于判断相对角度是否是容许值或更小的例程处理之后,操作进入步骤S15。紧接在此之后,进行图5的(a)部分中所示的图像帧的获取、以及图5的(b)部分中所示的X射线脉冲照射。然后,在步骤S16,将所获得的图像帧显示在监视器上,与此同时更新图像帧。通过重复上述步骤S5~S16,操作者可以使用连续图像帧来检查对准。
相反,如果在步骤S14中相对角度超过容许值,则操作不进入步骤S15,而是返回步骤S11和S12中的用于相对角度校正的例程处理。在X射线限制装置67赶上放射线检测器32的旋转的时刻,变得可以进行图像获取。利用该步骤,可以将X射线可靠地布置在放射线检测器32的矩形外形内。
如果在图像获取中相对角度增加并且然后图像获取中断,则不删除当前显示的图像并连续显示最后获取的帧。因此,将不删除图像,并可以提供视觉上连续的图像,从而降低操作者的不适感。
应当注意,相对旋转角度的容许值θ包括裕量(margin)。在X射线限制装置67的射线限制形状超出放射线检测器32的外形的情况下,对于图7中的角度θL,该裕量考虑图5中的容许值条件判断处理的终点和脉冲照射的起点之间的时间差td。例如,如下确定通过表达式(1)所获得的值,其中,还通过相对角度计算来计算相对角速度ωr,将所计算的相对角速度ωr乘以时间差td,假定所得到的值是裕量,然后从角度θL减去该裕量:
θ=θL-ωr×td...(1)
尽管步骤S14的条件是如上所述用于判断相对角度的物理量,但是用于判断的条件可以是作为输入的诸如放射线检测器32的旋转角加速度ωd或旋转速度的物理量。如果这个值超过容许值,则X射线限制装置67的跟随可能延迟,相对角度可能增大,因此,X射线照射区域可能与放射线检测器32不重合。例如,在根据放射线检测器的32的旋转角加速度ωd没有发现X射线限制装置67的跟随的情况下,如果假定在时间差td中值被判断为小于容许角度θL的条件,则通过下式(2)设置放射线检测器32的旋转角加速度ωd的容许值ωL:
ωL=θL/td...(2)
利用这种系统,可以提供用以防止X射线超出放射线检测器32的外形并泄漏到外部的基本性能、以及操作效率方面的优点,而不缩小有效成像区域。
第三典型实施例
第三实施例是第一实施例与第二实施例的组合。图8示出根据第三实施例的流程图。本实施例基于第二实施例,省略对共同结构的说明。在图8的流程图中,仅与图6中的处理不同的处理具有新的步骤编号。
作为用于每X射线脉冲间隔Δt判断X射线照射是否可用的处理,执行步骤S14。如果放射线检测器32与X射线限制装置67之间的相对角度是容许值或更小,则操作进入步骤S21,其中,选择覆盖有效成像区域的第一射线限制形状71。相反,如果相对角度超过容许值,则操作进入步骤S22,其中,选择即使在放射线检测器32的旋转期间也恒定地布置在有效成像区域内的第二射线限制形状72、73或74。然后,操作返回步骤S11。如果X射线限制装置67利用机械机构的旋转赶上放射线检测器32的旋转,并且相对角度降低,则再次开始脉冲照射和图像帧获取。
利用该系统,尽管X射线照射区域缩小,但是即使在快速旋转期间,仍然能够检查图像,并同时防止X射线泄漏,从而提供操作效率方面的优点。
尽管参考典型实施例说明了本发明,但是应当理解,本发明不限于所公开的典型实施例,可以在本发明的范围内进行各种修改和改变。特别地,尽管在上面的说明中,要组合的保持装置采用可移动C臂装置,但是保持装置可以可选地为直立架、通用架等。
由于在不背离本发明的精神和范围的情况下,可以实现本发明的很多显然不同的实施例,应当理解,除非在权利要求书进行了定义,本发明不限于其特定实施例。

Claims (10)

1.一种放射线照相成像设备,包括:
放射线源,用于利用放射线照射被摄体;
放射线射线限制装置,用于以多个射线限制形状使放射线成形;
放射线检测器,其包括多个检测单元并具有矩形状外形,所述检测单元以二维阵列的形式布置,所述放射线检测器用于利用所述检测单元检测透过所述被摄体的放射线的放射线分布;以及
支撑器,用于保持所述放射线检测器,
其中,所述支撑器包括:
旋转支撑单元,用于支撑所述放射线检测器,使得所述放射线检测器能够绕位于所述放射线检测器的有效成像区域的中心的轴旋转,
旋转感测单元,用于感测所述放射线检测器的旋转,以及
控制单元,用于当所述旋转感测单元感测到所述放射线检测器的旋转时,控制所述放射线射线限制装置,使得改变所述放射线射线限制装置的射线限制形状,从而使放射线恒定地布置在所述有效成像区域内。
2.根据权利要求1所述的放射线照相成像设备,其特征在于,所述放射线射线限制装置包括:
矩形状的第一限制装置,其被配置为至少覆盖所述放射线检测器的所述有效成像区域,以及
多边形状或圆形状的第二限制装置,其被配置为即使在所述放射线检测器的旋转期间也能恒定地布置在所述有效成像区域内,以及
其中,在所述放射线检测器的旋转期间使用所述第二限制装置。
3.根据权利要求1所述的放射线照相成像设备,其特征在于,所述放射线射线限制装置包括:
矩形状的第一限制装置,其被配置为至少覆盖所述放射线检测器的所述有效成像区域,以及
多边形状或圆形状的第二限制装置,其被配置为即使在所述放射线检测器的旋转期间也能恒定地布置在所述有效成像区域内,以及
其中,如果利用所述旋转感测单元所检测到的旋转速度或旋转角加速度超过容许值,则在所述放射线检测器的旋转期间使用所述第二限制装置。
4.根据权利要求2所述的放射线照相成像设备,其特征在于,所述放射线射线限制装置包括:
旋转单元,用于在放射线入射面内旋转所述第一限制装置和所述第二限制装置之一,以及
对准单元,用于根据所述放射线检测器的旋转量,将所述第一限制装置和所述第二限制装置之一与所述放射线检测器的所述有效成像区域对准,以及
其中,如果所述放射线检测器和所述放射线射线限制装置之间的相对旋转角度超过容许值,则利用中断单元中断放射线的照射。
5.根据权利要求4所述的放射线照相成像设备,其特征在于,所述中断单元是操作开关,通过所述操作开关将所述放射线检测器切换到旋转操作。
6.根据权利要求1所述的放射线照相成像设备,其特征在于,所述旋转感测单元是用于测量所述放射线检测器的旋转角度的单元。
7.根据权利要求1所述的放射线照相成像设备,其特征在于,当中断放射线对被摄体的照射时,显示最后获取的图像。
8.根据权利要求1所述的放射线照相成像设备,其特征在于,所述放射线源在所述放射线检测器的旋转期间进行对放射线的间歇脉冲照射的控制,并在脉冲照射期间的非照射时间段内至少进行一次相对位置判断。
9.一种放射线照相成像设备,包括:
放射线检测器,用于将放射线转换为图像信号;
支撑器,用于绕作为旋转中心的旋转轴可旋转地支撑所述放射线检测器,所述旋转轴位于所述放射线检测器的有效成像区域的中心;
放射线源,用于向所述放射线检测器发射放射线;以及
改变单元,用于根据旋转角度随时间的变化,来改变从所述放射线源发射的放射线的照射形状,所述旋转角度随时间的变化是由所述放射线检测器相对于所述旋转轴的角速度或角加速度确定的。
10.一种用于控制从放射线源发射的放射线的照射形状的方法,包括:
获取放射线检测器相对于旋转轴的角速度或角加速度,从而获取旋转角度随时间的变化,所述旋转轴位于所述放射线检测器的有效成像区域的中心;以及
根据所述随时间的变化,来改变从所述放射线源发射的放射线的照射形状。
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Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5224726B2 (ja) * 2006-07-10 2013-07-03 キヤノン株式会社 放射線画像撮影装置及びその制御方法
JP2009253668A (ja) * 2008-04-07 2009-10-29 Fujifilm Corp 画像撮影装置および画像欠陥補正方法
JP5597650B2 (ja) * 2009-02-10 2014-10-01 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ X線像を表示するための医療用表示システム
JP5483903B2 (ja) * 2009-03-02 2014-05-07 キヤノン株式会社 X線撮影装置
JP5451145B2 (ja) * 2009-04-02 2014-03-26 キヤノン株式会社 放射線画像撮影装置
JP5675062B2 (ja) * 2009-06-05 2015-02-25 キヤノン株式会社 X線画像撮影装置
JP5586878B2 (ja) 2009-06-08 2014-09-10 キヤノン株式会社 X線画像撮影装置
JP5611730B2 (ja) * 2010-08-31 2014-10-22 富士フイルム株式会社 放射線回診車、及び放射線画像撮影装置
DE102010042123B3 (de) * 2010-10-07 2012-03-22 Siemens Aktiengesellschaft Anordnung mit einem drehbaren Röntgendetektor
US9055913B2 (en) * 2011-04-29 2015-06-16 General Electric Company System and method for orienting an X-ray detector
EP2721432B1 (en) * 2011-06-14 2019-08-21 Analogic Corporation Security scanner
US9398885B2 (en) 2011-09-28 2016-07-26 Hitachi, Ltd. Mobile x-ray diagnostic apparatus and method for controlling mobile x-ray diagnostic apparatus
US20140037058A1 (en) * 2012-08-03 2014-02-06 Visuum, Llc C-Arm with Removable or Retractable Detector Housing
ES2751069T3 (es) * 2014-01-27 2020-03-30 Epica Int Inc Dispositivo de imagen radiológica con funcionamiento mejorado
KR101622539B1 (ko) * 2015-01-21 2016-05-19 삼성전자 주식회사 브레이크 장치 및 이를 포함하는 의료기기
CN108120729B (zh) * 2017-12-28 2024-04-02 清华大学 Ct检查系统和ct成像方法
JP7154200B2 (ja) * 2019-09-30 2022-10-17 富士フイルム株式会社 放射線撮影装置及び放射線撮影装置の制御方法
KR102300083B1 (ko) * 2019-10-30 2021-09-07 세메스 주식회사 광 측정 장치
CN115969401B (zh) * 2023-03-20 2023-06-23 苏州一目万相科技有限公司 成像设备和检测方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5237599A (en) * 1990-11-13 1993-08-17 Kabushiki Kaisha Toshiba X-ray apparatus
CN1142178A (zh) * 1994-11-21 1997-02-05 菲利浦电子有限公司 具有射束光阑的x射线检查装置
CN1496710A (zh) * 2002-10-02 2004-05-19 株式会社岛津制作所 射线照相设备
CN1169408C (zh) * 1999-10-13 2004-09-29 株式会社岛津制作所 带转动限制装置的x射线仪
CN1685447A (zh) * 2002-09-26 2005-10-19 西门子公司 遮蔽装置和具有放射器侧遮蔽装置的计算机断层造影设备

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6058109U (ja) * 1983-09-29 1985-04-23 株式会社島津製作所 X線撮影装置
JP3607408B2 (ja) * 1996-04-18 2005-01-05 株式会社東芝 X線診断装置
JP4417459B2 (ja) * 1999-01-11 2010-02-17 株式会社東芝 X線診断装置
JP2001029339A (ja) * 1999-07-22 2001-02-06 Toshiba Corp X線診断装置
DE10324911B4 (de) * 2003-05-30 2005-08-18 Siemens Ag Röntgenvorrichtung mit partiellem digitalem Detektor und Verfahren zum Betrieb einer solchen

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5237599A (en) * 1990-11-13 1993-08-17 Kabushiki Kaisha Toshiba X-ray apparatus
CN1142178A (zh) * 1994-11-21 1997-02-05 菲利浦电子有限公司 具有射束光阑的x射线检查装置
CN1169408C (zh) * 1999-10-13 2004-09-29 株式会社岛津制作所 带转动限制装置的x射线仪
CN1685447A (zh) * 2002-09-26 2005-10-19 西门子公司 遮蔽装置和具有放射器侧遮蔽装置的计算机断层造影设备
CN1496710A (zh) * 2002-10-02 2004-05-19 株式会社岛津制作所 射线照相设备

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
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Publication number Publication date
US20090010394A1 (en) 2009-01-08
CN101339359A (zh) 2009-01-07
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US7734016B2 (en) 2010-06-08
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