附图说明
图1是表示本发明的光盘媒体的轨道构造例子的图。
图2是常规解像消除的概念图。
图3是表示常规解像信号的振幅和标记的反射率及有效凹坑深度的关系的图。
图4是本发明的光盘媒体的光学计算模式图。
图5是表示试作盘的空白部与标记部的反射率的设计结果和实测结果的图。
图6是表示采用FDTD法的电磁场计算结果的图。
图7是表示用FDTD法计算反复信号的标记长度和信号振幅的关系的结果的图。
图8是表示本发明的光盘媒体的剖面的SEM照片。
图9是表示本发明的光盘媒体的反射率和相位的调整方法及其结果的图。
图10是表示本发明的光盘媒体的热模拟的结果的图。
图11是表示计算本发明的光盘媒体的推挽信号的结果的图。
图12是表示与DPP方式的跟踪相对应的3束光头的光检测器及其检测信号的图。
图13是表示本发明的轨道误差信号生成的电路的构造例子的图。
图14是表示本发明的光盘装置的跟踪控制电路的构造例子的图。
图15是表示适于本发明的偏移控制电路的构造例子的图。
图16是表示物镜致动器的驱动电流和推挽信号的模式图。
图17是表示适于本发明的实现了偏移补正功能的光盘媒体的构造例子的图。
图18是表示适于本发明的偏移控制电路的另一构造例子的图。
图19是表示本发明的光盘装置的跟踪控制电路的构造例子的图。
图20是表示本发明的推挽信号的波形整形器的构造例子的方框图。
图21是表示适于本发明的光盘装置的数据再现电路的构造例子的图。
图22是表示适于本发明的光盘装置的再现功率学习功能的方框图。
图23是表示再现功率和轨道误差信号的关系的模式图。
图24是表示光盘装置的构造例子的模式图。
符号说明
100:光盘
101:光点
110:光头
111:物镜
112:半导体激光器
113:光检测器
114:激光
115:反射光
116:激光驱动器
120:激光功率/脉冲控制器
130:再现信号处理器
140:CPU
160:主轴马达
具体实施方式
依据本发明,即使稳定的跟踪成为可能,也可能由于数据轨道的窄道化、来自相邻轨道的交差扭转而使再现数据的品质劣化而变得没有意义。此外,还需要提供具体的盘构造和再现方法。
以下,详细示出在实现本发明的光盘媒体和跟踪方法方面的课题和解决方法。在实现本发明方面的课题是:(1)降低由数据轨道的窄道化引起的数据轨道间的交叉扭转,(2)提供具体的盘结构和制作方法,(3)本发明针对在以往方式中得到的推挽信号的效果的定量化。以下,将说明这些课题的解决方法。
(1)降低由数据轨道的窄道化引起的数据轨道间交叉扭转
在3维凹坑选择方式盘中,利用嵌入到凹坑中的相位改变记录膜在熔融时光学特性的变化,对小于光学分辨率的标记进行超级解像再现。另一方面,如果有比光学分辨率还大的标记,则能够得到和一般的光盘同样的信号。以下,把这些称为超级解像再现以及常规解像再现。当对数据轨道进行窄道化的情况下,虽然再现中的轨道以强的光能进行超级解像再现,但因为在相邻轨道中光能弱,所以处于常规解像再现状态。因为相邻数据轨道的常规解像再现信号作为交叉扭转漏入到该轨道的超级解像再现信号中,所以如果它大,则再现信号品质劣化。为了解决该问题,只要尽可能减小常规解像再现信号即可,理想的是设置为零。以下把通过减小常规解像再现信号来降低对超级解像再现信号的交叉扭转的技术称为常规解像消除技术。
图2是归纳常规解像消除的概念的图,考虑2种类型。其中,把空白部分的反射率设置成Rs,把标记是结晶状态时的反射率设置为Rc、把熔融状态时的反射率设置为Rm。类型1的构成是设置成Rs=Rc时的情况。由此,常规解像再现信号的振幅(Rc-Rs)能够为零,可以确保超级解像再现信号的振幅(Rm-Rs)。类型2的构成是利用了取决于凹坑与空白的物理级差及凹坑与空白的膜结构的光学性相位差。此时设置成Rs<Rc,通过使由于凹坑部的衍射而衍射到物镜的开口外的光量和与反射率差(Rc-Rs)相当的光量相等,能够把常规解像再现信号的振幅设置为零。在超级解像再现时,由于标记的反射率发生变化,因而上光量平衡被打破,将其作为信号振幅而检测出。一般情况下如图所示,通过设置成Rs=Rm,能够增加大的超级解像再现信号的振幅。附注该要件对本发明而言并不是必须的。
图3是表示常规解像信号的振幅与标记的反射率及有效凹坑深度(标记的光学相位差/2)的关系的图。在此使用基于Hopkins方法的线性衍射模拟器,示出了光源的波长为405nm、物镜的数值孔径为0.85、标记宽度为0.16μm、标记长度为0.60μm时的计算结果。图中的Sc以及Ss分别表示用光头检测到的标记(结晶状态)以及空白部的信号强度,是包含了衍射效果的计算结果。常规解像消除的条件是Sc=Ss。相对于类型1的条件是反射率比Rc/Rs=1、且有效凹坑深度=0λ这一点而言,如图所示,在是类型2的情况下,反射率比Rc/Rs和有效凹坑深度的组合扩大到更宽的区域。结果,类型2的盘结构的自由度大,容易制作。
为了确定盘的构造,需要计算标记部和空白部的反射率和相位。为了计算3维凹坑选择方式盘的标记部的反射率和相位,与以往的方法相比需要花费工夫。图4是进行了CMP加工的3维凹坑选择方式盘的光学计算模型。其中,使用采用了特性矩阵的一般的多层膜干涉计算方法。在光入射侧的覆盖层(在图中与BD光学系统对应是UV树脂)中假想地设置了用于相位计算的基准面,根据凹坑部和空白部各自的膜结构进行使用特性矩阵的干涉计算,求出复数振幅反射率,计算凹坑部的反射率、空白部的反射率、凹坑部相对空白部的有效凹坑深度(光学相位)。由此,能够计算出形成在基板上的凹坑的物理深度和与标记和空白各自的膜构成相应的反射率和相位,通过把结果输入到上述线性衍射模拟器中能够计算再现信号。图中的盘结构是下述的基本结构:使用最短凹坑长度为0.15μm、凹坑深度为68nm的PC基板作为基板,使用AgPdCu合金薄膜作为反射膜,使用BiGeSbTe合金薄膜作为记录膜,使用Al2O3薄膜作为保护膜。
图5是汇总了试作盘的空白部和标记部的反射率的设计结果和实测结果的图。在实验中使用的光头是光源波长λ=405nm,物镜的数值孔径NA=0.85的光头,聚光点的1/e2直径(λ/NA)约为476nm。在实验中所用的盘准备了多张AgPdCu合金薄膜的厚度在10nm到200nm的范围中变化、BiGeSbTe合金薄膜的厚度在10nm到30nm的范围中变化、Al2O3薄膜的厚度在10nm到90nm的范围中变化的盘。关于空白部的反射率,设计值和实测值更加一致。关于凹坑部的反射率,虽然在整体上实测值小于设计值,但可以认为这主要是因为凹坑的大小小于波长,从而产生了与以平坦的无限宽的多层膜为模型的多重干涉计算模型的偏差。用以上所示的计算方法可以充分地实现膜结构的设计,如果通过实验加以修正,则能够确认可以使常规解像信号的振幅接近于零。从该结果判断出,相对于空白部的反射率,得到了约10%左右的超级解像信号的振幅。
以下,说明采用FDTD(Finite Differential Time Domain)法的电磁场计算的结果。在此为了简化计算,以与类型1的常规解像消除构造有关的结果为中心进行了表示,但对于类型2的常规解像消除,计算方法基本上没有变化。
图6是表示用FDTD法实施了电磁场计算的结果一例的图。其中,示出了在用反射膜涂敷后的凹坑内配置相位改变记录膜,且电场强度分布根据在该膜厚度方向(图中的Z方向)上的位置而变化的方式。图6(b)是与类型1的结构相对应的适当条件,即由标记产生的衍射最小且标记与空白部的反射率相等。此时,相对于膜厚度方向,空白部的反射膜和凹坑内的记录膜大致处于同一位置。这是类型1的常规解像消除结构的要点。
图7是表示用FDTD法计算反复信号的标记长度和信号振幅的关系的结果的图。在此表示图6(b)中的模型的结果。如图所示,与一般的ROM盘相比,在常规解像消除构造的3维凹坑选择盘中,判定在相对BD把线密度设置成4倍的100GB的条件下,也能够得到充分的信号振幅。
(2)提供具体的盘构成和制作方法
以CMP加工为前提考虑具体的盘的构成。如果实施CMP加工,则能够把盘表面加工得平坦。如上所述如果使用常规解像消除构造,则即使窄道化,交叉扭转对再现信号的影响也小,并且能够得到良好的推挽信号。
图8表示试作盘的剖面的SEM(Scanning Electron Microscopy)照片。这是使图4中模式化表示的结构具体化的图。
在这样的构成中,说明标记的反射率和相位的具体调整方法。图9是汇总了标记和空白的反射率和相位的调整方法及其结果的图。如图9(a)所示,基本的标记结构是在凹坑内层叠了反射膜/保护膜(干涉膜)/记录膜。空白的反射率可以通过选择反射膜的材料和膜厚度来选择。标记的反射率如图9(b)所示,主要能够通过记录膜的膜厚度d1来进行调整。对于标记部的相位,如图9(c)所示,可以主要通过保护膜(干涉膜)的膜厚度d2来进行调整。如果通过这样的调整不能得到良好的结果的情况下,如果重新检查反射膜的构造,重复同样的步骤,则最终能够得到得以满足的盘构造。
(3)针对在以往方式中得到的推挽信号,本发明效果的定量化
使用热模拟和光学模拟进行本发明效果的定量化。图10是热模拟的结果。在此示出了针对把轨道间距设置成160nm、把BiGeSbTe合金薄膜(厚30nm,宽80nm)作为记录膜嵌入到数据轨道上而形成的构造实施了应用了上述FDTD法的热模拟的结果。光源的波长是405nm,物镜的数值孔径是0.85,光束的扫描速度是5m/s,标记长度和空白长度分别是600nm,标记和空白交替配置在数据轨道上,并且在半径方向(与轨道正交的方向)上各标记对齐配置。图10(a)是光束扫描数据轨道的中央时的计算结果。由于光能吸收体仅为形成在标记内的记录膜,所以温度分布反映出这一点。图10(b)是光束扫描数据轨道和数据轨道的中间时的计算结果。判断最靠近光束的2个数据轨道变成高温。如这里所示,能够通过适当地确定光束的功率,来确定在光束位于数据轨道的中心时,记录膜的温度变成熔点以上,而在光束处于数据轨道之间时,相邻轨道的记录膜温度变成熔点以下的条件。
图11是使用衍射计算来计算推挽信号的结果。图11(a)表示从未使用超级解像的以往光盘的轨道凹槽中得到的推挽信号。推挽信号的振幅被标准化为在轨道间距是320nm的条件下得到的振幅±1。轨道凹槽相对轨道间距设置成占空比是50%的U凹槽,凹槽深度设置成λ/8。如图所示,与轨道间距的减少一起,推挽信号的振幅变小,在轨道间距小于等于240nm时,由于是衍射极限所以振幅大致变成零。图11(b)是从本发明的光盘媒体得到的推挽信号。在此,参考热模拟的结果,假设通过熔化从光点中心起±0.4轨道间距宽度的区域而使光学常数改变。根据使用了30nm厚度的BiGeSbTe合金薄膜的设计结果,在熔融状态下的标记的相位为λ/40。如图所示,判断出通过利用光束只熔融了1条数据轨道,即使在轨道间距是200nm的条件下,也能够得到和在以往光盘媒体的轨道间距是320nm的条件下得到的推挽信号相同振幅的推挽信号。
如上所述,通过模拟验证了利用本发明的光盘媒体能够实现约为以往的2/3左右的窄道化(200nm/320nm)。
以下,使用实施例说明本发明的具体细节。
图1是表示本发明的光盘媒体的轨道构成例子的图。利用在标记内嵌入只在高温时光学常数改变的物质而在低温时进行常规解像消除的媒体构造,可以进行窄道化。图1(a)是表示适于本发明的光盘媒体的信息轨道的模式图。如上所述,是在标记内嵌入了只在高温时光学常数改变的物质而形成的结构。图1(b)表示检测出的推挽信号。如上所述,在所照射的激光功率小(图中,读取功率=低)时,得到基于一般的衍射现象的推挽信号。另一方面,在所照射的激光功率适度大(图中,读取功率=高)时,只有紧挨在激光点下面的标记的光学常数改变,得到了基于超级解像效果的大且良好的推挽信号。这些就是从图11所示的计算结果提炼出来的。
以下,说明本发明的光盘装置的实施例。图12是表示与一般使用的DPP方式的跟踪相对应的3束光头的光检测器及其检测信号的图。光检测器113由主光束用的4分割检测器(A,B,C,D)和2个子光束用的2分割检测器(E,F;G,H)构成,在分别经由I-V变换放大器变换为电压信号后,生成数据再现用的RF信号51、主光束的推挽信号52、非点像差方式的聚焦误差信号53、子光束的推挽信号54以及55。在一般的光盘装置中,为了消减电路规模,大多是如(E+G),(F+H)那样分别直接电连接子光束用2分割检测器,生成合计的子光束推挽信号,但在本发明的光盘装置中为了再现摆动信号而需要分别作为独立电气信号而取出。在是与BD对应的光学系统的情况下,只要所使用的光源是波长为405nm的半导体激光器、未图示的物镜的数值孔径是0.85即可。
对从1个半导体激光光源中生成3个光束并在光盘上形成光点的方法进行简单地说明。在此对使用衍射光栅的方法进行说明。从半导体激光器射出的激光在透过具有等间隔间距的衍射光栅时被分离成衍射次数为0和±1的3个角度。通过使用使0次衍射光与主光点对应、使±1次衍射光与子光点对应这样的光学系统,能够简单地在盘上形成3个光点。该方法是在光盘装置中一般广泛使用的方法。
图13是表示轨道误差信号生成电路的构成例子的图。轨道误差信号生成电路80由偏移调整电路81~83、增益调整电路84~86、子光束推挽信号用加法器87、用于生成DPP信号的减法器88、以及有选择地切换DPP信号和推挽信号的开关89构成。由于利用DPP信号在未使用超级解像的现有光盘装置中进行跟踪控制,所以在本电路中使用主光束推挽信号MPP和2个子光束推挽信号SPP1以及SPP2,在分别进行了偏移调整和增益调整之后,计算出DPP信号作为(MPP-SPP)。此时,依据CPU140的指示来控制偏移调整和增益调整。所生成的DPP信号或者推挽信号用于跟踪控制。在再现本发明的光盘媒体的情况下,子光束的功率和主光束相比小到约1/10左右,因为不能用子光束来熔融标记,所以需要用主光束推挽信号来执行跟踪控制。这通过依照CPU140的指示对开关89进行通/断来进行控制。
图14是表示本发明的光盘装置的跟踪控制电路的构成例子的方框图。在图中,在光检测器113中检测到的反射光被变换为电信号后,被送到轨道误差信号生成电路80中,并生成轨道误差信号。使其经由伺服增益控制电路91、相位滤波器92、电流驱动器93来控制物镜致动器114,由此实施跟踪控制。在本发明中,用主光束推挽信号实施跟踪控制。我们了解在使用1个光束的推挽信号的跟踪方式中,知道由于物镜随着盘的偏心而移动,从而在轨道误差信号中发生偏移。为了应对此情况,偏移控制电路95具有修正因盘的偏心等而产生的轨道误差信号的偏移的功能,通过经加法器96而加入到跟踪控制环中,实现了对规定数据轨道的再现。以下示出偏移控制电路95的具体构造。
图15是表示适于本发明的偏移控制电路的构成例子的图。图中,偏移控制电路95具有电流监视器9501、低通滤波器9502、增益设定器9503。在电流监视器9501中将从上述电流驱动器93流到物镜致动器的驱动电流量作为例如电压信号而检测出。通过使该信号通过偏移频率为盘旋转频率的数倍到数10倍左右的低通滤波器9502,检测出伴随着盘的偏心而被平滑化的驱动电流。通过在这样得到的驱动电流中乘以物镜致动器的电流灵敏度的设计值,能够检测出物镜致动器伴随盘的偏心的移动量。另一方面,也能够预先通过光学设计求得物镜致动器的移动量和推挽信号的偏移量的关系。因而,用增益调整器9503在驱动电流上乘以适当的增益,可以输出抵消了从检测到的驱动电流中伴随着向物镜致动器的半径方向的移动而产生的推挽信号的偏移量的偏移补正量。
在此,示出了各自使用设计值作为物镜致动器的电流灵敏度和推挽信号的偏移量的例子。但是,这些值对于所使用的每个零件都有离散。因而,希望在驱动装置中实测并校正电流实际流入物镜致动器的电流量和在推挽信号中产生的偏移量。在这种情况下,首先在只实施自动聚焦控制的状态下,依照CPU140的指示切换开关9505以把正弦波发生器9506的输出连接到电流驱动器93上,通过AD变换器9507取得驱动电流波形。同时通过AD变换器9508取得推挽信号波形。通过用CPU140来处理这些取得值,能够实现所希望的校正。
在图16中模式化地表示出此时得到的信号。图16(a)是驱动电流的模式图,从中求得驱动电流的振幅。图16(b)是推挽信号的模式图,从中求得偏移量。对于通过物镜致动器的移动得到图16(b)所示的推挽信号、用包络线变化或者平均值变化表示偏移量而言,因为对本领域的技术人员来说是常识性的知识,所以在此不再进行详细说明。这样,能够一边使正弦波发生器9506的输出变化,一边求出通过重复一系列的测定而观察到的驱动电流量和推挽信号的偏移之间的关系。如果利用该关系,则能够容易地设定在跟踪控制中应补正的偏移量,即,用增益调整器9503设定的增益量(在图16的情况下是负值)。
图17是表示适于本发明的、实现了偏移补正功能的光盘媒体的构成的实施例。这是应用了公知的复合反射镜方式的例子。图中,在数据轨道上周期性地设置有反射镜部。当在跟踪控制中发生了偏移的情况下,反射镜部中的推挽信号未变成零。因此只要间歇性地进行偏移的测定,施加跟踪偏移以使测定值接近零,就能够实现偏移控制。在此,各反射镜部的间隔只要在偏心测定中足够细即可,只要每一周有10到20个左右的反射镜就足够了。该周期和一般光盘中的信息扇区的长度相等。因而,反射镜部的配置周期可以说理想的是大致设置成扇区单位左右(在DVD格式的情况下是2kB,在Blu-ray Disc格式的情况下是4kB)。反射镜部的长度与所使用的光点直径相比需要长2倍以上,根据所使用的调制方式通常是2字节~数个字节的长度。此外,在数据轨道上除了数据地址以外,通过使数据轨道摆动还能够记录地址信息。
图18是表示适于本发明的偏移控制电路的构成的另一实施例。它是与图17的光盘媒体相对应的例子。在MPP信号52通过带通滤波器951后,用二值化器952对每个块时钟进行二值化。时钟用PLL(Phase Locked Loop)电路953从二值化信号中被生成。同时根据二值化结果,通过地址译码器954读取扇区地址信息,由反射镜位置检测器955确定作为扇区切换位置的、反射镜部的定时。MPP52在反射镜位置上被电平保持电路956取出,通过带通滤波器处理等的平均化处理器957而被平滑化。由于这样得到的信号反映了推挽信号因物镜致动器的移动而产生的偏移,所以和上述例子一样通过用增益调整电路958乘以适当的增益(在前后电路上没有其他放大机构的情况下可以是-1),可以生成偏移补正量。
图19是表示本发明的光盘装置的跟踪控制电路的构成例子的另一方框图。和图14的不同之处在于具备推挽信号的波形整形器800。如图11所示,在本发明的光盘媒体上,虽然利用超级解像效果在窄道条件下也能够得到良好的推挽信号,但它具有信号在数据轨道和数据轨道之间变为零的特性。这样的信号例如在查找时测量轨道横断数的情况下和在开始跟踪控制的瞬间等原样使用与以往连续的正弦波形推挽信号相对应的各种电路的情况下,被预测为动作变成不稳定。通过使用具有把本发明的光盘媒体所特有的推挽信号整形为以往的正弦波形推挽信号的功能的波形整形器800,能够应对这些问题。由此,用于测量查找时的轨道横断数的轨道交叉计数器850能够原样使用以往的正弦波作为前提的方式的器件。作为轨道横断数测量方法例如一般广泛使用通过微分对过零点进行计数等方法。
图20是表示本发明的推挽信号的波形整形器的结构的方框图。波形整形器800具有带通滤波器801和开关802,这些动作由CPU140控制。通过在带通滤波器的作用下对高频成分进行平滑化,可以容易整形为正弦波形状的波形。但是,由于因低通滤波器而产生了相位延迟,所以在跟踪控制稳定之后,需要利用不经低通滤波器的推挽信号来实施跟踪控制。因而,作为开关802的控制方法,在查找开始时选择低通滤波器801的输出,而在查找后等待开始跟踪控制的适当时间后切换选择以绕过低通滤波器801即可。等待时间可以是从跟踪伺服的控制频带起10ms左右的固定值,更精确的可以是在判定轨道误差信号被稳定在某个值以内(例如是轨道间距的1/4以下的偏差左右)以后切换开关。须指出,在对没有实施如本发明的光盘媒体那样利用了超级解像现象的跟踪的CD和DVD等的光盘媒体实施跟踪控制的情况下,开关802当然必须预先选择成绕过低通滤波器801。
以下,说明本发明的光盘装置的数据再现电路。图21是表示适于本发明的光盘装置的数据再现电路的构成例子的图。用未图示的光头检测到的RF信号51在用模拟均衡器10实施了均衡处理和AGC处理后,被输入到数字信号处理部20。在数字信号处理部20内,在用AD变换器21把所输入的RF信号按时钟逐一变换为数字信号后,通过DC修正器22实施DC修正,通过FIR滤波器23进行数字均衡并通过维托比译码器40进行二值化,并作为二值化输出58而被取出。由于维托比译码器40的内部结构超出了本发明的范围,所以在此不做详细说明,但是是这样的结构:比较根据二值化位串和PR等级的卷积而生成的目标信号和再现信号,逐次选择误差为最小的二值化位串。FIR滤波器23的抽头系数的学习处理由LSE控制部24实施。生成时钟信号的PLL(Phase Locked Loop,锁相环)电路30含有相位检测器31、低通滤波器32、VCO(Voltage Controlled Oscillator,压控振荡器)33。通过这样的构成,能够从RF信号51中得到二值化数据58。通过把它输入到未图示的逻辑格式译码器,可以实施解调处理并再现记录在光盘媒体中的数据。
以下,说明在本发明的光盘装置中的再现功率学习功能。在本发明的光盘媒体中,通过利用光点的温度分布使超级解像物质的光学特性仅在光点中心附近发生改变,实现了超过衍射界限的窄道化。为了持续这样的效果,需要把所照射的激光光束的功率保持在适当值。
图22是表示适于本发明的光盘装置的再现功率学习功能的方框图。图中,利用流过作为光源的半导体激光器112的电流量来控制照射在光盘媒体100上的激光功率(再现功率)。该电流依据CPU140的指示由激光驱动器116驱动。另一方面,轨道误差信号生成电路的输出由AD变换器860进行数字化后被取入到CPU140。图23(a)模式化地示出了在这样的构成中再现功率和轨道误差信号的关系。如图所示,再现功率和轨道误差信号除以再现功率后得到的标准轨道误差信号的关系是:标准轨道误差信号的振幅在用所照射的光束点大致可以熔融一个数据轨道宽度的条件下变为最大的关系。在学习过程中,在只实施自动跟踪控制的状态下,只要在改变再生功率的同时测定标准轨道误差信号的振幅,实施以该振幅大致变为最大的方式确定适当的再生功率的处理即可。此外,在实施CAV(Constant AngularVelocity,恒定角速度)控制等、线速度随光盘媒体的半径位置而改变这样的高速传送再现的情况下,如图23(b)所示,预先求得线速度和适当再现功率的关系,只要与线速度相对应地使用适当的再现功率即可。此外,还存在因驱动环境温度的变化、形成在光盘媒体上的超级解像材料的熔融灵敏度的面内离散等的影响,致使适当的再现功率发生变化的情况。为了与之对应,适当地实施上述学习处理,把再现功率始终保持在适当的条件上也是使光盘装置的性能稳定化的有效方法。
最后,说明本发明的光盘装置的整体构成。图24是表示本发明的光盘装置的构成例子的模式图。安装在装置上的光盘媒体100通过主轴马达160而旋转。在再现时,激光功率/脉冲控制器120控制经光头110内的激光驱动器116而流入半导体激光器112的电流以成为按照CPU140的指令的光强度,并产生激光114。物镜111会聚激光114,在光盘媒体100上形成光点101。来自该光盘101的反射光115经物镜111而被光检测器113检测到。光检测器含有分割成多个的光检测元件。再现信号处理电路130使用由光头110检测出的信号,再现记录在光盘媒体100上的信息。本发明的轨道误差信号生成电路、跟踪控制电路以及数据再现电路内置于系统控制电路200中。利用这样的构成,本发明的光盘装置能够从本发明的光盘媒体中实现数据的再现、摆动地址再现、跟踪控制。利用以上的构造能够提供本发明的光盘装置。
本发明适用于使用了超级解像效果的大容量光盘媒体和与之相应的光盘装置。