CN101300077A - 用于分光光度分析的装置和方法 - Google Patents

Abstract

一种用于分光光度分析的装置，包括：样品接收表面，其被配置为接收待分析的样品；以及样品接触表面，其可相对于样品接收表面移动，以使得该样品接触表面可以被带到第一位置以及第二位置，此第一位置处表面足够远地分开，以允许将样品放置到该样品接收表面，在第二相对位置处样品接触表面与该样品接触并挤压样品。该装置还包括样品厚度控制器，其被配置以控制在样品接触表面第二位置中样品接收表面和样品接触表面之间的距离，以使表面之间的样品的厚度可以改变，以在通过该样品的不同光程长度获取至少两个样品测量。

Description

用于分光光度分析的装置和方法

技术领域

本发明涉及一种用于分光光度分析的装置和方法。

背景技术

众所周知的是，运用分光光度计来定量和/或定性确定试验样品材料中(特别是溶液中)的感兴趣物质。这样的分光光度计在与诸如槽或试管(cuvette)之类的样品容器中存放的试验样品相互作用之后检测一个或多个限定波长下的电磁能量，通常为光学能量。可以将该分光光度计设备配置成在一个或多个众所周知的透射、反射或透反射模式下工作，以及例如可以包括色散元件单色仪，或者例如可以配置成诸如傅立叶变换干涉仪之类的干涉仪。

传统上将样品倒入槽或试管中。当分光光度测量将要在短光程长度上执行时，诸如对于具有所使用波长的大吸收的样品来说，样品可能需要被抽送到槽或试管中。在使用短光程长度的地方，光程长度需要稳定并精确控制，因为现在光程长度的小差异将表示光程长度的较大的百分比变化，并且将因此大幅影响测量结果。

例如，这也可以从US 5,602,647了解到提供光学分光分度计，其中的样品容器有可变的内部光程长度。为了优化所检测的特定波长的强度，在该分光光度计内改变光程长度。将该分光光度计配置成根据峰值强度位置处的透射光辐射强度(transmitted optical radiation)和光程长度的值来进行定量和/或定性确定。在该分光光度计中，可以精确控制可变光程长度是很重要的。用于定量确定的不正确的光程长度将导致不正确的测量结果。因此，如果光程长度没有被精确控制，光程长度的改变将在结果中引入错误。

美国6,628,382公开了另一种用于极小液态样品上的分光光度测量的装置。该装置包括两个砧表面。可以掉转该表面之一的方向避开另一个表面，以便可以很容易地清洁这两个表面并且可以很容易地放置样品。将液滴放在一个表面上，并且使另一个表面与该液滴接触。此后，分开这两个表面以便将样品拉成柱状。在该位置，执行分光光度测量。可以在两个不同光程长度上交替执行两个测量。这适于其中小光程差的光程差的精确度可以比绝对全光程更好确定的情况。根据美国6,628,382，仍然必须非常精确地控制光程。

德国796,745公开了一种用于液体的可变光程长度吸收的试管，具有相对可滑动的样品接触表面和样品接收表面，以便在两个表面之间改变光程。其滑动支架(mount)被配置以确保在改变光程长度时这两个表面保持互相精确平行，该支架构造相对复杂且因此成本高。

发明内容

本发明的目的是提供一种用于分光光度分析的设备和方法，其允许向分光光度计简单呈现样品。本发明的另一个目的是提供一种被设计为在样品的不同光程长度上很容易执行测量的分光光度计。

本发明的这些和其它目的至少部分上是通过根据权利要求1的设备以及根据权利要求8的方法来实现的。

因此，根据本发明的第一方面，提供了一种用于分光光度分析的装置。该装置包括：样品接收表面，其被配置为接收待分析的样品；以及样品接触表面，其被配置为与样品接收表面在一起用于其相对运动，以便它们可以被带到第一相对位置以及第二相对位置，在第一相对位置处表面足够间隔开以允许样品被放置到样品接收表面而不接触样品接触表面，在第二相对位置处样品接触表面与样品接收表面上的样品接触以影响其间样品的挤压。该装置还包括样品厚度控制器，其被配置以控制在样品接触表面的第二位置中的样品接收表面和样品接触表面之间的距离，以便表面之间的样品的厚度可以改变，以在通过样品的不同光程长度获取样本的至少两个样品测量。

根据本发明的第一方面，可以呈现样品接收表面，以便允许到该表面的通路。这暗示样品可以被直接放置在表面上，而不需要将样品泵取到样品容器中。这是一种简单而便宜的解决方案，因为不需要具有与泵和管相关的流系统。而且，到样品接收和样品接触表面的通路还提供了很容易清洁这些表面的可能性。因此，很容易支持对该装置的维护。因此，移动样品接触表面使之离开样品接收表面同时又保持这两个表面物理上互相连接的可能性，使得用户容易使用该装置。

样品厚度控制器设置在受挤压样品内的光程长度。因此，该装置使得光程长度能够在其中样品接收和样品接触表面均与样品接触的位置中直接被设置。这使得该装置使用简单，并且当样品接触表面接近样品接收表面时，样品厚度控制器可以暂时用于设置光程长度。这还暗示了样品厚度控制器可以以仅需要将样品接收表面和样品接触表面互相保持在不同的距离的简单机械结构来实现。

此外，本发明部分上基于这样的洞察(insight)，即利用两个不同光程长度在样品上执行两个测量可以以巧妙的方式用于确定样品的内容。通过采用在通过样品的两个不同光程长度上的透射强度比并且对该比执行适当预处理，诸如标准正规变化(SNV)变换或相乘散射校正(MSC)，不需要知道测量中精确的光程长度。预处理光谱不依赖于测量该光谱的光程长度。该洞察提供了确定内容的可能性，即使并不在希望的精确光程长度上执行测量。因此，该装置并不需要很精确地控制样品厚度用于不同光程长度的测量。这暗示样品厚度控制器控制样品厚度的要求并不是过度严格。而且，这使得样品厚度控制器能够在具有小光程长度的受挤压样品内改变光程长度，尽管不精确的设置光程长度将给出大的相对误差。

根据实施方案，样品接触表面铰接到样品接收表面。这暗示该样品接触表面可以很容易在第一和第二位置之间移动。该样品接触表面可以被手动操作，以绕铰链转动样品接触表面来移动该表面。而且，由于样品厚度控制器不需要极精确地设置通过样品的光程长度，所以样品接触表面并不必沿该表面的法线的方向移动。

该样品厚度控制器可以包括一个突起，其从样品接收表面或样品接触表面伸出，其中样品接收表面和样品接触表面之间的距离是由该突起从该表面伸出的距离控制的。因此该突起将使样品接触表面与样品接收表面保持分开一定的距离，该距离是由从一个表面突起的程度控制的。该样品厚度控制器可以另外包括用于控制该突起从该表面伸出的距离的电动机。

该样品厚度控制器可以被配置，以控制样品接触表面向第二位置下移，以便该样品接触表面被慢慢带向第二位置。这确保了整个样品接触表面可以与样品接触。例如，如果样品是液态的，那么整个样品接触表面可以通过样品接触表面慢慢接触样品来润湿。而且，该样品接触表面可以被手动带向第二位置，而样品厚度控制器控制样品接触表面的最终下移。

该样品厚度控制器可以被配置，以在10-50μm的范围内，优选在15-45μm的范围内改变样品的厚度。这适于在高吸收样品上执行的测量。由于这些光程长度传统上由复杂的试管在所提供的光程长度中以极高精度提供，所以本发明尤其适于在这样短的光程长度上的测量。这些试管与泵相关联以将样品引入试管中。因此，本发明提供了一种用于在这样短光程长度上执行测量的更简单更便宜的装置。

该装置还包括运算单元，其被配置用于接收来自不同光程长度上的至少两个测量的输出，并且其适于计算依赖于对于在测量中使用的相同波长的两个光程长度上所接收的输出的比的值，以从中产生样品中感兴趣物质的定量和定性表示之一或其两者。

在它们已经经过相同样品的两个不同路径之后，通过分离相同波长的检测到的光的强度来移除强度相关的不稳定性。这暗示测量并不受分光光度计中随机暂时强度漂移的影响，随机暂时强度漂移可以由不稳定的操作条件引起，诸如仪器的温度中的变化。移除强度相关不稳定性暗示了不需要在校正样品上为所谓的分光光度计的“置零”定期执行测量。

此外，如上所述，通过配置运算单元来执行比值计算，通过样品的光程长度的变化将不影响测量的结果。

本发明的第二方面提供了一种用于样品的分光光度分析的方法。该方法包括将样品放置在样品接收表面上并关于样品接收表面下移样品接触表面，以便将其带到其中样品接触表面与放置在样品接收表面上的样品接触的位置，并挤压在样品接收表面和样品接触表面之间的样品。该方法还包括控制受挤压样品中通过样品的第一光程长度，对具有该第一光程长度的样品执行第一测量，将受挤压样品中通过样品的光程长度改变为第二光程长度，以及对具有第二光程长度的样品执行第二测量。

该方法提供了一种执行分光光度测量分析的用户友好的方法，其中可以以简单的方式向分光光度计呈现样品，并且很容易控制样品的光程长度。

本发明的第三方面提供了一种用于分光光度测量分析装置的样品容器。该样品容器包括具有第一光透射区域的样品接收表面，以及具有第二光透射区域的样品接触表面，其中这些表面被连接，用于在第一位置和第二位置之间相对移动，在第一位置处所连接的表面被隔离开以允许在第一光透射区域接收样品，在第二位置处所述第一和第二光透射区域保持密切接触并挤压所接收的样品，同时所述第一和第二光透射区域可以被移动，以改变光透射区域之间的样品厚度，用于获取通过受挤压样品的不同的光程长度。

该样品容器可以是单独的单元，其可以被连接到分光光度测量分析装置中，用于对样品执行分析。替代地，该样品容器可以是该分析装置中的集成单元。

附图说明

现在参照附图以示例方式进一步详细描述本发明。

图1是根据本发明的实施方案的用于分光光度测量分析的装置的组件的示意图。

图2是图1的装置的样品容器的立体图，示出了样品接触表面与样品接收表面分开以允许将样品放置于样品接收表面上。

图3是样品容器的侧视图，示出了样品接触表面与样品接触，以执行分光光度测量。

图4是样品接收表面的俯视图，示出了用于控制样品接收表面和样品接触表面之间的距离的突起。

具体实施方式

现在参照图1，现在将描述根据本发明的实施方案的分光光度计2。分光光度计2包括外壳4，其中布置了分光光度计2的所有部分。因此，分光光度计2的所有光学组件都被布置在外壳4中。外壳4保护这些光学组件并防止光学结构变形。

分光光度计2具有显示器(未示出)，用于向用户呈现结果。分光光度计还具有样品容器6，其以简单的方式向分光光度计2提供样品。

现在，将解释分光光度计2的光学结构。分光光度计2包括样品容器6；多色光源8、检测装置10；用于设置样品厚度的样品厚度控制器14的运算单元12和控制单元14a。在本实施例中，光源8、样品容器6以及检测装置10相对放置，以便在使用中，来自光源8的光在被检测装置10检测到之前，沿光轴16传播透过样品容器6的对立表面6a和6b。聚焦光学器件18(此处示为一对透镜)可以以已知的方式提供以及利用，以形成从光源8穿过样品容器6到达检测装置10的所希望的光束形状。

将本实施方案的样品容器6配置具有沿光轴16的方向上的对立表面6a和6b，该表面全部或部分由光透射材料制成，并且可彼此相对移动，如下面进一步的描述。为了在一个或所有两个对立表面6a、6b上施加力，以便改变它们的相对间隔，从而改变穿过样品槽6的光程长度，将控制单元14a可操作性地连接到一个或所有两个对立表面6a、6b上。

此处配置多色光源8，以同时生成和发射所有感兴趣的特定波长。根据一个实施方案，多色光源8被配置为发射红外辐射。为对此作补充，此处由分光计10a和相关联的光电检测器(photo-detector)10b组成检测装置10。以已知的方式相互配置这些元件10a和10b，以便能够生成样品槽6内样品材料的取决于波长的透射光谱。

运算单元12可操作性地连接光电检测器10b的输出。配置该运算单元12，以接收以及优选地存储透射光谱，该透射光谱在两个表面6a、6b的多个不同的间隔下(优选地在至少两个不同的间隔下)生成。可以配置该单元12，以存储如由单元12的输出所指示的光谱，并且该单元12可以包括多个单独的、但是相互连接的单元，而不是本实施方案所示的单个功能单元12。

在操作中，本实施方案的运算单元12记录来自检测装置10的与表面6a和6b的第一间隔相应的光谱数据。然后操作样品厚度控制器14以改变表面6a和6b之间的间隔，并且运算单元12记录来自检测装置10的、与表面6a和6b不同于第一间隔的第二间隔相应的光谱数据。以这种方式，运算单元12可对于穿过样品材料的至少两个不同光程，获取来自多色光源8的、透过样品材料的光的强度值，该强度值与它们的波长挂钩。配置运算单元12，以基于对相同波长下在两个不同的光程长度的每个光程长度下所获取的强度值的比率计算，来定量或定性确定样品材料内存在感兴趣的物质。进一步配置单元12，以输出所做出的确定的指示。例如，该指示可以是以对感兴趣物质的定量测量的形式，或者例如可以是样品内存在感兴趣物质的定性指示。

更具体地，配置运算单元12，以在进行确定时利用以下等式所概括的方法：

可以根据下面已知的等式表示波长为λ的光的强度(I_1λ)，该强度是经过具有吸收系数a_λ(包括样品和容器吸收系数)和其中包含浓度为C的感兴趣物质的样品，传播了光程长度b₁之后，在检测器10b处接收的：

I_1λ＝I_0λexp(a_λ·C·b₁)                             (1)

其中I_0λ是入射到容器6的表面6a上的波长为λ的光的强度。

类似地，对于较短的光程长度b₂，由检测器10b接收的同一波长λ下的强度可以表示成：

I_2λ＝I_0λexp(a_λ·C·b₂)                             (2)

使用表示所确定的强度的这两个等式(1)和(2)，取决于波长的吸收A_λ可以表示成：

A_λ＝1og(I_2λ/I_1λ)＝a_λ·C·(b₁-b₂)                  (3)

于是，在最简单的配置中，可以将运算单元12配置成从方程(3)和两个光程长度b₁、b₂的信息(至少它们的差)、在感兴趣的波长λ下的相关检测强度I_1λ、I_2λ和吸收系数a_λ的值来确定浓度C。

然而，更一般的是，可以将化学统计科学以一种通常所知的方式应用于该问题，其中为了产生校准运算利用了多元统计分析，该校准算法建立了吸收A_λ与感兴趣物质的浓度C的关联。如众所周知的，这涉及使用一套“训练”或校准样品，优选地，将该“训练”或校准样品选择为覆盖整个浓度范围和有可能感兴趣的物质范围。在等式(3)中已经实现了执行适当的比率预处理，诸如标准正规变化转换，测量中不必要知道精确的光程长度。使用标准正规变化转换的预处理光谱并不取决于测量该光谱的光程长度。因此，可以理解，以这种方式，就不必为了运算单元12关于一个或更多个特定的感兴趣物质进行预测而去知道任何试验样品的实际光程或光程差。

现在参照图2-4，现在将更详细描述分光光度计2的样品容器6。

样品容器6包括样品接收表面6a和样品接触表面6b。这两个表面6a和6b可彼此相对移动。样品接触表面6b构成盖22的面，盖22铰接连接到底部20。样品接收表面6a构成底部20的面。与样品接触的表面6a和6b的至少一部分是由提供窗口的光透射材料形成，用于允许光入射和出射样品。由光源8发射的光被导向穿过表面窗口中的一个，并且透射穿过样品和另一个表面窗口的光被导向到检测器10。光源8或检测器10被配置在盖22内，以便仅仅需要电子连接到盖22中并避免将光程连接到盖22中或外。

盖22绕铰链转动，用于在样品容器6的打开和闭合状态之间转换。可以通过握持盖22的距离铰链最远的外部部分，来手动操纵盖22，以转换打开和闭合状态。在图2中将样品容器6示为处于打开状态。可以看出，样品接收表面6a和样品接触表面6b在该打开状态距离很远，其中盖22已经被打开约90度。这暗示用户被提供了到表面6a、6b的通路，使得可以很容易清洁表面6a和6b。而且，可以很容易将样品放置于样品接收表面6a。典型地，以液态或粘性材料的形式放置样品。

当已经将样品放置于样品接收表面6a时，关闭盖22。盖22可以被手动关闭。当盖22接近底部20时，其将与可调节的突起14b接触，该突起控制表面6a和6b的间隔。突起14b可以最初足够伸出，以防止样品接触表面6b与样品接触。这暗示用户不会使样品接触表面6b接触样品，从而可以精确控制接触。当样品接触表面6b接触突起14b时，控制单元14a将控制突起14b从底部20伸出的距离，用于调节样品接触表面6b距离样品接收表面6a的间隔。以这种方式，可以将样品接触表面6b慢慢向样品接收表面6a下移，以便允许放置于样品接收表面6a上的样品将样品接触表面6b上的整个光窗口润湿。在图3中，以关闭状态示出样品容器6。

现在，当样品被挤压并且两个表面6a、6b均与样品接触时，可以执行分光光度测量。样品厚度控制器14设置表面6a、6b之间的第一距离，用于提供穿过样品的第一光程长度。在已经执行第一分光光度测量之后，样品厚度控制器14设置表面6a、6b之间的第二距离，用于提供穿过样品的第二光程长度，并且执行第二分光光度测量。样品厚度控制器14通过调节可调突起14b从底20突出的距离来设置距离。对于使用红外辐射的测量来说，第一距离可以被设置成大约40μm并且第二距离可以被设置成大约15μm。

如图4中所示，可调突起14b从距离铰链最远的边缘的底部20部分伸出。可调突起14b可以是螺钉或塞，并且可调突起14b的伸出可以通过电动机(未示出)来控制。电动机与突起14b接合，用于设置突起14b的位置。控制单元14a控制电动机以设置突起14b距离底部20的适当伸出。

上面描述的分光光度计适于分析液体，例如饮料、食用油等。该分光光度计还可以用于分析粘液或半流质物质，例如酸乳酪、酸奶油等。

应强调，在此描述的优选实施方案绝不是限制性的，并且许多替代实施方案都可能在由所附权利要求限定的保护范围之内。

例如，样品接收表面和样品接触表面可以替代地可沿垂直于这些表面的方向移动。这暗示这些表面之间的距离可以被更精确地控制，因为这些表面之间的间隔在整个表面上都相等。然而，样品接触表面可能需要被带离样品接收表面相当大距离，以允许到这些表面的通路，用于引入样品和进行清洁。

作为进一步的替代，样品容器6可以被配置为可拆卸单元，其可以完全从分光光度计2拆卸，用于将样品放置于样品接收表面6a。然后样品容器6可以被安装到分光光度计2，用于引导光穿过样品。光源8和检测装置10优选地并不配置在可拆卸单元中，以使光仅仅穿过样品被导入样品容器6，并且被导出样品容器6到检测装置10。样品容器6和分光光度计2包括互相可啮合的装置，诸如突起和相应的凹槽。这暗示样品容器6和分光光度计2之间的相对位置可以很好的限定，以便确保通过样品容器6的光程符合分光光度计2的光程。

应当理解，样品厚度控制器14可以被配置以提供两个面6a、6b的三个或多个不同间隔的方式操作，其中光谱被运算单元12记录并存储。在这样的情况下，运算单元12可以有利地被配置为从在不同光程长度对获取的强度值并使用方程(3)或上述化学计量导出表示相同样品中感兴趣物质的多个值。这些如此导出的多个值可以被简单组合，以提供定量表示感兴趣物质存在的平均值，或通过诸如近似加权每个值来组合，以便提供这样的定量表示。

本领域普通技术人员应理解，样品容器6可以被包含在其他分光光度计装置中，诸如包含到已知的傅立叶变换红外(FTIR)分光光度计装置的一个臂的光程中，但这不脱离所要求保护的发明。

还应理解，可以利用很多不同波长区域中的辐射，诸如紫外、可见、近红外或红外光或其任意组合。

权利要求书(按照条约第19条的修改)

1.一种用于分光光度分析装置的样品容器，所述样品容器包括：

具有第一光透射区域的样品接收表面，以及

具有第二光透射区域的样品接触表面，其中这些表面被连接，用于在第一位置和第二位置之间相对移动，在第一位置处所连接的表面被隔离开以允许在第一光透射区域接收样品，在第二位置处所述第一和第二光透射区域保持密切接触并挤压所接收的样品，同时所述第一和第二光透射区域可以被移动以改变光透射区域之间的样品的厚度，用于获取通过样品的不同的光程长度，以及

样品厚度控制器，其被配置以控制在第二位置中样品接收表面和样品接触表面之间的距离，以便表面之间的样品厚度可以被改变，以在通过样品的不同光程长度获取样品的至少两个测量，其中所述样品接触表面铰接连接到所述样品接收表面。

2.根据权利要求1所述的样品容器，其中所述样品厚度控制器包括可调突起，其从样品接收表面或样品接触表面伸出，从而在第二位置通过调节所述突起从所述相关表面伸出的距离来控制样品接收表面和样品接触表面之间的距离。

3.根据权利要求2所述的样品容器，其中所述样品厚度控制器还包括控制单元，用于自动控制所述突起从所述相关表面伸出的距离。

4.根据权利要求3所述的样品容器，其中所述样品厚度控制器被配置，以控制样品接触表面向第二位置的移动，以便使样品接触表面被慢慢带向第二位置。

5.一种用于样品的分光光度分析的方法，所述方法包括：

将样品放置在根据任意前述权利要求的样品容器的样品接收表面上，

相对于样品接收表面下移样品接触表面，以便将其带到其中样品接触表面与放置在样品接收表面上的样品接触并挤压在样品接收表面和样品接触表面之间的样品的位置，控制通过受挤压样品的第一光程长度，

对具有该第一光程长度的样品执行第一测量，以确定通过第一光程长度的光的第一波长依赖强度，

将通过受挤压样品的光程长度改变为第二光程长度，

对具有该第二光程长度的样品执行第二测量，以确定通过第二光程长度的光的第二波长依赖强度，以及

根据第一和第二波长依赖强度的比值，产生样品中感兴趣物质的定量和定性表示之一或其两者。

6.一种用于分光光度分析的装置，所述装置包括：

检测装置，可光耦接到样品容器的内部，以执行其中容纳的样品的分光光度分析，其中所述样品容器是根据权利要求1-4中的任何一个所述的样品容器，并且其中该装置还包括运算单元，其被配置以从以不同的光程长度执行的至少两个测量接收输出，并且该运算单元还适于计算取决于所接收的相同波长的两个光程长度的输出的比值的值，并且从中产生样品中感兴趣物质的定量和定性表示之一或其两者。

Claims (7)

1.一种用于分光光度分析装置的样品容器，所述样品容器包括：

具有第一光透射区域的样品接收表面，以及

具有第二光透射区域的样品接触表面，其中这些表面被连接，用于在第一位置和第二位置之间相对移动，在第一位置处所连接的表面被隔离开以允许在第一光透射区域接收样品，在第二位置处所述第一和第二光透射区域保持密切接触并挤压所接收的样品，同时所述第一和第二光透射区域可以被移动以改变光透射区域之间的样品的厚度，用于获取通过样品的不同的光程长度，以及

样品厚度控制器，其被配置以控制在第二位置中样品接收表面和样品接触表面之间的距离，以便表面之间的样品厚度可以被改变，以在通过样品的不同光程长度获取样品的至少两个测量。

2.根据权利要求1所述的样品容器，其中所述样品接触表面铰接连接到所述样品接收表面。

3.根据权利要求1或2所述的样品容器，其中所述样品厚度控制器包括可调突起，其从样品接收表面或样品接触表面伸出，从而在第二位置通过调节所述突起从所述相关表面伸出的距离来控制样品接收表面和样品接触表面之间的距离。

4.根据权利要求3所述的样品容器，其中所述样品厚度控制器还包括控制单元(14a)，用于自动控制所述突起从所述相关表面伸出的距离。

5.根据权利要求4所述的样品容器，其中所述样品厚度控制器被配置，以控制样品接触表面向第二位置的移动，以便使样品接触表面被慢慢带向第二位置。

6.一种用于样品的分光光度分析的方法，所述方法包括：

将样品放置在根据任意前述权利要求的样品容器的样品接收表面上，

相对于样品接收表面下移样品接触表面，以便将其带到其中样品接触表面与放置在样品接收表面上的样品接触并挤压在样品接收表面和样品接触表面之间的样品的位置，控制通过受挤压样品的第一光程长度，

对具有该第一光程长度的样品执行第一测量，以确定通过第一光程长度的光的第一波长依赖强度，

将通过受挤压样品的光程长度改变为第二光程长度，

对具有该第二光程长度的样品执行第二测量，以确定通过第二光程长度的光的第二波长依赖强度，以及

根据第一和第二波长依赖强度的比值，产生样品中感兴趣物质的定量和定性表示之一或其两者。

7.一种用于分光光度分析的装置，所述装置包括：

检测装置，可光耦接到样品容器的内部，以执行其中容纳的样品的分光光度分析，其中所述样品容器是根据权利要求1-5中的任何一个所述的样品容器，并且其中该装置还包括运算单元，其被配置以从以不同的光程长度执行的至少两个测量接收输出，并且该运算单元还适于计算取决于所接收的相同波长的两个光程长度的输出的比值的值，并且从中产生样品中感兴趣物质的定量和定性表示之一或其两者。

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