CN101071205A

CN101071205A - 液晶面板检测方法及装置

Info

Publication number: CN101071205A
Application number: CN 200710127976
Authority: CN
Inventors: 张金林
Original assignee: AU Optronics Corp
Current assignee: AU Optronics Corp
Priority date: 2007-07-06
Filing date: 2007-07-06
Publication date: 2007-11-14
Anticipated expiration: 2027-07-06
Also published as: CN100451742C

Abstract

本发明揭示一种液晶面板检测方法及装置，用以检测液晶面板。液晶面板包括集成电路与显示单元，检测方法包括下列步骤：移除集成电路；将液晶面板放置于检测平台；以探针接触液晶面板的线缺陷处；通过探针导入测试信号至显示单元；以及根据显示单元所输出的图像信号判定检测结果，以此判断显示单元是否为不良。

Description

液晶面板检测方法及装置

技术领域

本发明涉及一种检测方法及装置，特别涉及一种用于检测液晶面板的检测方法及装置。

背景技术

随着显示器技术快速的进步与演进，传统的阴极射线管显示器(cathoderay tube，CRT)已逐渐被淘汰，取而代之的是轻、薄、短、小的液晶显示器(liquid crystal display，LCD)。由于液晶显示器具有显示质量高、能源消耗低及无辐射等优点，使得液晶显示器大量地被应用于移动电话、个人数字助理(PDA)、笔记本计算机、数码摄影机、数码相机、计算机屏幕以及液晶电视等通信、信息或消费性电子产品之中。

图1为公知液晶显示器A1，其包括液晶显示单元(cell)A11、以卷带式晶粒接合技术(tape automated bonding，TAB)、晶粒玻璃接合技术(chip onglass，COG)或晶粒软模接合技术(chip on film，COF)进行封装的多个封装结构A12，以及多个电路板A13。每一封装结构A12均具有一驱动集成电路芯片(liquid crystal driver IC chip)A121，用以驱动液晶显示单元A11的液晶层。

当液晶显示器A1无法正常显示图像时，可能是液晶显示单元A11受损而无法正常显示图像，也可能驱动集成电路芯片A121受损或有缺陷，因而无法依照信号正确地驱动液晶显示单元A11，导致液晶显示单元A11无法正常显示图像。根据公知技术，为了判断究竟是液晶显示单元A11或是驱动集成电路芯片A121的缺陷而发生线缺陷，必须先移除电路板A13上的驱动集成电路芯片A121，再重新安装另一个新的驱动集成电路芯片A121。若液晶显示器A1可正常显示图像，则判定被移除的驱动集成电路芯片A121缺陷或是封装制程缺陷而造成液晶显示器A1无法正常显示图像。反之，若液晶显示器A1依然无法正常显示图像，则判定液晶显示单元A11为缺陷品。前述的移除或安装驱动集成电路芯片，其实施方式是通过整体移除或安装封装结构而完成，以下所述相同。

此检测方式虽能判断液晶显示器A1无法正常显示图像的原因，但必须耗费人力于机台重新安装另一个驱动集成电路芯片A121，如此不仅造成人力、机台以及驱动集成电路芯片A121的浪费，并使整个测试流程耗费相当多的时间，进而使得液晶显示器A1的测试成本居高不下。因此，如何改善液晶显示器A1的测试方法，以减少重新安装另一个驱动集成电路芯片A121所造成的浪费，进而解决液晶显示器A的测试成本过高的缺点，是一个刻不容缓的待解决问题。

发明内容

因此，本发明提出一种液晶面板检测方法，用以检测液晶面板。液晶面板包括集成电路与显示单元(cell)，检测方法包括下列步骤：移除集成电路；将液晶面板放置于检测平台；以探针接触液晶面板的线缺陷处；通过探针导入测试信号至显示单元；以及根据显示单元所输出的图像信号判定检测结果。如此，即可了解显示单元是否为不良。

本发明也揭示了一种液晶面板检测装置，用以检测液晶面板，液晶面板包括集成电路、显示单元(cell)以及至少一对位标记，液晶面板于检测前预先移除集成电路，检测装置包括：检测平台，用以承载液晶面板；对位模块，用以抓取对位标记；以及探针，其与对位模块连接，通过对位模块抓取对位标记而对准液晶面板的线缺陷处，用以导入测试信号至显示单元，并根据显示单元所输出的图像信号判定检测结果。

附图说明

图1为公知液晶显示器的示意图。

图2为本发明的立体示意图。

图3为图2在A部分的局部放大图。

图4为本发明待检测的液晶面板的结构示意图。

图5为图4另一视角的示意图。

图6为本发明的液晶面板检测方法流程图。

图7为本发明的液晶面板检测示意图。

具体实施方式

关于本发明的具体技术方案及其功效，以优选实施例并结合附图说明如下。图2为本发明的液晶面板检测装置2的示意图。图3为液晶面板检测装置2的局部放大图。

图4为本发明的待检测液晶面板10的示意图。液晶面板10具有显示单元(cell)11，并于显示单元11侧边设有印刷电路板12。显示单元11与印刷电路板12之间连接有多个集成电路13，用以将印刷电路板12所接受的外部信号转换为显示单元11所能接受的信号。集成电路13可通过卷带式晶粒接合技术(TAB)、晶粒玻璃接合技术(COG)或晶粒软模接合技术(COF)进行封装。此外，液晶面板10设有至少一对位标记14，如图5所示。

如图2所示，本发明的检测装置包括：检测平台20，用以承载液晶面板10，其中检测平台20可呈一倾斜角度，以方便检测人员观察液晶面板10的检测结果而判断缺陷原因；对位模块21，用以抓取液晶面板10的对位标记14，且对位模块包括电荷耦合元件(Charge Couple Device，CCD)；以及探针22，其与对位模块21连接，通过对位模块21抓取对位标记14而对准液晶面板10的线缺陷处，用以导入测试信号至显示单元11，并根据显示单元11所输出的图像信号判定检测结果。

探针22设置于检测平台20一端的上方，并可于探针22的两侧设置对位模块21。

本发明的优选实施方式还包括抵压柱23，用以抵压探针22而调整探针22与液晶面板10的接触程度。此外，本发明的优选实施方式还包括移动架24，用以固定探针22与抵压柱23，并于移动架24上设置位移模块25，用以移动探针22，其中位移模块25包括蜗轮蜗杆组251。

图6为本发明的液晶面板的检测方法流程图。本发明的液晶检测方法包括：

步骤(a)：移除集成电路13；

步骤(b)：将液晶面板10放置于检测平台20上；

步骤(c)：以探针22接触液晶面板10的线缺陷处；

步骤(d)：通过探针22导入测试信号至显示单元11；以及

步骤(e)：根据显示单元11所输出的图像信号判定检测结果。

具体检测过程结合图7说明如下：

如图7所示，当液晶面板10于发现线缺陷的情况下，若无法判定是显示单元11或是集成电路13不良，先将集成电路13自液晶面板10上移除，再将液晶面板10放置于检测平台20上。调整位移模块25，使蜗轮蜗杆组251带动探针22移至液晶面板10已移除集成电路13的位置处，并通过对位模块21抓取液晶面板10的对位标记14而进行对位。对位完成后，再通过抵压探针22调整探针22与液晶面板10的接触程度，即可由探针22将与集成电路13转换的信号相同的测试信号导入显示单元11，以驱动显示单元11输出图像信号。待显示单元11依据测试信号输出图像信号后，测试人员比较显示单元11输出的图像信号与基准信号，若输出的图像信号与基准信号的比较结果指出显示单元11为正常，则判定集成电路13为良好；若显示单元11输出的图像信号与基准信号的比较结果指出显示单元11为异常，则判定显示单元11为不良。

根据本发明所揭示的检测方法，在移除集成电路13后，直接以探针22导入测试信号至显示单元11，并根据显示单元11所输出的图像信号判定检测结果，以此解决公知测试方式因重新安装集成电路所造成人力、机台等浪费，并减少液晶面板的测试时间，同时解决公知测试方式测试成本过高的缺点。

虽然本发明的技术内容已经以优选实施例揭示如上，然而其并非用以限定本发明，任何本领域的技术人员，在不脱离本发明的精神所作一些更动与润饰，都应涵盖于本发明的保护范畴内，因此本发明的保护范围当视后附的权利要求书为准。

Claims

1.一种液晶面板的检测方法，用以检测液晶面板，该液晶面板包括集成电路与显示单元，该检测方法包括：

(a)移除该集成电路；

(b)将该液晶面板放置于检测平台；

(c)以探针接触该液晶面板的线缺陷处；

(d)通过该探针导入测试信号至该显示单元；及

(e)根据该显示单元所输出的图像信号判定检测结果。

2.根据权利要求1所述的液晶面板的检测方法，其特征是步骤(c)包括：

以一对位模块抓取该液晶面板的一对位标记，使该探针对准该液晶面板的线缺陷处。

3.根据权利要求1所述的检测方法，其特征是步骤(e)包括：

比较该输出的图像信号与基准信号，若该输出的图像信号与该基准信号的比较结果指出该显示单元为正常，则判定该集成电路为良好。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征是步骤(e)包括：

比较该输出的图像信号与基准信号，若该输出的图像信号与该基准信号的比较结果指出该显示单元为异常，则判定该显示单元为不良。

5.一种液晶面板的检测装置，用以检测液晶面板，该液晶面板包括集成电路、显示单元以及至少一对位标记，该液晶面板在检测前预先移除该集成电路，该检测装置包括：

检测平台，用以承载该液晶面板；

对位模块，用以抓取该对位标记；及

探针，其与该对位模块连接，通过该对位模块抓取该对位标记而对准该液晶面板的线缺陷处，用以导入测试信号至该显示单元。

6.根据权利要求5所述的检测装置，其特征是该探针设置于该检测平台一端的上方。

7.根据权利要求5所述的检测装置，其特征是该对位模块设置于该探针的两侧。

8.根据权利要求5所述的检测装置，其特征是该对位模块包括电荷耦合元件。

9.根据权利要求5所述的检测装置，其特征是该检测平台具有一倾斜角度。

10.根据权利要求5所述的检测装置，其特征是还包括位移模块，用以移动该探针。

11.根据权利要求10所述的检测装置，其特征是该位移模块包括蜗轮蜗杆组。

12.根据权利要求5所述的检测装置，其特征是还包括抵压柱，用以抵压该探针而调整该探针与该液晶面板的接触程度。

13.根据权利要求12所述的检测装置，其特征是还包括移动架，用以固定该抵压柱与该探针。