CN102929005A - Tft-lcd基板的探测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种TFT-LCD基板的探测装置,包括:机台主体、安装于机台主体上的电路板、安装于机台主体上的数个马达及分别安装于马达上的数个探针,所述马达和探针一一对应设置,所述电路板包括:可编程逻辑控制器及与可编程逻辑控制器电性连接的人机交互终端,所述数个马达及数个探针均与可编程逻辑控制器电性连接,所述数个探针的位置对应不同尺寸TFT基板的面板检测信号输入端的位置设置,所述可编程逻辑控制器通过马达驱动探针的升降。通过马达控制驱动与待检测的TFT基板对应的探针升起,完成TFT基板的检测,如此本发明可满足各种不同尺寸的TFT基板的检测需要,节省了现有技术更换探测器的时间,降低生产成本,并避免了现有更换探测器时产生碰撞的风险。

Description

TFT-LCD基板的探测装置
技术领域
[0001] 本发明涉及TFT-IXD (薄膜晶体管液晶显示器)阵列基板探测技术,尤其涉及一种TF-IXD基板探测装置的探针结构。 背景技术
[0002] 液晶显示装置(LCD, Liquid Crystal Display)具有机身薄、省电、无福射等众多优点,得到了广泛的应用。现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示装置,其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子,通过玻璃基板通电与否来控制液晶分子改变方向,将背光模组的光线折射出来产生画面。
[0003] 通常液晶显示面板由上基板(CF, Color Filter)、下基板(TFT, Thin FilmTransistor)、夹于上基板与下基板之间的液晶(LC, Liquid Crystal)及密封胶框(Sealant)组成,其成型工艺一般包括:前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)。其中,前段Array制程主要是形成TFT基板,以便于控制液晶分子的运动;中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶;后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合,进而驱动液晶分子转动,显示图像。
[0004] 灌入液晶的基板,在HVA (高电压激活(high-voltage-activated))制程通过UVl(紫外线)照射配向,并通过AOI (自动光学检验(Automated Optical Inspection))检查机检查配向的效果。无论是UVl还是Α0Ι,都需要通过探测器(Probe)上的探针(pin)与TFT基板的面板检测信号输入端(pad)—一接触,从而对液晶进行加压。探测器上设有对应TFT基板的区块(block),区块上设有与TFT基板的面板检测信号输入端相对应的探针进而完成对液晶的加压。目前使用的探测器有两种:
[0005] I、升降式探测器:探测器首先前进到TFT基板的面板检测信号输入端下方位置,然后探测器上升,直到探针扎到TFT基板的面板检测信号输入端上,然后加压,从而完成HVA制程及AOI检测。
[0006] 2、夹持式探测器:探测器首先上升到TFT基板的高度,然后探测器前进到TFT基板的面板检测信号输入端位置,接着区块上下两部分同时夹住TFT基板,探针扎在TFT基板的面板检测信号输入端上,然后加压,从而完成HVA制程及AOI检测。
[0007] 但无论升降式探测器还是夹持式探测器均具有以下缺陷:一种探测器只能对一种尺寸的TFT基板进行加压。由于不同尺寸的TFT基板的TFT加压点位不同,这就要求其对应的区块上探针位置不同,所以针对不同尺寸的TFT基板,阵列检测(Array Checker)系列设备就需要更换探测器,并重新确认探针与TFT基板的接触状况及电压输出状况,此举既浪费产线时间,增加产线负荷,又容易换错探测器,而且在换探测器的过程中会产生碰撞风险。发明内容
[0008] 本发明的目的在于提供一种TFT-IXD基板的探测装置,可满足各种不同尺寸的TFT基板的检测需要,提高了产线的生产效率,并避免了现有更换探测器时产生碰撞的风险。
[0009] 为实现上述目的,本发明提供一种TFT-IXD基板的探测装置,包括:机台主体、安装于机台主体上的电路板、安装于机台主体上的数个马达及分别安装于马达上的数个探针,所述马达和探针一一对应设置,所述电路板包括:可编程逻辑控制器及与可编程逻辑控制器电性连接的人机交互终端,所述数个马达及数个探针均与可编程逻辑控制器电性连接,所述数个探针的位置对应不同尺寸TFT基板的面板检测信号输入端的位置设置,所述可编程逻辑控制器通过马达驱动探针的升降。
[0010] 所述可编程逻辑控制器包括:中央处理单元、与中央处理单元电性连接的存储单元、与中央处理单元电性连接的通信接口及与中央处理单元电性连接的电源模块,所述数个马达及数个探针与中央处理单元电性连接,所述人机交互终端通过所述通信接口与可编·程逻辑控制器电性连接。
[0011] 所述存储单元储存有对应各种尺寸TFT基板的马达驱动方法。
[0012] 所述人机交互终端包括:与中央处理单元电性连接的按钮模块及与中央处理单元电性连接的显示模块,所述按钮模块用于马达驱动方法的设置及选择,所述显示模块用于辅助马达驱动方法的设置及选择。
[0013] 通过菜单的方式进行马达驱动方法的选择。
[0014] 所述马达驱动方法中对数个马达及数个探针按顺序进行编号。
[0015] 所述对应TFT基板上同一个面板检测信号输入端位置的马达及安装于该马达上的探针编号相同。
[0016] 所述马达驱动方法中根据对应不同尺寸的TFT基板的数个马达及数个探针进行模式编号,将对应同一尺寸的TFT基板的数个马达及数个探针编为一个模式,并以菜单的形式对所述模式进行编号。
[0017] 本发明的有益效果:本发明TFT-IXD基板的探测装置通过马达控制驱动与待检测的TFT基板对应的探针升起,检测完毕后控制探针降下来,完成TFT基板的检测,如此本发明能满足各种不同尺寸的TFT基板的检测需要,提高了产线的生产效率,降低生产成本,并避免了现有更换探测器时产生碰撞的风险,在一定程度上进一步降低了生产成本。
[0018] 为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容,请参阅以下有关本发明的详细说明与附图,然而附图仅提供参考与说明用,并非用来对本发明加以限制。
附图说明
[0019] 下面结合附图,通过对本发明的具体实施方式详细描述,将使本发明的技术方案及其它有益效果显而易见。
[0020] 附图中,
[0021] 图I为本发明TFT-IXD的探测装置的结构示意图。
具体实施方式[0022] 为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果,以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
[0023] 请参阅图1,本发明提供一种TFT-IXD基板的探测装置,包括:机台主体2、安装于机台主体2上的电路板7、安装于机台主体2上的数个马达4及分别安装于马达4上的数个探针6,所述马达4和探针6 —一对应设置,所述电路板7包括:可编程逻辑控制器8及与可编程逻辑控制器8电性连接的人机交互终端9,所述数个马达4及数个探针6均与可编程逻辑控制器8电性连接,所述数个探针4的位置对应不同尺寸TFT基板的面板检测信号输入端的位置设置,所述可编程逻辑控制器8通过马达4驱动探针6的升降,当该探测装置检测不同尺寸的TFT基板时,驱动对应的探针4上升,与TFT基板的面板检测信号输入端接触,进而对液晶加压。
[0024] 所述可编程逻辑控制器8包括:中央处理单元82、与中央处理单元82电性连接的 存储单元84、与中央处理单元82电性连接的通信接口 86及与中央处理单元82电性连接的电源模块88,所述数个马达4及数个探针6与中央处理单元82电性连接,所述人机交互终端9通过所述通信接口 86与可编程逻辑控制器8电性连接。所述存储单元84储存有对应各种尺寸TFT基板的马达驱动方法,通过人机交互终端9可对马达驱动方法进行设置及针对不同尺寸的TFT基板选择对应的马达驱动方法进行检测。
[0025] 所述人机交互终端9包括:与中央处理单元82电性连接的按钮模块92及与中央处理单元82电性连接的显示模块94,所述按钮模块92用于马达驱动方法的设置及选择,所述显示模块94用于辅助马达驱动方法的设置及选择。通过菜单的方式进行马达驱动方法的选择,如在显示模块94中显示出来菜单列表及当前选定的菜单,并通过按钮模块92进行操作,完成马达驱动方法的选定。
[0026] 所述马达驱动方法中将数个马达4及数个探针6按顺序进行编号,如编号为1、2、3、4……,所述对应TFT基板上同一个面板检测信号输入端位置的马达4及与安装于该马达4上的探针6编号相同,并根据对应不同尺寸的TFT基板的数个马达4及数个探针6进行模式编号,将对应同一尺寸的TFT基板的数个马达4及数个探针6编为一个模式,并以菜单的形式对所述模式进行编号,采用按钮模块92进行马达驱动方法选择时,即是对模式进行选择。
[0027] 具体实施步骤如下:
[0028] I、将探针6及马达4进行编号,对应TFT基板上同一面板检测信号输入端位置的马达4及与安装于该马达上的探针6编号相同;
[0029] 2、根据不同尺寸的TFT基板的面板检测信号输入端位置确认对应探针6的位置,并将同一尺寸的TFT基板所用到的探针6及马达4编为一个模式;
[0030] 3、在菜单中设置要用的模式,进行模式编号,即形成马达驱动方法;
[0031] 4、通过按钮模块根据TFT基板的尺寸选择相应的菜单(即选择马达驱动方法),通过可编程逻辑控制器控制马达4驱动对应的探针6上升,使得对应的探针4与TFT基板的面板检测信号输入端接触,并导通上升的探针6,对液晶加压,完成检测。
[0032] 综上所述,本发明提供一种TFT-IXD基板的探测装置,通过马达控制驱动待检测的TFT基板对应的探针升起,检测完毕后控制探针降下来,完成TFT基板的检测,如此本发明可满足各种不同尺寸的TFT基板的检测需要,节省了现有产线更换探测器的时间,提高了产线的生产效率,降低生产成本,并避免了现有更换探测器时产生碰撞的风险,在一定程度上进一步降低了生产成本。
[0033] 以上所述,对于 本领域的普通技术人员来说,可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形,而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。

Claims (8)

1. 一种TFT-IXD基板的探测装置,其特征在于,包括:机台主体、安装于机台主体上的电路板、安装于机台主体上的数个马达及分别安装于马达上的数个探针,所述马达和探针一一对应设置,所述电路板包括:可编程逻辑控制器及与可编程逻辑控制器电性连接的人机交互终端,所述数个马达及数个探针均与可编程逻辑控制器电性连接,所述数个探针的位置对应不同尺寸TFT基板的面板检测信号输入端的位置设置,所述可编程逻辑控制器通过马达驱动探针的升降。
2.如权利要求I所述的TFT-LCD基板的探测装置,其特征在于,所述可编程逻辑控制器包括:中央处理单元、与中央处理单元电性连接的存储单元、与中央处理单元电性连接的通信接口及与中央处理单元电性连接的电源模块,所述数个马达及数个探针与中央处理单元电性连接,所述人机交互终端通过所述通信接口与可编程逻辑控制器电性连接。
3.如权利要求2所述的TFT-LCD基板的探测装置,其特征在于,所述存储单元储存有对应各种尺寸TFT基板的马达驱动方法。
4.如权利要求2所述的TFT-LCD基板的探测装置,其特征在于,所述人机交互终端包括:与中央处理单元电性连接的按钮模块及与中央处理单元电性连接的显示模块,所述按钮模块用于马达驱动方法的设置及选择,所述显示模块用于辅助马达驱动方法的设置及选择。
5.如权利要求4所述的TFT-LCD基板的探测装置,其特征在于,通过菜单的方式进行马达驱动方法的选择。
6.如权利要求3所述的TFT-LCD基板的探测装置,其特征在于,所述马达驱动方法中对数个马达及数个探针按顺序进行编号。
7.如权利要求6所述的TFT-LCD基板的探测装置,其特征在于,所述对应TFT基板上同一个面板检测信号输入端位置的马达及安装于该马达上的探针编号相同。
8.如权利要求7所述的TFT-LCD基板的探测装置,其特征在于,所述马达驱动方法中根据对应不同尺寸的TFT基板的数个马达及数个探针进行模式编号,将对应同一尺寸的TFT 基板的数个马达及数个探针编为一个模式,并以菜单的形式对所述模式进行编号。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104715705A (zh) * 2015-03-30 2015-06-17 深圳市华星光电技术有限公司 一种用于液晶显示面板的检测装置
CN106873195A (zh) * 2015-12-11 2017-06-20 De&T株式会社 探针单元更换装置
CN108538269A (zh) * 2018-05-30 2018-09-14 武汉精测电子集团股份有限公司 基于可编程功率放大器的液晶面板驱动系统及配向方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030174214A1 (en) * 2002-03-15 2003-09-18 Lg. Philips Lcd Co., Ltd. Apparatus and method for testing liquid crystal display panel
CN101071205A (zh) * 2007-07-06 2007-11-14 友达光电股份有限公司 液晶面板检测方法及装置
CN101995679A (zh) * 2009-08-27 2011-03-30 沋博普利斯金股份有限公司 多探头单元

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5506512A (en) * 1993-11-25 1996-04-09 Tokyo Electron Limited Transfer apparatus having an elevator and prober using the same
KR101279656B1 (ko) * 2008-12-22 2013-06-27 엘지디스플레이 주식회사 프로브 검사장치
CN201796208U (zh) * 2010-09-06 2011-04-13 均豪精密工业股份有限公司 液晶面板点灯检测机的探针组定位装置
KR101129195B1 (ko) * 2010-12-20 2012-03-27 주식회사 탑 엔지니어링 어레이 테스트 장치
KR101234088B1 (ko) * 2010-12-30 2013-02-19 주식회사 탑 엔지니어링 어레이 테스트 장치

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030174214A1 (en) * 2002-03-15 2003-09-18 Lg. Philips Lcd Co., Ltd. Apparatus and method for testing liquid crystal display panel
CN101071205A (zh) * 2007-07-06 2007-11-14 友达光电股份有限公司 液晶面板检测方法及装置
CN101995679A (zh) * 2009-08-27 2011-03-30 沋博普利斯金股份有限公司 多探头单元

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104715705A (zh) * 2015-03-30 2015-06-17 深圳市华星光电技术有限公司 一种用于液晶显示面板的检测装置
CN106873195A (zh) * 2015-12-11 2017-06-20 De&T株式会社 探针单元更换装置
CN106873195B (zh) * 2015-12-11 2020-10-30 De&T株式会社 探针单元更换装置
CN108538269A (zh) * 2018-05-30 2018-09-14 武汉精测电子集团股份有限公司 基于可编程功率放大器的液晶面板驱动系统及配向方法
CN108538269B (zh) * 2018-05-30 2020-09-18 武汉精测电子集团股份有限公司 基于可编程功率放大器的液晶面板驱动系统及配向方法

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