CN100447867C - 光信息记录装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种适于策略和记录模式之间的偏移的检测的光信息记录装置。使用预定的策略在上述光记录介质上进行测试记录，对再现其结果而得到2值化信号进行计数，使用该计数结果的柱状图特定上述2值化信号所包含的坑长和岸长，根据这些坑长和岸长从上述记录区域中检索抽取多个再现模式，使通过该检索而得到的再现模式互相进行比较，由此，检测上述策略与由上述测试记录形成的记录模式之间的偏移。

Description

光信息记录装置
技术领域
本发明涉及一种光信息记录装置，特别涉及对记录坑的相位偏移或长度偏移的校正有效的光信息记录装置。
背景技术
对光盘等光信息记录介质的信息记录是通过以下动作来进行的，即：以EFM(Eight to Fourteen Modulation)方式对记录数据进行调制，根据该调制信号形成记录脉冲，根据该记录脉冲控制激光的强度或照射定时，在光盘上形成记录坑。
在此，记录坑的形成是利用因激光的照射而产生的热来进行的，因此，要求对记录脉冲的设定考虑蓄热效果和热干扰等。因此，以往按光盘的种类以策略(strategy)的形式对构成记录脉冲的各种参数的设定进行多个定义，从这些策略中选择最适于相应的记录环境的策略，并使设置在光信息记录装置中的策略电路加以执行。
由该策略电路所执行的策略，不只依赖于例如光拾取器(pick-up)的点径偏差、机构精度偏差等光信息记录装置的个体差别，还依赖于用于记录再现的光盘的制造商类别和记录速度，因此设定最佳策略会提高记录品质。
为此，人们提出了这样的方法：即，找出与各制造商类别对应的光盘的最佳策略，将其与制造商类别对应地预先存储在存储器中，在对光盘进行信息记录时，读取记录在光盘上的光盘的制造商类别，从上述存储器中读出与该所读取的制造商类别对应的最佳策略并设定在策略电路中。
但是，根据上述方法，可以对预先存储在存储器中的制造商类别的光盘进行最佳记录，但是却不能对未存储在存储器中的制造商类别的光盘进行最佳记录，并且，即使是预先存储在存储器中的制造商类别的光盘，当记录速度不同时，也不能进行最佳记录。
因此，如下述的专利文献1、专利文献2所示，提出了按记录条件预先进行测试记录，根据该测试记录确定最佳策略，从而能应对各种光盘的方法。
[专利文献1]日本特开平5-144001号公报
[专利文献2]日本特开平4-137224号公报
但是，在上述专利文献所记载的技术中，不能进行对于多个存在的策略的设定参数，是否需要对某个参数进行某种程度的调整的判断，因此，不能进行与各种参数对应的最佳策略设定。
即，作为策略的设定参数，有
1)记录脉冲的前侧相位校正
2)记录脉冲的后侧相位校正
3)热干扰校正
4)记录标记的长度校正
等。通过调整激光束的记录功率和记录脉冲的脉冲宽度等来校正偏移量，但是，对于上述专利文献1和专利文献2的方法，不能独立地判别这些偏移量，因此，不能确定与各种设定参数对应的最佳策略。
作为解决上述课题的有效方法，已知有例如下述的文献。
[专利文献3]日本特开2003-30837号公报
在该专利文献3的段落[0020]中，记载了“...按记录模式(pattern)检测与道(channel)时钟的相位误差。记录补偿参数调整部12根据相位误差检测部11的检测结果来对发光波形规则进行最优化。...”，公开了通过与道时钟的比较来检测并校正相位误差的方法。
另外，在该专利文献3的段落[0024]中，记载了“接着，记录用于确定发光波形规则的测试模式。然后，对记录了该测试模式的区域进行再现，检查预先准备的发光波形规则和相位误差量之间的关系。即，测量各种标记的长度和该标记邻近的各种间隔(space)的长度的各种组合的相位误差量。根据测量出的相位误差量预测相位误差量变成零的发光波形规则，并确定所要的发光波形规则。...”，公开了按标记和空隙的组合来测量相位误差量，预测相位误差量变成零的发光波形规则的方法。
根据该专利文献3所记载的方法，由于进行基于记录模式的相位误差的校正，因此可以进行与各种设定参数对应的最佳策略的设定，但是，由于通过与道时钟进行比较来检测相位误差，因此在实际所记录的坑和所定义的策略的偏移大时，就有可能难以进行标记长度的判别，或偏移的检测其本身。
发明内容
因此，本发明提供一种对考虑了各种参数的设定的记录坑和策略之间的偏移的检测有效的方法。
为了达到上述目的，本发明的第1方案的特征在于：在利用激光的脉冲照射在光记录介质上进行信息的记录的光信息记录装置中，包括在上述光记录介质上进行改变了策略的各种参数的多个记录模式的测试记录的装置；对再现上述测试记录的结果而得到的多个特定模式中的一个再现模式与上述多个特定模式中的另一个再现模式进行比较的装置；以及检测上述策略与由上述测试记录形成的记录模式之间的偏移的装置，其中，再现上述测试记录而得到2值化信号，使用预定的时钟信号对上述2值化信号的脉冲长度进行计数而生成柱状图，使用上述柱状图特定上述2值化信号所包含的坑长和岸长，根据上述特定了的坑长和岸长，从记录区域中检索而得到上述多个特定模式，利用上述比较结果来进行上述偏移的检测。
在此，上述策略，定义了为了得到所要的坑形状而设定的激光的脉冲条件，作为激光的照射功率或脉冲宽度的变化，考虑成为记录对象的坑(Pit)的长度、与邻近的岸(Land)的长度的关系、与后续的岸的长度的关系、蓄热和热干扰的影响等，从而提供特定的脉冲形状。
测试记录是为了确认使用上述策略进行实际记录时的差异而进行的记录，使用在存储器内设置的测试记录区域来执行。该测试记录使用能有效地检测出策略和实际的记录状态之间的偏移的特定模式来进行，通过对包括由该测试记录形成的多个记录坑的记录模式进行再现，能得到与该记录模式对应的再现模式。
利用测试记录结果的再现得到的再现模式有多种，从中抽取至少2个对检测策略和实际的记录状态之间的偏移有效的再现模式，并对它们进行比较，由此进行相位偏移或长度偏移等各种偏移的检测。
这2个再现模式，任意一个都包括反映了策略和实际的记录状态之间的偏移的信号，因此通过使这些再现模式彼此进行比较，能够检测以某个模式为基准的相对偏移量。
这2个再现模式，最好在两者之间设置坑长或岸长相同的部位和不同的部位，例如，可以采用如下结构：即，使用“相同的坑、相同的岸、不同种类的坑”连续的模式来检测预定坑的前侧相位偏移的结构；使用“不同种类的坑、相同的岸、相同的坑”连续的模式来检测预定坑的后侧相位偏移的结构；使用“不同种类的岸、相同的坑、相同的岸”连续的模式来检测坑的干扰偏移的结构；以及使用“相同的岸、不同种类的坑、相同的岸”连续的模式来检测坑补偿的偏移的结构。
但是，本发明并不限于比较2个再现模式的方法，也包括比较多个再现模式的方法，例如，以1个再现模式为基准，对该基准模式和其它的模式进行比较的方法。
另外，本发明的第2方案的特征在于：在利用激光的脉冲照射对光记录介质进行信息的记录的光信息记录装置中，包括：使用包含固定长度坑、固定长度岸、可变长度坑连续的记录模式，且该可变长度坑的长度不同的多个记录脉冲，在上述光记录介质上进行测试记录的装置；再现上述测试记录的结果，取得与上述多个记录脉冲分别对应的多个再现模式的装置；将上述多个再现模式中的至少一个设定为基准模式，并且将该基准模式以外的至少一个设定为比较模式的装置；对与上述基准模式所包含的固定长度岸对应的部分的信号，和与上述比较模式所包含的固定长度岸对应的部分的信号进行比较的装置；以及根据上述比较的结果，检测与上述比较模式所包含的可变长度坑的长度对应的坑的前侧相位偏移量的装置。其中，再现上述测试记录而得到2值化信号，使用预定的时钟信号对上述2值化信号的脉冲长度进行计数而生成柱状图，使用上述柱状图特定上述2值化信号所包含的坑长和岸长，根据上述特定了的坑长和岸长，从记录区域中检索而得到上述多个再现模式。
这样，由于使用固定长度坑、固定长度岸、可变长度坑连续的模式，因此在理想状态下应恒定的固定长度岸受到可变长度坑的前侧相位的影响而导致长度发生变化。如果检测该长度的变化，则能独立地检测可变长度坑的前侧相位偏移。另外，最好通过使可变长度坑按3T、4T、...14T依次变化来对用于记录的所有的长度进行测试。
另外，本发明的第3方案的特征在于：在利用激光的脉冲照射对光记录介质进行信息的记录的光信息记录装置中，包括：使用包含固定长度坑、固定长度岸、可变长度坑连续的记录模式，且该可变长度坑的长度不同的多个记录脉冲，在上述光记录介质上进行测试记录的装置；再现上述测试记录的结果，取得与上述多个记录脉冲分别对应的多个再现模式的装置；将上述多个再现模式中的至少一个设定为基准模式，并且将该基准模式以外的至少一个设定为比较模式的装置；对与上述基准模式所包含的固定长度岸对应的部分的信号，和与上述比较模式所包含的固定长度岸对应的部分的信号进行比较的装置；以及根据上述比较的结果，检测与上述比较模式所包含的可变长度坑的长度对应的坑的后侧相位偏移量的装置。其中，再现上述测试记录而得到2值化信号，使用预定的时钟信号对上述2值化信号的脉冲长度进行计数而生成柱状图，使用上述柱状图特定上述2值化信号所包含的坑长和岸长，根据上述特定了的坑长和岸长，从记录区域中检索而得到上述多个再现模式。
这样，由于使用可变长度坑、固定长度岸、固定长度坑连续的模式，因此在理想状态下应恒定的固定长度岸受到可变长度坑的后侧相位的影响而导致长度发生变化。如果检测该长度的变化，则能独立地检测可变长度坑的后侧相位偏移。另外，最好通过使可变长度坑按3T、4T、...14T依次变化来对用于记录的所有的长度进行测试。
另外，本发明的第4方案的特征在于：在利用激光的脉冲照射对光记录介质进行信息的记录的光信息记录装置中，包括：使用包含固定长度坑、固定长度岸、可变长度坑连续的记录模式，且该可变长度坑的长度不同的多个记录脉冲，在上述光记录介质上进行测试记录的装置；再现上述测试记录的结果，取得与上述多个记录脉冲分别对应的多个再现模式的装置；将上述多个再现模式中的至少一个设定为基准模式，并且将该基准模式以外的至少一个设定为比较模式的装置；对与上述基准模式所包含的固定长度坑对应的部分的信号，和与上述比较模式所包含的固定长度坑对应的部分的信号进行比较的装置；以及根据上述比较的结果，检测与上述比较模式所包含的可变长度岸的长度对应的坑的长度偏移量的装置。其中，再现上述测试记录而得到2值化信号，使用预定的时钟信号对上述2值化信号的脉冲长度进行计数而生成柱状图，使用上述柱状图特定上述2值化信号所包含的坑长和岸长，根据上述特定了的坑长和岸长，从记录区域中检索而得到上述多个再现模式。
这样，由于使用可变长度岸、固定长度坑、固定长度岸连续的模式，因此在理想状态下应恒定的固定长度坑受到在可变长度岸之前的坑形成时产生的热干扰的影响而长度发生变化。如果检测该长度的变化，则能独立地检测由固定长度坑的热干扰引起的长度偏移。另外，最好通过使可变长度岸按3T、4T、...14T依次变化来对用于记录的所有的长度进行测试。
另外，本发明的第5方案的特征在于：在利用激光的脉冲照射对光记录介质进行信息的记录的光信息记录装置中，包括：使用包含固定长度坑、固定长度岸、可变长度坑连续的记录模式，且该可变长度坑的长度不同的多个记录脉冲，在上述光记录介质上进行测试记录的装置；再现上述测试记录的结果，取得与上述多个记录脉冲分别对应的多个再现模式的装置；对与上述多个再现模式所包含的固定长度坑对应的部分的信号和与该固定长度坑的长度对应的坑的规定长度进行比较的装置；以及根据上述比较的结果检测与上述固定长度坑的长度对应的坑的长度偏移量的装置。其中，再现上述测试记录而得到2值化信号，使用预定的时钟信号对上述2值化信号的脉冲长度进行计数而生成柱状图，使用上述柱状图特定上述2值化信号所包含的坑长和岸长，根据上述特定了的坑长和岸长，从记录区域中检索而得到上述多个再现模式。
这样，通过对与固定长度坑对应的部分的信号和与该固定长度坑的长度对应的坑的规定长度进行比较，也能独立地检测由固定长度坑的热干扰引起的长度偏移。
另外，本发明的第6方案的特征在于：在利用激光的脉冲照射对光记录介质进行信息的记录的光信息记录装置中，包括：使用包含固定长度坑、固定长度岸、可变长度坑连续的记录模式，且该可变长度坑的长度不同的多个记录脉冲，在上述光记录介质上进行测试记录的装置；再现上述测试记录的结果，取得与上述多个记录脉冲分别对应的多个再现模式的装置；对与上述多个再现模式的每一个所包含的可变长度坑对应的部分的信号，和与该可变长度坑的长度对应的坑的规定长度进行比较的装置；以及根据上述比较的结果，检测与上述可变长度坑的长度对应的坑的长度偏移量的装置。其中，再现上述测试记录而得到2值化信号，使用预定的时钟信号对上述2值化信号的脉冲长度进行计数而生成柱状图，使用上述柱状图特定上述2值化信号所包含的坑长和岸长，根据上述特定了的坑长和岸长，从记录区域中检索而得到上述多个再现模式。
这样，由于使用固定长度岸、可变长度坑、固定长度岸连续的模式，因此在理想状态下应与规定长度一致的可变长度坑受到前后的岸和与这些岸相邻的坑的影响而导致长度发生变化。如果检测该长度的变化，则能独立地检测由可变长度坑的坑补偿(pit balance)引起的长度偏移。另外，最好通过使可变长度坑按3T、4T、...14T依次变化来对用于记录的所有的长度进行测试。
另外，本发明的第7方案的特征在于：在利用激光的脉冲照射对光记录介质进行信息的记录的光信息记录装置中，包括：在上述光记录介质上进行改变了策略的各种参数的多个记录模式的测试记录的装置；再现上述测试记录的结果，得到2值化信号的装置；使用预定的时钟信号对上述2值化信号的脉冲长度进行计数的装置；将上述计数结果存储在预定的存储区域的装置；生成上述计数结果的柱状图的装置；使用上述柱状图特定上述2值化信号所包含的坑长和岸长的装置；根据上述特定了的坑长和岸长，从上述记录区域中检索第1再现模式和第2再现模式的装置；以及对通过上述检索所得到的第1再现模式与第2再现模式进行比较，由此检测上述策略与由上述测试记录形成的记录模式之间的偏移的装置。
这样，通过以预定时钟对从测试记录的结果得到的再现2值化信号进行计数并存储该计数结果，能进行所得到的再现模式的各种统计处理和特定模式的抽取。再现2值化信号的计数，可以使用以该2值化信号的极性翻转边沿开始计数的计数器来进行，由此，能将坑的长度和岸的长度作为计数数据。
这样得到的计数数据，被存储在设置于记录装置内的存储元件等的预定的记录区域，在蓄积了一定量之后，生成分析了各计数值的出现频率的柱状图。通过生成该柱状图，计数值的范围与坑、岸之间的长度被关联起来，能从存储区域所存储的庞大的计数数据中检索、抽取包含所要的坑和岸的模式的数据串。
例如，可以是在检测预定坑的前侧相位偏移的情况下，检索、抽取、相互比较“固定长度坑、固定长度岸、可变长度坑”连续的模式组；在检测预定坑的后侧相位偏移的情况下，检索、抽取、相互比较“可变长度坑、固定长度岸、固定长度坑”连续的模式组；在检测坑的干扰偏移的情况下，检索、抽取、相互比较“可变长度岸、固定长度坑、固定长度岸”连续的模式组；在检测坑补偿的偏移的情况下，检索、抽取、相互比较“固定长度岸、可变长度坑、固定长度岸”连续的模式组。
这样，通过将再现测试记录的结果而得到的2值化信号作为计数数据进行处理，能适当地检测由各种因素引起的偏移量。另外，上述的柱状图等的数据处理，能使用设置于记录装置内的CPU等运算元件来执行。
利用了该柱状图的坑长和岸长的判断，由于以出现频率的分布作为判断基准，因此即使是在策略和实际的记录模式之间的偏移大的情况下，也能进行有效的判断。
如上所述，根据本发明，即使是在实际记录的坑和所定义的策略之间的偏移大的情况下，也能进行偏移的检测，能提供进一步优化后的策略。
附图说明
图1是表示本发明的光信息记录装置的内部结构的框图。
图2是表示图1所示的光信息记录装置执行的策略确定步骤的执行顺序的流程图。
图3是表示从图2中的测试记录到再现数据的计数为止的操作概念的概念图。
图4是表示图3中的计数结果的存储映像(storage image)的概念图。
图5是表示图2中的柱状图(histogram)生成的图像的概念图。
图6是表示图2中的阈值确定的图像的概念图。
图7是表示由图6所示的方法所得到的阈值的例子的概念图。
图8是表示用于检测各坑长的前侧相位偏移量的记录模式和再现模式的一个例子的图。
图9是表示用于检测各坑长的后侧相位偏移量的记录模式和再现模式的一个例子的概念图。
图10是表示用于检测由热干扰引起的坑偏移量的记录模式的一个例子的图。
图11是表示通过与基准长度比较来检测由热干扰引起的坑偏移量的例子的图。
图12是表示用于检测由坑补偿引起的偏移量的记录模式的一个例子的图。
图13是表示坑前相位偏移检测和坑后相位偏移检测所使用的特定模式检索用的表结构的概念图。
图14是表示坑干扰偏移检测和坑补偿偏移检测所使用的特定模式检测用的表结构的概念图。
图15是表示通过计数结果的相对比较来检测偏移量时的具体例子的概念图。
图16是表示通过计数结果的绝对比较来检测偏移量时的具体例子的概念图。
图17是表示图2中的控制量预测的执行例子的流程图。
图18是表示了以图17中的记录条件S1和S2进行变化的参数的概念图。
图19是表示记录条件S1和S2的变化与偏移量D1、D2之间的关系的概念图。
图20是表示利用了直线近似的前侧相位偏移校正的一个例子的概念图。
图21是表示利用了直线近似的后侧相位偏移校正的一个例子的概念图。
图22是表示利用了关于单脉冲的形状的直线近似的长度偏移校正的一个例子的概念图。
图23是表示利用了关于多脉冲的形状的直线近似的长度偏移校正的一个例子的概念图。
图24是表示用于存储校正量Ttop和Tlast的表构造的概念图。
图25是表示用于存储校正量PWD和Tmp的表构造的概念图。
图26是表示校正后的记录脉冲的例子的概念图。
具体实施方式
以下，参照附图详细地说明本发明的光信息记录装置。另外，本发明并不限于以下说明的实施方式，可以进行适当的变更。
图1是表示本发明的光信息记录装置的内部结构的框图。如图1所示，该光信息记录再现装置使用从激光振荡器103输出的激光，对光盘10进行信息的记录再现。
在对光盘进行信息记录的情况下，用编码器101以EFM方式对与所要的记录信息对应的记录信号进行编码，并将该编码后的记录数据提供给策略电路102。
在此，在该策略电路102中，设置有预定的策略的各种参数，该策略电路102校正策略的各种设定参数，控制从激光振荡器103所输出的激光的强度或脉冲宽度，生成有可能得到所要的记录状态的记录脉冲。
由策略电路102所形成的记录脉冲被提供给激光振荡器103，激光振荡器103与该记录脉冲相对应地控制输出激光，使该被控制了的激光经由透镜104、半反射镜105、透镜106照射到以恒定的线速度或者恒定的角速度旋转的光盘10，由此，在光盘10上对记录模式进行记录，该记录模式具有与所要的记录数据对应的坑(Pit)、岸(Land)的串。
另一方面，在进行光盘10上所记录的信息的再现时，相同的再现激光从激光振荡器103经由透镜104、半反射镜105、透镜106照射到以恒定的线速度或者恒定的角速度旋转的光盘10。
此时，再现激光使用强度比记录时从激光振荡器103输出的激光弱的再现激光，由该再现激光引起的、来自光盘的反射光经由透镜106、半反射镜105、透镜107而由受光部108受光，被转换为电信号。
从受光部108输出的电信号与记录在光盘10上的由坑、岸组成的记录模式相对应。从该受光部108输出的电信号在再现补偿电路109中完成预定的补偿处理，在2值化电路110中被2值化，进而在解码器111中被解码并作为再现信号输出。
图2是表示图1所示的光信息记录装置执行的策略确定步骤的执行顺序的流程图。如图2所示，图1所示的光信息记录装置，首先，为了设定策略电路102执行的记录策略的各种参数，对光盘10进行改变了策略的各种参数的多个记录模式的测试记录(步骤S10)。
之后，再现由该测试记录形成的记录模式(步骤S12)，记录偏移检测部112用与预定时钟同步的计数器对从2值化电路110得到的再现2值化信号进行计数(步骤S14)，并将该再现2值化信号所包含的坑和岸的长度作为计数数据存储在记录区域115中(步骤S16)。
然后，记录偏移检测部112使用存储在记录区域115中的计数数据，生成表示每个计数值的出现频率的柱状图(步骤S18)，根据该柱状图确定成为坑长和岸长的判断基准的计数结果的阈值(步骤S20)。
然后，记录偏移检测部112，以上述阈值为基准，从记录区域115所存储的计数数据中检索包含特定的坑/岸模式的多种特定模式(步骤S22)，对被认为是该特定模式所包含的同一坑长的计数结果进行平均，并且对同一岸长的计数结果进行平均，求出构成特定模式的各坑和各岸的平均长度(步骤S24)。
然后，记录偏移检测部112，将抽取的多个特定模式中的一个设定为基准模式，对该基准模式与其它的模式进行比较(步骤S26)，分别独立地检测下述的偏移量(步骤S28)。
1)对记录脉冲的坑的前侧相位偏移量
2)对记录脉冲的坑的后侧相位偏移量
3)因热干扰而偏离记录脉冲的坑偏移量
4)对记录脉冲的坑的长度偏移量
之后，运算式导出部113根据记录偏移检测部112检测出的偏移量，导出用于确定最佳策略的运算式，策略确定部114使用该运算式导出部113导出的运算式，对各种参数的控制结果进行预测(步骤S30)，并根据该预测结果确定用于调整激光的功率和脉冲宽度的策略校正值，将校正后的最佳策略记录在策略电路102中(步骤S32)。
图3是表示从图2中的测试记录到再现数据的计数为止的操作概念的概念图。如图3所示，首先，进行测试记录，并在光盘上形成图3的(a)所示的记录坑。然后，对该记录坑进行再现，如图3的(b)所示，得到与该记录坑对应的再现RF信号。对该再现RF信号进行2值化后，得到图3的(c)所示的再现2值化信号，并用图3的(d)所示的时钟信号对该2值化信号的极性翻转之间的脉冲长度进行计数，得到图3的(e)所示的计数结果。
图4是表示图3中的计数结果的存储映像的概念图。如图4所示，在用时钟信号进行了计数的2值化信号中，其计数结果以极性翻转部分为界限，与坑、岸的区别一起依次以时序存储在设置于存储区域115中的表内。图4所示的表，以附加了此后可进行检索的地址的状态来进行存储。
图5是表示图2中的柱状图生成的图像的概念图。如图5所示，如果将计数值的出现频率图形化，则可得到柱状图，如果将坑和岸分开分别生成柱状图，则可得到图5的(a)所示的表示坑的计数倾向的坑柱状图和图5的(b)所示的表示岸的计数倾向的岸柱状图这两种柱状图。这样，在光盘上，对基准时钟的各单位长度nT(n＝3、4、5、...14)的长度必然被确定，因此对于各单位长度nT，能得到出现频率分布的峰。
图6是表示图2中的阈值确定的图像的概念图。如图6所示，在柱状图中的各峰和峰之间所形成的谷的部分可以作为各单位长度nT的长度判断阈值来使用，因此对于坑柱状图和岸柱状图，分别设定成为坑长的判断基准的坑长阈值和成为岸长的判断基准的岸长阈值。
图7是表示通过图6所示的方法得到的阈值的例子的概念图。如图7的(a)所示，按各坑长的界限来定义坑长阈值，如图7的(b)所示，按各岸长的界限来定义岸长阈值。在图7的(a)所示的例子中，成为2T和3T的界限的阈值为“计数值＝2”，成为3T和4T的界限的阈值为“计数值＝9”，以下，设定到14T和15T的界限为止。另外，在图7的(b)所示的例子中，成为2T和3T的界限的阈值为“计数值＝2”，成为3T和4T的界限的阈值为“计数值＝10”，以下，设定到14T和15T的界限为止。
接着，对图2中的从特定模式的检索(步骤S22)到偏移量的检测(步骤S28)为止的各步骤进行详细的说明。这些步骤是根据记录偏移检测部112中的各种偏移的检测原理来进行的。
图8是表示用于检测各坑长的前侧相位偏移量的记录模式和再现模式的一个例子的图。如图8所示，在检测各坑长的前侧相位偏移时，使用图8的(a)所示的记录脉冲进行测试记录。其记录脉冲包含固定坑PxT、固定岸LyT、可变坑PzT连续的模式，使固定坑PxT的坑长和固定岸LyT的岸长固定，使可变坑PzT的坑长如图8的(b)～(f)所示那样，按3T、4T、...7T来变化。另外，虽然未图示，但是可变坑长的变化一直进行到14T。
在此，在测量该记录模式的固定岸LyT的长度时，该固定岸LyT的长度在理想的记录状态下应该是恒定的。但是，当该固定岸LyT的长度偏离理想的规定的长度时，由于坑PxT的坑长是固定的，因此，该固定岸LyT长的理想的规定长度的偏移量，与对于记录时策略中的3T、4T、...14T各自的坑P3T、P4T、...P14T的记录脉冲的前侧相位偏移量相对应。
因此，当将可变坑PzT为3T的图8的(b)的模式设定为基准模式，将余下的图8的(c)～(f)的模式设定为比较模式，并对这些比较模式的固定岸LyT的长度和基准模式的固定岸LyT的长度进行比较时，如图8的各图所示，得到对于基准模式的前侧相位偏移量FPS4T～FPS7T。
在此，各偏移量FPS3T～FPS7T，可以作为以某个部位为基准的相对值来检测，因此，基准模式的前侧相位偏移量FPS3T可以定义为零，也可以作为偏离理想的长度的偏移量来检测。另外，也可以将图8的(c)～(f)所示的模式中的任意一个设定为基准模式，而不用图8的(b)。
图9是表示用于检测各坑长的后侧相位偏移量的记录模式和再现模式的一个例子的概念图。如图9所示，在检测各坑长的后侧相位偏移量时，使用图9的(a)所示的记录脉冲进行测试记录。该记录脉冲包含可变坑PxT、固定岸LyT、固定坑PzT连续的模式，使固定岸LyT的岸长和固定坑PzT的坑长固定，使可变坑PxT的坑长象图9的(b)～(f)所示那样，按3T、4T、...7T来变化。另外，虽然未图示，但是可变坑长的变化一直进行到14T。
在此，在测量该记录模式的固定岸LyT的长度时，该固定岸LyT的长度在理想的记录状态下应该是恒定的。但是，当该固定岸LyT的长度偏离理想的规定长度时，由于坑PzT的坑长是固定的，因此，该固定岸LyT长的理想的规定长度的偏移量，与对记录时策略中的3T、4T、...14T各自的坑P3T、P4T、...P14T的记录脉冲的后侧相位偏移量相对应。
因此，当将可变坑PxT为3T的图9的(b)的模式设定为基准模式，将余下的图9的(c)～(f)的模式设定为比较模式，对这些比较模式的固定岸LyT的长度和基准模式的固定岸LyT的长度进行比较时，如图9的各图所示，得到对基准模式的后侧相位偏移量RPS4T～RPS7T。
在此，各偏移量RPS3T～RPS7T，可以作为以某个部位为基准的相对值来检测，因此，基准模式的后侧相位偏移量RPS3T可以定义为零，也可以作为偏离理想的长度的偏移量来检测。另外，也可以将图9的(c)～(f)所示的模式中的任意一个设定为基准模式，而不用图9的(b)。
图10是表示用于检测由热干扰引起的坑偏移量的记录模式的一个例子的图。如图10所示，在检测由热干扰引起的坑偏移量的情况下，使用图10的(a)所示的记录脉冲进行测试记录。该记录脉冲，包含岸LxT、坑PyT、岸LzT连续的模式，使固定坑PyT的坑长和固定岸LzT的岸长固定，并使可变岸LxT的岸长如图10的(b)～(f)所示，按3T、4T、...7T来变化。另外，虽然未图示，但是可变岸长的变化一直进行到14T。
在此，如果测量该记录模式的固定坑PyT的长度，则该固定长度的坑PyT的长度在理想的状态下应恒定。但是，如果该固定坑PyT的长度偏离理想的规定的长度，则岸LzT的岸长是固定的，因此该固定坑PyT的理想的规定长度的偏移量与在由可变岸LxT的邻近所形成的坑的热干扰引起的偏移量相对应。
因此，当把可变岸LxT为3T的图10的(b)模式设定为基准模式，把图10的剩下的(c)～(f)的模式设定为比较模式，对这些比较模式的固定坑PyT的长度和基准模式的固定坑PyT的长度进行比较时，如图10的各图所示，能得到对基准模式的前侧相位偏移量HID3T～HID7T。
在此，各偏移量HID3T～HID7T只要能作为以某个部位为基准的相对值来检测即可，因此基准模式的前侧相位偏移量HID3T也可以定义为零，另外，也可以作为偏离理想长度的偏移量来检测。并且，也可以将图10的(c)～(f)所示的模式的任意一个设定为基准模式，来替代图10的(b)的模式。
图11是表示通过与基准长度比较来检测由热干扰引起的坑偏移量的例子的图。如图11的(b)～(g)所示，也可以通过将各模式的固定坑PyT与基准长度进行比较来求出前侧相位偏移量HID3T～HID7T，而不设定图10那样的基准模式。
图12是表示用于检测由坑补偿引起的偏移量的记录模式的一个例子的图。如图12所示，在检测由坑补偿引起的偏移量的情况下，使用图12的(a)所示的记录脉冲进行测试记录。该记录脉冲包含岸LxT、坑PyT、岸LzT连续的模式，使固定岸LxT的岸长和固定岸LzT的岸长固定，并使可变坑PyT的坑长如图12的(b)～(f)所示，按3T、4T、...7T来变化。另外，虽然未图示，但是可变坑长的变化一直进行到14T。
在此，如果测量该记录模式的可变长度的坑PyT的坑长，则该可变长度的坑PyT的坑长，在理想的记录状态下应该分别与理想的坑长相对应。
但是，如果该可变长度的坑PyT的坑长偏离理想的规定长度，则由于岸LxT的岸长和岸LzT的岸长是固定的，因此偏离该可变长度的坑PyT的规定长度的偏移量与对记录时策略的3T、4T、...14T各自的坑P3T、P4T、...P14T的记录脉冲的长度偏移量相对应。
因此，如果使用某个策略进行测试记录，对可变长度的坑PyT的记录结果和各坑的基准长度进行比较，检测各坑长偏离理想的长度的偏移量，则能根据基于该记录脉冲的测试记录的再现模式检测各坑长的长度偏移量，如图12的(b)～(f)所示。
图13是表示坑前相位偏移检测和坑后相位偏移检测所使用的特定模式检索用的表结构的概念图。在进行坑前相位偏移的检测的情况下，以对每个特定模式设定的关于坑PxT、岸LyT、坑PzT的图13的(a)所示的阈值范围为基准，对在图1的存储区域115内存储的数据进行检索(相当于图2的步骤S22)，抽取满足该阈值的数据串。
之后，对分别相当于坑PxT、岸LyT、坑PzT的计数结果进行区分并按坑PxT、岸LyT、坑PzT求出平均值(相当于图2的步骤S24)。如果使用该计数结果的平均值进行图8所示的模式比较，则能得到各坑长的前侧相位偏移量。图13的(b)是进行后相位偏移的检测时的阈值例，但是思考方法和操作与进行坑前相位偏移的检测的情况是相同的。
图14是表示坑干扰偏移检测和坑补偿偏移检测所使用的特定模式检测用的表结构的概念图。如图14的(a)和(b)所示，坑干扰偏移的检测和坑补偿偏移的检测都以与使用图13说明的坑前相位偏移及坑后相位偏移同样的方法来进行。
图15是表示通过计数结果的相对比较来检测偏移量时的具体例子的概念图。图15是检测坑前相位偏移时的例子，但是检测其它的偏移量时也用同样的方法进行。在检测偏移量时，首先，从存储在存储区域内的数据组中检索抽取图15的(a)和(b)所示的基准模式和比较模式，如图15的(c)和(d)所示，比较对本来应为固定长度的部位的计数值。在图15所示的例子中，由于岸LyT成为比较部位，因此求出作为基准模式的计数结果的图15的(c)所示的“12”和作为比较模式的计数结果的图15的(d)所示的“11”的差值，得到的差值“1”就成为偏移量FPS4T的值。
图16是表示通过计数结果的绝对比较来检测偏移量时的具体例子的概念图。如图16所示，在与理想的基准长度比较来检测偏移量的情况下，首先，从存储在存储区域的数据组中检索抽取图16的(a)所示的特定模式，如图16的(b)和(c)所示，比较对成为比较对象的部位的两者的计数值。在图16所示的例子中，由于坑3T成为比较部位，因此，求出作为特定模式的计数结果的图16的(c)所示的“9”和作为与基准长度相当的计数结果的图16的(d)所示的“8”的差值，得到的差值“1”就成为3T坑的偏移量。
图17是表示图2中的控制量预测的执行例子的流程图。如图17所示，控制量的预测是通过执行以下一连串的步骤进行的：以记录条件不同的S1和S2这两种以上的条件进行测试记录(步骤S100)；再现得到的记录坑(步骤S102)；比较得到的再现模式，从而求出与记录条件1对应的偏移量D1和与条件S2对应的偏移量D2(步骤S104)；以及对S1和S2之间、D1和D2之间的关系进行直线近似(步骤S106)，使用该直线确定最佳校正量(步骤S108)。
上述这样检测出的偏移量D1和D2随策略的各种设定参数而变动。并且，因该策略的各种设定参数而变动的偏移量D1和D2，根据分析结果可知是大致以直线状进行变化的。
即，由上述记录偏移检测部112检测的各自的测试记录中的偏移量，能作为基于最小二乘法近似出的直线状的变化来进行捕捉。
因此，在本实施方式的光信息记录装置中，例如，在进行了2次测试记录的情况下，能着眼于策略的各种设定参数和检测出的偏移量D1及D2的直线关系来确定最佳的策略。但是，对于本发明，也可以用曲线近似来替代直线近似。
图18是表示了用图17中的记录条件S1和S2进行变化的参数的概念图。图18的(a)是使用由单一的脉冲模式构成的单脉冲时的例子，图18的(b)是使用由多个脉冲模式构成的多脉冲时的例子。
如图18的各图所示，单脉冲10-1和多脉冲10-2具有配置在脉冲的开头的起始脉冲12和配置在后端的后端脉冲14，记录脉冲整体的能量由各脉冲的高度规定，施加给记录坑前端的最初阶段的能量由起始脉冲宽度Ttop表示的长度规定，施加给记录坑后端的能量由后端脉冲宽度Tlast表示的长度规定。
另外，作为其它的调整因素，如图18的(a)所示，在单脉冲10-1的情况下，在起始脉冲12和后端脉冲14之间设置比主功率PW低PWD的低功率区域。通过规定该量来防止记录坑变成泪型。同样，在多脉冲10-2的情况下，如图18的(b)所示，通过规定位于起始脉冲12和后端脉冲14之间的中间脉冲的宽度Tmp来防止记录坑变成泪型。
以上所述的Ttop、Tlast、PWD、Tmp成为因记录条件S1和S2而变化的典型参数。以条件S1、S2使这些参数变化，做成偏移量D1、D2来检测其影响，使用这4点进行直线近似，并使用该直线来得到能消除偏移的校正量。
图19是表示记录条件S1和S2的变化与偏移量D1、D2之间的关系的概念图。如果以图19的(a)所示的记录脉冲为“PzT＝3T”的基准脉冲，则成为比较对象的“PzT＝4T”的记录脉冲在使PzT的前端按S1变化的图19的(b)的记录脉冲S1和使PzT的前端按S2变化的图19的(c)的记录脉冲S2这两个条件下进行测试记录。
结果，得到与图19的(a)的记录脉冲对应的图19的(a1)所示的基准模式，与图19的(b)的记录脉冲对应的图19的(b1)所示的比较模式S1，与图19的(c)的记录脉冲对应的图19的(c1)所示的比较模式S2。在此，比较模式S1与控制量S1对应地产生D1的偏移量，比较模式S2与控制量S2对应地产生D2的偏移量。
如果知道对于控制量S1和S2的偏移量D1和D2，并假设对某个参数具有多少控制量，则能预测产生多少偏移，因此，利用这些关系来进行控制量的预测和校正值的确定。
图20是表示利用了直线近似的前侧相位偏移校正的一个例子的概念图。在确定对前侧相位偏移的校正量Ttop的情况下，首先，如图20的(a)所示，以成为基准的脉冲位置为基准相位φ，此时，如图20的(b)所示，用使脉冲的位置错开Ttop的波形进行测试记录(相当于记录条件S1、S2)，结果是，如图20的(c)所示，检测所得到的再现信号的相位偏移Δφtop(相当于偏移量D1、D2)。
在图20所示的例子中，使该Ttop进行S1＝+0.1和S2＝+0.3这两种变化，所得到的检测相位Δφtop为偏移量D1＝-0.1和D2＝+0.1。然后，使用这些所得到的S1、S2、D1、D2，如图20的(e)所示，用直线来近似控制结果Δφtop对控制量Ttop的关系，并利用该直线确定能消除相位偏移的校正相位Ttop＝+0.2作为最佳校正值。
这样，如果求出至少2个变化点，则策略的变化S1、S2和偏移量的变化D1、D2的关系能进行直线的近似或者曲线的近似，因此能使用该直线求出偏移量变为零的最佳校正量。
具体地讲，求出使策略S以多点变化时的偏移量D，将此时的策略S和偏移量D的关系代入普通式子“D＝a×S+b”，通过求解联立方程式求出常数a、b，最终，求出与理想的偏移量D对应的策略S，并将该策略S设定在图1所示的策略电路102中，由此进行记录脉冲的最佳校正。
例如，在图1所示的记录偏移检测部112中，设从使用某个策略S1的测试记录的再现模式检测出的偏移量为D1、从使用另外的策略S2的测试记录的再现模式检测出的偏移量为D2，则由
D1＝a×S1+b
D2＝a×S2+b
计算a、b，并求出使用计算出的a和b的函数S＝(D-b)/a，通过将用于改善记录品质的、例如用于校正在补偿电路中产生的初始的输出偏移等的输出偏移量D代入该函数中，从而确定最佳策略S。
求出该最佳策略S的函数能与3T、4T、...14T各自的坑P3T、P4T、...P14T相应地求出。并且，求出该最佳策略S的函数还能分别与记录速度相应地求出。
图21是表示利用了直线近似的后侧相位偏移校正的一个例子的概念图。在确定对后侧相位偏移的校正量Tlast的情况下，首先，如图21的(a)所示，以成为基准的脉冲位置为基准相位φ，此时，如图21的(b)所示，用使脉冲的位置错开Tlast的波形进行测试记录，结果，如图21的(c)所示，检测得到的再现信号的相位偏移Δφlast。
在图21所示的例子中，使该Tlast进行S1＝-0.1和S2＝-0.3这两种变化，所得到的检测相位Δφlast为偏移量D1＝+0.1和D2＝-0.1。然后，使用这些所得到的S1、S2、D1、D2，如图21的(e)所示，用直线来近似控制结果Δφlast对于控制量Tlast的关系，并利用该直线确定能消除相位偏移的校正相位Tlast＝-0.2作为最佳校正值。
图22是表示利用了关于单脉冲的形状的直线近似的长度偏移校正的一个例子的概念图。在确定对该长度偏移的校正量PWD的情况下，首先，如图22的(a)所示，以成为基准的脉冲长度为基准波形nT，此时，如图22的(b)所示，用脉冲的中央缺少PWD的波形进行测试记录，结果，如图22的(c)所示，检测得到的再现信号的长度偏移Δ。
在图22所示的例子中，使该PWD进行S1＝+0.3和S2＝+0.1这两种变化，所得到的长度偏移Δ为偏移量D1＝+0.1和D2＝-0.1。然后，使用这些所得到的S1、S2、D1、D2，如图22的(e)所示，用直线来近似控制结果Δ对控制量PWD的关系，并利用该直线确定能消除长度偏移的校正量PWD＝+0.2作为最佳校正值。
图23是表示利用了关于多脉冲的形状的直线近似的长度偏移校正的一个例子的概念图。在确定对该长度偏移的校正量Tmp的情况下，首先，如图23的(a)所示，以成为基准的脉冲长度为基准波形nT，此时，如图23的(b)所示，用以中间脉冲长度为Tmp的波形进行测试记录，结果，如图23的(c)所示，检测得到的再现信号的长度偏移Δ。
在图23所示的例子中，使该Tmp进行S1＝+0.3和S2＝+0.1这两种变化，所得到的长度偏移Δ为偏移量D1＝+0.1和D2＝-0.1。然后，使用这些所得到的S1、S2、D1、D2，如图23的(e)所示，用直线来近似控制结果Δ对控制量Tmp的关系，并利用该直线确定能消除长度偏移的校正量Tmp＝+0.2作为最佳校正值。
图24是表示用于存储校正量Ttop和Tlast的表构造的概念图。如图24的(a)所示，校正量Ttop用与该各坑的前方岸长的组合来对每个成为校正对象的坑长进行定义。例如，在校正对象坑为3T、该坑的前方岸为3T的情况下，在图中表示为“3-3”的区域内存储校正量，在校正对象坑为4T、该坑的后方岸为3T的情况下，在图中表示为“3-4”的区域内存储校正量，以下，对于5T、...14T，与3T和4T同样地进行存储。
另外，如图24的(b)所示，校正量Tlast用与该各坑的后方岸长的组合来对每个成为校正对象的坑长进行定义。例如，在校正对象坑为3T、该坑的后方岸为3T的情况下，在图中表示为“3-3”的区域存储校正量，在校正对象坑为4T、该坑的后方岸为3T的情况下，在图中表示为“3-4”的区域存储校正量，以下，对于5T、...14T，与3T和4T同样地进行存储。
图25是表示用于存储校正量PWD和Tmp的表构造的概念图。如图25的(a)所示，校正量PWD和Tmp按每个成为校正对象的坑长进行定义。例如，校正对象坑为3T时的校正量PWD，在图25中表示为“PW3”的区域存储校正量，在校正对象坑为3T时的校正量Tmp，在图25中表示为“Tm3”的区域存储校正量。以下，对于4T、5T、...14T，与3T同样地进行存储。
图26是表示校正后的记录脉冲的例子的概念图。如图26的各图所示，在将图26的(a)所示的记录数据记录在光盘上的情况下，对每个坑长设定应用了最佳的校正值的策略。例如，在记录3T坑的情况下，如图26的(b)所示，从图24所示的表中根据前方的岸长读出3T坑的前端校正值Ttop，并且，根据后方岸长读出3T坑的后端校正值Tlast，并用该Ttop和Tlast对记录脉冲的前端和后端进行校正。
在校正4T坑的情况下，如图26的(c)所示，用与3T坑的情况同样的步骤进行Ttop和Tlast的校正，在对具有大于或等于5T的长度的坑进行校正的情况下，如图26的(d)～(f)所示，除了Ttop和Tlast之外，还从图25的表中读出该坑长的PWD校正值，并进行该PWD值所对应的脉冲形状的校正。
在以上说明的实施方式中，通过将偏移量D代入求出最佳策略S的函数中来确定最佳策略，但是，也可以构成为准备从上述函数求出的校正表，并根据该校正表确定最佳策略S。
另外，对于每次改变光盘的种类或者每次改变记录速度都可以进行上述最佳策略的设定处理，另外，采用如下的结构也可以：在将由上述最佳策略的设定处理确定的最佳策略的条件与光盘的种类和记录速度相对应地预先存储在存储器中，再次用同一种类的光盘进行记录的情况下，或者用同一记录速度进行记录的情况下，读出存储在该存储器中的最佳策略来进行使用。
(工业可利用性)
根据本发明，即使在实际所记录的坑与所定义的策略的偏移大的情况下，也可以检测偏移，因此能应对更严格的记录环境。

Claims (11)

1.一种光信息记录装置，利用激光的脉冲照射在光记录介质上进行信息的记录，其特征在于：
包括
在上述光记录介质上进行改变了策略的各种参数的多个记录模式的测试记录的装置；
对再现上述测试记录的结果而得到的多个特定模式中的一个再现模式与上述多个特定模式中的另一个再现模式进行比较的装置；以及
检测上述策略与由上述测试记录形成的记录模式之间的偏移的装置，
其中，再现上述测试记录而得到2值化信号，使用预定的时钟信号对上述2值化信号的脉冲长度进行计数而生成柱状图，使用上述柱状图特定上述2值化信号所包含的坑长和岸长，根据上述特定了的坑长和岸长，从记录区域中检索而得到上述多个特定模式，
利用上述比较结果来进行上述偏移的检测。
2.一种光信息记录装置，利用激光的脉冲照射在光记录介质上进行信息的记录，其特征在于，包括：
使用包含固定长度坑、固定长度岸、可变长度坑连续的记录模式，且该可变长度坑的长度不同的多个记录脉冲，在上述光记录介质上进行测试记录的装置；
再现上述测试记录的结果，取得与上述多个记录脉冲分别对应的多个再现模式的装置；
将上述多个再现模式中的至少一个设定为基准模式，并且将该基准模式以外的至少一个设定为比较模式的装置；
对与上述基准模式所包含的固定长度岸对应的部分的信号，和与上述比较模式所包含的固定长度岸对应的部分的信号进行比较的装置；以及
根据上述比较的结果，检测与上述比较模式所包含的可变长度坑的长度对应的坑的前侧相位偏移量的装置，
其中，再现上述测试记录而得到2值化信号，使用预定的时钟信号对上述2值化信号的脉冲长度进行计数而生成柱状图，使用上述柱状图特定上述2值化信号所包含的坑长和岸长，根据上述特定了的坑长和岸长，从记录区域中检索而得到上述多个再现模式。
3.一种光信息记录装置，利用激光的脉冲照射在光记录介质上进行信息的记录，其特征在于，包括：
使用包含可变长度坑、固定长度岸、固定长度坑连续的记录模式，且该可变长度坑的长度不同的多个记录脉冲，在上述光记录介质上进行测试记录的装置；
再现上述测试记录的结果，取得与上述多个记录脉冲分别对应的多个再现模式的装置；
将上述多个再现模式中的至少一个设定为基准模式，并且将该基准模式以外的至少一个设定为比较模式的装置；
对与上述基准模式所包含的固定长度岸对应的部分的信号，和与上述比较模式所包含的固定长度岸对应的部分的信号进行比较的装置；以及
根据上述比较的结果，检测与上述比较模式所包含的可变长度坑的长度对应的坑的后侧相位偏移量的装置，其中，
再现上述测试记录而得到2值化信号，使用预定的时钟信号对上述2值化信号的脉冲长度进行计数而生成柱状图，使用上述柱状图特定上述2值化信号所包含的坑长和岸长，根据上述特定了的坑长和岸长，从记录区域中检索而得到上述多个再现模式。
4.一种光信息记录装置，利用激光的脉冲照射在光记录介质上进行信息的记录，其特征在于，包括：
使用包含可变长度岸、固定长度坑、固定长度岸连续的记录模式，且该可变长度岸的长度不同的多个记录脉冲，在上述光记录介质上进行测试记录的装置；
再现上述测试记录的结果，取得与上述多个记录脉冲分别对应的多个再现模式的装置；
将上述多个再现模式中的至少一个设定为基准模式，并且将该基准模式以外的至少一个设定为比较模式的装置；
对与上述基准模式所包含的固定长度坑对应的部分的信号，和与上述比较模式所包含的固定长度坑对应的部分的信号进行比较的装置；以及
根据上述比较的结果，检测与上述比较模式所包含的可变长度岸的长度对应的坑的长度偏移量的装置，
其中，再现上述测试记录而得到2值化信号，使用预定的时钟信号对上述2值化信号的脉冲长度进行计数而生成柱状图，使用上述柱状图特定上述2值化信号所包含的坑长和岸长，根据上述特定了的坑长和岸长，从记录区域中检索而得到上述多个再现模式。
5.一种光信息记录装置，利用激光的脉冲照射在光记录介质上进行信息的记录，其特征在于，包括：
使用包含可变长度岸、固定长度坑、固定长度岸连续的记录模式，且该可变长度岸的长度不同的多个记录脉冲，在上述光记录介质上进行测试记录的装置；
再现上述测试记录的结果，取得与上述多个记录脉冲分别对应的多个再现模式的装置；
对与上述多个再现模式所包含的固定长度坑对应的部分的信号，和与该固定长度坑的长度对应的坑的规定长度进行比较的装置；以及
根据上述比较的结果，检测与上述固定长度坑的长度对应的坑的长度偏移量的装置，
其中，再现上述测试记录而得到2值化信号，使用预定的时钟信号对上述2值化信号的脉冲长度进行计数而生成柱状图，使用上述柱状图特定上述2值化信号所包含的坑长和岸长，根据上述特定了的坑长和岸长，从记录区域中检索而得到上述多个再现模式。
6.一种光信息记录装置，利用激光的脉冲照射在光记录介质上进行信息的记录，其特征在于，包括：
使用包含固定长度岸、可变长度坑、固定长度岸连续的记录模式，且该可变长度坑的长度不同的多个记录脉冲，在上述光记录介质上进行测试记录的装置；
再现上述测试记录的结果，取得与上述多个记录脉冲分别对应的多个再现模式的装置；
对与上述多个再现模式的每一个所包含的可变长度坑对应的部分的信号，和与该可变长度坑的长度对应的坑的规定长度进行比较的装置；以及
根据上述比较的结果，检测与上述可变长度坑的长度对应的坑的长度偏移量的装置，
其中，再现上述测试记录而得到2值化信号，使用预定的时钟信号对上述2值化信号的脉冲长度进行计数而生成柱状图，使用上述柱状图特定上述2值化信号所包含的坑长和岸长，根据上述特定了的坑长和岸长，从记录区域中检索而得到上述多个再现模式。
7.一种光信息记录装置，利用激光的脉冲照射在光记录介质上进行信息的记录，其特征在于，包括：
在上述光记录介质上进行改变了策略的各种参数的多个记录模式的测试记录的装置；
再现上述测试记录的结果，得到2值化信号的装置；
使用预定的时钟信号对上述2值化信号的脉冲长度进行计数的装置；
将上述计数结果存储在预定的存储区域的装置；
生成上述计数结果的柱状图的装置；
使用上述柱状图特定上述2值化信号所包含的坑长和岸长的装置；
根据上述特定了的坑长和岸长，从记录区域中检索第1再现模式和第2再现模式的装置；以及
对通过上述检索所得到的第1再现模式与第2再现模式进行比较，由此检测上述策略与由上述测试记录形成的记录模式之间的偏移的装置。
8.一种光信息记录装置，利用激光的脉冲照射在光记录介质上进行信息的记录，其特征在于，包括：
在上述光记录介质上进行改变了策略的各种参数的多个记录模式的测试记录的装置；
再现上述测试记录的结果，得到2值化信号的装置；
使用预定的时钟信号对上述2值化信号的脉冲长度进行计数的装置；
将上述计数结果存储在预定的存储区域的装置；
生成上述计数结果的柱状图的装置；
使用上述柱状图特定上述2值化信号所包含的坑长和岸长的装置。
9.如权利要求8所述的光信息记录装置，其特征在于：
还包括根据上述特定了的坑长和岸长，从上述记录区域中检索第1再现模式和第2再现模式的装置；
10.如权利要求9所述的光信息记录装置，其特征在于：
还包括对通过上述检索所得到的第1再现模式与第2再现模式进行比较，由此检测上述策略与由上述测试记录形成的记录模式之间的偏移的装置。
11.一种光信息记录方法，利用激光的脉冲照射在光记录介质上进行信息的记录，其特征在于：
包括
在上述光记录介质上进行改变了策略的各种参数的多个记录模式的测试记录的步骤；
对再现上述测试记录的结果而得到的多个特定模式中的一个再现模式与多个特定模式中的另一个再现模式进行比较的步骤；以及
检测上述策略与由上述测试记录形成的记录模式之间的偏移的步骤，
其中，再现上述测试记录而得到2值化信号，使用预定的时钟信号对上述2值化信号的脉冲长度进行计数而生成柱状图，使用上述柱状图特定上述2值化信号所包含的坑长和岸长，根据上述特定了的坑长和岸长，从记录区域中检索而得到上述多个特定模式，
利用上述比较结果来进行上述偏移的检测。
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