TWI356406B - Optical information record device - Google Patents

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1356406 九、發明說明： ^ 【發明所屬之技街領域】 v 树明係關於光資訊記錄裝置，特別係關於可有效進行 記錄凹槽之相位差異或長度差異之修正之光資訊記錄裝 置。 【先前技術】 光碟片等光資訊錄媒體之資訊記錄係使記錄資料以職 (8轉14調變EighttoFourteenM〇dulati〇n)方式調變基於該 調變信號形成記錄脈衝，基於該記錄脈衝控制雷射光強度 與照射時點，於光碟片上形成記錄凹槽而進行。 在此，記錄凹槽之形成因利用藉由雷射光照射所產生之 熱而進行，故記錄脈衝要求有考量蓄熱效果與熱干涉等之 設定。在此，先前已於各光碟片之種類，以稱為策略之形 式複數定義構成記錄脈衝之各種參數設定，選擇該等策略 中最佳合該記錄環境者，於設定在光資訊記錄裝置之策略 φ 電路實行。 藉由該策略電路所實行之策略，例如不僅與讀取頭之孔 徑誤差、機構精度誤差等光資訊記錄裝置之個體差相關， 亦與使用於s己錄再生之光碟片廠商類別及記錄速度相關， 故設定最佳策略可使記錄品質提升。 因此，求出對應各廠商類別之光碟片最佳策略，使其對 應各廠商類別預先記憶於記憶體，在對於光碟片進行資訊 之記錄之際，讀取記錄於光碟片之光碟片廠商類別，由上 述記憶體讀取對應該讀取之廠商類別之最佳策略，設定於 99039.doc ^56406 策略電路之手法，亦已被提出。 惟依據上述手法時，雖對於預先記憶於記憶體之廠商類 別之光碟片可進行最佳記錄，但對於未記憶於記憶體之廠 商類別之光碟片無法進行最佳記錄，此外，即使為預先記 憶於記憶體之廠商類別之光碟片，當記錄速度相異時，該 情形亦無法進行最佳記錄。

在此，如下述之專利文獻！、專利文獻2所示，亦提案有 於每個記錄條件預先進行測試記錄，藉由基於該測試記錄 決定最佳策略而可對應各種光碟片之手法。 [專利文獻1]特開平5-144001號公報 [專利文獻2]特開平4-137224號公報 准上述各專利文獻所揭示之技術中，肖於複數存在之策 略之設定參數，無法判斷必須將何者參數進行何種程度調 整，因此無法進行對應各種參數之最佳策略設定。 亦即，作為策略之設定參數，具有 1) 記錄脈衝之前側相位修正 2) 記錄脈衝之後側相位修正 3) 熱干涉修正 4) 記錄標記之長度修正 等’雖藉由調整雷射光束之記錄功率與記錄脈衝之脈衝 寬度等可修正差異量，惟上述專利文獻_之手法中，無 ‘=獨立判別該等差異量，因此，無法決㈣應各種設定參 數之最佳策略。 作為解決上述課題之有效手、法，例如已知有下述之文獻。 .99039.doc * -7- . •穿. i . 1356406 [專利文獻3]特開2003-30837號公報 於該專利文獻3之段落〇〇20_，具有「…於各記錄模式， 檢測與通道時脈之相位誤差。記錄補償參數調整部12基於 相位誤差檢測部1〗之檢測結果，使發光波形規則最佳 化。…」之記載’揭示藉由與通道時脈之比較而檢測相位 誤差並修正之手法。 此外，同文獻之段落〇〇24中，具有「其次，記錄用於決

疋發光波形規則之測試模式❶而後，再生記錄該測試模式 之區域，檢查預先準備之發光波形規則與相位誤差量之關 係。亦即，測定各種標記長度與該標記之前之各種空白長 度的分別組合中之相位誤差量。由測定之相位誤差量預 測相位誤差量成為零之發光波形規則’決定希望之發光波 形規則。…」之記載，揭示於各標記與空白之組合測定相 位誤差置，預測相位誤差量成為零之發光波形規則之手法 (參照圖8及圖12)。 依據該專利文獻3所揭示之手法，因進行基於記錄模式之 相位誤差之修正’雖可進行對應各種設^參數之最佳策略 之設定，㈣藉由與通料脈之比較進行相位誤差之檢 測’故實際記錄之凹槽與^義之策略之差異較大時，將: 有標記長之判別與差異之檢測本身變為困難 ’、 【發明内容】 量各種參數設定之記 在此，本發明提供一種有效進行考 錄凹槽與策略之差異檢測之手法。 為達成上述目的， 本發明之第1機構係一 種光資訊記錄裝 99039.doc 1356406 置’其係藉由雷射光之脈衝照射於光記錄媒體進行資訊之 =錄’其特徵在於具備：使用特定策略於前述光記錄媒體 订測4記錄，比較再生其結果所得到之第^生模式與第 ·.

換式’檢測前述策略與藉由前述测試記錄所形成之記 錄模式之差異之機構。 在此’前述策略係定義為得到希望凹槽形狀而設定之雷 :光之脈衝條件者’作為雷射光之照射功率與脈衝寬度之 邊化，考量成為記錄對象之凹槽長度、與之前之平面長之 關係 '與後續之平面長之關係、蓄熱與熱干涉影響等，提 供特定之脈衝形狀。 測試記錄係 '為確認使用上述策略實際記錄時之差異所進 行之記錄，使用設置於媒_之測試記駭域而實行。該 測試記錄係使用可有效檢測策略與實際記錄狀態之差異之 特定模式料行，藉由再生以制試記錄所形成之複數記 錄凹槽構成之記錄模式，可得到對應該記錄模式之再生模 式。 、 藉由測試記錄結果之再生所得到之再生模式為複數種， 由其中至少柚出2種有效檢測策略與實際記錄狀態之差異 之再生模式，藉由比較該等，進行相位差異與長度差異等 各種差異之檢測。 忒等2種再生模式任一者均由反映策略與實際記錄狀態 之差異之信號所構成，故藉由比較該等再生模式彼此，可 檢測以某模式作為基準之相對差異量。 該等2種再生模式係在兩者之間預先設置凹槽長或平面 99039.doc 長為相同部位與相異部位為佳，例 凹槽、同-乎面、異種凹槽」連續 二使用「同- 之前侧相位差異之構造；使用「異種凹^檢測特定凹槽 -凹槽」連續之模式’檢測特定凹槽之二冋-平面、同 造；使用「显種平而π 9爰側相位差異之構 疋用/、種+面、同一凹槽、同— :測凹槽之干涉差異之構造，·及使用「同―」平:之:種式， 槽、同一平面J連續之模式，檢測凹槽平 /、種凹 另外，本發明並非限定於比較2種再生模異^構造。 :比較複數再生模式之手法，例如以-種再生二為基包 ，比較《準模式與其他模叙手法。 ‘·’、 此外，本發明之第2機構係—種光資訊記錄裝置， :雷射光之脈衝照射於光記錄媒體進行資訊之記錄： 具備·’包含固定長凹槽、固定長平面、可變長凹槽 連續之記錄模式’使用該可變長凹槽長度相異之複數記錄 脈衝於前述光記錄媒體進行測試記錄之機構；再生前述測 試記錄之結果而取得對應該各記錄脈衝之複數再生模式之 設定前述各再生模式中至少一個為基準模式，同時 1該基準模式以外至少_個為比較模式之機構，·比較對 ϋ π ϋ基準模式所包含之固定長平面部分之信號與對應前 述比較模式所包含之固定長平面部分之信號之機構；及藉 由剛述比較結果’檢測對應前述比較模式所包含之可變長 凹槽長度之凹槽前側相位差異量之機構。 如此，藉由使用固定長凹槽、固定長平面、可變長凹槽 連續之模式，在理想記錄狀態下應成為一定之固定長平面 99039.doc 1356406 長凹槽之前側相位影響而使長度變化。檢測該長 又變獨立檢測可變長凹槽之前侧相 可變長凹槽以〜T、…14T依序變化，預先測試用：記 錄之全部長度為佳。 。己 卜本發明之第3機構係一種光資訊記錄裝置，其係藉 射光之脈衝照射於光記錄媒體進行資訊之記錄，其特 徵在於具備：包含可變長凹槽、固定長平面、固定長二槽 錄模式，使用該可變長凹槽長度相異之複數記錄 丄、剛述先記錄媒體進行測試記錄之機構；再生前述測 試記錄之結果而取得對應該各記錄脈衝之複數再 機構；設定前述各再生模式中至少一個為基準模式二時 ^該基準模式以外至少-個為比較模式之機構；比較對 應則述基準模式所包含之固定長平面部分之信號與對應前 述=較模式所包含之固定長平面部分之信號之機構；及藉 由剛述比較結果，檢測對應前述比較模式所包含之可變長 凹槽長度之凹槽後側相位差異量之機構。 、如此:藉由使用可變長凹槽、固定長平面、固定長凹槽 連續之模式，在理想記錄狀態下應成為一定之固定長平面 又到可變長凹槽之後側相位影響而使長度變化。檢測該長 度變化時，能獨立檢測可變長凹槽之後側相位差異。此外， :變長凹槽以3丁、4丁、...14丁依序變化，預先測試用於記 錄之全部長度為佳。 · 此外，本發明之第4機構係一種光資訊記錄裝置，其係藉 由雷射光之脈衝照射於光記錄媒體進行資訊之記錄，、其^ 99039.doc j3564〇^ 徵在於具備：包含可變長平面、固定長凹槽、固定長平面 連續之記錄模式，使用該可變長平面長度相異之複數記錄 脈衝於前述光記錄媒體進行測試記錄之機構，·再生前述測 試記錄之結果而取得對應該各記錄脈衝之複數再生模式之 機構，·設定前述各再生模式中至少一個為基準模式，^時 設定該基準模式以外至少一個為比較模式之機構；比較對 應前述基準模式所包含之固定長凹槽部分之信號與對應前 述^較模式所包含之固定長凹槽部分之信號之機構；及藉 由前述比較結果’檢測對應前述比較模式所包含之可變長 平面長度之凹槽長度差異量之機構。 如此，藉由使用可變長平面、固定長凹槽、固定長平面 連續之模式’在理想記錄狀態下應成為-定之固^長凹槽 又到在可變長平面則之凹槽形成時產生之熱干涉影響而使 長度變化。檢測該長度變化時，能獨立檢測基於固定長凹 槽之熱干涉之長度差異。此外，可變長平面以3了、打、... 14Τ依序I化’預先測έ式用於記錄之全部長度為佳。 此外，本發明之第5機構係一種光資訊記錄裝置，其係藉 由雷射光之脈衝照射於光記錄媒體進行資訊之記錄，其特 徵在於具備：包含可變長平面、固定長凹槽、固定長平面 連續之記錄模式，使用該可變長平面長度相異之複數記錄 脈衝於前述光記錄媒體進行測試記錄之機構；再生前述測 試記錄之結果而取得對應該各記錄脈衝之複數再生模式之 機構；比較對應前述各再生模式所包含之固定長凹槽部分 之信號與對應該固定長凹槽長度之凹槽規定長之機構；及 99039.doc -12- 1356406 藉由前述比較結果，檢測對應前述固定長凹槽長度之凹槽 長度差異量之機構。 如此’藉由比較對應固定長凹娣加八 一 E 食凹料I之信號與對應該固 疋長凹槽長度之凹槽規定長，亦可獨立檢測基於固定長凹 槽之熱干涉之長度差異。 =外’本發明之第6機構係_種光資訊記錄裝置，其係藉 由雷射光之脈衝照射於光記錄媒體進行資訊之記錄，其特 徵在於具備：包含固定長平面、可變長凹槽、固定長平面 連續之記錄模式，使用該可變長凹槽長度相異之複數記錄 脈衝於前述光記錄媒體進行測試記錄之機構；再生前述測 試記錄之結果而取得對應該各記錄脈衝之複數再生模式之 機構；比較對應前述各再生模式所包含之可變長凹槽部分 之信=與對應該可變長凹槽長度之凹槽規定長之機構；及

藉由前述比較結果，檢測對應前述可變長凹槽長度之凹槽 長度差異量之機構》 S 如此，藉由使用固定長平面、可變長凹槽、固定長平面 連續之模式，在理想記錄狀態下應與規定長一致之可變長 凹槽受到前後之平面與鄰接該等平面之凹槽之影響而使長 度變化。檢測該長度之變化時能獨立檢測基於可變長凹槽 之凹槽平衡之長度差異。此外’可變長凹槽以3丁、4丁、… 14丁依序變化’預先測試用於記錄之全部長度為佳。 此外’本發明之第7機構係一種光資訊記錄裝置，宜係藉 由雷射光之脈衝照射於光記錄媒體進行資訊之記錄，以 徵在於具備：使用特定策略於前述光記錄媒體進行測試記 99039.doc •13- 1356406 錄之機構；再生前述測試記錄之結果而得到二元化信號之 機構；使用特定時脈信號計數前述二元化信號之脈衝長之 機構，·儲存前述計數結果於特定記憶區域之機構；作成前 述計數結果之直方圖之機構；使用前述直方圖特定前述二 元化信號所包含之凹槽長與平面長之機構，·基於前述特定 之凹槽長與平面長由前述記錄區域檢索第！與第2再生模式 之機構’·及藉由比較由前述檢索所得到之第】再生模式與第 2再生模式，檢測前述策略與藉由前述測試記錄 錄模式之差異之機構。 如此 棺田Μ特疋時脈計數由測試記錄之結果所得到之 ^生二元化信號’ _存該計數結果，可進行得到之再生 之==計處理與特定模式之抽出。再生二元化信號 叶數器而隹_ — π化信號之極性反轉邊緣開始計數之 面=而進行，藉此可得到作為計數㈣之間長度與平 憶體元件==資料’儲存於設置在記錄裝置内之記 數值之出現❹^區域，儲存—定量後，作成分析各計 值範圍與凹挿圖，可使計數 槽及平面長度附加關連，可由儲存 之魔大計數瞀4aL 士 ；。己憶區域 ^ ^ '斗中檢索、抽出包含希望之凹槽•平+ 之資料列。 ^ 十面模式 你J如•，於、、目,丨山，丄 、，、]出特定凹槽之前側相位差異時，| + 相互比較「图〜e 兴岈檢索、抽出、 疋長凹槽、固定長平面、可蠻县 之模式群；於測屮w 變長凹槽」連續 、J出特定凹槽之後側相位差異時，檢索、抽 99039.doc • 14-

t、相互比較「可變長凹槽、固定長平面、固定長 連續之模式群：於測出凹槽之干涉差異時，檢索:」 相互比較「可變長平面、固定長凹槽、固定長平面續 之模式群；以及於測出凹槽平衡之差異時，檢索、、、 相互比較「固定县承； 之模式群即;千面、可變長凹槽、固定長平面」連續 =理作為計數㈣之再生職記錄結果所得 70化L號，可較佳地測出起因於各種原因之差異 b外上述之直方圓等資料處理可使用設置於記錄裝 置内之CPU等演算元件而實行。 '、 :用該直方圖之凹槽長及平面長之判別，因以出現頻度 之分布作為判定基準，故即使策略與實際記錄模式之差異 較大時，亦可進行有效之判定。 、 ^、上說明’依據本發明’即使實際記錄之凹槽與定 策略之差異較大時，亦可測出差異，可提供更為 化之策略。 【實施方式】 、 〃’、、、附圖詳細說明關於本發明之光資訊記錄裝 置 卜本發明不限於以下説明之實施形態，V適當進 行變更。 圖1為表示本發明$冰& I九資訊記錄裝置内部構造之方塊 圖。如同圖所示，轉本咨 。 °先資訊記錄再生裝置係使用由雷射振 盪器103輸出之雷射来， 對於光碟片1〇進行資訊之記錄再 生0 99039.doc •15- 1356406 對於光碟片10進行資訊之記錄時，由編碼器101以EFM方 式將對應希望之記錄資訊之記錄信號編碼，將該編碼之記 錄資料加入策略電路102。 在此’於該策略電路102設定有特定策略之各種設定參 數’該策略電路1〇2係修正策略之各種設定參數，控制由雷 射振盪器103輸出之雷射光強度或脈衝寬度，產生應可得到 希望之記錄狀態之記錄脈衝。 以策略電路102形成之記錄脈衝加入雷射振盪器1〇3，雷 射振盈器103對應該記錄脈衝控制輸出雷射光，將該被控制 之雷射光透過透鏡104、半反射鏡1〇5、透鏡1〇6，照射至以 線速一定或旋轉速度一定而旋轉之光碟片1〇，藉此於光碟 片10記錄對應希望之記錄資料之由凹槽、平面列所構成記 錄模式。 另一方面’進行記錄於光碟片1〇上之資訊之再生時，由 雷射振盪器103將一樣之再生雷射光透過透鏡1〇4、半反射 • 鏡105、透鏡106照射至以線速一定或旋轉速度一定而旋轉 之光碟片10 » 此時，再生雷射光係使用較記錄時由雷射振盪器1〇3輸出 之雷射光強度為弱之再生雷射光，該再生雷射光之來自光 碟片10之反射光透過透鏡1〇6、半反射鏡]〇5、透鏡〗07以受 光部108接收光，變換為電性信號。 由受光部108輸出之電性信號對應記錄於光碟片之由 凹槽、平面所構成之記錄模式。由該受光部1〇8輸出之電性 信號以再生補償電路109進行特定補償處理，以二元化電路 99039.doc -16- 1356406 |i〇進行二元化，進一步為解碼器lu所解碣而作為再生信 號被輸出。 圖2為表示圖丨所示之光資訊記錄裝置實行之策略決定工 序之實行順序之流程圖。如同圖所示，圖丨所示之光資訊記 錄裝置，首先為設定策略電路102實行之記錄策略之各種參 數，對於光螺片1〇進行變更策略之各種參數之複數記錄模 式之測試記錄（步驟s 1 〇)。 之後，再生由該測試記錄所形成之記錄模式（步驟S12)， 其結果，記錄差異檢測部112以與特定時脈同步之計數器， 計數由二元化電路110所得到之再生二元化信號（步°驟 S14)’使該再生二元化信號所包含之凹槽與平面長度作為 計數資料，儲存於記錄區域115(步驟Sl6)。 之後’記錄差異檢測部112使用儲存於記錄區域ιΐ5之叶 數資料’作成表示各計數值之出現頻率之直方圖（步驟 W8)，由該直方圖決定成為凹槽長與平面長之判定基準之 計數結果臨限值（步驟S2〇)。 之後’記錄差異檢測部112由以前述臨限值為基準而儲存 在記錄區域115之計數資料中檢索包含特定凹槽/平面模 式之複數種特定模式（步驟S22)，使被料是該特定模式所 包含之同一凹槽長之計數結果平均化，同時使被認為是同 -平面長之計數結果平均化，求出構成特定模式之各凹槽 與各平面之平均長（步驟S24)。 θ 之後，記錄差異檢測部112設定抽出之複數特定模式中之 一個為基準模式，比較該基準模式與其他模式（步驟叫， 99039.doc •17· 1356406 刀別獨立檢測下述差異量（步驟Mg) 0 1) 對於記錄脈衝之凹槽前側相位差異量 2) 對於記錄脈衝之凹槽後侧相位差異量 3 )熱干涉所造成之記錄脈衝之凹槽差異量 4) 對於記錄脈衝之凹槽長度差異量 之，，演算式導出部113基於記錄差異檢測部112測出之 差異量，導出用於決^最佳策略之演算式；策略決定部ιΐ4 使用該演算式導出部113導出之演算式，預測各種參數之控 制結果(步_)，並基於該預測結果，決定用於調整雷射 光功率與脈衝寬度之策略修正值，將修正之最佳策略設定 於策略電路1〇2(步驟S32)。 圖3為表示圖2所示之由測試記錄至再生資料之計數為止 之動作概念之概念圖。如同圖所示，首先進行測試記錄時， 於光碟片上形成如同圖⑷所示之記錄凹槽。而後，再生該 記錄凹槽時’如同圖⑻所示’可得到對應該記錄凹槽之再 生RF信號。二元化該再生灯信號時，可得到如同圖⑷所示 之再生二元化信號’以如同圖(d)所示之時脈信號計數該二 元化信號之極性反轉間之脈衝長時’可得到如關⑷所示 之計數結果。 圖4為表示圓2所示之計數結果健存模式之概念圖。士叫 圓所示，以時脈信號計數之：元化信號係以極性反轉心 為區隔，該計數結果以順向時間序列與凹槽、平面之區戈 同時儲存於設置在記憶區域115之表格内。該同圖所示之; 格係以之後附加可檢索之位址之狀態儲存。 99039.doc •18- 丄 3：)〇4U6 圖5為表示圖2所示之直方圖作成模式之概念圖。如同圖 斤示，圖案化計數值之出現頻率時可得到直方圖，分別區 別凹槽與平面作成直方圖時，可得到如同圖⑷所示之表示 凹槽汁數傾向之凹槽直方圖’及如同圖⑻所示之表示平面 .十數傾向之平面直方圖2種。如此，光碟片中因必然決定對 於基準時脈之各單位長nT(n=3、4、5、...14)之長度，故對 • 於各單位長ηΤ，可得到出現頻率分布之山。 % ® 6為表示圖2所示之臨限值決定模式之概念圖。如同圖 所示，因使用直方圖中各山與山之間所形成之谷部分作為 各單位長!!丁之長度判定臨限值，故關於各凹槽直方圖與平 面直方圖，設定成為凹槽長之判斷基準之凹槽長臨限值與 成為平面長之判斷基準之平面長臨限值。 圖7為表示藉由圖6所示之手法所得到的臨限值之例之概 念圖。如同圖⑷所示，於各凹槽長之每個邊界定義凹槽長 臨限值，如同圖⑻所示’於各平面長之每個邊界定義平面 •長臨限值。同圖⑷所示之例中’成為2Τ與3Τ之邊界之臨限 值為「計數值=2」，成為3丁與4Τ之邊界之臨限值為「計數值 = 9」，以下，設定至14Τ與15丁之邊界為止。此外，同圖⑻ 所示之例中，成為2Τ與3Τ之邊界之臨限值為「計數值义， 成為3Τ與4Τ之邊界之臨限值為「計數值,」^下，設定 至14Τ與15Τ之邊界為止。 其次，詳細說明圖2所示之由特定模式之檢索（步驟s22) 至差異量之檢測（步驟S28)為止之各工序。該等工序係基於 記錄差異檢測部112中各種差異之檢測原理_行。 99039.doc •19- 1356406 圖8為表示用於檢測各凹槽長中前側相位差異量之記錄 模式與再生模式一例之概念圖。如同圖所示，檢測各凹槽 長中則側相位差異量時’使用同圖（a)所示之記錄脈衝進行 測試記錄。該記錄脈衝係包含固定凹槽ΡχΤ、固定平面 LyT "Τ變凹槽ΡζΤ連續之模式，使固定凹槽ρχτ之凹槽長 與固疋平面LyT之平面長固定，並使可變凹槽ρζΤ之凹槽長 如同圖（b)至（f)所示’變化為3Τ、4Τ、…几者。此外雖未圖 示’惟可變凹槽長之變化係進行至14Τ為止者。 在此，測定該記錄模式之固定平面LyT之長度時，該固定 平面LyT之長度於理想記錄狀態下應為一定。惟該固定平面 LyT之長度與理想規定長度具有差異時，因凹槽ρχτ之凹槽 長被固定，故該固定平面LyT長之理想規定長度之差異量成 為與對於記錄時之策略中3T、4T、...14T分別之凹槽ρ3τ、 Ρ4Τ、…ρ 14Τ之記錄脈衝之前側相位差異量對應。 因此，設定可變凹槽ΡζΤ成為3Τ之同圖（b)之模式為基準 模式’設定同圖（c)〜⑴為止剩餘之模式為比較模式，比較 該等比較模式之EJ定平面LyT之長度與基準模式之固定平 面LyT之長度時，如同各圓所示，可得到對於基準模式之前 側相位差異量FPS4T〜FPS7T。 在此，各差異量FPS3T〜吧几係作為以某部位為基準之

=對值而測出時即可’故基準模式之前側相位差異量FPS3T 疋義為零亦可 > 此外，：目丨丨+命e — G r測出與理想長度之差異量亦可。此 外，更換同圖（b)之模放，部·中η图，、, 犋式叹疋冋圖（C)〜（f)所示模式之任一 者為基準模式亦可。 99039.doc 丄356406 ▲圖為表示用於測出各凹槽長中後側相位差異量之記錄 4莫式與再生模式-例之概念圖。如同圖所示，檢測各凹槽 長中後側相位差異量時’使用同圖⑷所示之記錄脈衝進行 測忒β己錄。該記錄脈衝係包含可變凹槽ρχΤ、固定平面

LyT、11 &凹槽ΡζΤ連續之模式，使S定平面LyT之平面長 ?固定凹槽pzT之凹槽長固定，使可變凹槽ρχΤ之凹槽長如 • 同圖⑻至⑺所示，變化為3Τ、4Τ、...7Τ者。此外雖未圖示， .鲁&可變凹槽長之變化係進行至14Τ為止者。 、，在此，測定該記錄模式之固定平面LyT之長度時，該固定 平面LyT之長度於理想記錄狀態下應為一定。惟該固定平面 LyT之長度與理想規定長度具有差異時，因凹槽ρζτ之凹槽 長破固疋，故該固定平面LyT長之理想規定長度之差異量成 為與對於記錄時之策略中3T、4T、...14τ分別之凹槽ρ3τ、 Ρ4Τ、…ρ 14Τ之記錄脈衝之後側相位差異量對應。 *因此，設定可變凹槽ΡχΤ成為3Τ之同圖（b)之模式為基準 • 模式’設定同圖⑷〜（f)為止剩餘之模式為比較模式，比較 該等比較模式之固定平面LyT之長度與基準模式之固定平 面LyT之長度時，如同各圖所示，可得到對於基準模式之後 側相位差異量RPS4T〜RPS7T。 在此’各差異量RPS3T〜RPS7T係作為以某部位為基準之 相對值而测出時即可，故基準模式之後側相位差異量 RPS3T疋義為零亦可，此外，測出與理想長度之差異量亦 可。此外，更換同圖⑻之模式，設定同圓⑷〜（f)所示模式' 之任一者為基準模式亦可。 99039.doc •21 - 1356406 圖1 〇為表示用於檢測熱干涉之凹槽差異量之記錄模式一 . 例之圖。如同圖所示，於檢測熱干涉之凹槽差異量時，使 用同圖（a)所示之記錄脈衝進行測試記錄。該記錄脈衝包含 平面LXT、凹槽PyT、平面LzT連續之模式，使固定凹槽pyT <凹槽長與固定平面LzT之平面長固定，使可變平面£χτ之 平面長如同圖（b)至同圖（f)所示，變化為3T、4T、…7τ者。 . 此外雖未圖示，惟可變平面長之變化係進行至14丁為止者。 籲 在此’測定該記錄模式之固定凹槽PyT之長度時，該固定 長之凹槽PyT之長度於理想記錄狀態下應為一定。惟該固定 凹槽PyT之長度與理想規定長度有所差異時，因平面LzT之 平面長被固定，故該固定凹槽LyT之理想規定長度之差異量 與在可變平面Lx 丁之前形成之凹槽熱干涉之差異量對應。 因此，设疋可變平面LxT成為3T之同圖之模式為基準 模式’設定同圖⑷〜（f)為止剩餘之模式為比較模^，比較 該等比較模式之固定凹槽PyT之長度與基準模式之固定凹 • 槽PyT之長度時’如同各圖所示，可得到對於基準模式之前 側相位差異量HID3丁〜HID7T。 在此，各差異量HID3T〜 HID7T係作為以某部位為基準之 相對值而測出時即可，故基準模式之前侧相位差異量 HID3T定義為零亦可，此外，檢測與理想長度之差異量亦 可。此外’更換同圖（b)之模式’設定同圖⑷〜⑴所示模式 之任一者為基準模式亦可。 圖11為表示以與基準長之比較檢測熱干涉之凹槽差異量 之例之圖。如同圖（b)〜所示，不設定如圖之基準模 99039.doc -22· 1356406 長，求出前側相 式，藉由比較各模式之固定凹槽PyT與基準 位差異量HID3T〜HID7丁亦可。 圖12為表㈣於檢測_平衡之差異量之記錄模式一例 之圖。如同圖所示’於檢測凹槽平衡之差異量時，使用同 圖⑷所示之記錄脈衝進行測試記錄^該記錄脈衝包含平面

LxT、凹槽PyT、平面LzT連續之模<，使固定平面的之平 面長與固定平面LzT之平面長固定，使可變凹槽ρχτ之凹槽

長如同圖（b)至同圖⑴所示，變化為3Τ、4了、…几者。此夕曰卜 雖未圖示，惟可變平面長之變化係進行至Μ為者。 在此，測定該記錄模式之可變長之凹槽PyT之長度時，該 可變長之凹槽P y 丁之長度於理想記錄狀態下應分別對應理 想凹槽長。 准該可變長之凹槽PyT之長度與理想規定長度有所差異 時，因平面LXT之平面長與平面LzT之平面長被固定，故該 可變長之凹槽pyT與規定長度之差異f成為與對於記錄時 • 之策略中3T、4T、…14T分別之凹槽P3T、P4T、…P14T之 記錄脈衝之長度差異量對應。 此使用某&略進行測試記錄，由肖記錄脈衝之測試 -己錄之再生模式，如同圖⑻〜⑴所示，比較可變長之凹槽 ¥之記錄結果與各凹槽之基準長，檢測與各凹槽長之理想 長度之差異量時，可測出各凹槽長之長度差異量。 圖13為表不凹槽前相位差異檢測與後相位差異檢測所使 用之特定模式檢索用表格構成之概念圖。於進行凹槽前相 位差異之檢測時，使關於以每個特定模式所設定之凹槽 99039.doc -23- 1356406 ΡχΤ、平面LyT、凹槽PzT之同圖（a)所示之臨限值範圍為基 . 準，檢索儲存於圖1之記憶區域115内之資料（相當於圖2之 步驟S22)，抽出滿足該臨限值之資料列。 而後，區別分別屬於凹槽ΡχΤ、平面LyT、凹槽pzT之計 數結果，求出每個凹槽ΡχΤ、平面LyT、凹槽ΡζΤ之平均值（相 备於圖2之步驟S24)。使用該計數結果之平均值，進行圖8 所示之模式比較時，可得到各凹槽長中前側相位差異量。 圖13(b)雖為進行凹槽後相位差異之檢測時之臨限值例，惟 想法與動作和進行凹槽前相位差異之檢測時相同。 圖14為表示於凹槽干涉差異檢測與凹槽平衡差異檢測所 使用之特疋模式檢索用表格構成之概念圖》如同圖（a)與（b) 所示，凹槽干涉差異之檢測與凹槽平衡差異之檢測均以使 用和圖13所説明之凹槽前相位差異與後相位差異同樣之手 法進行。 圖15為表示藉由計數結果之相對比較檢測差異量時之具 • 體例之概念圖。同圖雖為檢測凹槽前相位差異時之例，惟 檢測其他差異量時亦w同樣之手法進#。檢測差異量時， 首先由儲存於記憶區域内之資料群中’檢索抽出同圖⑷與 (b)所不之基準模式與比較模式，如同圖（c)與（d)所示，比較 對於應為原本固定長部位之計數值。同圖所示之例中，因 平面LyT成為比較部位，故求出基準模式計數結果之同圖⑷ 所不之12」與比較模式計數結果之同圖（d)所示之「丨i」 之差刀所得到之差分「1」成為差異量FPS4T之值。 圖16為表示藉由計數結果之絕對比較檢測差異量時之具 99039.doc -24·

丄 J 體例之概念圖。如同 、 差異量時，营券 不，以與理想基準長之比較檢測 出同圖⑷所示之記德區域内之資料群中’檢索抽 成為比較對象部位之Γ=Τ·示’比較對於 槽3Τ成為比較部位，姑/ 圖所示之例中，因凹 示之「9血柏冬 ，出特定模式計數結果之同圖⑷所 之差八，」於基準長之計數結果之同圖（d)所示之「8j 刀’所得収差分「L成為3τ凹槽之差異量。

圖戶Γ1 表示田圖2所示之控制量預測實行例之流程圖。如同 上你1 ^里之制係以記錄條件相異之s_2之2種以 條：進行測試記錄（步驟咖），再生其結果所得到之記 二凹H (步驟S102) ’藉由其結果所得到之再生模式之比 戈出對應條件S1之差異量D1與對應條件S2之差異量 (步驟S】G4) ’直線近似該等SWS2以及D1與D2之關係 I步驟S1〇6)，使用該直線決定最佳修正量（步驟S108)，藉由 貫行該一連串步驟而進行。

准如上述所測出之差異量m與D2係因策略之各種設定 參數而變動。而後，因該策略之各種設定參數而變動之差 異量D1與D2由解析之結果得知以大致直線狀變化。 亦即，以上述記錄差異檢測部丨12測出之個別測試記錄之 差異量可以基於最小平方法近似之直線狀變化而捕捉。 在此，關於本實施形態之光資訊記錄裝置中，例如進行2 次測試記錄時，注目於策略之各種設定參數與測出之差異 量D1與D2之直線關係可決定最佳策略。當然本發明中，取 代直線近似而以曲線近似亦可。 99039.doc 25· 圖18為表示圖17所示之以記錄條件_s2而變化之參數 之概念圖。同圖⑷係使用以單一脈衝模式所構成之單一脈 衝時之例，同圖⑻係使用以複數脈衝模式所構成之多重脈 衝時之例。 如同各圖所示’單一脈衝1(M與多重脈衝1〇_2係具備配 置於脈衝前端之前端脈衝12與配置於後端之後端脈衝Μ， 以各脈衝之高度規定記錄脈衝全體之能量，以前端脈衝寬 度所示之長度規定提供至記錄凹槽前端之初段能量， 以後端脈衝寬度TIa_示之長度規定提供至記錄凹槽後端 之能量。 此外，作為其他調整要因，如同圖⑷所示，單一脈衝1〇1 時，於前端脈衝12與後端脈衝14之間，設置較主功率請僅 低功率區域。藉由規定該量，可防止記錄凹槽成 為水滴里。同樣地’多重脈衝1〇_2時，如同圖⑻所示，藉 由規定位於前端脈衝12與後端脈衝14間之中間脈衝寬度 Tmp，可防止記錄凹槽成為水滴型。 以上所述之Ttop、Tlast、Pwn τ 邮係以記錄條件S1與 塑作為m ’使該等參數變化為S1、S2,使其影 1為m、咖㈣，使㈣等.進行直線近似 該直線可得到能取消差異之修正量。 吏用 圖19為表示記錄條件S1、S2之變化與差里量⑴ 係之概念圖。使同圖⑷所示之記錄脈衝成為 基準脈衝時，成為比·「符成為心3丁」之 …a 象之PZT=4Tj之記錄脈衝係藉 _S1變化之同圖⑻之記錄脈衝SI與使Pz丁前 99039.doc •26· 1356406 端以S2變化之同圖（c)之記錄脈衝S2之2條件進行測試記 錄。 其結果，可對應同圖（0之記錄脈衝而得到同圖（ai)所示 之基準模式，對應同圖（b)之記錄脈衝而得到同圓（bl)所示 之比較模式S1，對應同圖（c)之記錄脈衝而得到同圖（cl)所 示之比較模式S2。在此，比較模式S1對應控制量S1產生D1 之差異里’比較模式S2對應控制量S2產生D2之差異。 φ 得知對於控制量S1與S2之差異量D1與D2時，因關於何者 參數具有何種控制量時，可預測將產生何種差異，故利用 該等之關係’進行控制量之預測與修正值之決定。 圓20為表示利用直線近似之前側相位差異修正一例之概 念圖。決定對於前側相位差異之修正量Tt〇p時，首先如同 圖（a)所示，以成為基準之脈衝位置作為基準相位$時，如 同圖（b)所示，以脈衝位置僅平移Tt〇p之波形進行測試記錄 (相當於記錄條件S 1、S2)，其結果，如同圖所示，檢測 鲁 所仔到之再生k號之相位差異Δφίορ(相當於差異量d 1、 D2)。 同圖所示之例中’使該Ttop之變化進行S卜+〇」與 S2=+0.3之2種，並使其結果所得到之檢測相位Δφί〇ρ作為差 異量D1--0.1與D2 = + 〇.l而得。而後，使用該等得到之S1、 S2、Dl、D2 ’如同圖（e)所示，以直線近似對於控制量Tt〇p 之控制結果A(ptop之關係，利p該直線決定可消除相位差異 之修正相位Ttop=+0.2作為最佳修正值。 如此，策略之變化SI、S2與差異量之變化〇1、D2之關係 99039.doc •27- 1356406 因至少求出兩點變化點時，可以直線或曲線近似，故使用 該直線可求出差異量成為零之最佳修正量。

具體上，求出使策略s以數點變化時之差異量〇,將此時 之策略S與差異量D之關係代入一般式「D=axs+b」，藉由求 解連立方程式求出定數a、b，最後求出對應理想差異量D 策略S，藉由將該策略s設定於圖以斤示之策略電路（〖ο]) 以進行記錄脈衝之最佳修正。 書例如以圖1所示之記錄差異檢測部112，由使用某策略S1 之測試記錄再生模式所測出之差異量為D1，由使用其他策 ；略S2之測試記錄再生模式所測出之差異量為D2時，由

Dl=axSl+b 〇2=axS2+b 算出a與b ’求出使用該算出之&與b之函數 S = (D-b)/a 於該函數，藉由代入用於改善記錄品質之例如用於修正 φ.在平衡器等中產生之初始輸出差異等之輸出差異量！），以決 定最佳策略S » 此外’求出該最佳策略S之函數可對應3T、4丁、... 14T個 :別之凹槽Ρ3Τ、Ρ4Τ、…Ρ14Τ而求出。此外，求出該最佳策 略S之函數亦可對應記錄速度而分別求出。 圖21為表示利用直線近似之後側相位差異修正—例之概 念圖。決定對於後側相位差異之修正量丁丨&^時，首先如同 圖（a)所示，使成為基準之脈衝位置作為基準相位$時，如 同圖（b)所示，以脈衝位置僅平移Tlast之波形進行測試記 99039.doc -28· 1356406 錄，其結果，如同圖（c)所示，檢測所得到之再生信號相位 差異 Acplast。 同圖所示之例中’使該丁丨如之變化進行sl=〇丨與S2=〇 3 之2種’使其結果所得到之檢測相位作為差異量 Dl=+〇.l與D2=-〇.l而得到。而後’使用該等得到之S1、S2、 Dl、D2，如同圖（e)所示，以直線近似對於控制量TUst之控 制結果Atplast之關係，利用該直線決定可取消相位差異之修 _ 正相位Tlast=-0.2作為最佳修正值。 圖22為表示關於單一脈衝之形狀利用直線近似之長度差 異修正一例之概念圖。決定對於該長度差異之修正量pWD 時，首先如同圖（a)所示，以成為基準之脈衝長作為基準波 I nT時，如同圖（b)所示，以脈衝中央僅欠缺pwD之波形進 行測試記錄，其結果，如同圖（c)所示，檢測所得到之再生 信號之長度差異Δ。 同圖所示之例中，使該pWD之變化進行si=+0.3與 φ Μ — 0·1之2種，使其結果所得到之長度差異△作為差異量

Dl=+0.1與D2=-0.1而得。而後，使用該等得到之S1、S2、 Dl、D2 ’如同圖（e)所示，以直線近似對於控制量pWD之控 制結果△之關係，利用該直線決定可取消長度差異之修正量 PWD=+0.2作為最佳修正值。 圖23為表示關於多重脈衝之形狀利用直線近似之長度差 異修正一例之概念圖。決定對於該長度差異之修正量丁mp 時，首先如同圖（a)所示，使成為基準之脈衝長作為基準波 形nT時，如同圖（b)所示，以使中間脈衝長為Tmp之波形進 99039.doc •29- 丄 订測試記錄，其，结果，如同圖⑷所示，檢測所得到之再生 信號長度差異△。 同圖所不之例中，使該Tmp之變化進行Sl=+0.3與S2=+〇.l 之2種，使其結果所得到t長度差異△作為差異量Dl=+〇.l 與02—·0·1而得。而後使用該等得到之SI、S2、Dl、D2， 5 ()所示，以直線近似對於控制量Tmp之控制έ士果a

之關係，利用該直線決定可取消長度差異之；：= Tmp=+0.2作為最佳修正值。 人圖24為表示用於儲存修正量Tt〇p與仏狀表格構造之概 '。圖如同圖(a)所示’修正量Tt〇j^於成為修正對象之各 凹槽長’與該各凹槽之前方平面長之組合而定義。例如修 正對象凹槽為3T，該凹槽之前方平面為3T時，使修正量储 存於圖”3-3」所示之區域；修正對象凹槽树，該凹槽 之前方平面為3T時，使修正量儲存於巾「3_4」所示^ 域以下、5T、…1打為止和3 丁與4T同樣地儲存。 此外，如同圖（b)所示，修正量Tlast係於成為修正對象之 各凹槽長，與該各凹槽之後方平面長之組合而定義。例如 修正對象凹槽為3丁，該凹槽之後方平面為3丁時，使修正量 儲存於圖中「3_3」所示之區域；修正對象凹槽為❿該凹 槽之後方平面為3T時，使修正量儲存於圖中「3_夂所示之 區域》以下、5T、^1411為止和3T#4T同樣地儲存。 圖25為表示用於儲存修正量pwD與Tmp之表格構造 念圖。如同圓⑷所示’修正量PWD與Tmp係於成為修 象之各凹槽長而定義。例如修正對象凹槽為3丁時之修正旦 99039.doc •30- 1356406 PWD係使修正量儲存於圖中「pw3」所示之區域修 象凹槽為3T時之修正量Tmp係使修正量儲存於圖中「加 所示之區域。以下，47、57、...141為止與3巧樣地儲存。」 圖26為表示修正後之記錄脈衝例之概念圖。如同各圖所 示’使同圖⑷所示之記錄資料記錄於光碟片上時，於各凹 槽長設定適用最佳修正值之策略。例如於記錄打凹槽時， 如同圖（b)所示’由圖24所示之表格對應前方平面長讀出3了 凹槽之前端修正值TtGp ’同時對應後方平面長讀幻τ凹槽 之後端修正值細，以該Tt_Tlast修正記錄脈衝 與後端。 知 此外’修正4T凹槽時，如同圖⑷所示，以與订凹槽之情 形同樣之步驟，進行丁邮與丁^之修正；修正具有订以上 之長度之凹槽時，如同圖⑷〜(f)所示，除〜與Tlast外， 由圖25之表格讀出該凹槽長之pWD修正值，進行對應該 PWD之值之脈衝形狀之修正。 … • 此外，以上説明之實施形態中’雖於求出最佳策略S之函 數，藉由代入差異量D而決定最佳策略8 ’惟取代此而準備 由上述函數所求出之修正表格，成為基於該修正表格決定 最佳策略S之構造亦可。 此外，上述最佳策略之設定處理係於每次變更光碟片之 種類，或每次變更記錄速度時進行亦可，進—步成為使以 上述最佳策略之設定處理所決定之最佳策略之條件對應光 碟片之種類與記錄逮度預先記憶在記憶體，再次以同一種 類之光碟片進行記錄時，或以同—記錄速度進行記錄時， 99039.doc -31 - 6406 讀出記憶在該記憶體之最佳策略而使用之構造亦可。 產業上之利用可能性 依據本發明，即使實際記錄之凹槽與定義之策略之差異 較大時，亦可進行差異之檢測，故可期待對於更為嚴荷之 記錄環境之對應。 【圖式簡單說明】 圖1為表示關於本發明光資訊記錄裝置之内部構造之區 塊圖。 圓2為表示圖1所示之光資訊記錄裝置實行之策略決定工 序之實行步驟之流程圖。 圖3為表示圖2所示之由測試記錄至再生資料之計數為止 之動作概念之概念圖。 圖4為表示圖2所示之計數結果儲存模式之概念圖。 圖5(a)、（b)為表示圖2所示之直方圖作成模式之概念圖。 圖6(a)、（b)為表示圖2所示之臨限值決定模式之概念圖。 圖7⑷、⑻為表丨#自圖6所示〇法所得到之臨限值例 之概念圖。 圖8為表示用於檢測各凹槽長中前側相 模式與再生模式一例之概念圖。 ㈤_為表下用於檢測各凹槽長中後侧相位差異量之記錄 再生模式一例之概念圖。 例：表示用於檢測熱干涉之凹槽差異量之記錄模式一 99039.doc -32- 1356406 圖11為表示以與基準長之比較檢測熱干涉之凹槽差異量 之例之圖。 圖12為表示用於檢測凹槽平衡之差異量之記錄模式一例 之圖。 圖13(a)、（b)為表示凹槽前相位差異檢測與後相位差異檢 測所使用之特定模式檢索用表格構成之概念圖。 圖14(a)、（b)為表示凹槽干涉差異檢測與凹槽平衡差異檢 測所使用之特定模式檢索用表格構成之概念圖。 圖15為表示藉由計數結果之相對比較檢測差異量時之具 體例之概念圖。 圖16為表示藉由計數結果之絕對比較檢測差異量時之具 體例之概念圖。 圖17為表示圖2所示之控制量預測實行例之流程圖。 圖l8(a)、（b)為表示以圖17所示之記錄條件^與“而變化 之參數之概念圖。 圖19為表示記錄條件“ ' S2之變化與差異量〇1、D2之關 係之概念圖。 圖2〇為表示利用直線近似之前側相位差異修正一例之概 念圖》 圖21為表示利用直線近似之後側相位差異修正一例之概 念圖。 圖22為表示關於單一脈衝之形狀利用直線近似之長度差 異修正一例之概念圖。 圖U為表示關於多重脈衝之形狀利用直線近似之長度差 99039.doc -33· 1356406 異修正一例之概念圖。 圖24(a)、（b)為表示用於儲存修正量Tt〇p與Tlast之表格構 造之概念圖。 圖 念圖 25為表示用於儲存修正 量PWD與Tmp之表格構造之概 圖26為表示修正後之記錄脈衝例之概念圖。 【主要元件符號說明】

10 記錄脈衝 12 前端脈衝 14 後端脈衝 100 光碟片 101 編碼器 102 策略電路 103 雷射振盪器 104, 106, 107 透鏡 105 半反射鏡 108 受光部 109 再生補償電路 110 二元化電路 111 解碼器 112 記錄差異檢測部 113 演算式導出部 114 策略決定部 115 記憶區域 99039.doc -34·

Claims (1)

1356406 料(〆 , 第094115673號專利申請案 中文申請專利範圍替換本(99年1〇月） 十、申請專利範圍： -種光資訊記錄裝置，其係藉由雷射光之脈衝照射而於 光記錄媒體進行資訊之記錄，其特徵在於具備： 包含固定長凹槽、固定長平面、可變長凹槽連續之記 錄模式使用„玄可邊長凹槽長度相異之複數記錄脈衝於 則述光圮錄媒體進行測試記錄之機構； 再生則述測„式δ己錄之結果而取得對應該複數記錄脈衝 之各個之複數再生模式之機構； 設定前述複數再生模式中之至少一個為基準模式，同 時設定前述複數再生模式中之該基準模式以外之至少一 個為比較模式之機構； 比較對應前述基準模式所&人 干俱式所包含之固定長平面部分之信 號與對應前述比較模式戶斤白人 俱式所包含之固定長平面部分之信號 之機構；及 由前述比較結果，檢測對應前述比較模式所包含之可 變長凹槽長度之凹槽前側相位差異量之機構。 2. 種光貝Λ °己錄裝置，其係藉由雷射光之脈衝照射而於 光記錄媒體進行資訊之記錄，其特徵在於具備： ㈣可變長凹槽、固定長平面、固定長凹槽連續之記 錄模式，使用該可變具 凹t長度相異之複數記錄脈衝於 前述光記錄媒體進行測試記錄之機構； 再生前述測試記銼夕# w 、'，，°果而取得對應該複數記錄脈衝 之各個之複數再生模式之機構； 认疋月J述複數再生模式令之至少一個為基準模式，同 99039-991006.doc 1356406 時設定前述複數再生模式中之該基準模式以外之至少— 個為比較模式之機構； 比較對應前述基準模式所包含之固定長平面部分之作 號與對應前述比較模式所包含之固定長平面部分之信號 之機構；及 ^ 由前述比較結果，檢測對應前述比較模式所包含之可 變長凹槽長度之凹槽後側相位差異量之機構。 3· -種光資訊記錄裝置’其係藉由雷射光之脈衝照射而於 光記錄媒體進行資訊之記錄，其特徵在於具備： 包含可變長平面、固定長凹槽、固定長平面連續之士己 =模式，使賴可變長平面長度相異之複數記錄脈衝於 前述光記錄媒體進行測試記錄之機構； 再生前述測試記錄之結果而取得對應該複數記錄脈衝 之各個之複數再生模式之機構； 設定前述複數再生模式中之至少一個為基準模式，同 時設定前述複數再生模式中之該基準模式以外之至少一 個為比較模式之機構； 比較對應前述基準模式所包含之固^長凹槽部分之 號與對應前述比較模式所包含之以長凹槽部分之作 之機構；及 ° 由前述比較結果’檢測對應前述比較模式所包含之 變長平面長度之凹槽長度差異量之機構。 一種光資訊記錄裝置，其係藉由雷射光之脈衝照射而 光記錄媒體進行資訊之記錄，其特徵在於且備· 99039-991006.doc •1· 1356406 包含可變長平面、固定長凹槽、固定長平面連續之記 錄模式，使用該可變長平面長度相異之複數記錄脈衝於 月’J述光記錄媒體進行測試記錄之機構； 再生前述測試記錄之結果而取得對應該複數記錄脈衝 之複數再生模式之機構； 比較對應前述複數再生模式之各個所包含之固定長凹 槽部分之信號與對應該較長凹槽長度之凹槽規定 機構；及 由則述比車父結果，；泪丨剩·庙__ . 微而對應刖述固定長凹槽長度之凹 槽長度差異量之機構。 5. 一種光資訊記錄裝置，其係藉由雷射光之脈衝照射而於 光記錄媒體進行資訊之記錄，其特徵在於具備： 、 包含固定長平面、可變長凹槽、固定長平面連續之2 =模式4㈣可變長凹槽長度相異之複數記錄脈衝於 别述光記錄媒體進行測試記錄之機構； 再生前述測試記錄之結果而取得對應該複數記錄脈衝 之複數再生模式之機構； 比較對應前述複數再生模式之各個所包含之可變長凹 槽部分之信號與對應該可變長 機構；及 曰長度之凹槽規定長之 由刚述比較結果，檢測科庙北 微㈣應則述可變長凹槽長度之凹 槽長度差異量之機構。 u 99039-991006.doc