KR20070097512A

KR20070097512A - 저장 매체 상의 광학 이펙트의 분석

Info

Publication number: KR20070097512A
Application number: KR1020077016382A
Authority: KR
Inventors: 코엔 에이. 페르슈렌
Original assignee: 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이.
Priority date: 2004-12-20
Filing date: 2005-12-14
Publication date: 2007-10-04
Also published as: US20090237671A1; JP2008524765A; EP1831874A2; TW200636698A; CN101084540A; WO2006067686A2; WO2006067686A3; BRPI0519571A2

Abstract

광기록 매체 에대한 광학 이펙트의 품질을 분석하고, 기록 방법의 최적화와 관련하여 상기 방법을 이용하며, 광기록 매체에 대한 기록 품질을 분석하는 방법이 개시된다. 본 방법은 특정된 광신호의 파형과 공칭 광신호의 파형을 측정하는 단계와, 측정된 파형과 공칭 파형에서의 차로부터 진폭차 파라미터를 계산하는 단계를 포함한다. 상기 방법의 이용은 진폭차 파라미터를 측정하기 위한 수단을 구비하는 광저장 매체로부터 광학 이펙트를 판독하기 위한 장치와, 기록 방법에서 파워 레벨 및/또는 레벨 지속기간을 조정하는 수단을 구비하는 광기록 장치 및 광 저장 장치를 제어하기 위한 집적회로를 포함한다.

광기록 매체, 진폭차, 광학 이펙트

Description

저장 매체 상의 광학 이펙트의 분석{ANALYSIS OF OPTICAL EFFECTS ON STORAGE MEDIUM}

본 발명은 광기록 매체에 관한 광학 이펙트의 특성을 분석하는 방법 및 상기 방법의 이용에 관한 것이다.

정보를 광디스크에 기록하거나 그것으로부터 판독하는 기술은 최근에 주목할 절도로 발전하였다. 이러한 기술의 발전에 의하여 여러 가지 종류의 기록 유형과 이에 대응하는 매체가 출현하였다. 특히 현재 시장에는 읽기 전용 매체, 즉 음악 재생용과 같은 ROM 디스크, 데이터 판독은 수 회 가능하지만 기록은 단 일회만 가능한 재기록 불능형 광디스크, 그리고 데이터를 수 회 기록 및 소거하기 위한 재기록 가능형 디스크가 존재한다. 이러한 3가지 상이한 유형 각각은 존재 이유를 갖고 있으며, 장점과 약점도 갖고 있다. 이러한 3가지 유형의 공통점은 다량의 데이터가 단일 디스크 상에 존재하거나 제공될 수 있도록 데이터 용량을 증가시키고자 하는 것이다.

그러나, 데이터 용량의 크기를 제한하는 요인이 다수 존재한다. 한가지 중요한 요인은 광스폿(optical spot)의 사이즈가 고용량의 디스크의 경우에 디스크 상의 최소 광학 이펙트의 사이즈만큼 커진다는 것이다. 이러한 제한에 있어서, 하나 이상의 단일 비트 정보는 부호간 간섭(inter-symbol interference; ISI)을 초래 하는 광스폿에 의하여 검출될 수 있다.

블루레이 디스크(BD) 포맷에 있어서, 용량이 27GB 미만인 경우에 슬라이서 교차점(slicer crossing)간의 시간을 분석하는 것이 가능하므로, 광학 이펙트의 길이를 측정하는 것이 가능하다. 그러나, 용량이 27GB 이상인 경우, 슬라이서 레벨을 명확하게 측정하는 것이 더 이상 불가능하며, 기록 모드에서 기록 방법을 조정하기 위하여 최적 파워 조절(OPC)과 관련한 공지된 지터 분석이 불가능하다.

본 발명의 발명자는 용량이 30 내지 37 GB 범위인 광매체에 대한 기록 이펙트의 품질을 분석하는 해법이 현재 존재하고 있지 않지만, 이러한 해결책이 유리하다는 점을 인식하였으며, 따라서 본 발명자는 본 발명을 고안하게되었다.

본 발명은 광기록 매체에 대한 광학 이펙트의 품질을 분석하기 위한 개선된 수단을 제공하는 것을 추구한다. 본 발명은 전술한 단점과 그 이외의 단점 중 적어도 하나를 개별적으로 또는 복합적으로 경감하거나 완화시키는 것이 바람직하다.

따라서, 제1 태양으로서, 광기록 매체에 대한 광학 이펙트의 품질을 분석하기 위한 방법에 있어서,

a) 상기 광기록 매체로부터 측정된 광신호의 파형을 측정하는 단계와,

b) 광채널 모델에 의하여 측정된 공칭 신호의 파형을 측정하는 단계와,

c) 상기 측정된 파형과 공칭 파형에서의 진폭차에 기초하는 진폭차 파라미터를 계산하는 단계를 포함하며,

상기 광학 이펙트의 품질 정도는 진폭차 파라미터로부터 측정되는, 상기 방법이 제공된다.

읽기 전용, 재기록 불능형 광디스크, 재기록 가능형 등과 같은 CD형 디스크, DVD형 디스크, BD형 디스크 등으로부터 측정된 광신호와 같은 측정된 광신호는 변조 신호로서, 이 변조 신호는 디스크 상에 존재하는 이진수 데이터를 나타낸다. 디스크 상에는 정보가 마크로서 언급되는 것과 같은 광학 이펙트(optical effect) 패턴으로 저장되어 있다. 일반적인 정보 부호화는 런길이 부호화(runlength encoding)인바, 광학 이펙트와 그 광학 이펙트 사이의 공간에 그리고 상기 광학 이펙트의 길이부와 공간에 정보가 저장되어 있다. 디스크 상의 비트 패턴은 런길이 부호화에서 공간과 광학 이펙트 사이의 변이 시프트의 타이밍 시퀀스로 표현된다. 비트 유형(즉, 광학 이펙트 또는 공간)과 비트 길이는 변이 시프트의 유형 및 변이 시프트 사이의 타이밍으로부터 추론된다.

계산된 모델 신호는 Braat-Hopkins 모델 과 같은 선형 광학 모델로 수학적으로 표시될 수 있다.

진폭차 파라미터 측정된 파형과 공칭 또는 계산된 파형 사이의 진폭차에 기초한다. 진폭차 파라미터는 간단한 뺄셈일 수 있지만, 차 분포의 폭 또는 평균과 같은 보다 복잡한 파라미터일 수도 있으며, 그 파라미터 등을 얻기 위하여 수학적 연산이 수행될 수도 있다.

이러한 측정이 심지어 30 내지 37GB 범위에서와 같이 30GB 이상의 데이터 용량에 대해서도 사용될 수 있는 기록 광학 이펙트의 품질을 나타내기 때문에, 진폭차 파라미터로부터 광학 이펙트의 품질 정도를 측정하는 것이 바람직하다.

진폭차 파라미터의 막대그래프가 제공될 수 있으며, 품질 정도는 상기 막대 그래프의 폭과 센터링으로 측정된다. 따라서, 상기 진폭차는 소정의 특징 함수로서 측정될 수 있으며, 상기 특징 분포의 막대그래프가 제공될 수도 있다. 분포의 폭 및/또는 센터링, 즉 오프셋이 존재하는 가의 여부는 품질 정도로서 사용될 수도 있다.

이러한 막대그래프가 기록 이펙트의 총 품질을 신속히 간파할 수 있기 때문에, 진폭차 파라미터의 막대그래프를 제공하는 것이 바람직하다.

광신호는 제1 폭을 갖는 제1 영역으로부터 반사된 제1 부분과 제2 폭을 갖는 제2 영역으로부터 반사된 제2 부분을 구비하며, 제1 영역으로부터 제2 영역으로부터 변이는 제2 및 제1 폭(길이 또는 런길이라고도 언급된다)으로 나타낸 선두 에지로 분류되고, 제2 영역으로부터 제1 영역으로의 변이는 제1 및 제2 폭으로 나타낸 후미 에지로 분류되며, 상기 진폭차 파라미터는 선두 에지 및/또는 후미 에지 주변에서 얻어진다.

또한 광신호는 광이 제1 및 제2 영역으로부터 반사된 여부에 대응하는 제1 및 제2 부분을 구비한다. 제1 및 제2 영역은 ROM형 디스크 등에서 피트(pit)와 랜트(land)와 같이 상변화형 디스크 또는 재기록 불능형 디스크에서 각각 공간과 마크로 식별될 수도 있다.

진폭차 파라미터는 특정 유형의 변이, 즉 소정 변이의 함수로서 얻어질 수도 있다. 진폭차 파라미터는 특정 변이 이전에 상기 영역의 폭 함수 및/또는 다음 영역의 폭 함수로서 측정될 수도 있다. 예를 들면, 진폭차 파라미터는 마크로부터 공간으로의 변이 또는 특정 길이의 마크로부터 소정 길이의 공간으로의 변이, 또는 특정 길이의 공간에 대한 특정 길이의 마크로서 측정될 수 있다.

디스크 상의 광학 이펙트 패턴에 존재하는 다양한 조합의 계통적 거동을 보다 세부적으로 간파할 수 있기 때문에, 진폭차를 상기 방식으로 측정하는 것이 바람직하다.

진폭차 파라미터는 변이에 걸쳐 진폭차 또는 합계이 변화로부터 획득될 수도 있다. 따라서, 진폭차 파라미터를 제공하기 위하여 진폭차에 대하여 수학적 연산을 수행할 수도 있다. 이러한 변이에 걸친 진폭차 또는 합계는 광학 이펙트의 품질 및 잠재적인 에러를 간파할 수도 있다.

본 발명의 제2 태양에 따르면, 광기록 저장 매체로부터 광학 이펙트를 판독하기 위한 장치에 있어서,

광저장 매체에 방사선 빔을 출광하기 위한 방사원과;

상기 기록 이펙트를 판독하기 위한 판독 유닛과;

본 발명의 제1 태양에 따른 방법에 의하여 측정된 바와 같은 진폭차 파라미터를 측정하는 수단을 포함하는 판독 장치가 제공된다.

이러한 장치는 광학 이펙트의 품질을 분석하기 위한 광저장 장치와 조합하여 또는 일부로서 제공될 수도 있다. 상기 장치는 또한 독립식 분석 장치 또는 분석 장치의 일부로서 제공될 수도 있다.

본 발명의 제3 태양에 따르면, 광기록 장치에 있어서,

기록 매체 상에 광학 이펙트를 기록하기 위한 제어 가능한 값의 기록 파워 레벨을 갖는 방사선 빔을 출광하기 위한 방사원과;

상기 기록 이펙트를 판독하기 위한 판독 유닛과;

본 발명의 제1 태양에 따른 방법에 의하여 측정된 바와 같은 진폭차 파라미터에 따라서 기록 방법에서 파워 레벨 및/또는 레벨 지속기간을 조정하는 수단을 포함하는 광기록 장치가 제공된다.

이러한 장치는 광학 이펙트의 품질을 분석할 수 있는 광기록 장치와 조합하여 또는 그 일부, 예를 들면 기록 작동 이전에 기록 광학 이펙트의 최적 수행과 관련하여 제공될 수 있다.

본 발명의 제4 태양에 따르면, 진폭차 파라미터를 측정하기 위한 집적회로로서, 상기 집적회로는 본 발명의 제1 태양에 따른 방법에 의하여 측정된 바와 같은 진폭차 파라미터를 측정하기 위하여 광저장 장치를 구동하도록 구성된 집적회로가 제공된다. 상기 집적회로는 본 발명의 제2 또는 제3 태양에 따른 장치에 설치될 수도 있다.

본 발명의 제5 태양에 따르면, 본 발명은 측정 파형과 공칭 파형에서 진폭차 파라미터로부터 측정된 기록 파라미터를 이용하여 제공되는 광저장 매체 상의 광학 이펙트로서, 상기 진폭차 파라미터는 본 발명의 제1 태양에 따른 방법으로 측정되는 광학 이펙트에 관한 것이다.

가장 간단한 방법으로, 광학 이펙트이 소정 길이에 따라 소정의 기간 동안 예정된 파워 레벨로 레이저를 턴온시키고 공간의 소정 길이에 대응하는 기간 동안 광학 이펙트 사이에서 레이저를 턴오프시키는 것으로 광매체에 광학 이펙트를 제공한다. 그러나, 기록 방법은 예를 들면 상변화형 매체와 조합하여 사용되는 다이렉 트 오버라이트법(DOW)과 관련하여 이것보다 보다 복잡해질 수도 있다. 일반적으로, 기록 방법은 레이저 파워를 턴온 및 턴오프하는 명령어, 레이저 파워를 특정 레벨로 설정하는 것, 레이저 파워를 소정 기간 동안 유지하는 것 등과 같은 다수의 기록 파라미터로 설명될 수 있다. 데이터를 새로운 광기록 매체에 기록하기 전에 기록 방법을 정정 즉 최적화하는 것이 중요하며 때때로 필요하다.

소정의 기록 펄스를 설명하는 기록 방법은 하나 이상의 기록 파라미터를 포함할 수도 있다. 기록 방법은 소정의 특정 광학 이펙트, 즉 특정 광학 이펙트를 기록하기 위한 기록 펄스에서 기록 파라미터와 광학 이펙트의 길이에 의존할 수도 있다. 기록 광학 이펙트의 최종 길이에 따라 분류되는, 즉 I2 마크를 기록하기 위한 I2 방법, I3 마크를 기록하기 위한 I3 방법 등과 같은 표준 기록 방법이 존재할 수도 있다. 기록 방법, 즉 특정 기록 방법에 포함되는 기록 파라미터는, 광학 이펙트가 광저장 매체에 제공되고, 본 발명의 제1 태양에 따른 진폭 파라미터를 측정하며, 하나 이상의 기록 파라미터를 변경하여 상기 기록 방법을 적응시키는 최적화 루틴과 관련하여 최적화될 수 있다. 상기 루틴은 만족스런 진폭차 파라미터를 얻을 때까지 반복될 수도 있다.

제6 태양에 따르면, 본 발명은 진폭차 파라미터를 측정하기 위한 컴퓨터 판독 가능형 코드로서, 상기 코드는 본 발명의 제1 태양에 따른 진폭차 파라미터를 측정하도록 구성된 집적회로에 관한 것이다.

본 발명의 여러 가지 태양을 본 발명의 범위 내에서 가능한 어떠한 방식으로도 조합 및 결부될 수 있다.

상기 및 기타 본 발명의 특징 및 장점 후술된 실시예로부터 자명하게 된다. 본 발명의 실시예는 도면을 참조하여 설명하기로 한다.

도 1은 정보를 광저장 매체로부터 판독 및/또는 기록할 수 있는 광기록 장치를 개략적으로 도시하고 있다.

도 2는 블루레이 디스크 상의 광학 이펙트를 개략적으로 도시하고 있다.

도 3은 광학 신호의 일련의 채널 비트를 개략적으로 도시하고 있다.

도 4는 랜덤 공간 런길이(random space runlength)로부터 3T 마크 런길이(mark runlength)까지의 변이 막대그래프를 도시한다.

도 5는 마크 런길이로부터 공간 런길이까지의 변이 및 공간 런길이로부터 마크 런길이까지의 변이의 매트릭스 그래프를 도시한다.

도 6은 단일 변이에 걸친 진폭차와 진폭차의 합계를 개략적으로 도시하고 있다.

도 7은 제1 기록 방법을 이용하여 획득된 변이에 걸친 진폭차의 매트릭스 분포를 도시하고 있다.

도 8은 제2 기록 방법을 이용하여 획득된 변이에 걸친 진폭차의 매트릭스 분포를 도시하고 있다.

도 9는 제3 기록 방법을 이용하여 획득된 변이에 걸친 진폭차의 매트릭스 분포를 도시하고 있다.

정보를 광기록 매체로부터 판독 및/또는 기록할 수 있는 광기록 장치(1)가 도 1에 개략적으로 도시되어 있다.

실제 광기록 장치는 각종 기능을 갖는 다수의 부품을 구비하며, 본원에는 단지 2 내지 3개만이 도시되어 있다. 디스크(11)를 회전시키고 또한 광픽업 유닛(5)의 동작을 제어하기 위한 모터 수단(9, 10)이 제공되어, 광 스폿(3)이 디스크 상의 소정 위치에 집속 및 위치될 수 있다. 광픽업 유닛은 다수의 광학 소자에 의하여 디스크 상에 집속될 수 있는 레이저 빔을 출사하는 레이저(6)를 구비하고 있다. 집속된 레이저 광은 기록 모드에서 광 디스크에 물리적 변화가 제공될 수 있도록, 즉 광학 이펙트가 디스크 상에 제공될 수 있도록 충분한 세기를 가질 수 있다. 별법으로서, 판독 모드에서 레이저 파워는 물리적 변화를 유발하고 디스크 상의 광학 이펙트를 판독하기 위한 광검출기(7)에 의하여 검출된 반사 레이저광을 유도하기에 불충분하다.

광기록 매체로부터 측정된 광신호가 광검출기(7)에 의하여 검출된 것과 같은 신호일 수 있는 본 발명에 있어서, 신호는 전용 장치(비도시)에 의하여 또는 처리 수단(4)에 의하여 부가적인 처리에 적합할 수 있는 형태로 변환될 수 있다.

저장장치의 제어는 모터 제어부(9) 및 광 제어부(2)로 도시된 바와 같이 하드웨어 실행에 의하여 실시될 수 있다. 게다가, 마이크로프로세서 제어 수단(4)이 존재한다. 마이크로프로세서 제어 수단(예를 들면, 집적회로(IC) 수단)은 하드웨어 처리 수단과 소프트웨어 처리 수단 모두를 구비하여, 고급 제어 소프트웨어에 의한 바와 같이 사용자가 장치의 작동에 영향을 미칠 수 있다. 고급 제어 설정의 예로는 기록 모드에서 출사된 레이저 파워의 기록 방법으로 펄스 형상을 제어하는 것이 있다.

도 2는 블루레이 디스크(BD) 상의 광학 이펙트의 예를 제공하고 있다. 도 2b는 도 2a에 개략적으로 도시된 BD 디스크(21) 상에서 일부 영역(20)의 파열(blow-up;29)을 도시하고 있다. 파열된 영역은 광학 이펙트(23)와 상기 광학 이펙트 간의 영역(22)을 도시한다. 상기 이펙트는 중심으로부터 외측으로 나선형으로 형성된 트랙을 따라 정렬되며, 도면에는 트랙의 일부(24)가 도시되어 있다. 상기 트랙 부분(24)으로부터 반사된 빛이 도 2c에 개략적으로 도시되어 있으며, 반사된 빛의 세기는 횡축(26)을 따른 위치 함수, 즉 시간 함수로서 종축(25)을 따라 도시되어 있다. 광학 이펙트(23)는 마크(27)라고도 불리며, 상기 마크 사이의 부분(22)은 공간(28)이라고도 언급된다. 상 변화형 디스크에 있어서, 마크(23, 27)는 반사율이 낮은 비정질 영역인 반면, 공간(22, 28)은 반사율이 높은 결정질 영역이다.

광 기록에 있어서, 데이터는 런길이가 다른, 즉 폭(길이)이 다른 마크(27)와 공간(28)에 저장된다. 소정 디스크의 최적 성능을 위해서 중요한 것은 모든 마크와 공간이 완전한 계단형이라는 것이다. 블루레이 디스크(BD)에 있어서, 최단 광학 이펙트는 채널 비트 길이의 9배로서, T9라고 불리운다. 마크와 공간의 길이가 정확하게 채널 비트 길이의 배수가 아니면, 이것은 최적의 상황에서 벗어난 것으로 보일 수 있으며, 비트 검출 성능을 저하시킬 수 있다.

도 3은 광 신호에서 기원된 일련의 채널 비트를 도시하고 있다. 일련의 채널 비트(30)는 제1 폭(311)을 갖는 제1 영역(공간 또는 고반사율 영역)으로부터 반 사된 광에 대응하는 제1 부분(31)과, 제2 폭(321)을 갖는 제2 영역(마크 또는 저반사율 영역)에 대응하는 제2 부분(32)을 구비한다. 제1 영역으로부터 제2 영역으로의 변이는 선두 에지(33)로 구별되며, 제2 영역으로부터 제1 영역으로의 변이는 후미 에지(34)로 구별된다.

실제 디스크에서는 고반사율(공간)로부터 저반사율(마크)로의 변이가 항상 우측에서 일어나는 것은 아니다. 일부는 너무 좌측이고(정시보다 이르면, 해상도에 부정적), 일부는 너무 우측이다(너무 늦으면, 해상도에 긍정적). 이것은 측정된 에지 위치를 나타내는 점선(37)으로 도시되어 있다. 도면에서, 시간축(38)은 횡축으로 도시되어 있는바, 상기 시간축은 소위 1T(1 채널 비트) 해상도로 이산화된다. 이상적인 신호의 경우, 변이는 1T 마크 상에서 이루어져야 한다. 이하 본 발명을 실시하는 실시예를 기술하기로 한다. 이는 광기록 매체 상의 광학 이펙트 품질을 분석하기 위한 방법을 실시하는 실시예이다.

ISI가 중요한 데이터 용량에서, 정보는 제로 교차(zero-crossing)의 위치에서 보다 오히려 신호 진폭으로 저장된다. 그러므로, 예를 들면, 적절한 채널 모델[이러한 모델이 일정하고 선형이며 불완전한(부분) 응답 또는 비선형을 고려하는 적응형 모델(예를 들면 R. Otte 및 W.Coene 공저의 Evaluation of adaptive PRML/Viterbi bit detection for DVD and beyond, IEEE Trans. Cons. Electr. 46, 1018-1020 페이지, 2000년)]로부터 획득된 것과 같은 판독 파형의 표본값과 공칭값 사이의 진폭차는 매체에 존재하는 광학 이펙트의 품질 정도를 제공할 수 있다. 특히, 런길이 변이에 입각한 진폭차는 기록 방법 최적화를 위한 적정 정보를 포함하 고 있다.

적절히 동작하는 시스템에서 예를 들면, 각각의 런길이 변이의 각 비트에서와 같은 진폭차의 분포는 제로의 평균값(즉, 진폭 오프셋이 존재하지 않는 평균)과 진폭 지터에 대응하는 소정의 폭을 갖는 가우스 분포일 수 있다. 본 발명의 실시예에서, 상기 폭은 가능한 작아야 하기 때문에 분포 폭을 품질 정도로서 이용할 수 있다.

도 4에는 최적화되지 않은 25GB 기록 방법에 대하여 랜덤 공간 런길이로부터 3T 마크 런길이로의 변이에 대한 막대그래프(40)가 제공되어 있다. 이러한 특정 유형의 변이에 대한 막대그래프는 총 분포보다 다소 협소한 것이 일반적이다.

도 4에 도시된 바와 같은 막대그래프는 광학 이펙트 품질을 향상시키기 위하여 기록 방법을 최적화하는 방법에 관한 상세한 정보를 제공할 수도 없다. 그러나, 예를 들면, 광학 이펙트가 최적인 매체에서 획득된 기준 분포와 비교하여 실제보다 크고 정성적인 품질 정도를 제공한다.

보다 구체적인 정보는 단지 특정 변이의 분포를 조사하여 얻을 수도 있다.

기록 및/또는 판독 과정에서 이전 또는 이후 런길이의 영향을 포함하도록, (적어도)제1 런길이와 연속한 다음 런길이로 명기되는 개별 분포를 평가하는 것이 바람직하다. 이것은 x축 상에서의 제1 런길이와 y축 상에서의 제2 런길이를 도시하는 도 5에 도시된 바와 같이 매트릭스형 그래프로 도시될 수 있다. 상이한 개별 분포의 평균 및 표준 편차는 각각 대응하는 그리드 위치 및 에러 바아와의 수평 오프셋으로 표시된다.

도 5에는 마크 런길이로부터 공간 런길이(상면)로의 변이에 대한 그리고 공간 런길이로부터 마크 런길이(하면)로의 변이에 대한 매트릭스형 그래프가 도시되어 있다. 좌측의 그래프는 제1 런길이의 마지막 비트(즉, 다음 RL 이전의 비트)에 대한 분포를 도시하는 반면, 우측의 그래프는 다음 런길이의 제1 비트에 대한 분포를 도시한다. 환언하면, 좌측은 변이(좌측) 이전의 비트에 대응하며, 우측은 런길이 사이의 변이(우측) 직후의 비트에 대응한다. 최적의 기록 방법과 양호한 채널 모델을 위하여, 그리드 위치로부터의 오프셋 및 에러 바아(분포의 표준 편차)는 작다. 따라서 도 5에 도시된 바와 같은 그래프는 예를 들면 개별 평균값과 기준값에 대한 표준 편차를 비교하여 각각의 변이 유형의 품질 정도를 제공한다.

변화(델타)의 분포 및/또는 특정 변이에 걸쳐 진폭차의 합계를 분석하면 부가적으로 조사될 수 있다. 이것은 단일 변이에 대하여 도 6에 개략적으로 도시되어 있다. 화살표(62 내지 65)는 변이 전후에 기준 파형(실선)(60)과 실제 파형(점선)(61) 사이의 진폭 편차를 나타내고 있다. 기준 파형은 이용 상태에서 계산될 수 있는 반면, 실제 파형은 측정될 수 있다.

도 6a는 예를 들면 작은 런길이의 불완전한 기록에 기인하여 변이의 기울기에서의 편차가 변이에 걸쳐 진폭차에서 변화, 즉 비제로(non-zero) 변화 또는 델타(예를 들면, 화살표 전 빼기 화살표 후)를 야기하는 경우를 도시하고 있다. 한편, 도 6b에는 변이에 걸친 진폭차의 합계가 변이 시프트에 대응하는 것을 도시하고 있다. 실제로, 이러한 시프트는 특정 변이에 대한 기록 방법에서 부정확한(준최적) 레이저 펄스 위치 또는 파워에 기인할 수 있다. 그러므로, 시프트의 [화살 표(62-65) 방향으로 지시된 바와 같은]기호와 진폭을 기록 방법을 보다 명확하게 수정하는데 사용할 수 있다. 도 5와 관련하여 기술된 바와 같이, 계통적 에러를 통찰하기 위하여 매트릭스 형태의 런길이 사이에 각종 변이에 대한 델타와 합계 분포를 조사할 수 있다.

기록 방법 최적화를 위하여 도 7 내지 도 9와 관련하여 기술된 연구의 용례를 예시하기 위하여, 널리 공지된 25GB 블루레이 디스크 시스템을 예로서 사용하였다. 이러한 용량은 비교적 작기 때문에, 변이 기울기 효과는 본원에서 매우 중요하지 않으며, 변이 시프트(합계 분포를 포함하는 도면의 우측 부분)에 초점을 맞춘다. 상기 연구는 다른 평가 방법이 존재하지 않는 매우 큰 용량의 경우에 상당히 적합하다. 하기의 도면에는 오프셋 척도를 명확성을 위하여 확대되어 있다.

도 7 내지 도 9는 4개의 그래프를 각각 도시하는 것으로, 상측의 두 그래프는 변이에 걸친 차이의 경우(좌측)에 대하여 그리고 변이에 걸친 합계의 경우(우측)에 대하여 마크와 하기의 공간 사이의 분포를 도시한다. 하측의 두 그래프는 변이에 걸친 차이의 경우(좌측)에 대하여 그리고 변이에 걸친 합계의 경우(우측)에 대하여 공간과 하기의 공간 사이의 분포를 도시한다.

도 7은 5T 마크의 후미 에지가 채널 비트 클럭의 2/12 후방으로 시프트되도록(소거 펄스가 1/12 빨리 개시한다) 표준 기록 방법이 개량되어 있는 결과를 도시한다. 이러한 용량의 경우, 선두 에지 및 후미 에지에 대하여 지터를 측정할 수 있다. 인가된 시프트의 결과로서 각각의 지터값은 5.25% 및 9.75%이었다. 이러한 시프트는 이후의 모든 공간 런길이가 정상보다 길어지게 한다. 실제로, 이것은 우 측 위 합계 그래프에서 시각적으로 명확하다. 화살표(70)로 지시된 바와 같이, 5의 제1 마크 RL 이후의 모든 다음 공간 RL은 큰 포지티브 시프트를 나타내고 있다. (시프트보다 작은 제1 마크 RL도 관찰되는 경우에, 이것은 슬라이서에 기인하기 때문으로, 전체 오프셋을 가능한 제로에 거의 근접하게 유지하고자 한다.) 마크의 선두 에지 (또는 공간 후미 에지)에 초점을 맞춘 우측 아래 그래프는 인가된 시프트에 의하여 영향을 받지 않는 것으로 보여진다. 도 7의 우측 아래 그래프에서, 다음 마크 RL=2의 경우에 계통적 포지티브 시프트(71)가 존재하는바, 즉 2T 마크 선두 에지는 너무 우측으로 쏠려있는 것을 이해된다.

도 8은 완전한 2T 마크(선두 에지 및 후미 에지)를 2/12 이상 좌측으로 시프트하여 계통적 포지티브 시프트를 보정하도록 시도하였다. 선두 에지 위치는 실제로 상당히 개선되었지만(우측 아래 그래프, 화살표 81), 후미 에지 위치는 뚜렷하게 열화되었다(우측 위 그래프, 화살표 80). 도 7에 제안된 바와 같이, 단지 2T 마크 선두 에지가 시프트하는 경우에 바람직한 결과를 얻었다(즉, 2T 길이도 증가한다). 이 결과는 도 9에 도시되어 있다.

본 발명을 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 본원에 기술된 특정 형태에 제한받지 않는다. 본 발명의 범위는 첨부된 청구범위에 의해서만 제한받는다.

본문에서, 방법 단계, 특정 수학적 모델, 데이터 제시, 특정 파라미터 등과 같은 개시된 실시예의 특정 사항은 본 발명의 명확하고 철저한 이해를 돕기 위하여 제한보다는 오히려 설명의 목적으로 기술된 것이다. 그러나, 본 발명을 본원의 사 상 및 범위로부터 크게 벗어나지 않고 본원에 기술된 세부사항과 꼭 일치하지 않는 다른 실시예로 실시할 수 있는 것을 당업자는 이해하여야 한다. 또한, 본원에서 간결함과 명료함을 목적으로, 널리 공지된 장치, 회로 및 방법에 대한 상세한 설명은 불필요한 세부사항과 혼동을 방지하기 위하여 생략되었다.

청구범위에 참조부호가 포함되어 있지만, 참조부호의 포함은 단지 간명성을 위한 것으로 청구범위의 범위를 제한하는 것으로 해석되어서는 안된다.

Claims

광기록 매체(11) 상에서 광학 이펙트(23)의 품질을 분석하기 위한 방법에 있어서,

a) 상기 광기록 매체로부터 측정된 광신호의 파형(61)을 측정하는 단계와,

b) 광채널 모델에 의하여 측정된 공칭 신호의 파형(60)을 측정하는 단계와,

c) 상기 측정된 파형과 공칭 파형에서의 진폭차에 기초하는 진폭차 파라미터를 계산하는 단계를 포함하며, 상기 광학 이펙트의 품질 정도는 진폭차 파라미터로부터 측정되는 것을 특징으로 하는 품질 분석방법.
제1항에 있어서,

상기 진폭차 파라미터의 막대그래프(40)가 제공되며, 품질 정도는 상기 막대그래프의 폭과 센터링으로 결정되는 것을 특징으로 하는 품질 분석방법.
제1항에 있어서,

상기 광신호는 제1 폭(311)을 갖는 제1 영역(22)으로부터 반사된 제1 부분(28, 31)과 제2 폭(321)을 갖는 제2 영역으로부터 반사된 제2 부분(27, 32)을 구비하며, 제1 영역으로부터 제2 영역으로부터 변이는 제2 및 제1 폭으로 나타낸 선 두 에지(33)로 분류되고, 제2 영역으로부터 제1 영역으로의 변이는 제1 및 제2 폭으로 나타낸 후미 에지(34)로 분류되며, 상기 진폭차 파라미터는 선두 에지 및/또는 후미 에지 주변에서 얻어지는 것을 특징으로 하는 품질 분석방법.
제3항에 있어서,

상기 진폭차 파라미터는 특정 유형의 변이에 대하여 얻어지는 것을 특징으로 하는 품질 분석방법.
제3항에 있어서,

상기 진폭차 파라미터는 특정 변이 이전의 영역의 폭 함수 및/또는 다음 영역의 폭 함수로서 결정되는 것을 특징으로 하는 품질 분석방법.
제3항에 있어서,

상기 진폭차 파라미터는 변이에 걸쳐 진폭차의 변화(62, 63)로부터 얻어지는 것을 특징으로 하는 품질 분석방법.
제3항에 있어서,

상기 진폭차 파라미터는 변이에 걸쳐 진폭차의 합(64, 65)으로부터 얻어지는 것을 특징으로 하는 품질 분석방법.
광기록 저장 매체(11)로부터의 광학 이펙트(23)를 판독하기 위한 장치에 있어서,

광저장 매체에 방사선 빔을 출광하기 위한 방사원(6)과;

상기 기록 이펙트를 판독하기 위한 판독 유닛(7)과;

제1항의 방법에 의하여 측정된 바와 같은 진폭차 파라미터를 측정하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 판독 장치.
광기록 장치(1)에 있어서,

기록 매체(11) 상에 광학 이펙트(23)를 기록하기 위한 제어 가능한 값의 기록 파워 레벨을 갖는 방사선 빔을 출광하기 위한 방사원(6)과;

상기 기록 이펙트를 판독하기 위한 판독 유닛(7)과;

제1항의 방법에 의하여 측정된 바와 같은 진폭차 파라미터에 따라서 기록 방법에서 파워 레벨 및/또는 레벨 지속기간을 조정하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록 장치.
진폭차 파라미터를 측정하기 위한 집적회로(IC)로서, 상기 집적회로는 제1항의 방법에 의하여 측정된 바와 같은 진폭차 파라미터를 측정하기 위하여 광저장 장치를 구동하도록 구성된 것을 특징으로 하는 집적회로.
측정 파형(61)과 공칭 파형(60)에서 진폭차 파라미터로부터 측정된 기록 파라미터를 이용하여 제공되는 광저장 매체 상의 광학 이펙트(23)로서, 상기 진폭차 파라미터는 제1항에 따른 방법으로 측정되는 것을 특징으로 하는 광학 이펙트.
진폭차 파라미터를 측정하기 위한 컴퓨터 판독 가능형 코드로서, 상기 코드는 제1항에 따라 진폭차 파라미터를 측정하도록 구성된 것을 특징으로 하는 컴퓨터 판독 가능형 코드.
광기록 장치에서 기록 파라미터의 최적 값을 설정하기 위하여 측정 파형과 공칭 파형 사이에서 결정된 진폭차 파라미터로부터 결정된 진폭차 파라미터를 사용이용하는 것을 특징으로 하는 진폭차 파라미터의 사용방법.