CH647866A5 - Messsonde zur dichtemessung in der mattscheibenebene einer reproduktionskamera. - Google Patents

Messsonde zur dichtemessung in der mattscheibenebene einer reproduktionskamera. Download PDF

Info

Publication number
CH647866A5
CH647866A5 CH4743/80A CH474380A CH647866A5 CH 647866 A5 CH647866 A5 CH 647866A5 CH 4743/80 A CH4743/80 A CH 4743/80A CH 474380 A CH474380 A CH 474380A CH 647866 A5 CH647866 A5 CH 647866A5
Authority
CH
Switzerland
Prior art keywords
measuring
measuring probe
housing
optical system
probe according
Prior art date
Application number
CH4743/80A
Other languages
English (en)
Inventor
Hans Juergen Koenig
Gottfried Prof Schroeder
Harald Dr Krzyminski
Original Assignee
Klimsch & Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from DE2925188A external-priority patent/DE2925188C2/de
Application filed by Klimsch & Co filed Critical Klimsch & Co
Publication of CH647866A5 publication Critical patent/CH647866A5/de

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
    • G01J1/4209Photoelectric exposure meters for determining the exposure time in recording or reproducing
    • G01J1/4223Photoelectric exposure meters for determining the exposure time in recording or reproducing specially adapted for copy - or printing apparatus
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B27/00Photographic printing apparatus
    • G03B27/72Controlling or varying light intensity, spectral composition, or exposure time in photographic printing apparatus
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B27/00Photographic printing apparatus
    • G03B27/72Controlling or varying light intensity, spectral composition, or exposure time in photographic printing apparatus
    • G03B27/725Optical projection devices wherein the contrast is controlled electrically (e.g. cathode ray tube masking)
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B7/00Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
    • G03B7/08Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
    • G03B7/099Arrangement of photoelectric elements in or on the camera
    • G03B7/09908Arrangement of photoelectric elements in or on the camera on the camera or in the objective

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft eine Messonde zur Dichtemessung tauschbar angeordnet ist, kann der Streulichteinfluss erfasst in der Mattscheibenebene einer Reproduktionskamera ge- und zur rechnerischen Messwertkorrektur verwendet werden,
mäss Oberbegriff des Patentanspruches 1. wenn man in einem getrennten Messvorgang Blendenöffnun-
gen benutzt, die z.B. auf einem Kreis um die eigentliche Blende angeordnet sind. Dieses Problem ist aber noch eleganter dadurch lösbar, indem man das optische System und den lichtelektrischen Messgeber insgesamt verstellbar im Gehäuse anordnet, was noch näher erläutert wird.
Weist ein grosses Bildfeld gleichmässige Dichte auf, so kann der Messwert trotzdem eine durch die Geometrie des optischen Systems und des Empfangers bedingte Winkelabhängigkeit zeigen. Dies kann durch eine Ausbildung derart kompensiert werden, dass das optische System mit Korrekturmitteln, bspw. durch ein Graufilter mit radialem Dichtegradienten, zur Kompensation der Winkelabhängigkeit des Messwertes ausgestattet ist.
Die erfindungsgemässe Messonde und ihre vorteilhaften Weiterbildungsformen werden nachfolgend anhand der zeichnerischen Darstellung von Ausführungsbeispielen näher erläutert.
Es zeigen
Fig. 1 teilweise in Schnitt und Ansicht die Messonde;
Fig. 2 in Seitenansicht die Messonde gemäss Fig. 2 in Zielrichtung;
Fig. 3 eine Ansicht der Messonde gemäss Fig. 2 in Zielrichtung;
Fig. 4 teilweise in Schnitt und Ansicht eine weitere Ausführungsform der Messonde;
Fig. 5 im Schnitt eine andere Ausführungsform der Messsonde mit Zielprojektor in Zielstellung;
Fig. 6 im Schnitt eine besondere Ausführungsform der Messonde;
Fig. 7 schematisch den Strahlengang bei Erfassung des hellen Umfeldes durch die Messonde gemäss Fig. 6;
Fig. 8 eine Kurvendarstellung der Dichtemesswerte in Abhängigkeit von der Flächengrösse des Messfleckes;
Fig. 9 eine verschiebliche Blende zur Streulichterfassung;
Fig. 10 schematisch den Messvorgang mit der Messonde an einer Mattscheibe einer Reprokamera und
Fig. 11 die Anordnung von ringförmigen Graufiltern auf einer Linse des optischen Systems.
Gemäss Fig. 1 ist im rohrförmigen Gehäuse 1 der Messsonde unmittelbar hinter der Messöffnung 2 ein optisches System 3, bspw. bestehend aus einer kondensorartigen Linsenanordnung, angeordnet, hinter dem sich der Messgeber 3' in Form eines Fotomultipliers unter Zwischenschaltung einer auswechselbaren Blende 5 befindet.
Der Öffnungswinkel 4 des optischen Systems ist dabei so bemessen, dass er grösser ist als der grösste Feldwinkel der betreffenden Reprokamera 33, von der nur die Mattscheibe 16 in Fig. 10 deutlicher dargestellt ist. Der zu erfassende Messfleck 17 liegt in der Fläche 16' der Mattscheibe 16, in der bei der folgenden Aufnahme des zu belichtenden Material zu liegen kommt.
Vorteilhaft ist das optische System 3 mit der Blende 5 im Gehäuse axial einstellbar, also verschieblich angeordnet, so dass bei unterschiedlich dicken Mattscheiben stets die Messstelle 17 scharf auf die Blende abgebildet wird.
Die Grösse des zu erfassenden Messflecks 17 hängt von der Grösse der Öffnung 18 der zwischen dem optischen System und der Fotozelle 3' eingesetzten Blende 5 ab, die auswechselbar im Gehäuse 1 angeordnet sein kann.
Die vorerwähnte Möglichkeit der Anordnung von mehreren Blendenöffnungen 5' zur Streulichterfassung ist in Fig. 9 verdeutlicht, wobei sich die eigentliche Blendenöffnung 5' und die Streulichtblendenöffnung 5" (auf einem gedachten Kreis befindlich) bspw. in einem gemeinsamen Blendenschieber 34 befinden, der in geeigneter Weise im Gehäuse 1 der Messonde querverschieblich angeordnet ist.
Weist ein grosses Bildfeld gleichmässige Dichte auf, so kann der Messwert trotzdem eine durch die Geometrie des
3 647 866
optischen Systems und des Messgebers bedingte Winkelabhängigkeit zeigen. Dies kann durch eine Ausbildung gemäss Fig. 11 derart kompensiert werden, dass das optische System mit Korrekturmitteln, bspw. durch Graufilter 35 mit radia-5 lem Dichtegradienten, zur Kompensation der Winkelabhängigkeit des Messwertes ausgestattet ist.
Durch den Einbau des optischen Systems und die Grösse der Messöffnung 2 ist die Aufsetzfläche der Messonde, in der die Messöffnung liegt, relativ gross, d.h. es bereitet eine gewis-io se Schwierigkeit, die Messonde so genau auf die Mattscheibe 16 der in Fig. 10 schematisch und beispielhaft dargestellten Reprokamera 33 aufzusetzen, dass die optische Achse der Messonde genau auf Mitte Messfleck 17 trifft und damit dafür zu sorgen, dass eine parallaxenfreie Erfassung des Mess-15 flecks erreichbar wird.
Zu diesem Zweck ist in vorteilhafter Weiterbildung die Messonde bzw. das Gehäuse mit einer Zieleinrichtung 6 ausgestattet und zwar in bevorzugter Ausführungsform derart, dass sie aus einer verschieblich am aufsetzseitigen Ende 1' des 20 Gehäuses 1 angeordneten, mit einer Öffnung 7 eingestellten Visiereinrichtung 9 gebildet ist, wobei der Verschiebeweg des Gehäuses 1 der Distanz zwischen Mitte Messöffnung 3 und Visierlinie 9' entspricht.
Für den Messvorgang wird die Messonde mit ihrer Öff-25 nung 13 bzw. der Platte 8 auf die Mattscheibe 16 der Reprokamera 33 aufgesetzt (Fig. 10), wobei sich das Gehäuse 1 in Tiefstellung gemäss Fig. 2, an der Platte 8 befindet. Die Mitte des Messfleckes 17 wird über die Visiereinrichtung 9 anvisiert und die Platte 8 dabei so lange verschoben, bis die Visierlinie 30 9' auf das Zentrum des Messfleckes 17 fällt. Danach wird das Gehäuse 1 bei festgehaltener Platte 8 nach oben bis zum Anschlag 8' verschoben, so dass die optische Achse 15 der Messsonde mit der vorherigen Visierlinie 9' zusammenfallt.
35 Dies setzt natürlich voraus, dass, wie erwähnt, der Verschiebeweg des Gehäuses 1 der Distanz zwischen Mitte Messöffnung 3 und Visierlinie 9' entspricht, bezogen auf die Tiefstellung (Visierstellung) des Gehäuses 1 an der Platte 8, die vorteilhaft mit einem rutschfesten Belag 8 " versehen ist. 40 Die Zieleinrichtung 6 kann gemäss Fig. 4 auch in der Weise ausgebildet werden, dass sie aus zwei um eine Drehachse 10 drehbaren Schenkeln 11,12 gebildet ist, wobei der eine Sehen- • kel 12 rechtwinklig mit dem aufsetzseitigen Ende 1' des Gehäuses 1 verbunden und der andere Schenkel 11 mit einer 45 Durchsichtsöffnung 13 versehen ist, deren Zentrum 14 in der optischen Achse 15 der Messonde bei aneinandergelegten Schenkeln 11,12 liegt.
Bei dieser Ausführungsform - die Öffnung 13 kann mit einem Fadenkreuz versehen sein - wird einfach der Schenkel 11 so bei nach unten (oder oben) mit Schenkel 12 abgeschwenktem Gehäuse 1 auf die Mattscheibe 16 aufgesetzt und die Öffnung 13 auf Mitte Messfläche ausgerichtet. Danach wird der Schenkel 12 in Pfeilrichtung bis zur Anlage herausgeschwenkt und die Messung kann erfolgen.
55 Die Visiereinrichtung gemäss Fig. 2,3 muss natürlich nicht die dargestellte Form haben, es kann auch ein Zielröhr-chen oder eine Kimme- und Korn-Anordnung od.dgl. vorgesehen sein.
In einer weiteren vorteilhaften Ausführungsform ist die 60 Messonde nach Fig. 5 mit einem Zielprojektor ausgestattet, der eine selbstleuchtende Zielmarke 20, bspw. die Leuchtfläche einer Lumineszensdiode, durch das optische System 19 und den Spiegel 21 exakt auf die Messstelle 17 abbildet. Das Auge 23 des Beobachters sieht damit den Zielpunkt parallax-65 frei in der Mattscheibenebene. Fällt der Zielpunkt mit der gewünschten Messstelle zusammen, so wird die Sonde um den Drehpunkt 22 in Messstellung geschwenkt, d.h. aus der dargestellten angenähert waagrechten Lage in Senkrechtstellung.
647866 4
Gemäss Fig. 6 ist im Gehäuse die ganze aus dem opti- Dichtewerte bei kleiner werdenden Flächen stark abfallen sehen System 3 und dem lichtelektrischen Empfanger 3' (beste- und sich der Einfluss heller Umfelder stärker bemerkbar hend aus Fotozelle 31 und nachgeschalteter Umsetzelektronic macht, während sich bei grösseren Messflächen die Kurven
32) gebildete Einheit 24 im Gehäuse 1 der Messonde axial ver- an den für die Belichtungseinstellung wahren und insoweit schieblich gelagert, welche Axialverschiebung mittels eines 5 idealen Dichtemesswert (Dw) annähern.
Stellringes 27 bewirkt wird, der auf der Aussenumfangsfläche
29 des Gehäuses 1 sitzt und zwischen zwei fest, aber einstell- Aus den ermittelten Dichtemesswerten Ds und Du lässt bar am Gehäuse 1 angeordneten, ringförmigen Anschlägen sich nun der für die einzustellende Belichtung massgebende
25,26 verschieblich ist. Die Mitnahme der Einheit 24 erfolgt wahre Dichtewert Dw ohne weiteres ermitteln, und zwar an-
durch einen Mitnehmer 28, der den Stellring 27 und die Ein- io genähert durch die Formel heit 24 verbindet und das Gehäuse 1 in einem entsprechend langen Längsschlitz durchgreift. Dw = Ds + K (Ds - Du)
Gemäss Fig. 7 wird mit der beschriebenen und auf die
Mattscheibe 16 aufgesetzten Messonde einmal der Messfleck worin K einen Faktor darstellt, der sich nach gerätespezifi-
17 gemessen (Dichte Ds) und zwar in der Fläche 16' der Matt- 15 sehen Einflussgrössen richtet.
scheibe 16, in der sich später das zu belichtende Material be- Durch die beschriebene Ausbildung der Messonde kann findet. eine vorteilhaft und ohne die vorerwähnte Blendenmanipula-Nach entsprechender Verschiebung der Einheit 24 inner- tion bei Verbleib der Messonde an entsprechender Stelle der halb der an Ort und Stelle verbleibenden Messonde, wird das Mattscheibe einerseits ein in seiner Flächenausdehnung kleiganze hellere Umfeld 17' erfasst und auch dessen Dichte (Du). 20 ner Messfleck und andererseits aber auch dessen einflussneh-
Graphisch stellen sich die unterschiedlichen Dichtewerte mendes helles Umfeld erfasst und beide Dichtemesswerte von Messflächen unterschiedlicher Flächengrössen und deren nach zusammenfassender Berechnung zum für die Belichtung
Umfelder gemäss Fig. 8 dar, woraus erkennbar wird, dass die massgebenden Dichtewert Dw umgesetzt werden.
C
2 Blatt Zeichnungen

Claims (13)

  1. 647 866 2
    PATENTANSPRÜCHE Messonden der genannten Art sind allgemein bekannt,
    1. Messonde zur Dichtemessung von Bildvorlagen bei de- bspw. nach der DE-OS 22 02 636 oder nach der DE-PS ren Reproduktion in einer Reprokamera, bestehend aus ei- 1 111 004.
    nem Gehäuse mit Messöffnung und einem im Gehäuse hinter Dichtemessungen in der unzugänglichen Fläche der Matt-einem optischen System angeordneten, lichtelektrischen 5 scheibenebene von Preproduktionskameras, die mit den vor-Messgeber, dadurch gekennzeichnet, dass zur Abbildung ei- bekannten Messvorrichtungen nicht durchgeführt werden nes engen Bereiches der unzugänglichen Fläche ( 16') der Matt- können, sind Voraussetzung für eine gesteuerte Durchfüh-scheibe (16) der Reprokamera (33) im Gehäuse (1) der Mess- rung von bestimmten Reproduktionsarbeiten. Im wesent-sonde unmittelbar hinter deren Messöffnung (2) und vor dem liehen geht es dabei dämm, die hellste und die dunkelste Bild-Messgeber (3') das optische System (3) mit einem grösseren io stelle hinsichtlich ihrer Beleuchtungsstärke auszumessen, wo-Öffnungswinkel (4) als der grösste Feldwinkel der Reproka- bei die Dichte ein logarithmisches Mass für die relativen Bernera (33) angeordnet ist. leuchtungsstärken ist.
  2. 2. Messonde nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, Der Messfleck soll dabei möglichst klein sein, etwa 2-5 dass zwischen optischem System (3) und Messgeber (3') eine mm im Durchmesser und die Empfindlichkeit des Messele-Blende (5) angeordnet ist. 15 mentes muss in der Regel sehr hoch sein. Deshalb werden vor-
  3. 3. Messonde nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, zugsweise für ähnliche Messaufgaben Fotomultipher als foto-dass die Blende (5) auswechselbar angeordnet ist. elektrische Empfänger eingesetzt. Exakte Dichtemessungen in
  4. 4. Messonde nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekenn- der Mattscheibenebene scheitern aber bisher daran, dass es zeichnet, dass das optische System (3) mit Blende (5) axial ein- nicht gelang, durch die unterschiedlich dicken Mattscheiben stellbar bzw. verschieblich im Gehäuse angeordnet ist. 20 hindurch einen entsprechend kleinen Punkt in der unzugäng-
  5. 5. Messonde nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, liehen Fläche auszumessen. Die zweite Schwierigkeit, die sich dass die Blende (5) gegen eine Blende mit seitlich versetzten solchen Messungen bisher entgegenstellte, ist, dass das auf der Blendenöffnungen (5') zur Streulichterfassung austauschbar Mattscheibe ankommende Licht nur in einem, die Einfallsausgebildet ist. * richtung mehr oder weniger eng umschliessenden Winkelbe-
  6. 6. Messonde nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, 25 reich gestreut wird.
    dass das optische System (3) mit Korrekturmitteln, wie Grau- Der Erfindung liegt demgemäss die Aufgabe zugrunde, ei-
    filtern (35) mit radialem Dichtegradienten, zur Kompensa- ne Messonde zu schaffen, die eine Dichtemessung in der unzu-
    tion der Winkelabhängigkeit des Messwertes ausgestattet ist. gänglichen Messebene der Mattscheibe, d.h. dort, wo sich
  7. 7. Messonde nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, später das zu belichtende Material befindet, ermöglicht.
    dass das Gehäuse (1) mit einer Zielvorrichtung (6) versehen 30 Diese Aufgabe ist mit einer Messonde der eingangs ge-
    ist. nannten Art nach der Erfindung durch das im Kennzeichen
  8. 8. Messonde nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, des Patentanspruches 1 Erfasste gelöst.
    dass die Zielvorrichtung (6) aus einer verschieblich, dem auf- Der Feldwinkel ist dabei der Winkel, unter dem die Bild-setzseitigen Ende (1 ') des Gehäuses (1) angeordneten, mit einer diagonale vom Objektiv erscheint.
    Öffnung (7) versehenen Platte (8) mit Gehäuseanschlag (8') 35 Vorteilhafte Ausführungsformen ergeben sich nach den und aus einer auf Mitte Öffnung (7) eingestellten Visierein- abhängigen Ansprüchen.
    richtung (9) gebildet ist, wobei der Verschiebeweg des Gehäu- Die erfindungsgemässe Messonde zeichnet sich also da-
    ses (1) der Distanz zwischen Mitte Messöffnung (3) und Vi- durch aus, dass vor dem Messgeber ein optisches System an-
    sierlinie (9') entspricht. geordnet ist. Das optische System hat die Aufgabe, durch eine
  9. 9. Messonde nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, 40 behebig dicke Mattscheibe hindurch einen Messpunkt der dass die Zielvorrichtung (6) aus zwei um eine Drehachse (10) Mattscheibenebene zu erfassen und auf der lichtempfind-drehbaren Schenkeln (11,12) gebildet ist, wobei der eine liehen Fläche des Empfängers abzubilden. Die Merkmale des Schenkel (12) rechtwinklig mit dem aufsetzseitigen Ende (1') optischen Systems bestehen darin, dass es einen entsprechend des Gehäuses (1) verbunden und der andere Schenkel (11) mit grossen Öffnungswinkel besitzen muss, um das in engem einer Durchsichtsöffnung (13) versehen ist. 45 Winkelbereich um die Einfallsrichtung gestreute Mattschei-
  10. 10. Messonde nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, benlicht auch noch in den Bildecken (grösster Einfallswinkel) dass die Zielvorrichtung als Zielprojektorsystem zur Erzeu- zu erfassen. Für den minimal erforderlichen Öffnungswinkel gung eines auf die Messstelle (17) zu richtenden Lichtstrahles, des optischen Systems kann als Richtschnur die Summe aus bzw. zur Ausbildung einer leuchtenden Zielmarke ausgebildet grösstem Feldwinkel der Kamera und grösstem Öffnungswin-ist. 50 kel des Kameraobjektivs angesetzt werden.
  11. 11. Messonde nach Anspruch 10, dadurch gekennzeich- Die Grösse des erfassten Messflecks wird durch die Öffnet, dass das Zielprojektionssystem aus einer selbstleuchten- nungsgrösse der zwischen dem optischen System und dem den Zielmarke (20), einem optischen System (19) und einem Messgeber eingesetzten Blende bestimmt, wenn als Messgeber Spiegel (21) gebildet und das ganze Gehäuse der Sonde um ei- ein sogenannter Fotomultipher verwendet wird. Bei Verwen-nen Drehpunkt (22) schwenkbar gelagert ist. 55 dung einer entsprechend kleinen Fotozelle als Messgeber ist
  12. 12. Messonde nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, eine Blende nicht unbedingt erforderlich.
    dass das optische System (3) und der Messgeber (3') als im Ge- Zur Ausschaltung von Streulicht und Abbildungsfehlern häuse (1) axial verstellbare Einheit (24) ausgebildet sind. wird die Blendenöffnung kleiner als die nominelle Messfläche
  13. 13. Messonde nach Anspruch 12, dadurch gekennzeich- gewählt. Wesentlich ist die Scharfabbildung der Mattscheinet, dass auf der Aussenumfangsfläche des Gehäuses (1) ein 60 benebene auf die Blendenebene, wobei als Abbildungsmass-zwischen zwei Anschlägen (25,26) verschieblicher Stellring stab bspw. 1:1 gewählt ist.
    (27) angeordnet und dieser über einen Mitnehmer (28), der die Bei sehr kleinen dunklen Messflächen in hellem Umfeld
    Gehäusewand (29) in einem Längsschlitz (30) durchgreift, mit wirkt sich Streulicht besonders stark aus. Durch eine vorteil-
    der Einheit (24) verbunden ist. hafte Ausbildung dahingehend, dass die Blende gegen seitlich
    65 versetzte Blendenöffnungen zur Streulichterfassung aus-
CH4743/80A 1979-06-22 1980-06-20 Messsonde zur dichtemessung in der mattscheibenebene einer reproduktionskamera. CH647866A5 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2925188A DE2925188C2 (de) 1979-06-22 1979-06-22 Meßsonde zur Dichtemessung von Bildvorlagen
DE19792943474 DE2943474A1 (de) 1979-06-22 1979-10-27 Messsonde

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CH647866A5 true CH647866A5 (de) 1985-02-15

Family

ID=25779621

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CH4743/80A CH647866A5 (de) 1979-06-22 1980-06-20 Messsonde zur dichtemessung in der mattscheibenebene einer reproduktionskamera.

Country Status (4)

Country Link
CH (1) CH647866A5 (de)
DE (1) DE2943474A1 (de)
DK (1) DK259480A (de)
GB (1) GB2062894B (de)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3723701A1 (de) * 1987-07-17 1989-02-02 Krzyminski Harald Handmessgeraet zur optischen reflexionsmessung

Also Published As

Publication number Publication date
GB2062894A (en) 1981-05-28
GB2062894B (en) 1984-03-07
DE2943474A1 (de) 1981-05-21
DK259480A (da) 1980-12-23
DE2943474C2 (de) 1987-04-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3276412A1 (de) Objektsimulationsgerät zum prüfen eines kameraobjektivs und diagnosesystem
DE2010647C3 (de) Elektronenblitzgerät mit einer photoelektrischen Meßeinrichtung für die reflektierte Lichtmenge
DE2136862C3 (de) Zum Abtasten oder zur Wiedergabe eines Bildes zwecks Übertragung über Fernsprechverbindungen dienende Vor richtung mit einer Quelle kohärenten Lichtes
CH647866A5 (de) Messsonde zur dichtemessung in der mattscheibenebene einer reproduktionskamera.
DE2443881B2 (de) Fuer wahlweises anbringen von wechselobjektiven geeignete filmkamera
DE2925188C2 (de) Meßsonde zur Dichtemessung von Bildvorlagen
CH430264A (de) Photoelektrischer Belichtungsmesser
DE1122185B (de) Verfahren zur Durchfuehrung des Belichtungsvorganges bei mit Hilfe von Ladungstraegern herzustellenden photographischen Aufnahmen in Ladungstraegerstrahlgeraeten und Vorrichtung zur Durchfuehrung des Verfahrens
DE2059904C3 (de) Kamera mit einer Belichtungsanzeigevorrichtung
EP0145743A1 (de) Vorrichtung zur steuerung der blitzbelichtung bei makroaufnahmen
DE550973C (de) Vorrichtung zum Bestimmen der jeweils notwendigen Lichtmenge beim Herstellen von Kontaktkopien auf photographischen Schichttraegern
DE2226962B2 (de) Belichtungssteuervorrichtung fuer eine kamera
DE1917698C3 (de) Mikrofilm-Schrittaufnahmegerät
DE686972C (de) Einrichtung fuer photographische Aufnahmegeraete
DE19603064C2 (de) Kamera mit einem elektronischen Sucher
DE2131395A1 (de) Belichtungsmesser
CH347651A (de) Lichtmesseinrichtung mit Lichtbündelungsmittel
DE3636969A1 (de) Fotoapparat fuer mikroskope
DE1149983B (de) Photographische Kamera mit automatischer Belichtungseinstellung
DE202004004543U1 (de) Vorrichtung zum Einstellen und Überprüfen von Bearbeitungswerkzeugen, insbesondere von Maschinenwerkzeugen in Einstellgeräten
DE2202636A1 (de) Fotografische Aufnahmevorrichtung
DE1772558A1 (de) Fotografische Kamera mit einer Belichtungssteuervorrichtung
DE1070492B (de)
DE2745329A1 (de) Leuchtdichtemesser
CH392248A (de) Verfahren zum Messen von Beleuchtungsstärken mit Hilfe eines Belichtungsmessers

Legal Events

Date Code Title Description
PL Patent ceased