CH485381A - Legierte GaAs-Lumineszenzdiode - Google Patents

Legierte GaAs-Lumineszenzdiode

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Publication number
CH485381A
CH485381A CH1510867A CH1510867A CH485381A CH 485381 A CH485381 A CH 485381A CH 1510867 A CH1510867 A CH 1510867A CH 1510867 A CH1510867 A CH 1510867A CH 485381 A CH485381 A CH 485381A
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CH
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sep
alloyed
gaas
light emitting
emitting diode
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CH1510867A
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Inventor
Zschauer Karl-Heinz
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Siemens Ag
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    • HELECTRICITY
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Description


      Legierte        GaAs-Lumineszenzdiode       Die Erfindung betrifft eine legierte     GaAs-Lumines-          zenzdiode,    bei der nach dem Patentanspruch des Haupt  patentes der Temperaturkoeffizient . der Strahlungs  intensität im     Zimmertemperaturbereich   
EMI0001.0006  
   zwischen 10  und 20  C weniger als 1  ;'o beträgt und die einen legier  ten     pn-Übergang    an einem     n-Typ-Trägerkristall    auf  weist, wobei die     Legierungspille    aus einem Akzeptoren  bildenden Material A und Zinn im Verhältnis     A:Sn    zwi  schen     10-=    und 10-I besteht.  



  Die hohe Ausbeute und der gleichzeitig geringe  Temperaturkoeffizient konnten damit erklärt werden,  dass die     Lumineszenzstrahlung    einer legierten Diode im  Vergleich zu einer diffundierten merklich langwelliger  ist und deshalb, selbst bei Temperaturerhöhung, d. h.  selbst bei     Verbreiterung    der Energiebänder im zu durch  dringenden Halbleitermaterial, kaum absorbiert wird.  



  Bei der vorliegenden Erfindung wird darüber hin  aus zur Erhöhung der Lichtausbeute noch von der Be  obachtung Gebrauch gemacht, dass die     Luminszenz-          strahlung    von der     Orientierung    des ebenen     pn-Über-          gangs    abhängt (vgl.     Fig.    1). Es hat sich gezeigt, dass die  Intensität bei nach (100) orientiertem     pn-übergang    be  sonders intensiv ist.  



  Weitere Einzelheiten über die Abhängigkeit der     Lu-          mineszenzstrahlung    von der     Orientierung    des     pn-über-          gangs,    sowie über eine geeignete     Legierungsmethode    zur  Herstellung eines gleichmässig ausgebildeten und z. B.  nach (100) orientierten     pn-Übergangs    sind im folgen  den und anhand der     Fig.    1 und 2 näher erläutert.  



  Untersuchungen an legierten     GaAs-Lumineszenz-          dioden    haben ergeben, dass sich die Intensitäten bei       Orientierung    des flächenhaften     pn-übergangs    parallel zu  (100), (111) =     (111)As    und     (111)Ga    etwa wie         I100        =        Iii1    :     11..    -     6:4:    1  verhalten.

   Die Orientierungen (111) und (111) müssen    in der polaren     Zinkblendestruktur    der     AlIBv-Verbin-          dungen,    hier des     GaAs,    unterschieden werden. Die  Richtung von einem All' zu einem     Bv,    hier also von  Ga zu As, entspricht [111] und die     Kristalloberfläche     (111) ist mit Ga besetzt. Die entgegengesetzte Richtung,  hier also von As zu Ga, ist dann [111] und die Kristall  oberfläche (111) ist mit As besetzt. Infolge der Polari  tät der Bindung ergeben sich auch energetische Unter  schiede und damit unterschiedliche spektrale Lagen des       Lumineszenzmaximums    für die verschiedenen Richtun  gen.  



  In     Fig.    1 sind die Ergebnisse veranschaulicht. Über  der Photoenergie     hv    sind für 300  K die relative Inten  sität I der     Lumineszenzstrahlung    und der Absorptions  koeffizient a" des     n-Zonenmaterials    aufgetragen.  



  Man erkennt deutlich, dass die     Lumineszenzstrah-          lung        diffundierter    Dioden, Kurve a,     energiereicher    ist  als die legierter Dioden, Kurve b, und nahe der Ab  sorptionskante, Kurve a", des zu     durchdringenden    Ma  terials der     n-Zone    liegt.  



  Zur Erzeugung gleichmässig ausgebildeter, ebener       pn-Übergänge    der jeweils gewünschten     Orientierung    hat  sich folgendes Verfahren als optimal erwiesen. Nach  dem an sich bekannten     Presspulververfahren    werden  Scheiben einer den     Dotierungsstoff    enthaltenden Legie  rung, hier z. B. einer     (Zn,Sn)-Legierung,    zusammen mit       GaAs    in     Graphitpulver    gepresst.

   Damit gelingt es, das  Zusammenlaufen der Scheiben zu Kugeln (die Legie  rungstemperatur liegt höher als die Schmelztemperatur  der     (Zn,Sn)-Legierung),    so dass keine flächenhafte Be  netzung entstände, zu verhindern und     p-Zonen    mit  einem Durchmesser von einigen mm und einer Dicke  von einigen bis zu etwa 30     pm    herzustellen, die nur am  Rand von Flächen anderer     Indizierung        begrenzt    sind.  Diese Flächen lassen sich jedoch leicht durch Ätzen be  seitigen.

   Das     Einlegieren    selbst erfolgt zweckmässig  nach dem in     Fig.    2 skizzierten     Legierungs-Temperatur-          programm;    über der Zeit ist die Temperatur T aufge  tragen: Zur Erzielung einer gleichmässigen Benetzung      werden die Proben vor dem eigentlichen     Einlegie-          ren    zunächst einige Minuten (ca. 10 Min.) auf  Temperaturen von     350-400'C    gehalten.

   Die Ein  legierung selbst erfolgt dann in einem Temperaturinter  vall zwischen 520 und 600  C; bei zu niedrigen Tempe  raturen ergibt sich oft eine ungleichmässige Auflösung  des     GaAs,    bei höheren Temperaturen entsteht keine     p-          Dotierung    (wahrscheinlich wegen zu starken     Abdamp-          fens    des     p-dotierten    Zn). Um gleichmässig dicke Rück  kristallisationsschichten und damit gleichmässige und  ebene     pn-übergänge    zu erhalten, muss die anschlies-    sende Abkühlung langsam und     gleichmässig,    z. B. inner  halb von ca. 30 Min. bis auf ca. 400  C, erfolgen. Da  nach kann schneller abgekühlt werden.  



  In der     Fig.    3 ist ein     Ausführungsbeispiel    einer     er-          findungsgemässen        GaAs-Lumineszenzdiode    angegeben  und durch die nachfolgende Tabelle erläutert. Die Halb  kugelform für den     n-Typ-GaAs-Kristall    ist deshalb vor  teilhaft, weil so die sonst infolge des hohen Brechungs  index von     GaAs    hohen     Totalreflexionsverluste    an der  Grenzfläche gegen Luft erheblich vermindert werden  können.

    
EMI0002.0020     
  
    <I>Tabelle</I>
<tb>  Nr. <SEP> Teilbezeichnung <SEP> Material <SEP> Dimensionen/mm <SEP> Bemerkungen
<tb>  1 <SEP> Kristall <SEP> GaAs <SEP> n-Typ <SEP> Höhe: <SEP> 1,0 <SEP> Halbkugelform
<tb>  Durchmesser: <SEP> 2,0
<tb>  2 <SEP> Mittelkontakt <SEP> Sn-Zn <SEP> Höhe: <SEP> 0,3 <SEP> Legierung <SEP> zur <SEP> Herstellung
<tb>  (> <SEP> 0,3 <SEP> % <SEP> Zn) <SEP> Durchmesser: <SEP> 0,5 <SEP> des <SEP> p-n-Überganges
<tb>  3 <SEP> Grundplatte <SEP> Mo <SEP> Dicke: <SEP> 0,4 <SEP> vergoldet, <SEP> grosse <SEP> Wärmeleitfähigkeit
<tb>  Innendurchmesser: <SEP> 1,3 <SEP> und <SEP> Ausdehnungskoeffizient
<tb>  Aussendurchmesser: <SEP> 5,0 <SEP> an <SEP> GaAs <SEP> angepasst
<tb>  4 <SEP> Ringkontakt <SEP> Sn-Pt <SEP> Dicke: <SEP> 0,05 <SEP> zur <SEP> Herstellung <SEP> der <SEP> Lötverbindung
<tb>  (1 <SEP>  io <SEP> Pt) <SEP> Innendurchmesser:

   <SEP> 1,2 <SEP> mit <SEP> der <SEP> Grundplatte
<tb>  Aussendurchmesser: <SEP> 2,0
<tb>  5 <SEP> Isolationsring <SEP> Keramik <SEP> mit <SEP> Dicke: <SEP> 1,0 <SEP> Hersteller: <SEP> Frenchtown <SEP> Porcelain
<tb>  Nickelmetallisierung <SEP> Innendurchmesser: <SEP> 1,2
<tb>  Aussendurchmesser: <SEP> 2,2
<tb>  6 <SEP> Lötring <SEP> Sn <SEP> Dicke: <SEP> 0,05 <SEP> zum <SEP> Verlöten <SEP> der <SEP> Grundplatte <SEP> mit
<tb>  Innendurchmesser: <SEP> 1,2 <SEP> dem <SEP> Keramikring <SEP> (metallisiert)
<tb>  Aussendurchmesser: <SEP> 2,2
<tb>  7 <SEP> Kontaktstreifen <SEP> Cu <SEP> Länge: <SEP> 2,5 <SEP> Cu-Netz <SEP> vergoldet
<tb>  Breite: <SEP> 0,5 <SEP> Maschenweite: <SEP> 0,055
<tb>  Drahtstärke: <SEP> 0,035
<tb>  8 <SEP> Deckel <SEP> Ni <SEP> Dicke: <SEP> 0,2 <SEP> vergoldet
<tb>  Durchmesser: <SEP> 2,2
<tb>  9 <SEP> Ausgleichsring <SEP> Ag <SEP> Dicke:

   <SEP> 0,05 <SEP> Ausgleichsstück <SEP> für <SEP> die <SEP> Dicke
<tb>  Innendurchmesser: <SEP> 1,3 <SEP> des <SEP> Kontaktstreifens
<tb>  Aussendurchmesser: <SEP> 2,2       Es sei noch bemerkt, dass anstelle der     (Zn,Sn)-Le-          gierung    auch eine andere     Legierung,    bestehend aus we  nigstens einem Metall der 2. Gruppe des Perioden  systems anstelle des Zn, und wenigstens einem Element  der 4.     Gruppe    anstelle des     Sn,    verwendet werden kann.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH Legierte GaAs-Lumineszenzdiode nach dem Patent anspruch des Hauptpatentes, dadurch gekennzeichnet, dass der pn-übergang eben und parallel zu einer (100)- Kristallfläche orientiert ist.
CH1510867A 1966-02-24 1967-10-27 Legierte GaAs-Lumineszenzdiode CH485381A (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1966S0102202 DE1258980B (de) 1966-02-24 1966-02-24 A B-Lumineszenzdiode í¬insbesondere GaAs-Lumineszenzdiode-mit geringem Temperaturkoeffizienten und hoher Lichtausbeute
DES0106810 1966-10-31
CH259867A CH471520A (de) 1966-02-24 1967-02-22 AIIIBv-Lumineszenzdiode, deren Temperaturkoeffizient dJ/dT der Strahlungsintensität im Zimmertemperaturbereich zwischen 10º und 20º C weniger als 1% beträgt

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CH485381A true CH485381A (de) 1970-01-31

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ID=27173796

Family Applications (1)

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CH1510867A CH485381A (de) 1966-02-24 1967-10-27 Legierte GaAs-Lumineszenzdiode

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