CH427269A - Verfahren zur Herstellung eines Harzes des Novolak-Typs - Google Patents

Verfahren zur Herstellung eines Harzes des Novolak-Typs

Info

Publication number
CH427269A
CH427269A CH1415160A CH1415160A CH427269A CH 427269 A CH427269 A CH 427269A CH 1415160 A CH1415160 A CH 1415160A CH 1415160 A CH1415160 A CH 1415160A CH 427269 A CH427269 A CH 427269A
Authority
CH
Switzerland
Prior art keywords
time standard
standard according
dependent
detector
cells
Prior art date
Application number
CH1415160A
Other languages
English (en)
Inventor
Dijkstra Rinse
Original Assignee
Philips Nv
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Nv filed Critical Philips Nv
Publication of CH427269A publication Critical patent/CH427269A/de

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G8/00Condensation polymers of aldehydes or ketones with phenols only
    • C08G8/28Chemically modified polycondensates
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G8/00Condensation polymers of aldehydes or ketones with phenols only
    • C08G8/04Condensation polymers of aldehydes or ketones with phenols only of aldehydes
    • C08G8/08Condensation polymers of aldehydes or ketones with phenols only of aldehydes of formaldehyde, e.g. of formaldehyde formed in situ
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G8/00Condensation polymers of aldehydes or ketones with phenols only
    • C08G8/04Condensation polymers of aldehydes or ketones with phenols only of aldehydes
    • C08G8/08Condensation polymers of aldehydes or ketones with phenols only of aldehydes of formaldehyde, e.g. of formaldehyde formed in situ
    • C08G8/10Condensation polymers of aldehydes or ketones with phenols only of aldehydes of formaldehyde, e.g. of formaldehyde formed in situ with phenol

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Phenolic Resins Or Amino Resins (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Description


  
 



  Radioaktives Zeitnormal
Die Erfindung betrifft ein radioaktives Zeitnormal mit einer radioaktiven Strahlenquelle und einem Festkörperdetektor.



   Das Ziel der Erfindung liegt in der Schaffung eines radioaktiven Zeitnormals, welches die nachfolgenden Erfordernisse erfüllt: - Die radioaktive Strahlung soll im wesentlichen mono energetisch sein, damit Schwankungen der Ansprech schwelle der Detektormittel keine Verminderung der
Präzision des Zeitnormals herbeiführen.



  - Die Strahlung soll ein geringes Durchdringungsver mögen aufweisen, damit sich die Abschirmprobleme auch bei Zeitmessgeräten kleiner Abmessungen mei stern lassen.



  - Die radioaktiven Strahlen sollen nach Möglichkeit unter einem rechten Winkel auf den Festkörper detektor auftreffen, so dass eine unerwünschte Streu ung der Energieverteilung verhindert wird.



   Beim Zeitnormal nach der Erfindung ist diese Aufgabe dadurch gelöst worden, dass die Strahlenquelle als flächige Anordnung diskreter Inseln eines Alpha-Teilchen emittierenden Isotops mit einer langen Halbwertszeit ausgebildet ist.



   Im folgenden sind unter Hinweis auf die Zeichnung mehrere Ausführungsbeispiele des Erfindungsgegenstandes beschrieben. Auf der Zeichnung stellen dar:
Fig. 1 einen schematisch gehaltenen Schnitt einer ausserhalb des Erfindungsgedankens liegenden Anordnung mit einer einzigen Schicht radioaktiven Materials und einem Detektor, wobei zwischen beiden eine mit Öffnungen versehene Maske angeordnet ist,
Fig. 2 eine gegenüber der Fig. 1 vergrösserte Einzelheit der Vorrrichtung nach Fig. 1 zwecks Veranschaulichung ihrer Wirkungsweise,
Fig. 3 einen Teilschnitt durch ein radioaktives Zeitnormal nach der Erfindung,
Fig. 4 eine Einzelheit des Zeitnormals nach Fig. 3 zur Veranschaulichung der Wirkungsweise,
Fig. 5 in auseinandergezogener Perspektivansicht eine Anordnung der in Fig. 3 gezeigten Art,
Fig. 6 eine modifizierte Ausführungsform des erfindungsgemässen Zeitnormals im Schnitt,
Fig.

   7 eine Aufsicht auf eine vielzellige Festkörper Strahlendetektor-Anordnung,
Fig. 8 das Schaltschema einer einzigen Zelle und eines zugeordneten   A usgangsstromkreises,   
Fig. 9 das Schaltschema des elektrischen Stromkreises der vielzelligen Detektor-Anordnung,
Fig. 10 eine Aufsicht auf einen Mikrostromkreis für einen   vlelzelligen    Strahlendetektor und
Fig. 11 einen Schnitt nach der Linie 11-11 der Fig.   10.   



   Zum besseren Verständnis der Erfindung sollen zunächst die Anforderungen an ein Alpha-Teilchen emittierendes, radioaktives Isotop näher erläutert werden.



  Obschon im Handel zahlreiche Radioisotope mit natürlicher Alpha-Strahlung erhältlich sind, eignen sich unter diesen viele deshalb nicht, weil ihre Halbwertzeiten nicht den Werten genügen, welche für ein Zeitnormal erforderlich sind. Dies ist in der nicht vorveröffentlichten schweizerischen Patentschrift 512771 detailliert ausgeführt.

   Die folgenden Radioisotope eignen sich zusätzlich zu den in der genannten Patentschrift aufgeführten Substanzen   fiir    den angegebenen Zweck:
Radioisotop Halbwertzeit (lahre)
Plutonium - 239 2.436 X   104   
Uran - 238 4.51 X   109   
Uran - 235 7.1 X   108   
Neptunium - 237 2.2   x      10"   
Wie aus der Darstellung gemäss Fig. 1 entnommen werden kann, wird eine Schicht 10 des ausgewählten   Radioisotops auf cinc Platte 11 aufgebracht, für welche sich Platin oder Aluminium als Werkstoff eignet. Es kann auch jeder andere Werkstoff Verwendung finden welcher eine ausreichende mechanische Stütze bildet und vorzugsweise auch Abschirmeigenschaften aufweist.



  Um die Streuung der Energieverteilung auf einem Minimum zu halten, wird die Schicht so dünn und so gleichförmig wie möglich aufgetragen. Das radioaktive Material kann in einer sehr dünnen Lösung auf die Platte aufgebracht werden. Nach dem Trocknen der Lösung haftet der resultierende Film an der Platte.



   Als Detektor 12, welcher die von der Schicht 1 emittierenden Alpha-Teilchen aufzufangen hat, kann ein handelsüblicher Festkörperdetektor mit einer Oberflächensperrschicht oder mit einer diffundierten Flächenschicht Verwendung finden. Eine Maske 13 liegt zwischen einer einzigen, kontinuierlichen, radioaktiven   Schicht 1 () und dem Detektor 12. Die Maske 13 hat    Öffnungen   13A,    13B, 13C usw., welche zueinander parallel Kanäle gleichen Querschnittes für die Ausstrahlungen bilden. Eine solche Anordnung liegt nicht im Rahmen der vorliegenden Erfindung, sie ist nur zum Zwecke einer Erläuterung der Erfindung dargestellt.



   Die Fig. 2 veranschaulicht die Bahnen der unter verschiedenen Winkeln von verschiedenen Punkten der Quelle 10 emittierenden Teilchen, welche zu der Oberfläche des Detektors 12 hin wandern. Die Bahn   P1    liegt senkrecht zu der Oberfläche des Detektors 12. Dies ist der kürzeste und direkteste Weg. er schafft eine maximale Energie. Der Auftreffwinkel der Bahn   P    ist ein solcher, dass die Bahn durch die obere Kante der Maske hindurchgeht, so dass durch diese etwas Energie absorbiert wird, während die restliche Energie der Teilchen, die den Detektor erreichen, reduziert wird.



  Die Bahn   P: <     schneidet die untere Kante der Maske, die Energie wird hier in einem noch viel grösseren   Masse reduziert. Auch die Bahnen P1, P, und P; ; durch-    dringen verschiedene Dicken des Festkörpers der Maske, so dass ihre Energie durch Absorption mehr oder weniger reduziert wird.



   Es kann also festgehalten werden, dass nur die Teilchen in der Bahn P1 im Detektor einen verhältnismässig grossen Ausgangsimpuls erzeugen, während die Teilchen der anderen Bahnen Impulse hervorrufen, welche unterschiedliche Amplituden aufweisen. Weil nun die Alpha-Teilchen emittierende Quelle nahezu monoenergetisch ist, wird der Detektor so reagieren, als ob die Quelle eine gestreute Energieverteilung aufweisen würde, was für ein Zeitnormal unerwünscht ist.



   In den Fig. 3 und 4 ist nun schematisch ein Zeitnormal   nach    der Erfindung dargestellt, bei welchem die beschriebenen Nachteile nicht auftreten. Das Zeitnormal umfasst eine Platte 11, auf welcher in einer ebenen Anordnung dünne Inseln 14A, 14B, 14C usw. eines Radioisotops angeordnet sind, welches Alpha-Teilchen emittiert. Zwischen dieser radioaktiven Quelle und der Oberfläche des Festkörper-Strahlendetektors 12 ist eine Maske 13 angeordnet. Diese Maske besitzt einen oberen Teil I und einen unteren Teil II, um so eine komplementäre Anordnung von Öffnungen 15A, 15B, 15C usw. zu bilden. Jede Insel 14A, 14B usw. ist in bezug auf die ihr zugeordnete Öffnung zentriert. Der obere Bereich jeder Öffnung besitzt einen verhältnismässig grossen und gleichförmigen Querschnitt, welcher gleich gross oder grösser als der Durchmesser der Insel ist.

   Der untere Bereich der Öffnung wird durch den unteren Teil 11 gebildet, er weist an seiner oberen Seite einen kleineren Durchmesser auf, welcher vorzugsweise gleich oder etwas grösser als der Durchmesser der zugeordneten Insel ist. Die untere Seite der Öffnung ist abgeschrägt, um so eine V-förmige Mündung mit wachsendem Querschnitt zu schaffen.



   Die bevorzugte Geometrie der Maske 13 verhindert   Energieverluste,    welche beim Durchdringen einer Öffnungskante nahe einer radioaktiven Insel auftreten könnten. Aus Fig. 4 ist erkennbar, dass die Bahnen Pa, Pb und Pc senkrecht zur Detektoroberfläche verlaufen und nicht durch die Maske behindert sind. Die Bahnen Pd und Pe,   welche    sehr kleine Auftreffwinkel aufweisen, werden durch den oberen Teil I der Maske aufgefangen und dadurch vollständig absorbiert.



   Wegen der abgeschrägten unteren Kanten der Öffnungen gehen die Bahnen Pf, Pg und Ph, welche zur Oberfläche des Detektors nicht senkrecht liegen, mit dieser jedoch einen grossen Auftreffwinkel einschliessen, unmittelbar in die Dctektoroberfläche, ohne dass sie eine Öffnungskante durchdringen; sie werden folglich auch nicht abgeschwächt. Eine Eliminierung der detektorseitigen Öffnungskante durch eine abgerundete Formgebung derselben bewirkt eine Verringerung der Anzahl der Teilchen, die durch das Maskenmaterial in ihrer Energie abgebaut werden können.



   Die mit Öffnungen versehene Maske 13 verhindert, dass Teilchen von irgendeiner Insel in den benachbarten Bereich der Detektoroberfläche unter einem kleinen Auftreffwinkel einfallen können. Die Maske sorgt also dafür, dass der tatsächliche Auftreffwinkel einen bestimmten Wert nicht unterschreitet. Die Geometrie der Öffnungen in der Maske ist so, dass sowohl die Kantenwirkungen auf ein Minimum   hcrabgesetzt    wie auch Luftspaltverluste reduziert werden.



   In Fig. 5 ist eine Ausführungsform eines erfindungsgemässen Zeitnormals dargestellt, wie sie in der Praxis Verwendung finden kann. Die Platte 11 für die radioaktive Quelle ist eine dünne Scheibe aus geeignetem Abschirmmaterial, auf welcher dünne, kreisförmige Inseln   l4A,      1AB    usw. eines radioaktiven Materials in   gleichiörmiger    Ordnung und gleichen gegenseitigen Abständen aufgebracht sind. Das aufgebrachte radioaktive Material emittiert Alphateilchen.



   Die Maske   1 3    umfasst eine obere, kreisförmige Platte I mit relativ grossen Öffnungen einer mit den Inseln komplementären Form und Anordnung. Der Durchmesser dieser Platte I ist gleich dem Durchmesser der Platte 11. Eine untere Platte II ist mit kleineren Öffnungen in entsprechender Anordnung versehen, deren untere Seite V-förmig gestaltet ist, wie dies in Verbindung mit Fig. 3 beschrieben worden ist. Unterhalb dieser unteren Platte 11 ist ein scheibenförmiger Fcstkörper-Strahlendetektor   1 2    angeordnet.



   Wenn die vier Platten sandwichartig aufeinandergelegt sind, erhält man dadurch ein in hohem Masse kompaktes und leistungsfähiges Zeitnormal, welches so in ein kleines Zeitmessgerät, wie z. B. eine Armbanduhr, eingebracht werden kann. Die Geometrie der Maske ist dabei derartig, dass die Strahlen auf die Detektoroberfläche nahezu senkrecht auftreffen und dass weiterhin verhindert wird, dass Teilchen von irgendeiner der Inseln auf einen benachbarten Bereich der Detektoroberfläche auftreffen, welcher einer anderen Insel zugeordnet ist. Vorzugsweise ist der Durchmesser jeder Insel oder der Durchmesser des eine nicht kreisförmige Insel einhüllenden Kreises nicht grösser als der doppelte Abstand zwischen der Oberfläche der Insel und der   Ebene des Detektors. Der Durchmesser jeder Masken öffnung ist nicht kleiner als der Durchmesser der Insel oder des diese umhüllenden Kreises.



   Bei den bekannten Festkörper-Strahlendetektoren wird ein elektrisches Feld quer über eine Region niedriger Leitfähigkeit aufgebaut, welche die Ladungs Depletionsschicht bei einer umgekehrt vorgespannten Diode ist. Wenn nun ein geladenes Teilchen das Halb  leitermedium    durchquert, werden in diesem paarweise Elektronenlöcher erzeugt. Diese Ladungen werden durch das elektrische Feld getrennt. Das resultierende elektrische Signal kann einem Messsystem übermittelt werden, um so hinsichtlich der festgestellten Teilchen eine auswertbare Information zu erhalten.



   Die bekannten Festkörper-Detektoren weisen als Hauptnachteil eine insbesondere gegenüber Teilchen geringer Energie sehr niedrige Ansprechbarkeit oder Empfindlichkeit auf, denn solche Teilchen werden mit einer hohen Wahrscheinlichkeit absorbiert, bevor sie die Depletionsschicht erreichen, und selbst dann, wenn ein Ladungspaar in dieser Schicht erzeugt wird, ist der Quantenwirkungsgrad auf ein Paar je Teilchen begrenzt, ohne dass die Möglichkeit einer Vervielfachung gegeben ist, wie in Geiger-Müller-Zählrohren und Proportionalitätszählern.



   Die geringe Empfindlichkeit bedingt im Falle der Detektoren 12 der vorbeschriebenen Figuren eine Verstärkung mit einem hohen Verstärkungsfaktor. Das Ausgangssignal der bekannten Festkörper-Strahlendetektoren liegt jedoch im Millivolt-Bereich und ist in seiner Amplitude nicht viel ausgeprägter als das Geräuschniveau der ihnen zugeordneten elektronischen Verstärkungsstromkreise, die zum Anheben des Signals auf ein Niveau dienen, das sich für eine Messung und eine Analyse eignet. Dieses Geräusch kann Störsignale auslösen, welche als solche von den Strahlensignalen nicht unterschieden werden können, wodurch wiederum die Empfindlichkeit und das Energieauflösevermögen des Detektorsystems ungünstig beeinflusst werden.



   Die in den Fig. 7 bis 11 gezeigten Ausführungsformen besitzen eine vielzellige Festkörper-Strahlendetektor-Anordnung, welche in Abhängigkeit von den auftreffenden Strahlen äusserst kräftige Signale erzeugen.



  Der Detektor kann aus einer Anzahl einzelner strahlenempfindlicher Halbleiterzellen mit einer Oberflächensperrschicht oder mit einer diffundierten Schicht aufgebaut sein, wobei jede Einzelzelle eine kleine Fläche und eine niedrige Innenkapazität aufweist.



   Die Zellen sind parallel geschaltet, im übrigen sind sie gegeneinander elektrisch isoliert angeordnet, wodurch die Gesamtkapazität der Anordnung niedrig gehalten werden kann, während der Detektions-Wirkungsgrad dieser Anordnung im wesentlichen einem einheitlichen Strahlendetektor gleich ist, dessen Oberfläche den addierten Flächen der Einzelzellen entspricht. Der Signalausgang des vielzelligen Detektors ist jedoch weit grösser als derjenige eines einzelnen Detektors.



   In der Anordnung gemäss Fig. 6 ist der vielzellige Festkörper-Strahlendetektor mit einer Anordnung radioaktiver Inseln   14A,    14B usw. kombiniert. Zugeordnet ist auch eine mit Öffnungen versehene Maske 13 der in Fig. 3 gezeigten Art. Der vielzellige Detektor setzt sich zusammen aus einer Anordnung kleiner Strahlendetektorzellen 16A, 16B usw., deren Durchmesser im wesentlichen denjenigen der radioaktiven Inseln entspricht und welche zu diesen deckungsleich angeordnet sind.



   Die Zellen 16A, 16B usw. sind je mit einer Diode 17A,   1 7B    usw. in Reihe geschaltet. Diese Serienschaltungen liegen zueinander parallel, wodurch die Gesamtkapazität der Anordnung der Zellen klein gehalten werden kann. Die parallel geschalteten Detektorzellen werden in der Praxis an einen Ausgangsstromkreis angeschlossen, der eine entgegengesetzte Vorspannung an die Zellen legt.



   Ionisationskammern und Festkörper-Strahlendetektoren mit einer Oberflächen-Sperrschicht oder einer diffundierten Schicht unterscheiden sich im wesentlichen in der Natur des strahlenempfindlichen Volumens. Die Kammer macht Gebrauch von einem gasförmigen Medium, während Festkörperdetektoren ein festes Halbleitermedium besitzen. In beiden Fällen werden aufgeladene Ionen und diesen zugeordnete freie Elektronen durch die auf den Detektor auftreffenden Strahlen freigesetzt. Durch ein angelegtes elektrisches Feld werden sie dann aus der Ionisationszone herausgelenkt. Die Bewegung dieser Ladungen stellt einen im Detektor fliessenden elektrischen Strom dar, welcher sich im äusseren Stromkreis als Strom- oder Spannungsimpuls äussert.



   Eine Ionisationskammer mit einer Wandelektrode und mit einer von dieser durch ein dielektrisches und gasförmiges Medium getrennt angeordneten zentralen Elektrode kann als ein Kondensator angesehen werden.



  Die Grösse der durch die Kammer erzeugten Spannungsimpulse   1    Vo kann mit der folgenden Gleichung errechnet werden:    C (1)    wobei   Q    die Menge der durch das ionisierende Teilchen freigesetzten Ladung und C die Kapazität des Ionisationskammer-Strahlendetektors ist.



   Zum Errechnen der Kapazität einer grossen Anzahl geometrischer Formen der Leitoberflächen, wie beispielsweise von Kugeln und Zylindern, die entweder   konzentrisch    oder sonstwie angeordnet sind, stehen Gleichungen zur Verfügung. Die Kapazität eines üblichen Kondensators aus zwei oder mehr parallel eng nebeneinander angeordneten Leiterplatten grosser Fläche errechnet sich wie folgt:
KS
C   =    0.0885 x (2) wobei:
C = Kapazität in   tt,,   
K   =    dielektrische Konstante (Luft = 1),
S = Fläche einer Platte in cm2, t = Abstand der Platten in cm.



   Wenn gleich eine Ionisationskammer streng genommen nicht unter diese Gleichung fällt, ist ihre Kapazität doch direkt proportional der Elektrodenfläche der Kammer und umgekehrt proportional dem Abstand zwischen den Elektroden. Für Festkörperdetektoren kommt die Geometrie derjenigen solcher paralleler Leiterplatten näher, so dass die Gleichung (2) auf solche Detektoren unmittelbarer anwendbar ist.



   Für einen Flächen- oder Sperrschicht-Detektor ist dieser Abstand zwischen den Platten eine Funktion der   Depletionsschicht. Die Dicke dieser Schicht ist proportional der Quadratwurzel des Widerstandes des Halbleitermaterials und der Quadratwurzel der Grösse der angelegten Vorspannung. Es kann damit dieser Abstand in geringem Masse durch Veränderung der Grösse der angelegten Gegenspannung gesteuert werden. Der in dieser Weise bewirkten Kapazitätsänderung sind jedoch in der Praxis Grenzen gesetzt.



   Wie sich aus der Gleichung (1) ergibt, ist bei kleinerer Kapazität des Festkörperdetektors für eine vorgegebene Ladungsmenge die Ausgangsspannung grösser.



  Anderseits ist bei einer grösseren Oberfläche die Kapazität grösser und demzufolge die Ausgangsspannung kleiner. Eine grosse Oberfläche ist im Hinblick auf den Detektions-Wirkungsgrad vorteilhaft, denn es wird dadurch eine grosse Fläche des Halbleiters den auftreffenden Strahlen ausgesetzt.



   Der Festkörper-Detektor nach Fig. 7 setzt sich aus einer planparallelen Anordnung identischer, quadratischer Zellen 10 zusammen, von welchen zum Zwecke der Veranschaulichung insgesamt nur vierundsechzig Zellen gezeigt sind, welche in acht parallelen Reihen zu je acht Zellen angeordnet sind. Jede Zelle 10 weist ein einzelnes strahlenempfindliches Festkörperelement auf.



  Diese Zelle kann ein Halbleiterelement mit einer P-N Schicht sein (Fig. 8), die an einem äusseren Stromkreis angeschlossen ist, welcher mittels einer Batterie B oder einer anderen Gleichstromquelle eine in bezug auf die P-N-Schicht umgekehrte Vorspannung an die Zelle legt.



  Die schematisch durch Pfeile dargestellte, auftreffende Strahlung fällt auf die N-Fläche. Der quer über die P-N-Fläche erzeugte Stromimpuls fliesst durch einen Ladungswiderstand R und erzeugt ein Ausgangssignal.



   Während die P-N-Fläche auf vielerlei Arten hergestellt werden kann, wurde gefunden, dass es für das Erreichen eines hohen Auflösungsvermögens der auf die auftreffenden Strahlen zurückzuführenden Stromimpulse besonders vorteilhaft ist, eine P-N-Fläche zu bilden, deren Depletionsbereich sich innerhalb 1 die N-Fläche bis zu wenigstens einer Tiefe erstreckt, die gleich dem Durchdringungsbereich der auftreffenden Teilchen in dem Halbleiterkristall ist. Zur Herstellung dieser bevorzugten Ausführungsform einer Fläche findet ein P-Silizium-Material mit einem hohen Widerstand Verwendung, der in der Grössenordnung von 1000 Ohm - cm und höher liegen kann. Eine N-gedopte Region wird dadurch gebildet, dass man Phosphor in den Kristall diffundiert, Phosphor ist ein N-Fremdstoff.



  Ein angereicherter N-Bereich wird in dem Kristall vorzugsweise in der Schichtstärke 1   llm    erzeugt. Eine detaillierte Beschreibung der Herstellung solcher Festkörperdetektoren ist in der Zeitschrift  Nucleonics , Februar 1960, Band 18, Nr. 2 in dem Aufsatz  Tiny Semiconductor Is Fast Linear Detector  zu finden.



   Jede Zelle 10 in der Anordnung eines solchen Detektors Ist sehr klein und weist eine sehr geringe Innenkapazität auf. Um einen vielzelligen Detektor von hoher Widerstandsfähigkeit zu erzeugen, sind die Zellen 10, von welchen in Fig. 9 nur fünf gezeigt sind, parallel geschaltet. Eine Diode 11 ist in Reihe mit jeder Zelle geschaltet.



   Die aus Zellen 10 und Dioden 11 bestehende Parallelschaltung ist mit dem Ausgangswiderstand R in Reihe geschaltet, so dass der resultierende Ausgangsimpuls das Sammelergebnis des durch alle Zellen der Anordnung in Abhängigkeit von den auftreffenden Strahlen fliessenden Stromes ist. Jede Zelle ist jedoch gegenüber der anderen Zelle elektrisch isoliert, denn der Weg zwischen zwei beliebig benachbarten Zellen wird durch zwei in Reihe und gegeneinander geschaltete Dioden gebildet. Die Gesamtkapazität der Anordnung paralleler Zellen ist demzufolge nicht ein Vielfaches der Kapazitäten der einzelnen Zellen, sie kommt vielmehr dem Wert einer einzigen Zelle nahe.



   Die resultierende Spannungserhöhung des Strahlendetektor-Signals wird für die durch den vielzelligen   Detektor erzeugte Spannung 1 Vr durch folgende Glei-    chung erfasst:    dV1=-Q = Q¯Q¯ =n.iVo (3)   
Co   -    C/n wobei:
C Kapazität eines einzelligen Standard-Festkörperdetektors, dessen wirksame Oberfläche gleich den addierten Oberflächen der Zellen des vielzelligen Strahlendetektors ist,
Co Kapazität einer Einzelzelle, n - Anzahl der Zellen.



   Aus der vorstehenden Gleichung (3) ist erkennbar, dass die Spannung am Ausgang eines vielzelligen Strahlendetektors weit grösser ist als die Spannung, die durch einen einzelligen Standard-Festkörperdetektor derselben wirksamen Oberfläche erzeugt wird. Der Gesamt-Wirkungsgrad des vielzelligen Detektors ist trotzdem so gut wie derjenige eines einzelligen Detektors, weil die der auftreffenden Strahlung ausgesetzte Fläche gross ist.



   Weist daher ein einzelliger Festkörperdetektor eine Oberfläche von beispielsweise 0,5   cm'auf,    dann kann man unter Verwendung bekannter Mikrostromkreise ohne Schwierigkeit eine vielzellige Detektoranordnung mit im wesentlichen der gleichen Netzfläche herstellen, bei welcher n in der Grössenordnung von 1000 liegt.



  Ohne Verwendung eines Verstärkers kann deshalb eine   l00üfacl'.e    Anhebung der Signalspannung erreicht werden. Ein weiterer   Vortcil    ist darin zu sehen, dass das in dem Detektor erzeugte Volumengeräusch nicht mit dem Signal verstärkt wird, so dass ein enorm verbessertes Verhältnis von Signal zu Geräusch erhalten wird.



   Es ist ohne weiteres erkennbar, dass man in mannigfacher Weise Mikrostromkreise für eine Anordnung aus einem vielzelligen Detektor mit den Zellen verbundene Sperrdiode herstellen kann. Vorzugsweise sollte eine solche Schaltung gewählt werden, bei welcher die Sperroder Isolationsdioden gegen die auftreffende Strahlung abgeschirmt sind, und zwar entweder mittels einer geeigneten Maske oder mittels einer gecigneten Montage im Detektorgehäuse.



   In den Fig.   10    und 11 ist eine bevorzugte Ausführungsform eines Mikrostromkreises dargestellt, bei welcher eine planparallele Anordnung strahlenempfindlicher Halbleiterzellen 10 mit Isolationsdioden kombiniert ist, um eine Strahlendetektoranordnung der in Fig. 3 schematisch gezeigten Art zu bilden. Zwecks Herstellung eines derartigen Detektors, wird ein N-Dopmittel mittels einer geeigneten Maske in eine P-Siliziumscheibe mit einem hohen Widerstand eindiffundiert, um so die erwünschte Geometrie der Detektorzelle zu erzeugen.



  Die in Fig. 11 gestrichelt eingezeichnete Depletionsregion D oder der empfindliche Bereich der einzelnen Zellen wird in einer P-Unterlage erzeugt. Der Abstand zwischen den Zellen ist ein solcher, dass sich benachbarte Depletionsregionen wechselseitig nicht überlap  pen. Ein kleinerer P-Bereich, welcher die Isolationsdiode 11 bildet, wird dann in das N-Material eindiffundiert. Der N-Bereich dient deshalb für die Strahlendetektorzelle 10 und die Isolationsdiode 11 als gemeinsames Flächenmaterial.



   Schliesslich wird eine Schutzoxydschicht 12 auf die gesamte Oberfläche dieses Gefüges aufgebracht. Die Stärke der Oxydschicht wird ausreichend dünn gehalten, um eine vernachlässigbar kleine Absorption der auftreffenden Strahlen zu bewirken. Ein metallischer Kontakt 13 durchdringt die Oxydschicht und ragt bis in den P-Bereich der Isolationsdiode. Der Kontaktkopf ist breit gehalten, um die unter ihm liegende Isolationsdiode gegen Strahlung abzuschirmen.



   Die Erfindung ist nicht beschränkt auf die Anwendung von Strahlung nuklearen Ursprunges. Es kann auch ein lichtempfindlicher   Festkörper-Strahlendetektol    benützt werden. Dank seiner spannungserhöhenden Eigenschaften ist der vielzellige Festkörper-Strahlendetektor den bekannten einzelligen Detektoren für die Erfassung von Lichtimpulsen eines Szintillators überlegen.   

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH Radioaktives Zeitnormal mit einer radioaktiven Strahlenquelle und einem Festkörperdetektor, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlenquelle als flächige Anordnung diskreter Inseln eines Alpha-Teilchen emittierenden Isotops mit einer langen Halbwertszeit ausgebildet ist.
    UNTERANSPRÜCHE 1. Zeitnormal nach Patentanspruch, gekennzeichnet durch eine den diskreten Inseln der Strahlenquelle gegenüberliegende, zu diesen komplementäre Anordnung von den Festkörperdetektor bildenden, auf Alpha Teilchen ansprechenden Halbleiterzellen, von denen jede eine verhältnismässig kleine Oberfläche und eine niedrige Innenkapazität aufweist.
    2. Zeitnormal nach Unteranspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die strahlenempfindlichen Oberflächen der Detektorzellen unter sich und zu den genannten Inseln der Strahlenquelle parallel liegen, dass zwischen der Strahlenquelle und dem Festkörperdetektor eine Maske mit einer komplementären Anordnung von Öffnungen angeordnet ist, deren Geometrie eine solche ist, dass einerseits auf die Detektoroberfläche nur Strahlen auftreffen können, deren Einfallswinkel mindestens nahezu senkrecht ist, und dass anderseits jeweils Strahlen von einer bestimmten Insel der Strahlenquelle nicht auf eine benachbarte Halbleiterzelle, die einer anderen Insel zugeordnet ist, fallen können.
    3. Zeitnormal nach Unteranspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Inseln der Strahlenquelle auf einer Platte aufgebracht sind, welche schützende Abschirmeigenschaften aufweist.
    4. Zeitnormal nach Unteranspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Platte eine Metallscheibe ist und dass die Maske aus wenigstens einer kreisförmigen Platte mit einem dem Durchmesser dieser Scheibe entsprechenden Durchmesser besteht, wobei der Detektor dieselbe Form hat.
    5. Zeitnormal nach Unteranspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Maske aus zwei kreisförmigen Platten besteht, von welchen die eine mit einen ersten Bereich bestimmenden Öffnungen und die zweite mit einen zweiten Bereich bestimmenden Öffnungen versehen ist.
    6. Zeitnormal nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass jede der Inseln aus einem dünnen Film radioaktiven Materials besteht.
    7. Zeitnormal nach Unteranspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass jede Öffnung der Maske sich aus einem ersten, der zugeordneten Insel benachbarten Bereich relativ grossen Querschnittes und einem zweiten, der Detektoroberfläche benachbarten Bereich verringerten Querschnitts zusammensetzt.
    8. Zeitnormal nach Unteranspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass der zweite Bereich jeder Öffnung in Richtung auf die Detektoroberfläche V-förmig erweitert ist.
    9. Zeitnormal nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass das Radioisotop Uran-238, Uran235, Neptunium-237 oder Plutonium-239 ist.
    1 (). Zeitnormal nach Unteranspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Halbleiterzellen in einer Richtung miteinander parallel geschaltet sind.
    11. Zeitnormal nach Unteranspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Zellen über Dioden parallel geschaltet sind und dass an die Zellen eine Gegen Vorspannung angelegt ist.
    12. Zeitnormal nach Unteranspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Durchmesser eines Hüllkreises der Inseln nicht grösser ist als der doppelte Abstand zwischen der Oberfläche dieser Inseln und der Ebene des Detektors und dass der Durchmesser jeder der Öffnungen der Maske nicht kleiner ist als der Durchmesser dieses Hüllkreises.
    13. Zeitnormal nach einem der Unteransprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass zwecks Tiefhaltung der Netzkapazität der Zellenanordnung und zwecks Erzeugung einer hohen Ausgangsspannung des Festkörperdetektors jede Zelle mit einem nur in einer Richtung leitenden Stromkreiselement in Reihe geschaltet ist und dass diese Reihenstromkreise zueinander parallel liegen und mit einem Ausgangsstromkreis gekoppelt sind, der an die Zellen eine Gegen-Vorspannung legt.
    14. Zeitnormal nach Unteranspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Zellen solche mit einer Oberflächen-Sperrschicht sind.
    15. Zeitnormal nach Unteranspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Zellen solche mit einer diffundierten Fläche sind.
    16. Zeitnormal nach Unteranspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Zellen in einer planparallelen Anordnung angeordnet sind und einen Detektions-Wirkungsgrad aufweisen, welcher im wesentlichen gleich demjenigen eines einzelnen Detektors aus demselben Material ist, dessen Oberfläche den addierten Oberflächen der Zellen äquivalent ist.
    17. Zeitnormal nach Unteranspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass die nur in einer Richtung leitenden Elemente N-P-Dioden sind.
    18. Zeitnormal nach Unteranspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Zellen der Strahlung ausgesetzt, wogegen die nur in einer Richtung leitenden Elemente gegen die Strahlung abgeschirmt sind.
    19. Zeitnormal nach Unteranspruch 13, gekennzeichnet durch einen Mikrostromkreis für den Festkörperdetektor, wobei dieser Mikrostromkreis eine P-Basisschicht, eine Anordnung verhältnismässig kleiner N-Bereiche, welche in diese Basisschicht eindiffundiert sind, um mit dieser eine Vielzahl strahlenempfindlicher Halb leiterzelien mit eigenen Depletionsregionen zu bilden, und ferner noch kleinere P-Bereiche aufweist, die in die N-Bereiche zur Bildung von je einer Diode eindiffundiert sind, wobei der N-Bereich jeweils als eine gemeinsame Fläche für die Zelle und die Diode dient.
    20. Zeitnormal nach Unteranspruch 19, dadurch gekennzeichnet, dass die P-Basisschicht eine Silizium Scheibe ist.
    21. Zeitnormal nach Unteranspruch 19, dadurch gekennzeichnet, dass die Oberfläche des Mikrostromkreises mit einer schützenden Oxydschicht beschichtet ist.
    22. Zeitnormal nach Unteranspruch 19, gekennzeichnet durch einen die Oxydschicht durchdringenden und mit dem P-Bereich in Berührung stehenden Klemmkontakt, der mit einem verbreiterten Kopf zur Abschirmung dieses Bereiches versehen ist.
    23. Zeitnormal nach Unteranspruch 13, gekennzeichnet durch eine N-Basisschicht, eine Anordnung verhältnismässig kleiner und in diese Basisschicht zur Bildung einer Vielzahl strahlenempfindlicher Halbleiter zellen - diffundierter P-Bereiche mit diesen zugeordneten, einzelnen Depletionsregionen und ferner noch kleinere N-Bereiche, die in die P-Bereiche zur Bildung von je einer Diode eindiffundiert sind, wobei der P-Bereich jeweils als eine gemeinsame Fläche für die Zelle und die Diode dient.
CH1415160A 1959-12-21 1960-12-19 Verfahren zur Herstellung eines Harzes des Novolak-Typs CH427269A (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL246663 1959-12-21

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CH427269A true CH427269A (de) 1966-12-31

Family

ID=19752098

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CH1415160A CH427269A (de) 1959-12-21 1960-12-19 Verfahren zur Herstellung eines Harzes des Novolak-Typs

Country Status (4)

Country Link
CH (1) CH427269A (de)
DE (1) DE1197622B (de)
GB (1) GB973712A (de)
SE (1) SE300707B (de)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4468507A (en) * 1983-11-21 1984-08-28 The Dow Chemical Company Method of limiting rate of heat evolution during acid-catalyzed phenol/polymethylolphenol condensations

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE897160C (de) * 1943-01-24 1953-11-19 Bakelite Ges M B H Verfahren zur Herstellung von Kondensationsprodukten
DE906753C (de) * 1943-01-27 1954-03-18 Bakelite Ges M B H Verfahren zur Herstellung von Phenol-Formaldehyd-Harzen
DE899417C (de) * 1943-02-19 1953-12-10 Bakelite G M B H Verfahren zur Herstellung von novolakartigen Kondensationsprodukten
US2513274A (en) * 1947-01-18 1950-07-04 Monsanto Chemicals Rapid-curing phenolic resins

Also Published As

Publication number Publication date
DE1197622B (de) 1965-07-29
GB973712A (en) 1964-10-28
SE300707B (de) 1968-05-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1914569A1 (de) Radioaktives Zeitnormal
DE4190941C2 (de) Neutronendosimeter und Verfahren für dessen Herstellung
DE3813079C2 (de)
DE3886233T2 (de) Halbleiter-Strahlungsdetektor.
DE19616545B4 (de) Schneller Strahlungsdetektor
DE1614223A1 (de) Halbleitervorrichtung zum Detektieren und/oder Messen von Strahlung
DE1919824A1 (de) Neutronendetektor
DE3344637C2 (de) Photoelektrischer Halbleiterwandler
DE112011101561T5 (de) Array von virtuellen Frisch-Gitter-Detektoren mit gemeinsamer Kathode und reduzierter Länge der Schirmelektrode
DE2607788A1 (de) Sekundaerelektronen-detektor
DE3002950C2 (de) Ortsempfindliches Proportional-Zählrohr
DE1047328B (de) Geraet zur Messung eines Neutronenflusses unter Verwendung eines spaltbaren Stoffes
CH427269A (de) Verfahren zur Herstellung eines Harzes des Novolak-Typs
DE3003909A1 (de) Detektoreinrichtung
DE1808406A1 (de) Strahlungsdetektor mit lateraler Photo-Spannung und Verfahren zur Herstellung desselben
DE3878339T2 (de) Detektor fuer ionisierende teilchen.
DE202017007025U1 (de) Ionisierungsstrahlungssensor auf Basis des im Zonen-Floating-Verfahren erhaltenen Siliziums mit N-Typ-Leitfähigkeit
DE19618465C1 (de) Strahlungsdetektor mit verbessertem Abklingverhalten
DE1537148B2 (de)
DE2703324A1 (de) Ionisationsstrahlungs-festkoerperdetektor
DE3438466A1 (de) Strahlungsdetektoranordnung
DE889956C (de) Ionisationskammer
DE1214807B (de) Halbleiterphotoelement
DE1949138C3 (de) Kernstrahlungsdetektor
DE3141956C2 (de)