CH344482A - Verwendung eines elektrischen Messgerätes, das auf der Änderung der elektrischen Eigenschaften beruht, die ein Halbleiterkörper unter der Wirkung eines Magnetfeldes erfährt - Google Patents

Verwendung eines elektrischen Messgerätes, das auf der Änderung der elektrischen Eigenschaften beruht, die ein Halbleiterkörper unter der Wirkung eines Magnetfeldes erfährt

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CH344482A
CH344482A CH344482DA CH344482A CH 344482 A CH344482 A CH 344482A CH 344482D A CH344482D A CH 344482DA CH 344482 A CH344482 A CH 344482A
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Johannes Dr Neumann
Herbert Dr Weiss
Fritz Dr Assmus
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Siemens Ag
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Description


  Verwendung eines elektrischen     Messgerätes,    das auf der     Änderung    der elektrischen  Eigenschaften     beruht,    die ein Halbleiterkörper unter der Wirkung eines Magnetfeldes erfährt    Das Hauptpatent betrifft ein elektrisches Mess  gerät, das auf der Änderung der elektrischen Eigen  schaften beruht, die ein Halbleiterkörper unter der  Wirkung eines Magnetfeldes erfährt sowie die Ver  wendung dieses     Messgerätes    zur Messung eines  Magnetfeldes. Als Halbleiterkörper wird eine halb  leitende Verbindung mit einer Trägerbeweglichkeit  (Beweglichkeit der Ladungsträger, nämlich der  Elektronen oder der Defektelektronen) von       6000        cm=jVolt,'sec    oder mehr vorgesehen.  



  Durch die gemäss dem Hauptpatent zu verwen  denden Halbleiterstoffe mit     Trägerbeweglichkeiten     von 6000     Cm2Voltsec    oder mehr ergibt sich u. a.  der Vorteil, dass bei gleicher geometrischer     Dimen-          sionierung    des Halbleiterkörpers als     Messkörper    und  bei gleicher aufgenommener Primärleistung sowie  bei gleicher     Ladungsträgerkonzentration    des     Mess-          körpers,    die im Magnetfeld auftretende Widerstands  änderung bzw.     Hallspannung    wesentlich grösser wird  als bei den bisher bekannten Geräten.

   Dies bedeutet  eine entsprechende Erhöhung der     Messgenauigkeit          bzw.    der Empfindlichkeit. Als halbleitende Verbin  dungen, die die oben geforderten     Trägerbeweglich-          keiten    aufweisen, kommen insbesondere solche von  der Form     AIIIBv,    in Betracht. Ihre Eigenschaften und  Verfahren zu ihrer Herstellung sind in der Schweizer  Patentschrift Nr. 310622 beschrieben.

   Aus dieser  Stoffgruppe sind besonders     InSb    und     InAs,    deren  Trägerbeweglichkeit einen Wert von über 20 000       cm2;    Vollsec erreicht, hervorzuheben; darüber hinaus  ist     InAs    wegen seines sehr kleinen Temperaturkoeffi  zienten gegenüber Germanium, das bisher in ähn  lichen Geräten verwendet worden ist, von technisch  hervorragender Bedeutung.

      Der besondere Wert der Erfindung nach dem  Hauptpatent ist darin zu sehen, dass die     Hallspan-          nung    der zur Anwendung gelangenden Verbindungen  leistungsmässig - über     Galvanometergrössen    hinaus  gehend - belastet werden kann, das heisst, dass es  möglich ist, die Hauspannung unmittelbar, also ohne  Verstärker mit     hochohmigem    Eingang, auf leistungs  aufnehmende Einrichtungen zu schalten. Bei einem  der bekannten Geräte, z. B. bei einem Germanium  Halbleitergerät, würde die     Hallspannung    bei einer  derartigen Belastung zusammenbrechen.  



  Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist eine  Weiterbildung der Verwendung des Gerätes nach  dem Hauptpatent zur Messung magnetischer Eigen  schaften an Grenzflächen magnetischer, vorzugsweise       ferromagnetischer    Körper. Das Gerät kann hierzu  mit einem oder mehreren Halbleiterkörpern ausge  rüstet sein. Das Gerät     kann    z. B. zur Messung der       Tangentialkomponente    der magnetischen Gleich- oder       Wechselfeldstärke    an der . Oberfläche magnetischer  Körper oder zur Messung der Normalkomponente  der Gleich- oder Wechselinduktion oder der     Magne-          tisierungsintensität    an der Grenzfläche magnetischer  Körper verwendet werden.

   Zur Messung kann der  Halleffekt und/oder die magnetische Widerstands  änderung ausgenutzt werden.  



  Zur weiteren     Erläuterung    der vorliegenden Erfin  dung wird auf die Zeichnung Bezug genommen, in  der einige Beispiele für die Verwendung des Gerätes  dargestellt sind. Es zeigen:       Fig.    1 und 2 die Verwendung des Gerätes zur  Messung der     Tangentialkomponente    der Magnet  feldstärke an der Oberfläche eines magnetischen  Körpers,           Fig.    3 die Verwendung des Gerätes zur Messung  der Normalkomponente der Induktion oder der       Magnetisierungsintensität    an der Grenzfläche eines  magnetischen Körpers,       Fig.    4 die Verwendung des Gerätes zur Erfassung  der Textur eines Magnetbleches.  



  In     Fig.    1 ist mit 1 ein     Magnetisierungsdoppeljoch     bezeichnet. Zwischen den einstellbaren Polschuhen la  ist der magnetische Körper 2, auf dessen Oberfläche  die magnetische Feldstärke zu messen ist, einge  spannt. Die     Erregerwicklungen    des     Magnetisierungs-          joches    sind mit 3 bezeichnet. Der Halbleiterkörper,  mit dem die Messung vorgenommen wird, ist bei 4  dargestellt. Seine Anordnung geht deutlicher aus der  perspektivischen Darstellung der     Fig.    2 hervor.

   Der  magnetische Körper, dessen     Tangentialkomponente     der magnetischen Feldstärke gemessen werden soll,  ist wieder mit 2 und der Halbleiterkörper, der als  Plättchen ausgeführt ist, mit 4 bezeichnet. Die     Pri-          märstromelektroden    sind mit 11 und 12, die Hall  elektroden mit 13 und 14 und der Verlauf des  Magnetfeldes ist durch Pfeile angegeben.

   Das Halb  leiterplättchen ist so angeordnet, dass die durch die  Richtung der     Hallelektroden    - worunter hier und  im folgenden die Richtung einer gedachten Verbin  dungsgeraden zwischen den     Hallelektroden    verstan  den wird - und die Richtung des Primärstromes  gegebene Fläche des Halbleiterkörpers senkrecht zu  der zu messenden     Tangentialkomponente    der magne  tischen Feldstärke des magnetischen Körpers liegt.  Diese Fläche ist in Richtung der     Hallelektroden          übertrieben    gross gezeichnet. Die Ausdehnung in die  ser Richtung ist nämlich so klein gehalten, dass der  Einfluss des Abfalles der Feldstärke in dieser Rich  tung im Halbleiterkörper     vernachlässigbar    ist.

    



  Neben den     allgemeinen    Vorteilen der Halbleiter  geräte dieser Art liegt ein besonderer Vorteil für die  Verwendung derselben zur Messung der     Tangential-          komponente    eines Magnetfeldes darin, dass ihre Ab  messung in der genannten Richtung sehr klein ge  macht werden kann. Die bisher bekannten Einrich  tungen für die Messung der     Tangentialkomponente     der magnetischen Feldstärke, z. B. der magnetische  Spannungsmesser, weisen     zwangläufig    in dieser Rich  tung eine um eine bis zwei Zehnerpotenzen grössere  Ausdehnung auf und sind daher für extrem lokal  beschränkte Feldmessungen ungeeignet.

   Dieser Vor  teil des erfindungsgemässen Gerätes ermöglicht eine       verhältnismässig    einfache Messung der magnetischen  Feldstärke an dünnen Platten, die senkrecht zu ihrer  grössten Fläche magnetisiert sind, z. B. aus Werk  stoffen mit extrem hoher     Koerzitivkraft,    wie Oxyd  magneten oder Magneten aus     Mangan-Wismut,        Pla-          tin-Kobalt,    Platin-Eisen usw. Diese schwierige Auf  gabe der magnetischen     Messtechnik    konnte mit bisher  bekannten Einrichtungen nicht gelöst werden.

   Hin  sichtlich der     Materialarten,    an denen Messungen vor  genommen werden können, bestehen keinerlei Ein  schränkungen für die Brauchbarkeit des Gerätes; es  eignet sich z. B. auch für     Oberflächenmessungen    an    Dynamoblechen,     Weicheisenstäben,    Dauermagnet  körpern und dergleichen.  



  Geräte dieser Art sind bei magnetischen     Gleich-          und    Wechselfeldern brauchbar. Anstelle des Hall  effektes oder zusätzlich dazu kann, wie bereits im  Hauptpatent angegeben, auch von der magnetischen  Widerstandsänderung Gebrauch gemacht werden.  



  Bei der Ausnutzung des - Halleffektes kann die       Messgenauigkeit    der Anordnung durch     Ohmsche    und  induktive Nullkompensation des     Hallkreises    nach  einer der bekanntgewordenen Methoden verbessert  werden.  



  Weiterhin kann die Empfindlichkeit des Gerätes  durch die Anwendung der bei andern     Messeinrich-          tungen    im Prinzip bekannten Kompensationsmethoden  gesteigert werden. Zu diesem Zweck verwendet man  z. B. im vorliegenden Falle zwei Halbleiterkörper,  die primärseitig hintereinander- oder parallel- und       hallseitig        gegeneinandergeschaltet    sind. Beide Halb  leiterkörper werden zunächst an einen bestimmten  Ausgangspunkt des magnetischen Körpers gebracht  und so abgeglichen, dass sich die     Hallspannungen     aufheben.

   Dann wird der eine Halbleiterkörper an  eine andere Stelle des magnetischen Körpers gebracht,  und aus der resultierenden     Hallspannung    wird die  Abweichung der Magnetfeldstärke gegenüber dem  Ausgangspunkt ermittelt.  



  Mit den vorgenannten Massnahmen ist eine  Empfindlichkeit der Anordnung zu erreichen, die es  erlaubt, lokale Materialunterschiede und     Feldinhomo-          genitäten    in extremer Feinheit zu erfassen und gege  benenfalls über die ganze Oberfläche eines magne  tischen Werkstückes fortlaufend, z. B. graphisch, zu  registrieren. Dies ist z. B. für die Fabrikationsüber  wachung oder für die magnetische Fehleranalyse von  besonderer technischer Bedeutung.

   Mit gleicher Emp  findlichkeit sind     Feldinhomogenitäten,    die auf un  gleichmässiger     Magnetisierung    eines an sich gleich  mässigen Materials beruhen sowie die langsam ver  laufenden magnetischen     Nachwirkungs-    und Alte  rungsvorgänge verhältnismässig einfach zu erfassen  und zu registrieren.  



  In     Fig.    3 ist mit 21 ein     Magnetdoppeljoch    mit  den verstellbaren Polstücken 21 a dargestellt. Die  Erregerwicklungen sind bei 22 angedeutet. Ein mit  23 bezeichneter magnetischer Körper ist so ange  bracht, dass der mit 24 bezeichnete Luftspalt zwi  schen dem Körper und dem gegenüberliegenden Pol  schuh so klein als möglich, z. B. in der Grössen  ordnung von 0,1 mm, und über die ganze Aus  dehnung der Fläche des magnetischen Körpers gegen  über dem Polschuh konstant ist. In diesem Luftspalt  ist ein mit 25 bezeichneter Halbleiterkörper angeord  net, und zwar so, dass die durch die Richtung der       Hallelektroden    und durch die Richtung des Primär  stromes gegebene Fläche des Halbleiterkörpers un  mittelbar an der Grenzfläche (26) des Körpers 23  anliegt.

   Die den Halbleiterkörper durchsetzenden  Induktionslinien sind durch Pfeile angedeutet.      Der Übersicht halber ist auf die Darstellung der  Zuleitungen für die Primärstrom- und Hauelektroden  verzichtet. Es wird darauf hingewiesen, dass Gestalt  und Lage der mit 26 angegebenen     Grenzfläche    des  Magnetkörpers nicht an das dargestellte Beispiel ge  bunden sind; es sind auch andere Begrenzungs  flächen des Magnetkörpers zulässig, vorausgesetzt,  dass der gegenüberliegende Polschuh so ausgeführt  ist, dass die oben angegebenen Bedingungen hinsicht  lich des Luftspaltes erfüllt sind. Die Grösse des  Halbleiterkörpers ist     zweckmässigerweise    so zu wäh  len, dass er die Grenzfläche des Magnetkörpers, an  der die Messung vorgenommen werden soll, an keiner  Stelle überragt.  



  Der Luftspalt 24 kann auch zwischen zwei gleich  artige und vorzugsweise gleich grosse Magnetkörper  gelegt werden, oder es kann zu beiden Seiten eines  Magnetkörpers je ein Luftspalt mit je einem Halb  leiterkörper angeordnet werden; in diesem Falle ist  es zweckmässig, die beiden Halbleiterkörper hauseitig  in Serie zu schalten.  



  Mit einer Anordnung nach     Fig.3    kann ausser  der Induktion auch die     Magnetisierungsintensität    (J)  bequem gemessen werden, wenn ein weiterer Halb  leiterkörper 27, der - gemäss der Anordnung nach       Fig.    1 - zur Messung der magnetischen Feldstärke  <I>(H -</I>     H,)    dient, mit dem Halbleiterkörper 25, der die  Induktion (B) misst,     hallspannungsmässig    gegenge  schaltet wird; die resultierende     Hallspannung    stellt  dann die     Magnetisierungsintensität     <I>J</I>     =B-H.Ho     dar; es können also auch Sättigungsmessungen durch  geführt werden.  



  In     Fig.4    ist die Verwendung des Gerätes zur  Erfassung der     Anisotropie,    z. B. der Textur eines  Magnetwerkstoffes, dargestellt. Mit 31 ist ein Magnet  blech bezeichnet, die magnetische Vorzugsrichtung  ist durch die Linien 32 angegeben. Die magnetische  Erregung des Bleches kann in an sich bekannter  Weise, z. B. durch einen oder mehrere zentrale Lei  ter erfolgen, deren Durchstoss durch die Zeichen  ebene bei 33 angegeben ist. 34, 35 und 36 stellen  Halbleiterkörper in verschiedener radialer Lage dar;  ihre Fläche, die durch die Richtung der     Hallelek-          troden    und durch die Richtung des Primärstromes  gegeben ist, steht senkrecht auf dem Blech, weist  jeweils zum Mittelpunkt und hat von diesem jeweils  den gleichen Abstand.

   Zur Ermittlung der Textur  werden nun diejenigen Stellen aufgesucht, bei denen  die Hauspannung und. oder die magnetische Wider  standsänderung ein Minimum bzw. ein Maximum  aufweist. Damit ist die magnetische Vorzugsrichtung  und damit die Textur des Bleches ermittelt. Bei kon  tinuierlicher Drehung des ringförmigen     Messkörpers     können die Feldwerte für alle Winkel zur Vorzugs  richtung ermittelt und gegebenenfalls fortlaufend  registriert werden.  



  Die     Messanordnung    kann z. B. auch so gewählt  werden, dass zwei Halbleiterkörper primärseitig    hintereinander- oder parallelgeschaltet und     hauseitig     gegengeschaltet sind, vorzugsweise so, dass mindestens       einer    der beiden Halbleiterkörper auf der     Oberfläche     des zu messenden Körpers verschiebbar ist.

Claims (1)

  1. PATENTANSPRUCH Verwendung des elektrischen Messgerätes nach Patentanspruch I des Hauptpatentes zur Messung eines Magnetfeldes, dadurch gekennzeichnet, dass das Gerät zur Messung magnetischer Eigenschaften an Grenzflächen magnetischer Körper verwendet wird und dass hierfür mindestens ein Halbleiterkörper vor gesehen ist. UNTERANSPRÜCHE 1. Verwendung nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass das Gerät zur Messung magne tischer Eigenschaften an Grenzflächen ferromagne- tischer Körper verwendet wird. 2.
    Verwendung nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass das Gerät zur Messung der Tangentialkomponente der magnetischen Gleichfeld stärke an der Oberfläche magnetischer Körper ver wendet wird. 3. Verwendung nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass das Gerät zur Messung der Tangentialkomponente der magnetischen Wechsel feldstärke an der Oberfläche magnetischer Körper verwendet wird. 4. Verwendung nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass das Gerät zur Messung der Normalkomponente der magnetischen Gleichinduk tion an der Grenzfläche magnetischer Körper ver wendet wird. 5.
    Verwendung nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass das Gerät zur Messung der Normalkomponente der magnetischen Wechselinduk tion an der Grenzfläche magnetischer Körper ver wendet wird. 6. Verwendung nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass das Gerät zur Messung der Normalkomponente der Magnetisierungsintensität an der Grenzfläche magnetischer Körper verwendet wird. 7.
    Verwendung nach Patentanspruch zur Mes sung der Tangentialkomponente eines Magnetfeldes, dadurch gekennzeichnet, dass der Halbleiterkörper unmittelbar auf der Oberfläche des magnetischen Körpers angeordnet wird, und zwar so, dass die durch die Richtung der Hallelektroden und die Rich tung des Primärstromes bestimmte Fläche des Halb leiterkörpers senkrecht zu der zu messenden Tangen tialkomponente steht. B. Verwendung nach Unteranspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Ausdehnung des Halbleiter körpers senkrecht zur Oberfläche des magnetischen Körpers so klein gehalten ist, dass der Abfall der Magnetstärke in dieser Richtung im Halbleiterkörper vernachlässigbar ist. 9.
    Verwendung nach Unteransprüchen 4 und 5, dadurch gekennzeichnet, dass die durch die Rich- tung der Hallelektroden und die Richtung des Pri märstromes bestimmte Fläche des Halbleiterkörpers unmittelbar an der Grenzfläche des magnetischen Körpers angelegt wird, an der der Durchtritt der Induktionslinien gemessen werden soll. 10.
    Verwendung nach Unteranspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass ein zweiter Halbleiterkörper zur Messung der magnetischen Feldstärke vorgesehen wird und dass die Hallspannung des Halbleiterkörpers für die Messung der magnetischen Feldstärke der jenigen des Halbleiterkörpers für die Messung der Induktion entgegengeschaltet wird, so dass die resul tierende Hallspannung ein Mass für die Magnetisie- rungsintensität darstellt. 11. Verwendung nach Unteransprüchen 2 und 3, dadurch gekennzeichnet, dass das Gerät zur Erfassung von Feldinhomogenitäten an der Oberfläche magne tischer Werkstoffe verwendet wird. 12.
    Verwendung nach Unteranspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass das Gerät zur Erfassung der magnetischen Anisotropie magnetischer Werkstoffe verwendet wird. 13. Verwendung nach Unteranspruch 15, dadurch gekennzeichnet, dass das Gerät zur Erfassung der Textur magnetischer Werkstoffe, z. B. magnetischer Bleche, verwendet wird. 14. Verwendung nach Unteranspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass das Gerät zur Bestimmung der magnetischen Vorzugsrichtungen magnetischer Werk stoffe verwendet wird.
CH344482D 1955-05-06 1956-05-04 Verwendung eines elektrischen Messgerätes, das auf der Änderung der elektrischen Eigenschaften beruht, die ein Halbleiterkörper unter der Wirkung eines Magnetfeldes erfährt CH344482A (de)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1180839B (de) * 1961-04-24 1964-11-05 Nix Hans Einrichtung zur Messung der Hysteresis-Kurve von magnetischen Werkstoffen, insbesondere von Dauermagneten

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DE1180839B (de) * 1961-04-24 1964-11-05 Nix Hans Einrichtung zur Messung der Hysteresis-Kurve von magnetischen Werkstoffen, insbesondere von Dauermagneten

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